DE2856682A1 - Verfahren zur galvanischen erzeugung einer kupferfolie und dazu geeignetes galvanisierbad - Google Patents
Verfahren zur galvanischen erzeugung einer kupferfolie und dazu geeignetes galvanisierbadInfo
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Description
BLUMBACH · WESiiR . BERGEN · KRAMER
ZWIRNER. HIRSCH . BREHM 2 8^66?" "~
PATENTANWÄLTE IN MÜNCHEN UND WIESBADEN
·?■
Patentconsult Radedcestraße 43 8000 München 60 Telefon (089) 883603/883604 Telex 05-212313 Telegramme Patentconsult
Patentconsult Sonnenberger Straße 43 6200 Wiesbaden Telefon (06121)562943/561998 Telex 04-186237 Telegramme Patentconsult
GOULD INC., 29. Dezember 1978
Gould Center, GD-05
Rolling Meadows, Illinois 60008,
U. S. A.
U. S. A.
Verfahren zur galvanischen Erzeugung einer Kupferfolie und dazu geeignetes Galvanisierbad
Beschreibung:
Diese vorliegende Erfindung betrifft die galvanische bzw. elektrolytische Metallisierung; insbesondere betrifft diese
Erfindung ein Verfahren zur Erzeugung galvanischer Abscheidungen in Form einer dünnen Kupferschicht, die besonders geeignet
für die Verwendung bei gedruckten Schaltungen ist.
Diese Erfindung ist besonders anwendbar zur Bildung galvanisch
München: R. Kramer Dipl.-Ing. · W. Weser Dipl.-Phys. Dr. rer. nat. · P. Hirsch Dipl.-ing. · H. P. Brehm Dipl.-Chem. Dr. phil. nat.
Wiesbaden: P.G. Blumbach Dipl.-Ing. . P.Bergen Dipl.-Ing. Dr. jur. . G. Zwirner Dipl.-Ing. Dipl.-W.-Ing.
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erzeugter, ultra-dünner Folien aus Kupfer auf einem Aluminiumträger und soll hauptsächlich in diesem Zusammenhang erläutert
werden; es ist jedoch keinesfalls beabsichtigt, die Erfindung auf Kupferfolien auf Aluminiumträgern einzuschränken. Diese
Polien können eine Dicke in der Größenordnung von 5 bis 18,0 um
aufweisen und sind typischerweise auf einem 50 bis 75 wm dicken
Aluminiumblech abgeschieden. Im Rahmen dieser Unterlagen soll die Bezeichnung "Aluminium" nicht allein das handelsüblich zugängliche,
reine Metall umfassen, sondern auch Aluminiumlegierungen, in denen Aluminium den Hauptbestandteil darstellt.
Wach einem bekannten Verfahren zur Herstellung von Platten für
gedruckte Schaltungen wird Kupfer auf einem vorübergehend benutzten Träger, etwa einem Aluminiumblech, abgeschieden; anschließend
wird die freiliegende Kupferoberfläche auf einer Platte für gedruckte Schaltungen aufgebracht, etwa auf einem
Substrat aus mit einer Glasfasermatte verstärktem Epoxyharz; anschließend wird die Kupferoberfläche unter Einwirkung von
V/ärme und Druck an das Epoxyharz gebunden; und schließlich wird der zeitweilig benutzte Träger entfernt. Damit dieses
Laminat aus dünner Kupferfolie auf einem Kunstharzsubstrat eine qualitativ hochwertige Platte· für gedruckte Schaltungen
ergibt, muß unter anderen Eigenschaften die dünne Folie in hohem Ausmaß porenfrei sein und fest an das Substrat bindbar sein.
Mit der US-Patentschrift 3 293 109 und der entsprechenden Weiterentwicklung nach der US-Patentschrift 3 990 926 wird hierzu
eine zwei- oder mehrstufige galvanische Kupferabscheidung als
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notwendig angesehen, um eine in hohem Ausmaß porenfreie Folie
zu erhalten, die sicher an Kunstharzsubstrate bindbar ist. Typischerweise ist hierzu vorgesehen, zuerst eine Kupferschicht
bis zu einer Schichtdicke von ungefähr 1,27 pa galvanisch aufzubauen,
um eine einheitliche Kupferunterlage auf dem Substrat zu gewährleisten, und anschließend in wenigstens einem weiteren
Verfahrensschritt aus einem anderen Bad und/oder bei einer anderen Stromdichte die weitere Kupferabscheidung vorzunehmen,
bis die gewünschte Schichtdicke erreicht ist; hierbei soll auch die Kupferaußenschicht nodularisiert werden (d.h. mit einer
kugeligen, warzenförmigen oder dgl. Aufrauhung versehen werden) um die Bindungsfestigkeit zwischen der Folie und dem Substrat,
an das die Folie gebunden oder laminiert werden soll, zu erhöhen. Das heißt, es ist ein mehrstufiges Verfahren zur
galvanischen Kupferabscheidung erforderlich gewesen, um eine
in hohem Ausmaß porenfreie Folie zu erhalten, die sicher an Kunstharzsubstrate bindbar ist; oder mit anderen Worten ausgedrückt,
die eine hohe Abziehfestigkeit aufweist. Mit der Bezeichnung "Abziehfestigkeit" wird üblicherweise die Festigkeit der
Bindung zwischen der Folie und dem Kunstharzsubstrat bezeichnet; entsprechend dem Standard-Prüfverfahren nach ASTM D/1867 wird
eine Abziehfestigkeit von mehr als oigefähr 12,5 N/cm ( 7 lbs./inch)
als erforderlich angesehen, um den Anforderungen an eine gedruckte Schaltung zu genügen.
Obwohl sich nach dem mehrstufigen Verfahren porenfreie Folien mit einer nodularisierten Außenfläche erhalten lassen, weist
dieses Verfahren den Nachteil auf, daß eine sorgfältige Steue-
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rung und Regelung der einzelnen Verfahrensschritte innerhalb
enger Grenzen erforderlich ist. Es muß nicht nur jeder einzelne Verfahrensschritt sorgfältig überwacht werden, vielmehr müssen
die einzelnen Verfahrensparameter jeder Stufe, wie etwa die Badzusammensetzung, die Stromdichte in dem Bad, die Badtemperatur
und dgl. sorgfältig mit den Parametern der anderen Verfahrensschritte abgestimmt werden. Sofern beispielsweise ein
zweistufiges Verfahren vorgesehen ist, wobei in der zweiten Stufe eine andere Badzusammensetzung vorgesehen ist, ist eine
enge Abstimmung zwischen der Badzusammensetzung und den anderen Parametern im ersten Verfahrensschritt mit der neuen Badzusammensetzung
im zweiten Verfahrensschritt erforderlich. Wegen dieser Anforderungen an Steuerung und Regelung stellt dieses
bekannte Verfahren im wesentlichen ein einfaches Verfahren nicht dar. Sogar bei einer sorgfältigen Steuerung dieses mehrstufigen
Verfahrens treten wegen seiner Kompliziertheit Schwierigkeiten hinsichtlich der Zuverlässigkeit auf. Darüberhinaus
erfordert die mehrfache Anwendung der einzelnen Verfahrensschritte größere Anforderungen an Platzbedarf und Ausrüstung,
womit die Kosten entsprechend steigen.
Im Hinblick darauf besteht die Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, ein verbessertes Verfahren zur galvanischen Erzeugung
einer Folie anzugeben.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein einstufiges Verfahren zur galvanischen Kupferabscheidung
anzugeben, das eine einheitliche, weitgehend porenfreie, ultra-
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dünne Kupferfolie mit nodularisierter Oberfläche ergibt, die stark an einer Schaltungsplatte aus mit Glasfaser verstärktem
Epoxyharz haftet.
Noch eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Bad zur galvanischen Kupferabscheidung anzugeben,
das eine gesteigerte, anfängliche Kupferkeimbildung gewährleistet und eine nodularisierte (d.h. kugelförmig, warzenförmig
oder in ähnlicher Weise aufgerauhte) Außenfläche ergibt.
Noch eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein verbessertes Verfahren zur galvanischen Abscheidung
von Kupfer auf einem Träger anzugeben.
Schließlich besteht eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung
darin, ein verbessertes Verfahren zur galvaniechen Abscheid\mg
von porenfreiem Kupfer mit nodularisierter Oberfläche auf einem Aluminiumträger anzugeben, wobei die Kupferschicht
dank ihrer aufgerauhten Oberfläche stark an einer Schaltungsplatte aus Glasfaser-verstärktem Epoxyharz haftet.
Weitere Aufgaben, Besonderheiten und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden detaillierten Beschreibung,
welche auch die beste Ausfuhrungsform der Durchführung
der Erfindung einschließt.
Allgemein gesehen betrifft die vorliegende Erfindung die Bereitstellung
eines Verfahrens zur galvanischen Abscheidung von Kupfer
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in einer einzigen Verfahrensstufe, wobei eine in hohem Ausmaß
porenfreie, ultra-dünne Polie mit nodularisierter Außenschicht
erhalten wird.
Nach einem Gesichtspunkt betrifft die Torliegende Erfindung
ein Bad zur galvanischen'Abscheidung ultra-dünner Kupferfolien,
das eine gesteigerte, anfängliche Kupferkeimbildung zur Erzeugung einer porenfreien Polie gewährleistet und eine nodularisierte
Außenfläche ergibt.
Nach einem anderen Gesichtspunkt umfaßt die vorliegende Erfindung ein Verfahren, das "besonders geeignet zur Erzeugung
einer in hohem Ausmaß porenfreien, ultra-dünnen Folie mit nodularisierter Oberfläche ist, die stark an einer Schaltungsplatte haftet, wobei Kupfer galvanisch in einem einzigen Verfahr
ensschritt aus einem sauren Bad abgeschieden wird, das Kupfer-Nitrat- und Pluoridionen enthält, wobei die Stromdichte
in dem Bad bei einem konstanten, vorgegebenen Wert gehalten wird. Dieses Verfahren wird typischerweise an einem Trägermaterial wie
etwa Aluminium durchgeführt.
Im einzelnen wird der Aluminiumträger gereinigt, in alkalischer lösung geätzt, gespült und daraufhin mit einer alkalischen, wässrigen,
Alkalimetallzinkat-Iiösung behandelt, die ein oder mehrere wasser-lösliche Salze von Eisen, Kobalt oder Nickel enthält. Die
dabei gebildete Beschichtung wird anschließend im wesentlichen wieder vollständig durch Behandlung mit einer Säure entfernt,
wodurch eine einheitliche dünne, oxidische Trennschicht auf dem
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Aluminium zurückbleibt. Diese Trennschicht und die Maßnahmen zu ihrer Erzeugung sind ausführlicher in der US-Patentschrift
3 969 199 erläutert; mit der Bezugnahme auf diese Patentschrift soll deren Inhalt auch zum Bestandteil der vorliegenden Unterlagen
gemacht werden. Nach jenem Verfahren wird eine Aluminiumoberfläche erhalten, welche für eine einheitliche, hochdichte
Kupferkeimbildung im Verlauf einer galvanischen Kupferabscheidung geeignet ist.
Der vorbehandelte Aluminiumträger wird daraufhin in ein Kupfersulfat-Bad
eingebracht, das Nitrat- und lösliche Pluoridioiien enthält, die etwa in der Form von Natriumfluorid, Calciumfluorid,
Kaliumfluorid oder Ammoniumfluorid in die Lösung eingebracht
worden sind. Das Bad wird bei einer konstanten, vorgegebenen Stromdichte betrieben, wobei die Badzusammensetzung
unverändert bleibt. Die Anwesenheit der Nitrate in dem Bad fördert die Nodularisierung, so daß die angestrebte Abziehfestigkeit
gewährleistet ist. Die Anwesenheit der Fluoridionen erhöht stark die anfängliche Kupferkeimbildung, wodurch
die Auswirkung der vorausgegangenen Zinkat-Vorbehandlung allein weit übertroffen wird. Da die Metallatome von Kupfer nicht in
Form einer kontinuierlichen Schicht abgeschieden werden, sondern die Abscheidung eher an "bevorzugten Stellen" erfolgt und anschließend
die seitliche Ausbreitung erfolgt, bis eine kontinuierliche Schicht gebildet ist, ist es in hohem Ausmaß erwünscht,
bereits anfänglich eine große Anzahl von Keimbildungszentren zu erzeugen. Dies ist besonders wichtig bei der Abschei-
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dung dünner Schichten um eine in hohem Ausmaß porenfreie Folie
zu erzeugen. Die vorliegende Erfindung gewährleistet mit einem einstufigen Verfahren die Bildung einer ultra-dünnen Kupferfolie
auf einem Träger, wobei die Folie porenfrei ist und eine nodularisierte Oberfläche aufweist, was wiederum eine starke
Haftung an einer Platte für gedruckte Schaltungen gewährleistet.
Nachfolgend soll die Erfindung im einzelnen erläutert werden.
Zur Durchführung der vorliegenden Erfindung wird gewöhnlich ein Galvanisierbad zur Abscheidung von Kupfer vorgesehen, das
in einer aauren Lösung Kupferionen, Nitrationen zur Nodularisierung der Außenfläche der abgeschiedenen Kupferschicht und
ein Keimbildungsmittel zur Steigerung der Keimbildung enthält. Die Temperatur des Galvanisierbades wird typischerweise zwischen
22 und 500C gehalten. Beim Betrieb des Bades wird die Kathodenstromdichte auf einem konstanten, vorgegebenen Wert
gehalten, so daß im Ergebnis ein einstufiges Verfahren zur Abscheidung einer porenfreien, ultra-dünnen Kupferfolie mit
nodularisierter Oberfläche gewährleistet ist.
Im einzelnen ist eine neue Badzusammensetzung vorgesehen, welche eine einstufige galvanische Abscheidung erlaubt, wobei eine
saure Lösung mit einem pH-Wert von vorzugsweise ve niger als 2 vorgesehen ist, die Kupferionen in einer Konzentration von
10 bis 70 g/l; Nitrationen in einer Konzentration von 3 bis 50 g/l und Fluoridionen in einer Konzentration von 1/4 bis
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10 g/l enthält. Die Temperatur des Galvanisierbades wird typischerweise
auf einem Wert zwischen 22 und 500C gehalten.
Im Rahmen dieser Erfindung erfolgt die galvanische Kupferabscheidung
zur Erzeugung einer porenfreien, ultra-dünnen Kupferfolie
mit nodularisierter Oberfläche mittels einer Galvanisierlösung, deren Zusammensetzung sich nicht ändert, und die mit
einer Kathodenstromdichte von konstantem, vorgegebenem Wert
betrieben werden kann. Das heißt, im Gegensatz zu bekannten Verfahren muß die Zu-sammensetzung der Galvanisierlösung und/
oder der Stromdichtewert nicht geändert werden, um eine weitgehend porenfreie, ultra-dünne Kupferfolie mit nodularisierter
Außenfläche zu erhalten.
Eine besondere Anwendung des .erfindungsgemäßen Verfahrens besteht
darin, eine sehr dünne Kupferfolie galvanisch abzuscheiden und zu nodularisieren, welche für die Anwendung bei gedruckten
Schaltungen geeignet ist; diese Kupferfolie hat eine Dicke zwischen 5 und 18 um oder sogar eine noch geringere Dicke,
Eine solche Folie wird häufig auf einem zeitweilig benutzten Träger wie etwa Aluminium, beispielsweise einer Aluminiumfolie
abgeschieden, und zum Schluß wieder von dem Träger entfernt, nachdem die Kupferfolie an das dauerhaft vorgesehene Substrat
gebunden worden ist, um eine Platte für gedruckte Schaltungen herzustellen. Andere typische, zeitweilig benutzte Träger sind
Kupfer, Eisen und Nickel.
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Selbst bei diesen sehr geringen Dickenabmessungen muß die Kupferfolie weitgehend porenfrei sein und nach der !aminierung
an ein Kunstharzsubstrat zur Bildung einer Platte für gedruckte Schaltungen eine brauchbare Abziehfestigkeit aufweisen.
Das erfindungsgemäße, einstufige Verfahren zur galvanischen Kupferabscheidung gewährleistet die Herstellung von
porenfreiem Material mit akzeptabler Abziehfestigkeit nach der !aminierung.
Zur wirksamen Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist die Einbringung von Nitrationen und eines Keimbildungsmittels
erforderlich, um die Keimbildung in einer sauren Kupfer-Galvanisier-Lösung durchzuführen, wenn anschließend eine
kathodische, galvanische Kupferabscheidung vorgenommen wird.
Sowohl die Zusammensetzung der Galvanisier-lösung wie die Kathodens tr onidi ent e bleiben im Verlauf der galvanischen Abscheidung
unverändert, während trotzdem eine weitgehend porenfreie Folie mit Knollen, Kügelchen, Warzen oder ähnlichen Erhebungen
an der Oberfläche erzeugt wird.
Gewöhnlich wird die Galvanisierlösung Kupfersulfat, beispielsweise
Kupfersulfat-Pentahydrat oder Kupferfluoroborat enthalten; weitere Bestandteile sind Schwefelsäure, ein lösliches Nitratsalz
wie etwa Kupfernitrat, und ein lösliches üTuoridsalz wie
etwa Natriumfluorid.
Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens sind Zusam-
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mensetzungen des Kupfer-Galvanisierbades geeignet mit einem breiten Bereich der jeweiligen Anteile und Betriebsbedingungen
wie sie nachfolgend in den Tabellen 1 und 2 angegeben sind. Hier ist jedoch zu beachten, daß nachdem die Badzusammensetzung
und die Kathodenstromdichte festgelegt worden sind, die galvanische Abscheidung der Kupferfolie in einem einzigen
Verfahrensschritt durchgeführt werden kann, ohne daß die Badzusammensetzung
oder die Stromdichte geändert werden.
Bestandteil
Anteil
brauchbarer
Bereich (g/l)
Bereich (g/l)
bevorzugter Bereich (g/l)
Kupfer (als Kupfersulfat oder Kupfer-Pluoroborat)
Schwefelsäure oder Pluoroborsäure
Nitrat (als Kupfernitrat, Ammoniumnitrat,
Kaliumnitrat, Natriumnitrat oder
Salpetersäure
Fluorid (als Natriumfluorid, Calciumfluorid, Kaliumfluori d,
Ammoniumfluori d, Lithiumfluorid oder
Fluorwasserstoffsäure
bis 70
bis 200
bis 50
30 bis 45
45 bis 65
15 bis 30
0,05 bis 10
0,25 bis
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Betriebsbedingungen
brauchbarer
Bereich
Bereich
bevorzugter Bereich
Kathodenstromdichte (A/cm ) Dauer (s)
Temp eratur (0G)
Anode
0,055 bis 0,33 0,066 bis 0,22 (50 bis 300 A/itot2 60 bis 2OOA/fe>ot2)
10 bis 400 100 bis 250 22 bis 50 24 bis 28 Kupfer Kupfer
Die Konzentration der Kupfer-Nitrat- und ITuoridionen in der
Lösung, das Ausmaß der Badrührung, die Temperatur der Lösung und die Behandlungsdauer tragen sämtlich zur Gewährleistung
der kritischen minimalen und kritischen maximalen Stromdichte-Werte bei. Sofern z.B. die Temperatur einer vorgegebenen Lösung
oder das Ausmaß der Rührung der Lösung gesteigert werden, führt das zu einem Anstieg der kritischen minimalen Stromdichte,
Sofern andererseits die Konzentration der Kupfer--Nitrat- oder
ITuoridionen in dem Galvanisierbad verringert wird, führt dies zu einer Absenkung der max. kritischen Stromdichte.
Die nachfolgenden Beispiele dienen zum besseren Verständnis der Erfindung, ohne diese einzuschränken.
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Ein endloses, 0,05 nun dickes Band aus handelsüblich, zugänglichem
Aluminium (Güteklasse 1100 oder 3003 nach den Vorschriften der Aluminium Association of America) wird zuerst durch
ein kaustisches Ätzbad geführt.
Das Ätzbad enthält ungefähr 1,5 bis 2,5 Gew.-% Natriumhydroxid
im Gemisch mit Natriumglukonat (als Chelatbildner um Aluminium in relativ hoher Konzentration in Lösung zu halten) sowie ein
Netzmittel wie etwa Natriumlaurylsulfat. Die Ätzlösung wird bei Raumtemperatur gehalten; die Vorschubgeschwindigkeit der
Folie beträgt 60 cm/min, woraus eiiB Verweildauer der Folie in der Ätzlösung von 2 min resultiert.
In der nächsten Verfahrensstufe wird das Band so schnell wie möglich durch eine Yfass er spülung (Leitungswasser, Umgebungstemperatur)
geführt, um den weiteren Ablauf der Reaktion zu unterbrechen. Daraufhin wird das Band durch ein Zinkat-Tauchbad
geführt. Dieses Bad enthält pro Liter ^Q g Natriumhydroxid,
5 g Zinkoxid, 1 g Eisen (Ill)chlorid, 1 g Nickelchlorid,
1 g Natriumnitrat und 50 g Natrium-Kalium-Tartrat. Dieses Tauchbad wird bei Raumtemperatur gehalten, und die
Verweildauer des Bandes in dem Bad beträgt 20 s. Das Band wird daraufhin erneut mit Leitungswasser gespült und daraufhin
durch ein Salpetersäurebad (2,5 Gew.-Ji Salpetersäure) geführt,
wobei die Verweildauer in diesem Bad 1 min beträgt.
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Im Anschluß an das Säurebad wird das Band wiederum gespült,
wobei eine, chemisch, saubere Trennschicht auf der Aluminium-Oberfläche
zurückbleibt, welche das Abziehen der Folie von dem Aluminium gewährleistet.
Schließlich wird das Band durch ein Kupfer-Galvanisierbad
geführt, das pro Liter 50 g Schwefelsäure, 40 g Kupfer (in der Form von Kupfersulfat), 25 g Ammoniumnitrat und 2 g
Natriumfluorid enthält. Dieses Bad wird bei Raumtemperatur
und bei einer Stromdichte von 0,11 A/cm (100 A/foot ) gehalten; bei einer Verweildauer in der Galvanisierlösung
von 190 s wird eine 7 um dicke Folie erhalten.
Im wesentlichen wird das Beispiel 1 wiederholt; abweichend werden in dem Kupfer-Galvanisierbad anstelle von 2 g/l Natriumfluorid
2 g/l Kaliumfluorid vorgesehen.
Im wesentlichen wird das Beispiel 1 wiederholt; abweichend werden in dem Kupfer-Galvanisierbad anstelle von 50 g/l Schwefelsäure
50 g/l Fluoroborsäure und anstelle von 40 g/l Kupfer in Form von Kupfersulfat die entsprechende Menge Kupfer in Form
von Kupferfluoroborat-vorgesehen.
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Im wesentlichen wird das Beispiel 1 wiederholt; abweichend wird ein Kupfer-Galvanisierbad mit 60 g/l Schwefelsäure, 35 g/l
Kupfer in Form von Kupfersulfat, 20 g/l Kupfernitrat und 2 g/l Natriumfluorid verwendet. Das Bad wird bei Raumtempe-
ρ Ο
ratur und einer Kathodenstromdichte von 0,088 A/cm (80 A/foot) betrieben; bei einer Verweildauer in der lösung von 240 s
wird eine 7 um dicke Folie erhalten.
Im wesentlichen wird das Beispiel 4 wiederholt; abweichend
werden anstelle der Kathodenstromdichte von 0,088 A/cm und anstelle der Verweildauer von 230 s eine Kathodenstromdichte
ρ ρ
von 0,066 A/cm (60 A/foot ) und eine Verweildauer von 300 s vorgesehen, was ebenfalls eine 7 um dicke Folie ergab.
Ein endloses, 0,05 mm dickes Band aus handelsüblich zugänglichem Nickel wurde nach bekannten Verfahren (vgl. hierzu beispielsweise
"Electroforming" von Peter Spiro, Robert Draper Ltd., Seiten 83-87 (1967)) chemisch gereinigt und mit einer
Trennschicht versehen.
Das Band wurde durch ein Kupfer-Galvanisierbad geführt, das pro Liter 50 g Schwefelsäure, 45 g Kupfer in Form von Kupfer-
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sulfat, 25 g Kaliumnitrat und 1,5 g Kaliumfluorid enthielt.
Das Bad wurde bei Raumtemperatur und bei einer Kathodenstromdichte von 0,11 A/cm (100 A/foot ) betrieben. Es wurden unterschiedliche
Werte für die Verweildauer in der Lösung eingehalten, um Folien mit unterschiedlicher Schichtdicke auf dem
Wickelträger zu erzeugen.
Im wesentlichen wurde Beispiel 6 wiederholt; abweichend wurde der Nickelträger durch ein handelsüblich zugängliches Kupferband
ersetzt, auf dem nach bekannten Verfahren eine Trennschicht aufgebracht worden war.
Nach all den oben angegebenen Beispielen wird eine porenfreie Kupferfolie erhalten, die sich leicht mechanisch von dem Träger
abziehen läßt, und nach der Laminatbildung, etwa für gedruckte Schaltungen, eine gute Abziehfestigkeit aufweist. Die galvanische
Kupferabscheidung wird in einem einstufigen Verfahren durchgeführt, das bei einer einheitlichen Stromdichte betrieben
werden kann. Dieses galvanische Verfahren gewährleistet verschiedene Vorteile, die bislang nicht erzielbar waren.
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Claims (22)
- BLUMBACH - WESLIR · BERGEN · KRAMERPATENTANWÄLTE IN MÜNCHEN UND WIESBADENPatentconsult Radeckestraße 43 8000 München 60 Telefon (089) 883603/883604 Telex 05-212313 Telegramme Patentconsult Patentconsult Sonnenberger Straße 43 6200 Wiesbaden Telefon (06121) 562943/561998 Telex 04-186237 Telegramme PatentconsultGOUID INC., 29. Dezember 1978Gould Center, GD-05Rolling Meadows, Illinois 60008,
Π. S. A.Verfahren zur galvanischen Erzeugung einer Kupferfolie und dazu geeignetes GalvanisierbadPatentansprücheι■U Verfahren zur galvanischen Erzeugung einer dünnen Kupferfolie für die Verwendung bei gedruckten Schaltungen, gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte:es wird ein Galvanisierbad mit vorgegebener Zusammensetzung zur Abscheidung von Kupfer bereitgestellt, das Nitrationen zum Nodularisieren der Außenfläche dieser Folie enthält;München; R. Kramer Dipl.-I.~ig. · W. Weser Dipl.-Piiys. Dr. rer. nat. · P. Hirsch Oipl.-Ing. · H. P. Brehm Dipl.-Chem. Dr. phil. nat. Wiesbaden: P. G. Blurribach Dipl.-Ing. · P. Bergen Dipl.-Ing. Dr. jur. · G. Zwirner Dipl.-Ing. Dipi.-W.-Ing.809829/06 19OI! INSPECTEDdem Bad wird ein Keimbildungsmittel zur Steigerung der Keimbildung zugesetzt; unddas Bad wird bei einer konstanten, vorgegebenen Kathodenstromdichte betrieben, so daß ein einstufiges Verfahren gewährleistet ist. - 2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daßals Keimbildungsmittel Pluoridionen zugesetzt werden. - 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daßdie Konzentration der Nitrationen zwischen 3 und 50 g/l, sowie die Konzentration der Pluoridionen zwischen 0,05 und 10 g/l gehalten wird.
- 4. Verfahren zur galvanischen Erzeugung einer weitgehend porenfreien Kupferfolie mit nodularisierter Außenfläche auf einem Trägermaterial,gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte:es wird ein Trägermaterial mit einer Trennschicht bereitgestellt, so daß die Kupferfolie von dem Trägermaterial abgezogen werden kann; unddas Trägermaterial wird durch ein Galvanisierbad mit vorgegebener Zusammensetzung geführt, das insaurer Lösung Kupferionen, Nitrationen und Pluorid-909829/0 619" 3 " 2 8 S β € β::.ionen enthält,wobei das Galvanisierbad bei einer konstanten, vorgegebenen Kathodenstromdichte betrieben wird.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daßdie Konzentration der Kupferionen zwischen 10 und 70 g/l; die Konzentration der Nitrationen zwischen 3 und 50 g/l; und die Konzentration der Fluoridionen zwischen 0,05 und 10 g/l gehalten wird. - 6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daßzur Bereitstellung des sauren Galvanisierbades Schwefelsäure und/oder Fluoroborsäure verwendet werden; und das Galvanisierbad einen pH-Wert von weniger als 2 aufweist.
- 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daßdie Pluoridionen durch Natriumfluorid, Calciumfluorid, Kaliumfluorid, Ammoniumfluorid, Lithiumfluorid und/oder Fluorwasserstoffsäure bereitgestellt werden.
- 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daßdas Galvanisierbad bei einer einheitlichen, vorgegebenen Temperatur zwischen 22 und 500C gehalten wird.ORIGINAL INSPECTED909829/0619"4" 28566S.2
- 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daßals Trägermaterial Aluminium, Nickel,Eisen oder Kupfer verwendet wird.
- 10. Verfahren zur galvanischen Erzeugung einer dünnen, weitgehend porenfreien Kupferfolie mit nodularisierter Außenfläche auf einem Aluminiumträger, für die Verwendung bei gedruckten Schaltungen,gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte:es wird ein endloses Band aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung bereitgestellt;das Aluminiumband wird geätzt und das geätzte Band mit Wasser gespült;das Band wird durch ein Zinkat-Tauchbad geführt und anschließend mit Wasser gespült;das Band wird durch ein Salpetersäurebad geführt und anschließend mit Wasser gespült;das Aluminiumband wird durch ein Galvanisierbad mit vorgegebener Zusammensetzung geführt, das in saurer lösung Kupferionen, !Titrationen und Pluoridionen enthält; und909829/06192856602das Galvanisierbad wird bei einer konstanten, vorgegebenen Kathodenstromdichte betrieben.
- 11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Konzentration der Kupferionen zwischen 10 und 70 g/l; die Konzentration der Niträtionen zwischen 3 und 50 g/l; und die Konzentration der Fluoridionen zwischen 0,05 und 10 g/l gehalten wird.
- 12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bereitstellung des sauren Bades Schwefelsäure und/oder Eluoroborsäure verwendet wird; und das Galvanisierbad einen pH-Wert von weniger als 2 aufweist.
- 13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Fluoridionen durch Natriumfluorid, Calciumfluorid, Kaliumfluorid, Ammoniumfluorid, Lithiumfluorid oder Fluorwasserstoffsäure bereitgestellt werden.
- 14« Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Galvanisierbad bei einer einheitlichen, vorgegebenen Temperatur zwischen 22 und 500C gehalten wird.909829/0619
- 15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14-f dadurch gekennzeichnet, daß die Kathodenstromdichte bei einem konstanten, vorgegebenen Vert zwischen ungefähr 0,055 bis 0,33 A/cm gehalten wird.
- 16. Galvanisch erzeugte Kupferfolie, dadurch gekennzeichnet, daß die Folie entsprechend dem Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 9 erhalten worden ist.
- 17. Bad zur galvanischen Abscheidung einer porenfreien Kupferfolie mit nodularisierter Oberfläche mittels Gleichstrom von einem einheitlichen, vorgegebenen Wert, dadurch gekennzeichnet, daß das Galvanisierbad eine einheitliche vorgegebene Zusammensetzung zur Abscheidung von Kupfer aufweist und Nitrationen sowie ein Keimbildungsraittel enthält.
- 18. Bad nach Anspruch 17» dadurch gekennzeichnet, daß das Keimbildungsmittel Pluoridionen sind.
- 19. Bad nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Mtrationenkonzentration einen Wert zwischen 3 und 50 g/l;die Pluoridionenkonzentration einen Wert zwischen 0,05 und 10 g/l aufweist.909829/061
- 20. Bad nach, einem der Ansprüche 17 "bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß das Galvanisierbad einen sauren pH-Wert von weniger als 2 aufweist; unddieser pH-Wert mittels Schwefelsäure und/oder Pluoroborsäure eingestellt ist.
- 21. Bad nach einem der Ansprüche 17 Ms 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Kupferionenkonzentration einen Wert zwischen 10 und 70 g/l aufweist.
- 22. Bad nach einem der Ansprüche 17 "bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Pluoridionen mittels Natriumfluorid, Calciumfluorid, Kaliumfluorid, Ammoniumfluorid, Lithiumfluorid oder Fluorwasserstoffsäure "bereitgestellt werden.909829/061 9
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