DE2815696A1 - Verfahren zur additiven herstellung von verdrahtungsmustern - Google Patents
Verfahren zur additiven herstellung von verdrahtungsmusternInfo
- Publication number
- DE2815696A1 DE2815696A1 DE19782815696 DE2815696A DE2815696A1 DE 2815696 A1 DE2815696 A1 DE 2815696A1 DE 19782815696 DE19782815696 DE 19782815696 DE 2815696 A DE2815696 A DE 2815696A DE 2815696 A1 DE2815696 A1 DE 2815696A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substrate
- metal
- layer
- image
- nucleation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3605—Coatings of the type glass/metal/inorganic compound
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3642—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating containing a metal layer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3649—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer made of metals other than silver
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/36—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
- C03C17/3602—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
- C03C17/3668—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating having electrical properties
- C03C17/3671—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating having electrical properties specially adapted for use as electrodes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
- C23C18/1603—Process or apparatus coating on selected surface areas
- C23C18/1607—Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning
- C23C18/1608—Process or apparatus coating on selected surface areas by direct patterning from pretreatment step, i.e. selective pre-treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/10—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
- H01L25/11—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
- H01L25/115—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/18—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
- H05K3/181—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating
- H05K3/182—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating characterised by the patterning method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/40—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer
- C03C2217/42—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of particles only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/40—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer
- C03C2217/43—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase
- C03C2217/44—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase characterized by the composition of the continuous phase
- C03C2217/45—Inorganic continuous phases
- C03C2217/452—Glass
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/40—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer
- C03C2217/43—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase
- C03C2217/46—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase characterized by the dispersed phase
- C03C2217/47—Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a dispersed phase in a continuous phase characterized by the dispersed phase consisting of a specific material
- C03C2217/475—Inorganic materials
- C03C2217/479—Metals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/05—Patterning and lithography; Masks; Details of resist
- H05K2203/0502—Patterning and lithography
- H05K2203/0517—Electrographic patterning
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
- H05K3/1266—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by electrographic or magnetographic printing
Description
PHN.8772 Va/FF/
"Verfahren zur additiven Herstellung von Verdrahtungsmustern"
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur additiven Herstellung von Verdrahtungsmustern,
bei dem ein elektrostatisches Ladungsbild elektrographisch auf einem Substrat angebracht wird, das
Ladungsbild in ein Metallkeimbild umgewandelt wird und das Metallkeimbild in ein elektrisch leitendes
Metallbild umgewandelt wird.
Ein derartiges Verfahren ist aus der DL-PS Sk 423 bekannt, nach der ein elektrisch nichtleitendes
Substrat mit einer Haftvermittlerschicht versehen und
mittels einer profilierten Metallelektrode elektrographisch mit dem gewünschten Muster bedruckt wird,
wonach das so erhaltene Ladungsbild durch Kontakt
8098U/07ÖS
PHN.8772 ς- 3-1-1978
mit einer Lösung eines Edelmetallsalzkomplexes in ein Metallkeimbild umgewandelt wird, das schliesslich
mit Hilfe stromloser Metallisierung zu der gewünschten Leitfähigkeit verstärkt wird.
Als Haftvermittler werden in der Regel Klebstoff
gemische z.B. Acrylnitril-Butadien-Kresolformaldehyd-Klebstoff,
auf Trägern aus Kunststoff, z.B. mit Glasfasern versteiftem Epoxyharz, verwendet.
Diese Materialien weisen jedoch für gewisse professionelle Anwendungen nicht die gewünschten
Eigenschaften auf.
Als Substratmaterial wird daher für viele Anwendungen vorzugsweise oxidisches Substratmaterial
verwendet, d.h. keramisches oder glasartiges Material oder Oxidschichten, die durch anodische Oxidation
auf einer Metalloberfläche gebildet werden. Diese Materialien weisen eine grössere Temperaturbeständigkeit
und Masshaltigkeit auf, was z.B. für Hybridschaltungen mit Dickfilmtechniken von.Bedeutung ist.
Weiter weisen diese Trägermaterialien eine bessere Wärmeableitung und in der Regel eine viel geringere
Empfindlichkeit gegen Feuchtigkeit auf.
Die Erfindung schafft ein elektrographisch.es Verfahren zur Herstellung gut haftender Muster auf
oxidischen Trägermaterialien mit günstigen dielektrischen Eigenschaften.
Sie ist dadurch gekennzeichnet, dass unter
Verwendung oxidischen Substratmaterials das Keimbild
809844/0706
PHN. 8772 C 3-1-1978
dadurch erzeugt wird, dass das Substrat mit dem Ladungsbild mit einer Suspension eines Metalls oder
einer Metallverbindung in einem Dispergiermittel, das
einen spezifischen Yiderstand von mehr als 10 Ohm.cm
aufweist, in Kontakt gebracht wird, wonach das Ganze auf eine Temperatur von mindestens 100 C erhitzt wird,
bis das Keimbild mit dem Substrat verbunden ist.
Für Substratmaterial, das aus Glas oder
Keramik besteht, ist eine Erhitzung auf eine Temperatur
über hOO°C notwendig. Anodisierte Metalle erfordern
eine Nachbehandlungstemperatur zwischen etwa 100 und
150°C.
Vorzugsweise enthält die Suspension neben dem Metall oder einer Metallverbiridung auch ein pulverisiertes
glasbildendes Bindemittel und wird das Substrat, nachdem es mit der Suspension in Berührung
gewesen ist, auf eine Temperatur oberhalb der Erweichungstemperatur
des glasbildenden Bindemittels erhitzt, bis es mit dem Substrat verbunden ist.
Unter dem Ausdruck "glasbildendes Bindemittel" ist zu verstehen, dass das Bindemittel aus pulverisiertem
Glas der endgültigen Zusammensetzung besteht, aber auch, dass es aus einem Gemisch glasbildender
Oxide bestehen kann, aus denen das endgültige Glas zunächst durch Erhitzung gebildet wird.
Obgleich es möglich ist, das oxidische Substratmaterial
direkt mit einer Oberflächenladung zu versehen, ist es in der Regel nach einer Weiterbildung
809844/0705
PHN. 8772 .ν 3-1-1978
des erfindungsgemässen Verfahrens empf ehlenswert, die
Ladung über eine durch Erhitzung entfernbare Kombinationsschicht aufzubringen, die aus einer organischen
elektrisch leitenden Schicht auf der oxidischen Oberfläche und einer organischen dielektrischen Schicht
auf dieser Schicht besteht. Bei einem keramischen Substrat ist dies zu bevorzugen; bei Glas ist dies auch
günstig, wobei manchmal die leitende Schicht weggelassen werden kann. Bei anodisiertem Magnesium ist eine
derartige Kombinationsschicht nicht notwendig. Durch
das Vorhandensein einer solchen Kombinationsschicht ist ein höheres Aufladungsniveau möglich. Dadurch wird
eine- bessere Definition im Vergleich zu dem Verfahren
erhalten, bei dem die Ladung direkt an die oxidische Oberfläche angelegt wird.
Nach Erhitzung des aus dem Ladungsbild erhaltenen Keimbildes wird eine gute Haftung erzielt und
das Keimbild wirkt in vielen Fällen ohne weiteres katalytisch für die darauffolgende Metallisierung mittels
eines stromlos wirkenden Verstärkungsbades. In Fällen, in denen die katalytische Wirkung verloren gegangen ist
oder erheblich abgenommen hat, kann das Keimbild reaktiviert werden. Ein nichtkatalytisch gewordenes
Palladiumkeimbild mit glasartigem Bindemittel kann z.B. durch Kontakt mit einer SnCl„-HCl-Lösung reaktiviert
werden.
Ein geeignetes Verfahren zur Umwandlung eines Ladungsbildes in ein Metallkeimbild, namentlich auf
8098A4/070S
"p- PHN.8772
3-1-1978
oxidischen Substraten, besteht darin, dass das Ladungsbild zunächst mit einer Dispersion von Palladiumschwarz
und dann mit einer Dispersion von Zinnteilchen und Teilchen eines niedrigschmelzenden Glases in Berührung
gebracht wird. Das erhaltene Keimbild bedarf keiner Aktivierung und ein darauf abgelagertes Kupfermuster
weist eine wesentlich verbesserte Haftung im Vergleich zu dem Muster auf, das auf anderen Keimbildern abgelagert
wird.
Die Haftung des Kupfermusters auf keramischen
Substraten wird dadurch erheblich verbessert, dass das Ganze nach Ablagerung des Musters in einer inerten Gasatmosphäre
auf eine Tempffatur von mindestens ^fOO C
erhitzt wird. Eine derartige Erhitzung erfolgt z.B. 10 Minuten lang auf 85Ο C in einer wasserstoffreien
Stickstoffatmosphäre. Die Lötbarkeit wird dadurch nicht
beeinträchtigt.
Das elektrographische Aufbringen der Ladung nach dem gewünschten Muster kann auf vielerlei Weise
stattfinden. Die Anwendung einer Kupfermatrize, die das zu übertragende Muster als Relie/. aufweist, ist
eine attraktive Möglichkeit. Eine andere Möglichkeit ist die Anwendung einer flachen Metallelektrode mit
einer Kunststoffschicht in Form des gewünschten Musters.
In diesen Fällen ist ein Abstandshalter erforderlich.
Eine weitere Möglichkeit ist die Anwendung einer selektiven Sprühentladung über eine metallische Maske.
Schliesslich kann auch eine profilierte Leiter-
B098U/070B
-Y- FHN.8772
3-1-1978
Isolator-Elektrode verwendet werden.
Die kontaktlose Ladungsübertragung liefert eine gute Bildgleichmässigkeit und hat den Vorteil,
dass die Abnutzung der Matrize herabgesetzt wird, was vor allem bei Kupfermatrizen besonders günstig ist.
Der benötigte Spannungsunterschied zwischen Substrat und Musterelektrode wird dadurch erhalten,
dass eine flache Metallelektrode auf der anderen Seite des Substrats verwendet wird. Falls das
Ladungsbild auf einer dielektrischen Schicht angebracht wird, wird das Substrat zuvor ausserdem mit einer
leitenden organischen Schicht umhüllt.
Das Verfahren nach der Erfindung kann sehr gut bei Hybridtechniken verwendet werden. Durch das
Verfahren nach der Erfindung können aus Kupfer bestehende Leiter auf Glas und Keramik hergestellt
werden, was im Vergleich zu bisher mit Hilfe von Siebdrucktechniken hergestellten Gold-, Silberoder
Silber-Palladium-Leitern besonders vorteilhaft ist. Diese Vorteile sind im wesentlichen das Fehlen
von Wanderungserscheinungen bei Silber, der sehr niedrige Widerstand, die niedrigen Kosten und die
besonders gute Lötbarkeit.
Die Widerstände werden nach dieser Hybridtechnik mit Vorteil durch ein Siebdruckverfahren
angebracht. Dazu können die üblichen Pasten auf Metall-Metalloxid-Basis, wie Bleiruthenat, verwendet
werden. Diese Art von Widerständen hat einen viel
809844/0705
-F^ PHN.8772
3-1-1978 AO
281569a
grösseren Widerstandswertebereich als z.B. die aufgedampften
¥iderstände (Niekel-Chrom) oder die stromlos hergestellten Widerstände (Ni-P). Schaltungen
mit durch Siebdrucken angebrachten Kupferleitern und durch Siebdrucken angebrachten Widerständen können
nicht hergestellt werden, weil Kupferleiter nur in neutraler zu reduzierender Atmosphäre erhitzt werden
können, während beim Herstellen von Widerstandsmaterialien durch Siebdrucken in einer oxidierenden
Atmosphäre erhitzt werden muss. Für durch Siebdrucken angebrachte Kupferleiter war bisher nur die Kombination
mit Kohle^iwi der stände η auf Polymerbasis möglich. Diese
Widerstände weisen jedoch verschiedene grosse Nachteile auf, wie einen grossen Uebergangswiderstand zu den
Leitern, einen hohen Rauschpegel, einen grossen Tem— peraturkoeffizienten des Widerstandes und eine grosse
Feuchtigkeitsempfindlichkeit.
Nach einer Weiterbildung des erfindungsgemässen Verfahrens, bei der dieses Verfahren in eine Hybridtechnik
eingepasst wird, werden auf einem Substrat zunächst Widerstände durch Siebdrucken mit einer Paste hergestellt,
die eine Metallverbindung, ein glasartiges Bindemittel und ein durch Erhitzung entfernbares
organisches Bindemittel enthält, wonach das Substrat mit den durch Siebdrucken angebrachten Gebieten zur
Entfernung des organischen Bindemittels und zum Schmelzen des glasartigen Bindemittels an Luft erhitzt
wird, wonach ein Ladungsmuster gemäss den gewünschten
809844/07 OB
PHN. 8772 /{Λ 3-1-1978
Leitern elektrographisch angebracht wird, und das Ladungsmuster in Metallkeime umgewandelt wird, die
schliesslich durch stromlose Metallisierung zu Kupferbahnen verstärkt werden.
Um eine Kupferablagerung aus dem stromlosen
Verkupferungsbad auf den durch Siebdrucken angebrachten
Widerständen zu verhindern, müssen diese Widerstände ausserhalb der Kontaktpunkte mit den Leitern abgeschirmt
werden. Dies erfolgt vorzugsweise mittels niedrigschmelzenden Glases, das durch Siebdrucken auf elektrostatischem
oder elektrophoretischem Wege angebracht werden kann.
Zur Herstellung der Kupferbahnen ist das Anbringen einer Kombinationsschicht, die aus einer organischen
leitenden Schicht und einer organischen dielektrischen Schicht besteht, notwendig. Das Ladungsmuster
wird dann vorzugsweise mit Hilfe einer selektiven Sprühentladung über eine Maske erhalten.
Nach Aufbringen und Entwickeln des Keimbildes für das Leitermuster kann das Muster des Abschirmglases,
gleichfalls mit Hilfe einer Sprühentladung, hergestellt werden, wobei mit einer Dispersion der betreffenden
niedrigschmelzenden Glasteilchen in einem Lösungsmittel mit einer niedrigen spezifischen Leitfähigkeit
entwickelt wird. Die Erhitzung dieses Glases und des Keimbildmusters kann dann in einer einzigen
Bearbeitung stattfinden.
Auf ähnliche Weise können auch Mehrschichtenschaltungen
(sogenannte "Cross-overs") hergestellt
8098U/070B
PHN.8772 3-1-1978
werden. Nacheinander werden das Bodenleitermuster nach
dem erfindungsgemässen Verfahren, dann,z.B. durch
Siebdrucken, eine Glasschicht und schliesslich die obere Leiterschicht, wieder durch das erfindungsgemässe Verfahren,
hergestellt. Das "Cross-over"-Glas wird in einer inerten Atmosphäre (z.B. Stickstoff) erhitzt
und bildet dann eine ununterbrochene dichtgesinterte Schicht.
An Hand der beiliegenden Zeichnungen werden
nun Verfahren beschrieben, durch die ein elektrostatisches Bild auf einem Substrat erhalten werden kann.
A) (Fig. 1)
Ein Substrat (i) wird auf eine flache metallene Elektrode (2) aufgebracht, während in einem Abstand
von etwa 10 cm von dem Substrat eine punktförmige Elektrode (3) angebracht wird. In geringer Entfernung
von dem Substrat wird direkt oder mit Hilfe eines keramischen Abstandshalters (5) eine metallene Hilfselektrode
(k) , die aus einer Metallmaske besteht, angebracht, in der das abzulagernde Metallmuster durchgeätzt
ist. Venn das Substrat auf einer Seite mit einer organischen dielektrischen Hilfsschicht versehen
ist, wird diese Seite naturgemäss der Maske zugekehrt gehalten. Es werden in diesem Falle keine
Abstandshalter verwendet. Zwischen den Elektroden (2) und (3) wird während kurzer Zeit eine derart hohe
Spannung angelegt, dass cine Gasentladung auftritt (z.B. eine Spannung von -6 kV während 0,5 Sekunden).
809844/070B
-yr- PHN. S772
ή* 3-1-1978
Ein Substrat (1)j das von einer leitenden
organischen Hilfsschicht (6) umgeben ist, wird zwischen einer profilierten völlig metallenen Elektrode (2)
und einer flachen Gegenelektrode (3) angeordnet, wobei eine dielektrische organische Hilfsschicht
(h) der profilierten Elektrode (2) zugekehrt ist. Mit Hilfe eines Abstandshalters (5) oder durch Oberflächenrauhigkeit
der Hilfsschicht wird ein kleiner Luftspalt zwischen der piOfliierten Elektrode (2) und
der organischen Hilfsschicht (h) aufrechterhalten. Zwischen den beiden Elektroden wird eine kurze Zeit
lang eine hohe Spannung angelegt. Die optimale Spannung kann auf empirischem Wege dadurch bestimmt
werden, dass eine Reihe elektrostatischer Bilder entwickelt wird. Als Faustregel für die anzulegende
Spannung V kann für Alo0,-,-Substrate mit Hilfsschichten
a d j
angewandt werden:
-(4oo + 6 I1) y va(voit) >
- £400 + 6 (^+I2)J-
wobei I1 den Abstand (in Mikrometer) der hochliegenden
Teile der profilierten Elektrode von der organischen Hilfsschicht und 1» die Relieftiefe (in
Mikrometer) der profilierten Elektrode darstellt. Z.B. wird I1 = 50/um, lg = 50/um und V& = -1000 V
gewählt.
C) (Fig. 3). -
C) (Fig. 3). -
Ein Substrat (i), das völlig von einer leitenden organischen Hilfsschicht (2) umgeben ist,.wird
8098U/07Ö6
. 8772 A1L 3-1-1978
zwischen einer profilierten Elektrode (6, 7» 8) und
einer flachen Gegenelektrode (3) angeordnet, wobei eine dielektrische organische Hilfsschicht (4) über
einen Abstandshalter (5) der profilierten Elektrode zugekehrt ist. Die profitierte Elektrode besteht aus
einer metallenen Basisplatte (6), auf der über eine Haftschicht (7) ein Muster angebracht ist, das aus
einem entwickelten Photolack (8) besteht. Zwischen den beiden Elektroden wird kurzzeitig eine hohe
Spannung angelegt. Die optimale Spannung kann auf empirischem Wege dadurch bestimmt werden, dass eine
Reihe elektrostatischer Bilder entwickelt wird. Für profilierte Elektroden, die aus einer stählernen
Basisplatte bestehen, auf der eine 200 /um dicke photoempfindliche Schicht angebracht ist, in der
durch Belichten und Entwickeln ein Muster gebildet wird ("Nyloprint" von BASF), wird einige Sekunden lang
eine Spannung von -I5OO bis -2000 V angelegt.
D) (Fig. k)
Ein Substrat (1) wird'zwischen einer profilierten
Leiter-Isolator-Elektrode, die aus einer Isolatorplatte (2) aus Glas, Keramik oder Kunststoff
besteht, auf der sich auf einer Seite die Metallschicht (5) und auf der Substratseite eine Metallschicht.
(3) befindet, in der das gewünschte Muster ausgespart ist, und einer Gegenelektrode angeordnet.
Zwischen (h) und (5) wird eine Spannungsunterschied
von 1000 bis 3OOO V angelegt.
8098U/07US
PHN. 8772 3-1-1978
Beispiel 1.
Ein keramisches Al?0„-Substrat (i) ohne
Hilfsschichten wird nach dem Verfahren A dadurch mit
einem elektrostatischen Bild versehen, dass zwischen der punktförmigen Elektrode (3) und der Gegenelektrode
(2) 0,5 Sekunden lang eine Spannung von 6 kV angelegt wird.
Das elektrostatische Bild wird dadurch entwickelt, dass auf das Substrat ein flüssiger Entwickler
aufgebracht wird, der die folgende Nennzusammensetzung aufweist: 8OO ml/l Palladiumschwarz und 200 ml/l
Bleimetasilikatglasteilchen, dispergierfcin 10 Gew.°/o
Shell "ASA 3" + 0,2 Gew.°/o Polymethacrylat in "Shellsol TD"-Lösung. Der Widerstand des Entwicklers beträgt
etwa 0,5 · 10 0hm.cm. Nach 5 Sekunden dauerndem
Entwickeln wird mit "Shellsol TD" gespült und dann an Luft bei Zimmertemperatur getrocknet. Anschliessend
wird das Substrat 20 Minuten lang an Luft auf 800°C erhitzt und danach 2 bis h Stunden lang in einem stromlos
wirkenden Verkupferungsbad von 65 C angeordnet,
das die folgende Zusammensetzung aufweist:
7,5 g/l CuSO4.5H2O
14 g/l Natriumsalz der Aethylendiamintetraessigsäure
6 g/l NaOH
0,5 g/l "Carbowax ^000" (Polyoxyäthylen mit einem
0,5 g/l "Carbowax ^000" (Polyoxyäthylen mit einem
Molgewicht von etwa ^000) 25 ml/l Formaldehyd 35 °/o.
Es· wird ein schönes gleichmässiges und
8098U/0706
PHN. 8772
3-1-1978
haftendes Kupfermuster mit einer Dicke von 5 bis 10/um
auf dem Substrat erhalten. "Shellsol TD" ist ein Gemisch von Isoparaffinen mit 9 bis 12 Kohlenstoffatomen.
"ASA 3" ist ein Gemisch gleicher Teile von
"Ca-Aerosol" (die Ca-Seife des Didecylesters der Sulfobernsteinsäure), der Cr-Seifen eines Gemisches
von Alkylsalicylaten (c^-C-iq) und eines Copolymeren
von Methacrylat mit 2-Methyl-5-vinylpyridin.
Beispiel 2.
Durch Eintauchen in eine 5 gew.^ige Lösung
von "Calgon" Chemviron 261 LV (Polyvinylpyridinchlorid,
in einem Gemisch 1 : 1 Volumenteilen von Aethylakohol und Wasser) und anschliessende Trocknung wird ein
flaches keramisches Al„O„-Substrat auf zwei Seiten mit
einer ^ 1 /um dicken organisch leitenden Schicht mit
einem Oberflächenwiderstand von weniger als 10 Ohm
pro Quadrat versehen, wobei diese Schichten miteinander verbunden sind. Darauf wird aus einer 10bigen Lösung
von Polystyrol in Chlorbenzol auf einer Seite eine etwa 2/um dicke Polystyrolschicht mit einem Ober-
12 flächenwiderstand von mehr als 10 Ohm pro Quadrat
abgelagert. Das Substrat mit den Hilfsschichten wird
durch das Verfahren B (mit I1 = lo *= 50 /um und V =
1000 V) mit einem elektrostatischen Bild bedruckt, das dann 10 Sekunden lang mit einem flüssigen Entwickler
entwickelt wird, der die nachstehende Nennzusammensetzung
aufweist:
2 g/l Palladiumschwarz, in 10"-3 Gew.^ Shell "ASA 3"
dispergiert,
8098U/0705
-Vi^ PHN. 8772
Λ~ ■ 3-1-1978
ηψ
2815698
0,2 Gew.°/ο Polymethacrylat in' "Shellsol TD"-Lösung.
Nach Entwicklung wird mit "Shellsol" gespült und dann an Luft bei Zimmertemperatur getrocknet. Das Substrat
mit dem Palladiumbild wird sehr schnell auf 700 C
angeheizt und kurze Zeit (einige Minuten) auf dieser Temperatur gehalten, um das Polystyrol und das "Calgon"
zu entfernen. Nach Abkühlung auf Zimmertemperatur wird das-Substrat eine Stunde lang auf 1000 C erhitzt; die
Anheiz- und Abkühlungsgeschwindigkeiten betragen
dabei 300°c/Stunde. Das Substrat mit dem Palladiumbild
wird k Stunden lang in einem wässerigen stromlos wirkenden Verkupferungsbad von 55°C angeordnet. Die Zusammensetzung
des Bades ist gleich der nach Beispiel 1. Es wird ein schönes gut haftendes Kupfermuster erhalten.
Beispiel 3.
Beispiel 3.
Ein keramisches Alo0„-Substrat wird auf die
im Beispiel 2 beschriebene Weise auf zwei Seiten mit einer ^ 1 /um dicken "Calgon"-Schicht und auf einer
Seite mit Hilfe einer 10bigen Lösung von Polymethylmethacrylat
in Chlorbenzol mit einer 2/um dicken Polymethylmethacrylatschicht versehen. Das Substrat
mit den Hilfsschichten wird nach dem Verfahren C mit einer Printspannung von 600 V mit einem elektrostatischen
Bild bedruckt. Das elektrostatische Bild wird 5 Sekunden lang mit Hilfe eines flüssigen Entwicklers
entwickelt, der die nachstehende Nennzusammensetzung aufweist:
8098A4/07ÖB
PFN. Sγ?2 ' /fg 3-1-1978
λ Q Ί E O Qg
800 ml/l Palladiumschwarz und
200 mg/l Bleiboratglasteilclien mit einer Teilchengrösse
von \5ixxm, dispergiert ind 10
Gew.^ Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.c/o Poljiriethacrylat
in "Shellsol TD".
Nach Entwicklung wird mit "Shellsol TD" gespült und bei Zimmertemperatur an Luft getrocknet. Anschliessend
wird das Substat I5 Minuten lang an Luft auf 8OO C
erhitzt. Nach Abkühlung wird das Keimbild dadurch aktiviert, dass das Substrat eine halbe Minute lang in
einem Aktivatorbad angeordnet wird, das die nachstehende Zusammensetzung aufweist:
10 g SnCl2 und
10 ml konzentrierte Salzsäure pro Liter Wasser. Nach Aktivierung wird das Substrat in einem Ultraschallbad
gereinigt und dann k Stunden lang in dem gleichen stromlos wirkenden Verkupferungsbad wie im
Beispiel 1 angeordnet. Auch nach diesem Verfahren wird ein schönes sehr gut haftendes Kupfermuster mit
einer Dicke von 10/um auf dem Al„0„ erhalten. Das
Bleiboratglas weist folgende Zusammensetzung in Gew.'/
auf:
PbO 80
B2O3 16
ZnO k.
Beispiel h .
Beispiel h .
Ein keramisches Al„0,,-Substrat wird, wie im
Beispiel 2, auf zwei Seiten mit einer / 1 ,um dicken
8098U/07ÖB
PHN.«772
"Calgon"-Schicht und auf einer Seite mittels einer 10 ^igen Lösung von Polyäthylmethacrylat in Chlorbenzol
mit einer 2 /um dicken Polyäthylmethacrylatschicht versehen. Das Substrat mit den Hilfsschichten wird
nach dem Verfahren B (mit I1 = 25/um, 1_ = 25/um und
V = 800) mit einem elektrostatischen Bild bedruckt. Dieses elektrostatische Bild wird 10 Sekunden lang
mit Hilfe eines flüssigen Entwicklers entwickelt, der die folgende Neianzus ammens et zung aufweist:
800 mg/l Palladiumschwarz und
200 mg/l Calcium-, Barium-, Aluminium- und Boroxidglasteilchen mit einer Teilchengrösse von
^10 /tun, dispergiert in 10 Gew.°/o Shell
"ASA 3" und 0,2 Gew.0/ Polymethacrylat in
"Shellsoll TD".
Nach Entwicklung wird mit "SheIlsöl TD" gespült und
bei Zimmertemperatur an der Luft getrocknet. Dann wird das Substrat eine Stunde lang an der Luft auf 800°C
erhitzt und anschliessend in dem stromlos wirkenden Verkupferungsbad nach Beispiel 1 angeordnet. Es wird
wieder ein schönes gut haftendes Kupfermuster erhalten.
Die Zusammensetzung des Glaspulvers in Gew. 0Jo
ist folgende:
CaO 6,5
Al2O3 17,8
BaO 26,7
B20? 49,0.
8098U707ÖB
-yr- PHN. 8772
Ein Substrat in Form einer Diapositivglasplat te
vird auf die im Beispiel 2 beschriebene Weise auf zwei Seiten mit einer ^1 /utn dicken "Calgon"-Schi clit
und auf einer Seite mit einer 2/um dicken Polystyrolschicht
versehen. Das Substrat wird nach dem Verfahren B (mit 1 = 25 /um und 1 = 30/um mit Hilfe einer
Priiitspannung von 1000 V über dem Substrat und eines
Reihenwiderstandes von 10 MOhm) mit einem elektrostatischen Bild bedruckt. Dieses elektrostatische Bild
wird mit Hilfe eines flüssigen Entwicklers entwickelt, der die nachstehende Nennzusarnrnensetzung aufweist:
8OO mg/l Palladiumschwarz und
200 mg Bleiboratglasteilchen mit der Zusammensetzung
200 mg Bleiboratglasteilchen mit der Zusammensetzung
nach Beispiel 3 und einer Teilchengrösse von <[ 5 ,um dispergiert in 10"3 Gew.^ Shell "ASA 3"
und 0,2 Gew. 0J0 Polymethacrylat in "Shellsol TD".
Nach 10 Sekunden dauernder Entwicklung wird mit "Shellsol
TD" gespült und dann an der Luft bei Zimmertemperatur getrocknet. Danach wird das Substrat 10 Minuten
lang auf 750 C erhitzt und anscliliessend einige Stunden
lang in einem stromlos wirkenden Verkupferungsbad von 65 C angeordnet, das die nachstehende Zusammensetzung
aufweist:
75 c/l CuSOj4. 5H2O
lh g/l Nfitriumsalz der Aetliyleiidi amintetraessi β säure; , 6 g/l NaOII
75 c/l CuSOj4. 5H2O
lh g/l Nfitriumsalz der Aetliyleiidi amintetraessi β säure; , 6 g/l NaOII
0,5 g/l "Carbowax J(OOO" (Polyoxyäthylen mit einem
Molgewiclit von 'tOOO ) ,
809844/0705
PHN. 8772 3-1-1978
25 ml/l Formaldehyd 35 5ε.
Während der Kupferablagerung wird Luft durch das Kupferbad
hindurchgeleitet. Das Ergebnis ist ein schön gefärbtes gut haftendes Kupfermuster auf der Diapositivglasplatte
.
Beispiel 6.
Beispiel 6.
Auf der einige Mikrometer dicken SiO?-Haut
einer Siliciumscheibe wix'd nach dem Verfahren B ein elektrostatisches Bild (mit I1 = 25 /um, 1„ = 20/um und
einer angelegten Spannung von etwa 5OO V) angebracht.
Das Bild wird einige Sekunden lang mit Hilfe eines flüssigen Entwicklers entwickelt, der die folgende
Nennzusammensetzung aufweist:
800 mg/l Palladiumschwarz und
200 mg Bleiborat, dispergiert in 10 Gew.°/o Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.°/o Polymethacrylat in "Shellsol TD".
800 mg/l Palladiumschwarz und
200 mg Bleiborat, dispergiert in 10 Gew.°/o Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.°/o Polymethacrylat in "Shellsol TD".
Nach Spillen mit "Shellsol TD" und Trocknen an Luft bei Zimmertemperatur wird das Substrat 10 Minuten lang an
Luft auf 800 C erhitzt und danach in einem stromlos wirkenden Verkupferungsbad von 65 C mit der Zusammensetzung
nach Beispiel 1 angeordnet. Ein gut haftendes Kupferbild wird dann erhalten.
Ein vergleichbares Produkt wird erhalten, wenn auf der SiOp-Haut eine Polystyrolschicht angebracht
wird. Auch kann das elektrostatische Bild nach dem Verfahren C mit einer Printspannung von 6OO V
angebracht werden.
8098U/070B
HIN. 8772
nq 3-1-197*s
Beispiel 7«
Ein keramisches Al_Oo-Substrat wird, wie im
Beispiel 2, auf zwei Seiten mit einer ^ 1 /um dicken
"Calgon"-Schicht und auf einer Seite mit einer 3/um
dicken Polystyrolschicht versehen» Nach dem Verfahren
B wird dieses Substrat mit einem elektrostatischen Bild (mit I1^ L ^50/ura und V = 1 kV) bedruckt.
Das elektrostatische Bild wird zehn Sekunden lang mit
einem flüssigen Entwickler entwickelt, der die folgende Neimzusammensetzung aufweist:
3 g/l Zinnteilchen und
3 g/l Bleiboratglasteilchen, dispergiert in 10 Gew.% Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.°/c Polymethacrylat in "Shellsol TD".
3 g/l Zinnteilchen und
3 g/l Bleiboratglasteilchen, dispergiert in 10 Gew.% Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.°/c Polymethacrylat in "Shellsol TD".
Nach Entwicklung wird mit "Shellsol TD" gespült und bei Zimmertemperatur getrocknet, wonach das Substrat
5 Minuten lang auf800°C erhitzt wird. Nach Abkühlung wird das Bild durch Eintauchen in ein Bad aktiviert,
das 25O mg/l PdCl„ und h ml/l konzentrierte Salzsäure
enthält, dann mit eiitmineralis ierteni Wasser gespült und anschliessend in einem stromlos wirkenden Verkupferungsbad
von 65 C angebracht. Die Zusammensetzung des Verkupferungsbades ist gleich der nach Beispiel
1. Das Ergebnis ist äquivalent.
Nach einer Abwandlung dieses Verfahrens wird das Substrat mit Ladungsbild einige Stunden lang mit
einer Lösung von 1 g/l Palladiumschwarz in Kontakt gehalten, die ausserdem 10 Gew.i£ "ASA 3" und 0,2 Gew.fi
80984 A/0706
-2gr- PITN. il772
3-1-1978
Polymethacrylat in "Shellsol TI)" enthält. Nach Spülen
rait reinem "Shellsol TD" wird das Substat mit einer
Dispersion von 5 g/l Sn-Teilchen ^10/um und 5 g/l
Bleiborat teilchen nach Beispiel 3 mit einer Teilchengrösse
ζ, 5 /um in Kontakt gehalten. Nach Verkupferung
auf obenbeschriebene Weise wird ein Kupfermuster
ο mit einer Haftung von 3,1 +_ 1,5 kg/20 mm erhalten.
Wenn das Substrat mit dem Kupfermuster danach 10
Minuten lang in einer Stickst offatmosphäre mit ^10 ppm
Sauerstoff auf 85O0C erhitzt wird, tritt eine noch
weitere Haftungsverbesserung bis zu 7>2 ^ 1,5 kg/20
2
mm auf. Die Lötbarkeit ist in beiden Fällen besonders
mm auf. Die Lötbarkeit ist in beiden Fällen besonders
gut.
Beispiel 8.
Beispiel 8.
Auf einem Alp0„-Substrat, das Mit Hilfe von
Lösungen auf zwei Seiten mit einer "Calgon"-Schichi
mit einer Dicke von \ 1 /um und nxiT einer Seite mi t
einer PoJystyrolschicht mit einer Dicke von 3/um versehen
ist, wird nach dem Verfahren I) ein elektrostatisches Bild (mit I1^i. 1 ~L 50 ,um und V = 1 kV)
\ ei f a
angebracht, das 5 Sekunden lang mit einem flüssigen
Entwickler entwickelt wird, der die nächst eilende Neiuizusammensot
zung aiifwei st:
5 g/l Ouprooxidteilchen (Teilchengrösse durchschnittlich
20/um) und
5 g/l Bl t5 i borat t eilc.lien mit der Zusammensetzung nach
Beispiel 3 und einer Tei 1 chongrösse ζ^^,χιηι, disporgiert
in einer Lösung von 0,025 Gew.^o Olirom-
8098U/070E
PHN.S'772 3-1-1978
anthranilat der Formel
'COOH
'COOH
or.o^H
1 N - C - C17 - HQ_
i Ii 17 35
H O
in "Shellsol TD".
in "Shellsol TD".
Nach Entwicklung wird mit "Shellsol TD" gespült und an Luft bei Zimmertemperatur getrocknet. Das Substrat
wird 15 Minuten lang an Luft auf 700 C erhitzt und nach Abkühlung 20 Sekunden lang in einem Bad mit
250 mg/l PdCl2 und k ml/l konzentrierter Salzsäure
aktiviert, dann mit entmineralisiertem Wasser gespült und schliesslich mit Hilfe eines stromlos wirkenden
Verkupferungsbades von 65 C mit derselben Zusammensetzung
wie im Beispiel 1 metallisiert. Das Ergebnis ist ein schönes gut haftendes Kupfermuster.
Beispiel 9·
Ein keramisches Al20„-Substrat, das auf zwei
Seiten mit einer /1 ,um dicken "Calgon"-Schicht und
auf einer Seite mit einer 2 ,um.dicken Polymethylmethacrylatschicht
versehen ist, wird nach dem Verfahren A mit einem elektrostatischen Bild mit Hilfe einer Spannung
von 6 kV, die einige Sekunden lang angelegt wird, bedruckt. Das Bild wird mit einem flüssigen Entwickler
entwickelt, der aus 50 ml einer Dispersion in einer wässerigen Lösung von 10 Gew. c/o Shell "ASA 3" und
0,2 Ge-w.°/o Polymethacrylat, gelöst in "Shellsol TD",
besteht. Die wässerige Lösung weist die folgende
8 0 9 8 4 Λ / 0 7 0 S
PHN.8?γS
2$- 3-1-1978
Zusammensetzung auf: 600 mg PdCl2, 10 g SnCl2 und
10 ml konzentrierte Salzsäure pro Liter. Nach Trocknung wird das Substrat einige Minuten lang
auf 800°C erhitzt, dann nach Abkühlung mit entmineralisiertem Wasser gespült und anschliessend in einem
stromlos wirkenden Verkupferungsbad von 65 C mit
einer Zusammensetzung gleich der nach Beispiel 1 angeordnet.
Es wird ein Kupfermuster angemessener Güte erhalten.
Beispiel 10.
Beispiel 10.
Ein keramisches Al„O„-Substrat, das auf zwei
Seiten mit einer ^1 /um dicken "Calgon"—Schicht und
auf einer Seite mit einer 3/um dicken Polymethylmethacrylatschicht
versehen ist, wird durch das Verfahren C mit einem elektrostatischen Bild versehen?.
Dieses Bild wird mittels eines flüssigen Entwicklers mit derselben Zusammensetzung wie im Beispiel 1 entwickelt.
Nach Entwicklung wird mit "Shellsöl TD" gespült und an Luft bei Zimmertemperatur getrocknet.
Dieses Substrat wird dann 10 Minuten lang an Luft auf 800 C erhitzt, nach Abkühlung mit entmineralisiertem
Wasser gespült, durch 1 Minute dauerndes Eintauchen in ein Aktivatorbad mit 10 g SnCl2 und 10 ml konzentrierter
Salzsäure in 1 Liter Wasser aktiviert und danach einige Stunden lang in einem stromlos wirkenden
809844/070B
PHN. 877-3-1-19/8
Verkupferungsbad von 80 C mit der Zusammensetzung
3,75 g/l CuSO^.5H2O
7 g/l Tetranatriumsalz der Aethylendiamintetraessigsäure
und
50 1: ml/l Formaldehyd 35 °/° in einem Gemisch von Wasser
und Aethanol in einem Volumenverhältnis von 60 : ^O angeordnet.
Das Ergebnis ist wieder ein schönes gut haftendes Kupferbild auf dem AlpO„-Substrat.
Beispiel 11.
Ein keramisches Al„O„-Substrat, das auf zwei
Seiten mit einer /1 /um dicken "Calgon"-Schicht und
auf einer Seite mit einer 3/um dicken Polymethylmethacrylatschicht
versehen ist, wird nach dem Verfahren A mit einem elektrostatischen Bild bedruckt. Unter
kräftigem Rühren wird das Bild 5 Minuten lang mit einem flüssigen Entwickler entwickelt, der die nachstehende
Zusammensetzung aufweist: 1 g/l Palladiumschwarz und
0,5 g/l Bleiboratglas der Zusammensetzung nach Beispiel 3 und mit einer Teilchengrösse von ^ 5,/um,
dispergiert in einem Gemisch von Isopropanol und "Shellsol TD" mit einem Volumenverhältnis
von 1:6.
Die Leitfähigkeit des Entwicklers beträgt etwa
0,6 χ 10 0hm cm . Nach Spülen mit Isopropanol· und Trocknen an Luft wird das Substrat 20 Minuten lang an
Luft auf 800 C erhitzt, nach Abkühlung mit entminera-
8098U/07ÖS
PHN. 8? 72 3-1-1978
978
lisiertem Wasser gespült und· schliesslich einige Stunden
lang in einem stromlos wirkenden Verkupferungsbad mit einer Zusammensetzung nach. Beispiel 1 angeordnet.
Das Ergebnis ist ein Kupfermuster auf dem Al20„-Substrat einer zwar etwas geringeren Güte, die
jedoch für die Praxis noch genügend ist. Beispiel 12.
Eine Magnesiumplatte wird in einem Elektrolyten
der pro Liter 2^0 g Ammoniumbifluorid (NHkHF2), 100 g
Natriumbichromat (Na2Cr2O-.2H_0) und 90 ml 85 c/o±ge
Orthophosphorsäure enthält anodisch mit einer 20/um dicken Oxidschicht versehen. Die Badtemperatur beträgt
80 C, die Badspannung 90 V Wechselspannung während 25
Minuten und die Stromdichte 0,5 - 5 A/dm . Dann wird die Platte durch Eintauchen in eine 5 bis 10
Lösung von Polystyrol in Toluol oder Xylol mit einer Polystyrolschicht versehen. Es wird auf der Oxidschicht
ein Ladungsbild nach dem Verfahren A mit einer Metallmaske über eine Sprühentladung aufgebracht. Das Keimbild
wird mit einer 1 g/l-Lösung von Palladiumschwarz
in "Shellsol TD" erzeugt, die ausserdem 10 Gew.%
Shell "ASA 3" und 0,2 Gew.°/o Polymethacrylat enthält.
Nach Erzeugung des Keimbildes wird das Substrat in 20 Minuten auf 1OO°C erhitzt. Mit Hilfe des stromlosen
Verkupferungsbades nach Beispiel 1 wird ein 5 bis 10 /um
dickes Kupfermuster mit guter Haftung erhalten. Beispiel 13.
Ein keramisches Substrat wird durch Siebdimcken
8098U/070S
-29Γ- PHN. 8772
3-1-1978
mit Pb-Ruthenatviderständen versehen. Dazu wird die käuflich erhältliche Paste "Dupont 1351" mit glasartigem
Bindemittel verwendet. Auf dem Substrat werden dann auf die im Beispiel h beschriebene Weise eine
"Calgon"-Schicht und eine Polyäthylmethacrylatschicht
über den eine Stunde lang auf 85O C erhitzten Widerständen
angebracht. Mit einer Metallmaske wird nach demrVerfahren A ein Ladungsbild nach dem Muster der
gewünschten Leiter einer Schaltung aufgebracht. Das Ladungsbild wird mit der Pd-Sn-Boratdispersion in ein
Keimbild umgewandelt, wie es in der Abwandlung im Beispiel 7 beschrieben ist. Dann wird getrocknet.
Zur Bildung einer Abschirmung auf den ¥iderständen wird darauf zunächst ein Ladungsbild erzeugt und dieses
Bild wird dann mit einer Dispersion eines Glases entwickelt, das folge Zusammensetzung in Gew.°fo aufweist:
PbO 71,7
- B2°3 5'°
SiO2 21,0 .
Al2O3 2,3-
Dann wird das Ganze eine Minute lang auf 65O C erhitzt.
Bei Entwicklung mit einem stromlosen Bad nach Beispiel 1 werden haftende Kupferbahnen gebildet,
während auf den Widerständen, ausgenommen auf den Kontaktpunkten,kein Kupfer abgelagert wird.
Die Glasschicht auf den WiderStandskörpern
kann auch elektrophoretisch oder durch ein Siebdruckverfahren aufgebracht werden. Der Widerstandswert und
809 8 U/OTÖS
3-1-1978
der Temperaturkoeffizient des Widerstandes bXexben
durch die Wärmebehandlung unverändert. Der Kontaktwiderstand zwischen Leiter und Widerstand ist vernachlässigbar.
Beispiel 14.
Beispiel 14.
Auf einer Glasplatte wird auf die in der Abwandlung im Beispiel 7 beschriebene Weise ein Keimbild
erzeugt. Dieses Bild wird dann in einer auf 90 C erhitzten Lösung, die pro Liter enthält
30 g Nickelchlorid (NiCl2-OH θ)
30 g Glycin
30 g Glycin
10 g Natriumhypophosphit
stromlos mit einer 5>um dicken Ni-P-Schicht versehen.
Diese Schicht wird danach in einem üblichen galvanischen Vernickelungsbad mit 15/um Ni verstärkt. Das erhaltene
Nickelmuster weist eine gute Haftung an dem Glas auf.
8 09 8 A A/0705
, ~30:
Leerseite
Claims (1)
- PHN.8772 3-1-1978PATENTANSPRÜCHE:My Verfahren zur additiven Herstellung eines Verdrahtungsinus ter s , bei dem ein elektrostatisches Ladungsbild elektrographisch auf einem Substrat angebracht wird, das Ladungsbild durch Kontakt mit einer Suspension, die ein Metall oder eine Metallverbindung enthält, in ein Metallkeimbild umgewandelt wird und das Metallkeimbild mit Hilfe eines stromlosen Metallisierungsbades in ein elektrisch leitendes Metallbild umgewandelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass unter Verwendung oxidischen Substratmaterials das Keimbild dadurch erzeugt wird, dass das Substrat mit dem Ladungsbild mit einer Suspension eines Metalls oder einer Metallverbindung in einem Dispergiermittel, das einen spezifischen Widerstand von mehr als10 Ohm.cm aufweist, in Berührung gebracht wird, wonach das Ganze auf eine Temperatur von mindestens 100 C erhitzt wird, bis das Keimbild mit dem Substrat verbunden ist.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass unter Verwendung glasartigen oder keramischen Substratmaterials das Ganze nach Erzeugung des Keimbildes auf eine Temperatur von mindestens kOO C erhitzt wird.3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Suspension neben dem Metall oder einer Metallverbindung auch ein pulverisiertes glasbildendes Bindemittel enthält und das Substrat,8098U/0706PHN.8772 ο 3-1-1978nachdem es mit der Suspension in Berührung gewesen ist, auf eine Temperatur oberhalb der Erweichungstemperatur des glasbildenden Bindemittels erhitzt wird, bis es mit dem Substrat verbunden ist. h. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Ladungsbild zunächst mit einer Suspension von Palladiumschwarz und dann, nach zwischenzeitlichem Spülen, mit einer Suspension von Zinnpulver und Glaspulver in Berührung gebracht wird. 5· Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Ladung auf eine durch Erhitzung entfernbare Kombinationsschicht aufgebracht wird, die aus einer organischen elektrisch leitenden Schicht auf der oxidischen Oberfläche und einer organischen dielektrischen Schicht auf dieser Schicht besteht.6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5> dadurch gekennzeichnet, dass das oxidische Substrat aus einer durch anodische Oxidation eines Metalls erhaltenen Oxidschicht, insbesondere einer Oxidschicht aus anodisch oxidierten Magnesium, besteht. 7· Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Keimbild nach der Erhitzung reaktiviert wird.8. Verfahren zur Herstellung von Hybridschaltunken, bei dem das Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7 mit einem an sich bekannten Dickfilmverfahren zur Herstellung von Widerständen und/oder unter Bildung8098U/07Ö6ΓΗΪ». .β??2 3-1-1978isolierender Glasschichten für Mehrschichtenschaltungeii kombiniert wird.9. Oxidisches Substratmaterial, das mit einem Verdrahtungsmuster mit gegebenenfalls darauf integrierten Widerständen versehen ist, das durch ein Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche erhalten ist.80984/*/070B
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7704238A NL7704238A (nl) | 1977-04-19 | 1977-04-19 | Werkwijze voor het additief vervaardigen van bedradingspatronen. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2815696A1 true DE2815696A1 (de) | 1978-11-02 |
Family
ID=19828387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782815696 Withdrawn DE2815696A1 (de) | 1977-04-19 | 1978-04-12 | Verfahren zur additiven herstellung von verdrahtungsmustern |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS53129867A (de) |
DE (1) | DE2815696A1 (de) |
FR (1) | FR2388459A1 (de) |
GB (1) | GB1596493A (de) |
NL (1) | NL7704238A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1980002222A1 (en) * | 1979-04-11 | 1980-10-16 | Neselco As | A method for drysensitization of an insulating surface and a powder for use with the method |
DE3134507A1 (de) * | 1981-09-01 | 1983-03-17 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | "verfahren zur selektiven chemischen metallabscheidung" |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4524510A (en) * | 1982-12-07 | 1985-06-25 | Thomas & Betts Corporation | Method of making wire terminations |
DE3337790A1 (de) * | 1983-10-18 | 1985-04-25 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur chemischen metallisierung |
-
1977
- 1977-04-19 NL NL7704238A patent/NL7704238A/xx not_active Application Discontinuation
-
1978
- 1978-04-12 DE DE19782815696 patent/DE2815696A1/de not_active Withdrawn
- 1978-04-14 GB GB14736/78A patent/GB1596493A/en not_active Expired
- 1978-04-18 FR FR7811322A patent/FR2388459A1/fr active Granted
- 1978-04-19 JP JP4643378A patent/JPS53129867A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1980002222A1 (en) * | 1979-04-11 | 1980-10-16 | Neselco As | A method for drysensitization of an insulating surface and a powder for use with the method |
DK153337B (da) * | 1979-04-11 | 1988-07-04 | Neselco As | Fremgangsmaade til toer sensibilisering af en isolerende overflade |
DE3134507A1 (de) * | 1981-09-01 | 1983-03-17 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | "verfahren zur selektiven chemischen metallabscheidung" |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53129867A (en) | 1978-11-13 |
NL7704238A (nl) | 1978-10-23 |
GB1596493A (en) | 1981-08-26 |
FR2388459B1 (de) | 1984-06-08 |
FR2388459A1 (fr) | 1978-11-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69735406T2 (de) | Glasschaltungssubstrat und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE2554691C2 (de) | Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiter auf einem isolierenden Substrat und danach hergestellte Dünnschichtschaltung | |
DE3421989A1 (de) | Verfahren zum metallisieren von keramischen oberflaechen | |
DE2159612A1 (de) | Verfahren zum stromlosen Metall plattieren nichtleitender Korper | |
DE1925760A1 (de) | Verfahren zum Herstellen gemusterter Metall-Duennfilme | |
DE1765164A1 (de) | Verfahren zur Bindung von Stromleitern | |
DE2541868A1 (de) | Verfahren zur abscheidung von metall auf der oberflaeche eines nichtleitenden substrats | |
DE2847821C2 (de) | Substrat für eine gedruckte Schaltung mit einer Widerstandsbeschichtung und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE3036049C2 (de) | ||
EP0083458A1 (de) | Verfahren zur selektiven Metallisierung elektrisch leitender, nichtmetallischer Muster | |
DE3605160A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines hybrid-integrierten schaltungssubstrats | |
DE2815696A1 (de) | Verfahren zur additiven herstellung von verdrahtungsmustern | |
DE60128303T2 (de) | Heizelement auf einem aluminiumsubstrat für haushaltsgeräte | |
DE2700868B2 (de) | Verfahren zur Herstellung von gedruckten Schaltungsplatten mit Schichtwiderständen und Leiterzügen | |
DE19501693A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von elektronischen Bauelementen und mit diesem Verfahren hergestelltes elektronisches Bauelement | |
DE2924745A1 (de) | Additives verfahren zur herstellung von metallmustern auf kunststoffsubstraten | |
DE19780905C2 (de) | Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE3710190C2 (de) | ||
DE69721879T2 (de) | Dielektrisches Filter und Verfahren zu dessen Herstellung | |
EP0802266B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von induktiv arbeitenden Zählsystemen | |
DE2310736A1 (de) | Verfahren zum ausbessern defekter metallmuster | |
DE2643424C3 (de) | Verfahren zur stromlosen Vernickelung von nichtleitenden Werkstoffen | |
DE722287C (de) | Elektrischer Kondensator | |
DE19716356A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von monolithischen elektronischen Teilen | |
DE3048665C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |