DE2724579A1 - Verfahren und vorrichtung zum reinigen der oberflaechen von duennwandigen substraten (wafer) - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum reinigen der oberflaechen von duennwandigen substraten (wafer)

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DE2724579A1 DE19772724579 DE2724579A DE2724579A1 DE 2724579 A1 DE2724579 A1 DE 2724579A1 DE 19772724579 DE19772724579 DE 19772724579 DE 2724579 A DE2724579 A DE 2724579A DE 2724579 A1 DE2724579 A1 DE 2724579A1
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Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum Reinigen der Oberflächen von dünn-
  • wandigen Substraten (Wafer) Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens zum Reinigen der Oberflächen von dünnwandigen Substraten (Wafer), gemäß dem man die Substrate während des Reinigungsprozesses in einem Rahmen hält und dabei mit einem, eine hohe kinetische Energie aufweisenden, flüssigen Reinigungsmittel besprUht.
  • Für die Halbleiterfertigung werden dünnwandige aus Silizium, Rubin oder Keramik bestehende Substrate mit einer Dicke von ca. 0,5 mm verwendet. Vor ihrer Weiterbehandlung müssen die Oberflächen der Substrate (Wasser) gereinigt werden; hierzu ist es bekannt, die meist kreisförmig gebildeten Substrate in einem Magazin in Abstand voneinander anzuordnen und durch Beaufschlagung mit einem flüssign Reinigungsmittel abzuwaschen. Zum guten Reinigen der Substrate, insbesondere zul Entfernen von an der Oberfläche der Substrate anhaftenden Schtermetallionen, ist es dienlich, die beiden gegen-Uberliegenden Großflächen der Substrate mit einem Hochdruck-Sprüh strahl zu beaufschlqen. Zum Erzeugen von energiereichen, fein verteilten Sprutistrahlen arbeitet man mit einem hydraulischen Druck von ca. 1000 N; als Reinigungsmittel benutzt man vorteilhaft Trlchloräthylen. Dabei ist es indessen nicht auszuschließen, daß durch den Aufprall der Sprtlhstrahlen Rist. im Substrat entstehen, die zum Bruch des Substrates fuhren. Verlindert man den Druck der Spruhstrahlen. so besteht der Nachteil, daß die an den Substraten fest anhaftenden, jedoch eine sehr geringe Masse aufweisenden, selbst unter dem Mikroskop nur schwer sichtbaren Verunreinigungen von der Oberfläche nicht abspülbar sind. Ein weiterer Nachteil besteht bei der bekannten Vorrichtung zum gleichzeitigen Reinigen von mehreren Substraten aber auch darin, daß die im Magazin gehaltenen Substrate im Abstand voneinander geschichtet angeordnet sind, so daß sie bei schräg auftreffenden Sprühstrahlen gegenseitige Schatten bilden. Dadurch wird der Reinigungsprozeß wesentlich eingeschränkt. Beim Einführen der Substrate in das Magazin entstehen oft Druck- bzw. Reibstellen; dabei kann es vorkommen, daß kleine Materialteilchen des Magazins oder der Beladewerkzeuge an den Substratflächen haften bleiben.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, unter Vermeidung der vorgenannten Nachteile ein Verfahren und eine Vorrichtung zui Reinigen von Substraten der vorgenannten Art zu schaffen, bei dem jedoch während des Reinigungsprozesses die Substrate gegen ein Brechen geschützt sind und bei dem der Reinigungsprozeß durch die Anordnung der Substrate merklich verbessert und beschleunigt wird. Ausgehend vom eingangs genannten Verfahren besteht die Erfindung darin, daß man die Substratflächen eines jeden Substrates wechselseitig vollflächig besprüht und dabei das Substrat an der vom jeweiligen Sprühstrahl abgekehrten Fläche abschirmt und stUtzt.
  • Durch diese erfinderische Verfahrensweise wird es ermöglicht, die einzelnen Substratflächen vollflächig den Sprühstrahlen auszusetzen, 50 daß die Sprühstrahlen ihre höchste Reinigungskraft entfalten können. Bedingt dadurch, daß die von den Sprühstrahlen abgekehrte Fläche der Substrate, jetzt vollflächig gestützt ist, wird ein Bruch der Substratscheibe wirkungsvoll verhindert. Hierbei arbeitet man wechselseitig z.B. derart, daß von allen Substraten zunächst die Vorderflächen den Sprühatrahlen zugekehrt und an den Rückflächen gestützt sind und im nächsten Arbeitsschritt die Rückflächen den Sprühstrahlen zugekehrt und die Vorderflächen gestützt sind; diesen Vorgang wiederholt man mehrfach.
  • Zur AusUbung des Verfahrens bedinet man sich einer Vorrichtung, bestehend aus eines, die Substrate im Abstand haltenden und auf- nehmenden Magazin, welches auf der der Sprühdilse zugekehrten Seite offen ist. In einer bevorzugten Ausbildung besteht gesäß der Erfindung das Magazin aus zwei mit Aussparungen versehenen und parallel sowie in Abstand voneinander angeordneten Flankenplatten, zwischen denen ein die Substratscheiben autneh ender Kaii angeordnet ist, wobei entweder der Kn hin- und herbeweglich oder -bei ruhende Ka - die Flankenplatten gegenläufig hin- und herbeweglich sind, derart, daß in den Endlagen der Flankenplatten die Aussparungen versetzt zueinander stehen. Bedient an sich einer derartigen Vorrichtung, so ist stets eine Fläche der Substratscheiben den SprUhatrahlen ausgesetzt, wo hingegen die andere, von den SprUhstrahlen abgekehrte Fläche gegen den, zwischen zwei Aussparungen stehenden Steg der Flankenplatte lasten. Besonders vorteilhaft ist es, wenn man sowohl den Kaii wie auch die Flankenplatten aus einen, den Material der Substrate ähnlichen oder gleichen Material bildet. Eine Verunreinigung der Substrate mit Frendiaterial wird dadurch vermieden.
  • Eine andere bevorzugte Ausführungsforn einer Vorrichtung zur Aus-Ubung des Verfahrens besteht darin, daß man das Magazin in Form einer U-förmigen oder kastenfdriigen hochstegigen Kasten-Schiene mit beidseitig versetzt zueinander angeordneten Aussparungen bildet, derart, daß bei durch die Kasten-Schiene geftihrten Substraten in einer Stellung der Substrate visier eine Fläche voll den Spruhstrahlen ausgesetzt während die andere Fläche des Substrates durch eine zwischen den Aussparungen stehende Vand der Kasten-Schiene abgedeckt ist, wobei auf ihre Transportweg durch die Kasten-Schiene die Substrate mehrfach wechselseitig den SprUhstrahlen ausgesetzt sind. Eine derartige Ausführungsform ist ftir eine autoiatisch arbeitende Reinigungsanlage fur eine Vielzahl von Substraten mit kontinuierliche Durchsatz zu bevorzugen.
  • Weitere Einzelheiten der Erfindung sind in den Ihiteransprüchen gekennzeichnet.
  • In den Zeichnungen sind zwei zur Ausübung des Verfahrens dienende Vorrichtungen nebst Einzelheiten hierzu dargestellt. Es zeigen: Figuren 1 und 2 eine Vorrichtung zuzReinigen der Substrate mit einem Aufnahmekamm und zwei hin- und herbeweglichen Flankenpiatten, Figur 3 eine Ansicht von oben auf eine Sektion des Aufnahmekannes gemäß Figur 1, Figur 4 eine andere Ausführungsform der Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens in Form einer mit wechselseitigen Aussparungen versehenen Kasten-Schiene, durch die die Substrate während des Reinigungsprozesses geführt werden, Figur 5 einen Querschnitt durch eine Vorrichtung gemäß Figur 4, Figur 6 eine andere Querschnittsform der Kasten-Schiene und Figur 7 eine Reinigungsstrecke einer gemäß der Figur 4 gebildeten Vorrichtung.
  • Figur 1 zeigt einen Aufnahmekamm 1 zur Aufnahme mehrerer, hier kreisförmiger Keramiksubstrate 2, die beispielsweise eine Wandstärke von 0,5 mm aufweisen und einen Durchmesser von annähernd 50 mm besitzen. Der hier dargestellte Kamm ist ebenfalls aus einem keramischen Material gebildet und besitzt im gleichen Teilungsabstand t angeordnete Aussparungen 3 zur Aufnahme der Keramiksubstrate.
  • Zwischen den Aussparungen befinden sich Wandteile 4, die hier ebenfalls im gleichen Teilungsabstand t angeordnet sind Den Aussparungen 3 gegenüber befinden sich leistenförmige Ansätze 5, welche zum Einsetzen und Fixieren des Kammes 1 in eine Vorrichtung gemäß Figur 2 dienen.
  • Gemäß Figur 2 besteht die Vorrichtung zum Reinigen der Substrate aus zwei Flankenplatten 6 und 7, die ähnlich dem Kamm 1 gebildet sind. Sie besitzen Öffnungen oder Aussparungen 3' mit zwischen den Öffnungen angeordneten Prallplatten 4'. Der Teilungsabstand der Aussparung bzw. Öffnungen entspricht Jenen des Kammes 1. Die Prallplatten sind in einer Grundplatte 8, hier mittels Rollen 9, abgestützt und Jeweils in Richtung des Pfeiles 10 hin- und herbeweglich. Die Bewegung erfolgt Uber einen Elektromotor 11, der über ein Getriebe 12 eine Kurven- oder Nockenscheibe 13 antreibt. In diese Nockenscheibe greifen mit den Flankenplatten 6 und 7 in Verbindung stehende Triebstifte 14, 15. Die Bewegung der Flankenplatte erfolgt derart, daß bei einer Stellung der Flankenplatte 6 in der Endlage A sich die Flankenplatte 7 in der Endlage B' befindet; im nächsten Zyklus befi###iic#A#nJIankenplatte 5 in der End- lage B, wo hingegen die Flankenplatte 7 sich in der Endlage A' befindet. Die Flankenplatten sind im Abstand voneinander angeordnet, wobei der Abstand S (Fig. 3) so bemessen ist, daß der Aufnahmekamm 1 (Figur 1) zwischen den Flanimplatten mit geringem Spiel platzfindet. In der Grundplatte 8 sind Schlitze (hier nicht dargestellt) zur Aufnahme der Ansätze 5 gemäß Figur 1 eingebracht.
  • Dadurch wird bewerkstelligt, daß der Aufnahmekamm während der Bewegung der Flankenplatten in Ruhe verharrt. Eine Sprühvorrichtung, allgemein mit 16 bezeichnet, gabelt sich in zwei Sprührohre 17 und 18, deren Düsen 19 im Teilungsabstand t den Mitten M der Substrate 2 bzw. den Wandungsteilen 4 gegenüberstehen. Um Schäden während des Spülvorganges zu vermeiden, ist hier vorgesehen, daß nur in den Endstellungen, z.B. der Flankenplatte 6, in der dargestellen Lage A, das Sprührohr 17, hingegen in der Endstellung A' der Flankenplatte 7 das Sprührohr 18 in Betrieb ist; nur in diesem Falle steht eine Fläche der Substrate vollflächig den Sprühstrahlen gegenüber, wo hingegen die andere Fläche durch die Prallplatten abgedeckt ist und das Substrat selbst dort ein Widerlager findet.
  • Zu diesem Zweck wird ein Schalter 20 in den Jeweiligen Endlagen von der Nockenscheibe 13 betätigt und schaltet die Ventile V1 und V2 der Sprührohre 17 und 18. Das ablaufende Reinigungsmittel gelangt auch zwischen die Prallplatten und verhindert so ein Schleifen der bewegten Prallplatten mit den Substraten. Das ablaufende Reinigungsmittel wird in einer hier nur symbolisch angedeuteten Wanne 21 aufgefangen und mittels einer Pumpe P wiederum in die Sprührohr gepumpt. Vorzugsweise sind alle mit dem Reinigungsmittel in Berührung kommenden Teile mit Kunststoff, z.B. Tetrafluoräthylen beschichtet.
  • Figur 3 zeigt eine Schnittsektion in waagerechter Schnittanordnung etwa durch die Mitten des Kammes 1 und der Prallplatten 6 und 7.
  • Der Kamm 1 ist - wie schon vorstehend bemerkt - ebenfalls aus einem keramischen Material gebildet. Vorteilhaft ist es, die mechanisch bewegten Prallpitten aus Metall zu bilden, Jedoch mit einem keramischen Material vollflächig zu umhüllen. Das Umhüllen der Prallplatten kann im Plasmastrahl erfolgen. Nach erfolgtem Umhüllen werden die Prallplatten mindestens auf ihrer, dem Kamm 1 zugekehrten Fläche plangeschliffen. Es. besteht aber auch die Möglichhit, die Prallplatten aus Tet#afluoräthylen zu bilden.
  • Figur 4 zeigt eine andere Vorrichtung zum Reinigen der Substrate, bei dem die Substrate während des Reinigungsprozesses durch eine kastenförmige Schiene 23 geführt werden. Die Kasten-Schiene 23 ist hier gegenüber der Waagerechten geneigt angeordnet. Dies hat zur Folge, daß unter Einwirkung der Sprühstrahlen und der Eigenschwere der Substrate diese in Richtung des Pfeiles 24 die Kasten-Schiene 23 durchlaufen; sie kann in ihrem Querschnitt - wie die Figuren 5 und 6 zeigen - entweder geschlossen oder U-förmig gebildet sein. Die Kasten-Schiene besitzt auf ihrer Reinigungsstrecke von C nach D versetzt angeordnete Öffnungen 3, 3'. Dies hat zur Folge Fdaß die Substrate bei ihrem Durchlauf durch die Schiene 23 wechselseitig den Sprühstrahlen 25, 25' ausgesetzt sind. Im Gegensatz zur Ausführungsform gemäß der Figur 2 werden hier die Sprührohre 17 und 18 während des Durchlaufes der Substrate 2 durch die Kasten-Schiene 23 im Dauerbetrieb gehalten.
  • Eine derartige Vorrichtung eignet sich zum Reinigen von Substraten mit automatischem Durchsatz durch die Reinigungsvorrichtung. Wie ersichtlich, werden die gereinigten Substrate nach erfolgter Reinigung in einen als Horde ausgebildeten Schubkasten 26 abgelegt, der im Zuführungstakt der Substrate, beim Einführen in Pfeilrichtung 27 in die Kasten-Schiene 23um jeweils einen Taktschritt T in einem Schlitten 27 einer Führungsbahn 28 weiterbewegt wird. Der Schubkasten wird dann nach dem Durchsatz einer Serie von beispielsweise 25 Substraten mit einem Schutzdeckel versehen und abgestellt.
  • Eine automatisch gesteuerte Sperre 32 wird von einem Programmgeber - hier nicht dargestellt - betätigt, der auch den Taktschritt T des Schubkastens 26 steuert.
  • Wie weiter aus Figur 5 zu ersehen ist, ist hier das Querschnittsprofil der Kasten-Schiene 23 geschlossen gebildet. Im vorliegenden Beispiel besteht das Kastenprofil ebenfalls aus einem keramischen Material. Das Kastenprofil wird aus zwei Rahmenplatten 29 und 30 zusammengefügt, wobei man die Rahmenteile an ihrer plangeschliffenen Anlagen 31 z.B. durch Kleben oder aber mit Klammern miteinander verbindet.
  • Figur 6 zeigt eine ähnliche Anordnung der Kasten-Schiene ?3, wobei jedoch hier ihr Querschnittsprofil U-förmig gebildet ist.
  • Es sei bemerkt, daß die Sprühvorrichtung 16 sowohl zum Reinigen der Substratoberflächen, aber auch zum nachfolgenden Reinigungsspülen dient. Hierzu ist entweder die Sprühvorrichtung mit den Sprührohren jeweils zweifach vorhanden oder aber man benutzt ein Umschaltventil und pumpt zunächst das Reinigungsmittel durch die Sprührohre und nach erfolgtem Reinigen das Spillmittel durch die Sprührohre. Als Spülmittel verwendet man gereinigtes Wasser.
  • Figur 7 zeigt eine Reinigungsstrecke für Substrate, bestehend aus einer Kasten-Schiene 23, welche - wie in Figur 5 dargestellt - mit wechselseitigen Öffnungen 3 und 3' versehen ist. In einer ersten Zone Z1 werden die Substrate mit Trichloräthylen besprüht und von allen groben Verunreinigungen befreit; in einer zwiten Zone Z2 erfolgt ein Spülen der Substrate mit gereinigtem Wasser; in der Zone Z3 werden die Substrate letztlich mittels eines gereinigten Luft- oder Gasstroms getrocknet. Zu diesem Zweck besitzt die Vorrichtung mehrere Behälter 21 und 38 zur Aufnahme der verschiedenen Reinigungsflüssigkeiten nebst der zugehörigen Pumpen Pl, P2 und Sprührohre 17, 18 sowie 34, 35 .... Das abschließende Trocknen der Substrate erfolgt ebe falls unter Verwendung von Sprührohren ähnlichen Blasrohren36, 37.
  • 16 Patentansprüche 7 Figuren Leerseite

Claims (16)

  1. Patentansprüche 1. Verfahren zum Reinigen der Oberflächen von Substraten (Wafer), gemäß in dem man die Substrate in einem Rahmen hält und dabei mit einem eine hohe kenetische Energie aufweisenden, flüssigen Reinigungsmittel besprüht, dadurch g e k e n n z e i c h n e t daß man die Substratflächen eines jeden Substrates wechselseitig besprüht und dabei das Substrat an der vom jeweiligen Sprühstrahl abgekehrten Fläche abschirmt und stützt.
  2. 2. Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens bestehend aus einem die Substrate im Abstand haltenden und aufnehmenden Magazin, welches auf der den Sprühdüsen zugekehrten Seite offen ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Magazin aus zwei mit Aussparungen (3') versehenen und parallel sowie im Abstand voneinander angeordneten Flankenplatten (6 und 7) besteht, zwischen denen ein die Substrate (2) in Aussparungen (3) aufnehmender Kamm (1) angeordnet ist und daß ferner entweder der Kamm hin- und herbeweglich oder bei ruhendem Kamm die Flankenplatten gegenläufig hin- und herbeweglich sind, derart, daß in den Endlagen A bzw. A', B bzw. B' der Flankenplatten die Aussparungen (3') versetzt zueinander stehen.
  3. 3. Vorrichtung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die die Substrate während des Sprühvorganges haltende Vorrichtung oder deren Teile aus keramischen Material gebildet sind.
  4. 4. Vorrichtung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die die Substrate (2) haltende Teile (1) und/oder (6 und 7) aus Polytetrafluoräthylen gebildet sind.
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der die Substrate (2) aufnehmenden Kamm (1) zwischen den Flariliiplatten (6 und 7) einsetzbar ist.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß entweder die Flankenplatten (6 und 7) oder der die Substrate aufnehmende Kamm (1) einen elektrisch betriebenen Antriebsmechanismus (11 bis 15) aufweisen.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung einen Schalter (20) zum Steuern des Reinigungsmittelzuflusses zu den Sprührohren (17 und 18) aufweist.
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Flankenplatten (6 und 7) in jeweils einem Schlitz einer Grundplatte (8) geführt und durch Rollen (9) abgestützt sind.
  9. 9. Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch 1, bestehend aus einem die Substrate in Abstand haltenden und aufnehmenden Magazin, welches auf der den Sprühdüsen zugekehrten Seite offen ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Magazin in Form einer U- oder kastenförmigen hochstegigen Kasten-Schiene (23) mit beidseitig versetzt zueinander angeordneten Aussparungen (3) gebildet ist, derart, daß bei durch die Kasten-Schiene (23) geführten Substraten (2) in jeweils einer Stellung der Substrate immer eine Fläche voll den Sprühstrahlen ausgesetzt und die andere Fläche des Substrates durch eine Wand der Kasten-Schiene abgedeckt ist, wobei auf ihrem Transportweg (C bis D) durch die Kasten-Schiene die Substrate mehrfach wechselseitig den Sprühstrahlen ausgesetzt sind.
  10. 10. Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach Ansprüchen 2 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Sprührohre (17, 18) beidseitig von der die Substrate während ihres Reinigungsprozesses haltenden Vorrichtung gelegen sind.
  11. 11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die die Substrate (2) haltende und führende Kasten-Schiene (23) aus keramischem Material und zweiteilig gebildet ist.
  12. 12. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die die Substrate aufnehmende und führende Kasten-Schiene (23) über einen als Horde ausgebildeten Schubkasten (26) mündet, wobei letzterer schrittweise unter der Austrittsöffnung der Kasten-Schiene stellbar ist.
  13. 13. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Kasten-Schiene (23) geneigt angeordnet ist.
  14. 14. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß über den Schubkasten (26) für die Substrate (2) eine elektromagnetisch betätigte Sperre (32) angeordnet ist, wobei der Sperrschieber (33) aus einem nicht metallischen Material besteht.
  15. 15. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Reinigungsstrecke (34) und eine Reinigungsspülstrecke (35) sowie eine Trockenstrecke (36) aufweist.
  16. 16. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie von Reinigen auf Reinigungsspülen und Trocknen umschaltbar ist.
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AT389019B (de) * 1987-12-09 1989-10-10 Thallner Erich Vorrichtung zum reinigen von flachen, praktisch ebenen kleinteilen, insbesondere von flachen halbleitersubstraten

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