DE2906641A1 - Verfahren zur optisch-elektrischen messung des abstandes zwischen einer messeinrichtung und einem pruefling - Google Patents
Verfahren zur optisch-elektrischen messung des abstandes zwischen einer messeinrichtung und einem prueflingInfo
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Description
Anmelderin: Firma Carl Freudenberg, Weinheim
Verfahren zur optisch-elektrischen Messung des Abstandes
zwischen einer Meßeinrichtung und einem Prüfling
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optisch-elektrischen Messung des Abstandes zwischen einer Meßeinrichtung und einem
Prüfling, bei dem ein Lichtstrahl unter einem Winkel auf die Oberfläche des Prüflings geworfen wird, derart, daß in einem
vorgegebenen Kontroll bereich ein Lichtfleck entsteht, daß der
Kontroll bereich auf einen unter einem anderen Winkel der Oberfläche
des Prüflings zugeordneten helligkeitsempfindlichen
Empfänger abgebildet wird, der je nach Lage des Lichtfleckes eine
unterschiedliche elektrische Spannung abgibt.
Das vorstehend beschriebene Verfahren wird in einem bekannten Füll Standswächter für Flüssigkeiten oder Pulver angewendet. Dieser
ist in einem bestimmten Abstand über der Soll höhe der Flüssigkeit
bzw» des Pulvers befestigt, und der von einer Linse gebündelte Lichtstrahl wird durch direkte Reflexion über einen Zwischenspiegel
auf einem Photowiderstand abgebildet, der in Abhängigkeit
von einer je nach Auftreffwinkel unterschiedlichen Beleuchtungsintensität
unterschiedliche Ausgangsspannungen abgibt.
030035/036
290,5641
Diese Spannungen werden einer Meß- und/oder Steuereinrichtung zugeführt, die anzeigt, ob die gewünschte Soll höhe
der Flüssigkeit bzw. des Pulvers erreicht ist oder nicht. Eine unmittelbare Schichtdickenmessung der Flüssigkeit oder des Pulvers
ist durch die Anwendung dieses Verfahrens jedoch nicht durchführbar, weil keine Proportionalität zwischen den einzelnen Ausgangsspannungen
des Photowiderstandes und dem jeweiligen Abstand von der Sollhöhe der Flüssigkeit bzw„ des Pulvers gegeben ist,, Das
Verfahren erlaubt außerdem nicht die Bestimmung der Soll höhe von Flüssigkeiten oder Pulvern, deren Oberfläche eine schwingende Bewegung
in Richtung auf den Füll Standswächter ausführt.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, das Verfahren derart
weiterzuentwickeln, daß eine unmittelbare Messung des Abstandes
der Meßeinrichtung von der Oberfläche einer Flüssigkeit, eines Pulvers oder irgendeines anderen Festkörpers möglich ist, ohne daß
Oberflächenrauhigkeiten den erhaltenen Meßwert beeinträchtigen»
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst bei einem Verfahren der eingangs
genannten Art dadurch, daß der Kontrollbereich mit dem Lichtfleck
maßstabgetreu auf einen Empfänger aus mehreren helligkeitsempfindlichen
Einzel sensoren projiziert wird, daß jedem Einzel sensor ein bestimmter Abstand zugeordnet wird und daß die relativ zueinander
unterschiedlichen Ausgangsspannungen qualitativ und/oder quantitativ
für die Angabe des Abstandes der Meßeinrichtung von dem Prüfling verwendet
werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren geht aus von der Erkenntnis, daß ein
unter einem Winkel auf eine Oberfläche projizierter Lichtstrahl dort einen Lichtfleck bildet, der sich in deren Ebene relativ verschiebt,
wenn sich der senkrechte Abstand der Oberfläche von der Meßeinrichtung verändert. Die relative Verschiebung ist umso größer, je kleiner
der Einfallswinkel des Lichtstrahls ist. Aus diesem Grunde ist es
0300 3 57(5 3"R
-S-
5*"
an sich wünschenswert, einen kleinen Einfallswinkel zu
wählen. Dieses führt jedoch zwangsläufig zu einer Vergrößerung des absoluten Durchmessers des Lichtfleckes und insbesondere zu
einer Vergrößerung der durch Streulicht erhellten Bereiche. Dieses kann bei der nachfolgenden elektrischen Auswertung zu einem unscharf
abgegrenzten Bild führen, und zwar insbesondere dann, wenn die gemessene Oberfläche stark reliefartig profiliert ist. Man
wird daher vorteilhafterweise den jeweils am besten geeigneten
Einfallswinkel durch einfache Vorversuche ermitteln. Wird hingegen ein Lichtstrahl mit einem kleinen Durchmesser aus konvergentem Licht
verwendet, so läßt sich ein kleiner Einfallswinkel wählen und damit eine außerordentlich große Meßgenauigkeit erzielen.
Der für die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens verwendete
Empfänger kann dem Kontroll bereich aus jeder beliebigen Richtung
zugeordnet sein, außer aus der Richtung der gleichzeitig verwendeten Lichtquelle, Auch die Entfernung, in der die beiden Einheiten
von dem Kontroll bereich angeordnet sind, kann unterschiedlich
sein und nahezu jeden beliebigen Wert annehmen. Die beiden Pinheiten
können infolgedessen außerhalb einer gegebenenfalls bestehenden Gefährdungszone
angebracht werden, und es kann dadurch grundsätzlich die Gefahr ausgeschlossen werden, daß das erzielte Meßergebnis durch
gegebene Umgebungseinflüsse in irgendeiner Weise verfälscht wird. Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich deshalb besonders gut für
die berührungslose Dickenmessung beliebiger Stoffe unter schwierigen
Bedingungen.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren kann der Abstand der Meßeinrichtung
von der Oberfläche des Prüflinges und damit dessen Dicke sehr präzise gemessen werden. Das kann qualitativ geschehen, indem die
Vielzahl der Einzel sensoren des Empfängers nur darauf überprüft wird, ob das erwünschte Signal, das den Lichtfleck repräsentiert,
anliegt oder nicht. In den meisten Fällen liegt dieses Signal jedoch nicht nur an einem einzelnen Sensor an, sondern es erscheint
- 4 030035/0 3.
mit abnehmender Höhe auch auf den Nachbarsensoren. Es wird im wesentlichen durch die Streuung des Lichts beim Auftreffen auf
die Oberfläche des Prüflinges verursacht. Ein daraus möglicherweise
verursachter Störeffekt kann ausgeschlossen werden, indem nur diejenigen von den Einzelsensoren ausgehenden Spannungen weiterverarbeitet
werden, die einen bestimmten Mindestwert überschreiten bzw. ausschließlich die Maximal spannung. Diese kann dann unmittelbar einem
bestimmten Sensor und damit einem bestimmten Abstand der Meßeinrichtung von der Oberfläche des Prüflinges zugeordnet werden. Eine unmittelbare
Eichung auf die Dicke des Prüflinges ist ohne weiteres möglich.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann in sinngemäßer Weise auch zur Messung der Dicke von Schichten verwendet werden, die eine in Richtung
auf die Meßeinrichtung schwingende Bewegung durchführen. Eine entsprechende Problematik ist beispielsweise gegeben, wenn die Dicke
eines noch unausgehärteten Kunstleders gemessen werden soll, das in praxisüblicher Weise über eine Transportrolle mit einer gewissen
Exzentrizität läuft, oder die absolute Schichtdicke einer Flüssigkeitsoder einer Pulverschicht, die durch eine Rüttel- oder eine Paddelbewegung
gleichzeitig egalisiert wird. ■
Unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird in beiden
Fällen eine Erregung der Einzel sensoren erhalten, die in gleichbleibender
Weise zwischen einem Minimal- und einem Maximalwert schwankt und denen somit jeweils ein bestimmter Minimal- und ein bestimmter
Maximal abstand der Meßeinrichtung von der Oberfläche des Prüflings
zugeordnet werden kann. Durch eine einfache Integration beider Werte
unter Anwendung bekannter Technologien läßt sich ein Durchschnittswert erhalten, der unmittelbar auf die absolute Schichtdicke geeicht
werden kann. Bei der Herstellung von Endlosmaterialien läßt sich die
diesbezügliche Skala gegebenenfalls auch auf alle übrigen vorkommenden
Werte eichen,, Die Integration der vorkommenden Maximal- und Minimalwerte
kann auf einfache Weise durchgeführt werden, indem die zeitliche
Länge der jeweiligen Periode ermittelt wird und indem derjenige
* 5 030035/036^
2905541
Einzel sensor ermittelt wird, der das maximale Ausgangssignal
bei 0,5mal der Zeitdauer der Gesamtperiode nach deren Beginn
führt.
Als besonders vorteilhaft für die Durchführung des erfindungsgemäßen
Verfahrens hat sich eine Vorrichtung erwiesen, bestehend aus einer Punktlichtquelle, die der Oberfläche des Prüflings unter einem Winkel
zugeordnet ist, und aus einem helligkeitsempfindlichen Empfänger,
der der Oberfläche des Prüflings unter einem anderen Winkel zugeordnet
ist, der mit einer Spannungsquelle verbunden ist und mit einer Meß- und/oder Steuereinrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß der
Empfänger aus mehreren flächenhaft zusanmengefaßteη Einzel sensoren
mit einem beleuchtungsproportionalen Spannungsausgang zusammengesetzt
ist, daß jeder Einzelsensor mit der Meß- und/oder Steuereinrichtung verbunden ist und daß in dieser gegebenenfalls ein Integrator für die
Spannungen enthalten ist. Eine entsprechende Vorrichtung kann beispielsweise
eine Punktlichtquelle umfassen und einen Empfänger in Gestalt einer Fernsehkamera, die mit einem Bildschirmgerät verbunden ist,
dessen Mattscheibe unmittelbar mit einer Skala für verschiedene Abstände der Fernsehkamera von der Oberfläche des Prüflinges versehen
ist. Die Fernsehkamera kann senkrecht über dem Kontrollbereich angeordnet
sein und die Punktlichtquelle in einer Ebene, die parallel
zur Unterkante des Fernsehempfängers liegt. Ein günstiger Einfallwinkel der Punktlichtquelle für viele Stoffe liegt in einer Größenordnung
von 10 bis 70°.
Bei Materialien, die eine Oberflächenrauhigkeit haben oder die sich
in einer periodischen Schwingung parallel zu der Richtung des Empfängers
befinden oder in einer Bewegung senkrecht zu dem Empfänger, ist es zur Erzielung eines eindeutigen Auswertungsergebnisses erforderlich,
einen Mittelwert aus mehreren Meßwerten zu bilden. Auch diese Auswertung
kann ähnlich der vorstehend beschriebenen quantitativ erfolgen,
beispielsweise durch Bestimmung des Einzelsensors, der im Intensitätsmaximum
der Lichtpunktabbildung liegt und durch nachfolgende
Bestimmung des Mittelwertes bei mehreren aufeinanderfolgenden Meßzyklen.
- 6 030035/03^
Eine qualitative Auswertung der von den Einzel sensoren abgegebenen
Spannungen in entsprechender Weise kann beispielsweise dazu benutzt werden, das Reflexionsverhalten oder die Oberflächenrauhigkeit des
Prüflings im Kontrollbereich kontinuierlich in eine konkrete Beziehung
zu den entsprechenden Durchschnittswerten der gesamten Oberfläche zu bringen. Die Einhaltung bestimmter Gütenormen der Oberfläche läßt
sich auf diese Weise vollautomatisch kontrollierten.
Neben der vorstehend beschriebenen, relativ aufwendigen Vorrichtung
kann das erfindungsgemäße Verfahren jedoch auch unter Verwendung einfacherer Vorrichtungen durchgeführt werden. Dabei kann man sich
vorteilhafterweise insbesondere die Tatsache zunutze machen, daß
der Lichtfleck in dem Kontrollbereich bei einer Abstandsveränderung
nur in linearer Richtung seine Lage zu verändern vermag. Es ist deshalb
grundsätzlich ausreichend, wenn die Einzel sensoren in einer
geraden Linie in dem Empfänger zusammengefaßt sind, die parallel zur Ebene des Lichtstrahles der Punktlichtquelle liegt. Als Einzelsensoren
können verschiedene Elemente verwendet werden, beispielsweise Photowiderstände, Photodiode oder Photodioden-Arrays,, Die elektrische
Schaltung bereitet dem erfahrenen Regelungstechniker unter Anwendung
der vorstehend angegebenen grundsätzlichen Lehre keine grundlegenden
Schwierigkeiten.
Die in der Anlage beigefügte Zeichnung zeigt in beispielhafter
Weise die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Sie wird nachfolgend näher beschrieben:
Aus einer Punkt!ichtquelle 1 wird ein gebündelter Strahl 2 unter
einen Winkel o( gegen die Oberfläche eines Prüflings 3 gerichtet.
Auf der Oberfläche wird von dem Lichtstrahl ein Lichtfleck abgebildet.
Der Prüfling besteht aus einer wässrigen Fasersuspension, die durch
eine Rohrleitung einem an der Vorderseite offenen Kasten zugeführt
wird. Die Unterseite des Kastens wird durch ein endloses Band aus einem Drahtgewebe gebildet, das über zwei Rollen geführt ist und
0 3 ϊΤ073Έ / 0 3
Y-
0I
dessen oberes Trum sich mit einer gleichmäßigen Geschwindigkeit von dem Kasten fortbewegt. Die Fasersuspension wird währenddessen
durch das Drahtgewebe hindurch entwässert und auf dessen Oberseite kommt es zur Ablagerung einer Faserschicht, die auf der rechten
Seite der Darstellung als ein eigenfestes Faservlies von dem Band abgenommen werden kann. Im Bereich des Kastens sind Einrichtungen
enthalten, die eine gleichmäßige Verteilung der Suspension über die Bandbreite bewirken,, In der Zeichnung sind diese Einrichtungen
vereinfacht als eine sich in Querrichtung hin- und herbewegende Rohrleitung für den Zulauf der Fasersuspension und als Paddeleinrichtung
dargestellt. Die Paddel einrichtung-besteht aus einem sich über die ganze Bandbreite erstreckenden,zylindrischen Tauchkörper, der
durch einen exzentrischen Antrieb in eine senkrecht schwingende Bewegung versetzt wird» Die dabei entstehenden Wellen in der Suspenpension
bewirken deren gleichmäßige Verteilung. Das Verhältnis der Schichtdicke der Suspension vor und nach der Entwässerung liegt in
einer Größenordnung von 100 : 1 bis 10 000 : 1. Bei einer automatischen
Regelung der je Zeiteinheit zugeführten Suspensionsmenge ist man deshalb bestrebt, den Kontroll bereich möglichst nahe an den Kasten zu
legen« Nur dadurch läßt sich eine hohe Meßgenauigkeit erziehen. Die
Oberfläche der Flotte ist in diesem Bereich aber nicht ruhend, sondern sie weist eine VJeIlenbewegung auf, die sich auch senkrecht zur
Oberfläche auswirkt. Diese Bewegung ist für das erfindungsgemäße Verfahren nicht mit einer Beeinträchtigung der Meßgenauigkeit beim Ermitteln
der Schichtdicke des Prüflings verbunden.
Bei einer Veränderung des Abs+andes der Oberfläche des Prüflings von
dem Empfänger bzw. der Schichtdicke des Prüflings verlagert sich der Lichtfleck in der dargestellten Weise um den Wert L, wobei man
die relative Verlagerung formel mäßig angeben kann durch
Δ L = Δ d . tan cf
Senkrecht über dem Kontroll bereich ist der Empfänger 4 angeordnet,
der in seinem rückwärtigen Teil mehrere Einzel sensoren 5 enthält
0 30 035
und in seinem vorderen Bereich ein optisches Linsensystem 6„ Das optische
Linsensystem ist so ausgelegt, daß der gesamte Kontrollbereich, der
beispielsweise dem dargestellten Probenausschnitt entspricht, maßstabsgerecht auf dem eigentlichen, aus mehreren Einzel sensoren zusammengesetzten
Empfänger abgebildet wird.
Die Erregung der Einzel sensoren erfolgt unter Ausnutzung der von dem Lichtfleck innerhalb des Kontrollbereiches ausgehenden diffusen
Reflexion. Es ist zwar ebenso möglich, die direkte Reflexion im Sinne des erfindungsgemäßen Verfahrens zu verwenden. Dabei können
sich jedoch aus einer reliefartigen Strukturierung der Oberfläche eines Prüflinges oder einer fehlenden Eignung zur direkten Reflexion
Schwierigkeiten ergeben, die sich unter Anwendung des Prinzips der Verwendung der diffusen Reflexion vermeiden lassen.Die Auswertung
des maßstabgerecht auf dem Empfänger wiedergegebenen Bildes des Kontrollbereiches erfolgt zyclisch und ausgehend von der jeweiligen
Kontrolle eines jeden Einzelsensors 5, ob dort das Signal des Lichtfleckes anliegt oder nicht» Jedem Einzelsensor braucht infolgedessen
lediglich ein bestimmter Abstand des Empfängers von der Oberfläche des Prüflings 3 zugeordnet zu werden, um bei einer
Erregung durch den Lichtfleck die schlüssige Aussage zuzulassen, daß sich die Oberfläche des Prüflings in einem bestimmten Abstand
von dem Empfänger befindet. Es ist dann lediglich noch eine Frage der Eichung der verwendeten Skala, um aus dieser Aussage unmittelbar
in eine Angabe über die Schichtdicke der gemessenen Probe zuzulassen. Bedingt durch die im Kontrollbereich in vorliegendem Fall gegebenen
Wellenbewegung der Oberfläche des Prüflings ergeben sich bei einem
Vergleich des Ergebnisses verschiedene Maßzyclen unterschiedlicher
Werte. Diese können beispielsweise in einem Bereich von 1 - 2 mm
schwanken* Um zu der tatsächlichen Schichtdicke zu gelangen ist es
deshalb erforderlich unter Berücksichtigung des eingegebenen Störfaktors einen Mittelwert zu bilden. In vorliegendem Falle, in dem
die Wellenbewegung durch eine sinusförmige Schwingung der Paddeleinrichtung
verursacht wird, genügt eine einfache Mittelwertbildung
_ 9 _
030035/036=
030035/036=
aus dem oberen und dem unteren Grenzwert um den tatsächlichen Wert
der Schichtdicke mit 1,5 mm zu erhalten. Es ist einfach einzusehen, daß eine Veränderung der Grenzwerte unmittelbar in das Ergebnis
eingeht. Tendenzen bei einer Veränderung lassen sich deshalb unmittelbar bei ihrer Entstehung erkennen.
Die vorstehend beschriebene Auswertungsmethode geht von der vereinfachten
Annahme aus, daß ausschließlich die Ausgangsspannung des
maximal erregten Einzelsensors verarbeitet wird. Sie hat den Vorteil, daß die Anzeige unabhängig ist von der absoluten Höhe des jeweiligen
Maximalwertes und damit von einem sich gegebenenfalls ändernden
Reflexionsverhalten des gemessenen Stoffes. Das erfindungsgemäße
Verfahren kann bei einer entsprechenden Durchführung ohne Zwischenjustierung unmittelbar für die Messung der Schichtdicke von Stoffen
unterschiedlicher Oberflächenstruktur und Farbe verwendet werden.
Für die praktische Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist das von besonders großer Bedeutung. Diese spezifische Art der Durchführung
schließt jedoch nicht aus, daß gegebenenfalls auch die Amplitude des an den Einzel sensoren anliegenden Signals für die
Auswertung des Meßergebnisses verwendet wird.
- Io -
030035/036."
Leerseite
Claims (9)
1. Verfahret) zur optisch-elektrischen Messung des Abstandes
zwischen einer Meßeinrichtung und einem Prüfling, bei dem
ein gebündelter Lichtstrahl unter einem Winkel auf die Oberfläche des Prüflings geworfen wird, derart, daß in einem
vorgegebenen Kontroll bereich ein Lichtfleck entsteht, daß der
Kontroll bereich auf einen unter einem anderen Winkel der Oberfläche
des Prüflings zugeordneten, helligkeitsempfindlichen
Empfänger abgebildet wird, der je nach Lage des Lichflecks eine unterschiedliche elektrische Spannung abgibt, dadurch
gekennzeichnet, daß der Kontroll bereich mit dem Lichtfleck maßstabgetreu auf einen Empfänger aiis mehreren helligkeitsempfindlichen
Einzel sensoren abgebildet wird, daß jedem Einzel sensor ein bestimmter Abstand der Meßeinrichtung von der
Oberfläche des Prüflings zugeordnet wird und deß die relativ
zueinander unterschiedlichen Ausgangsspannungen qualitativ
und/oder quantitativ für die Angabe des Abstandes verwendet werden.
2. Verfahren nach Anspruch I5 dadurch gekennzeichnet, daß die
Ausgangsspannungen der Einzel sensoren aus mehreren Meßzyclen
qualitativ und/oder quantitativ für die Angabe des Abstandes verwendet werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Lichtstrahl ai:s konvergentem Licht verwendet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß für die Angabe des Abstandes nur Spannungen verwendet
werden, die eine Mindestspannung überschreiten.
5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß für die Angabe des Abstandes nur die Maximal spannung
verwendet wird.
030035/03&■
- 11 -
- 11 -
2 9 O G 6 Λ1
6. Verfahren nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem sich in einer zeitlichen Periode verschiebenden Spektrum der Ausgangsspannungen die Ausgangsspannungen bei
o,5mal der Zeitdauer der Periode nach deren Beginn für die Angabe des Abstandes verwendet werden.
7. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch
1 bis 6, bestehend aus einer Punkt!ichtquelle, die der Oberfläche
eines Prüflinges unter einem Wjnkel zugeordnet ist,
und aus einem heliigkeitsempfindlichen Empfänger, der der Oberfläche des Prüflings unter einem anderen Winkel zugeordnet
ist, der mit einer Spannungsquelle verbunden ist und
mit einer Meß- und/oder Steuereinrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß der Empfänger aus mehreren flächenhaft zusammengefaßten
Einzelsensoren mit einem beleuchtungsproportionalen Spannungsausgang zusammengesetzt ist, daß jeder Einzelsensor
mit der Meß- und/oder Steuereinrichtung verbunden ist und daß in dieser gegebenenfalls ein Integrator für die Sapnnungen
enthalten ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Empfänger eine Fernsehkamera ist und daß die Meßeinrichtung
ein Fernsehempfänger ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Einzel sensoren in einer geraden Linit nebeneinander angeordnet
sind, die parallel zur Ebene des Strahls der Punktlichtquelle
liegt.
lo. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die
Einzelsensoren Photowiderstände, Photodioden und/oder Photo-Jioden-Arrays
sind.
030035/03 6'
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792906641 DE2906641A1 (de) | 1979-02-21 | 1979-02-21 | Verfahren zur optisch-elektrischen messung des abstandes zwischen einer messeinrichtung und einem pruefling |
GB8003415A GB2043389A (en) | 1979-02-21 | 1980-02-01 | Photoelectrical measuring method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792906641 DE2906641A1 (de) | 1979-02-21 | 1979-02-21 | Verfahren zur optisch-elektrischen messung des abstandes zwischen einer messeinrichtung und einem pruefling |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2906641A1 true DE2906641A1 (de) | 1980-08-28 |
Family
ID=6063506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792906641 Withdrawn DE2906641A1 (de) | 1979-02-21 | 1979-02-21 | Verfahren zur optisch-elektrischen messung des abstandes zwischen einer messeinrichtung und einem pruefling |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2906641A1 (de) |
GB (1) | GB2043389A (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0132200A1 (de) * | 1983-07-11 | 1985-01-23 | Diffracto, Inc. | Elektrooptischer Fugen- und Bündigkeitsdetektor |
DE3643842A1 (de) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der raeumlichen lage eines auf der oberflaeche eines koerpers befindlichen objektpunkts |
DE3920133A1 (de) * | 1989-06-20 | 1991-01-03 | Siemens Ag | Optischer sensor zur untersuchung der lage und/oder der kontur eines objekts |
DE19914962A1 (de) * | 1999-04-01 | 2000-10-26 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2143396B (en) * | 1983-05-21 | 1987-06-17 | Mac Co Ltd | Beam riding location system |
DE3621009A1 (de) * | 1986-06-23 | 1988-01-07 | Truetzschler & Co | Vorrichtung zur erfassung des fuellstandes in einem fasermaterialspeicher, insbesondere fuer spinnereivorbereitungsmaschinen |
GB2222047A (en) * | 1988-07-25 | 1990-02-21 | Unisearch Ltd | Optical mapping of field of view and information storage |
US6140662A (en) * | 1998-09-11 | 2000-10-31 | Hewlett-Packard Company | Sensing system and method |
FI119259B (fi) * | 2006-10-18 | 2008-09-15 | Valtion Teknillinen | Pinnan ja paksuuden määrittäminen |
FI125408B (fi) | 2012-09-17 | 2015-09-30 | Focalspec Oy | Menetelmä ja mittalaite pinnan etäisyyden, kohteen paksuuden ja optisten ominaisuuksien mittaamiseksi |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1218169B (de) * | 1962-07-11 | 1966-06-02 | Owens Illinois Inc | Vorrichtung zum Pruefen der Wandstaerke von Glasrohren |
DE1993218U (de) * | 1967-10-13 | 1968-09-05 | Grundig Emv | Opto-elektronisches abstandspruefgeraet. |
DE1759198A1 (de) * | 1967-04-20 | 1971-06-03 | Carlson John Gustaf | Ventilationsvorrichtung an Fenstern od.dgl. |
DE1548209B2 (de) * | 1966-06-29 | 1973-08-09 | Exatest Meßtechnik GmbH, 5090 Le verkusen | Vorrichtung zur beruehrungslosen querschnittsmessung von durchlaufendem draht-, band- oder profilfoermigem messgut |
DE2211343A1 (de) * | 1972-03-09 | 1973-09-20 | Kabel Metallwerke Ghh | Verfahren zur bestimmung des durchmessers bzw. der hoehe oder breite von langgestrecktem gut |
DE2325457C3 (de) * | 1972-05-22 | 1975-09-11 | Gabor Ujhelyi Bristol Conn. Kalman (V.St.A.) | Vorrichtung zum Messen der Dicke eines transparenten Objektes |
-
1979
- 1979-02-21 DE DE19792906641 patent/DE2906641A1/de not_active Withdrawn
-
1980
- 1980-02-01 GB GB8003415A patent/GB2043389A/en not_active Withdrawn
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1218169B (de) * | 1962-07-11 | 1966-06-02 | Owens Illinois Inc | Vorrichtung zum Pruefen der Wandstaerke von Glasrohren |
DE1548209B2 (de) * | 1966-06-29 | 1973-08-09 | Exatest Meßtechnik GmbH, 5090 Le verkusen | Vorrichtung zur beruehrungslosen querschnittsmessung von durchlaufendem draht-, band- oder profilfoermigem messgut |
DE1759198A1 (de) * | 1967-04-20 | 1971-06-03 | Carlson John Gustaf | Ventilationsvorrichtung an Fenstern od.dgl. |
DE1993218U (de) * | 1967-10-13 | 1968-09-05 | Grundig Emv | Opto-elektronisches abstandspruefgeraet. |
DE2211343A1 (de) * | 1972-03-09 | 1973-09-20 | Kabel Metallwerke Ghh | Verfahren zur bestimmung des durchmessers bzw. der hoehe oder breite von langgestrecktem gut |
DE2325457C3 (de) * | 1972-05-22 | 1975-09-11 | Gabor Ujhelyi Bristol Conn. Kalman (V.St.A.) | Vorrichtung zum Messen der Dicke eines transparenten Objektes |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0132200A1 (de) * | 1983-07-11 | 1985-01-23 | Diffracto, Inc. | Elektrooptischer Fugen- und Bündigkeitsdetektor |
DE3643842A1 (de) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der raeumlichen lage eines auf der oberflaeche eines koerpers befindlichen objektpunkts |
DE3920133A1 (de) * | 1989-06-20 | 1991-01-03 | Siemens Ag | Optischer sensor zur untersuchung der lage und/oder der kontur eines objekts |
DE19914962A1 (de) * | 1999-04-01 | 2000-10-26 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
DE19914962C2 (de) * | 1999-04-01 | 2003-02-06 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Optoelektronische Vorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2043389A (en) | 1980-10-01 |
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