DE2821574A1 - Verfahren und anordnung zur ermittelung von veraenderungen in bzw. bei einem gegenstand - Google Patents
Verfahren und anordnung zur ermittelung von veraenderungen in bzw. bei einem gegenstandInfo
- Publication number
- DE2821574A1 DE2821574A1 DE19782821574 DE2821574A DE2821574A1 DE 2821574 A1 DE2821574 A1 DE 2821574A1 DE 19782821574 DE19782821574 DE 19782821574 DE 2821574 A DE2821574 A DE 2821574A DE 2821574 A1 DE2821574 A1 DE 2821574A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- phase
- signals
- derived
- alternating current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0654—Imaging
- G01N29/0663—Imaging by acoustic holography
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S15/00—Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
- G01S15/88—Sonar systems specially adapted for specific applications
- G01S15/89—Sonar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
- G01S15/8906—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques
Description
Dipl.-Ing. H. MITSCHERLICH Dipl.-Ing. K. GUNSCHMANN
Dr. rer. nat. W. KÖRBER
Dipl.-Ing. J. SCHMIDT-EVERS
D-8000 MÖNCHEN 22 Steinsdorfstraße 10 "H1 (089) * 29 66 84
17. Mai 1978
-ff-
NATIONAL RESEARCH DEVELOPMENT CORPORATION 66-74 Victoria Street
London SW1, England
London SW1, England
Verfahren und Anordnung zur Ermittelung von Veränderungen in bzw. bei einem Gegenstand
809851/0658
Dipl.-Ing. H. MITSCHERLICH Dipl.-Ing. K. GUNSCHMANN
Dr.rer. not. W. KÖRBER
Dipl.-lng. J. SCHMIDT-EVERS
D-8000 MÖNCHEN 22 Steinsdorfstraße 10
"©> (089) * 29 66 84
-M-
Die Erfindung bezieht sich auf Schallbild-Aufzeichnungsgeräte .
Auf dem Gebiet der Mikroskopie besteht eine ganz neue Entwicklung in der Ausnutzung der Schallstrahlung zur "Beobachtung"
eines Gegenstands. Dabei wird eine Schallwelle in eine Wasserzelle mittels einer geeignet geformten Schalllinse
fokussiert, wobei durch den Fokus eine Probe mechanisch abgetastet wird. Die durch den Durchgang durch die Probe
modulierte Schallstrahlung wird von einer weiteren, auch
als Schallinse zu bezeichnenden akustischen Linse aufgenommen. Eine derartige Anordnung ist in der Zeitschrift
"Ultrasonics Symposium Proceedings of the Institute of Electrical and Electronic Engineers", 1973, Cat.-Nr. 73
CHO 807-8SU, von R.A.Lemons und C.F.Quate in einem Artikel
mit der Bezeichnung "A Scanning Acoustic Microscope" beschrieben worden.
Eine derartige Einrichtung kann dazu herangezogen werden, eine Information über die Probe an einer sehr großen Anzahl
von Punkten zu liefern, die in Abstand voneinander auf oder unter der Probenoberfläche vorgesehen sind. Bei
der Interpretation dieser Information kann es von Nutzen sein, lediglich Veränderungen in der Probe zu berücksichtigen,
die nach Aufnahme einer vorhergehenden Aufzeichnung aufgetreten sind. Die Änderungen können in der Amplitude
und/oder der Phase auftreten. Während die bisher bekannten Anordnungen imstande sind, ein Bild unter alleiniger Ausnutzung
des Phasenkontrastes oder unter alleiniger Ausnutzung des Amplitudenkontrastes oder unter Ausnutzung
809851/066$
einer bekannten oder unbekannten Kombination beider Kontraste zu liefern, wird davon ausgegangen, daß es bisher nicht möglich
gewesen ist, gleichzeitige Veränderungen bei beiden Variablen nach Ablauf einer Zeitspanne aufzuzeichnen.
Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, einen Weg zu zeigen, wie nach Ablauf einer Zeitspanne Änderungen der
beiden Variablen gleichzeitig aufgezeichnet werden können.
Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe durch die im Patentanspruch 1 angegebene Erfindung. Gemäß der Erfindung
ist ein Verfahren zur Ermittelung von Veränderungen bei einem Gegenstand geschaffen, umfassend die Bestrahlung des Gegenstands
mit einem fokussierten Strahl einer akustischen Strahlung, die durch ein erstes elektrisches Wechselstromsignal
erregt wird. In der Nähe des Fokus wird ein Strahl der in der Phase und Amplitude durch den betreffenden Gegenstand
modulierten akustischen Strahlung aufgenommen, und aus dieser Strahlung wird ein zweites elektrisches Wechselstromsignal
abgeleitet. Aus dem ersten elektrischen Wechselstromsignal wird ein Bezugssignal mit bekannter Phasenlage erzeugt.
Das zweite Signal und das Bezugssignal werden kohärent bzw. zusammenhängend gemischt, um ein erstes in Phase befindliches
Signal abzuleiten. Das zweite Signal wird mit dem Bezugssignal gemischt, welches in der Phasenlage zwischen 80°
und 100°, zweckmäßigerweise um 90°, umgeschaltet wird, um ein erstes um 90° phasenverschobenes Signal zu liefern. Das
erste in Phase befindliche Signal und das erste um 90° phasenverschobene Signal werden gespeichert. Nach einer Zeitspanne
wird ein Strahl einer durch denselben Teil des betreffenden Gegenstandes modulierten akustischen Strahlung
aufgenommen, und aus diesem Signal wird ein drittes elektrisches Wechselstromsignal abgeleitet. Außerdem werden in entsprechender
Weise ein zweites in Phase befindliches Signal und ein zweites um 90° phasenverschobenes Signal abgeleitet.
Die gespeicherten ersten und zweiten Signale werden unter Ermittelung jeglicher Veränderung in dem Gegenstand verknüpft
809851/0688
bzw. kombiniert.
Der akustische Schallstrahl kann entweder durch den Gegenstand hindurchgeleitet oder von diesem reflektiert werden.
Die gespeicherten ersten und zweiten Signale können durch einfache Addition oder durch einfache Subtraktion oder durch
Addition oder Subtraktion nach Multiplikation des einen Signals mit einem konstanten Faktor oder durch andere mathematische
Operationen kombiniert bzw. verknüpft werden.
Üblicherweise umfaßt das Verfahren ferner die Erzeugung einer relativen Bewegung in der Brennebene des Gegenstands
und des Fokus des SchallStrahles. Dabei werden ein erstes in
Phase befindliches Signal und ein erstes um 90° phasenverschobenes Signal an jeder Stelle der in einer Vielzahl vorgesehenen
relativen Stellen abgeleitet. Jedes erste in Phase befindliche Signal und jedes erste um 90° phasenverschobenes
Signal werden gespeichert. Nach der betreffenden Zeitspanne wird die Bewegung wiederholt, und ein zweites in Phase befindliches
Signal sowie ein zweites um 90° phasenverschobenes Signal werden an der jeweiligen Stelle abgeleitet. Für
die jeweilige Stelle werden die gespeicherten ersten und zweiten Signale kombiniert bzw. verknüpft.
Gemäß der Erfindung ist ferner eine Anordnung zur Ermittelung einer Veränderung in bzw. bei einem Gegenstand geschaffen.
Diese Anordnung umfaßt Einrichtungen zur Bestrahlung des Gegenstands mittels eines fokussierten Schallstrahles, der
durch ein erstes elektrisches Wechselstromsignal erregt wird. Ferner sind Einrichtungen zur Aufnahme eines SchallStrahles
vorgesehen, der in der Phase und in der Amplitude durch den betreffenden Gegenstand in der Nähe des Fokus moduliert ist.
Außerdem sind Einrichtungen zur Ableitung eines zweiten elektrischen Wechselstromsignals aus dem gerade genannten
Schallstrahl vorgesehen. Überdies sind Einrichtungen vorge-
809851 /0658
sehen, die aus dem ersten elektrischen Wechselstromsignal ein Bezugssignal mit einer bekannten Phasenlage ableiten.
Außerdem sind Mischeinrichtungen vorgesehen, die das zweite Signal und das Bezugssignal derart zusammenfassend mischen,
daß ein in Phase befindliches Signal auftritt, und die das zweite Signal und das Bezugssignal, welches in der Phasenlage
zwischen 80° und 100° umgeschaltet bzw. geändert wird, zur Gewinnung eines um 90° phasenverschobenen Signals mischen.
Bei einer Ausführungsform der betreffenden Anordnung sind ferner Abtastanordnungen vorgesehen, die so angeordnet bzw.
ausgelegt sind, daß der Gegenstand schrittweise in bezug auf den Fokus des Schallstrahles in der Brennebene und in
einem wiederholbaren Muster bewegt wird. Mit den Mischeinrichtungen sind Speichereinrichtungen verbunden, um ein der
jeweiligen relativen Lage des Gegenstandes entsprechendes in Phase befindliches Signal und ein entsprechendes um 90°
phasenverschobenes Signal zu speichern. Ferner sind Verknüpfungseinrichtungen vorgesehen, die so angeordnet sind,
daß sie für die jeweilige Position des Gegenstands das gespeicherte Signal mit dem sukzessiv gelieferten Signal verknüpfen.
Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise
näher erläutert.
Fig. 1 zeigt in einem Blockdiagramm eine Anordnung gemäß der Erfindung.
Fig. 2 zeigt in einem vereinfachten Blockdiagramm einen Teil einer Anordnung zur Anzeige der elektrischen Signale und ihre
Verknüpfung.
In Fig. 1 ist ein Abtast-Schall-Transmissionsmikroskop 11
dargestellt, umfassend einen ersten Saphirkristall 10 und einen zweiten Saphirkristall 12. Die beiden Kristalle 10,
weisen jeweils eine polierte konkave sphärische Oberfläche bzw. 16 und eine gegenüberliegende plane Oberfläche auf, mit
der ein piezoelektrischer Wandler 18 bzw. 20 in Kontakt ist.
809851/0658
Die konkaven Oberflächen sind einander benachbart angeordnet. Jede dieser Oberflächen kann einen Krümmungsradius von
etwa 0,13 mm besitzen. Zwischen diesen konkaven Oberflächen
wird ein Wassertropfen 22 durch die Oberflächenspannung gehalten.
Wenn eine Wechselspannung an den Wandler 18 angelegt wird, wird eine ebene Welle einer akustischen Strahlung erzeugt,
die durch den Kristall 10 in den Wassertropfen 22 hinein gelangt. Die gekrümmte Oberfläche 14 fokussiert den Strahl
in das Wasser. Wenn eine dünne Probe 24, die auf einem PoIyäthylenterephthalat-Film
26 aufgebracht bzw. an diesem Film angebracht ist, in dem Brennpunkt angeordnet wird, dann wird
die Probe die durch sie hindurchdringende Schallstrahlung
modulieren. Wenn die konkaven Oberflächen 14, 16 konfokal angeordnet sind, wird der Kristall 12 die Strahlung vom
Brennpunkt aufnehmen und ein verwandtes Wechselstromsignal an den Wandler 20 abgeben. Wenn die Probe durch den Brennpunkt
abgetastet wird, wie beispielsweise in einem Rastermuster, kann ein punktweises Abbild aus dem Signal vom Wandler
20 gebildet werden. Dies stellt das grundsätzliche Abtastschallmikroskop dar, wie es in der oben erwähnten Druckschrift
beschrieben worden ist.
Um die Aufzeichnung einer Veränderung in bzw. bei einem Gegenstand
zu ermöglichen, ist eine zusätzliche Anordnung erforderlich. Der Wandler 18 wird von einem 1-GHz-Oszillator
über einen Verstärker 30 und einen Schalter 32 gespeist. Der Wandler 20 ist an einem Schalter 34 angeschlossen. Die Schalter
32, 34 werden von einem Impulsgenerator 36 gesteuert. Der Schalter 34 wird über eine Verzögerungsleitung 38 gesteuert
bzw. betätigt, um die Zeit für den Durchgang der Schallstrahlung durch das Mikroskop bereitzustellen. Die
Schalter 32, 34 ermöglichen die Anwendung des Zeit-Tast-Verfahrens,
gemäß dem ermöglicht ist, daß über den Schalter 34 lediglich die erforderlichen Signale übertragen werden,
d.h. diejenigen Signale, die dem direkten Durchgang der
809851/0658
Schallstrahlung durch das Mikroskop entsprechen. Diejenigen Signale, die der an den gekrümmten Oberflächen 14, 16 reflektierten
Schallstrahlung entsprechen, werden ausgeschieden.
Der Schalter 34 ist über einen Verstärker 40 und ein Bandpaßfilter
42 an dem ersten Eingang eines Mischers 44 angeschlossen. Der zweite Eingang des Mischers wird von dem
Oszillator 28 über eine Verzögerungsleitung 46 und einen schaltbaren Phasenschieber 48 gespeist. Der Ausgang des
Mischers ist an einem Tiefpaßfilter 50 angeschlossen.
Im Gebrauch führt die Verzögerungsleitung 46 eine Verzögerung ein, die etw* gleich der Durchgangszeit der Schallstrahlung
durch das Mikroskop ist. Dadurch wird die Auswirkung jeglicher Kurzzeit-Instabilität des Oszillators stark vermindert.
Das Tiefpaßfilter 50 führt zu einer Unterdrückung unerwünschter Modulationsprodukte. Die Zeitkonstante dieses
Filters ist so gewählt, daß eine wirksame Integration des ermittelten Signalimpulses erfolgt.
Im Zuge der folgenden Beschreibung wird davon ausgegangen,
daß die Anordnung so ausgelegt ist, daß die Kombination der Verzögerungsleitung 46 und des schaltbaren Phasenschiebers
dazu führt, daß an den Eingang des Mischers 44 ein Signal abgegeben wird, welches entweder in Phase oder um 90° phasenverschoben
zu dem Ausgangssignal ist, welches das Mikroskop bei Fehlen jeglichen Gegenstandes liefern würde; das ist die
Phasenlage des direkt übertragenen ersten elektrischen Wechselstromsignals.
Der Mischer kombiniert dann die beiden Signale, die entweder genau in Phase sind, um ein in Phase befindliches Signal zu
liefern, oder die in der Phasenlage um 90° verschieden sind, um ein um 90° phasenverschobenes Signal zu liefern. Dies gestattet
eine klare Erläuterung der Erfindung unter Heranziehung einfacher mathematischer Begriffe.
809851/06S8
Die Bedingungen sind jedoch nicht notwendig. Solange die beiden Phasenlagen, die durch den Phasenschieber hervorgerufen
werden, stets gleich sind und um 90° differieren, können sodann zwei Signale, die nominell in Phase und um 90° phasenverschoben
sind, abgeleitet werden. Die Phasenänderungen in bzw. bei dem Gegenstand können ermittelt werden. Die tatsächlichen
Phasenlagen der beiden Signale müssen bekannt sein; eine Phasenlage kann zur Lieferung des in Phase befindlichen
Signals an einem beliebigen Ursprungspunkt gewählt werden.
Der Phasenschieber braucht im übrigen nicht die Phasenlage um genau 90° zu ändern, um das um 90° phasenverschobene
Signal zu liefern. Vielmehr können Phasenverschiebungen zwischen 80 und 100 angewandt werden. Die tatsächliche
Verschiebung muß durch einen Eichungsvorgang und durch eine auf die Ausgabedaten angewandte einfache numerische Korrektur
erster Ordnung genau festgelegt werden.
Wahrscheinlich wird eine Phasendifferenz zwischen den in Phase befindlichen Signalen und den um 90° phasenverschobenen
Signalen wesentlich geringer sein als 80°, die die Ermittelung von Phasenänderungen in bzw. an dem Gegenstand ermöglicht^
solange die Größe genau bekannt ist, wobei allerdings größere Korrekturen dann bei den Daten vorzunehmen erforderlich ist.
Unter Bezugnahme auf Fig. 2 sei angenommen, daß das Oszillator-Ausgangssignal
(das ist das erste elektrische Wechselstromsignal) gegeben sei mit Acoswt. Bei Fehlen der Probe 24
und bei auf die Null-Phasenverschiebung eingestelltem Phasenschieber 48 wird die Verzögerungsleitung 46 so gewählt oder
eingestellt, daß die Eingangssignale für den Mischer 44 von dem Phasenschieber 48 (das ist das Bezugssignal) und von dem
Mikroskop 11 über den Schalter 34 (das ist das zweite elektrische
Wechselstromsignal) miteinander in Phase sind und daher jeweils als Acoswt betrachtet werden können, da nämlich
die tatsächlichen Phasennacheilungen den gleichen Wert be-
809851/0658
sitzen. Wenn der Phasenschieber 48 zur 90 -Verschiebung verändert wird, dann kann das Eingangssignal von dem Phasenschieber
für den Mischer 44 als Asinco t betrachtet werden. Nimmt man an, daß die Übertragungsfunktion der Probe 24 gegeben
ist mit Β(χ)[θ° - das sind eine Amplitudenkonrponente
B(x) und eine zugehörige Phasenverschiebung von θ° - dann beträgt das Ausgangssignal des Mikroskops 11 gleich
B(x)cosj_t^ t + θ (x)J , wenn ein konstanter Faktor unberücksichtigt
bleibt. Dieses Signal wird dem ersten Eingang des Mischers 44 zugeführt.
Das Ausgangssignal des Mischers 44 ist das Produkt der beiden Eingangssignale:
Wenn 0=0 ist, dann ist das
Wenn 0=0 ist, dann ist das
Ausgangssignal = A coscut χ B(x) cos[w t + θ (χ)
\ cos θ (χ) + cos Γ 2wt + θ (χ) Γ
L L JJ
Das Tiefpaßfilter 50 ermöglicht die Übertragung des Signals:
cos θ (x).
Wenn 0 = 90° ist, dann beträgt das
Ausgangssignal = A sin tot χ B(x) cos j W t + θ (x)J _
Ausgangssignal = A sin tot χ B(x) cos j W t + θ (x)J _
Das Tiefpaßfilter 50 ermöglicht die Übertragung des Signals: sin θ(χ) (2)
Die Messung der beiden durch die Gleichungen (1) und (2) dargestellten
Größen ermöglicht die gesonderte Bestimmung von B(x) und von θ (χ).
Nunmehr sei ein Punkt in bzw. auf dem Gegenstand an der Position (iox, doy) betrachtet, wobei Sx^Sy die Abmessung
des Bildelements und i und j ganze Zahlen bedeuten. Vor einer
809861/0658
Veränderung in bzw. bei dem Gegenstand sei die komplexe Amplitude gegeben durch Bi-, und nach der Veränderung sei
die betreffende Amplitude gegeben durch C. .. Wenn Aufzeichnungen von B^ ■ und von C^ . gemacht werden, dann können diese
Größen in unterschiedlichen Arten kombiniert bzw. verknüpft werden. So enthält beispielsweise B.. - C^. die gesamte Information
bezüglich der Veränderung, und diese Information kann in geeigneter Weise angezeigt werden. Alternativ dazu
wird in dem Fall, daß B^. + K C^ . angezeigt wird, wobei K
eine komplexe Konstante ist, durch B^-s ein Bezugshintergrund
des ursprünglichen Bildes geliefert, und die Überlagerung von KC. führt zu Interferenzstreifen, und zwar ähnlich
jenen Interferenzstreifen, wie sie in der optischen Meßtechnik bekannt sind. Diese Streifen können als unterteilte
Konturen der Veränderung betrachtet werden. Wenn die Veränderung hauptsächlich in der Amplitude auftritt, dann könnte
eine Anzeige von B. . + C. . C. . * geliefert werden, wobei C1 ^*
IJ J-J Ij J-J
die komplexe konjugierte Größe von C^λ ist. Andere mathematische
Operationen sind ebenfalls möglich.
Zurückkommend auf Fig. 1 sei bemerkt, daß der Träger des Gegenstands bzw. Objektes 26 schrittweise in einem Rastermuster
abgetastet wird und daß das Ausgangssignal des Mischers 44 je Abtastpunkt aufgezeichnet wird, und zwar sowohl
dann, wenn der Phasenschieber 48 eine Null-Phasenverschiebung einführt, als auch dann, wenn er eine 90°-Phasenverschiebung
einführt. Der betreffende Gegenstand bzw. das Objekt wird dann verändert oder seine Veränderung wird in irgendeiner
Weise ermöglicht, und dann erfolgt eine erneute Abtastung in genau im gleichen Abtastmuster, wobei an jedem Punkt eine
Aufzeichnung für 0=0 und für 0 = 90° vorgenommen wird. Die beiden Aufzeichnungen umfassen dann B^^ und C^; sie können
in irgendeiner Weise unter Bereitstellung irgendeiner geeigneten digitalen Verarbeitungseinrichtung kombiniert bzw.
verknüpft werden, die in einer herkömmlichen Art und Weise arbeitet. Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, daß die
geeignetste Form der Anzeige ohne weiteres ausgewählt werden
809851 /0658
Nunmehr wird eine Anordnung zur Steuerung der Erzeugung der Aufzeichnungen B.. und C.. unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert
werden.
Das Tiefpaßfilter 50 ist über eine Abtast- und Halteeinheit 52 sowie über einen Analog-Digital-Wandler 54 und ein
Steuerleitungssystem 56 an einer Steuerungs- und Speicherschaltung
58 und außerdem an einer Schrittmotor-Antriebs- und Steuerschaltung 60 angeschlossen. Die Schaltung 60
steuert zwei Schrittmotoren 62, 64, welche die Lage des Films 26 steuern, an bzw. auf dem der Gegenstand bzw. das
Objekt 24 angebracht ist. Die Schaltung 60 ist außerdem mit einer Anzeigeeinheit 66, wie mit einer Kathodenstrahlröhre,
verbunden.
Die Steuerschaltung 58 steuert außerdem die Operation bzw. den
Betrieb der Abtast- und Halteeinheit 52, des Analog-Digital-Wandlers 54 und des schaltbaren Phasenschiebers 48.
Ein typischer, unter der Steuerung der Steuerschaltung 58 zur Lieferung der Aufzeichnungen der Signale B^ . und C^ . ablaufender
Zyklus könnte wie folgt ablaufen:
1. Der Phasenschieber 48 wird auf 0=0 eingestellt.
2. Den Schrittmotoren 62, 64 werden solche Befehle gegeben, daß diese Schrittmotoren eine Bewegung zu einer vorgegebenen
Stelle, dem Punkt irfx, jcfy, ausführen und an der
betreffenden Stelle anhalten.
3. Nach einer kurzen Verzögerung, die dem System ermöglicht, sich entsprechend einzustellen, wird die Abtast- und Halteschaltung
52. so eingestellt, daß der Analog-Signalpegel an ihrem Eingang festgehalten wird. Dies entspricht dem Ausgangssignal
des Mikroskops 11, welches auf den Punkt idx, JcTy fokussiert ist, und beträgt A^_* cos 0ij.
4. Ein der Größe A^ cos 0^ . entsprechender fester Signalpegel
tritt am Eingang des Analog-Digital-Wandlers 54 auf.
5. Der Wandler 54 gibt ein Digital-Signal an den Speicherteil der Steuerschaltung 58 ab, und der Abtast- und Halteschal-
809851/0658
tung ist dann ermöglicht, wieder dem Eingangssignal zu
folgen,
b. Der Phasenschieber 48 wird auf 0 = 90° eingestellt. Die Schritte 3, 4 und 5 werden wiederholt, und ein der Größe A^. sin 0. . entsprechendes Digital-Signal wird in
b. Der Phasenschieber 48 wird auf 0 = 90° eingestellt. Die Schritte 3, 4 und 5 werden wiederholt, und ein der Größe A^. sin 0. . entsprechendes Digital-Signal wird in
der Speicherschaltung gespeichert.
7. Die Schrittmotoren bewegen das Objekt in eine neue Position, und der Meßzyklus wird wiederholt.
7. Die Schrittmotoren bewegen das Objekt in eine neue Position, und der Meßzyklus wird wiederholt.
Nachdem der Gegenstand bzw. das Objekt in einem Rastermuster abgetastet worden ist, wird der betreffende Gegenstand verändert,
oder ihm wird ermöglicht, sich zu verändern. Der Zyklus wird dann wiederholt, indem der betreffende Gegenstand
in genau demselben Muster abgetastet wird. Die ersten und zweiten Aufzeichnungen B. . und C.. . werden dann durch die
IJ J-J
Speicherschaltung in der gewünschten bzw. erforderlichen Weise kombiniert bzw. verknüpft und angezeigt.
Es dürfte einzusehen sein, daß bei der betreffenden Anordnung eine Vielzahl von Modifikationen vorgenommen werden
kann. Wenn beispielsweise ein hinreichend stabiler Oszillator verwendet wird, braucht die Verzögerungsleitung 46 nicht
eine Verzögerungszeit einzuführen, die gleich der Durchgangszeit der Schallwelle durch das Mikroskop ist, sondern sie
braucht lediglich eine wesentlich geringere Phasenverschiebung einzuführen, so daß das Bezugssignal mit der erforderlichen
Phasenlage auftritt. Es dürfte ferner einzusehen sein, daß eine wesentliche Unterscheidung zwischen der Funktion der
Verzögerungsleitung 46 und dem Phasenschieber 48 unabhängig von der Tatsache vorhanden ist, daß beide Schaltungen Phasenänderungen
einführen bzw. hervorrufen. Das Ziel der durch den Phasenschieber 48 hervorgerufenen 90°-Phasenverschiebung besteht
darin, ein 90°-Bezugssignal bereitzustellen. Die absolute Phasenlage dieses Signals in bezug auf den Signalweg
durch das Mikroskop ist beliebig - der wesentliche Punkt besteht darin, daß eine Phasendifferenz von 90° zwischen den
beiden möglichen Bezugssignalen vorhanden ist. Dabei ist
809851/0658
anzumerken, daß entweder der Eingangsoszillator über die Zeitspanne des Signaldurchgangs durch das Mikroskop phasenstabil
ist, oder daß eine Verzögerungsleitung 46 erforderlich ist. Die Auswirkung der Verzögerungseinrichtung - wenn die
Verzögerung etwa gleich der Durchgangs- bzw. Laufzeit des Signals durch das Mikroskop ist - besteht darin, sich der
Phasenlage zum Zeitpunkt der Übertragung zu "erinnern". Demgemäß ermöglicht die Verwendung einer Verzögerungsleitung
eine Entspannung der Toleranz bezüglich der Oszillatorstabilität.
Weitere Modifikationen sind ebenfalls möglich. Wenn das Mikroskop so angeordnet wird, daß keine SchallstrahlungsreflejcJ-onen
auftreten, dann braucht das empfangene Signal nicht iinpulsweise getastet zu werden. Die Phasen- und Amplitudensignale
für die jeweilige Position können gleichzeitig anstatt sukzessiv nacheinander abgeleitet werden, wenn die
Abtastbewegung nicht inkremental, sondern kontinuierlich zu erfolgen braucht. Das Schallmikroskop braucht nicht
Saphirkristalle mit konkaven Oberflächen enthalten, sondern kann vielmehr eine Form besitzen, wie sie an anderer Stelle
bereits beschrieben wird (siehe britische Patentanmeldung Nr. 20713/77).
Ferner kann ein Reflexionsbetrieb des Mikroskopsbetriebs ausgenutzt
werden anstatt des oben beschriebenen Durchgangsbzw. Transmissionsbetriebs.
Beispiele für Arten von Veränderungen in bzw. bei dem jeweiligen Gegenstand bzw. Objekt, der bzw. das mit Hilfe eines
Verfahrens und einer Anordnung gemäß der Erfindung überwacht wird, umfassen die Messung von Abmessung.eänderungen,
die Messung von Veränderungen in physikalischen Eigenschaften, wie der Viskosität und Elastizität, die Messung von Veränderungen,
die sich aus biologischen Prozessen, wie dem Zellwachstum und der Zellteilung ergeben, und die Überwachung
eines Kristallwachstums.
8098 51/06SrrPat;entanwalt
Claims (3)
- PatentansprücheVerfahren zur Ermittelung von Änderungen in bzw. bei einem Gegenstand, dadurch gekennzeichnet, daß der Gegenstand mit einem fokussierten Strahl einer durch ein erstes elektrisches Wechselstromsignal erregten Schallstrahlung bestrahlt wird, daß ein Strahl der. in der Phase und in der Amplitude durch den betreffenden Gegenstand in der Nähe des Fokus moduliertenSchallstrahlung aufgenommen wird, daß aus dem aufgenommenen Strahl der modulierten Schallstrahlung ein zweites elektrisches Wechselstromsignal abgeleitet wird, daß aus dem ersten elektrischen Wechselstromsignal ein elektrisches Bezugssignal mit bekannter Phasenlage abgeleitet wird, daß das zweite Signal und das Bezugssignal unter Lieferung eines ersten in Phase befindlichen Signals zusammengemischt werden, daß das zweite Signal mit dem in der Phasenlage zwischen 80° und 100° veränderten Bezugssignal unter Lieferung eines ersten, um 90° phasenverschobenen Signals gemischt wird, daß die ersten in Phase befindlichen und die ersten um 90° phasenverschobenen Signale gespeichert werden, daß nach einer bestimmten Zeitspanne ein Strahl einer durch denselben Teil des betreffenden Gegenstands modulierten Schallstrahlung aufgenommen und aus diesem Strahl ein drittes elektrisches Wechselstromsignal abgeleitet wird, aus dem in entsprechender Weise ein zweites in Phase befindliches Signal und ein zweites um 90° phasenverschobenes Signal abgeleitet werden, und daß die gespeicherten ersten und zweiten Signale unter Ermittelung jeglicher Veränderung in bzw. bei dem betreffenden Gegenstand kombiniert werden.809851/0658ORIGINAL INSPECTED
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Relativbewegung der Brennebene des betreffenden Gegenstands und des Fokus des SchallStrahles hervorgerufen wird, daß ein erstes in Phase befindliches Signal und ein erstes um 90° phasenverschobenes Signal an jeder Stelle der in einer Vielzahl vorgesehenen relativen Stellen abgeleitet werden, daß jedes erste in Phase befindliche Signal und jedes erste um 90° phasenverschobene Signal gespeichert werden, daß nach einer bestimmten Zeitspanne die Bewegung wiederholt und ein zweites in Phase befindliches Signal sowie ein zweites um 90° phasenverschobenes Signal an der jeweiligen Stelle abgeleitet werden, und daß für jede Stelle die gespeicherten ersten und zweiten Signale kombiniert werden.
- 3. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder 2, zur Ermittelung einer Veränderung in bzw. bei einem Gegenstand, dadurch gekennzeichnet, daß Bestrahlungseinrichtungen (10,14,18) vorgesehen sind, die den betreffenden Gegenstand (24) mit einem fokussierten Strahl einer Schallstrahlung bestrahlen, die durch ein erstes elektrisches Wechselstromsignal erregt ist, daß Aufnahmeeinrichtungen (12,16,20) vorgesehen sind, die einen Strahl der in der Phase und Amplitude durch den betreffenden Gegenstand in der Nähe des Fokus modulierten Schallstrahlung aufnehmen und die aus diesem Strahl ein zweites elektrisches Wechselstromsignal ableiten, daß Bezugssignaleinrichtungen (46,48) vorgesehen sind, die ein elektrisches Bezugssignal mit einer bekannten Phasenlage aus dem ersten elektrischen Wechselstromsignal ableiten, und daß Mischeinrichtungen (34) vorgesehen sind, die das zweite Signal und das Bezugssignal unter Bildung eines in Phase befindlichen Signals und damit zusammen das zweite Signal und das in der Phasenlage zwischen 80° und 100° geänderte Bezugssignal unter Bildung eines um 90° phasenverschobenen Signals mischen.809851/0659Anordnung nach Anspruch 3> dadurch gekennzeichnet, daß Abtasteinrichtungen (62,64) vorgesehen sind, die so ausgelegt sind, daß sie eine Relativbewegung in der Brennebene des betreffenden Gegenstands (24) und im Brennpunkt des Schallstrahles hervorrufen, daß an den Mischeinrichtungen Speichereinrichtungen (58) angeschlossen sind, die ein in Phase befindliches Signal und ein um 90° phasenverschobenes Signal entsprechend jeder der in einer Vielzahl vorgesehenen relativen Positionen des betreffenden Gegenstands (24) speichern, und daß Verknüpfungseinrichtungen (58) vorgesehen sind, die für jede Position des betreffenden Gegenstands (24) die gespeicherten Signale mit den aufeinanderfolgend bereitgestellten Signalen kombinieren.Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtungen (62,64) den Gegenstand (24) schrittweise in der Brennebene in einem wiederholbaren Muster bewegenlund daß bei jedem Bewegungsschritt ein in Phase befindliches Signal und ein 90°-Signal abgeleitet sind.809851 /0659
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB2071277A GB1598191A (en) | 1977-05-17 | 1977-05-17 | Acoustic image recorders |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2821574A1 true DE2821574A1 (de) | 1978-12-21 |
DE2821574C2 DE2821574C2 (de) | 1987-06-19 |
Family
ID=10150425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782821574 Granted DE2821574A1 (de) | 1977-05-17 | 1978-05-17 | Verfahren und anordnung zur ermittelung von veraenderungen in bzw. bei einem gegenstand |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS541681A (de) |
DE (1) | DE2821574A1 (de) |
GB (1) | GB1598191A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4503708A (en) * | 1983-02-07 | 1985-03-12 | Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Reflection acoustic microscope for precision differential phase imaging |
FR2660436A1 (fr) * | 1990-03-30 | 1991-10-04 | Bertin & Cie | Microscope acoustique pour analyser un objet en surface ou en profondeur. |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024024309A1 (ja) * | 2022-07-28 | 2024-02-01 | コニカミノルタ株式会社 | 非破壊検査装置、非破壊検査方法、およびプログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3587298A (en) * | 1969-01-02 | 1971-06-28 | Univ Northwestern | Ultrasonic image color display system |
DE2417946A1 (de) * | 1973-05-25 | 1974-12-12 | Kretztechnik Gmbh | Verfahren zum speichern und auswerten von informationen |
US3986160A (en) * | 1975-04-10 | 1976-10-12 | Automation Industries, Inc. | Visualization by ultrasonic detection |
US4012950A (en) * | 1974-12-12 | 1977-03-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford University | Method of and apparatus for acoustic imaging |
-
1977
- 1977-05-17 GB GB2071277A patent/GB1598191A/en not_active Expired
-
1978
- 1978-05-17 JP JP5870278A patent/JPS541681A/ja active Granted
- 1978-05-17 DE DE19782821574 patent/DE2821574A1/de active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3587298A (en) * | 1969-01-02 | 1971-06-28 | Univ Northwestern | Ultrasonic image color display system |
DE2417946A1 (de) * | 1973-05-25 | 1974-12-12 | Kretztechnik Gmbh | Verfahren zum speichern und auswerten von informationen |
US4012950A (en) * | 1974-12-12 | 1977-03-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford University | Method of and apparatus for acoustic imaging |
US3986160A (en) * | 1975-04-10 | 1976-10-12 | Automation Industries, Inc. | Visualization by ultrasonic detection |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4503708A (en) * | 1983-02-07 | 1985-03-12 | Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Reflection acoustic microscope for precision differential phase imaging |
FR2660436A1 (fr) * | 1990-03-30 | 1991-10-04 | Bertin & Cie | Microscope acoustique pour analyser un objet en surface ou en profondeur. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS541681A (en) | 1979-01-08 |
JPS6310387B2 (de) | 1988-03-07 |
GB1598191A (en) | 1981-09-16 |
DE2821574C2 (de) | 1987-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2540436C2 (de) | ||
EP0212733B1 (de) | Verfahren zur Erzeugung einer Röntgenaufnahme mittels eines Fotoleiters und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2822953C2 (de) | ||
DE2230650C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Oberfläche | |
EP0642031B1 (de) | MR-Abbildungsverfahren und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3445689A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur ortsaufgeloesten untersuchung einer probe mittels magnetischer resonanz von spinmomenten | |
CH688471A5 (de) | Gravierer und Verfahren zu dessen Betrieb | |
DE2107860C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Hologramms einer dreidimensionalen Szene | |
DE3522757A1 (de) | Vorrichtung zum abbilden der inneren struktur eines koerpers mittels ultraschall und ultraschallumformeranordnung | |
DE4403768A1 (de) | Analysesystem für integrierte Schaltungen, Elektronenstrahlmeßfühlersystem, und zugehöriges Fehlerisolationsverfahren | |
DE2057844C3 (de) | Geräteanordnung zur Aufzeichnung der elektrischen Ausgangssignale von wenigstens einem seismischen Empfänger | |
DE69821998T2 (de) | Reduzierung von Geisterbildfehlern | |
DE2013620C3 (de) | Vorrichtung zum Sichtbarmachen analog anfallender zeitabhängiger Meßgrößen | |
DE2326441A1 (de) | Isometrisches abbildungssystem | |
DE4433733A1 (de) | IC-Analysesystem mit einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung | |
DE2110175A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Phasenkontrolle bei einer Fourier-Analyse von abgelesenen Impulsresonanzdaten | |
DE3342491A1 (de) | Automatische vorrichtung zum herstellen oder pruefen von geraeten | |
DE2652210A1 (de) | Verfahren und vorrichtung fuer die zerstoerungsfreie werkstoffpruefung mittels ultraschall | |
EP0789251A2 (de) | MR-Verfahren zur Bestimmung der Magnetfeldinhomogenität im Untersuchungsbereich und MR-Gerät zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2707370C3 (de) | Leseeinrichtung zum Lesen von Balkensegmentkodes | |
DE2821574C2 (de) | ||
DE19513309A1 (de) | IC-Testgerät mit einer Ionenstrahl-Vorrichtung und Testverfahren für einen IC | |
EP0155504B1 (de) | Verfahren zur Darstellung elastischer Parameter in Objektoroberflächen | |
DE2736583A1 (de) | Verfahren und einrichtungen zur gewinnung von gegeneinander phasenverschobenen steuersignalen fuer einen vor-rueckwaertszaehler | |
EP0444737B1 (de) | Anordnung zum Abtasten einer Röntgenaufnahme |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |