DE2904787A1 - Verfahren zur analyse eines gegenstandes unter verwendung von lichtstreuung - Google Patents

Verfahren zur analyse eines gegenstandes unter verwendung von lichtstreuung

Info

Publication number
DE2904787A1
DE2904787A1 DE19792904787 DE2904787A DE2904787A1 DE 2904787 A1 DE2904787 A1 DE 2904787A1 DE 19792904787 DE19792904787 DE 19792904787 DE 2904787 A DE2904787 A DE 2904787A DE 2904787 A1 DE2904787 A1 DE 2904787A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
analyzing
sample
light beam
scattered
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19792904787
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE2904787C2 (US20030220297A1-20031127-C00033.png
Inventor
Kazuo Moriya
Tomoya Ogawa
Masane Suzuki
Kenji Yasuda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
Publication of DE2904787A1 publication Critical patent/DE2904787A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2904787C2 publication Critical patent/DE2904787C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65—Raman scattering
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
DE19792904787 1978-02-08 1979-02-08 Verfahren zur analyse eines gegenstandes unter verwendung von lichtstreuung Granted DE2904787A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1329378A JPS54109488A (en) 1978-02-08 1978-02-08 Analyzing method and device of optically scattered image information

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2904787A1 true DE2904787A1 (de) 1979-08-09
DE2904787C2 DE2904787C2 (US20030220297A1-20031127-C00033.png) 1987-04-23

Family

ID=11829138

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19792904787 Granted DE2904787A1 (de) 1978-02-08 1979-02-08 Verfahren zur analyse eines gegenstandes unter verwendung von lichtstreuung
DE7903488U Expired DE7903488U1 (de) 1978-02-08 1979-02-08 Vorrichtung zur Analyse der Abbildung einer Probe

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE7903488U Expired DE7903488U1 (de) 1978-02-08 1979-02-08 Vorrichtung zur Analyse der Abbildung einer Probe

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4411525A (US20030220297A1-20031127-C00033.png)
JP (1) JPS54109488A (US20030220297A1-20031127-C00033.png)
DE (2) DE2904787A1 (US20030220297A1-20031127-C00033.png)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3447878A1 (de) * 1983-12-30 1985-07-11 Nitto Electric Industrial Co., Ltd., Ibaraki, Osaka Vorrichtung und verfahren zum fortlaufenden messen der polarisierungseigenschaft
DE4108062A1 (de) * 1991-03-13 1992-09-17 Man Technologie Gmbh Vorrichtung zur interferometrischen messung von objekten
US10488400B2 (en) 2015-03-06 2019-11-26 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E. V. Method and device for optical detection of a movement in a biological sample with a spatial extent

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1234913B (it) * 1982-07-15 1992-06-02 Carboloy Spa Sistema di illuminazione per visione elettronica ad alta risoluzione e suo metodo di realizzazione.
JPS6069534A (ja) * 1983-09-26 1985-04-20 Rikagaku Kenkyusho 反応過程観測装置
JPS61213651A (ja) * 1985-03-19 1986-09-22 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 赤外線トモグラフイ−装置
JPH0629853B2 (ja) * 1985-03-19 1994-04-20 三井金属鉱業株式会社 光散乱画像情報解析装置
JPS61223537A (ja) * 1985-03-29 1986-10-04 Hitachi Cable Ltd 半導体結晶板の立体像
DD254998A1 (de) * 1985-07-26 1988-03-16 Zeiss Jena Veb Carl Anordnung zur bildlichen darstellung und analyse von fluoreszenzsignalen
US4732479A (en) * 1985-10-18 1988-03-22 Canon Kabushiki Kaisha Particle analyzing apparatus
US4867564A (en) * 1987-06-22 1989-09-19 Gte Government Systems Corporation Apparatus for and method of remotely sensing sub-surface water temperatures
US4867558A (en) * 1987-06-22 1989-09-19 Gte Government Systems Corporation Method of remotely detecting submarines using a laser
US4847198A (en) * 1987-10-07 1989-07-11 The Board Of Governors For Higher Education, State Of Rhode Island And Providence Plantations Detection and indentification of bacteria by means of ultra-violet excited resonance Raman spectra
JP2520665B2 (ja) * 1987-10-16 1996-07-31 理化学研究所 蛍光顕微分光装置
JP2604607B2 (ja) * 1987-12-09 1997-04-30 三井金属鉱業株式会社 欠陥分布測定法および装置
US5009500A (en) * 1989-07-28 1991-04-23 Gte Government Systems Corporation Remote method of measuring subsurface water temperatures
US4973853A (en) * 1989-07-28 1990-11-27 Gte Government Systems Corporation Remote subsurface water temperature measuring apparatus with Brillouin scattering
US4962319A (en) * 1989-07-28 1990-10-09 Gte Government Systems Corporation Remote subsurface water temperature measuring apparatus with Brillouin scattering
US4997273A (en) * 1989-07-28 1991-03-05 Gte Government Systems Corporation Remote method of measuring subsurface water temperatures
US4948958A (en) * 1989-08-01 1990-08-14 Gte Government Systems Corporation Remote subsurface water temperature measuring apparatus with brillouin scattering
US4986656A (en) * 1989-11-30 1991-01-22 Gte Government Systems Corporation Method of remotely measuring diffuse attenuation coefficient of sea water
US4986655A (en) * 1989-11-30 1991-01-22 Gte Government Systems Corporation Apparatus for measuring diffuse attenuation coefficient of sea water
US5262644A (en) * 1990-06-29 1993-11-16 Southwest Research Institute Remote spectroscopy for raman and brillouin scattering
US5920388A (en) * 1996-10-15 1999-07-06 Research Electro-Optics, Inc. Small particle characteristic determination
FI117909B (fi) * 1999-11-12 2007-04-13 Teknillinen Korkeakoulu Näytteen analysoiminen Raman-spektroskopiassa
WO2004065994A2 (en) * 2003-01-21 2004-08-05 The General Hospital Corporation Microscope objectives
US7330250B2 (en) * 2004-05-18 2008-02-12 Agilent Technologies, Inc. Nondestructive evaluation of subsurface damage in optical elements
WO2009073649A1 (en) 2007-12-04 2009-06-11 Particle Measuring Systems, Inc. Non-orthogonal particle detection systems and methods
JP5738628B2 (ja) * 2011-03-02 2015-06-24 株式会社コベルコ科研 内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法
WO2013130681A1 (en) * 2012-02-27 2013-09-06 Integrated Medical Systems International, Inc. Systems and methods for identifying optical material
FR2998967A1 (fr) * 2012-12-03 2014-06-06 Univ Lorraine Appareil et methode de spectroscopie
CN105353115B (zh) * 2015-10-21 2017-05-31 中国科学院上海光学精密机械研究所 免疫层析试纸条散射光场空间分布的测量装置及方法
CN111351794B (zh) * 2018-12-20 2021-12-10 上海微电子装备（集团）股份有限公司 一种物体表面检测装置及检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2409593A1 (de) * 1973-05-31 1975-05-07 Ppg Industries Inc Verfahren uund vorrichtung zur bestimmung der art optischer fehler in glas
DE2456452A1 (de) * 1973-12-03 1975-06-05 Inst Nat Sante Rech Med Vorrichtung zur zerstoerungsfreien untersuchung von stoffen, besonders von heterogenen oberflaechen, mittels bestrahlung
DE2508523A1 (de) * 1975-02-27 1976-09-09 Battelle Institut E V Verfahren zur analyse von biologischen zellen oder strukturierten partikeln aehnlicher groessenordnung

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2444644A1 (de) * 1974-09-18 1976-04-08 Dihaco Diamanten Handels Co Verfahren und vorrichtung zur ermittlung und groessenbestimmung von einschluessen in edelsteinen
FR2356931A1 (fr) * 1976-07-02 1978-01-27 Anvar Microsonde microscope optique moleculaire a effet raman excitee par laser

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2409593A1 (de) * 1973-05-31 1975-05-07 Ppg Industries Inc Verfahren uund vorrichtung zur bestimmung der art optischer fehler in glas
DE2456452A1 (de) * 1973-12-03 1975-06-05 Inst Nat Sante Rech Med Vorrichtung zur zerstoerungsfreien untersuchung von stoffen, besonders von heterogenen oberflaechen, mittels bestrahlung
DE2508523A1 (de) * 1975-02-27 1976-09-09 Battelle Institut E V Verfahren zur analyse von biologischen zellen oder strukturierten partikeln aehnlicher groessenordnung

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DD-Z.: Experimentelle Technik der Physik XXIII, 1975, S. 559-562 *
DE-Z.: Physikalische Blätter 28, 1972, S. 447-457 *
US-Z.: Applied Optics 15, 1976, S. 672-676 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3447878A1 (de) * 1983-12-30 1985-07-11 Nitto Electric Industrial Co., Ltd., Ibaraki, Osaka Vorrichtung und verfahren zum fortlaufenden messen der polarisierungseigenschaft
DE4108062A1 (de) * 1991-03-13 1992-09-17 Man Technologie Gmbh Vorrichtung zur interferometrischen messung von objekten
US10488400B2 (en) 2015-03-06 2019-11-26 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E. V. Method and device for optical detection of a movement in a biological sample with a spatial extent

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54109488A (en) 1979-08-28
US4411525A (en) 1983-10-25
DE2904787C2 (US20030220297A1-20031127-C00033.png) 1987-04-23
DE7903488U1 (de) 1979-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2904787A1 (de) Verfahren zur analyse eines gegenstandes unter verwendung von lichtstreuung
DE69124753T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung interner Fehler
DE68919078T2 (de) Vorrichtung zur ramanstrahlungsanalyse.
EP0898783B1 (de) Rastermikroskop, bei dem eine probe in mehreren probenpunkten gleichzeitig optisch angeregt wird
DE4310209C2 (de) Optische stationäre Bildgebung in stark streuenden Medien
DE69109413T2 (de) Vorrichtung zur Messung des Glanzvermögens einer Oberfläche, insbesondere der Haut.
DE19949029C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung einer Kulturflüssigkeit
DE10225838B4 (de) Verfahren zur Scanmikroskopie, Scanmikroskop und Vorrichtung zum Codieren eines Beleuchtungslichtstrahles
EP1248132B1 (de) Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE2505063A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur feststellung von fotomaskendefekten
DE19626261A1 (de) Beobachtungsvorrichtung
EP0394932A2 (de) Photothermisches Untersuchungsverfahren, Einrichtung zu seiner Durchführung und Verwendung des Verfahrens
DE3037983A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur lichtinduzierten rastermikroskopischen darstellung von probenparametern in ihrer raeumlichen verteilung
WO2017182107A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der tiefe der dampfkapillare während eines bearbeitungsprozesses mit einem hochenergiestrahl
DE19900158A1 (de) Geometrisch unempfindlich gemachtes Interferometer mit einstellbarem Bereich der Meßtiefe
DE10056382A1 (de) Lichtquelle zur Beleuchtung in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE3714305C2 (de) Einrichtung und Verfahren zum Abtasten von Oberflächen mit strahlerzeugenden Einrichtungen, welche einen ersten und zweiten Beleuchtungsstrahl mit unterschiedlicher Polarisationen erzeugen
DE10136197A1 (de) Verfahren und Gerät zur Messung der Dicke eines Testobjekts
EP1507137B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur polarisationsabhängigen und ortsaufgelösten Untersuchung einer Oberfläche oder einer Schicht
DE2554898C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur akustischen Abbildung
DE10118463A1 (de) Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE19832175A1 (de) Verfahren und Anordnungen zur transversalen optischen Kohärenztomographie
WO2019243008A1 (de) Vorrichtung zur chromatisch konfokalen optischen vermessung und konfokalen abbildung eines messobjekts sowie verfahren
DE2306764A1 (de) Mikroschwaerzungsmessverfahren und mikroschwaerzungsmesser bzw. mikrodensitometer
DE19882660B4 (de) Optisches Verfahren für die Kennzeichnung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern und Isolierfilmen

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8339 Ceased/non-payment of the annual fee