DE3021072A1 - Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Info

Publication number
DE3021072A1
DE3021072A1 DE19803021072 DE3021072A DE3021072A1 DE 3021072 A1 DE3021072 A1 DE 3021072A1 DE 19803021072 DE19803021072 DE 19803021072 DE 3021072 A DE3021072 A DE 3021072A DE 3021072 A1 DE3021072 A1 DE 3021072A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
video signal
video
product
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19803021072
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3021072C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html
Inventor
Yasukazu Kawasaki Kanagawa Sano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to DE19803021072 priority Critical patent/DE3021072A1/de
Publication of DE3021072A1 publication Critical patent/DE3021072A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3021072C2 publication Critical patent/DE3021072C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
DE19803021072 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten Granted DE3021072A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803021072 DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803021072 DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3021072A1 true DE3021072A1 (de) 1981-12-10
DE3021072C2 DE3021072C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) 1988-06-16

Family

ID=6103891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803021072 Granted DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3021072A1 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3337468A1 (de) * 1983-10-14 1985-04-25 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Verfahren und vorrichtung zur pruefung der oberflaeche von bauteilen
DE3500332A1 (de) * 1984-01-26 1985-08-01 Hajime Industries, Ltd., Tokio/Tokyo Oberflaechenpruefapparat fuer einen gegenstand

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4309978C1 (de) * 1993-03-29 1994-06-09 Norbert Kraemer Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Prüfen und Qualitätsbestimmen von Tabletten oder Pillen
DE19616708A1 (de) * 1996-04-26 1997-10-30 Wolfgang Hoermle Vorrichtung zur Vermessung und Sortierung von Werkstücken

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2937335A1 (de) * 1978-11-24 1980-05-29 Kanebo Ltd Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2937335A1 (de) * 1978-11-24 1980-05-29 Kanebo Ltd Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3337468A1 (de) * 1983-10-14 1985-04-25 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Verfahren und vorrichtung zur pruefung der oberflaeche von bauteilen
DE3500332A1 (de) * 1984-01-26 1985-08-01 Hajime Industries, Ltd., Tokio/Tokyo Oberflaechenpruefapparat fuer einen gegenstand

Also Published As

Publication number Publication date
DE3021072C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) 1988-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3215800C2 (de) Vorrichtung zur Aussonderung fehlerhafter Objekte
DE3012559C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
DE69900676T2 (de) Kompensation der schleifenverzögerungseffekte in automatischen prüfeinrichtungen
DE2830846C2 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken
DE3012400C2 (de) Verfahren zur Überwachung der Bitfehlerrate
DE3415004A1 (de) Vertikalverstaerker fuer einen oszillographen
EP0040796A2 (de) Verfahren zum automatischen Klassifizieren von Bild- und Text- oder Graphikbereichen auf Druckvorlagen
DE2121115A1 (de) Prüfeinrichtung für Schaltkreise
DE2937335A1 (de) Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden
EP0184254A2 (de) Schaltungsanordnung zum Unterscheiden der beiden Halbbilder in einem Fernsehsignal
DE3028942A1 (de) Verfahren und inspektionsgeraet zum inspizieren eines gegenstandes, insbesondere einer flasche
DE2653590C3 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken
DE68912557T2 (de) Verfahren und gerät zum lesen von zeichen.
DE929822C (de) Vorrichtung zum Zaehlen von Teilchen
DE1166522B (de) Anordnung zum lichtelektrischen Abtasten von Schriftzeichen
DE3021072A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten
DE1929850A1 (de) Schaltungspruefeinrichtung
DE69128116T2 (de) Flash-A/D-Wandler mit Prüfschaltung
DE69019734T2 (de) Sortiervorrichtung mit pünktlicher Photobehandlung.
CH644952A5 (de) Geraet zur zerstoerungsfreien materialpruefung.
EP0100891A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Koinzidenzfehlern beim Zählen von Teilchen zweier Sorten
DE2705936A1 (de) Verfahren und anordnung zur elektronischen bildanalyse
DE3006341C2 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
CH647329A5 (en) Method and device for testing the surface condition of products
DE2837139B2 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Impulsaufsteilung

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: HOFFMANN, E., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 82166 GRAEFELFING