DE3006395A1 - X/y-stufe - Google Patents
X/y-stufeInfo
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Description
X/Y-STUFE
Die Erfindung betrifft allgemein interferometrisch gesteuerte
X/Y-Stufen zur Positionierung oder Ausrichtung eines ersten Gegenstands, beispielsweise einer Photomaske oder eines Halblei
terplättchens, bezüglich eines zweiten Gegenstands, beispielsweise eines Fadenkreuzes oder eines Abbilds von diesem.
Spezieller geht es um eine interferometrisch geregelte Vorrichtung, die längs genau rechtwinkliger X- und Y-Achsen derart
bewegbar ist, daß nacheinander verschiedene Bereiche einer Photomaske oder eines Hai bleiterplättchens bezüglich des gleichen
Fadenkreuzes oder dessen Abbilds angeordnet oder ausgerichtet werden können.
In der Halbleiterindustrie werden interferometrisch gesteuerte X/Y-Stufen sowohl bei der Herstellung von Photomasken als auch
bei der Bearbeitung von Halbleiterplättchen verwendet, um integrierte Schaltkreise und dergleichen herzustellen. Eine
Photomaske mit hohem Auflösungsvermögen (im Submikronbereich) wird typischerweise hergestellt, indem eine derartige interferometrisch
gesteuerte Stufe verwendet wird, um nacheinander verschiedene Bereiche der Photomaske bezüglich eines Fadenkreuzes
oder eines Abbilds von diesem anzuordnen, wobei eine
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Schicht einer auf die Photomaske aufzudruckenden Mikroschaltung in jedem dieser Bereiche dargestellt wird. Durch
diesen schrittweise wiederholten Druckvorgang wird eine Anordnung von aneinander angrenzenden Bereichen eines Mikro-Schaltkreises
auf einem Niveau auf der Photomaske in Zeilen und Spalten parallel zu den X- und Y-Achsen der Bewegung der
interferometrisch gesteuerten Stufe gebildet. Ei η Satz solcher
Photomasken, die jeweils eine Anordnung einer Mikroschaltung
mit einer verschiedenen Höhenschicht bilden, .wird typischerweise
bei der Herstellung von integrierten Schaltungen oder dergleichen aus einem Halbleiterplättchen verwendet. Im Verlauf
dieser Herstellung.wird das Halbleiterplättchen nacheinander
mit jeder Photomaske des Satzes ausgerichtet, und die Mikroschaltung einer auf die Photomaske aufgedruckten
Schicht wird wiederum auf das Halbleiterplättchen aufgedruckt.
Es ist jedoch auch möglich, die Herstellung eines Satzes solcher Photomasken zu vermeiden, indem eine interferometrisch
geregelte Stufe verwendet wird, um nacheinander verschiedene Bereiche des Halbleiterplättchens mit jedem der Fadenkreuze
auszurichten, die bei der Herstellung des Satzes von Photomasken
verwendet werden, so daß das Niveau der Mikroschaltung, das durch jedes dieser Fadenkreuze dargestellt wird, direkt
auf das Halbleiterplättchen in jedem dieser Bereiche gedruckt
wird während verschiedener Fortschalt- und Wiederholungs-Druckvorgänge.
Um die genaue Anordnung oder Ausrichtung einer Anordnung von aneinander grenzenden Bereichen eines Niveaus einer Mikroschaltung,
die gerade auf eine Photomaske oder auf ein HaIbleiterplättcherr
gedruckt wird, bezüglich jeder Anordnung aneinander grenzender Bereiche der Mikroschaltung eines anderen
vorher gedruckten oder noch zu druckenden Niveaus auf den anderen Photomasken des gleichen Satzes oder bezüglich jeder
Anordnung von aneinander grenzenden Bereichen der Mikroschal-
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tung eines anderen vorher gedruckten oder noch auf dem Halbleiterplättchen
zu druckenden Niveaus zur erleichtern, ist anzustreben, daß eine interferometrisch geregelte Stufe verwendet wird, welche
genau rechtwinklige X- und Y-Bewegungsachsen für Schritt- und Wiederholungsdruckvorgänge beispielsweise der vorgenannten Art
hat. Leider haben die herkömmlichen interferometrisch geregelten
Stufen keine genau rechtwinkligen X- und Y-Achsen der Bewegung.
Darüber hinaus ist der Grad der Abweichung von der Rechtwinkligkeit
der X- und Y-Bewegungsachsen solcher Stufen normalerweise von Stufe zu Stufe verschieden, so daß verschiedene Stufen verschiedene
Referenzrahmen aufweisen und daher nicht austauschbar verwendet werden können zum Drucken verschiedener Niveaus der
Mikroschaltung auf verschiedenen Photomasken des gleichen Satzes oder auf dem gleichen Halbleiterplättchen oder Stapel von HaIbleiterplättchen.
Herkömmliche interferometrisch gesteuerte Stufen verwenden
typischerweise ein getrenntes Interferometersystem für jede Bewegungsachse der Stufe. Dabei ist ein erster bewegbarer
Spiegel des Interferometersystems für die X-Achse der Bewegung
auf der Stufe in einer vertikalen Ebene angeordnet, die senkrecht zur X-Achse der Bewegung steht, und ein zweiter bewegbarer
Spiegel für die Y-Bewegungsachse ist auf der Stufe in einer vertikalen Ebene angeordnet, die senkrecht zur Y-Bewegungsachse
steht, vergleiche GB-PS 1 196 281. Da diese Spiegel in genau zueinander rechtwinkligen vertikalen Ebenen angeordnet werden
müssen,damit die Stufe zueinander genau rechtwinklige X- und
Y-Bewegungsachsen hat, werden besondere Meßeinrichtungen und -verfahren mit hohem Aufwand und Kosten verwendet, um diese
Spiegel in vertikalen Ebenen anzuordnen und zu halten, die soweit wie möglich zueinander rechtwinklig sind. Da jedoch
selbst die beste Meßeinrichtung eine begrenzte Genauigkeit hat, ist es in der Tat unmöglich, diese Spiegel in genau zueinander
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rechtwinkligen vertikalen Ebenen anzuordnen und zu halten.
Folglich hat die Stufe keine genau zueinander rechtwinkligen
X- und Y-Bewegungsachsen.
Der Erfindung liegt somit vor allem die Aufgabe zugrunde, eine interferometrisch geregelte Stufe mit genau zueinander rechtwinkligen
X- und Y-Bewegungsachsen zu schaffen. Dabei soll der Aufwand für die angestrebte genaue Rechtwinkligkeit der beiden
Spiegel in vertikalen Ebenen vermieden werden.
Des weiteren soll solch eine Stufe geschaffen werden, die austauschbar
mit anderen derartigen Stufen zusammen verwendbar ist beim Drucken verschiedener Niveaus der Mikroschaltung auf
verschiedenen Photomasken des gleichen Satzes oder auf dem gleichen Halbleiterplättchen oder Stapel von Halbleiterplättchen.
Ausgehend von einer Positionierungsstufe gemäß dem Oberbegriff wird diese Aufgabe gemäß dem Kennzeichen von Anspruch 1 gelöst.
Entsprechend der dargestellten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung werden diese und weitere Aufgaben dadurch gelöst,
daß eine Stufe verwendet wird, die entlang X- und Y-Achsen in einer horizontalen Ebene bewegbar ist, und indem
stationär erste und zweite bewegbare Planspiegel erster bzw. zweiter Interferometersysteme auf der Stufe in vertikalen
Ebenen angeordnet werden, die sich an der Y-Achse mit den ersten und zweiten symmetrisch zur Y-Achse angeordneten bewegbaren
Spiegeln schneiden. Die ersten und zweiten stationären Planspiegel
sind starr über der Stufe auf einem Gehäuse einer Projektionslinse oder einer ähnlichen Einrichtung angebracht
und parallel zu den ersten bzw. zweiten bewegbaren Spiegeln angeordnet. Das erste Interferometersystem hat einen ersten
Meßweg, der rechtwinklig zum ersten bewegbaren Spiegel ist,
und einen ersten Referenzweg, der rechtwinklig zum ersten
stationären Spiegel ist. Wenn die Stufe entweder entlang der
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X-Achse oder der Y-Achse bewegt wird, erzeugt das erste Interferometersystem
ein erstes Meßsignal entsprechend der Geschwindigkeit des ersten bewegbaren Spiegels, während dieser längs eines ersten Meßweges
bezüglich des ersten stationären Spiegels bewegt wird. Entsprechend hat das zweite Interferometersystem einen zweiten Meßweg
rechtwinklig zu dem zweiten bewegbaren Spiegel und einen zweiten Referenzweg rechtwinklig zu dem zweiten stationären Spiegel. Wenn
die Stufe längs der X-Achse oder der Y-Achse bewegt wird, erzeugt das zweite Interferometersystem ein zweites Meßsignal entsprechend
der Geschwindigkeit des zweiten bewegbaren Spiegels, während dieser
bezüglich des zweiten stationären Spiegels längs des zweiten Meßwegs bewegt wird. Entsprechend Summen und Differenzen dieser ersten und
zweiten Meßsignale bewegen erste und zweite Positionierungsregelschaltungen
die Stufe entlang genau zueinander rechtwinkliger X- und Y-Achsen, wobei die Y-Achse den Winkel zwischen den ersten
und zweiten bewegbaren Spiegeln schneidet. Somit hat die Stufe genau rechtwinklige X- und Y-Bewegungsachsen, ohne daß die ersten
und zweiten bewegbaren Spiegel in genau rechtwinkligen vertikalen
Ebenen angeordnet sein müßten, und ohne daß unerreichbare Winkelbeziehungen
zwischen diesen Spiegeln oder anderen Teilen der Stufe erforderlich wären. Dadurch wird der Hauptgrund für den
Mangel an Rechtwinkligkeit der herkömmlichen X- und Y-Bewegungsachsen
der Stufe vermieden. Vergleichsweise sind andere Störursachen, wie beispielsweise die Unebenheit der ersten und zweiten
bewegbaren Spiegel, unbedeutend und werden im Rahmen dieser Anmeldung vernachlässigt.
Ein weiterer Aspekt dieser Erfindung bezieht sich'.allgemein auf
Regel schaltungen und insbesondere auf eine Positionierungsregel schaltung,
welche einen bezüglich der Phase verriegelten Regelkreis enthält, um das Auflösungsvermögen der Positionierungsregelschaltung
zu erweitern. Derartige Positionierungsregelschaltungen können beispielsweise zur Regelung der Position einer interferometrisch
geregelten Stufe der vorgenannten Art verwendet werden. Herkömmliche Positionierungsregelschaltungen zum Regeln der Position
einer interferometrisch geregelten Stufe verwenden typischerweise einen
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reversiblen Zähler, um eine Anzeige über die tatsächliche Position
der Stufe zu erhalten, wie beschrieben ist in US-PS 3 458 259. Das Auflösungsvermögen solcher Positionierungsregelschaltungen ist
daher typischerweise begrenzt durch die Mehrdeutigkeit der letzten Stelle bzw. der Stelle mit dem tiefsten Stellenwert, die durch
den Zähler angezeigt wird.
Ein Ziel bei dieser erfindungsgemäßen Ausführungsform besteht darin,
eine verbesserte Positionierungsregelschaltung zu schaffen, und dabei die Mehrdeutigkeit der letzten, d.h. mit geringster
Stellenwertigkeit behafteten, durch den Zähler angezeigten Stelle zu vermeiden und das Auflösungsvermögen der Positionierungsregelschaltung
zu erweitern.
Dieses Ziel wird gemäß der bevorzugten Ausführungsform dieses
weiteren Aspekts der Erfindung erreicht, indem eine Positionsregelschaltung
mit einem veränderlichen Phasenschieber verwendet wird, der auf ein Eingangsreferenzsignal und ein Regel signal anspricht,
um ein Ausgangssignal der gleichen Frequenz wie das Referenzsignal zu erzeugen, wobei das Ausgangssignal jedoch nach Maßgabe des
Regelsignales bezüglich der Phase verschoben ist. Hierzu wird ein Phasendetektor verwendet, der gesteuert wird durch das Ausgangssignal
vom veränderbaren Phasenschieber und ein Eingangsmeßsignal mit einer Frequenz, die auf die Frequenz des Eingangsreferenzsignales
derart bezogen ist, daß ein Positionsregel signal erzeugt wird, welches das Auflösungsvermögen der Positionsregel schaltung
erweitert. Der Phasenschieber enthält einen anderen Phasendetektor, der auf das Eingangsreferenzsignal und ein Ausgangssignal von
einer durch N teilenden Schaltung anspricht und einen spannungsgesteuerten Oszillator speist, welcher an die Teilerschaltung ein
Ausgangssignal mit einer Frequenz abgibt, die N mal größer als die Frequenz des Referenzsignales ist. Ein Schieberegister spricht
auf die Ausgangssignale des durch die Spannung gesteuerten Oszillators und der Teilerschaltung an und liefert N Ausgangssignalemit
verschiedener Phase an einen Datenwähler. Der Datenwähler spricht auf das Regel signal an und liefert ein ausgewähltes dieser N
Ausgangssignale an den erstgenannten Phasendetektor nach Maßgabe des
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Regel signal es.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung anhand
der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Figur 1 eine perspektivische rückseitige Ansicht einer interferometrisch
geregelten Stufe mit genau rechtwinkligen X- und
Y-Bewegungsachsen,
Figur 2 schematisch die Strahlengänge und optische Komponenten der bei der Stufe nach Figur 1 verwendeten Interferometersysteme,
Figur 3 ein Blockdiagramm eines Paares von'Positionierungsregel-
Figur 2 schematisch die Strahlengänge und optische Komponenten der bei der Stufe nach Figur 1 verwendeten Interferometersysteme,
Figur 3 ein Blockdiagramm eines Paares von'Positionierungsregel-
schaltungen zum Treiben der Stufe nach Figur 1, Figur 4 ein Blockdiagramm eines anderen Paares von Positionierungsregelschaltungen
gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform, wobei diese Schaltungen beispielsweise anstelle
der Positionierungsregel schaltungen von Figur 3 verwendbar
sind zum Treiben der interferometrisch geregelten Stufe
von Figur 1
Figur 5 ein Blockschaltbild eines Paares von Phasenregel schaltungen einer weiteren Ausführungsform der erfinderischen Ausgestaltung eines zur Positionierungsregelung gemäß Figur 4
Figur 5 ein Blockschaltbild eines Paares von Phasenregel schaltungen einer weiteren Ausführungsform der erfinderischen Ausgestaltung eines zur Positionierungsregelung gemäß Figur 4
verwendbaren Regel schaltkrei ses.
Eine interferometrisch gesteuerte bzw. geregelte Stufe 10 gemäß
Figur 1 dient zur Ausrichtung eines Werkstücks, beispielsweise eines Halbleiterplättchens 12, bezüglich eines Gegenstands, beispielsweise
eines Fadenkreuzes oder Rahmens 14 oder eines projizierten Abbildes davon. Die Stufe 10 enthält eine untere Plattform 16, die mittels
Luftlagern auf der flachen oberen Fläche eines Granitblocks 18 gelagert ist zur allgemeinen Bewegung längs einer X-Achse der
Stufe, und eine obere Plattform 20, die mittels Luftlagern auf der flachen oberen Fläche des Granitblocks 18 (durch Ausnehmungen in
der unteren Plattform 16) gelagert ist zur allgemeinen Bewegung
längs einer rechtwinkligen Y-Achse der Stufe. Zusätzlich ist die
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obere Plattform 20 mit der unteren Plattform 16 zur gemeinsamen generellen Bewegung längs der X-Achse der Stufe 10 verbunden.
Daher kann die obere Plattform 20 der Stufe 10 in einer horizontalen Ebene generell längs der rechtwinkligen X- und Y-Achsen
der Stufen bewegt werden, und diese Bewegung kann in dieser horizontalen Ebene entlang irgendeiner geraden Linie erfolgen,
da diese Bewegungen gleichzeitig durchgeführt werden können.
Das Halbleiterplättchen 12 wird auf der oberen Plattform 20
durch einen Vakuumhalter 22 zur Bewegung mit diesem angesaugt.
Der Halter 22 ist unterhalb einer Projektionslinse 26 oder eines anderen Bauteils angeordnet, das bei der Bearbeitung des Halblei
terplättchens verwendet wird. Das Fadenkreuz 14 wird durch einen Vakuumhalter 28 direkt oberhalb der Projektionslinse 26
und längs einer optischen Achse von dieser gehalten. Sowohl die Projektionslinse als auch der Halter 28 für das Fadenkreuz 14
sind auf einem an den Granitblock befestigten Rahmen angeordnet. Bei der Herstellung von integrierten Schaltkreisen oder dgl.
aus dem Halbleiterplättchen 12 wird die Stufe 10 längs der X- und Y-Achsen bewegt, um nacheinander angrenzende Bereiche eines
Niveaus der Mikroschaltung auszurichten, welche schon auf dem Halbleiterplättchen gebildet sein können, mit einem Abbild eines
anderen Niveaus der auf dem Fadenkreuz 14 enthaltenen Mikroschaltung, die noch auf dem Halbleiterplättchen an jedem dieser Bereiche
zu drucken ist. Dieses Abbild wird auf das Halbleiterplättchen
12 durch die Projektionslinse 26 geworfen.
Um auf der Station 10 genau orthogonale X- und Y-Bewegungsachsen zu erhalten, sind zwei längsgestreckte Planspiegel 30 und 32
fest auf der oberen Plattform 20 zur Bewegung mit dieser angeordnet. Diese Spiegel, die nachfolgend als die ersten und zweiten
bewegbaren Spiegel 30 und 32 bezeichnet werden, sind symmetrisch zur Y-Achse in ersten bzw. zweiten vertikalen Ebenen angeordnet,
die sich an der Y-Achse in einem Winkel von 2Θ schneiden. Es sind
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keine speziellen Meßeinrichtungen oder kritischen Meßverfahren erforderlich, um die ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30
und 32 auf der oberen Plattform 20 der Stufe 10 zu befestigen, da die Stufe in nachfolgend beschriebener Weise derart geregelt
wird, daß die X- und die Y-Achsen genau rechtwinklig zueinander angeordnet sind und sich an der Y-Achse im Winkel von
2Θ zwischen den ersten und zweiten bewegbaren Spiegeln schneiden. Die ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 können daher
in ersten bzw. zweiten vertikalen Ebenen angeordnet werden,die
sich in einem nahezu beliebigen Winkel schneiden können. Zum Zweck der Erläuterung sind die Spiegel fest auf der oberen
Plattform 20 der Stufe 10 in einem nominellen rechten Winkel zueinander mittels eines Trägers 34 angeordnet. Die ersten und
zweiten Planspiegel 36 und 38 sind fest auf einem Gehäuse der Projektionslinse 26 über dem Träger 34 angeordnet. Diese
Spiegel, die nachfolgend als die ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 bezeichnet werden,entsprechen und sind
parallel angeordnet zu den ersten und zweiten bewegbaren Spiegeln 30 bzw. 32.
Die ersten und zweiten Interferometersysteme 40 und 42 werden verwendet, um die Geschwindigkeiten der ersten und zweiten bewegbaren
Spiegel 30 und 32 bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 genau zu messen, während diese
längs entsprechender erster (oder AU) und zweiter (oder AL2)
Meßwege rechtwinklig zu den ersten bzw. zweiten bewegbaren
Spiegeln bewegt werden. Dieses erfolgt, wann immer die Stufe 10 längs der X-Achse oder der Y-Achse bewegt wird, wobei Meßsignale
über die entsprechenden Geschwindigkeiten abgegeben werden. Derartige Interferometersysteme sind beispielsweise
beschrieben in Application Note 197-2 für den Laserumformer 5501 A der Firma Hewlett-Packard Company und in US-PS 3 458 259,
und sind als erste und zweite Interferometersysteme 40 und 42 verwendbar. Die Interferometersysteme 40 und 42 verwenden gemeinsam
einen Laserumformer 44 mit zwei Frequenzen und einer
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Schwingungsart zur Aussendung eines Lichtstrahls 46, mit einer
ersten Strahl komponente der Frequenz f., welche nachfolgend als
f.-Licht bezeichnet wird, und einer zweiten parallelen und überlappenden Strahl komponente mit einer Frequenz f£, welche
nachfolgend als f2-Licht bezeichnet wird. Diese parallelen und
überlappenden Strahl komponenten von f.,- und f^-Licht haben
lineare horizontale bzw. vertikale Polarisationen bezüglich des Laserumformers 44. Eine Strahlablenkeinrichtung 48 lenkt den
Strahl des Lichts 46 ab vom Laserumformer 44 nach oben zu einem Strahl teiler 50, der 50% des Lichtstrahls nach oben durch eine
öffnung 52 in einem Rahmen 54 ablenkt, der den Granitblock 18 hält. Der Strahl teil er 50 reflektiert 50% des Lichtstrahls 46
vom Laserumformer 44 zu einer anderen Strahl um!enkeinrichtung
56, von welcher das Licht wiederum nach oben durch eine öffnung 58 im Rahmen 54 abgelenkt wird.
Der Laserumformer 44, die Strahlablenkeinrichtungen 48 und 56,
der Strahl teil er 50 und die verschiedenen Elemente der ersten
und zweiten Interferometersysteme 40 und 42 können alle auf einem Rahmen befestigt sein, der an dem Granitblock 18 in der
dargestellten Anordnung befestigt ist. Die ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 sind auf dem Träger 34 unter einem
Winkel von nominell 45° bezüglich der Y-Achse angeordnet, und die Meßwege hl, und Mp der ersten bzw. zweiten Interferometersysteme
40 und 42 werden nominell um 45° bezüglich der Y-Achse
gedreht. Da der Laserumformer 44 in der dargestellten Weise längs der X-Achse befestigt ist, muß der Laserumformer auch
nominell um 45° bezüglich der Y-Achse gedreht werden, um die Polarisationsebenen des f.-Lichts und des f^-Lichts unter 45°
bezüglich der Y-Achse und somit parallel und rechtwinklig zu den ersten und zweiten Interferometersystemen 40 und 42 auszurichten.
Dieses ist wichtig, da das maximale Ausgangssignal von den ersten und zweiten Interferometersystemen 40 und 42
erhalten wird, wenn diese Polarisationsebenen in der beschriebenen Weise ausgerichtet sind, während im wesentlichen kein
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Ausgangssignal erhalten werden kann von den ersten und zweiten Interferometersystemen, wenn diese Polarisationsebenen unter
einem Winkel von 45° bezüglich jedes der ersten und zweiten Interferometersysteme ausgerichtet sind.
Da die ersten und zweiten Interferometersysteme 40 und 42 identisch
sind, werden die gleichen Bezugszeichen allgemein für die gleichen Elemente beider Interferometersysteme verwendet, wobei
die Bezugszeichen für das zweite Interferometersystem mit einem Strich versehen sind^nd es wird nur das erste Interferometersystem
40 im einzelnen erläutert. Wie auch aus Figur 2 ersichtlich ist, enthält das erste Interferometersystem 50 einen polarisierenden
Strahlteiler 60, um f«-Licht der linearen horizontalen Polarisationsebene, welches durch einen doppelten Pfeil rechtwinklig
zur Papierebene dargestellt ist, zu reflektieren, welches durch die 'Öffnung 52 des Rahmens 54 gelangt, und um das f^-Licht
der linearen vertikalen Polarisationsebene, welches durch einen
doppelten Pfeil in der Papierebene dargestellt ist, hindurch zu lassen, welches durch die öffnung 52 gelangt, wobei ein Hilfspfeil
in der Papierebene bei jedem Doppelpfeil angebracht ist, um die Richtung der Lichtausbreitung anzuzeigen. Das durch den
polarisierenden Strahlteiler 60 reflektierte f.-Licht gelangt durch eine Viertelwellenplatte 62 zum ersten bewegbaren Spiegel
30 längs eines ersten Abschnitts 64 des Meßwegs AL1, welcher
rechtwinklig zum ersten bewegbaren Spiegel verläuft. Da die
obere Plattform 20 der Stufe 10 entweder längs der X-Achse oder längs der Y-Achse bewegt wird, bewirkt die entsprechende Bewegung
des ersten bewegbaren Spiegels 30 bezüglich des ersten stationären Spiegels 36 längs des Meßwegs AL1, daß das f.-Licht
die Frequenz um ± Af ändert, wenn es von dem ersten bewegbaren Spiegel zurück längs des ersten Abschnitts 64 des Meßwegs
AL1 durch die Viertelwellenplatte 62 reflektiert wird. Die
Viertelwellenplatte 62 ändert die Polarisation des in Vorwärtsrichtung hindurchgelangenden f^Lichts in Licht mit rechts-
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drehender Kreispolarisation, welches wiederum in Licht mit linksdrehender
Kreispolarisation umgeformt wird, wenn das f.-Licht von dem ersten bewegbaren Spiegel 30 reflektiert wird. Außerdem
wird die Polarisation des f^t Af-Lichts, welches in rückwärtiger
Richtung reflektiert, in linear-vertikal polarisiertes Licht umgeformt.
Somit wird das Licht mit der Frequenz f,± Af durch den polarisierenden Strahlteiler 60 zu einem damit verbunden Umkehrreflektor
66 übertragen, von dem das Licht in Vorwärtsrichtung durch den polarisierenden Strahlteiler und die Viertelwellenplatte
62 zu dem ersten bewegbaren Spiegel 30 längs eines zweiten Abschnitts 68 des AL,.-Meßwegs reflektiert wird. Das Licht mit
der Wellenlänge f,i Af, welches von dem ersten bewegbaren Spiegel
30 zurück längs des zweiten Abschnitts 68 des AL,-Meßwegs reflektiert wird, ändert die Frequenz um ± Af, wenn die obere Plattform
20 der Stufe 10 entweder längs der X-Achse oder der Y-Achse bewegt wird. In diesem Fall ändert die Viertelwellenplatte 62 die
Polarisation des Lichts mit der Wellenlänge f,± Af, welches in
Vorwärtsrichtung hindurchgelangt, in linksdrehend zirkularpolarisiertes Licht, welches wiederum in rechtsdrehend zirkularpolarisiertes
Licht umgeformt wird, wenn das Licht mit der Frequenz f.± Af von dem ersten bewegbaren Spiegel 30 reflektiert
wird, und die Polarisation des Lichts mit der Frequenz f,±2 Af,
welches in Rückwärtsrichtung hindurchreflektiert wurde, wird in
linear horizontal polarisiertes Licht umgeformt. Das Licht mit der Frequenz f,±2 Af, welches in rückwärtiger Richtung längs des
zweiten Abschnitts 68 des Meßwegs AL. reflektiert wurde, wird daher
durch den polarisierenden Strahlteiler 60 nach unten durch einen Mischpolarisator 70 auf einen photoelektrischen Detektor
72 reflektiert.
In ähnlicher Weise gelangt das durch den polarisierenden Strahlteiler
60 übertragene Licht mit der Frequenz f~ vorwärts durch
eine Viertelwellenplatte 74 zu einer Strahlablenkeinrichtung 76,
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von welcher das Licht zu dem ersten stationären Spiegel 36 längs eines Abschnitts 78 eines Referenzwegs AL1 reflektiert
wird, der in der beschriebenen Weise rechtwinklig zu dem ersten stationären Spiegel (wenigstens von der Strahlbeugeeinrichtung.76
aus gesehen vorwärts) verläuft. Dieses Licht mit der Frequenz fp wird von dem ersten stationären Spiegel
36 zurück längs des ersten Abschnitts 78 des Referenzwegs AL1
zu der Strahlablenkeinrichtung 76 und dann durch die Viertelwellenplatte 74 hindurch reflektiert. Die Viertel wellenplatte
74 ändert die Polarisation des Lichts mit der Frequenz fp,
welches in Vorwärtsrichtung durch diese längs des ersten Abschnitts 78 des Referenzwegs ΔΙ. gelangt, in Licht mit linksdrehender
Polarisation, wie es wiederum in rechtsdrehend polarisiertes Licht umgeformt wird, wenn das Licht mit der
Frequenz fp von dem ersten stationären Spiegel 36 reflektiert
wird, und die Polarisation des Lichts mit der Frequenz fp, welches in rückwärtiger Richtung längs des ersten Abschnitts
des Referenzwegs AL1 reflektiert wurde, wird in linear horizontal
polarisiertes Licht umgeformt. Somit wird das Licht mit der Frequenz fp, welches von dem ersten stationären Spiegel 36
längs des ersten Abschnitts 78 des Referenzwegs AL1 reflektiert
wird, durch den polarisierenden Strahlteiler 60 zu dem Umkehrreflektor
66 reflektiert, von dem aus das Licht auf den polarisierenden Strahl teil er zurückgeworfen wird, wo es durch die
Viertelwellenplatte 74 hindurch reflektiert und durch die
Strahlablenkeinrichtung 76 auf den ersten stationären Spiegel längs eines zweiten Abschnitts 80 des AL1 Referenzwegs geworfen
wird. Dieses Licht mit der Frequenz fp wird wiederum von dem
ersten stationären Spiegel 36 zurück längs des zweiten Abschnitts 80 des &L. Referenzwegs zu der Strahlablenkeinrichtung 76 und
dann durch die Viertel wellenplatte 74 hindurch reflektiert. Die
Viertel wellenplatte 74 formt die Polarisation des Lichts mit
der Frequenz f^> welches durch diese in Vorwärtsrichtung längs
des zweiten Abschnitts 80 des AL1 Referenzwegs hindurchgelangt,
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in rechtsdrehend polarisiertes Licht um, welches wiederum in
linksdrehend polarisiertes Licht umgeformt wird, wenn das Licht mit der Frequenz f- wieder von dem ersten stationären Spiegel
36 reflektiert wird, und die Polarisation des Lichts mit der Frequenz f~, welches in rückwärtiger Richtung längs des zweiten
Abschnitts 80 des AL1 Referenzwegs reflektiert wird, wird in
linear vertikal polarisiertes Licht umgeformt. Das Licht mit der Frequenz fp, welches in rückwärtiger Richtung längs des
zweiten Abschnitts 80 des AL. Referenzwegs reflektiert wird,
wird daher durch den polarisierenden Strahl teil er 60 nach unten
durch den Mischpolarisator 70 hindurch zum photoelektrischen
Detektor 72 übertragen mit dem parallelen und überlappenden Licht mit der Frequenz f. ±2 Af von dem zweiten Abschnitt 68
des AL. Meßwegs in einem Ausgangslichtstrahl 73. Zur Vereinfachung
der Darstellung wurden die Strahlengänge des Eingangslichtstrahls 46, welcher in den polarisierenden Strahlteiler
eintritt und des Ausgangs!ichtstrahls 73, welcher in den photoelektrischen
Detektor 72 eintritt, die ersten und zweiten Abschnitte 64 und 68 des AL1 Meßwegs, die ersten und zweiten Abschnitte
78 und 80 des AL1 Referenzwegs und der Umkehrreflektor
66 dargestellt als räumlich in der Papierebene der Figur 2 angeordnet,
wogegen diese Baueinheiten und Strahlengängen tatsächlich räumlich in einer Ebene rechtwinklig zur Papierebene angeordnet
sind, wie sich aus der perspektivischen Ansicht gemäß Figur 1 ergibt.
■Der mischende Polarisator 70 mischt das Licht mit der Frequenz
f,|±2 Af und das parallele und überlappende Licht mit der Frequenz
fp des Ausgangslichtstrahls 73, so daß jeder dieser Strahlanteile
des Ausgangslichtstrahls, der in den photoelektrischen Detektor eintritt, einen Anteil mit ähnlicher Polarisation hat. Diese
ähnlich polarisierten Anteile werden durch den photoelektrischen Detektor 72 gemischt, um ein erstes elektrisches Meßsignal mit
einer Frequenz f1-f«±2 Af, am Ausgang des photoelektrischen
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Detektors zu erhalten. Ein zweites elektrisches Meßsignal mit einer
Frequenz fi-f^AfLp w"ird in der gleichen Weise wie vorher beschrieben
durch das zweite Interferometersystem 42 am Ausgang des photoelektrischen Detektors 72' dieses Systems erzeugt.
Entsprechend Figur 3 wird das erste elektrische Meßsignal mit der Frequenz f^-f^fi, dem ersten Eingang eines ersten digitalen Ausgangsmischers
82 des ersten Interferometersystems 40 zugeführt, und
das zweite elektrische Meßsignal mit der Frequenz fi'fo*^^ wirc*
einem ersten Eingang eines zweiten dualen Ausgangsmischers 84 des zweiten Interferometersystems 42 zugeführt. Ein elektrisches
Referenzsignal mit der Frequenz f-]^» welches durch den Laserumformer
44 an einem elektrischen Ausgang 86 erzeugt wird (siehe Figur 1)^wird einem zweiten Eingang des zweiten Ausgangsmischers
82 und einem zweiten Eingang des zweiten Ausgangsmischers 84 zugeführt. Der erste Ausgangsmischer 82 verknüpft das erste Meßsignal
und das Referenzsignal, um ein aus einem ersten Impulszug bestehendes Meßsignal mit einer Wiederholungsgeschwindigkeit von
2Af^, an einem inkrementierenden oder einem dekrementierenden
Ausgang zu erzeugen, je nachdem ob das Vorzeichen der ±2Af!_1
Komponente der Frequenz des ersten Meßsignales positiv bzw. negativ ist. Die Wiederholungsgeschwindigkeit des ersten Impulssignalzugs
ist proportional der Geschwindigkeit des ersten bewegbaren Spiegels 30, während dieser bezüglich des ersten
stationären Spiegels 36 längs des &L, Meßweges des ersten Interferometersystems
40 bewegt wird, was geschieht, wenn die obere Plattform 20 der Stufe 10 entweder entlang der X- oder der Y-Bewegungsachse
der Stufe bewegt wird. In ähnlicher Weise verknüpft der zweite Ausgangsmischer 84 das zweite Meßsignal und das
Referenzsignal und erzeugt ein aus einem zweiten Impulszug bestehendes Meßsignal mit einer Wiederholungsgeschwindigkeit von
2Δί|_2 an einem inkrementierenden oder dekrementierenden Ausgang
je nachdem, ob das Vorzeichen des ±2Af[_„ Anteils der Frequenz
des zweiten Meßsignals positiv oder negativ ist. Die Wiederholungsgeschwindigkeit
des zweiten Impulszugs ist proportional der Geschwindigkeit des zweiten bewegbaren Spiegels 32, während
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dieser bezüglich des zweiten stationären Spiegels 38 längs des AL2 Meßwegs des zweiten Interferometersystems 42 bewegt wird.
Dieses ist ebenfalls der Fall, wenn die obere Plattform 20 der Stufe 10 entweder längs der X- oder der Y-Bewegungsachse der
Stufe bewegt wird.
Die Impulse der ersten und zweiten aus Impulszügen bestehenden Signale, welcher an den inkrementierenden Ausgängen der ersten
und zweiten Ausgangsmischer 82 und 84 auftreten, werden einem ersten Paar von Eingängen einer ersten dualen Addierschaltung
88 zugeführt, welche einen Impulszug erzeugt, welcher der Summe
dieser Impulse an einem inkrementierenden Ausgang der ersten dualen Addierschaltung entspricht. In ähnlicher Weise werden die
Impulse der ersten und zweiten Impulszüge der Signale an den
dekrementierenden Ausgängen der ersten und zweiten Ausgangsmischer
82 und 84 einem zweiten Paar von Eingängen der ersten dualen Addierschaltung 88 zugeführt, welche einen Impulszug erzeugt,
welcher der Summe dieser Impulse am dekrementierenden Ausgang der ersten dualen Addierschaltung entspricht. Die dadurch
an den inkrementierenden und dekrementierenden Ausgängen der ersten Addierschaltung 88 erzeugten Impulszüge stellen die
Summe der ersten und zweiten aus Impulszügen bestehenden Signale dar. Die Impulse des ersten Signales am inkrementierenden Ausgang
des ersten Ausgangsmischers 82 und die Impulse des zweiten Signales am dekrementierenden Ausgang des zweiten Ausgangsmischers
84 werden einem ersten Paar von Eingängen einer zweiten dualen Addierschaltung 90 zugeführt, welche die Summe dieser
Impulse an einem inkrementierenden Ausgang der zweiten Addierschaltung erzeugt. In ähnlicher Weise werden die Impulse des
ersten aus einem Impulszug bestehenden Signals, die am dekrementierenden
Ausgang des ersten Ausgangsmischers 82 auftreten, und die Impulse des zweiten aus einem Impulszug bestehenden Signals,
welche am inkrementierenden Ausgang des zweiten Ausgangsmischers 84 auftreten, einem zweiten Paar von Eingängen der zweiten
Addierschaltung 90 zugeführt. Die Summen der dadurch erzeugten Impulse an den inkrementierenden und dekrementierenden Ausgängen
der zweiten Addierschaltung 90 stellen die Differenz der ersten
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und zweiten impulsförmigen Signale dar. Entsprechend der Differenz
und der Summe der ersten und zweiten aus Impulszügen bestehenden Signale und der digitalen Signale über die X- und Y-Endpunkte,
welche beispielsweise von einem Rechner 92 aufgenommen werden, bewegen die Regelungsschaltungen 94 und 96 für die Positionierung
entlang den X- und Y-Achsen die obere Plattform 20 der Stufe 10 längs genau rechtwinklig zueinander befindlicher X- und Y-Achsen,
wobei die Y-Achse den Winkel 2 θ zwischen den ersten und zweiten beweglichen Spiegeln 30 und 32 schneidet, so daß die obere
Plattform 20 genau ausgerichtet wird, wie durch die digitalen Datensignale über die X- und Y-Endpunkte spezifiert wird. Diese
Bewegungen der oberen Plattform 20 längs genau rechtwinkliger
X- und Y-Achsen wird durch die Regelungsschaltungen 94 und 96
entsprechend den folgenden, später erklärten Gleichungen ausge-
15 führt:
(1) ΔΧ = Κχ( AL1 - AL2), wobei Κχ=1/2 cos9; und
(2) ΔΥ = Ky( AL1 - AL2), wobei K=1/2 sinQ.
Die Rechtwinkligkeit der Bewegungen um Αχ und Δγ der oberen Plattform
20 längs X- und der Y-Bewegungsachsen der Stufe 10 entsprechend den Gleichungen (1) und (2) ist durch die Tatsache zu
begründen, daß AX eine Funktion von cos0 und AY eine Funktion
von sinQ ist, und daß diese cos- und sin-Winkel immer komplementären
Winkeln entsprechen.
Da die Regel schaltkreise 94 und 96 für die Positionierung entlang
den X- und Y-Achsen identisch sind, werden die gleichen Bezugszeichen für die gleichen Elemente beider Schaltkreise verwendet,
wobei für die Schaltkreise zur Positionierung längs der X-Achse mit einem Strich markiert werden, und es wird im einzelnen nur der
Schaltkreis für die Positionierung entlang der Y-Achse erläutert. Die an den inkrementierenden und dekrementierenden Ausgängen der
ersten Addierschaltung 88 auftretenden Impulse werden einem reversiblen Zähler 98 zugeführt, der diese Impulse zählt, um ein
digitales Ausgangssignal AY zu erzeugen, welches proportional der
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Int. Az.: Fall 162/80 - 28 -
Summe (AL· + Al^) der Verschiebungen AL· und AL,, der ersten
und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 längs der AL^- und
ALo-Meßwege der ersten und zweiten Interferometersysteme 40
bzw. 42 ist, wenn die obere Plattform 20 der Stufe 10 entweder längs der X-Achse oder der Y-Achse der Stufe bewegt wird. Der
Zähler 98 integriert die Summe der Geschwindigkeiten der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 über der Zeit,
wenn diese Geschwindigkeiten durch die ersten bzw. zweiten Interferometersysteme 40 bzw. 42 gemessen werden, um das digitale
Ausgangssignal Δγ zu erzeugen. Dieses Ausgangssignal AY
wird einem Eingang eines Komparators 100 zugeführt, und das
digitale Datensignal über den Y-Endpunkt vom Rechner 92 wird in einem Register 102 gespeichert und dem anderen Eingang des
Komparators zugeführt. Der Komparator 100 erzeugt ein digitales Vergleichssignal, welches der Differenz zwischen den zugeführten
digitalen Signalen entspricht und der Strecke proportional ist, und welche die obere Plattform 20 längs der Y-Achse bewegt
werden muß, um die Position der Y-Achse zu erreichen, die durch das digitale Datensignal über den Y-Endpunkt spezifiziert
ist. Dieses digitale Vergleichssignal wird einem D/A-Umsetzer 104 zugeführt, der es in ein analoges Spannungssignal umformt
und einem Eingang einer Summierschaltung 106 zuführt. Ein anderes analoges Spannungssignal wird durch einen Tachometer
in nachfolgend beschriebener Weise erzeugt und dem anderen Eingang der Summierschaltung 106 zugeführt. Somit erzeugt die
Summierschaltung 106 ein Ausgangsspannungssignal welches der Differenz zwischen dem analogen Spannungssignal vom A/D-Umsetzer
104 und dem Tachometer 108 entspricht. Dieses Ausgangs-Spannungssignal wird einem Servoschaltkreis 110 zugeführt, der
dementsprechend einen Servomotor 112 für die Y-Achse speist, der auf der oberen Plattform 20 angeordnet ist und gegenüber
der unteren Plattform 16 reagiert, um die obere Plattform längs der Y-Achse in die Position der Y-Achse zu bringen, welche durch
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das digitale Datensignal liber den Y-Endpunkt spezifiziert ist. Der Tachometer 108 ist mit dem Servomotor 112 funktionell verbunden
und erzeugt ein analoges Spannungssignal, welches proportional der Geschwindigkeit des Motors für die Y-Achse ist und führt
dieses der Summierschaltung 106 zu. Dadurch wird das Ausgangsspannungssignal von der Summierschaltung 106 vermindert und
der Servomotor 112 für die Y-Achse läuft langsamer, wenn die obere Plattform 20 sich der Position auf der Y-Achse nähert,
die durch das digitale Datensignal über den Y-Endpunkt spezifiziert ist, so daß die obere Plattform nicht über die spezifizierte
Position auf der Y-Achse hinaus verschoben wird.
Der reversible Zähler 98" der Regelungsschaltung 94 für die
X-Achsenposition integriert in entsprechender Weise die Differenz der Geschwindigkeiten der ersten und zweiten bewegbaren
Spiegel 30 und 32, wenn diese Geschwindigkeiten durch die ersten und zweiten Interferometersysteme 40 bzw. 42 gemessen
.werden, um ein digitales Ausgangssignal ΔΧ zu erzeugen, welches proportional der Differenz (AL1 - AL2) der Verschiebungen
AL· und AL2 der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel
bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und
20. 38 längs der Meßwege AL1 und AL2 der ersten bzw. zweiten
Interferometersysteme ist, während die obere Plattform 20 der Stufe 10 entweder entlang der X-Achse oder der Y-Achse
der Stufe bewegt wird. Entsprechend diesem digitalen Ausgangssignal ΔΧ und einem digitalen Datensignal über den X-Wert,
das in dem Register 102' durch den Rechner 92 gespeichert ist, speist die Servotreiberschaltung 110' den
Servomotor 112' für die X-Achse, welcher auf der unteren
Plattform 16 der Stufe 10 befestigt ist und gegenüber dem Granitblock 18 arbeitet und die untere Plattform 16 und damit
die obere Plattform 20 in die X-Achsenposition bringt, welche durch das digitale Datensignal über den X-Endpunkt spezifiziert
ist. Somit wird die obere Plattform 20 entlang genau rechtwinkliger X- und Y-Achsen entsprechend der Differenz (AL1 - A|_?)
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Int. Az.: Fall 162/80 -30-
und der Summe (AL, + AL-) der Verschiebungen der ersten und
zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 bezüglich der ersten
und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 längs der Meßwege AL. und AL2 der ersten bzw. zweiten Interferometersysteme
40 bzw. 42 bewegt, die durch die entsprechenden Ausdrücke in
den Gleichungen (1) und (2) spezifiziert sind. In der Praxis können die Konstanten K und K dieser Gleichungen bestimmt
werden, ohne daß der halbe Winkel θ zwischen den ersten und zweiten bewegbaren Spiegeln 30 und 32 bekannt ist oder gemessen
wird. Diese Konstanten können bestimmt werden, indem einfach ein Referenzkontaktglied an der oberen Plattform 20
angeordnet wird, ein Meßklotz mit beispielsweise 10 cm Länge auf der oberen Plattform längs der Y-Achse und an dem Referenzkontaktglied
anliegend angeordnet wird* ein Auslenkungs-Meßfühler
eines elektronischen Meßgeräts in einer festen Position bezüglich der oberen Plattform längs der Y-Achse und
in dem Weg des Meßklotzes und des Referenzkontaktgliedes angebracht
wird, die Positionierungsstufe entlang der Y-Achse weiterbewegt wird, um den Meßklotz gegen den Meßfühler zu
drücken, bis das elektronische Meßgerät auf Null gestellt wird, und dann auch der reversible Zähler 98 des Meßfühlers 96 für
die Y-Achsenposition auf Null gestellt wird, die obere Plattform längs der Y-Achse zurückbewegt und der Meßklotz entfernt wird,
die obere Plattform vorwärts zur Y-Achse zur Anlage des Referenzkontaktgliedes
gegen den Meßfühler gebracht wird, bis das elektronische Meßgerät wieder auf Null gestellt ist, die Länge
des Meßklotzes durch den auf diesem registrierten Zählerstand des Zählers 98 geteilt wird und K in Zoll pro Zählerstand bestimmt
wird und das gleiche Verfahren für die X-Achse mit dem gleichen Referenzkontaktglied, dem gleichen Meßklotz und reversiblen
Zähler 98' der Regelungssschaltung 34 für die X-Achsenpositionierung
zur Bestimmung von K in Zoll pro Zählerstand wiederholt wird. Da Meßklötze gewöhnlich durch das Eichbüro
mit Submikrongenauigkeit geeicht werden, erlaubt dieses KaIibrierverfahren,
daß die obere Plattform 20 der Positionierungsstufe 10 längs der rechtwinkligen X- und Y-Achsen mi-t extrem
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Int. Az.: Fall 162/80 - 31 -
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hoher Präzision bewegt wird. Die Konstanten K und K , sowie
andere möglicherweise zur Kompensation von atmosphärischen
Änderungen verwendeten Konstanten, sind in dem Rechner 92 gespeichert und werden zur Bestimmung eines Satzes von Paaren
von Datensignalen über die X- und Y-Endpunkte bestimmt, die für den gewünschten Schritt- und Wiederholungsvorgang erforderlich
sind. Wenn jedes Paar von Datensignalen über die X- und Y-Endpunkte durch den Rechner 92 den Registern 102' und 102
der Regelungsschaltung 94 und 96 über die X- und Y-Achsenpositionierung zugeführt wird, wird die obere Plattform 20
der Positionierungsstufe 10 nacheinander schrittweise längs genau rechtwinkliger X- und Y-Achsen in die durch das Paar
von X- und Y-Endpunktdatensignalen spezifizierte Position bewegt, so daß nacheinander aneinander angrenzende Bereiche
der Mikroschaltung eines Niveaus auf dem Halbleiterplättchen 12 mit dem projizierten Abbild des Fadenkreuzes oder Rahmens
14 ausgerichtet werden. Da die obere Plattform 20 entlang genau rechtwinkliger X- und Y-Achsen schrittweise weitergeschaltet
wird, können andere derartige Positionierungsstufen austauschbar beim Drucken der verschiedenen Niveaus der Mikroschaltung
auf demselben Halbleiterplättchen 12 verwendet
werden.
Entsprechend Figur 4 wird ein anderes Paar von Positionierungsregelkreisen 96 und 94 für die X- und Y-Achsen erläutert, das
anstelle der bisher in Verbindung mit Figur 3 verwendeten Positionierungsschaltung benutzt werden kann zur Regelung der
Position der interferometrisch geregelten Positionierungsstufe
gemäß Figur 1. Da diese Regel schaltkreise 96 und 94 für die Positionierung entlang der X- und der Y-Achse identisch sind,
werden wiederum die gleichen Bezugszeichen für die gleichen Elemente beider Schaltkreise verwendet, wobei die Elemente des Regelschaltkreises
für die X-Positionierung mit einem Strich versehen werden, und es wird im einzelnen nur der Regel schaltkreis
96 beschrieben. Die Impulse an den inkrementierenden und dekrementierenden Ausgängen der ersten dual en Addierschaltung
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Int. Az.: Fall 162/80 - 32 -
werden wieder einem reversiblen Zähler 98 zugeführt, der diese Impulse zählt und ein digitales Ausgangssignal Δγ herstellt,
welches proportional der Summe (AL + AL2) der Verschiebungen
AL. und ALp der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und
32 bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 längs der AL1- und AL^-Meßwege der ersten bzw. zweiten Interferometersysteme
40 bzw. 42 ist, wenn die obere Plattform 20 der Stufe 10 entlang der X-Achse oder der Y-Achse bewegt wird.
Der reversible Zähler 98 integriert wieder die Summe der Geschwindigkeiten
der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 über der Zeit, wenn diese Geschwindigkeiten durch die ersten
bzw. zweiten Interferometersysteme 40 bzw. 42 gemessen werden, um das digitale Ausgangssignal aY abzuleiten. Dieses Ausgangs signal
ΔΥ wird wieder einem Eingang eines Komparators 100 zugeführt, und das digitale Datensignal über den Y-Wert vom Rechner 92 wird
wieder in einem Register 102 gespeichert und dem anderen Eingang des Komparators zugeführt. Der Komparator 100 erzeugt ein
digitales Vergleichssignal, welches der Differenz zwischen den ihm zugeführten digitalen Signalen entspricht und proportional
der Strecke ist, um welche die obere Plattform 20 der Stufe 10
längs der Y-Achse bewegt werden muß, um die Position auf der Y-Achse zu erreichen, die durch das Y-Datensignal spezifiziert
ist. Dieses digitale Vergleichssignal wird dem Rechner 92 zugeführt, der wieder bei einem von Null abweichenden Eingangssignal
nacheinander jedes von einer Reihe von digitalen Geschwindigkeitssignalen in einem Register 103 speichert. Diese
digitalen Geschwindigkeitssignale und die Dauer, während derer sie in dem Register 103 gespeichert sind, definieren ein
optimales Profil der Beschleunigung, der Maximalgeschwindigkeit und der Bremsgeschwindigkeiten, wie es in bekannter Weise festgelegt
werden kann, für die Strecke, um welche die obere Plattform 20 der Positionierungsstufe 10 längs der Y-Achse bewegt
werden muß. Jedes in dem Register 103 gespeicherte digitale Geschwindigkeitssignal wird einem D/A-Umsetzer T04 zugeführt,
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der dieses in ein analoges Spannungssignal umformt und einem Eingang einer Summierschaltung 106 zuführt. Ein anderes
analoges Spannungssignal wird durch einen Tachometer 108 in der vorbeschriebenen Weise erzeugt und dem anderen Eingang
der Summierschaltung 106 zugeführt. Somit erzeugt die Summierschaltung 106 eine Ausgangsspannung, die der Differenz
zwischen dem analogen Spannungssignal vom A/D-Umsetzer 104 und vom Tachometer 108 entspricht. Bei einem von Null abweichenden
Vergleichssignal vom Komparator 100 betätigt der Rechner 92 auch eine Wähl schaltung 109 und führt das Ausgangsspannungssignal
von der Summierschaltung 106 einer Servotreiberschaltung
110 zu, welche einen Servomotor 112 für die Y-Achse treibt. Dieser Servomotor ist auf der oberen Plattform
20 befestigt und arbeitet gegen die untere Plattform der Positionierungsstufe 10 und bewegt die obere Plattform dadurch
längs der Y-Achse zu der Position auf der Y-Achse, welche durch das Datensignal über den Y-Wert bestimmt ist. Der
Tachometer 108 ist funktionell mit dem Servomotor 112 für die
Y-Achse verbunden und erzeugt ein analoges Spannungssignal, welches proportional dem IST-Wert der Geschwindigkeit des
Servomotors für die Y-Achse ISt1,und führt dieses der Summierschaltung
106 zu. Dadurch wird das Ausgangsspannungssignal von der Summierschaltung 106 verringert und dadurch die tatsächliche
Geschwindigkeit und die gewünschte Geschwindigkeit des Servomotors 112 für die Y-Achse gleichgemacht.
Der reversible Zähler 98' der Regelschaltung 94 zur Positionierung
entlang der X-Achse integriert in ähnlicher Weise die Differenz der Geschwindigkeiten der ersten und zweiten bewegbaren
Spiegel 30 und 32, wenn diese Geschwindigkeiten durch die ersten bzw. zweiten Interferometersysteme 40 bzw.
gemessen werden, um ein digitales Ausgangssignal ΔΧ zu erzeugen, welches proportional der Differenz (AL1- AL2) der Verschiebungen
AL-j und AL2 der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel
bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und
38 längs der AL^- und der ΔL2~Meßwege der ersten bzw. zweiten
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Int. Az.: Fall 162/80 - 34 -
Interferometersysteme ist, während die obere Plattform 20 der Positionierungsstufe 10 entlang entweder der X-Achse
oder der Y-Achse der Positionierungsstufe bewegt wird. Entsprechend diesem digitalen Ausgangssignal δΧ und einem
Datensignal über den X-Wert, welches in dem Register 102' durch den Rechner 92 gespeichert ist, speist die Servotreiberschaltung
110' den Servomotor 112' für die X-Achsenpositionierung.
Dieser Motor ist auf der unteren Plattform 16 der Positionierungsstufe befestigt und arbeitet gegen den Granitblock 18,
auf dem die oberen und unteren Plattformen 20 und 16 befestigt sind, so daß die untere Plattform und damit auch die obere
Plattform, welche mit der unteren Plattform verbunden ist zur Bewegung mit dieser entlang der X-Achse^in die Position auf
der X-Achse bewegt werden, die durch das Datensignal über den X-Wert bestimmt ist.
Somit wird die obere Plattform 20 wieder entlang der rechtwinkligen
X- und Y-Achsen entsprechend der Differenz (AL1 - AL )
und der Summe (AL^ + AL2) der Verschiebungen der ersten und
zweiten bewegbaren Spiegel 30 und 32 bezüglich der ersten und zweiten stationären Spiegel 36 und 38 entlang der Meßwege AL.
und AL2 der ersten bzw. zweiten Interferometersysteme 40 bzw.
42 bewegt entsprechend den Ausdrücken in den Gleichungen (1)
und (2). In der Praxis können die Konstanten K und K dieser
χ y
Gleichungen bestimmt werden, ohne daß genau der halbe Winkel θ zwischen den ersten und zweiten bewegbaren Spiegeln 30 und
32 bekannt sein muß. Die Konstanten Κχ und K sind zusammen
mit anderen Konstanten, welche zur Kompensation von Änderungen der atmosphärischen Bedingungen und dergleichen verwendet werden
können, in dem Rechner 92 gespeichert und werden zur Be-Stimmung eines Satzes von Paaren von Datensignalen über die
X- und Y-Werte nacheinander durch den Rechner 92 den Registern 102' und 102 der Regel schaltkreise 94 und 96 für die Positionierung
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Int. Az.: Fall 162/80 - 35 -
entlang den X- und den Y-Achsen zugeführt, wie vorher beschrieben wurde, um nacheinander die obere Plattform 20 der Positionierungsstufe
10 längs der zu einander rechtwinkligen X- und Y-Achsen
in die Positionen zu bewegen, die durch die Paare von Datensignalen über die X/Y-Endpunkte bestimmt sind.
Das Auflösungsvermögen der Regel schaltkreise 94 und 96 für die
Positionierung entlang den X- und Y-Achsen gemäß Figur 4 wird entsprechend der bevorzugten Ausführungsform dieser Erfindung
erweitert, indem die Regelschaltung 96 für die Positionierung
entlang der Y-Achse mit einer Phasenregel schaltung 114 versehen
wird, die auf das Referenzsignal mit der Frequenz f, - fo>
das erste Meßsignal mit der Frequenz f. - f^ ί 2Δ f· und ein
aus drei Bits bestehendes Regel- oder Auswahlcodesignal anspricht,
das durch den Rechner 92 entsprechend einem NuIlabgleichssignal
vom Komparator 100 abgegeben wird, um ein Regel signal zur Positionierung in der nachfolgend beschriebenen
Weise zu erzeugen. In ähnlicher Weise ist die Regelschaltung mit einem Phasenregelkreis 114' versehen, der auf das Referenzsignal
mit der Frequenz f1 - f2, das zweite Meßsignal mit der
Frequenz f1 - f2 i 2 Af. und ein anderes aus drei Bits bestehendes
Regel- oder Wählcodesignal anspricht, das vom Rechner 92 entsprechend einem Null Vergleichssignal vom Komparator 100'
abgegeben wird, um ein anderes Positionierungsregel signal in der noch zu beschreibenden Weise zu erzeugen. Diese drei Positionsregelsignale
werden einem Paar von Eingängen einer Summierschaltung 116 der Regelschaltung 96 für die X-Achsenposition zugeführt,
um ein Ausgangsspannungssignal zu erzeugen, welches der Summe der Positionsregelsignale entspricht. Sie werden auch
einem Paar Eingängen einer Summierschaltung 116' in der Regelschaltung
94 für die X-Achsenposition zugeführt, um ein Ausgangsspannungssignal zu erzeugen, welches der Differenz der
Positionsregel signale entspricht. Bei Nullabgleichssignalen
von den Komparatoren 100 und 100' betätigt der Rechner 92 die
Wähl schaltungen 109 und 109', und die Ausgangsspannungssignale
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Int. Az.: Fall 162/80 - 36 -
von den Summierschaltungen 116 und 116' werden den Servotreiberschaltungen
110 bzw. 110" zugeführt. Dadurch werden diese Servomotoren 112 und 112' für die X- und Y-Achsen gespeist und bewegen
die obere Plattform 20 der Stufe 10 genau in die gewünschten
X- und Y-Achsonpositionen.
Aus Figur 5 geht ein Blockschaltbild der Phasenregel schaltungen
114 und 114' für die Regelschaltkreise 96 und 94 für die X- und Y-Positionen aus Figur 4 hervor. Da diese Phasenregel schaltkreise
114 und 114' identisch sind, werden für die gleichen Elemente beider Phasenregel schaltungen die gleichen Bezugszeichen verwendet,
wobei diejenigen für die Phasenregel schaltung 114 der X-Achsenpositionierungsregelschaltung
94 in Figur 4 mit einem Strich versehen sind, und nur die Phasenregel schaltung 114 für
die Regelschaltung 96 für die Y-Achsenposition gemäß Figur 4
im einzelnen beschreiben wird.
Die Phasenregel schaltung 114 enthält einen steuerbaren Phasenschieber
118, der das Referenzsignal mit der Frequenz f^ - f2
aufnimmt und ein Ausgangssignal mit der gleichen Frequenz erzeugt, welches bezüglich der Phase verschoben ist entsprechend
dem aus drei Bit bestehenden Wählcode vom Rechner 92. Dieser Phasenschieber enthält einen Phasendetektor 120 mit einem
ersten Eingang, dem das Referenzsignal mit der Frequenz f. - fzugeführt
wird, und einem zweiten Eingang, dem ein Ausgangssignal vom einer Teilerschaltung 122 mit dem Teiler N zugeführt
wird, wie noch erläutert wird. Entsprechend diesen Eingangssignalen führt der Phasendetektor 120 einem mittels einer
Spannung steuerbaren Oszillator 124 ein Ausgangsspannungssignal derart zu, da3 der Oszillator gespeist wird und ein Ausgangssignal
mit einer Frequenz erzeugt, welche N mal größer als die Frequenz f. - f^ des Referenzsignals ist. Dieses Ausgangssignal
von dem Oszillator 124 wird einem Eingang der Teilerschaltung 122 und einem Takteingang eines Schieberegisters 126 zugeführt.
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Int. Az.: Fall 162/80 - 37 -
Die Teilerschaltung 122 teilt dieses Ausgangssignal durch N,
wobei zum Zwecke der Erläuterung von einem Wert von acht ausgegangen wird, und führt das resultierende Ausgangssignal
dem zweiten Eingang des Phasendetektors 120 und auch einem Dateneingang des Schieberegister 126 zu. Entsprechend den zugeführten
Ausgangssignalen von der Teilerschaltung 122 und
dem Oszillator 124 führt das Schieberegister 126 N (oder acht) Ausgangssignale mit verschiedener Phase (wobei sich der Phasenwert jedes dieser Signale von demjenigen des vorhergehenden
Signales um 360°/N oder um 45° unterscheidet) einem Datenwähler 128 zu. .Der Datenwähler 128 führt ein ausgewähltes dieser Ausgangssignale
vom Schieberegister 126 dem Ausgang des steuerbaren Phasenschiebers 118 zu entsprechend dem aus drei Bit
bestehenden Wählcodesignal, welches vom Rechner 92 zugeführt
wird bei einem Nullabgleichssignal vom Komparator 100. Wie vorher
ausgeführt wurde, hat das ausgewählte Ausgangssignal die gleiche Frequenz f^-f2 wie das Referenzsignal.
Die Phasenregel schaltung 114 enthält auch einen Phasendetektor
130 mit einem ersten Eingang, bei dem das gewählte Ausgangssignal,
d.h. das Ausgangssignal mit der gewünschten Phasenverschiebung, der Frequenz f^-fo von dem steuerbaren Phasenschieber
118 zugeführt wird, sowie einen zweiten Eingang, dem das erste
Meßsignal mit der Frequenz f.-f J1Z Af [_ zugeführt wird. Entsprechend
diesen Signalen gibt der Phasendetektor 130 ein Positions-Steuersignal
an einen Eingang von jeder der Summierschaltungen 116 und 116' in der beschriebenen Weise ab, wobei dieses
Signal proportional der Differenz der Phase der Eingangssignale ist. In ähnlicher Weise sprechen der steuerbare Phasenschieber
118' und der Phasendetektor 130' der Phasenregel schaltung 114'
auf das Referenzsignal mit der Frequenz f,-f,, auf das andere
aus drei Bits bestehende Wählcodesignal vom Rechner 92 und auf das zweite Meßsignal mit der Frequenz f1~f? ±2 hf, an und geben
ein anderes Positionsregelsignal, welches proportional der Phasendifferenz zwischen dem ausgewählten Ausgangssignal vom
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Int. Az.: Fall 162/80 - 38 -
steuerbaren Phasenschieber 118' und dem zweiten Meßsignal ist,
an den anderen Eingang jeder der Summierschaltungen 116 und 116' ab.
Die Summe und die Differenz dieser drai Positionsregelsignale werden
den Wähl schaltungen 109 und Ί09'der Regel schaltkreise 96 bzw.
94 für die X- und Y-Achsenposition gemäß Figur 4 zugeführt, um das Auflösungsvermögen dieser Positionsregelschaltungen in der
beschriebenen Weise zu erweitern.
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Claims (14)
1. Stufe, welche entlang erster und zweiter orthogonaler (X/Y-) Achsen bewegbar ist und eine nominell entlang der ersten und
zweiten Achsen bewegbare Plattform enthält, dadurch gekennzeichnet, daß erste und zweite Bezugsglieder
(30 und 32) auf der Plattform (20) zur Bewegung mit dieser angeordnet sind und nominell symmetrisch zur ersten Achse (Y in
Figur 1) in Ebenen angeordnet sind, die sich nominell an der ersten Achse schneiden, erste und zweite Meßeinrichtungen (40
und 42) vorgesehen sind, welche erste und zweite Meßsignale (^Af]_, und ^AfL2) erzeugen, welche repräsentativ für die
Bewegung der ersten und zweiten Referenzglieder entlang erster und zweiter Meßwege (Al1 und Δι) sind, die nominell
rechtwinklig zu den ersten bzw. zweiten Bezugsgliedern sind, während die Plattform längs entweder der ersten oder der zweiten
Achse bewegt wird, und erste und zweite Regeleinrichtungen (96 und 94) entsprechend der Summe und der Differenz der
ersten und zweiten Meßsignale bewirken, daß die Plattform sich längs der orthogonalen ersten und zweiten Achsen bewegt.
2. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Plattform (20) nominell bewegbar ist längs der ersten und zweiten Achsen (Y und
X in Figur 1) in einer ersten Ebene, die ersten und zweiten Referenzglieder erste und zweite bewegbare Spiegel (30 und 32)
enthalten, die nominell symmetrisch zur ersten Achse (Y in
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Int. Az.: Fall 162 - 2 -
Figur 1) in zweiten und dritten Ebenen angeordnet sind, die nominell rechtwinklig zur ersten Ebene verlaufen und einander
nominell an der ersten Achse schneiden, die ersten und zweiten Meßeinrichtungen erste und zweite Interferometersysteme
(40 und 42) enthalten zur Abgabe erster und zweiter Meßsignale (±2Δί^1 und ^AfLo)>
welche die Bewegung der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel längs der ersten bzw. zweiten Meßwege
(Δι- und Al2) anzeigen, während die Plattform entweder längs
der ersten oder der zweiten Achse bewegt wird, und die ersten und zweiten Regeleinrichtungen erste und zweite Positionsregelschaltkreise
(96 und 94) enthalten, welche entsprechend der Summe und der Differenz der ersten und zweiten Meßsignale·
bewirken, daß die Plattform längs der orthogonalen ersten und zweiten Achsen von einer Position zu einer anderen bewegt wird,
wobei die erste Achse den Winkel (2Θ) zwischen den ersten und zweiten bewegbaren Spiegeln halbiert.
3. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Interferometersysteme (40 und 42) erste und zweite Meßsignale
(±2Af|_^ und ±2AfL2^ erzeu9en» die proportional zu den Geschwindigkeiten
der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel (30 und 32) längs der ersten bzw. zweiten Meßwege (Al1 und A[o) sind,
während die Plattform (20) entweder längs der ersten oder der zweiten Achse (Y oder X in Figur 1) der Stufe bewegt wird, und
die ersten und zweiten Positionsregel schaltkreise (96 und 94) die Summe und die Differenz der ersten und zweiten Meßsignale
über der Zeit integrieren zur Erzeugung erster und zweiter IST-Positionssignale (aY und AX) die proportional der Summe
bzw. der Differenz der Verschiebungen der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel längs der ersten bzw. zweiten Meßwege sind,
und bewirken, daß die Plattform längs der orthogonalen ersten und zweiten Achsen der Stufe bewegt wird entsprechend den Differenzen
zwischen den ersten und zweiten IST-Positionssignalen
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Int. Az.: Fall 162/80 - 3 -
3UUö39b
und den ersten bzw. zweiten SOLL-Positionssignalen.
4. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Stufe einen Vakuumhalter (22) enthält, der auf der Plattform (20) zur
Bewegung mit dieser befestigt ist und ein Werkstück (12) zur schrittweisen Bewegung in verschiedene Positionen bezüglich
einer Bearbeitungseinrichtung (26) hält, und die ersten und zweiten Positionsregelschaltkreise (96 und 94) auf aufeinanderfolgende
Paare von ersten und zweiten SOLL-Positionssignalen (Y und X in Figur 3 oder 4) ansprechen und die Plattform nacheinander
schrittweise in verschiedene Positionen längs der ersten und zweiten orthogonalen Achsen (Y und X in Figur 1)
zu aufeinanderfolgend bezüglich der Position verschiedenen
Bereichen des Werkstücks bezüglich der Bearbeitungseinrichtung
15 führen.
5. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 2, 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Stufe einen Granitblock (18) enthält, die Plattform eine erste Plattform
(20) enthält, die zur nominellen Bewegung längs der ersten Achse (Y in Figur 1) auf dem Granitblock angeordnet ist, die
Stufe eine zweite Plattform (16) enthält, die zur Bewegung auf dem Granitblock nominell längs der zweiten Achse (X in
Figur 1) angeordnet ist, die erste Plattform mit der zweiten Plattform zur Bewegung mit dieser längs der zweiten Achse
gekoppelt ist, die ersten und zweiten Positionsregel schaltungen (96 und 94) mit den ersten bzw. zweiten Plattformen gekoppelt
sind zur Bewegung der ersten Plattform längs der orthogonalen ersten und zweiten Achsen entsprechend der Summe und der Differenz
der ersten bzw. zweiten Meßsignale (±2Δί[_1 und ^AfL2).
6. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß diese eine Verknüpfungs-
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Int. Az.: Fall 162/80 - 4 -
einrichtung (88) enthält, welche entsprechend den ersten und zweiten Meßsignalen ein für die Summe dieser Signale repräsentatives
Signal an den ersten Positionsregelschaltkreis (96) abgibt, und daß die Stufe eine zweite Verknüpfungseinrichtung
(90) enthält, welche entsprechend den ersten und zweiten Meßsignalen ein für die Differenz dieser Signale repräsentatives
Signal an den zweiten Positionsregelschaltkreis
(94) abgibt.
7. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Positionsregelschaltung (96) eine erste Zähleinrichtung (98) enthält, die
mit der ersten Verknüpfungseinrichtung (88) verbunden ist und die Summe der ersten und zweiten Meßsignale (±2Δ^(_1 und
^Af^p) über der Zeit integriert und ein erstes IST-Positionssignal
(ΔΥ) erzeugt, welches proportional der Summe der Verschiebungen der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel (30
und 32) längs der ersten bzw. zweiten Meßwege (Al1 und Δ[_ο)
ist, eine erste Registereinrichtung (102) ein erstes SOLL-Positionssignal (Y in Figur 3 oder 4) aufnimmt, eine erste
Komparatoreinrichtung (100) mit der ersten Zähleinrichtung
und der ersten Registereinrichtung verbunden ist und ein
erstes Vergleichssignal entsprechend der Differenz zwischen dem ersten IST-Positionssignal und dem ersten SOLL-Positionssignal
abgibt, und eine erste Treibereinrichtung (104, 106, 108, 110 und 112) mit der ersten Komparatoreinrichtung und
der ersten Plattform (20) verbunden ist zur Bewegung der ersten Plattform längs der ersten Achse (Y inFigur 1) zu
einer durch das erste SOLL-Positionssignal bezeichneten Position, und der zweite Positionsregelschaltkreis (94) eine
zweite Zähleinrichtung (98') enthält, die mit der zweiten Verknüpfungseinrichtung verbunden ist zur Integration der
Differenz der ersten und zweiten Meßsignale über der Zeit zur Abgabe eines zweiten IST-Positionssignals (ΔΧ), welches
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Int. Az.: Fall 162/80 - 5 -
proportional der Differenz der Verschiebungen der ersten und zweiten bewegbaren Spiegel längs der ersten bzw. zweiten
Meßwege ist, eine zweite Registereinrichtung (1021) ein zweites SOLL-Positionssignal (X in Figur 3 oder 4) aufnimmt,
eine zweite Komparatoreinrichtung (1001) mit der
zweiten Zähleinrichtung und der zweiten Registereinrichtung verbunden ist und ein zweites Vergleichssignal entsprechend
der Differenz zwischen dem zweiten IST-Positionssignal und
dem zweiten SOLL-Positionssignal erzeugt, und eine zweite Treibereinrichtung (104', 106', 108', 110' und 112') mit
der zweiten Komparatoreinrichtung und der zweiten Plattform (16) verbunden ist zur Bewegung der ersten Plattform längs
der zweiten Achse zu einer durch das zweite SOLL-Positionssignal bezeichneten Position.
8. Interferometrisch .geregelte Stufe nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Treibereinrichtung einen ersten Motor (112) enthält, der mit der
ersten Plattform (20) gekoppelt ist zur Bewegung der ersten Plattform längs der ersten Achse (Y in Figur 1),eine erste
Summierschaltung (106) auf die erste Komparatoreinrichtung (100) und eine Quelle (108) eines Signales anspricht, das
auf die Geschwindigkeit des ersten Motors bezogen ist, zur
Abgabe eines auf die Differenz zwischen dem Sollwertsignal
und dem auf die Geschwindigkeit des ersten Motors bezogenen Signals, und eine erste Servotreiberschaltung (110) mit der
ersten Summierschaltung und dem ersten Motor gekoppelt ist
und den ersten Motor derart speist, daß er die erste Plattform längs der ersten Achse in die Position bewegt, die
durch das erste SOLL-Positionssignal (Y in Figur 3 oder 4) bezeichnet ist, und die zweite Treibereinrichtung einen
zweiten Motor (1121) enthält, der mit der zweiten Plattform
(16) gekoppelt ist und die erste Plattform längs der zweiten Achse (X in Figur 1) bewegt, eine zweite Summierschaltung
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Int. Az.: Fall 162/80 - 6 -
(106') auf die zweite Komparatoreinrichtung (100') und eine
Quelle (108*) eines Signales anspricht, das auf die Geschwindigkeit
des zweiten Motors bezogen ist, zur Erzeugung eines
der
Signales, welches gleich/ Differenz zwischen dem Sollwertsignal und dem auf die Geschwindigkeit des zweiten Motors bezogenen Signal ist, und eine zweite Servotreiberschaitung (110') gekoppelt ist mit der zweiten Summierschaltung und dem zweiten Motor und den zweiten Motor derart speist, daß er die erste Plattform längs der zweiten Achse in die durch das zweite Sollwert-Positionsregel signal (X in Figur 3 oder 4) bezeichnete Position bewegt.
Signales, welches gleich/ Differenz zwischen dem Sollwertsignal und dem auf die Geschwindigkeit des zweiten Motors bezogenen Signal ist, und eine zweite Servotreiberschaitung (110') gekoppelt ist mit der zweiten Summierschaltung und dem zweiten Motor und den zweiten Motor derart speist, daß er die erste Plattform längs der zweiten Achse in die durch das zweite Sollwert-Positionsregel signal (X in Figur 3 oder 4) bezeichnete Position bewegt.
9. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 5, 6, 7 oder
8, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Plattform (20) längs der ersten und zweiten Achsen (X und Y
in Figur 1) der Stufe in einer horizontalen Ebene bewegbar ist, und die ersten und zweiten bewegbaren Spiegel (30 und 32) jeweils
in einer vertikalen Ebene angeordnet sind.
10. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Halter (28) fest bezüglich der Stufe (10) befestigt und über der ersten Plattform
(20) angeordnet ist zur Halterung eines Fadenkreuzes (H)5
welches auf das durch den Vakuumhalter (22) gehaltene Werkstück (12) abzubilden ist, und eine Projektionslinse (26)
fest bezüglich der Stufe und zwischen dem Halter und der
ersten Plattformbefestigt ist zur Projektion eines Abbildes
des durch den Halter gehaltenen Fadenkreuzes auf das durch den Vakuumhalter gehaltene Werkstück, und die ersten und
zweiten Positionsregel schaltkreise (96 und 94) ansprechen
auf aufeinanderfolgende Paare von ersten und zweiten SOLL-Positionssignalen
(Y und X in Figur 3 oder 4) zur aufeinanderfolgenden schrittweisen Weiterschaltung der ersten Plattform
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Int. Az.: Fall 162/80 ■ - 7 -
3006335
in verschiedene Positionen längs der orthogonalen ersten und zweiten Achsen in aufeinanderfolgend bezüglich der
Position verschiedene Bereiche des Werkstücks bezüglich des Fadenkreuzes in einem schrittweisen Betrieb.
11. Interferometrisch geregelte Stufe nach Anspruch 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten stationären Spiegel (36 und 38) fest bezüglich
der ersten Plattform (20) angeordnet und nominell parallel zu den ersten bzw. zweiten bewegbaren Spiegeln (30 und 32)
angeordnet sind, das erste Interferometersystem (40) erste optische Einrichtungen (60, 62, 66, 70, 74 und 76) enthält,
um Eingangslicht einer ersten Frequenz (f^) längs des
ersten Meßwegs (64 und 68) auf den ersten bewegbaren Spiegel (30) zu richten, das Eingangslicht einer zweiten Frequenz (f2)
längs eines Referenzwegs (78 und 80) auf den ersten stationären Spiegel (36) zu richten und das wenigstens einmal von dem
ersten stationären Spiegel reflektierte Licht und das wenigstens einmal von dem ersten bewegbaren Spiegel und in
der Frequenz verschobene Licht zu verknüpfen, wenn die erste Plattform längs entweder der ersten oder der zweiten
Achse (Y oder X in Figur 1) bewegt wird, um einen ersten Ausgangslichtstrahl (73) zu erzeugen, der eine erste Komponente
der gleichen Frequenz (f1 ±2Afi_.) aufweist wie das
wenigstens einmal von dem ersten bewegbaren Spiegel reflektierte Licht und der eine zweite Komponente mit der gleichen
Frequenz (f2) aufweist wie das wenigstens einmal von dem
ersten stationären Spiegel reflektierte Licht, eine erste photoelektrische Detektoreinrichtung (72) das erste Ausgangslicht
aufnimmt und aus diesem ein erstes Ausgangssignal mit einer Frequenz (f1-f2 ±2Afi_1) erzeugt, das gleich der Differenz
der Frequenzen der ersten und zweiten Komponenten des ersten Ausgangslichtstrahls ist, und eine erste Mischein-.
richtung (82) mit der ersten photoelektrischen Detektor-
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einrichtung und einer Quelle (86) des Signals mit einer Frequenz (^f2) gekoppelt ist, die gleich der Differenz
der Frequenzen des Eingangslichtes mit der ersten Frequenz und des Eingangslichtes mit der zweiten Frequenz ist und
das erste Meßsignal (±2Äfj_-) abgibt, und das zweite Interferometersystem
(42) eine zweite optische Einrichtung (761) enthält und Eingangslicht einer ersten Frequenz (f.) längs
des zweiten Meßwegs (641 und 68') auf den zweiten bewegbaren
Spiegel (32) richtet und Eingangslicht einer zweiten Fre-• 10 quenz (f^) längs eines zweiten Referenzwegs (781 und 80')
auf den zweiten stationären Spiegel (38) richtet und wenigstens einmal von dem zweiten stationären Spiegel reflektiertes
Licht und wenigstens einmal von dem . zweiten bewegbaren Spiegel reflektiertes und in der Frequenz verschobenes
Licht verknüpft, wenn die erste Plattform (20) längs entweder der ersten oder der zweiten Achse (Y oder X in Figur 1)
bewegt wird zur Abgabe eines zweiten Ausgangslichtstrahls (731) mit einer ersten Komponente der gleichen Frequenz
(f.±2Af[_2) wie das wenigstens einmal von dem' zweiten bewegbaren
Spiegel reflektierte Licht und einer zweiten Komponente der gleichen Frequenz (fp) wie das wenigstens einmal von dem
zweiten stationären Spiegel reflektierte Licht, eine zweite photoelektrische Detektoreinrichtung (721) den zweiten Ausgangslichtstrahl
aufnimmt und aus diesem ein zweites Ausgangssignal ableitet mit einer Frequenz (f^-fo^Af^«), die
gleich der Differenz der Frequenzen der ersten und zweiten Komponenten des zweiten Ausgangslichtstrahls ist, und eine
zweite Mischeinrichtung (84) mit der zweiten photoelektrischen
Einrichtung und der Quelle (86) des Signals verbunden ist, welches eine Frequenz entsprechend der Differenz der Frequenzen
des Eingangslichtes der ersten Frequenz und des Eingangslichtes der zweiten Frequenz hat zur Abgabe des zweiten
Meßsignales (±2AfL2)-
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Int. Az.: Fall 162/80 - 9 -
12. Positionsregelschaltung vorzugsweise für eine X/Y-Stufe nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Einrichtung
(118) auf ein Referenzsignal (f^-fg) und ein Regelsignal
(Wählcode) anspricht zur Abgabe eines Ausgangssignales mit der gleichen Frequenz wie das Referenzsignal und mit
einer Phase, die durch das Regelsignal bestimmt ist, und eine zweite Einrichtung (130) mit der ersten Einrichtung
gekoppelt ist und auf das Ausgangssignal von dieser und auf ein Eingangssignal (f.-fp^AfL-i) anspricht, welches
eine Frequenz hat, die auf das Referenzsignal bezogen ist, um ein Positionsregelsignal zu erzeugen, welches proportional
der Differenz bezüglich der Phase zwischen dem Eingangssignal und dem Ausgangssignal von der ersten Ein-
15 richtung ist.
13. Positionsregelschaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Einrichtung einen
steuerbaren Phasenschieber (118) und die zweite Einrichtung
einen Phasendetektor (130) enthält.
14. Positionsregelschaltung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der steuerbare Phasenschieber
(118) einen spannungsgesteuerten Oszillator (124) enthält zur Erzeugung eines Ausgangssignals mit einer Frequenz,
die N mal größer als die Frequenz des Referenzsignals (fi-f?)
ist, eine Teilerschaltung (122) mit dem Oszillator (124) verbunden ist zur Abgabe eines Ausgangssignals mit einer
Frequenz, die gleich der Frequenz des Ausgangssignales von diesem geteilt durch N ist, ein anderer Phasendetektor (120)
mit der Teilerschaltung (122) und dem Oszillator (124) verbunden ist und auf das Ausgangssignal von der Teilerschaltung
und das Referenzsignal (fi-f2) anspricht zur Speisung des
Oszillators, so daß diese ein Ausgangssignal mit einer Frequenz abgibt, die N mal größer als die Frequenz des Referenzsignales
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Int. Az.: Fall 162/80 - 10 -
ist, ein Schieberegister (126) mit dem Oszillator (124) und dem letztgenannten Phasendetektor (120) verbunden ist zur
Abgabe von N Ausgangssignalen mit verschiedener Phase, und ein Datenwähler (128) verbunden ist mit dem Schieberegister
(126) und dem erstgenannten Phasendetektor (130) und auf das Regelsignal (Wählcode) anspricht,um ein ausgewähltes
Ausgangssignal vom Schieberegister abzugeben, welches bestimmt wird durch das Regel signal für den erstgenannten
Phasendetektor.
030037/0661
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
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CN111363673B (zh) * | 2018-12-26 | 2021-09-28 | 深圳市真迈生物科技有限公司 | 定位方法、定位装置和测序系统 |
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