DE2825004A1 - Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von werkstuecken aus elektrisch leitendem material - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von werkstuecken aus elektrisch leitendem material

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DE2825004A1
DE2825004A1 DE19782825004 DE2825004A DE2825004A1 DE 2825004 A1 DE2825004 A1 DE 2825004A1 DE 19782825004 DE19782825004 DE 19782825004 DE 2825004 A DE2825004 A DE 2825004A DE 2825004 A1 DE2825004 A1 DE 2825004A1
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Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vor-
  • richtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstücken aus elektrisch leitendem Material, wie z.B. Formkörpern, Metalltafeln, Rohlingen, Drähten, Flüssigkeiten, Pulvern u. dgl., hinsichtlich Änderungen, wie Fehlern, Fehlstellen, Abweichungen, Dimensionsänderungen, Materialänderungen, Änderungen der elektrischen Eigenschaften, einschließlich durch äußere Einflüsse verursachte Änderungen, wie z.B. Geschwindigkeit, Kraft usw. Das Verfahren und die Vorrichtung dient dem Aufsuchen und Auswerten der Änderungen, z.B. der Art der Änderung, der Größe, der Position usw. Eine gefundene Änderung, z.B. infolge Dimensionsänderungen, wird zum Messen angepaßt, indem ein Maß für die Dimension und die Dimensionsänderung geschaffen wird. Wenn die Änderung von mechanischen Kräften herrührt, die an dem Probenstück angreifen, z.B. von einer von außen einwirkenden Kraft auf das Probenstück, dann wird die Kraft gemessen und man erhält ein Maß der Kraft und der Kraftänderung. Wenn die Änderung teilweise oder vollständig in einer Relativbewegung zwischen dem Probenstück und dem Signalabnehmer begründet ist1 erhält man ein Maß für die Geschwindigkeit des Probenstückes, welches durch den Signalabnehmer läuft. Eine Integration über der Geschwindigkeit führt zu einem Längenmaß des Probenstückes. Die Änderung oder der Fehler kann auch ganz einfach in der Anwesenheit oder Abwesenheit von Material bestehen; in diesem Fall dient die Vorrichtung dem Erkennen von Metallteilen.
  • Vorrichtungen zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung sind bereits bekannt und schließen mindestens einen Signalabnehmer ein, der durch Wechselstrom angeregt wird. Das magnetische Feld der Spule ruft Wirbelströme hervor in dem Probenstück; es erscheinen Änderungen in dem Probenstück in Form von Änderungen der Verteilung der Wirbelströme. Die Wirbelströme werden mit Signalabnehmern untersucht, die bei den bekannten Vorrichtungen oft Teil einer ausgeglichenen Brücke oder anderer ähnlicher ausgeglichener Kreise sind.
  • Die bekannten Einrichtungen arbeiten oft vergleichend, nämlich indem ein Teil des Probenstückes ein Vergleichs-oder Bezugsobjekt für einen anderen Teil des Probenstückes bildet. Es ist verständlich, daß derartige Einrichtungen nicht geeignet sind, Fehler aufzuspüren, die sich in Laufrichtung erstrecken, wie beispielsweise lange Risse.
  • Es ist weiterhin bekannt, Gebrauch zu machen von Vorrichtungen, bei denen der Signalabnehmer mit mehrfachen Frequenzen erregt wird, wie es beispielsweise in dem Verfahren nach H.L.Libby beschrieben wird in "Introduction to Electromagnetic Nondestructive Test Methods/Whiley o Sons, Inc. 1971". Dieses Verfahren basiert auf der Fourier-Transformation.
  • Bei den bekannten Vorrichtungen ist es schwierig, wenn nicht gar unmöglich, das sog. Fehlersignal einfach und praktikabel zu separieren; unter dem Fehlersignal wird ein Signal verstanden, welches von einer Änderungerrührt oder ausstrahlt von Positionssignalen, die ihre Ursache von der Lage des Signalabnehmers relativ zu dem Probenstück haben. Dies impliziert, daß diese Vorrichtungen nicht zufriedenstellend arbeitenlwenn das Probenstück beispielsweise vibriert. Da bei den meisten praktischen Anwendungsfällen das Probenstück vibriert, wenn die sog. Signalabnehmer nach dem Durchlaufprinzip benutzt werden, wird impliziert, daß die Bewegung des Probenstückes relativ zu dem radialen Abmaß des Signalabnehmers in einem Positionssignal resultiert, welches durch diese Bewegung moduliert wird. Dieses modulierte Signal dominiert oft über das Fehlersignal, welches charakteristisch für den Fehlentst. Bei der Benutzung der sog. Oberflächensignalabnehmer erhält man ebenfalls eine Modulation in der beschriebenen Weise, die durch die Positionsvariation zwischen dem Signalabnehmer und dem Probenstück entsteht.
  • In der schwedischen Patentschrift 75.07857-6 ist eine Vorrichtung beschrieben, die zur Fehlersuche in Werkstücken geeignet ist unabhängig von der Position des Signalabnehmers relativ zu dem Probenstück. Die dort beschriebene Vorrichtung weist ebenso wie die vorliegende Erfindung mindestens einen Signalabnehmer oder mindestens eine Drahtschleife auf, die mit mindestens zwei verschiedenen Frequenzen erregt wird. Wie die vorliegende Erfindung so ist auch diese Vorrichtung kalibriert gegenüber beispielsweise einem Referenz-Probestück.
  • Diese Kalibrierung findet in einem gewissen Abstand zwischen dem Referenz-Probestück und dem Signalabnehmer statt. Die kalibrierte Vorrichtung wird dann zu Prüfzwecken benutzt.
  • Wenn der Signalabnehmer in einem gewissen Abstand (.imin in Fig. 4), der von der Änderung abhängt, von dem Probenstück ist, kann die Änderung bzw. der Fehler nicht mehr festgestellt werden. Dies ist natürlich ein.Nachteil. Die vorliegende Erfindung ist darauf gerichtet, dieses Problem zu lösen, ebenso wie andere damit verbundene Probleme.
  • Die Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen in der Zeichnung weiter beschrieben. Es zeigen: Fig. 1 einen Querschnitt durch einen Signalabnehmer, der das Probenstück umgibt, Fig. 2 ein Diagramm,telches die sog. Variable des Signalabnehmers als eine Funktion der Position dieses Abnehmers relativ zu dem Probenstück zeigt, wobei die Variable mit zwei verschiedenen Frequenzen gemessen wird und auch dieselbe Variable des Signalabnehmers zu einem Referenz-Probenstück bei beiden Frequenzen gemessen wird, Fig. 3 ein komplexes Impedanzdiagramm oder zumindest Teile davon für den Signalabnehmer gemäß Fig. 1, Fig. 4 ein vereinfachtes komplexes Impedanzdiagramm zur Darstellung des Verfahrens nach der vorliegenden Erfindung mit Anwendung der Amplitudendetektoren; dieses Verfahren dient dem Auffinden von Änderungen und Fehlern in oder an dem Probenstück mit maximaler Empfindlichkeit unabhängig von der Richtung und Größe des Fehlers, Fig. 5 ein Blockdiagramm eines bevorzugten Ausführungsbeispieles der Vorrichtung nach der Erfindung mit amplitudenmodulierten Gleichrichtern, Fig. 6 ein Blockdiagramm eines modifizierten Ausführungsbeispieles ähnlich wie bei dem Beispiel in Fig. 5, wobei die Differenz darin besteht daß die Detektoren phasenkontrollierte Gleichrichter sind, nämlich synchrone Demodulatoren oder kontrollierte Gleichrichter, Fig 7a ein Spannungsdiagramm, welches das Differenzsignal zeigt, welches entsteht, wenn keine Änderung in oder an dem zu prüfenden Werkstück vorliegt und Fig. 7b ein Spannungsdiagramm ähnlich zu dem Fig. 7a, aber für eine Probe mit einem Fehler.
  • In Fig. 1 ist ein Signalabnehmerlnach dem Durchlaßtyp gezeigt, der das Werkstück 2 umgibt, welches geprüft wird. Das Werkstück 2, welches auch als Probenstück bezeichnet wird, ist exzentrisch und zwar mit einem Abstand r von der Zentralachse des Signalabnehmers positioniert.
  • Der Prüfkörper kann z.B. aus einem Draht bestehen, der kontinuierlich bewegt wird. Der Signalabnehmer ird durch mindestens einen Generator angeregt, der Ausgangssignale mindestens zweier verschiedener Frequenzen produziert. Die Ausgangssignale dieses Generators können sinusförmig ausgebildet sein oder auch in Form von Impulsen oder Impulsfolgen. Die Ausgangssignale können eine variable Amplitude und beidseitig unveränderliche oder variable Phasenwinkel besitzen. Darüber hinaus können die Ausgangssignale dieses Generators frequenzmoduliert sein, insbesondere entsprechend einer geeigneten Zeitfunktion.
  • In Fig. 2 ist die variable Größe des Signalabnehmers dargestellt, im speziellen Fall als Spannung, und zwar als eine Funktion der Position bzw. des Mittenabstandes r des Prüflings, gemessen bei zwei verschiedenen Frequenzen w1 und w2. Die Spannungsamplituden sind einmal gezeigt für ein Probenstück mit einer Änderung, die in der Zeichnung und im folgenden als Fehler bezeichnet wird, und zum anderen für ein Probenstück ohne Änderung, also ohne Fehler.
  • Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, ist der Betrag von /A/ (absoluter Wert), der unter anderem eine Funktion der Änderung oder des Fehlers in dem Probenstück ist, größer als der Betrag von /B/ (absoluter Wert) für alle sinnvollen Werte von r. Dies wird benutzt zur Fehlersuche in Übereinstimmung mit dem genannten schwedischen Patent.
  • Um die Signalverarbeitung zu vereinfachen wird das variable Signal des Signalabnehmers so kompensiert, daß ein Minimum für jede der Frequenzen bei ein und demselben Wert von r, vorzugsweise r = =0, entsteht, wenn ein Probenstück ohne Änderungen geprüft wird.
  • Eine derartige Kompensation kann das einschließen was als ausgeglichene oder Null-Kompensation bezeichnet wird. Eine solche Null-Kompensation kann vorzugsweise mit Hilfe eines Servomechanismusses erreicht werden.
  • Abhängig von der Art der Änderung werden die optimale elektrische Größe und geeignete Frequenzen ausgewählt, um optimale Prüfergebnisse zu erhalten. Der Ausdruck elektrische Größe, wie er hier benutzt wird, bezieht sich auf direkte Variable, wie z.B. der Widerstand, die Induktion usw., wie auch auf indirekte Variable, wie z.B.
  • die Spannung, die Stromgröße, die Phase usw. Alle genannten Variablen unterliegen dem möglichen Einfluß auf dem Weg des Probestückes über die elektrische Ankopplung zwischen dem Probenstück und dem Signalabnehmer. Die elektrischen Größen werden beeinflußt durch graduelle Veränderung bei verschiedenen Frequenzen, wenn eine Änderung des Probenstückes auftritt.
  • Die elektrischen Eigenschaften des Signalabnehmers werden vorzugsweise mit Hilfe des sog. Impedanzdiagramms beschrieben, welches oft normalisiert wird. In Fig. 3 sind Teile eines vereinfachten Impedanzdiagramms dargestellt, und zwar bezogen auf einen speziellen Signalabnehmer. Auf den Achsen ist der Widerstand R des Signalabnehmers in bezug auf die Impedanz des Signalabnehmers ohne Probenstück wLg dargestellt. Die Impedanz des Signalabnehmers mit eingesetztem Probenstück ist mit*L bezeichnet.
  • Aus Vereinfachungsgründen beschränkt sich die folgende Abhandlung auf die Anwendung von lediglich zwei Frequenzen W1 und w2, obwohl die Ausführungen selbstverständlich für mehr als zwei Frequenzen gültig sind.
  • Wenn die Position des Signalabnehmers relativ zu dem Probenstück verändert wird, ändert sich die Impedanz der Probe bei einer Frequenz w1 entlang der Linie von a1 zu b1; dies bedeutet daß die Änderung in einer bestimmten Richtung stattfindet (genannt Abheberichtung im Falle eines sog.
  • Oberflächensignalabnehmers) und in gleicher Weise wird die Impedanz des Signalabnehmers entlang der Linie von a2 zu b2 für-die Frequenz w2 geändert. Die beschriebene Positionsänderung ghört zu einem Positionssignal (oder besser Positons-Vektor) für jede der beiden Frequenzen. In Fig. 3 werden die Positionsänderungen dargestellt durch die Positionssignale L1 und L2 bei den beiden Frequenzen w1 und w2. Wenn das Probenstück eine Änderung zeigt, z.B. einen Fehler, dann wird sich diese Änderung in einer Impedanzänderung im Signalabnehmer auswirken. Diese Impedanzänderungen erscheinen in dem komplexen Impedanzdiagramm. Abhängig von der Art des Fehlers werden die Impedanzänderungen verschiedene Größe und Richtungen für verschiedene Frequenzen aufweisen. In Fig. 4 sind solche Impedanzänderungen, die von Änderungen oder Fehlern in dem Probenstück herrühren durch Fehlersignale (besser Fehler-Vektoren) Fw1 und Fw2 für jede Frequenz w1 und w2 dargestellt.
  • Die Vektoren U1 und U2 repräsentieren die Impedanz (oder Spannung) des Signalabnehmers wenn keine Änderung am Probenstück eintritt. In der praktischen Anwendung wird das Probenstück mit einem Strom angeregt, der vielfache Frequenzen besitzt, wie z.B. w1 und w2. Über die Probe findet ein Spannungsabfall statt,*wie er aus den beiden Vektoren U1 und U2 ersichtlich ist, dessen Betrag und Phase direkt abhängig von der Impedanz des Signalabnehmers. Bei den folgenden Ausführungen sei vorausgesetzt, daß der Signalabnehmer mit Strom mit den beiden Frequenzen w1 und w2 angeregt wird.
  • Wenn der Signalabnehmer über einem Prüfling ohne Fehler plaziert wird, also beispielsweise über einen Prüfkörper, der als Referenzobjekt oder Normalobjekt dient, dann ist es einfach, die Spannung wegzukompensieren ( zu Null zu kompensieren) über dem Abnehmer in dieser speziellen Lage des Abnehmers, die als Kompensationspunkt bezeichnet wird, in-dem entgegengesetzt gerichtete Spannungen (oder besser Kompensationsvektoren) aufgegeben werden von denen nur der Kompensations-Vektor UCOmp U für den Spannungsabfall U2 comp II in gestrichelter Linienführung in Fig. 3 dargestellt ist.
  • Prinzipiell betrachtet macht es keinen Unterschied, welche elektrische Größe, das ist die Variable des Signalabnehmers oder Kombinationen von solchen Variablen, benutzt und gemessen werden. Unter der Voraussetzung, daß die Kompensation bei den Punkten B1 und B2 in Fig. 3 erreicht wird bedeutet dies, daß B1 und B2 zu ein und derselben Position des Signalabnehmers relativ zu dem Probenstück gehören. Wenn diese Kompensation durchgeführt ist, werden Abweichungen oder Änderungen in der relativen Lage Abnehmer/Probenstück direkt oder indirekt über Kompensationskreise zu eektrischen Signalen (Vektoren) führen, beispielsweise zu Spannungs-Vektoren, die von dem Signalabnehmer ausgehen.
  • Unter dem Ausdruck Kompensationskreise, wie er im folgenden benutzt wird, werden sowohl analoge als auch digitale Kompensationseinrichtungen verstanden, einschließlich programmierte elektronische Einrichtungen, wie z.B. Computer usw. Derartige elektrische Signale (Vektoren) die herrühren von Änderungen oder Abweichungen zu dem Kompensationspunkt, werden oft als Abweichung bezeichnet, beispielsweise als Positionsabweichung, Fehlerabweichung, Dimensionsabweichung usw.
  • In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung ist nun der Bezug hergestellt zwischen den Vektoren L1 und L2 von dem in Rede stehenden Meßpunkt; dies wird im folgenden als Normalisierung bezeichnet.
  • Um die Normalisierung auszuführen, kann das folgende Verfahren angewendet werden; der auf den Signalabnehmer auf gegebene Strom erhält für jede Frequenz w1 und w2 einen solchen Betrag, daß die absoluten Größen /L1/ und L2/ einander entsprechen. Dies kann direkt oder indirekt in den Signalverarbitungskreisen geschehen. Durch Auswahl einer geeigneten Form des Signalabnehmers und durch Auswahl entsprechender Frequenzen kann die Übereinstimmung zwischen den Positionsvektoren (das sind die Positionssignale) L1 und L2 über ein relativ großes Intervall a1-b1 aufrechterhalten bleiben.
  • Es ist nun vorausgesetzt, daß die Detektoren, die die Normalisierungssignale auffangen nicht phasenempfindlich, aber amplitudenempfindlich ausgebildet sind. Infolge der Normalisierung können die Kurvenabschnitte a1-b1 und a2-b2 in Fig. 3 in ein einziges Positionssignal (Positons-Vektor) L transformiert werden, wie dies in Fig. 4 geschehen ist.
  • So lange, als keine Fehlersignale (Fehler-Vektoren) auftauchen, bleibt die Differenz zwischen den Beträgen /L1 und /L2/ infolge der Normalisierung konstant, beispielsweise Null, unabhängig von der Position P in Fig. 4 also des Abstandes des Signalabnehmers relativ zu der Probe. Wenn jetzt Fehlersignale Fw und Fw auftreten, die von einer Änderung herrühren, wie sie anhand von Fig. 3 erläutert wurde, findet eine Addition dieser Signale zu dem normalisierten Positions-Vektor L (Fig. 4) statt. Als Ergebnis dieser Addition resultieren die Vektoren R und R . Die Differenz zwischen den Beträgen-/Rw1/ und /Rw2/ beträgt nicht Null (mit Ausnahme des einen Punktes, nämlich wenn der Punkt P mit dem Punkt Pmin zusammenfällt); diese Tatsache wird benutzt um -Fehler aufzufinden in dem Probestück, unabhängig von der relativen Lage des Signalabnehmers zum Probenstück.
  • Es kann beim praktischen Gebrauch auftreten, daß sich der oben erwähnte Kompensationspunkt entlang der Kurve a-b in Richtung auf den Punkt B bewegt; dies bedeutet, daß in einem speziellen Punkt Pmin der absolute Wert /Rw / gleich sein wird dem Betrag von /Rw / so daß die Differenz @R der resultierenden Vektoren Rw und Rw Null sein wird. Dies bedeutet, daß in diesem Punkt Pmin jede Änderung an dem Probenstück nicht mehr aufgespürt werden kann. Die vorliegende Erfindung löst dieses Problem und andere damit in Zusammenhang stehende Probleme. In der Theorie kann das Problem gelöst werden durch Änderung der gegenseitigen Position zwischen Signalabnehmer und Probenstück. Eine äquivalente Maßnahme besteht darin, elektrisch eine Positionsänderung zwischen dem Signalabnehmer und dem Probenstück zu simulieren, anders gesagt, eine Bewegung entlang des Kurvenstückes a-a in Fig. 4 zu erreichen.
  • Dies kann durchgeführt werden durch eine Kompensation bei mindestens zwei verschiedenen Positionen zwischen Signalabnehmer und Probenstück. Diese Positionen sind in Fig. 4 durch die zwei verschiedenen Punkte COMPI und COMPII auf dem Kurvenabschnitt a-b wiedergegeben. Die erste Kompensation (entsprechend der Spannung U ) eliminiert die Vektoren U1 und U2 (in Fig. 3) während die andere Kompensation (entsprechend der Spannung UCOmp ) nur die Impedanzvariation eliminiert, die durch die ve«schiedenen Lagen der Kompensationspunkte bewirkt wird. Durch die Variation von U (Vgl. Fig. 5) compII wird eine ersichtliche Bewegung entlang des Kurvenstückes a-b erreicht. Während dieser geplanten Bewegung in der komplexen Impedanz entsprechend dem Kurvenabschnitt a-b wird die Differenz@R = /Rw / Fw / sofern eine Änderung am Probenstück stattfindet, mit einem Verstärkungseffekt in Erscheinung treten wenn der Punkt P näher an den Punkt max heranwandert. Im Punkt PmaX ergibt sich die Differenz zu zu einem Maximum und sein absoluter Wert@ Rmax ist Fig. 4 eingezeichnet. Im Punkt B beträgt diese Differenz #RB. Die Änderung der Kompensationsvariablen-kann rhythmisch durchgeführt werden und kann einen Takt oder Betrag aufweisen, der oft niedriger liegt als w1 und w2. Bei der Summation wird bR größer sein, wenn der Punkt P innerhalb eines bestimmten Intervalls (in der Nähe von P ) des Kurvenabschnittes a-b max liegt als innerhalb anderer Intervalle (Pmin). Dies wird dazu benutzt, eine sichere und kraftvolle Aufspürung in oder an den Probestücken zu erzielen. Wenn diese Veränderung bei einer bestimmten Frequenz durchgeführt wird oder in Übereinstimmung mit einer anderen ausgewählten Funktion, dann erscheint #R als ein Signal, welches mit dieser Frequenz oder mit dieser Funktion "moduliert" ist. Das "Maß der Modulation" enthält dann eine Information über die Abweichung bzw. den Fehler. Dementsprechend ist auch der Fehler mit optimaler Empfindlichkeit aufgespürt, unabhängig von der relativen Lage zwischen Signalabnehmer und Probenstück und/ oder dem Phasenwirkel dieser Änderung (das ist der Phasenwinkel eines Fehler-Vektors in Abhängigkeit zu irgendeiner ausgewählten Referenzrichtung).
  • Die vorher erwähnte Normalisierung, die ein charakteristisches Merkmal der vorliegenden Erfindung darstellt impliziert das LI'L1NQ12 (vgl. Fig. 3 und 4) ist, und zwar unabhängig von dem absoluten Wert von L. In anderen Worten, wenn das Probenstück keine Änderungen oder Fehler aufweist dann wird die oben beschriebene Änderung von L keinen Anlaß geben für irgendwelches ist oder irgendwelche Änderung von R. Beispiele davon sind in den Fig. 7a und 7b dargestellt. Oft wird ein Gewichtungsverfahren benutzt, um L1 = L2 zu machen, was bedeutet, daß L1 und L2 nicht unbedingt identische Größen (Beträge) besitzen müssen, um als äquivalent vom Meßpunkt aus zu erscheinen.
  • Der Begriff "Gewichtung", wie er hier benutzt wird, wird jetzt anhand von Fig. 2 erläutert, in dem eine der Variablen des Signalabnehmers als Funktion der Lage zwischen Probenstück und Signalabnehmer gezeigt ist. Diese Variable wird gemessen bei zwei verschiedenen Frequenzen w1 und w2. Wenn die Variable des Abnehmers wie folgt bestimmt wird G = (w, r) dann gelten die folgenden Beziehungen, sofern am Probenstück kein Fehler auftritt; wenn das Verhältnis zwischen G und G w1 w2 von 1 verschieden ist, dann ist G /Gw = k und k = konstant w Z 1. Dann gilt Gw = k x Gw und Gw stellt die gewichtete Größe dar, z.B. in diesem Kompensationskreis. Wenn k Gw entspricht ist dadurch eine konstante Differenz zwischen1 G und denheuen Wert von G erreicht, dieser neue Wert ist w1 w k x G . Dies bedeutet, daß iie Erfindung auch den Fall einw schlieit, wenn das Verhältnis zwischen Gw und Gw konstant ist und verschieden von 1. 1 2 Wenn die Differenz (B) zwischen G und G in verschiedenen w1 w2 Punkten nicht konstant ist, muß auch eine aewichtung durchgeführt werden; diese Abweichung kann somit durch die sog.
  • Linearisation eliminiert werden. Der Ausdruck "Linearisation", wie er hier benutzt wird, bedeutet, daß Gw1 und/oder Gw2, z.B.
  • durch eine Funktion, so verändert werden, aaß diese Differenz (B) konstant bleibt.
  • In der Summierung bedeutet dies, daß die vorliegende Erfindung prinzipiell bei jeder ausgewählten Funktion von Proben-Variablen angewendet werden kann. Dies stellt einen Vorteil dar, wie er bei den Vorrichtungen nach dem Stand der Technik nicht angetroffen wird.
  • Fig. 5 zeigt ein Blockschaltbild einr ersten Ausführungsform der Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach der vorliegenden Erfindung. Neben dem Signalabnehmer 1 und dem Probenstück 2 weist die Vorrichtung vier Blöcke auf, nämlich einen Block 3, der die Stromkreise aufnimmt, die zur Erregung des Signalabnehmers dienen, sowie Block 4, der die Stromkreise enthält, die für die Fehlersuche und die Behandlung der vorherbeschriebenen elektrischen Größen dient. Weiterhin ist ein Block 5 vorgesehen, der die Stromkreise aufnimmt, durch die die Kompensationsspannung variiert wird. Block 6 nimmt die Knse auf, die zur Behandlung des Fehlersignals erforderlich sind, welches als Information vom Block 4 übernommen wird. Ein Oscillator 7 erzeugt Ströme mit mindestens zwei Frequenzen w1 und w2. Die Ströme werden in einem Verstärker 8 verstärkt und an eine Primärwindung um das Probenstück abgegeben. Eine Sekundärwindung an der Probe ist verbunden mit einem ersten Eingang eines Additionsgliedes 9, welches an einem zweiten und dritten Eingang mit den Kompensationsspannungen UCOmp und U versorgt wird. Diese Spannungen sind entgegengesetzt comp comp11 entgegengesetzt gerichtet zu den Spannungs-Vektoren U1 und U2 in Fig. 3. Eine der Kompensationsspannungen, beispelsweise die Kompensationsspannung UCOmpII wird geändert (moduliert) mit einer Frequenz wMI die beispielsweise zehnfach langsamer ist als die Frequenz des Stromes von dem Oscillator 7. Der Ausgang des Additionsgliedes 9 ist mit einem Verstärker 10 verbunden, dessen Ausgang einerseits zu einem Filter 11 führt, welches an die eine der beiden Frequenzen angepaßt ist, beispielsweise an die Frequenz w1. Andererseits besteht Verbindung zu dem zweiten Filter 12, der an die andere der beiden Frequenzen, also an w2, angepaßt ist.
  • Der Ausgang des Filters 11 führt in einen Amplitudengleichrichter 13. Analog führt das Ausgangssignal des Filters 12 zu einem anderen Amplitudengleichrichter 14. Das Ausgangssignal des Gleichrichters 13 ist über ein Potentiometer 15 verbunden zu dem Eingang eines Differenzverstärkers, während der Ausgang des Gleichrichters 14 über den Widerstand 16 mit dem anderen Eingang des Differenzverstärkers verbunden ist.
  • Das Ausgangssignal von dem Gleichrichter 14 wird teilweise zurückgeführt in einem Linearisierungskreis 17 zu dem vierten Eingang an dem Additionsglid 9. Das Potentiometer 15 dient der oben beschriebenen Normalisierung der Lagesignale. Der Ausgang des Differenzverstärkers 18 ist mit einem Filter 19 verbunden, der an die zuvor erwähnte Variationsfrequenz wM angepaßt ist. Das Ausgangssignal von dem Filter 19 führt zu einem Stufenschalter 20, der ein Ausgangssignal abgibt, wenn das Ausgangssignal des Filters 19 eine bestimmte Stufe überschreitet (diese Stufe wird mit k1 in Fig. 7a bezeichnet) und wenn gleichzeitig das Ausgangssignal gleich oder kleiner ist als eine andere, höher angelegte Stufe (diese ist mit k2 in Fig. 7b bezeichnet), wodurch angezeigt wird daß ein Fehler oder eine Änderung an dem Probenstück vorliegt. Ein Anzeigekreis 21 kann an den Ausgang des Filters 19 angeschlossen sein und den nachfolgend noch beschriebenen Zwecken dienen.
  • In Fig. 6 ist eine abgewandelte Ausführungsform der Vorrichtung nach Fig. 5 dargestellt. Anstelle der reinen Amplitudengleichrichter 13, 14 in Fig. 5 werden Phasenkontrollierte Gleichrichter 22 und 23 benutzt. Anstelle der Kompensationsspannung UCOmp wird eine stetige oder unmodulierte Kompensationsspannung be- II nutzt. Die Gleichrichter 22, 23 werden jeweils gespeist durch eine separate Kontrollphase t1 und t2 die in gegenseitiger Phase synchronisiert sind. Die Ausgangssignale der phasenkontrollierten Gleichrichter werden an den entgegenliegenden Enden eines Potentiometers 24 zugeführt, während der Schleifkontakt des Potentiometers mit dem Eingang des beschriebenen Differenzverstärkers 18 verbunden ist. Der andere Eingang des Differenzverstärkers ist mit der Erde verbunden oder mit einer anderen geeigneten Referenzspannung. Auch bei dieser Ausführungsform dient das Potentiometer 24 der Normalisierung. Nach dem Differenzialverstärker 18 ist die Signalverarbeitung die gleiche wie bei dem Ausführungsbeispfi nach Fig. 5. Die Kontrollphasen t1 und 2 werden variiert mit gleicher Anzahl von elektrischen Graden per Zeiteinheit und die Kontrollsignale befinden sich in einem festen gegenseitigen Verhältnis zueinander.
  • Die beschriebene Vorrichtung ist ein Beispiel davon wie phasenkontrollierte Detektoren, bei denen die Kontrollphase variiert wird (beispielsweise durch Variation von L1 und L2), benutzt werden kann, um Differenzen und/oder das Verhältnis z.B. zwischen Fehler-Vektoren verschiedener Frequenzen gefunden werden kann ohne im Voraus die Phasenpositionen dieser Vektoren zu kennen.
  • Die Amplitudendetektoren 13 und 14 in Fig. 5 können als kontrollierte Detektoren angesehen werden, wobei das Kontrollsignal UCOmp und Ucom ist, wobei die Kontrollspannung U variiert wird. In andere Worten besteht eine direkte Analogie zwischen den Kreisen von Fig. 5 und 6.
  • Fig. 7a zeigt ein Diagramm der elektrischen Größe des Signalabnehmers, und zwar derart daß die Differenz zwischen zwei korrespondierenden elektrischen Signalen, jedes mit verschiedener Frequenz (wie z.B. w1 und w2), konstant sein kann (k1) wenn keine Änderung an dem Probenstück stattfindet. Fig. 7b zeigt das entsprechende Differenzsignal wenn eine Änderung an dem Probenstück auftritt. Dieses Signal kann auch konstant sein (k2) und kann die oben erwähnte Variationsfrequenz wM aufweisen.
  • Die Kontrollsignale zu den Detektoren können vorzugsweise auf einer optimalen Position abgesichert werden mit Hinblick auf die jeweilige Prüfung derart, daß die Änderung mit größter Empfindlichkeit aufgespürt wird. In Fig. 7b ist das Kontrollsignal bei den Punkten X und Y gesichert, wobei Udiff ein Maximum ist. Diese Punkte korrespondieren zu den Punkten wenn die Ableitung von Udiff ihr Vorzeichen ändert. In Fig. 5 fühlt der vorzeichenempfindliche Kreis 1 diese Vorzeichenumkehr; er wird benutzt die Kontrollsignale in den beschriebenen Positionen zu sichern. Nachdem die Vorrichtung auf optimale Position gebracht ist, angepaßt an die zu findende Änderung, wird die Änderung aufgespürt und ausgewertet z.B. mit Hinblick auf die Art der Änderung.
  • Die Erfindung wurde nur in Verbindung mit einem Signalabnehmer beschrieben. Natürlich können verschiedene Signalabnehmer in Reihe vorgesehen sein. Diese Abnehmer können in Verbindung mit einem gemeinsamen Signalgenerator eingesetzt werden. Wenn die elektrischen Größen von jedem Abnehmer so verzögert werden daß ein kombiniertes Ergebnissignal entsteht, wird eine ausgezeichnete Geräuschminderung erzielt, insbesondere wenn eine Relativbewegung zwischen Probenstück und Signalabnehmer stattfindet.
  • Die Erfindung wurde am Beispiel mit nur zwei Frequenzen beschrieben. Dennoch können viele Frequenzen benutzt werden, so daß dann auch eine Vielzahl an Informationen erhalten wird, die die Änderungen betreffen die in den Eigenschaften impliziert werden, beispielsweise die Orientierung, Größe od. dgl. Die Eigenschaften der Änderungen können mit einem hohen Genauigkeitsgrad ausgewertet werden. In der Praxis ist es üblich eine aufgespürte Änderung zu markieren, um auf einfache Weise die Position dieser Änderung in oder an dem Probenstück wieder auffinden zu können. Die oben beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung können variiert und modifiziert werden, ohne daß dies den Umfang der vorliegenden Anmeldung sprengt.

Claims (22)

  1. Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstücken aus elektrisch leitendem Material Patentansprüche: Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstücken aus elektrisch leitendem Material, z.B. Formkörpern, Metalltafeln, Rohlingen, Drähten, Flüssigkeiten, Pulvern u. dgl., hinsichtlich Änderungen, wie Fehlern, Fehlstellen, Abweichungen, Dimensionsänderungen, Materialänderungen, Änderungen der elektrischen Eigenschaften, einschließlich durch äußere Einflüsse verursachte Änderungen, wie z.B. Geschwindigkeit, Kraft usw., wobei magnetische Felder mit ursprünglich mindestens zwei verschiedenen Frequenzen (z.B. w1 und w2) zur Einwirkung auf das Werkstück gebracht werden unter Anwendung mindestens eines Signalabnehmers, der mindestens eine Spule oder Drahtschleife aufweist, so daß mindestens eine elektrische Größe des Signalabnehmers, die Differenz (z.B. ß R) zwischen mindestens zwei korrespondierenden elektrischen Signalen (z.B. Rw und Rw ) bei jeder entsprechenden Frequenz (z.B. w1 und w2) als eine Funktion der Position des Werkstückes relativ zu dem Signalabnehmer konstant ist, wenn an dem Werkstück eine Änderung nicht eingetreten ist, oder über Kompensationskreise in ein konstantes Signal, vorzugsweise Null-Signal, umgewandelt wurde, wobei diese Konstante oder das konstante Signal verschieden von der korrespondierenden (z.B. sich ändernden) Differenz ist, wenn das Werkstück mit einer Änderung behaftet ist, wodurch es möglich istim allgemeinen unabhängig von der Position des Signalabnehmers zu dem Werkstück -, eine Änderung in oder an dem Werkstück aufzufinden als Differenz zwischen den zuerst erwähnten Differenzen, dadurch gekennzeichnet, daß diese Änderung mit mindestens einem kontrollierten Detektor ermittelt wird und daß das Kontrollsignal dieses Detektors variiert wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Größe mindestens bei zwei verschiedenen Frequenzen normalisiert wird im Hinblick auf die Positionsabhängigkeit, daß ist die relative Position zwischen Signalabnehmer und Werkstück bzw. Probe.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Größe bei mindestens einer Frequenz gewichtet wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Größe bei mindestens einer Frequenz linearisiert wird.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz zwischen der gefundenen elektrischen Größe bei mindestens zwei verschiedenen Frequenzen (beispielsweise die Spannungsdifferenz Udiff) Filtern zugeführt wird, die an die Veränderung des Kontrollsignals angepaßt sind.
  6. 6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Variation des Kontrollsignals in optimaler Lage gesichert wird mit Hinblick auf die jeweils durdzuführende Prüfung, z.B. wenn die Ableitung der Differenz der elektrischen Größe bei mindestens zwei verschiedenen Frequenzen ihr Vorzeichen ändert.
  7. 7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Differenzsignal für die Auswertung der Änderung, z.B. ihrer Art, Größe, Position usw., benutzt wird.
  8. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn diese Änderung in dem Werkstück teilweise oder vollständig von einer Dimensionsänderung herrührt, diese Änderung gemessen wird als Maß für die Dimension oder die Dimensionsänderung.
  9. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn die Änderung von mechanischen Kräften in dem Werkstück herrührt, die Änderung angepaßt wird, wodurch man ein Maß der Kraft und der Kraftänderung erhält.
  10. 10. Verfahren nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn die Änderung vollständig oder teilweise von einer Relativgeschwindigkeit zwischen Signalabnehmer und Probenstück beeinflußt wird, diese Änderung gemessen wird, indem man ein Maß für die Geschwindigkeit oder nach Integration der Geschwindigkeit ein Maß der Länge dieses Probenstücks erhält.
  11. 1t Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Position des Signalabnehmers einer Grobeinstellung unterworfen wird.
  12. 12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Position des Signalabnehmers relativ zu dem Probenstück konstant gehalten wird.
  13. 13. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Größe des Signalabnehmers einer Null-Kompensation unterworfen wird bei mindestens zwei verschiedenen Positionen zwischen Signalabnehmer und Probenstück, wobei eine gedachte Linie, die die korrespondierenden Punkte miteinander in der komplexen Impedanzebene verbindet, die Richtung der elektrischen Signale bestimmt, die für die Kompensation von jeder Positionsvariation zwischen dem Signalabnehmer und dem Probenstück benutzt werden.
  14. 14. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß diese Änderung durch die Anwesenheit bzw.
    Nichtanwesenheit von Material an dem Signalabnehmer beeinflußt wird, wobei dieses Material gefunden wird.
  15. 15. Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstücken aus elektrisch leitendem Material, z.B. Formkörpern, Metalltafeln, Rohlingen, Drähten, Flüssigkeiten, Pulvern u. dgl., hinsichtlich Änderungen, wie Fehlern, Fehlstellen, Abweichungen, Dimensionsänderungen, Materialänderungen, Änderungen der elektrischen Eigenschaften, einschließlich durch äußere Einflüsse verursachte Änderungen, wie z.B. Geschwindigkeit, Kraft usw., mit einem einen Signalabnehmer erregenden Kreis (3) mit einem Oscillator (7) und einem Verstärker (8), die elektrische Felder mit mindestens zwei vershiedenen Frequenzen (w1, w2) erzeugen in mindestens einem Signalabnehmer (1), mit einem Kompensationskreis (5) für Null-Kompensation der elektrischen Größe dieses Signalabnehmers bei jeder Frequenz, mit einem VerstärkerSder mit dem Kompensationskreis verbunden ist, mit mindestens zwei Filtern (11, 12), von denen der eine die eine Frequenz und der andere die andere Frequenz herausholt, dadurch gekennzeichnet, daß kontrollierte Detektoren (13, 14; 22, 23), mit jedem Filter verbunden sind, daß das Kontrollsignal von jedem Detektor variierbar ausgebildet ist und daß mindestens ein Kreis (18)vorgesehen ist, der für beide Detektoren die Differenz bildet, wobei dieser Kreis die mit jeder Änderung behaftete Information enthält.
  16. 16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß Anordnungen (15, 16; 24) vorgesehen sind, um die Ausgangssignale der Detektoren zu normalisieren.
  17. 17. Vorrichtung nach Anspruch 15 oder 16, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (17) vorgesehen sind, die mindestens eine der elektrischen Größen des Signalabnehmers linearisieren.
  18. 18. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren Amplitudendetektoren (13, 14) sind und daß das Kontrollsignal eine variable Kontrollspannung ist, die durch Änderung mindestens einer (UCOmp ) der Kompensationsspannungen in dem Kompensationskreis (5) entsteht.
  19. 19. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die variable Kontrollspannung eine periodisch auftretende Spannung ist, deren Frequenz mindestens um ein Vielfaches niedriger als die niedrigere der beiden Frequenzen (w1 w2) ist.
  20. 20. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die kontrollierten Detektoren phasenkontrolierte Gleichrichter (22, 23) mit ausgewählten Kontrollsignalen sind, die gegenseitig phasensynchronisiert sind.
  21. 21. Vorrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Phase der Kontrollspannungen variiert wird.
  22. 22. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal des Differenz bildenden Kreises (18) zu Filtern (16) führt, die an die Variation des Kontrollsignals angepaßt sind.
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