DE2936780C2 - Halbleiterbauelement - Google Patents
HalbleiterbauelementInfo
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D48/00—Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
- H10D48/01—Manufacture or treatment
- H10D48/07—Manufacture or treatment of devices having bodies comprising cuprous oxide [Cu2O] or cuprous iodide [CuI]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W76/00—Containers; Fillings or auxiliary members therefor; Seals
- H10W76/10—Containers or parts thereof
- H10W76/12—Containers or parts thereof characterised by their shape
- H10W76/13—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection
- H10W76/138—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection having another interconnection being formed by a cover plate parallel to the conductive base, e.g. sandwich type
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Thyristors (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft <:in Halbleiterbauelement mit
einem scheibenförmigen Halbleiterelement, dessen eine Seite mit einer Trägerscheibe verbunden ist und dessen
andere Seite an einer Kontaktscheibe anliegt, mit einem diese Teile umschließenden zylindrischen Gehäuse, mit
einem Zentrierring für das Halbleiterelement, mit einer die Randfläche des Halbleiterelements umschließenden
Passivierungsmasse und mit einer innerhalb des Gehäuses liegenden, das Halbleiterelement umfassenden
Schutzanordnung, die aus einem Hohlzylinder aus isolierendem Material und aus einer in das Innere des Gehäuses
gerichteten Ringscheibe an der Stirnfläche des Hohlzylinders besteht.
Ein derartiges Halbleiterbauelement ist aus der US-PS 40 99 201 bekannt. Insbesondere bei Leistungsbauelementen
können infolge elektrischer und damit thermischer Überlastung im Gehäuse Lichtbögen auftreten,
die insbesondere zu einer Zerstörung der empfindlichen Dichtungsbereiche führen. Beim bekannten Halbleiterbauelement
sind Vorkehrungen getroffen, um einen entsprechenden Lichtbogen aus dem Dichtungsbereich
fernzuhalten. Dazu ist in der Nähe der Dichtung innerhalb des Gehäuses eine Scheibe aus Isolierstoff vorgesehen,
die Gase abgibt, sobald sie einem Lichtbogen ausgesetzt ist. Durch die Gase wird der Lichtbogen von der
Dichtungsscheibe ferngehalten.
Bei hohen Strömen in Rückwärtsrichtung kann aber auch zunächst an einer kleinen Stelle des Halbleiterelements,
die nicht mehr sperrfähig ist, durch die dort entstehende hohe Stromdichte die Temperatur stark ansteigen,
wodurch die Umgebung der schadhaften Stelle aufschmilzt und zum Teil verdampft. Der dort entstehende
Lichtbogen treibt dann das heiße Material gegen die Gehäusewand. Kondensiert an einer Stelle der Gehäusewand
eine ausreichende Menge des aus dem Halbleiterelement nach außen geschleuderten Materials, so
wird dort die Gehäusewand durchgeschniolzen, so daß ionisierte Gase entweichen und zu einer Beschädigung
der Anlage führen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das Auftreffen von heißen Materialien auf die Gehäusewand zu
verhindern.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Schutzanordnung aus einem Stück und
aus Keramik besteht, daß die Ringscheibe als Flansch
am Hohlzylinder radial in das Innere des Gehäuses ragt und daß die Schutzanordnung in der Passivierungsmasse
festgelegt ist.
Die Schutzanordnung umgibt den Randbereich des Halbleitereiementes und umfaßt dieses einschließlich
der Randfläche seiner Trägerscheibe. Damit wirkt sie für die Innenwand des Zeliengehäuses wie eine Maske
oder ein Schirm in einem Raumwinkel, in dem aufgeschmolzenes Material des Halbleiterelements im Falle
einer überhöhten Belastung geschleudert wird. An der Innenwand des Zellengehäuses, soweit sie innerhalb des
Raumwinkels liegt, können dann nicht durch die Wärme, die von der kondensierten Schmelze an die Gehäusewand
abgegeben wird, Löcher durchgebrannt werden, da das geschmolzene Material von der Schutzanordnung
abgefangen wird. Da diese einstückig ausgebildet ist, kann auch nicht der an der Schmelz- und Verdampfungsstelle
entstehende Überdruck das geschmolzene Material durch einen Spalt treiben.
Die Erfindung soll anhand eines in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert werden.
Das Halbleiterelement wird von einem zylindrischen Gehäuse 1 umschlossen, das im wesentlichen aus einem
keramischen Zylinderring 2 aus zwei stirnseitig gegenüberliegenden
Mctallronden 3. 3' aus Kupfer besteht. Die Metallronden 3, 3' weisen jeweils an ihrer Mantelfläche
zwei umlaufende Stufen 31, 3Γ auf. Für einen dichten Abschluß des Gehäuses sind zwei Blechringe 4,
4' aus Nickel-Eisenblech, die z. B. wellenförmig gestaltet
sein können, vorgesehen, welche die Stufen 31, 31' mit den Stirnflächen 21, 22 des Zylinderrings 2 durch
Schweißung verbinden. Das Halbleiterelement 61 wird mit seiner Trägerscheibe 62 in einer Zentrierung 5 aus
z. B.Aluminium, Eisen oder Teflon gehalten.
Im Ausführungsbeispiel ist das im Gehäuse 1 gasdicht
eingeschlossene Halbleiterelement 61 eine Diode mit einer anodenseitigen und kathodenseitigen Schichtelektrode
A bzw. K. An die Schichtelektrode A schließt eine Trägerscheibe 62 und an die Schichtelektrode K eine
Kontaktscheibe 63 unter Kraftschluß an.
Die Schutzanordnung 64 besteht aus Keramik und ist einstückig ausgebildet, wobei der Flansch 641 am Hohlzylinder
radial in das Innere des Gehäuses ragt und die Schutzanordnung in der Passivierunßsmasse 65 aus einem
dafür geeigneten Kunststoff auf dem Halbleiterelement festgelegt ist. Auf diese Weise wird ein wirksamer
Ausblasschutz erzielt. Die Passivierungsmasse 65 umfaßt die freie Oberfläche und den Randbereich des
Halbleiterelemenls 61, d.h. die Bereiche, in denen bei einer Überlastung Material geschmolzen und verdampft
wird. Dadurch wird die Schutzwirkung noch weiter verbessert.
Die Schutzanordnung läßt sich auch vorteilhaft einsetzen, wenn das Halbleiterelement ein Thyristor ist.
Auch in diesem Fall überdeckt die Schutzanordnung die gefährdeten Bereiche des Halbleiterelements und kann
sich von der Kontaktscheibe bis zu einem die untere Metallronde umfassenden Paßring aus Isoliermaterial
erstrecken. Der Piißring wird dann ebenfalls zur Schulzfunktion
herangezogen.
Die Schutzanordnung mit ihrem radial in das Genause
ragenden Flansch läßt die aus dem Halbleiterelement herausgetriebene heiße Schmelze nicht an das der Dichtung
dienende Blcchteil gelangen, sondern reflektiert sie nach innen und unten. Bei Gehäusen mit Flachboden
lubbolzen läßt der massive Gehäuseboden ein
inen nicht zu. Bei Scheibenzellen verhindert
ierring zwischen Metallronde und Zylinderlie Schmelze das untere BlechteU erreicht und
nilzt. 5
inen nicht zu. Bei Scheibenzellen verhindert
ierring zwischen Metallronde und Zylinderlie Schmelze das untere BlechteU erreicht und
nilzt. 5
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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Claims (1)
- Patentanspruch:Halbleiterbauelement mit einem scheibenförmigen Halbleiterelement, dessen eine Seite mit einer Trägerscheibe verbunden ist und dessen andere Seite an einer Kontaktscheibe anliegt, mit einem diese Teile umschließenden zylindrischen Gehäuse, mit einem Zentrierring für das Halbleiterelement, mit einer die Randfläche des Halbleiterelements umschließenden Passivierungsmasse und mit einer innerhalb des Gehäuses liegenden, das Halbleiterelement umfassenden Schutzanordnung, die aus einem Hohlzylinder aus isolierendem Material und aus einer in das Innere des Gehäuses gerichteten Ringscheibe an der Stirnfläche des Hohlzylinders besteht, dadurch gekennzeichnet, daß die Schutzanordnung(64) aus einem Stück und aus Keramik besteht, daß die Ringscheibe als Flansch (641) am Hohlzylinder radial in das Innere des Gehäuses (1) ragt und daß die Schutzanordnung (64) in der Passivierungsmasse(65) festgelegt ist
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2936780A DE2936780C2 (de) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Halbleiterbauelement |
| SE8006179A SE458568B (sv) | 1979-09-12 | 1980-09-04 | Halvledarkomponent med ett skivformigt halvledarelement, innefattande en skyddsanordning av keramiskt material som omgriper halvledarelementet och aer fixerad i foerhaallande till detta medelst en passiviseringsmassa |
| JP12539180A JPS5646541A (en) | 1979-09-12 | 1980-09-11 | Semiconductor unit used for power electronic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2936780A DE2936780C2 (de) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Halbleiterbauelement |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2936780A1 DE2936780A1 (de) | 1981-03-26 |
| DE2936780C2 true DE2936780C2 (de) | 1985-02-07 |
Family
ID=6080617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2936780A Expired DE2936780C2 (de) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Halbleiterbauelement |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5646541A (de) |
| DE (1) | DE2936780C2 (de) |
| SE (1) | SE458568B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE8909244U1 (de) * | 1989-07-31 | 1989-09-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterbauelement |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59134876A (ja) * | 1983-01-20 | 1984-08-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| JPH0760893B2 (ja) * | 1989-11-06 | 1995-06-28 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5354971A (en) * | 1976-10-28 | 1978-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
| US4099201A (en) * | 1977-04-11 | 1978-07-04 | General Electric Company | Semiconductor rectifier assembly having an insulating material therein that evolves gases when exposed to an arc |
| US4131905A (en) * | 1977-05-26 | 1978-12-26 | Electric Power Research Institute, Inc. | Light-triggered thyristor and package therefore |
-
1979
- 1979-09-12 DE DE2936780A patent/DE2936780C2/de not_active Expired
-
1980
- 1980-09-04 SE SE8006179A patent/SE458568B/sv not_active IP Right Cessation
- 1980-09-11 JP JP12539180A patent/JPS5646541A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE8909244U1 (de) * | 1989-07-31 | 1989-09-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterbauelement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5646541A (en) | 1981-04-27 |
| SE458568B (sv) | 1989-04-10 |
| SE8006179L (sv) | 1981-03-13 |
| DE2936780A1 (de) | 1981-03-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8120 | Willingness to grant licences paragraph 23 | ||
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