DE2657408A1 - Fehlerkorrekturschaltung - Google Patents
FehlerkorrekturschaltungInfo
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Description
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Nakahara-ku,
Kawasaki-shi, Japan
Nakahara-ku,
Kawasaki-shi, Japan
Die Erfindung bezieht sich auf eine Fehlerkorrekturschaltung gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1.
Um die Zuverlässigkeit von Datenverarbeitungssystemen zu verbessern, wird weitläufig ein Fehlerkorrekturkode verwendet.
Unter anderen wurde ein BCH-Kode mit einer 2-Bit-Fehlerkorrekturfunktion
in Fehlerkorrektursystemen gewählt. Zum Dekodieren des BCH-Kodes sind verschiedene Systeme bekannt,
wie das von R. T. Chien vorgeschlagene. Solche Systeme werden nachfolgend generell als herkömmliche Systeme bezeichnet.
Solche herkömmlichen Systeme benutzen jedoch im allgemeinen Schieberegister und können Fehler nicht korrigieren, bevor
der Inhalt solcher Register mit Hilfe vieler Takte verscho-
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7 0 S 3 2 6 / 0 7 8 2
ORiGlNAL INSPECTED
ben worden ist (was nachstehend anhand der Fig. 1 beschrieben ist). Wenn man versuchte, ein herkömmliches System, beispielsweise
das von R. T. Chien, so zu entwickeln, daß eine sehr schnelle Verarbeitung durchgeführt werden kann, und zwar
durch eine Parallelverarbeitung für Fehlerkorrekturen, wurde das System demgemäß notwendigerweise kompliziert, wie es Fig.
2 zeigt. In diesem Fall nehmen die in Fig. 2 gezeigten einzelnen Schaltungen xec , xx ^ ... xcxr unterschiedliche Formen
an, was zu hohen Kosten und einem komplizierten Aufbau der Schaltungsanordnung führt. Dies stellt auch ein Hindernis
für eine hochgradige Integration einer solchen Schaltung dar.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die erwähnten Nachteile der herkömmlichen Fehlerkorrekturschaltungsanordnung
zu überwinden und eine verbesserte Fehlerkorrekturschaltungsanordnung
verfügbar zu machen, die eine schnelle Fehlerkorrektur mittels einer parallelen Verarbeitungsoperation erlaubt
und eine standardisierte Schaltungskonfiguration für den Prüfvorgang aufweist, der .bei der Parallelverarbeitung erforderlich
ist.
Diese Aufgabe wird mit einer Fehlerkorrekturschaltung mit den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Ausgestaltungen
und Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Schaltung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Bei der vorliegenden Erfindung handelt es sich um eine Fehler-
70S826/0782
korrekturschaltungsanordnung mit kubierenden (in die dritte
Potenz erhebenden) Schaltungen, bei der eine 2-Bit-Fehlerkorrektur-BCH-Kodeprüfmatrix
H bezüglich eines Datums D (dg, d^, dg, ... dn) berechnet wird, um Pehlerbits zu
korrigieren, falls solche im Datum vorhanden s.ind, und zwar auf der Grundlage eines von der oberen Hälfte der Prüfmatrix
abgeleiteten Syndroms S, und eines von der unteren Hälfte der Prüf matrix abgeleiteten Syndroms S-,, wobei insgesamt (n + l)
Prüfschaltungen, die je einem Datenbit entsprechen, parallel angeordnet sind und jede dieser Prüfschaltungen entsprechend
einem Zeilenvektor (ai : a^ ) in der Prüf matrix H, die einer
jeden dieser Schaltungen zugeordnet sind, zu prüfen vermag, ob sich die Gleichung
(S1 - HP - (S3 - a^) = 0 (1)°
in einer Modulo-2-Operation ergibt oder nicht, und wenn sich
diese Gleichung ergibt, werden die in den Datenbits existierenden Fehler korrigiert.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von AusfUhrungsformen
näher erläutert. In der zugehörigen Zeichnung zeigen:
Fig. 1 ein Beispiel eines herkömmlichen Systems;
Fig. 2 eine beispielsweise Anordnung, die man durch Verbessern des Systems gemäß Fig. 1 erhalten kann;
Fig. 3 bis 5 für die vorliegende Erfindung verwendete Teilanordnungen;
709826/0782 " 4 "
ORIGINAL WSPECTED
2 G 5 7 /■ O
•V
Pig. 6 eine erfindungsgemäß aufgebaute Ausführungsform; und
Fig. 7 eine Ausführungsform einer für die vorliegende Erfindung
verwendeten kubierenden Schaltung.
Bevor mit der Beschreibung einer bevorzugten erfindungsgemäßen Ausführungsform begonnen wird, werden Beispiele herkömmlicher
Systeme erläutert.
Nimmt man an, daß c* eine Wurzel oder Wurzeln eines Polynoms
P(x)=l+x+x =0 kennzeichnet, dann sind ex , ex , CX ... Of
alle Wurzeln des Polynoms P(x)=0. Beispielsweise wird untersucht,
ob Of eine Wurzel von P(x)=O ist oder nicht. Da die Gleichung P( CX2)=i+cx2+a12, in der CX12 = (Of6)2 ist, und
Oc" = l+oc gilt (bei der Modulo-2-Operation ist der Wert mit
einem Symbol ( + ) und (-) gleich) wird OC12 zu (l+OC)2, und.
zwar aufgrund folgender Gleichung:
(X 12=( 1+ (X) 2=1+CX + OC+ CX2=l+cx - CX+ (X2=1+(X2
Deshalb ist CX eine der Wurzeln des Polynoms P(x)=O. Gleichermaßen
erweisen sich CX.^ bis CX als die anderen Wurzeln
des Polynoms.
Nimmt man allgemein an, daß der Grad des Polynoms P(x) k ist, wird die Anzahl der P(x)=O erfüllenden Elemente 2-1 von Oc
? —2
bis CX . Wenn die Datenlänge, die der Fehlerkorrektur unterzogen
werden soll, 32 Bits bis 6j>
Bits ist, wird k demgemäß zu
- 5 703826/.0 782
2657^08
sechs. Und wenn die Datenlänge 64 bis 127 Bits beträgt, wird
ic zu sieben. Allgemein gilt: Wenn die Länge der Datenbits n+1 und der Grad des Polynoms k ist, muß folgende Bedingung erfüllt
sein:
Die beliebigen Konstanten an ... a , die in dieser Spezifikation
0 2-2
erscheinen, bezeichnen die aus <X ... (X ausgewählten Elemente.
Auf diese Weise kann der k-te Grad des Polynoms entsprechend der Datenlänge verwendet werden. Es dürfte klar sein,
daß eine beliebige Anzahl von k Graden unter 6;5 Elementen verwendet
werden kann.
Es sei nun wieder das System gemäß der herkömmlichen Technik betrachtet. Eine BCH-Prüfmatrix H wird für das gegebene Datum
D (d.Q, d,, dp, ... d ) folgendermaßen gebildet:
H =
(mit CX6^ = oc°).
Von der rechten Seite dieser Matrix kann unter Verwendung von Zeilenvektoren von n+1 die Prüfmatrix H' berechnet werden.
Das heißt:
ex60J (2)
703826/0782
/οο / ■■■-1! f j
.1
Nimmt man nun an, daß Fehler in Bits d. und d. auftreten,
wird ein von der oberen Hälfte der Prüfmatrix erzeugtes Syndrom S1 und ein von der unteren Hälfte erzeugtes Syndrom
S-, ausgedrückt durch die Formeln:
(3)
Obige Formeln (3) ergeben folgendes:
= si (4)
= S1 + S3ZS1
Infolgedessen sind. O. und CX^ die Wurzeln von folgendem:
x2 + S1X + (S1 2 + S3ZS1) = 0 (5)
Demgemäß werden die χ in Gleichung (5) dur3h CX °, CX
CX ersetzt, um diejenigen Werte i und j zu bestimmen, wel che die Gleichung (5) erfüllen, um die Datenbits d. und d.
zu korrigieren.
Es ist jedoch nicht leicht, Hardware, also eine Schaltungsanordnung,
aufzubauen, die überprüfen kann, daß die Gleichung (5) erfüllt ist. Aus diesem Grund ist jedoch beim herkömmlichen
System eine Schaltung vorgesehen, die prüft, ob die Formel
0 (6)
erfüllt- ist oder nicht, und zwar durch Modifizieren der
- 7 709326/0782
O '% Γ" r7 -' f*
i ö b / -, υ d
•/ο-
Formel (5) unter der Annahme, daß cxi+N=CX =Oc°=l gilt.
Pig. 1 zeigt ein Beispiel einer herkömmlichen Schaltungsanordnung,
die Datenbits d. und d. korrigiert, und zwar durch Bestimmen von N=I, j, das die Formel (6) erfüllt. In Fig. 1
kennzeichnet die Bezugsziffer 1 ein Schieberegister, in das Daten dQ bis d^-,, die beispielsweise aus einem Speicher gelesen
worden sind, eingegeben und dann taktv/eise verschoben werden, um Bits der Reihe nach zu liefern. 2 bezeichnet eine
Schaltung zur Feststellung von F(x)=O. 3 und 4 kennzeichnen
Flipflopschaltungen. 5 bezeichnet eine χ (X-Schaltung und 6
eine χex -Schaltung. Die Bezugsziffer 7 kennzeichnet eine Bitkorrekturschaltung.
Synchron mit den Datenbits du., bis dQ, die taktweise vom
Schieberegister 1 geliefert werden, prüft die F(x)=0-Detektorschaltung 2, ob F(x)=O erfüllt ist oder nicht. Wenn F(x)=O
erfüllt ist, wird von der Detektorschaltung 2 eine logische "l" an die Bitkorrekturschaltung 7 gegeben, um Datenbits zu
invertieren, die ebenfalls in der genannten Synchronisation geliefert werden. Die Fehler werden damit korrigiert. Bei dem
Schieberegister verwendenden herkömmlichen System können Fehler nicht korrigiert werden, bevor sie durch 44 Takte verschoben
worden sind. Folglich ist ein solches System wenig geeignet, da die Verarbeitungsgeschwindigkeit niedrig ist.
Fig. 2 zeigt eine Verbesserung der Anordnung nach Fig. 1, nämlich eine andere herkömmliche Anordnung, bei der 44 PrUf-
- 8 70^26/0782
2 ο 5 7 ^- O
schaltungen entsprechend Datenbits dQ bis d^ parallel angeordnet
sind. In Pig. 2 bezeichnet die Bezugsziffer 8-0 eine Prüfschaltung; 2-0 bis 2-43 bezeichnen Schaltungen entsprechend,
der P(x)=0-Detektorschaltung 2 in Fig. 1; 7-0 bis 7-1T? kennzeichnen
Schaltungen, die der Bitkorrekturschaltung 7 in Pig. 1 entsprechen 9 bezeichnet eine Fehlerauftrittdetektorschaltung;
10-0 bis 10-4^ und 11-0 bis 11-43 bezeichnen je eine
Multiplizierschaltung; und 12-0 bis 13-43 sind je UND-Schaltungen.
N Die Multiplikationsschaltung 10-i erzeugt CX , das in der
Formel (6) erscheint, während die Schaltung 11-i OC erzeugt.
Wenn Syndrome S1 und S-, gegeben sind, prüft jede F(x)=0-Detektorschaltung,
ob F(x)=0 erfüllt ist oder nicht. Wenn es erfüllt wird, wird an den Ausgang der Detektorschaltung ein
Logiksignal "l" geliefert. Wenn die Fehlerauftrittdetektorschaltung
9 das Vorliegen eines Fehlers feststellt, wird die UND-Schaltung 12-i erregt, um Datenbits d. und/oder d. entsprechend
den parallel zugeführten Datenbits d„ bis dj,, zu
invertieren. Wenn kein Fehler existiert, werden alle Syndrome S. null.
Die in Fig. 2 gezeigte Schaltungsanordnung verwendet also
keine Schieberegister, wie sie im Beispiel nach Fig. 1 benutzt werden, und sie erlaubt eine sehr schnelle Fehlerkorrektur
durch Parallelverarbeitung der Datenbits d.Q bis dji^z* Beim zweiten herkömmlichen System nach Fig. 2 können
die F(x)=0-Detektorschaltungen 2-0 bis 2-43 innerhalb der
70:82 6/0 78 2 - 9 -
Prüfschaltung 8 Schaltungen sein, die je den gleichen Aufbau
haben. Die Multiplikationsschaltungen 10 und 11 müssen jedoch 44 unterschiedliche Schaltungskonfigurationen haben.
Aus diesem Grund verursacht die Schaltungsanordnung nach Fig. 2 hohe Herstellungskosten,und sie besitzt einen komplexen
Aufbau. Es sind Versiehe zur Integration gemacht worden (beispielsweise
einer Integration der Schaltungen 8, 12 und 7 in
Fig. 2 in eine integrierte Schaltung), um die Packungsdichte zu erhöhen und die Herstellungskosten zu reduzieren. Aufgrund
der zuvor erwähnten Schaltungskonfiguration ist eine solche Integration jedoch unmöglich.
Es folgt nun eine Beschreibung der Erfindung. Diese beruht auf
folgendem Konzept. Wenn die BCH-Ko de prüf matrix
Cd36 3
(mit «'(**>- α3)
bezüglich des Datums D (dQ, dj, ... d|J berechnet wird und. wenn beispielsweise in den Datenbits di und d. Fehler auftreten, werden das von der oberen Hälfte der Formel (7) erzeugte Syndrom S, und das von der unteren Hälfte erzeugte Syndrom S-, folgendermaßen ausgedrückt:
bezüglich des Datums D (dQ, dj, ... d|J berechnet wird und. wenn beispielsweise in den Datenbits di und d. Fehler auftreten, werden das von der oberen Hälfte der Formel (7) erzeugte Syndrom S, und das von der unteren Hälfte erzeugte Syndrom S-, folgendermaßen ausgedrückt:
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Modifiziert man die Formel (l) , erhält man
S1-^1 = oCD, s3 - pC3x = (χ33 j (9)
j , i / 3j , 3i
Demgemäß ergeben sich folgende Gleichungen:
(S1 - oC x)3 - (S3 - o( 3l) = ο
(S1 - (V j)3 - (so - [V 3j) = ο
Deshalb wird
(S1 - x)5 - (S3 - x5) - 0 (11)
Erfindungsgemäß werden Prüfschaltungen zur Durchführung der zuvor erwähnten Verarbeitunsoperation konstruiert. Es ist
möglich, Datenbits d. und d. zu bestimmen, in denen Fehler
existieren, und zwar durch Substituieren des Wertes von χ
0 1 2 4"5
durch 0(,Ck, (y. , ... CX der Reihe nach. Man bedenke, daß eine Subtraktion in Binärzahlen äquivalent einer Addition ist, die beide in einer EXKLUSIV-ODER-Schaltung verwirklicht werden können.
durch 0(,Ck, (y. , ... CX der Reihe nach. Man bedenke, daß eine Subtraktion in Binärzahlen äquivalent einer Addition ist, die beide in einer EXKLUSIV-ODER-Schaltung verwirklicht werden können.
Die erfindungsgemäße Hardware kann ebenfalls unter Verwendung von Schieberegistern wie in Fig. 1 realisiert werden. Um jedoch
eine schnellere Datenverarbeitung zu erhalten, wird vorteilhafterweise eine parallelverarbeitende Schaltung gewählt,
- 11 709326/0782
C. ■ 1 J ." * .- U U
wie sie in Fig. 2 gezeigt ist.
Fig. 3 zeigt eine Schaltungsanordnung, durchweiche (S1-X)
und (S-,-χ^) in Formel (ll) erzeugt werden. In Fig. 3 kennzeichnen
die Bezugsziffern I3-O bis 13-43 Register zum Erhalt
von CX0 bis Oc in der oberen Hälfte der Formel (7); 14-0
bis 14-43 bezeichnen Register zum Erhalt von O<
bis O; in der unteren Hälfte der Formel (7); und 15-0 bis 15-43 und I6-O
bis 16-43 bezeichnen je Subtraktionsschaltungen. Es sei bemerkt,
daß Additions- und Subtraktionsschaltungen binärer Π -j ti
-Bits mit EXKLUSIV-ODER-Schaltungen gebildet werden können.
Die in Fig. 3 gezeigte Schaltungsanordnung ergibt (S, - x)
und (S, - X^). In den Registern 13-0 bis 13-43 und 14-0 bis
14-43 zu speichernde Daten werden in Abhängigkeit von der Prüfmatrix H bestimmt. Folglich können Festwertspeicher (ROM)
gewählt werden. Es bleibt jedoch noch etwas zu verbessern. Wie Fig. 4 zeigt, führt die Berechnung von A Q B beispielsweise
zu A© B = A, wenn B = O ist. Und wenn B=I ist,
führt die Berechnung von A@B zu A@B = Ä. Wenn S~ und. £L
für die Syndrome S, bzw. S-, konditioniert sind, wie es
Fig. 5 zeigt, wenn man sie beispielsweise so erhält, so versteht es sich, daß eine Bedingung erfüllt ist durch Zuteilen
des ersten Bits von ΊΪ-. als das erste Bit von (S- oc )
und des zweiten bis sechsten Bits von S.. als das zweite bis sechste Bit von (S -Oc)3 da Oc = 100 000 ist. Erfindungs-
- 12 -
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gemäß ist die Schaltungsanordnung dadurch beträchtlich vereinfacht,
daß die Schaltungskonfiguration gemäß Fig. 5 gewählt wird.
Fig. 6 zeigt eine erfindungsgemäße Ausführungsform. Die Bezugsziffern
7-10 bis 7-43, 8-0 bis 8-43, 9* 12-0 bis 12-43
kennzeichnen die Komponenten, die denen in Fig. 2 entsprechen; 13-0 bis 13-4^ sind kubierende Schaltungen; 14-0 bezeichnet
eine Subtraktionsschaltung; und 15-0 bis 15-43 kennzeichnen
Alles-O-Detektorsehaltungen. Erfindungsgemäß sind die Prüfschaltungen
8-0 bis 8-43 parallel entsprechend den Datenbits d0 bis d.2,-2 angeordnet, gleichsam wie bei der in Fig. 2 gezeigten
Anordnung. Gleichermaßen wie bei der Anordnung nach Fig. 2 wird das Auftreten eines Fehlers durch die ParitätsprUfschaltung
9 festgestellt, und die Fehlerkorrektur wird
ausgeführt bezüglich der Datenbits d , die derjenigen Prüfschaltung
8-p entsprechen, welche ein Logiksignal "l" ausgegeben
hat.
Den Prüfschaltungen 8-0 bis 8-43 werden an ihren Eingängen
(S1 - CX0) und (S5 - o<°), (S1 + CX1) und (S5 - O3), ...
(S1 - CK2^) und (S3 - CX?) zugeführt. D. h., die Prüfschaltung
8-0 ist beispielsweise dafür eingerichtet, zu prüfen, ob die Formel
(S1 - CX0P - (S3 - Oi0) - 0 (12)
erfüllt ist, wenn χ durch CK ersetzt ist. Wenn alle Bits
- 13 -
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ORIGINAL INSPECTED
? ρ ς 7 /. π ; <
eine logische "0" sind, nämlich die Formel (12) erfüllt ist durch Kubieren des Eingangssignals (S1 - CX ) (das als Bit-Kette
A0 bis A anzusehen ist) und durch Ausführen der Subtraktion
zwischen diesem kubierten Eingangssignal und dem Eingangssignal (S-, - 0C°) für jedes Bit, liefert die Alles-0-Detektorschaltung
15-0 an ihrem Ausgang ein Logiksignal "l".
Dies gilt ebenfalls für die Prüfschaltungen 8-1 bis 8-42.
Es wii°d nun die Anordnung der kubierenden Schaltungen 13-0
bis 13-43 beschrieben.
Unter der Annahme,daß das Eingangssignal generell
2 R
A0 + A1X + A2X + ... Af-X-^ ist und dieses Signal an den
A0 + A1X + A2X + ... Af-X-^ ist und dieses Signal an den
Ausgängen der kubierenden Schaltungen als BQ + B,X + BpX +
... B1-X^ geliefert wird, sollte sich folgende Beziehung ergeben.
+ A1X +A2X" + A4X^ + A5X^)^
= B0 + B1X + B2X2 + B3X5 + B4X4 + B5X5 (13)
Wenn die Beziehung zwischen den Faktoren auf der linken und der rechten Seite bestimmt wird durch Modifizieren der Formel
(13) mit der Modifikation 1+X+X6( CX ist die Wurzel von 1+X+X6),
sollte sich die Formel
- 14 -
70^326/0782
A3(A0 +A4) + A1(A4 + A5) + A5(A3 +A3) + A2
A1(A0 +A3+ A4) +A3(A0 +A3+ A4) + A4A5 + A2
(A0 + A5) (A1 + A2 +A4) + A1A3 + A4A3
(A0 + A2 + A5) (A3 + A4) + A1A4 + A5A3 + A3
(A0 + A2) (A4 + A5) + A2 (A0 + Αχ) + A4 (Αχ + A3 + A5)
A2(A1 + A4) + A1(A3 + A5) + A5A3
ergeben.
Die vorausgehende Formel (l4) kann in verschiedenen Formen in Abhängigkeit von der Modifikationsmethode ausgedrückt
werden, so daß die Beziehung nicht immer auf die Form der
Formel (l4) begrenzt ist.
In jedem Fall kann durch Anordnen einer Schaltung, welche die Verarbeitungsoperation gemäß Formel (14) durchführen
kann, ein Ausgangssignal erzeugt werden, das durch Kubieren,
eines gegebenen Eingangssignals abgeleitet worden ist. Fig. 7 zeigt eine Kubierschaltung, welche die Verarbeitung gemäß
Formel (14) ausführt. In dieser Figur bedeutet das Symbol (J
eine Addition durch" eine. EXKLUS.TV-ODER-Schaltung, i kennzeichnet
eine Inverterschaltung und A bezeichnet eine UND-Schaltung. Wie aus Fig. 7 ehtnehmbar ist, erfüllt beispielsweise
Bit B0 die oberste Beziehung in Formel (lA).
Vorausgehend ist eine Anordnung beschrieben worden, in der
- 15 -
703826/0782
Logikschaltungen verwendet werden, um Kubierschaltungen zu
bilden. Die Kubierschaltungen können jedoch aus einem ROM (Pestwertspeicher) aufgebaut werden, der eine Umwandlungstabelle speichert. In diesem Fall reicht es aus, sechs Bits
von (S1 - CX ) = (AqA A2A-.A^A1-) als Adressendaten zu nehmen
und ROM's zu bilden, die an ihren Ausgängen sechs Bits von (S1 - (X0)-5 = (B0B1B2B5B^B5) liefern. Die Speicherkapazität
ist 26W χ 6 Bits.
Es wird nun wieder Fig. 6 betrachtet. Wenn den Kubier schaltungen 13-0 bis 13-43 zugeführte Signale als Eingangssignale
A0 bis A1- (Fig. 7) genommen werden, können, wie der Fachmann
erkennen wird, alle Kubierschaltungen I3-O bis 13-43
identisch aufgebaut werden. Es ist augenscheinlich, daß alle Prüfschaltungen8-0 bis 8-43 ebenfalls identisch hergestellt
werden können, ausgenommen, daß Eingangssignale für die jeweiligen Prüf schaltungen in (S1 - Oc ) und
(S-, - (X ), (S1 - C* ) und (S-, - /χ )t ··· zu modifizieren
sind. Wenn die in Fig. 6 gezeigte Schaltungsanordnung gewählt wird, ist es nämlich nur erforderlich, Prüfschaltungen
l6 (8, 12, 7) mit identischen Konfigurationen zu integrieren. Dies ist sehr vorteilhaft vom Gesichtspunkt einer hohen
Packungsdichte und niedriger Herstellungskosten.
Wie das Vorausgehende zeigt, erlaubt die vorliegende Erfindung eine vorteilhafte Verwirklichung einer schnelleren Fehlerkorrekturschaltungsanordnung
und eine Standardisierung der Prüfschaltungen.
- 16 - .
70 0 826/0782
, /9 ·♦
Leerseire
Claims (2)
1. Fehlerkorrekturschaltung, bei der eine Kubierschaltung ve}
wendet wird zum Korrigieren von Fehlern in einem Datum (d.Q d, dp .... d ) mit n+1 Bits entsprechend Syndromen
S1 und S^t wobei
0 al a2 aJ
und
■(
3 3 3
aO al a2 "mEii
ist, die erhältlich sind durch Berechnen einer Prüfmatrix
- 17 -
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0FH61NALINSPECTED
^. s_ a,
.Jl.
2
H : - V a3
H : - V a3
Δ
η
für den BCH-Kode,
gekennzeichnet durch
eine Geiieratorvorrichtung zur Erzeugung der Syndrome S1 und
S-, basierend auf der Prüfmatrix H;
eine Vorrichtung zur Erzeugung eines Ausdrucks (S. - a.)
basierend auf einer Modulo-2-Berechnung des i-ten Zeilenvektors
-, der Prüfmatrix H entsprechend einem jeden
ai
Datenbit d.;
Datenbit d.;
eine Multipliziervorrichtung, mit welcher der Ausdruck (S1 - a1)
dreimal multipliziert, d. h. kubiert, wird; eine Vorrichtung zur Erzeugung von (S1 - a.)j
eine Prüfvorrichtung zur Prüfung der Übereinstimmung zwischen den Ausdrücken (S1- a..) und (S-, - an- );
und eine Invertervorrichtung zum Invertieren des Bits d. bei Peststellung der Übereinstimmung.
2. Fehlerkorrektursehaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Vorrichtung zur Erzeugung von (S1 - a.) und (S^ - a.^ )
mehrere Signalleitungen zur Erzeugung von Syndromen S1 und S1
aufweist sowie mehrere Ausgangsleitungen, die je mit S1 oder
S1 entsprechend jedem Wert a. unter den Signalleitungen verbunden
sind.
- 18 70°°2B/Ü732
.3.
J. Fehlerkorrekturschaltung gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Festwertspeicher vorgesehen ist zum Speichern einer Umsetztabelle und zum Erzeugen von
(S- - CX r = (bQ b, bp b^ b^ b,_) aus einer Adresseninformation
von (S. - ^χ ) = (aQ a, a2 a^, a^, a,-), daß eine .
Prüfvorrichtung vorgesehen ist zum Prüfen der Koinzidenz zwischen (S1 - a. )^ und. (S_ - a.^) sowie eine Invertiervorrichtung
zum Invertieren des Bits d., wenn die Koinzidenz festgestellt ist.
0 9 3 2 6/0782
ORIGINAL INSPECTED
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP50150811A JPS5825294B2 (ja) | 1975-12-18 | 1975-12-18 | 3ジヨウカイロオシヨウシタエラ−テイセイカイロ |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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DE2657408B2 DE2657408B2 (de) | 1978-07-20 |
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Family
ID=15504926
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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DE (1) | DE2657408C3 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1975-12-18 JP JP50150811A patent/JPS5825294B2/ja not_active Expired
-
1976
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- 1976-12-17 DE DE2657408A patent/DE2657408C3/de not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0061345A3 (en) * | 1981-03-23 | 1984-05-02 | Sony Corporation | Processing circuits for operating on digital data words which are elements of a galois field |
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JPS52115641A (en) | 1977-09-28 |
DE2657408C3 (de) | 1979-03-22 |
US4064483A (en) | 1977-12-20 |
DE2657408B2 (de) | 1978-07-20 |
JPS5825294B2 (ja) | 1983-05-26 |
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