DE2813918A1 - Leucht-halbleiter-bauelement - Google Patents

Leucht-halbleiter-bauelement

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Description

1. Revaz Alexandrovich Charmakadze Tbilisi, prospekt Vazha Pshavela, 6 kvartal, korpus 24, kv. 22 UdSSR
2. Rafael Iraklievich Chikovani Tbilisi, prospekt Vazha Pshavela, 51, korpus 8, kv. 1 UdSSR
Leucht-Halbleiter-Bauelement
Die Erfindung bezieht sich auf ein Leucht-Halbleiter-Bauelement .
Die Erfindung kann in Leucht-Halbleiterinjektions-Bauelementen, Anzeigegeräten, Matrizen, im Farbfernsehen sowie in Steuerschaltungen mit Dauer- oder Impulsbetrieb verwendet werden.
Es ist ein Leucht-Planar-Halbleiter-Bauelement (zum Bau von Leucht-Dioden) bekannt (vgl. z. B. US-PS 3 849 vom 19. 11. 1974), bei dem auf ein p-(leitendes)Siliziumsubstrat mittels Hochfrequenz-Zerstäubung eine isolierende polykristalline Schicht aus Galliumnitrid GaN aufgetragen ist und mit dieser eine Transparentschicht aus Indiumoxid kontaktiert.
Bei einer elektrischen Feldstärke E = 10 V/cm und einer Speisespannung U = 10 - 30 V findet in der Gallium-
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nitrid-Schicht eine Rekombination von injizierten Ladungsträgern statt, die eine blaßblaue Strahlung hervorruft, deren kritische Wellenlänge 0,48 .um beträgt.
Nachteilig beim bekannten Bauelement ist die hohe
"7
elektrische Feldstärke, die der ca. 10 V/cm betragenden Durchschlags-Peldstärke nahekommt und durch den Rekombinationsmechanismus von entgegengesetzten ungleichnamigen Ladungen in das Galliumnitrid bedingt ist, deren Quellen das Substrat und der Metallkontakt sind.
Darüber hinaus zeigt das bekannte Bauelement nur ein schwaches Leuchten, das bei Tageslicht bei einer genügend hohen Speisespannung (10 - 30 V) unsichtbar ist, was das Anwendungsgebiet dieses Bauelements einengt. Beim bekannten Bauelement ist es infolge der Absorption der Strahlungsenergie im Siliziumsubstrat erforderlich, einen komplizierten transparenten Kontakt zu schaffen, was wiederum die Herstellungstechnologie für Geräte auf der Grundlage dieses bekannten Bauelements kompliziert.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Leucht-Halbleiter-Bauelement mit breiten Anwendungsmöglichkeiten zu schaffen, das ein violettabschattiertes Leuchten zeigt, das in hell beleuchteten Räumen sichtbar ist und bei einer Speisespannung von weniger als 8 V durch Änderung der Art des Ladungsxnjektionsmechanismus im Bauelement auftritt.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgemäß durch die Lehre nach dem Kennzeichen des Patentanspruchs
Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
Das erfindungsgemäße Leucht-Halbleiter-Bauelement zeichnet sich durch helle Strahlung in einem Wellenlängen-
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bereich von 0,43 - 0,48 .um (430 - 480 nm) sowie durch Einfachheit in Aufbau und Herstellung aus.
Anhand der Zeichnung wird das erfindungsgemäße Leucht-Halbleiter-Bauelement beispielsweise näher erläutert.
Das Leucht-Halbleiter-Bauelement enthält ein Substrat aus Saphir, auf das eine Epitaxie-Halbleiter-Schicht 2 aus einkristallinem n-Galliumnitrid GaN aufgebracht ist. Auf die Schicht 2 ist eine Halbleiter-Schicht 3 aus p-Aluminiumnitrid AlN aufgetragen, die mit der Schicht 2 einen Injektionsheteroübergang 4 bildet. Auf der Schicht 3 ist eine metallische Elektrode 5 aus Aluminium und auf der Schicht 2 eine andere Elektrode 6 aus Indium aufgebracht.
Die Schicht 2 wird auf dem Substrat 1 durch epitaxiales Aufwachsen aus einer Gasphase einkristallinen Galliumnitrids und die Schicht 3 auf der Galliumnitrid-Schicht durch Plasmatechnologie hergestellt.
Die Schicht 2 bzw. 3 kann man halbisolierend ausbilden, was es gestattet, die fertigungstechnischen Möglichkeiten für die Herstellung des Bauelements zu erweitern.
Bei Zufuhr eines Durchlaßvorstroms (Anlegen einer Vorspannung) zu den Elektroden 5 und 6 erfolgt eine Ladungsträgerinjektion in das Galliumnitrid wegen des Injektionsheteroüberganges 4 zwischen der Galliumnitrid-Schicht 3 und der Aluminiumnitrid-Schicht 4 sowie wegen Rekombination von Ladungsträgern in der Schicht 2. Die Strahlung wird über das Substrat 1 sowie aus der Aluminiumnitrid-Schicht 3» die als optisches Fenster dient, herausgeführt.
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Das erfindungsgemäße Leueht-Halbleiter-Bauelement zeichnet sich aus durch eine wirksame Injektion von Ladungsträgern bei kleiner elektrischer Feldstärke von nicht mehr als 1,5 · 10 V/cm sowie eine sehr homogene Strahlung über die gesamte Oberfläche des Bauelements bei Vorspannungen von 2,5 - 8 V.
Zur vollständigen Erläuterung der Erfindung werden nachstehende Ausführungsbeispiele des Leucht-Halbleiter-Bauelements angegeben.
Beispiel 1
Das Bauelement enthält folgende Bestandteile:
a) Substrat aus Saphir (Dt-Al2O-,) mit Orientierung {pooij, das mechanisch bis auf die 14. Genauigkeitsklasse bearbeitet und dann in einem Wasserstoffstrom bei einer Temperatur von 1500 bis 1700 0C behandelt worden ist;
b) Epitaxie-Halbleiterschicht aus einkristallinem n-Galliumnitrid mit einer Ladungsträgerkonzentration von ca. 4 · 10 " cm"', einer Orientierung [oOOlJ und einer Dicke von 18 ,um;
e) 0,1 ,um starke Halbleiterschicht aus p-Aluminiumnitrid;
d) erste Elektrode mit einem Durchmesser von 0,3 mm, hergestellt durch Aufdampfen von Aluminium auf die Aluminiumnitrid-Schicht ;
e) zweite Elektrode, hergestellt durch Schmelzen von Indium auf die Galliumnitrid-Schicht.
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Bei Anlegen einer in Durchlaßrichtung gepolten Spannung von 5 bis 8 V an den Elektroden wird eine Strahlung an der Seite des Saphir-Substrats beobachtet. Die Strahlungsenergie im Maximum der Spektralbande beträgt ca. 2,82 eV (T = 300 0K).
Beispiel 2
Das Bauelement enthält folgende Bestandteile:
a) Substrat aus Saphir (oc -Al0O,) mit Orientierung [0001 j ;
b) 8 ,um starke Epitaxie-Schicht aus n-Galliumnitrid iner Ladungsträgerkonzentrai
und einer Orientierung 'OOOIJ ;
IQ mit einer Ladungsträgerkonzentration von ca. 4 · 10 cm
c) 0,03 /Um starke Halbleiterschicht aus p-Aluminiumnitrid;
d) erste Elektrode mit einem Durchmesser von 0,3 /Um, hergestellt durch Aufdampfen von Aluminium auf die Aluminiumnitrid-Schicht ;
e) zweite Elektrode, hergestellt durch Schmelzen von Indium auf die Galliumnitrid-Schicht.
Sobald an die Elektroden eine Durchlaßspannung von 2,5 - 5 V angelegt wird, wird eine Strahlung an der Seite des Substrats beobachtet. Die Strahlungsenergie im Maximum der Spektralbande beträgt etwa 2,76 eV (T = 300 0K).
809341/0879

Claims (3)

  1. BEETZ-LAMPRECHT-BEETZ PATENTANWÄLTE 2813918
    Steinsdorfstr. 10 · D-8000 München 22 Dipl.-Ing. R. BEETZ sen.
    Telefon (089) 227201 - 227244 - 295910 Dipl.-Ing. K. LAMPRECHT
    Telex 522048 - Telegramm Allpatent München Dr.-Ing. R. BEETZ jr.
    ir-zQ_p ο nrqp Rechtsanwalt Dipl.-Phys. Dr. jur. U. HEIDRICH
    ■jj £t)-u^ Dr.-Ing. W. TIMPE
    Dipl.-Ing. J. SIEGFRIED
    Priv.-Doz. DipL-Chem. Dr. rer. nat. W. SCHMITT-FUMIAN
    31. März 1978 Ansprüche
    Leucht-Halbleiter-Bauelement,
    mit einer Halbleiterschicht aus n-Galliumnitrid auf einem Substrat,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (1) aus Saphir besteht, und daß auf die epitaxial aufgewachsene Halbleiterschicht (2) aus einkristallinem Galliumnitrid
    eine mit dieser einen Injektionsheteroübergang (1J) bildende Halbleiterschicht (3) aus p-Aluminiumnitrid aufgetragen ist.
  2. 2. Halbleiter-Bauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
    daß die Galliumnitrid-Halbleiterschicht (2) halbisolierend ist.
  3. 3. Halbleiter-Bauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
    daß die Aluminiumnitrid-Halbleiterschicht (3) halblisolierend ist.
    530-(P. 7351Jl-E-Ol)-HdSl
    809841 /0879
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