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Fotografische Kamera mit Belichtungs-
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messung durch das Objektiv Die Erfindung betrifft fotografische Kameras
mit einer Vorrichtung zur Belichtungmessung durch das Objektiv, wobei der Belichtungsmesser
zwischen einer integralen Messung und einer Selektivmessung umschaltbar ist.
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Bei Kameras der gennanten Art ist es bekannt, in dem Strahlengang
hinter dem Aufnahme objektiv zweiFotowiderstände vorzusehen, von denen der eine
in einer für eine Integralmessung geeigneten Weise und der andere in einer für eine
Selektivmessung geeigneten Weise angeordnet ist.
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Zur Erzielung einer Integralmessung oder einer Selektivmessung ist
es bekannt, zwischen diesen beiden Fotowiderständen umzuschalten. Die Anordnung
kann allerdings auch so getroffen sein, daß für die Selektivmessung nur ein Fotowiderstand
benutzt wird, während für die Integralmessung der zweite Fotowiderstand hinzugeschaltet
wird, so daß bei Integralmessung beide Fotowiderstände gemeinsam benutzt werden.
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Auf jeden Fall ist aber beim Überwechseln von der einen Meßmethode
auf die andere Methode ein elektrischer Schaltvorgang, Umschaltung, Zu- bzw. Abschaltung
erforderlich.
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Bei Benutzung der moderneren fotoelektrischen Wandler in Form von
Silicium- bzw. Gallium-Arsonid-Phosphid-Dioden
anstelle der bisherigen
Fotowiderstände ist eine direkte elektrische Umschaltung aber nicht möglich. Dies
liegt an den außerordentlich geringen Strömen, die bei derartigen Dioden fließen.
Um eine solche Umschaltung durchführen zu können müßten den Dioden Verstärkereinrichtungen
zugeschaltet werden. Diese und die dazugehörigen Schalter sind aufwendig und teuer.
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Es ist daher bereits vorgeschlagen worden, die elektrische Umschaltung
dadurch zu umgehen, daß im Belichtungsmeßstrahlengang vor der lichtempfindlichen
Diode zwei optische Systeme angeordnet sind, von denen wahlweise jeweils eines in
den Strahlengang vor die Diode bringbar ist und von denen das eine System die Integralmossung
bewirkt, während das andere System nur Stahlen aus einem begrenzten Ausschnitt des
Objektraumes zu der Diode leitet und somit eine Selektivmessung bewirkt, Zur Erzielung
gleicher Beleuchtungsstärken auf der Diode ist in geeigneter Weise ein Lichtsschwächungsmittel
vorgesehen.
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Bei einer derartigen Anordnung wird demnach bereits der haupnachteil
bei Integral- und Selektivmessung unter Verwendung von Dioden, nämlich die elektrische
Umschaltung, beseitigt. Es ist jedoch ein Nachteil dieser Anordnung, daß dieselbe
mechanisch/optisch noch verhältnismäßig aufwendig ist Der vorliegenden Erfindung
liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine solche Anordnung zu finden, die weniger aufwendig
ist, Gemäß der Erfindung ist diese Aufgabe dadurch gelöst, daß im Belichtungsmeßstrahlengang
vor der lichtempfindlichen Diode ein entlang seiner optischen Achse verschiebbares
optisches System angeordnet ist, das in zwei Endstellungen
verschiebbar
ist, in deren einer Stralllen aus nahezu dem gesamten Objektraum au:L' die Diode
geleitet werden (Xutegralmessung), während in der anderen Stellung nur Strahlen
aus einem begrenzten Ausschnitt des Objektraumes zu der Diode geleitet werden (Selektivmessung),
und daß das optische System derart dimensioniert ist, daß bei Integral-und Selektivmessung
die gleiche Beleuchtungsstärke auf der Diode erzielt wird.
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Die Verschiebung des optischen Systems kann von einem entsprechenden
Bedienungselement aus bewirkt werden, das am Außenkörper der Kamera zugänglich ist.
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Bei der erfundenen Vorrichtung ist demnach die Schwenkbewegung der
optischen Glieder durch eine einfache Schiebebewegung ersetzt. nuncrClcm ist nur
ein optisches System vorhanden, das zudem im Aufbau wesentlich einfacher ist.
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Bei der konkreten Lösung der Aufgabe ist zunüchst davon auszugehen,
wie groß die Partie des Bildfeldes sein soll, die' im Wegc der Selektivmessung ausgemessen
werden soll.
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Diese Partie muß auf der Diode abgebildet werden. Danach ist der Abstand
zwischen der das Licht zur Diode reflektierenden Fläche und der Diode festzulegen.
Da die Größe der Empfangsfläche der Diode gegeben ist, lassen sich hieraus die Brennweite
des optischen Systems und dessen Abstand von der Diode bestimmen.
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Zum Zwecke der Integralmessung ist das optische System näner an die
Diode heranzuschieben, wobei die integral ausgemessene Fläche um so größer ist,
je näher das optische System an der Diode steht.
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Dabei kann es vorkommen, daß die Randstraitlen von der Reflexionsfläche
nicht
zur Diode gelangen, sondern an dieser vorbeigehen. Um auch diese Randstrahlen noch
nutzbar zu machen, wird vorgeschlagen, zwischen das optische System und die Diode
einen Lichtleitkörper fest einzubauen, dessen Dicke und Form entsprechend den optischen
Gegebenheiten zu wählen ist.
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Da bei einer Integralmessung eine größere Fläche ausgemessen wird
als bei einer Selektivmossung, gelangt naturgemäß auch mehr Licht zu der Diode.
Vergleichbare Meßergebnisse lassen sich aber nur erreichen, wenn in beiden Fällen
auf der Diode die gleiche Beleuchtungsstärke herrscht. Es muß bei der Integralmessung
zwingend eine Minderung des Lichtstromes durchgeführt werden. Zu diesem Zweck ist
bereits die Einführung eines Lichtschwächungsmittels, z.B. eines Graukeiles, vorgeschlagen
worden. Gemäß der Erfindung wird zui gleichen Zweck nunmehr vorgeschlagen, zwischen
dem optischen System und der Diode eine Blende anzuordnen, deren Form und/oder Größe
in Abhängigkeit von der Verschiebung des optischen Systems veränderbar ist.
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In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeisiel dargestellt.
Es zeigen: Fig. 1 schematisch eine Spiegelreflexkamera mit dem erfindungsgemäßen
optischen System in der Stellung der Selektivmessung, Fig. 2 schematisch eine Spiegelreflexkamera
mit dem erfindungsgemäßen optischen System in der Stellung der Integralmessung,
Fig. 3 eine schematische Detaildarstellung des Strahlenverlufes bei einer Selektivmessung,
Fig,
4 eine schematische Detaildarstellung des Strahlenverlaufes bei einer Integralmessung
und Fig. 5 eine schematische Detaildarstellung des Strahlenverlaufes bei einer Integralmessung
mit einem Lichtleitkörper zwischen dem optischen System und der Diode.
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In Fig. 1 ist mit 1 das Gehäuse einer Spiegelreflexkamera bezeichnet,
die in bekannter Weise eine Linse 2, einen Reflexspiegel 3, eine Einstellscheibe
4, ein Pentaprisma 5 und ein Okular 6 besitzt. Die Kamera ist mit einem Schlitzverschluß
mit zwei Vorhängen 7a, 7b ausgerüstet, hinter denen die Filmführungsbann mit Andruckplatte
8 liegt.
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Der Reflexspiegel 3 ist teildurchlässig ausgebildet und der vordere
Verschlußvorhang 7 a ist mit einer reflektierenden Oberfläche versehen. Statt dessen
kann auch eine besondere Reflexionsfläche vorgesehen sein, die bei einer Aufnahme
zusammen mit dem Reflexspiegel 3 aus dem Aufnahmestrahlengang geklappt werden muß.
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Von der Oberfläche des Verschlußvorhanges 7a wird ein Teil des durch
den Reflexspiegel tretenden Lichtes zu einer lichtempfindlichen Diode 9 reflektiert,
die im unteren Raum der Kamera augeordnet ist. Die Lichtempfangsfläche derartiger
Dioden ist relativ klein und mißt nur ca.
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1x1 mm, allenfalls 2x2 mm.
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Zwischen den Verschlußvorhang 7a und der Diode ist ein optisches System
10 eingesetzt. Dieses System 10 ist entlang seiner optischen Achse verschiebbar,
z.B. mittels eines außerhalb der Kamera zugänglichen Knopfes 11. In Fig. 1 ist das
optische System 10 in der Stellung der
Selektivmessung dargestellt.
in dieser Stellung wird eine kleine Zone 12 auf den Verschlußvorhang bildmäßig auf
der Diode 9 abgebildet. Zwar treten auch noch Strahlen, die z.B. von den Randpunkten
A und B des Vorchlußverhanges kommen, durch das System 10, Jedoch gelangen diese
Strahlen nicht zur Diode 9, sondern gehen daran vorbei.
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In Fig. 2 ist das System 10 in seiner anderen Endlage dargestellt,
in der eine Integralmessung durchgeführt wird.
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Es ist leicht erkennbar, daß in dieser Stellung Licht von der gesamten
Fläche A-B zur Diode 9 gelangt, allerdings wird die Fläche A-B dabei nicht - wie
die Zone 12 - bildmäßig auf der Diode abgebildet. Die Bildebene liegt in die sem
Fall vielmehr hinter der Diode 9.
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Die Fig. 3 und 4 zeigen den Strehlenverlauf @f inl Detail.
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Die Diode 9 steht in beiden Figuren an der gleichen Stelle, ebenso
der Verschlußvorhang 7a. Der Abs taud Diode-Vorhang ist somit konstant und fest
vorgegeben. Das System 10 ist nach Brenweite und Bildseite in der Weise in den Strahlengang
gesetzt, daß die Zone 12 bildmäßig auf der Diode 9 abgebildet wird (Selektivmessung).
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In Fig. 4 ist das System 10 an die Diode 9 herangerückt.
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Dadurch gelaugen Stranlen von einer sehr viel größeren Fläche des
Verschlußvorhanges 7a auf die Diode 9. aus Gründen der Platzersparnis ist aber nur
die eine Hälfte der größeren Fläche gezeigt. Allerdings wird diese Fläche nicht
auf der Diode 9 abgebildet. Die Bildebene liegt vielmehr weit hinter der Diode bei
13. Trotzdem gelangen alle von der größeren Fläche ausgehenden Strahlen auf die
Diode, wenn auch in Form einer Strahlenverwirrung, was jedoch für die Belichtungsmessung,
d.h. für eine Helligkeitsmessung, ohne Belang ist. in Fig. 4 ist außerdem
noch
die Blende 15 dargestellt, die dem Ausgleich der Beleuchtungsstärke dient und deren
Form und/oder Größe in Abhängigkeit von der Stellung des Systems 10 variabel ist.
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Für den durchschnittsfachmann ist außerdem noch ersichtlich, daß ein
Teil der Randstrahlen au der Diode 9 vorbeigeht, also nicnt mitgemessen wird. Um
auch diese Randstranlen für die Messung nutzbar zu machen, ist bei der in -Fig.
5 gezeigten Ausführungsform ein Lichtleitkörper 14 zwischen das optische System
und die Diode 9 gesetzt. Das optische System steht daller e-twas weiter vou der
Diode 9 entfernt, was zur Folge hat, daß die ausgemessene Fläche nich-t ganz so
groß is-t wie in Fig. 4, aber immer noch wesentlich größer als bei einer Selektivmessung.
Dafür werden aber alle Randstrahlen, die in Fig. 4 an der Diode 9 vorbeigehen, von
dem Lichtleitkörper 14 erfaßt und nach mehrfacher Innen-Reflexion zu der Diode 9
geleitet.