DE2815478C2 - Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung - Google Patents
Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur MaterialbearbeitungInfo
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/09—Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein technisches Ladungsträgerstrahlgerät gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Bei dem technischen Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung, wie zum Schweißen, Bohren,
Fräsen, Härten u. a. m. ist es meistens erwünscht, den Ladungsträgerstrahl, gewöhnlich ein Elektronenstrahl,
möglichst scharf, d. h. auf einen möglichst kleinen Flächenbereich zu fokussieren.
Ein bekanntes technisches Ladungsträgersirahlgerät der eingangs genannten Art (DE-OS 26 27 632) enthält
eine Ladungsträgerquelle, die aus einer Kathode, einem
Wehnelt-Zylinder und einer Beschleunigungselektrodc besteht und einen Ladungsträgerstrahl liefert, der einen
nahe den Elektroden der Ladungsträgerquelle gelegenen Bereich geringsten Strahlquerschnittes aufweist.
Dieser erste Bereich geringsten Strahlquerschnittes wird durch eine erste Linse in einen zweiten Bereich
geringsten Strahlquerschnittes (»Zwischenfokus«) abgebildet und das von diesem Zwischenfokus dann
wieder divergierende Teilchenstrahlbündel wird durch eine zweite oder Hauptlinse in einen Hauptfokus in oder
bei einer Bearbeitungszone einer Werkstückanordnung fokussiert. Dabei ist zwischen dem Zwischenfokus und
der zweiten Linse eine Strahlblende angeordnet, die dort den Bündelquerschnitt begrenzt und die Abbildungsfehler
verringert, so daß sich ein schärferer Hauptfokus ergibt. Bei einem solchen Abbildungssystem
ist es auch bereits bekannt, am Ort des Zwischenfokus die Strahlblende anzuordnen. Aus der o. g. DE-OS ist i:s
auch bekannt, zwischen einer den engsten Strahlquerschnitt in einen Zwischenfokus abbildenden Linse und
dem Zwischenfokus eine Blende anzuordnen, die von einer in Strahlrichtung nachfolgenden Linse auf ein
Werkstück abgebildet wird.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Abbildungseigenschaften eines Ladungsträgerstrahigeräts
dieser Art weiter zu verbessern, so daß sich ein noch schärferer Hauptfokus ergibt, d. h. die
Energie des Ladungsträgerstrahl soll in einen scharf begrenzten Bereich fokussiert werden, der kleiner ist als
es mit den bekannten Ladungsträgerstrahlgeräten möglich ist.
Diese Aufgabe wird bei einem technischen Ladungsträgerstrahlgerät der eingangs genannten Art erfindungsgemäß
durch die Merkmale des kennzeichnenden Teiles des Patentanspruches 1 gelöst.
Die Unteransprüche betreffen Weiterbildungen und vorteilhafte Ausgestaltungen eines solchen Ladungsträgerstrahlgeräts.
Dadurch, daß die den Strahlquerschnitt begrenzende Blende zwischen dem Zwischenfokus und der von der
Strahlquelle aus gesehen ersten Linse angeordnet wird, gibt sich überraschenderweise ein für viele Zwecke,
insbesondere für das Ladungsträgerstrahlschweißen optimaler Fokus mit maximaler Spitzenstromdichte und
kleinster Ausdehnung oder Apertur des das Stromdichtemaximum bildenden Strahlanteils.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel des Ladungsträgerstrahlgeräts gemäß der Erfindung unter
Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. I eine schematische Darstellung des Ausführungsbeispiels des Ladungsträgerstrahlgeräts gemäß
der Erfindung und
F i g. 2 graphische Darstellungen der Stromverteilung in verschiedenen Strahlquerschnitten längs der Strahlachse.
Das in F i g. 1 als Ausführungsbeispiel der Erfindung
schematisch dargestellte Elektror;enstrahlgerät enthält
eine konventionelle Strahlquelle 10 mit einer Glühkathode 12, einem Wehnelt-Zylinder 14 und einer Anode
15. Die Bahnen der von der Strahlquelle emittierten Elektronen überkreuzen sich in der Nähe der Anode 15
und bilden dort einen ersten Bereich 12 kleinsten Strahlquerschnittes. Dieser erste Bereich 12 kleinsten
Strahlqucrschnittes wird durch eine erste elektronenoptische Linse, z. B. eine magnetische Einzellinse 16, die
nur schematisch angedeutet ist, in einen zweiten Bereich kleinsten Strahlquerschnittes fokussiert, der als Zwischenfokus
18 bezeichnet werden soll. Der Zwischenfokus 18 wird durch eine zweite elektronenoptische Linse,
z. B. wieder eine magnetische Einzellinse 20 in einen Hauptfokus 22 fokussiert, der sich in üblicher Weise in
einer Bearbeitungszone einer Werkstückanordnung 24 befindet. Das Elektronenstrahlgerät und der Elektronenstrahl
sind im wesentlichen rotationssymmetrisch bezüglich einer Systemachse 26.
F i g. 2 zeigt die Stromdichteverteilung des Elektronenstrahls in verschiedenen senkrecht zur Systemachse
26 verlaufenden Strahlquerschnitten, deren Lage in F i g. 1 angegeben ist. Wie ersichtlich, hat die Stromdichteverteilung
im Zwischenfokus 18 eine annähernd gaußförmige Gestalt und wird mit zunehmendem
Abstand vom Zwischenfokus 18 in Richtung auf die Hilfslinse 16 immer spitzer. In einer Ebene 28 hat die
Stromdichteverteilung (F i g. 2a) ein ausgeprägtes, spitzes Stromdichtemaximum 30 sowie einen relativ breiten
Fuß 32 relativ geringer Stromdichte. Beim weiteren Fortschreiten in Richtung auf die Hilfslinse 16 wird das
Maximum 30 dann wieder niedriger, wobei die Breite des Fußes 32 kleiner wird.
In oder in der Nähe der Ebene 28, in-der die
Stromdichteverteilung das spitze, hohe Maximum 30 und den niedrigen Fuß 32 hat, wird eine Zwischenblende
34 angeordnet, die, wie durch gestrichelte Linien in F i g. 2a angedeu:et ist, die den flachen Fuß 32 bildenden
Elektronenstrahlen abfängt und nur die das hohe, spitze id
Maximum 30 bildenden Elektronen durchläßt. Durch entsprechende Einstellung der Hauptlinse 20 läßt sich
dann ein sehr kleiner Hauptfokus 22 erzeugen, indem eine sehr hohe Stromdichte herrscht.
Die Zwischenblende 34 ist vorzugsweise wasserge- π
kühlt. Sie wird im allgemeinen so bemessen werden, daß sie etwa 5 bis 10%, maximal 20% der Strahlleistung
abfängt.
Der axiale Abstand zwischen dem Zwischenfokus 18 und der Ebene 28, in dem der Querschnitt des
Eiekironeiiiltahibündeis durch die Blende 34 begrenzt
wird, beträgt mindestens 10%, z. B. etwa 20% des Abstandes zwischen der (bildseitigen Hauptebene der)
Linse 16 und dem Zwischenfokus 18. Ein Abstand von 50 mm zwischen dem Zwischenfokus 18 und der Ebene
28 bei einem Abstand von 250 mm zwischen der Linse 16 und dem Zwischenfokus 18 hat sich beispielsweise in
der Praxis bewährt. Im übrigen kann das System gemäß F i g. 1 etwa folgende Abmessung haben:
Abstand zwischen Anode 15 und erster Linse 16: 200 mm
Abstand zwischen erster Linse 16 und zweiter Linse 20:400 mm
: Abstand zwischen zweiter Linse 20 und Hauptfokus
22:500 mm.
Bei einem solchen System kann die im Abstand von etwa 50 mm vor dem Zwischenfokus 18 angeordnete
Blende 34 einen Durchmesser von etwa 2 mm haben. Der Strahl muß gut bezüglich der Blende 34 fokussiert
sein, um übermäßige Strahlverluste und eine zu starke Erhitzung sowie gegebenenfalls eine Zerstörcing der
Blende 34 zu verhindern. Die Blende 34 kann zu diesem Zweck verstellbar angeordnet und mit einer Anordnung
zum Messen des von ihr aufgenommenen Strahlstromes versehen sein. Anstelle einer Verstellvorrichtung für die
Blende 34 kann auch vor der Blende 34 eine Strahlablenkanordnung vorgesehen sein.
Die Anordnung zum Messen des auf die Blende 34 fallenden Strahlstromes kann zwe1 Paare einander
diametral gegenüberliegender Elektroden enthalten, die
jeweils mit einer z. B. einen Differenzverstärker enthaltenden Schaltungsanordnung zum Erzeugen einer
Regelspannung gekoppelt sind. Die Strahlablenkanordnung kann durch diese Regelspannungen dann automatisch
so gesteuert werden, daß der von der Blende 34 aufgenommene Strahlstrom ein Minimum annimmt.
Die Blende 34 kann auch in Richtung der Achse 26 verstellbar gehaltert sein.
Hierzu 1 BIaH Zeichnungen
Claims (5)
1. Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung mit einer L&dungsträgerqueile,
einer ersten teilchenoptischen Linse, die die von der Ladungsträgerquelle ausgehenden Ladungsträger in
einen Zwischenfokus, in dem der effektive Strahlquerschnitt ein Minimum hat, fokussiert, einer
zweiten teilchenoptischen Linse, die den vom Zwischenfokus wieder divergierenden Ladungsträgerstrahl
in eine Bearbeitungszone einer Werkstückanordnung fokussiert, bei dem eine den Strahlquerschnitt begrenzende Blende vorgesehen
ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (34) zwischen der ersten Linse (16) und dem
Zwischenfokus (18) angeordnet ist und daß der Abstand der Blende (34) vom Zwischenfokus (18)
mindestens 10% des Abstandes zwischec dem Zwischeaiokus (18) und der ersten Linse (16) ist.
2. Lao-ingsträgerstrahlgerät nach Anspruch 1.
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand mindestens 20% beträgt.
3. Ladungsträgerstrahlgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (34)
mit einer Kühlvorrichtung versehen ist.
4. Ladungsträgerstrahlgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Verstelleinrichtung zum Zentrieren der Blende (34) bezüglich des Ladungsträgerstrahls
vorgesehen ist.
5. Ladungsträgerstrahlgerät nach Anspruch 4, dadurch -gekennZeiciinei, Guß die Verstellvorrichtung
in Abhängigkeit von dem auf die Blende (34) fallenden Strom derart geregei. ist, daß dieser Strom
einen möglichst geringen Wert annimmt. r,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782815478 DE2815478C2 (de) | 1978-04-10 | 1978-04-10 | Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782815478 DE2815478C2 (de) | 1978-04-10 | 1978-04-10 | Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2815478A1 DE2815478A1 (de) | 1979-10-18 |
DE2815478C2 true DE2815478C2 (de) | 1984-03-15 |
Family
ID=6036626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782815478 Expired DE2815478C2 (de) | 1978-04-10 | 1978-04-10 | Technisches Ladungsträgerstrahlgerät zur Materialbearbeitung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2815478C2 (de) |
Cited By (2)
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DE3938221A1 (de) * | 1989-11-17 | 1991-05-23 | Messer Griesheim Gmbh | Verfahren zum schutz einer blende beim erzeugen von elektronenstrahlimpulsen |
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1978
- 1978-04-10 DE DE19782815478 patent/DE2815478C2/de not_active Expired
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2815478A1 (de) | 1979-10-18 |
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