DE2603268A1 - Pruefanordnung fuer induktivitaeten - Google Patents

Pruefanordnung fuer induktivitaeten

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DE2603268A1
DE2603268A1 DE19762603268 DE2603268A DE2603268A1 DE 2603268 A1 DE2603268 A1 DE 2603268A1 DE 19762603268 DE19762603268 DE 19762603268 DE 2603268 A DE2603268 A DE 2603268A DE 2603268 A1 DE2603268 A1 DE 2603268A1
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inductance
transistor
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circuit
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Jean Gombert
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/62—Testing of transformers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE102014103321A1 (de) * 2013-09-13 2015-03-19 Paul Vahle Gmbh & Co. Kg Isolationsüberwachung für reihenkompensierte Wicklungen eines kontaktlosen Energieübertragungssystems

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