DE2953304C2 - Vorrichtung zum Lesen von magnetisch gespeicherter Information - Google Patents

Vorrichtung zum Lesen von magnetisch gespeicherter Information

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DE2953304C2
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Description

29
Richtungen in einer Ebene quer zum optischen Weg des von der Lichtquelle kommenden Lichtstrahls magnetisiert werden kann.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnungen im einzelnen erläutert. In den Zeichnungen zeigen
F i g. 1 und 2 Blockschaltbilder zur Erläuterung der grundsätzlichen Konstruktion der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
F i g. 3 ein Blockschaltbild des Aufbaus einer Ausführungsform der Vorrichtung zum Lesen magnetisch gespeicherter Information entsprechend vorliegender Erfindung,
Fig.4 eine schematische Darstellung des Polarisationszustands von Licht zur Erläuterung der Wirkungsweise der in F i g. 3 gezeigten Ausführungsform,
F i g. 5 ein Blockschaltbild des Aufbaus für den Fall der Anwendung der vorliegenden Erfindung auf eine magnetische Scheibe,
F i g. 6 ein Blockschaltbild des Aufbaus einer anderen Ausführungsform der Vorrichtung nach der vorliegenden Erfindung,
Fig.7 ein Blockschaltbild der Konstruktion einer weiteren Ausführungsform der Vorrichtung nach der vorliegenden Erfindung,
F i g. 8 ein Blockschaltbild des Aufbaus für den Fall des* Anwendung vorliegender Erfindung bei einer optischen Ssfeeübse,
F i g. 9 und ! 0 schematische Darstellungen zur Erläuterung der Wirkungsweise der in F i g. 8 gezeigten Vorrichtung,
Fig. 11 ein Blockschaltbild des Aufbaus einer weiteren Ausfährungsform der Vorrichtung nach der vorliegenden Erfindung,
Fig. 12a und 12b schematische Darstellungen der die in F i g. 11 gezeigte Ausführungsform bildenden Hauptteile,
F i g. 13a und 13b schematische Darstellungen zur Erläuterung der Wirkungsweise der in F i g. 11 gezeigten Ausführungsforrn,
Fig. 14 ein Blockschaltbild des Aufbaus einer weiteren Ausfüfirungsform der Vorrichtung nach der vorliegenden Erfindung,
Fig. 15 eine schematische Darstellung der Polarisationsachse zur Erläuterung der Wirkungsweise der in F i g. 14 gezeigten Ausführungsform und
F i g. 16 eine schematische Darstellung eines anderen Aufbaus der Hauptteile der in Fig. 14 gezeigten Ausführungsform.
F i g. 1 und 2 zeigen die grundsätzliche Konstruktion nach der vorliegenden Erfindung. Genauer gesagt, zeigt Fig. 1 die Vorrichtung der Durchlichtbauart, bei v/elcher der Lichtstrahl ein Medium durchläuft, und F i g. 2 zeigt die Vorrichtung der Reflexionsbauart, bei welcher der Lichtstrahl durch das Medium zurückgeworfen wird. In beiden Zeichnungen repräsentieren gleiche Bezugszeichen gleiche Teile.
In Fig. 1 und 2 bezeichnet die Bezugszahl 10 eine Lichtquelle für das kreisförmig oder elliptisch polarisierte Licht, 20 ein magnetooptisch anisotropes Medium, 30 eine Polarisationsanalyseeinrichtung und 40 eine Einrichtung zum Herbeiführen einer optischen Anisotropie. Wenn das magnetooptische anisotrope Medium 20 ein Stoff ist, der von sich aus eine natürliche Anisotropie aufweist, die auf sein magnetisches Gefüge oder dergl. zurückzuführen ist, und wenn es erwünscht ist, einen solchen Stoff zu beobachten, wird die eine optische Anisotropie hervorrufende Einrichtung 40 als zusätzliche Einrichtung nicht immer benötig}.
In den meisten Fällen ist die Magnetisicrungsrichtung des magnetooptisch anisotropen Mediums 20 parallel oder rechtwinklig zur Oberflüche des Mediums. Jedoch kann die Magnetisierungsriciitung auch beliebig gewählt werden und sich von den vorstehend genannten Richtungen unterscheiden.
Eine Ausführungsform der Vorrichtung nach der vorliegenden Erfindung ist in Fig.3 gezeigt. Nach dieser Zeichnung fällt der Lichtstrahl der Lichtquelle 10, die das elliptisch polarisierte Licht aussendet, auf das magnetooptisch anisotrope Medium 20. Das durchgelassene Licht wird durch einen Fotodetektor 34 über einen Polarisationsanalysator 33A nachgewiesen. Die Größe der optischen Anisotropie des Med'-jms 20 erscheint als eine Änderung der Lichtmenge, die von dem Fotodetektor 34 empfangen wird. Diese Änderung der Lichtmenge kann ferner auf genaue Weise durch eine Differentialeinrichtung oder eine Einrichtung ermittelt werden, die es ermöglicht, einen Teil des Lichtstrahls der Lichtquelle 10 mit Hilfe eines Strahlteilers 50, eines Polarisationsanalysators 33J3 und eines Fotodetektors 35 nachzuweisen, die Intensität des hierdurch erfaßten Lichtes mit derjenigen des Fotodetektors 34 unter Benutzung eines Komparator 60 zu vergleichen und ein entsprechendes Ausgangssignal an einer Ausgangsklemme A zu erzeugen.
Ein wesentliches Merkmal der Erfindung liegt in der Verwendung einer Lichtquelle, aus der ein polarisierter Lichtstrahl austritt, dessen Elliptizität ungleich Null ist, d. h. einer Lichtquelle,die kein linear polarisiertes Licht abgibt. Wenn die eigentliche Licht erzeugende Einrichtung einen linear polarisierten Lichtstrahl abgibt, wird zusätzlich eine Einrichtung für die Umwandlung dieses linear polarisierten Lichts in elliptisch polarisiertes Licht verwendet, die beispielsweise eine Phasenplatte, ein Doppclbrechungselement, ein kreisförmig dichroitisches Element oder dergleichen im optischen Strahlengang aufweist Entsprechend F i g. 3 liegt ein derartiges Element SiM zwischen der Licht erzeugenden Einrichtung 10 und dem magnetooptischen Speichermedium 20 oder, wie das Element Sßö, zwischen dem Speichermedium 20 und dem Polarisationsanalysator 33A.
Mit einer derart aufgebauten Vorrichtung ist es möglieh, nicht nur die Größe, sondern auch die Polarität der magnetooptischen Anisotropie des magnetischen Mediums mit einem hohen Empfindlichkeitsgrad zu ermitteln. Um ein spezielles Beispiel zu geben, sei jetzt angenommen, daß es sich bei dem Medium 20 um ein solches handelt, das einen magnetooptischen kreisförmigen Dichroismus zeigt, z. B. ein thermomagnetisches Aufzeichnungsmedium, und daß die Magnetisierungsrichtung parallel zum optischen Strahlenweg verläuft Ist dieses Medium nicht vorhanden, besteht der Lichtstrahl, der auf den Polarisationsanalysator 33/4 fällt, aus elliptisch polarisiertem Licht mit einer bestimmten Elliptizität, wie es in F i g. 4 durch eine Ellipse a dargestellt ist. In F i g. 4 repräsentieren die Ordinate Y und die Abszisse Xdie Amplitude des Lichtes in dem elektrischen Feld in zwei Richtungen, die sich im rechten Winkel kreuzen. Wegen des Vorhandenseins des Mediums 20 tritt eine Änderung der Elliptizität auf, so daß der Lichtstrahl in elliptisch polarisiertes Licht verwandelt wird, wie es in F i g. 4, z. B. durch eine Ellipse b, dargestellt ist. Wenn die Polarisationsrichtung des Polarisationsanalysators der Richtung der X-Achse entspricht, richtet sich diese Änderung der Elliptizität nach der Größe der Magnetisierung. Kehrt sich die Magnetisierung des Mediums 20
um, nimmt das elliptisch polarisierte Licht den Zustand an, der in der Zeichnung, z. B. durch Ellipse c, dargestellt ist. Ein Vergleich mit dem Zustand a des ursprünglichen elliptisch polarisierten Lichts zeigt, daß die Intensität des Lichtes in der Richtung der -Y-Achse verringert wird. Auf diese Weise wird es möglich, gleichzeitig die Größe und die Polarität des magnetischen kreisförmigen Dichroismus mit Hilfe der Änderung der Elliptizität zu ermitteln.
Bei der vorstehend erwähnten Ausführungsform ist es wichtig, daß die Elliptizität des elliptisch polarisierten Lichtes, das auf das Medium fällt, auf einen Wert eingestellt wird, der größer ist als ein bestimmter Grenzwert. Anderenfalls nähert sich die Mindestelliptizität, die durch die Ellipse c von F i g. 4 dargestellt ist, in einem sehr hohen Maß dem linear polarisierten Licht, und die Polarisaläonskomponente in der Richtung der ,Y-Achse wird äußerst klein. Damit wird auch das Ausgangssignal klein und unterliegt Störungen durch das Rauschen infolge des nicht-idealen Lichtdetektorelements oder des Dunkelstroms des Lichtempfängers. Das Ausgangssigna! oder das Ausmaß der Änderung der Elliptizität nimmt mit der Elliptizität in einem solchen Bereich zu, in dem die Elliptizität des einfallenden elliptisch polarisierten Lichtes nicht sehr groß ist. Ohne Rücksicht auf den Magnetisierungszustand des magnetischen Mediums muß daher die EliiptizitiU des einfallenden elliptischen polarisierten Lichtes so eingestellt werden, daß das elliptisch polarisierte Licht ständig auf den Polarisationsanalysaf.or fällt. Dies kann dadurch bewirkt werden, daß man die Hauptachse der erwähnten Phasenplatte gegenüber der Polarisationsrichtung des auf die Phasenplatte treffenden Lichtes in einem hinreichenden Ausmaß neigt, Im Fall des vorstehend erwähnten kreisförmig dichroitischen Elementes muß die Anordnung so sein, daß die Differenz der Adsorptionsfaktoren für das nach rechts und links kreisförmig polarisierte Licht hinreichend groß wird.
Wenn man die Einstellung in der vorstehend genannten Weise durchführt, läßt sich eine erhebliche Verbesserung des Rauschabstandes erreichen.
Solange die Elliptizität nicht äußerst klein ist, kann die Drehung der Hauptachse der Ellipse als Folge des magnetooptischen Effekts vernachlässigt werden.
Wenn in F i g. 3 das Medium 20 durch einen dünnen magnetischen Film gebildet wird, der auf ein Substrat aufgebracht ist und es ermöglicht, Informationen mit Hilfe der Intensität der Magnetisierung oder der Polarität darzustellen, ist eine Verwendung als Informationsaufzeichnungsmedium entsprechend einer sogenannten magnetischen Scheibe möglich. Fig.5 zeigt eine entsprechende Ausführungsform. Das optisch anisotrope Medium entsteht dadurch, daß der magnetische dünne Film 22 auf dem Substrat 21 erzeugt wird. Der linear polarisierte Strahl eines Lasers 11 wird durch ein Doppelbrechungselement SOA in elliptisch oder kreisförmig polarisiertes Licht verwandelt, durchläuft einen Strahlteiler 50, wird durch das magnetische, optisch anisotrope Medium reflektiert und über der. Strahlteiler 50 und den Polarisationsanalysalor 33Λ durch den Fotodetektor 34 nachgewiesen. Der durch das Medium 20 reflektierte Lichtstrahl wird in seinem Polarisationszustand so verändert, daß seine Elliptizität infolge des Kerr-Effekts von derjenigen des einfallenden Lichtes abweicht. Diese Änderung wird mit Hilfe des vorstehend beschriebenen Verfahrens nachgewiesen.
Fig.6 zeigt eine weitere Ausfuhrungsform der vorliegenden Erfindung. Bei der Licht erzeugenden Einrichtung handeil es sich Um einen Zeeman-Lascr. Zu dem Zeeman-La5er gehören ein Laser Il und eine Einrichtung 12 zum Erzeugen eines magnetischen Feldes: er erzeugt nach rechts kreisförmig polarisiertes Licht und nach links kreisförmig polarisiertes Licht, die sich bezüglich ihrer Frequenz unterscheiden. Dies beruht auf dem bekannten Zceman-Effekt. Gemäß dem bekannten Zeeman-Laser-Verfahren wird eine Resonatorlänge automatisch so eingestellt, daß die Intensitäten des nach rechts und links kreisförmig polarisierten Lichtes einander gleich werden. Damit ergibt sich eine zusammengesetzte Welle aus nach rechts und links kreisförmig polarisiertem Licht in Form linear polarisierten Lichtes, dessen Polarisationsrichtung sich in Abhängigkeit von der Zeit dreht. Dieses linear polarisierte Licht wird mit Hilfe einer Einrichtung 90/4 in elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt. Um diese Einrichtung herzustellen, wird z. B. ein magnetischer, kreisförmig dichroitischer dünner Film 91/4 auf einem Substrat 92Λ erzeugt. Um das optisch anisotrope Medium zu erhalten, wird eine dünne Schicht 22 aus einem thermornagnetischen Aufzeichnungsstoff auf einem Substrat 21 erzeugt Diese Anordnung wird durch einen Motor 23 in Drehung versetzt.
Das wesentliche Merkmal der Vorrichtung nach dieser Ausführungsform besteht darin, daß der durch den Zeeman-Laser erzeugte Lichtstrahl aus mehreren Schwingungslinien besteht, die sich bezüglich ihrer Frequenzen unterscheiden, so daß infolge ihrer gegenseitigen Interferenz Schwebungen entstehen und daher der auf die Fotodetektoren 34 und 35 fallende Lichtstrahl einer Intensitätsmodulation unterworfen wird. Angesichts dieser Tatsache sind bei der in F i g. 6 gezeigten Ausführungsform zusätzlich hinter den Fotodetektoren 34 und 35 Bandpaßfilter 36 und 37 angeordnet. Die Mittcnfrcquenz der Bandpaßfilter wird auf die vorstehend erwähnte Modulationsfrequenz abgestimmt, und ihre Frequenz so eingestellt, daß sie höher ist als die Frequenz des mit Hilfe des Aufzeichnungsmediums 22 erzeugten Signals. Die Bandbreite des Filters wird so eingestellt, daß sie gleich der Bandbreite des erwähnten Signals oder größer als diese ist. Mit der Vorrichtung gemäß dieser Ausführungsform kann der Rauschabstand dadurch verbessert werden, daß man die Modulationsfrequenz des Signals auf geeignete Weise wählt.
Bei dem Zeeman-Laser, der bei der vorstehend genannten Ausführungsform verwendet wird, handelt es sich um die bekannte Bauart, bei der das nach rechts kreisförmig polarisierte Licht die gleiche Intensität hat wie das nach links kreisförmig polarisierte Licht und bei der die zusammengesetzte Welle linear polarisiert ist. Aus diesem Grund benötigt man bei dieser Ausführungsform den elliptischen Polarisator, wie er in F i g. 6 mit 90.4 dargestellt ist. Zur Verbesserung dieses Punktes ist in F i g. 7 der Aufbau eines Zeeman-Lasers dargestellt, mit dem das erzeugte Laserlicht selbst elliptisch polarisiert ist. Ein zu der optischen Achse paralleles magnetisches Feld wird einer laseraktiven Substanz UO mittels eines Generators 12 aufgeprägt. Ein Lichlresonator wird durch zwei reflektierende Spiegel 13/\ und 13Ö gebildet. Das Ausgangslicht des auf diese Weise aufgebauten Zeeman-Lasers ist nach rechts und nach links kreisförmig polarisiert, wobei sich die Frequenzen in der schon beschriebenen Weise unterscheiden. Die Intensität des nach rechts bzw. nach links kreisförmig polarisierten Lichtes bei diesem Zeeman-Laser wird jedoch in der nachstehend beschriebenen Weise durch eine Steuereinrichtung 14 geregelt, die in Fig.7 mit gestrichelten Linien umrandet ist.
Ein Teil des Ausgangslic, ".s wird mittels eines Strahlteilers 141 abgetrennt und uurch eine Viertelwellenlängenplatte 142 geleitet, wodurch aus dem nach rechts biw. links kreisförmig polftfiäigrttsn Ueht awei llnenf polarisierte Lichtstrahlen werden, die sich unter einem rechten Winke! kreuzen. Sie werden mittels eines PoIarisationsanalysators 143 voneinander getrennt, und ihre Intensität wird durch Fotodetektoren 144,4 und 144ß gemessen, woraufhin die Intensitätswerte mittels eines !Comparators 145 verglichen werden. Wenn die Differenz zwischen dem nach rechts und nach links kreisförmig polarisierten Licht nicht gleich einem vorbestimmten Bezugswert ist, der über eine Eingangsklemme 147 zugeführt wird, wird die Abweichung von dem vorbestimmten Bezugswert mit Hilfe eines !Comparators 146 ermittelt, und die Resonatorlänge des Laseroszillators mit Hilfe einer Antriebseinrichtung 143 so eingestellt, daß die Werte einander gleich werden. Wenn der Bezugswert auf Null eingestellt wird, werden die Intensitfitswerte des nach rechts und links kreisförmig polarisierten Lichtes einander gleich, und die zusammengesetzte Welle ist linear polarisiert, wie es schon beschrieben wurde. Wird ein Bezußswert verwendet, der,nicht gleich NuSi ist, erhält man elliptisch polarisiertes licht mit einer EHiptiziUM entsprechend dem Bezugswert Bei dem so erhaltenen elliptisch polarisierten Licht dreht sich die Richtung Ellipsen-Hauptachse in Abhängigkeit von der Zeit in der gleichen Weise wie die Polarisationsebene des in Fig.6 dargestellten linear polarisierten Lichee. Daher ist es möglich, die Änderung der ElliptizitSt mit Kilfe des gleichen optischen Systems zu ermitteln, wie es in F i g. 6 dargestellt ist.
ft! it anderen Worten, der in F i g. 7 gezeigte elliptisch polarisierend® Zccman-Laser wird als die Lichtquelle 10 verwendet, und der Generator SM für die elliptische Polarisation wird nicht benötigt Bei diese.· Anordnung werden die auf die Fotodetektoren 34 und 35 fallenden Lichtstrahlen einer Intensitätsmodulation unterzogen, und ihre Amplitude entspricht der Elliptizität Somit entspricht die Modulationsamplitude des auf den Fotodetektor 34 fallenden Lichtstrahls der Elliptizität des das Aufzeichnungsmedium 22 passierenden Lichtes, und diejenige des auf den Fotodetektor 35 fallenden Lichtes der Ellipiizitfit des von der Lichtquelle ausgesandten Lichtes. Aus diesem Grund ist es möglich, die auf das optisch anisotrope Medium zurückzuführende Änderung der Elliptizität in der gleichen Weise zu ermitteln wie bei der in F i g. 3 gezeigten Ausführungsform.
F i g. 8 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Diese Ausführungsform bezieht sich a uf eine Vorrichtung zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Informationen auf einer optischen Scheibe unter Verwendung der magnetooptischen Anisotropie in einem querüegenden magnetischen Feld. Die Informationsscheibe wird dadurch hergestellt, daß man den dünnen magnetischen Film 22 auf einer Fläche des Substrats 2t aus Glas erzeugt. Die Scheibe wird mit Hilfe des Motors 23 in Drehung versetzt Ein magnetischer Schreibkopf 41 ist in einem kleinen Abstand von dem dünnen magnetischen Film 22 angeordnet und wird durch eine Energiequelle 42 erregt. Der linear polarisierte Lichtstrahl des Lasers 11 wird mittels einer Viertelwellenlängenplatte SO in kreisförmig polarisiertes Licht und beim Passieren des dünnen magnetischen Films 22 in elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt. Eine Drehung der Richtung der Hauptachse des elliptisch polarisierten Lichtes wnd herbeigeführt, wenn das Licht danach durch ein Faraday-Drehelement 31 geleitet wird, um dann durcli einen Polarisationsanalysator 33 in zwei zueinander rechtwinklige linear polarisierte Lichtstrahlen zerlegt zu werden. Jede polarisierte Licht-H§fflߧflente fällt nwf einen Fotodetektor 34 bzw. 35, und die intensitätswerte werden mittels eines Komparators 60 verglichen, so daß an der Ausgangsklemme A ein der Differenz der Intensitätswerte entsprechendes Signal erscheint. Das Faraday-Drehelement 31 wird mittels einer Energiequelle 38 erregt, und sein Erregcrstrom wird mittels eines Strommessers 39 gemessen. Das an der Ausgangsklemme A des !Comparators 60 erscheinende Signal wird zu der Eingangsklemme B zurückgeleitet, um den Erregerstrom der Energiequelle 38 zu regeln. Als magnetooptische Aufzeichnungsmedien sind verschiedene magnetische Materialien bekannt. Zur Verwendung für das Faraday-Drehelement sind ebenfalls verschiedene Stoffe bekannt, die lichtdurchlässig sind und eine große Verdet-Konstante aufweisen.
Als nächstes wird das Arbeitsprinzip der erfindungsgemäßen Vorrichtung und zunächst das Verfahren zum Schreiben der Informationen erläutert Bei Betrachtung in der zur ScheibenoberflSche senkrechten Richtung besteht der Magnetkopf 41 aus magnetischen Polen 41ΛΆ und 41ΛΪ zum Erzeugen des Magnetfeldes in der X-Richtung und magnetischen Polen 41YA und 41YB zum Erzeugen des Magnetfeldes in der y-Richtung, wie es in Fig.9 gezeigt ist Diese Pole werden mit Hilfe von Energiequellen 42X und 42 Y erregt In der Scheibenoberfiäche wird der dünne magnetische Film 22 in einer gewühlten Richtung dadurch magnetisiert, daß das Verhältnis zwischen dem Erregerstrom für die X-Richtung und dem Erregerstrom für die y-Richtung geregelt wird. Die Größe des zu magnetisierenden Bereichs wird durch die Breite des Spaltes des Magnetkopfes bestimmt Die Unterscheidung der Informationen, d. h. von 0 und 1 bei der digitalen Aufzeichnung oder eines Signalpegels bei der analogen Aufzeichnung, erfolgt mit Hilfe des Magnetisierungsazimuts. Mit anderen Worten, wenn ein Nennwcrt-Eingangssignalpegel Über die Eingangsklemme IN zugeführt und so gewählt wird, daß er im Bereich
- Λ-/4 < θ < λτ/4
liegt werden die Größen sin Θ und cos θ durch einen Funktionsgenerator und die Magnetfelder in der X- und der y-Richtung mittels dazu proportionaler Erregerströme erzeugt. Das Azimut <9des zusammengesetzten Magnetfeldes gegenüber der X-Achse wird gleich dem
so Eingangssignal. Große informationsmengen können aufgezeichnet v/erden, wenn man sehr kleine magnetisierte Bereiche ausrichtet, während die Schabe gedreht wird. Als Aufzeichnungsverfahren kann man die bekannten thermomagnetischen Aufzeichnungsverfahren (Curie-Punkt-Aufzeichnung, Kompensationstemperaturaufzeichnung usw.) verwenden.
Als nächstes wird ein Wiedergabeverfahren zum Ausgeben der aufgezeichneten Informationen beschrieben. Wie in F i g. 8 und 9 gezeigt, sind die X- und y-Achsen in der Ebene der optischen Scheibe angeordnet, während die Z-Achse im rechten Winkel zu dieser Ebene, d. h. in Richtung des optischen Strahlenwegs, verläuft. Die Orientierung des Polarisationsanalysators 33 wird so gewählt, daß das in der ,Y-Richtung linear polarisierte Licht fip-Komponente) auf den Fotodetektor 34 fällt, während das in der y-Richtung polarisierte Licht (s-Komponente) auf den Fotodetektor 35 fällt.
Wenn das durch die Lichtquelle 10 erzeugte, kreisför-
mig polariserte Licht den dünnen magnetischen Film 22 passiert, wird es infolge des magnetooptischen Effekts (im vorliegenden Fall infolge des Voigt-Effekts) in elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt. Wenn, wie in Fig. 10al gezeigt, die Magnetisierungsrichtung M innerhalb der Scheibenfläche liegt und unter +45° zur A--AcIiSc verläuft, ist das elliptisch polarisierte Licht nach dem Passieren des dünnen magnetischen Films mit einer solchen Orientierung polarisiert, daß die X- und V-Achsen die Hauptachsen bilden. Daher nimmt die Differenz
Jl-Ix- Ιγ
zwischen der Intensität der Komponente Ix in der X-Polarisationsrichtung und der Intensität der Komponente Iy in der V-Polarisationsrichtung ihren kleinsten Wert (negativer Wert) an; dies gilt für die in dieser Zeichnung dargestellte Ausführungsform. Dieses Differenzsigna! erscheint an der Ausgangsklemme A nach F i g. 8 und wird der >>teuereingangssignalklemme B der Energiequelle 33 zugeführt, wobei das Steuersignal den Erregerstrom des Faraday-Drehelements 31 regelt. Infolgedessen wird, wie in Fig. 10a2 gezeigt, bei dem Lichtstrahl nach dem Passieren des Faraday-Drehelements 31 das Azimut der Hauptachse des elliptisch polarisierten Lichtes um —45° gedreht, wobei diese Drehung beendet wird, wenn Ix und Ιγ einander gleich sind.
Um die vorstehenden Ausführungen zusammenzufassen, kann man sagen, daß bei einer Drehung des Azimuts der Magnetisierung von +45° gegenüber der X-Achse, wie es in Fig. 10al gezeigt ist, der Faraday-Dreh'.vinkel ein Winkel ist, der die Drehung ausgleicht, d.h. der -45° beträgt, und der Erregerstrom für das Faraday-Drehelement einen großen negativen Wert annimmt.
Wenn die Orientierung der Magnetisierung M mit der Richtung der X-Achse zusammenfällt, wie es in Fi g. 10 bl gezeigt ist, wird die Hauptachse des aus dem dünnen magnetischen Film 22 austretenden elliptisch polarisierten Lichtes unter 45° gegen die X-Achse geneigt Infolgedessen nehmen Ix und /ydie gleiche Größe an, und das Differenzsignal wird gleich Null. Somit werden der Faraday-Drehwinkel und der Erreperstrom ebenfalls gleich Null, wie es in Fig. 10b2 gezeigt ist. Wenn schließlich, wie in F i g. 10 el gezeigt, die Magnetisierungsrichtung M unter -45° gegen die X-Achse geneigt ist, fällt die Hauptachse des elliptisch polarisierten Lichtes mit den X- und V-Achsen zusammen, so daß das Signal Jl für die Differenz zwischen Ιχ und Ιγ einen großen positiven Wert annimmt und der Faraday-Drehwinkel zum Ausgleichen des Signals gleich +45° wird, wobei der Erregerstrom für das Faraday-Drehelement einen positiven Maximalwert annimmt, wie es in F i g. 10 c2 gezeigt ist. Bei jedem Zwischenzustand zwischen den vorstehend beschriebenen Zuständen nehmen der Faraday-Drehwinkel und der Erregerstrom jeweils einen Zwischenwert an.
Die vorstehenden Ausführungen können wie folgt zusammengefaßt werden. Die Orientierung der Hauptachse des elliptisch polarisierten Lichtes nach dem Passieren des dünnen magnetischen Films 22 richtet sich nach der Orientierung der Magnetisierung M, und das Magnetisierungsazimut kann durch Größe und Polarität des Erregerstroms für das Faraday-Drehelement 31 bestimmt werden. Wenn die Orientierung der Magnetisierung M während des Aufzeichnungsvorgangs entsprechend den Werten 0 und 1 des digitalen Eingangssignals oder mit der Hc -j des Pegels des analogen EinpMnyssignals variiert wird, kann der aufgezeichnete Inhalt soinit optisch wiederbeleben werden. In diesem Fall kann das ursprüngliche Signal durch Größe und Vorzeichen des Erregerstroms für das Faraday-Drehelement entsprechend dem Azimut der Magnetisierung M wiedergegeben werden. Das Wiedergabesignal wird als Ausgangs-• signal der Ausgangsklemme C über eine Meßausrüstung 39 für den Erregerstrom des Faraday-Drehelementes zugeführt.
Fig. 11 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Bei dieser Ausführungsform handelt es sich um die mit Reflexion arbeitende, in Fig.2 gezeigte Bauart. Der Lichtstrahl der Lichtquelle 10 für das kreisförmig oder das elliptisch polarisierte Licht fällt auf den dünnen magnetischen Film 22 durch eine Sammellinse 15, einen reflektierenden Spiegel 18 mit einer öffnung und eine Fokussierlinse 16. Der durch die Oberfläche des dünnen Films 22 reflektierte Lichtstrahl wird an einem Bilderzeugungspunkt F fokussiert und läuft über die Linse 16, den reflektierenden Spiegel 18 und die Linse 19 zum Polarisationsanalysator 33, so daß die p-Komponente zu dem Fotodetektor 34 und die s-Komponente zu dem Fotodetektor 35 gelangt. Bei der Betrachtung aus einer solchen Richtung, daß die auf die Fotodetektoren 34 und 35 fallenden Lichtstrahlen auch zu den Augen des Beobachters gelangen, haben die Fotodetektoren 34 und 35 eine viergeteilte Konstruktion, wie es in F i g. 12a und 12b gezeigt ist (wobei die unterteilten Bereiche mit A, B. C und D bezeichnet sind). Verfolgt man die Lichtstrahlen, erkennt man. daß von den Lichtstrahlen, die auf den dünnen magnetischen Film 22 fallen, die p-Komponente des Lichtstrahls A, bei dem die Einfallsfläche mit der Fläche der Zeichnung zusammenfällt, zu dem Fotodetektorelement 34/4 gelangt, während die s-Komponente zu dem Fotodetcktorelement 35Λ gelangt. Die p-Komponente des Lichtstrahls B gelangt zu dem Fotodetektorelement 34ß, während die zugehörige s-Komponente zu dem Fotodetektorelement 35dB gelangt. Auf ähnliche Weise ist bezüglich der Lichtstrahlen, deren Einfallsflächc rechtwinklig zur Zeichenfläche verläuft, festzustellen, daß der von einer Seite her auftreffende Lichtstrahl, der zur anderen Seite reflektiert wird, auf die Fotodetektorelcmente 34Cund 35C fällt, während der von der anderen Seite her auf die Blattfläche fallende Lichtstrahl, der nach dieser Seite reflektiert wird, auf die Fotodetektorelemente 34£> und 350 fällt.
Hier ist angenommen, daß der dünne magnetische Film 22 durch einen Magnetkopf 41 in der zur Blattfläche parallenen Richtung ( + x-Richtung) magnetisiert wird, wie es durch einen Pfeil angedeutet ist, und daß das einfallende Licht, d?z zu dem dünnen magnetischen Film 22 gelangt, elliptisch polarisiertes Licht ist, bei dem die zur Blattfläche parallele Polarisationskomponente in der x-Richtung klein und die y-Komponerfte im rechten Winke! zur Blattflnche bei weitem grötf-ar als die x-Komponente ist. ' 'nter diesen Umständen tritt in der Längsrichtung eh err-Effekt bezüglich dir Lichtstrahlen A und B und in der Querrichtung ein Kerr-Effekt bezüglich der Lichtstrahlen auf, deren Einfallsfläche im rechten Winkel zur Zeichnungscbcnc verläuft. Daher ändert sich die Intensität der Lichtes, das auf jedes Fotodetektorelement fallt /^-Komponente für das Bauelcment 33), ζ. B. für den Fotodetektor 34 in der folgenden Weise: Die Intensität des Lichtstrahls, der auf jedes Fotodetektorelement fällt, ist in Fig. 13a für einen Zustand dargestellt, bei dem die Magnetisierung des cliin-
ncn magnetischen Films 22 gleich Null ist. Dabei entsprochen die Lichtempfaugsbereiche A, B. C und D des Folodetektors 34 den Größen 4-, -, 0 und 0; hierbei bezeichnet » + « die Zunahme, » —« die Abnahme und »0« das Fehlen einer Änderung bzw. eine geringfügige Änderung.
Wenn sich unter diesen Bedingungen die Magnetisierung des dünnen magnetischen Films 22 umkehrt und in die negative Richtung der x-Achsc zeigt, kehrt sich die Lichtintensität jedes Lichtempfangselements von » + « nach » - « um und umgekehrt, während »0« unverändert bleibt. Auf diese Weise ist es möglich, mit Hilfe des Intensitätsverteilungsmusters auf dem viergeteilten Fotodetektor festzustellen, ob die Magnetisierung des dünnen magnetischen Films in die positive Richtung der x-Achse oder in deren negative Richtung weist Bei manchen magnetischen Materialien kann es vorkommen, daß die Zunahme und Abnahme der Intensität des auf die Fotodetektoren fallenden Lichtes Polaritäten annimmt, die den vorstehend genannten entgegengesetzt sind, doch besteht kein wesentlicher Unterschied bezüglich des Prinzips der Identifizierung der Magnetisierungsrichtung.
Als nächstes wird der Fall betrachtet, daß der dünne magnetische Film 22 in der zur Zeichnungsebene senkrechten Richtung magnetisiert wird. In diesem Fall ändert sich die Intensität des auf jedes Fotodetektorelement fallenden Lichtes, wie es in Fig. 13b gezeigt ist. Mit anderen Worten,die Lichtempfangsbereiche A, B. C und U des Fotodetektors 34 sind den Symbolen 0,0, + und - zugeordnet Wenn sich die Magnetisierung in diesem Poll iimkehrt, werden » + « und »-« miteinander vertauscht.
Zusammenfassend ist festzustellen, daß es möglich ist, jeweils vier Werte enthaltende Informationen innerhalb einer sehr kleinen Flftche aufzuzeichnen und wiederzugeben. Diese informationen mit je vier Werten entsprechen + x, -x, +/und -y entsprechend der jeweiligen Magnetisierungsrichtung. Jeder der Magnetisierungszustände erzeugt ein unterschiedliches Intensitätsniuster auf dem viergeteilten Fotodetektor, wenn eine optische Wiedergabe erfolgt Das anhand dieser Ausführungsform beschriebene Verfahren ermöglicht das Aufzeichnen und Wiedergeben von binären oder nicht-binären Informationen entsprechend der Orientierung der Magnetisierung. Im übrigen arbeitet der Fotodetektor 35 bei dieser Ausführungsform in der Weise, daß er einen Bezugswert der Lichtintensität in der gleichen Weise liefert wie bei der in F i g. 3 gezeigten Ausführungsform.
Fig. 14 zeigt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Bei der Licht erzeugenden Einrichtung handelt es sich z. B. um einen Helium-Neon-Laser oder einen Halbleiterlaser. Dieser Laser erzeugt Licht, das parallel zur Zeichnungsebene linear polarisiert ist, d. h. in Richtung der *-Achse polarisiertes Licht. Dieses polarisierte Licht wird im folgenden als »p-polarisiertes Licht« bezeichnet Der von der Licht erzeugenden Einrichtung 11 kommende Lichtstrahl wird durch eine Kollimatorlinse 15 im wesentlichen parallelgerichtet und durchläuft einen Strahlteiler 50. Dieser Strahlteiler besteht z. B. aus einer durchsichtigen Glasplatte, die der größte Teil der p-Komponente durchläuft. Danach fällt das Laserlicht auf ein polarisierendes Prisma 33. Der größte Teil der p-Komponente passiert dieses Prisma und wird in kreisförmig oder elliptisch polarisiertes Licht verwandelt, während es eine Phasenplatte SO durchläuft Dieser polarisierte Lichtstrahl wird durch eine Linse 16 gesammelt, woraufhin er auf eine magnetische Aufztichnungsschcibe fällt. Um die magnetische Aufzeichnungsscheibe herzustellen, wird ein dünner magnetischer Film 22 auf die Oberflüche eines Substrats 21 aus Glas oder Kunststoff aufgebracht. Die Scheibe wird durch einen Motor 23 in Drehung versetzt. Um Informationen aufzuzeichnen, wird eine örtliche Magnetisierung des dünnen magnetischen Films mit Hilfe eines Magnetkopfcs 41 herbeigeführt. In diesem Fall isi eine Unterscheidung der Nullen und Einsen der digitalen Informationen möglich, indem man feststellt, ob die Magnetisierungsrichtung im rechten Winkel zur Scheibenoberfläche, z.B. in -fz-Richtung oder in -^-Richtung, erfolgt ist. In der Praxis ist es zur Erzielung einer hohen Dichte erwünscht, daß die Aufzeichnungsfläche für jedes Informationsbit so klein wie möglich ist. Daher ist es zweckmäßiger, das thermomagnetische Aufzeichnungsverfahren anzuwenden. Bei diesem Verfahren wird ein Laserstrahl auf die Scheibenoberfläche fokussiert, wobei dieser Strahl intensiver ist als bei der Wiedergabe. Der Magnetisierungszustand wird örtlich dadurch geändert, daß ein magnetischer Stoff auf eine Temperatur erhitzt wird, die über einem bestimmt' η kritischen Punkt liegt. Dieses Verfahren ist auch unter der Dezeichnung »magnetooptisches Feldverfahren« bekannt.
Es sind verschiedene Stoffe bekannt, die für den dünnen magnetischen Film geeignet sind. Beispielsweise kann man einen durch Aufspritzen erzeugten Gadolmium-Kobalt-Film verwenden. Dieser Film wird mit Hilfe des vorstehend beschriebenen Verfahrens magnetisiert und mit dem elliptisch oder kreisförmig polarisierten Licht bestrahlt Das duch den magnetischen Film reflektierte Licht passiert wiederum die Linse 16 und die Phasenplatte 90 und fällt wieder auf das polarisierende Prisma 33. Dieses erneut einfallende Licht befindet sich in einem Polarisationszustand, der sich von der von dem Laser ausgesandten ρ- Komponente unterscheidet, was auf die Wirkung der Phasenplatte 90 unc den magnetischen Kerr-Effekt aufgrund des magnetischen Films 22 zurückzuführen ist; mit anderen Worten, dieses Licht ist elliptisch polarisiert. Dieses Licht enthält erneut eine s-Komponente, die im rechten WinKel zur Zeichnungsebene, d. h. in der /-Richtung, polarisiert ist. Die p-Komponente und die s-Komponente werden mittels eines Polarisationsanalysators oder des polarisierenden Prismas 33 voneinander getrennt. Die p-Komponentc pflanzt sich geradlinig fort, und ihr größter Teil kehrt zu dem Laser 11 zurück, jedoch wird ein Teil der p-Komponente auf diesem Wege durch den Strahlteiler 50 abgetrennt und mit Hilfe einer Linse 330 so gesammelt, daß das Licht zu dem Fotodetektor 34 gelangt. Die i-Komponente, die durch das als Polarisationsanalysator verwendete polarisierende Prisma 33 abgetrennt wird, wird durch eine Linse 331 gesammelt und dem Fotodetektor 35 zugeführt Die elektrischen Ausgangssignale der Fotodetektoren 34 und 35 werden einem Differenzenverstärker 60 zugeführt, und das Differenzsignal erscheint an der Ausgangsklemme A.
Der magnetische Film 22 muß in der Nähe des Brennpunktes des durch die Linse 16 gesammelten Laserlichtes angeordnet sein. Tatsächlich neigt jedoch der magnetische Film 22 dazu, von dem Brennpunkt abzuweichen, was auf Abweichungen der Oberfläche zurückzuführen ist, die während der Drehung der Scheibe auftreten. Befindet sich der Film nicht am Brennpunkt, variieren die Lichtmenge der p-Komponente zwischen der Reflexion und der Rückkehr zu dem Laser sowie die Lichtabgabe des Lasers entsprechend dieser Änderung.
29
Hierbei handelt es sich um einen Lichtrückkopplungseffekt. Das Lichtausgangssignal des Lasers wird dadurch nachgewiesen, daß das nach hinten austretende Licht erfaßt wird; hierzu dient ein Fotodetektor 71, dessen Ausgangssignal einem Elektromagneten 73 über einen Rückkopplungsverstärker 72 zugeführt wird.
Andererseits ist an der Fokussierlinse 16 ein Eisenstück 74 befestigt, und sowohl die Linse als auch das Eisenstück sind mit einer Feder 75 gelagert. Wenn bei dieser Konstruktion die Lage des magnetischen Films 22 vom Brennpunkt der Linse 16 abweicht, ändert sich der Erregerstrom des Elektromagneten 73 infolge des vorstehend erwähnten Lichtrückkopplungseffekts, so daß sich die elektromagnetische Anziehung auf das Eisenstück 74 ändert und die Linse 16 zum richtigen Brennpunkt zurückgezogen wird. Auf diese Weise wird eine automatische Einstellung des Brennpunkts durchgeführt. Der Elektromagnet 73 ist so angeordnet, daß er den magnetischen Film 22 nirht magnetisiert.
Ein sogenanntes Nachführverfahren, das verhindert, daß der fokussierte Laserlichtfleck aus dtr Informationsaufzeichnungsspur austritt, ist für die Verwendung optischer Scheiben bekannt.
Als nächstes werden die Konstruktion und die Anordnung der Phasenplatte als wesentliches Erfordernis dieser Ausführungsform beschrieben. Diese Phasenplatte weist zwei Hauptpolarisationsachsen auf, die sich im rechten Winkel in der Ebene senkrecht zum optischen Strahlenweg, d h. in der X-K-Ebene in F i g. 14, kreuzen. Die Orientierung dieser beiden Hauptachsen, d. h. der a-Achse und der fr-Achse, ist in Fig. 15 gezeigt Mit anderen Worten, die X-Achse fp-Achse des polarisierenden Prismas) und die Y- Achse (s-Achse des polarisierenden Prismas) sind so angeordnet, daß sie unter einem Winkel Θ gegen die s-Achse und die fr-Achse geneigt sind. Ferner ist angenommen, daß eine Phasendifferenz eines Phasenwinkels 2 Δ zwischen der α-Achse und der fr-Achse vorhanden ist Wenn die Brechungsindexwerte in Richtung der a- und fr-Achse mit n, und Pb bezeichnet werden, gilt daher
- 2Δ;
hierin bezeichnet t/die Dicke der Phasenplatte und Λ die Wellenlänge. Bei dieser Anordnung wird das die Phasenplatte passierende Licht in elliptisch polarisiertes Licht umgewandelt (einschließlich des kreisförmig polarisierten Lichtes).
Als nächstes wird die Reflexionscharakteristik an der Oberfläche des magnetisierten Stoffs beschrieben. Der Reflexionstensor, der den magnetischen Kerr-Effekt darstellt hat die Form
/= ir(S2 - 2ES+ A) S - sin 2 θ ■ sin 2 Δ A = \K/RP \2 + C
In den vorstehenden Formeln bezeichnet Ir die Fresnell-Reflexionslichtintensität und A das Verhältnis zwischen der empfangenen Lichtintensität und /r, v/enn S=O oder wenn θ~0 oder A=O; A ergibt sich als die Summe des Anteils \K/RP\2 der von dem Kerr-Effekt herrührt, und von anderen Anteilen G die auf das Streulicht oder die Mängel des polarisierender. Prismas 33 zurückzuführen sind. Entsprechend sind die Rauschwerte des Lichtempfängers, des Dunkelstroms und der elektronischen Schaltung in Centhalten. Wenn sich die Magnetisierungsrichtung umkehrt, erfolgt eine Umkehrung des Gliedes Κ<>> der Gleichung (1) oder des Vorzeichens von £, und der Spitzenwert des Ausgangssignals in dem betreffenden Zeitpunkt ergibt sich wie folgt aus der Gleichung (2):
Hier bezeichnet A<±> die Intensität des empfangenen Lichtes, wenn die Magnetisierung in der positiven oder negativen Richtung erfolgt. Das vom Hintergrund-Gleichstrom herrührende Rauschen entspricht
In - ?(/<+> + /<->)/2 - IfIr(S1 + A)
Hierbei bezeichnet η den Schwankungsfaktor der Intensität des von dem Fotodetektor 35 aufgenommenen Lichtes. Damit das Signal erfaßt werden kann, muß daher die folgende Relation mindesten? durch die Gleichungen (5) und (6) befriedigt werden:
4|ES| > η Α
Mit anderen Worten, es muß gelten: |sin2<9· sin 2 J] > r/AIA\E\
Als Effektivwert des Lichtintensitäts-Schwankungsfaktors kann man das Verhältnis zwischen dem quadratischen Mittelwert der Schwankung und dem Mittelwert der Lichtintensität verwenden. Bei der in Fig. 14 gezeigten Ausführungsform muß die Gleichung (7) als eines der Erfordernisse befriedigt werden, wenn die so Phasenplatte mit einer Phasendifferenz von 2 Δ unter dem Azimutwinkel # angeordnet ist.
Nunmehr kann man die optimalen Werte für Δ und θ in der nachstehenden Weise aus der Bedingung ableiten, bei welcher der Rauschabstand ein Maximum erreicht:
wobei Rp und Rs die Fresnell-Reflexionskoeffizienten und K den Kerr-Reflexionskoeffizienten angeben. Wenn der imaginäre Teil von K mit K<>> gegeben ist beschreibt die folgende Gleichung die Kerr-Elliptizität:
E - KORp (1)
Unter der vorstehend genannten Bedingung erhält man die Intensität /des auf den Fotodetektor 35 fallenden Lichtes in der folgenden Weise mit der Maßgabe, daß die optische Achse des einfallenden Lichtes rechtwinklig zur Reflexionsfläche verläuft:
S - sin 2 θ ■ sin 2 Δ - ±
Die Erfüllung der Bedingung nach vorstehender G leichung ist jedoch nicht unbedingt erforderlich. Wenn der mittels dieser Gleichung erhaltene Absolutwert von 5 erheblich kleiner als i ist, kann man ihn so einstellen, daß er größer ist als der durch die vorstehende Gleichung gegebene optimale Wert. Wie aus der Gleichung (5) ersichtlich, nimmt der Absolutwert des Ausgangssignals mit zunehmendem Wert von \S\ zu, und es ist in manchen Fällen in der Praxis vorteilhafter, einen höheren Pegel für das Ausgangssignal zu haben, und zwar
ί j selbst dann, wenn sich in einem gewissen Ausmaß eine Kerr-Reflexionsfaktors K mit Kfr> und den Kerr-Dreh-
i! Einbuik besüsüch des Rausehabstandes ergibt. winkel mit
! Um das Raaschsn In zu verringern, muß der L'tchtin-
h tensitats-Sdhwenkungsfaktor η verringert werden, wie C - K<r>/Rp (10)
i| es aus der Gleichung (6) ersichtlich ist Ein für diesen s
Zweck geeignetes Verfahren ist im folgenden Absatz müssen die nachstehenden Bedingungen (It) und (12)
beschrieben. GemSß F i g. 14 enthalt die p-Komponente befriedigt werden: der Üchtn&ase, die auf den Fotodetektor 34 falls, die
RauEchEsornponense, welche die gleiche Phase bat wie . |sin4iP| > η All G (1!) das Signal des Fotodetektor« 33. Infolgedeswsi körnt io
man das Rauschen in dism Signal an der Ausssngddem- |tan 2 Φ \ < 2\G \/p (12) me A verringern, indcsn man dafür sorgt, daß die Mittelwerte dsi* SißnatintenoitSt, die an den beiden Fotatetek- Im Vergleich zu der Phßsenplattc ist das Rotationspotoren 30 ußd 23 erscheint, die gleiche Größe .erhalten, lariaatsonsöleinent im Hinblick auf das Gewicht des Ma- und swar dsiäarais, «feS man dsu Transmiastdasfaktor 15 gneten sowie deswegen nachteilig, weil man für eine bzw. den Rdlsjtionsfa&t©!· d®s optischen Systems'ent·' ' magnetische Abschirmung sorgen muß, damit der MasprechesMi ©iE3ie3!t osier daß raan die Verst&rtain dues,. · gnet S2 keine Wirkung auf den magnetischen Film 22 elektrischen SijjKsüiyetenia einstellt uroi «He'DiiTsren«. au&Qbt Je nechdem'MateHal des magnetischen Films 22 xwiacSssn dsa S^alsii mit Hilfe eStsss DiffereiwvrarstSr· ■ wti der Weälenlüngs des Lassre kommt es jedoch gelekere €S ersaittdt Am? amz Weiss lf\St sich derlisSatin- 20 gsntlfoh vor, dsi die Kerr-EüiptizitSt E klein ist,- wähtsnsit&ts-SchwanEiunssiaktor wirtom vefHlsinem.' rend der Kerr-Dreiivvink©! G groS ist In einem solchen ÜbncenskannraosidbgSscche Wirkungerxie!ön,v/can Fall muß man das Rotateonspolarisationselement vcr-' man aa den Differenzverstärker €® einen FotoiSätektor wentüea ■
TlQEißchlbSt.etattdaiFotodstektorMzubentitr^.n. ·;..' Bsi den vorstehenden Ausführungsformen kann die
Wird |S| gröSsr ob dsr optim&lss Wert nedi' GM- 2J Ändaruns der Eltiptizität, die durch die optischen Eic-
chuit^ (G/, nimsiit der flnusciäatotottd mit \S\ ab..Damit msnte und nisht durch das optisch anisotrope Medium
das Si{paJ naEiägewiessn werden kann, muß |5| die als dem Meßobjekt hervorgerufen wird, dadurch ausse-
nachstek^stde Relation (9) befriedigen: giften wertes, daS ma» dis Eüiptizitat einstellt, die
'■' ■ .', . durch idkiSinrecSittisissusn Erzeugen von elliptisch pola-
j@5n 2 Θ' ein 2 Jj < 4\E\/q '. „ ; (9) » rieienem Lieht verurassht wird.
Die vorli$s@nde EiiäKdnsng kann bsi einem mapcto-
Ocraasssr gzagt, isitesn der Phasenwinkel 2 J und optisefesn Spkter cB<pswsräiet werdea bei dem Infor-
das AaraMt 0dsr Phassnptette der Bedingung dsr For* mationsn csiispr®s8?®iä dsm Megnetisierungszustand
mel(9)^t&prt^cn.J^je<kKh|5|Sl,i8tdieii^ii^uni;' .eines magnstooptischen Mediums aufgezeichnet und
der 5-©ra2i (2) automatisch erfüUt, wenn ah Keir-Ei'ip- as die aufgesciÄEOton Ir.forraatioaen auf optischem Wege
tisitSt \EI so groS ist, odsr wenn der LJchtinteitsit&ts- wicdergccebcn werden. Sie eignet sich insbesondere
SchttfaRfcungrMtor so klein ist, daß die rechte Seite der auch zur Beobachtung magnetischer Bezirke und zum
Uns!etchusis(®)grO0erfib1 wird. -. ·; Nachweis magnetischer BEasen.
Wi® vorstehend beschrieben, muß bei dem in F i g. 14 ;
gezeigten optischen System das Glied ■:·■.. ;.■:,-'■«· Hierzu 8 Blatt Zeichnungen
\ύά2θ· sin2 J\
in den durch die Beziehungen (7) und (9) gegebenen
Bereich fallen, wenn die Phasendifferenz der Phösen-·;«
platte S3 dsn Wert 2 Δ, und der Winkel, den ihre Haupt·: \
achse mit der Polarisationsrichtung des einfallenden, Ii-.!
near polarisierter, Lichtes bildet fp-polarisiertes licht)
die Größe ©hat . v:....; . ■ ,
Bei der in Fig. 14 gezeigten Ausführungsform kann 50
man ein Rotatbnspolarisationselement (Faraday-Drehclement) ansteile der Phasenplatte 55 verwenden.
Fig. 16 zeigt ein Beispiel für den Aufbau des Rotationspolarisatfonsslements in einer Schnittdarstellung, wobei
der Schnitt in der zur Zeichnungsebene von Fig. 14 53
parallelen Ebene verläuft Ein Magnetfeld H wird mittels eines ringähnlichen Magneten 82 auf eine Scheibe
St aufgebracht die aus Glas, einer Seltenen Erde, Eisen,
Granat oder dergL besteht Die Richtung des Magnet- '
feldes H ist parallel zum optischen Strahlenwcg. Das 60
diese Scheibe passierende linear polarisierte Licht hat
eine Polarimtionsrichtung, die sich mit der optischen
Achse eis Drehachse dreht Dieser Winkel bzw. der Faraday-Drehwinkel # verändert sich mit dem Magnetfeld, der Dicke und dem Material der Scheibe 81. 65
Wird ein Drehpolarisationsclement verwendet ist die
Erfassung des Signals möglich, wenn die nachstehende
Bedingung erfüllt ist: Bezeichnet man den Realteil des

Claims (6)

  1. J^, ι,,, ι,, ,ι«! ι nimm ■ Ii ■ ..
    ]:)■·- l 2
    H 15 24 927 bekannt. Danach wird ein linear polarisierter
    Ii Patentansprüche: Lichtstrahl auf ein Speichermedium mit einer nufgc-
    J; prägten magnetoopiiscnen Anisotropie gerirlitet. Der
    [I 1. Vorrichtung zum Lesen von magnetisch gespei- aus diesem Speichermedium austretende, nun elliptisch
    VS cherter Information mit einer Lichtquelle (lOj 11,12; 5 polarisierte Lichtstrahl trifft anschließend auf einen Po-
    Jv] 110, 12, 13A 135/80; SO/4; Kj 81, 82), einem ma- larisationsanalysator und einen Fotodetektor, um dir·
    j ] gnetooptischen Speichermedäum (20), einem Polari- durch das Speichermedium bewirkte Veränderung des
    ! sationsanalysator (33; 33A 33B) und einem Fotode- Polarisationszustands zu erfassen.
    η tektor (34,35), die hintereinander auf dem optischen In einer solchen Vorrichtung wird der ursprünglich
    Η Weg des von der Lichtquelle abgegebenen Licht- 10 linear polarisierte Lichtstrahl durch das magnetoopti-
    ί ; Strahls angeordnet sind, wobei das magnetooptische sehe Speichermedium jedoch nur geringfügig elliptisch
    (j Speichermedium (23) eine derartige aufgeprägte polarisiert, d. h. die Hauptachse der Ellipse, die der elek-
    \:-\ magnetooptische Anisotropie aufweist, daß der von trische Feldvektor des aus dem Medium austretenden
    j j ihm kommende und suf den Polsirisationsanalysator Lichtstrahls beschreibt, ist nur in geringem Maße gegen
    jj (33; 33Λ, 33^ auf treffende Lichtstrahl elliptisch po- 15 die Polarisationsebene des auftreffenden linear polari-
    j larisisrt ist, dadurch gekennzeichnet, daß sierten Lichtstrahls verdreht. Das Auslesen der Infor-
    H der von der Lichtquelle (1©; la, 12; 110, 12, 13A mation aus dem Speichermedium kann mit einer derar-
    Γ JSiS/SS; EIM; 14; Gi, ©2) abgegebene Lichtstrahl el- tigen mit linear polarisiertem Licht arbeitenden Vor-
    liptiüch poSarisisrt ist und daß die Intensität des vom richtung daher nur mit einem geringen Rauschabsland
    Polaricatioinsanalysator (33; 33A 33A^ kommenden 20 und einer daraus resultierenden hohen Störempfindlich-
    und auf den Fotodetektor (34, 35) auftreffendcn keit erfolgen.
    Lichts zw Gestimmung der Größe und der PolaritiU Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist ange-
    der Rißg«3*oapti$chen Anisotropie des Speichernde- sichts des Standes der Technik darin zu sehen, auf einem
    diunB(28)disnt. magnetischen Speichermedium aufgezeichnete Infor-
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch !,dadurch gekenn- 25 mation mit großer Empfindlichkeit und einem hohen zeichnet, dn8 der von der Lichtquelle (20; 11,12; 110, Signal-Rausch-Abstand mit einer relativ einfachen und 32, OA i3B/5S; $®A; 14; Si, 82) kommende Licht- damit kostengünstigen Vorrichtung auszulesen.
    sirahi durch das magnetooptische Speichermedium Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt gemäß dem kenn-
    (2S) hsridurciiiritL zeichnenden Teil des Hauptanspruchs. In der erfin-
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch !,dac^rch gekenn- 30 dungsgemäßen Vorrichtung wird das magnetooptische zeichnet, daß von der Lichtquelle (ίθ;11,12; IiO, 12, Speichermedium mit elliptisch polarisiertem Licht be-13A13£/£$;&3/l;14;@1,82) kommende Lichtstrahl strahlt. Das Speichermedium verändert die Elliptizität am megnetooptischcn Speichermedium (20) reflek- des auftreffenden Lichtstrahls derart, daß mit einem Potiert wird lerisationsanalysator und einem nachgcschalteten Foto-
  4. 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, 35 detektor die Größe und Polarität der der aufgezeichncdadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Licht- ten Information entsprechenden magnetooptischen quelle (10; 11,12; UO, 12,13A 135/50; ©0/4; 14;βΐ, Anisotropie des Speichermediums weitgehend unbeein-82) und dem magnetooptischen Speichermedium flußt von Störungen erfaßt werden kann.
    (20) ein Strahlteiler (SO) angeordnet ist, der einen Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung sind in
    Teil des von der Lichtquelle kommenden elliptisch 40 den Unteransprüchen angegeben,
    polarisierten Lichts auf einen zweiten Polarisations- Die Vorrichtung kann danach in einer Durchlieht-
    analysator (33B) und auf einen zweiten Fotodetektor Bauart, bei welcher der Lichtstrahl das Speichermedium
    (33) gibt, daß ein Komparator (6$) vorgesehen ist, durchläuft, oder in einer Reflexions-Bauart ausgeführt der die Ausgangssignale des ersten Fotodetektors sein, bei welcher der Lichtstrahl an der Oberfläche des
    (34) und des zweiten Fotodetektors (35) miteinander 45 Speichermediums reflektiert wird.
    vergleicht, und daß das Ausgangssignal des Kompa- Nach einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen
    rators (SO) zur Bestimmung der Größe und der PoIa- Vorrichtung, mit der das Auslesen der Information aus
    rität der magnetooptischen Anisotropie des Spei- dem magnetooptischen Speichermedium mit besonders
    chermediums (20)dient großer Empfindlichkeit erfolgen kann, wird der einfal-
  5. 5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, 50 lende, elliptisch polarisierte Lichtstrahl mittels eines dadurch gekennzeichnet, daß das magnetooptische Strahlteilers aufgespalten, und nur ein Anteil trifft auf Speichermedium (20) ein thermomagnetisches Auf- das magnetische Speichermedium. Sowohl der veränzeichnungsmedium ist. derte Polarisationszustand der aus dem Speichermedi-
  6. 6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, um austretenden Strahlkomponente als auch der Polaridadurch gekennzeichnet, daß das magnetooptische 55 sationszustand der unveränderten Strahikomponente Speichermedium (20) ein magnetischer Stoff ist, der werden mittels eines Polarisationsanalysators und eines in variierenden Richtungen in einer Ebene quer zum Fotodetektors untersucht, und die Ausgangssignale der optischen Weg des von der Lichtquelle (10; 11, 12; beiden Fotodetektoren anschließend mittels eines Kom-110, 12, 13A 130/90; 90A\ 14; 81, 82) kommenden parators miteinander verglichen. Durch das in dieser Lichtstrahls magnetisiert werden kann. 60 Komparatorschaltung erzeugte Differenzsignal kann
    die auf dem magnetischen Speichermedium aufgc/.cich-
    nete Information weitgehend störungsfrei wiedergegeben werden, da etwaige, auf Störcinflüssc zurückzuführende Veränderungen im Polarisationszustand des ur-
    Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Lesen 65 sprünglichen Lichtsirahls eliminiert werden,
    von magnetisch gespeicherter Information gemäß dem Als magnetooptisches Speichermedium dient vorOberbegriff des Hauptanspruchs, zugsweise ein thermomagnetisches Aufzeichnungsme-
    Einc derartige Vorrichtung ist aus der DE-OS dium oder ein magnetischer Stoff, der in variierenden
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3637947A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Seiko Epson Corp Optische schreib/lese-vorrichtung

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57111843A (en) * 1980-12-27 1982-07-12 Canon Inc Vertical magnetic reading optical system
JPS57133537A (en) * 1981-02-06 1982-08-18 Sharp Corp Magnetic and optical recording and reproducing head
JPS57147148A (en) * 1981-03-05 1982-09-10 Olympus Optical Co Ltd Information reproducer with magnetooptic system
US4561032A (en) * 1981-06-02 1985-12-24 Canon Kabushiki Kaisha Magnetooptic reproducing device
FR2514913B1 (fr) * 1981-10-16 1986-07-04 Bull Sa Dispositif opto-electronique de lecture d'informations contenues sur un support magnetique
CA1190321A (en) * 1981-10-29 1985-07-09 Toshihisa Deguchi Magneto-optical head assembly
JPS58179904A (ja) * 1982-04-15 1983-10-21 Pioneer Electronic Corp 情報記録方式
JPS5945646A (ja) * 1982-09-07 1984-03-14 Hitachi Ltd 光学的情報再生装置
JPS5963040A (ja) * 1982-09-16 1984-04-10 Canon Inc 光磁気情報読取装置
EP0314200B1 (de) * 1983-01-25 1992-08-12 Sharp Kabushiki Kaisha Einstellungsvorrichtung der optischen Fokussierung
CA1208361A (en) * 1983-01-25 1986-07-22 Yoshikazu Fujii Optical focus position control in optical disc apparatus
EP0318772B1 (de) * 1983-01-25 1992-06-10 Sharp Kabushiki Kaisha Einstellungsvorrichtung der optischen Fokussierung
US4658390A (en) * 1983-04-18 1987-04-14 Sharp Kabushiki Kaisha Optical focus position control in an optical memory system
EP0156058A3 (de) * 1983-08-06 1986-01-29 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Gerät für magneto-optische Ablesung
JPS6053863A (ja) * 1983-09-05 1985-03-27 Sony Corp 磁気記録媒体の磁化方向検出装置
JPS6161626U (de) * 1984-09-28 1986-04-25
JPS61104348A (ja) * 1984-10-22 1986-05-22 Nec Corp 光磁気ヘツド
JPS61160845A (ja) * 1985-01-09 1986-07-21 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光デイスクの記録再生装置
DE3665372D1 (en) * 1985-05-31 1989-10-05 Siemens Ag Optical system for guiding the read-out beam in a magneto-optical memory
FR2591787A1 (fr) * 1985-12-13 1987-06-19 Thomson Csf Dispositif d'enregistrement-lecture polyvalent de support d'enregistrement
DE3583039D1 (de) * 1985-12-17 1991-07-04 Ibm Deutschland Schreib/lesekopf fuer optische platten.
JPS62157549A (ja) * 1985-12-30 1987-07-13 Kanzaki Paper Mfg Co Ltd シート状透光性試料の異方性測定方法
US4701894A (en) * 1986-03-28 1987-10-20 Rca Corporation Magnetic biasing apparatus for magneto-optic recording including a magnetic circuit
US5189651A (en) * 1986-05-12 1993-02-23 Pioneer Electronic Corporation Optical system in magneto-optical recording and reproducing device
US4812637A (en) * 1986-07-07 1989-03-14 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Optical disc head with high signal-to-noise ratio
DE3732874A1 (de) * 1987-09-30 1989-04-20 Thomson Brandt Gmbh Optische abtastvorrichtung
US4774615A (en) * 1987-02-17 1988-09-27 Eastman Kodak Company Magneto-optic read-out method and apparatus with polarization correction means
US4816761A (en) * 1987-06-22 1989-03-28 Josephs Richard M Apparatus for measuring the hysteresis loop of hard magnetic films on large magnetic recording disk
US5420683A (en) * 1987-10-01 1995-05-30 Litton Systems, Inc. Multioscillator ring laser gyro beam combining optics
CA1322599C (en) * 1988-01-13 1993-09-28 Nobuhiro Fukushima Floating type magneto-optic disk reading head system having external semiconductor laser resonator operating at orthogonal two mode oscillations
JPH01305340A (ja) * 1988-06-03 1989-12-08 Fuji Photo Film Co Ltd 表裏判別方法および装置
JPH0250335A (ja) * 1988-08-12 1990-02-20 Sharp Corp 磁気光学記憶素子
US5182735A (en) * 1989-03-06 1993-01-26 Eastman Kodak Company Magneto-optic readout apparatus using polarization switching of readout beam
US5235570A (en) * 1989-03-06 1993-08-10 Eastman Kodak Company Magneto-optic readout method and apparatus using polarization switching of readout beam
US4922200A (en) * 1989-08-25 1990-05-01 Ldj Electronics, Inc. Apparatus for measuring the hysteresis loop of magnetic film
CA2037428C (en) * 1990-03-05 1997-04-01 Akira Takahashi Reproducing optical device for a magneto-optical recording medium
US5305090A (en) * 1991-12-11 1994-04-19 Gmi Engineering And Management Institute Birefringent inspection polarscope
US5349576A (en) * 1992-07-27 1994-09-20 Eastman Kodak Company Apparatus and method for polarization switching of a readout beam in a magneto-optic storage system
US5432607A (en) * 1993-02-22 1995-07-11 International Business Machines Corporation Method and apparatus for inspecting patterned thin films using diffracted beam ellipsometry
DE4402059C1 (de) * 1994-01-25 1995-04-27 Zeiss Carl Jena Gmbh Faraday-Mikroskop sowie Verfahren zu dessen Justierung
KR0162266B1 (ko) * 1995-11-27 1998-12-15 장용균 자기광학특성 측정장치
DE10203738B4 (de) * 2002-01-31 2004-01-15 AxynTeC Dünnschichttechnik GmbH Messvorrichtung und Verfahren zur Messung der Flussdichteverteilung in einer bandförmigen, supraleitenden Probe
FR2856791B1 (fr) * 2003-06-27 2005-11-04 Centre Nat Rech Scient Procede et dispositif d'imagerie magneto-optique
DE10347240B4 (de) * 2003-10-10 2015-10-15 Trützschler GmbH & Co Kommanditgesellschaft Vorrichtung in der Spinnereivorbereitung zum Erkennen von Fremdteilen aus Kunststoff in Faserflocken
US7808636B2 (en) * 2007-01-11 2010-10-05 Rensselaer Polytechnic Institute Systems, methods, and devices for handling terahertz radiation
KR100843430B1 (ko) * 2007-04-04 2008-07-03 삼성전기주식회사 솔리톤을 이용한 광도파로 제조 방법
KR101527868B1 (ko) * 2011-04-07 2015-06-10 삼성전자주식회사 광학 요소를 포함하는 정보저장장치
CN108918424B (zh) * 2018-04-24 2020-10-02 金华职业技术学院 一种磁性线材的磁畴成像方法及磁畴壁形状判别方法
CN109459137A (zh) * 2018-09-12 2019-03-12 深圳大学 偏振光探测器及偏振光的探测方法
JP2023142687A (ja) 2022-03-25 2023-10-05 三星電子株式会社 偏光顕微鏡装置及び視野内補正解析方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1524927A1 (de) * 1966-04-01 1971-01-07 Magnavox Co Magnetisch-optischer Umformer
DE1598965C3 (de) * 1965-08-13 1974-09-19 Roussel-Uclaf, Paris Verfahren und Vorrichtung zur Messung des magnetischen zirkulären Dichroismus von absorbierenden Stoffen
DE2854064A1 (de) * 1977-12-14 1979-06-21 Hitachi Ltd Verfahren und vorrichtung zum messen magnetooptischer anisotropie

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3445833A (en) * 1965-11-01 1969-05-20 Sperry Rand Corp Signal responsive apparatus with a polar azimuth vibrator
US3775570A (en) * 1972-02-25 1973-11-27 California Inst Of Techn Magneto-optic detection system with noise cancellation
JPS51129279A (en) * 1975-05-02 1976-11-10 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Polarizing analyzer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1598965C3 (de) * 1965-08-13 1974-09-19 Roussel-Uclaf, Paris Verfahren und Vorrichtung zur Messung des magnetischen zirkulären Dichroismus von absorbierenden Stoffen
DE1524927A1 (de) * 1966-04-01 1971-01-07 Magnavox Co Magnetisch-optischer Umformer
DE2854064A1 (de) * 1977-12-14 1979-06-21 Hitachi Ltd Verfahren und vorrichtung zum messen magnetooptischer anisotropie

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Zeitschrift für analytische Chemie 263, 1973, S.177-183 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3637947A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Seiko Epson Corp Optische schreib/lese-vorrichtung

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Publication number Publication date
US4410277A (en) 1983-10-18
WO1980001016A1 (en) 1980-05-15
NL7920100A (nl) 1981-02-27
DE2953304T1 (de) 1982-03-25

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