DE2552903A1 - Verfahren und vorrichtung zur bildanalyse unter doppelaufloesung - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bildanalyse unter doppelaufloesung

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DE2552903A1 DE19752552903 DE2552903A DE2552903A1 DE 2552903 A1 DE2552903 A1 DE 2552903A1 DE 19752552903 DE19752552903 DE 19752552903 DE 2552903 A DE2552903 A DE 2552903A DE 2552903 A1 DE2552903 A1 DE 2552903A1
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Description

Verfahren und Vorrichtung zur Bildanalyse unter Doppelauflösung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bildanalyse und insbesondere ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Analysieren eines Bildes bei zwei unterschiedlichen Auflösungen.
Auf vielen Gebieten der Teilchenanalyse, z. B. der Blutzellenanalyse oder Brustwarzenabstrichanalyse,sind die interessierenden Teilchen in einem Feld weit verbreitet und von vielen Teilchen, die nicht interessieren, umgeben. Weisse Blutkörperchen können z.B. von Hunderten roter Blutkörperchen umgeben sein und kanzeröse oder dysplastische Cervix-Zellen können von Zehntausenden normaler Cervix-Zellen oder Zelltrümmern umgeben sein.
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Analysiert werden sollen nur die interessierenden Teilchen des Bildes. Dies kann dadurch erreicht werden, dass alle Objekte analysiert werden, um die nicht erwünschten Objekte auszuschliessen. Dieses Verfahren ist jedoch sehr zeitraubend und daher vom wirtschaftlichen Standpunkt aus relativ wenig für die Praxis geeignet. Man kann andererseits einen einzigen Sensor verwenden, um interessierende Teilchen bei einer geringen Auflösung zu suchen und dann den Sensor zur Analyse auf eine höhere Auflösung umschalten, wenn ein interessierendes Teilchen in der Probe gefunden wird. Dieses Verfahren erfordert jedoch ein mechanisches oder elektrisches Umschalten der Analysenauflösung, wobei die Arbeitsweise zu jedem Zeitpunkt zwangsläufig auf eine einzige Arbeitsweise beschränkt ist.
Eine allgemeine Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bildanalyse zu schaffen, die die Nachteile der Systeme des Standes der Technik überwinden.
Der Erfindung liegt dabei speziell die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Doppel-Auflösungs-Bildanalyse zu schaffen.
Zur Lösung dieser Aufgaben werden zwei Sensoren verwendet, wobei einer bei geringer Auflösung ein grosses Feld überdeckt und der andere bei hoher Auflösung ein kleines Feld überdeckt. Das Blickfeld der kleinen Auflösung (grosses Feld) ist in bekannter Relation zu dem Blickfeld der hohen Auflösung (kleines Feld) angeordnet. Wegen der bekannten Relation der Auflösungsfelder kann das Feld der geringen Auflösung beim Erkennen eines interessierenden Objektes zur weiteren detaillierten Analyse in das Feld der hohen Auflösung bewegt werden, während die Analyse des Bildes oder der Probe unter niedriger Auflösung fort-
ο 0 9 8 2 ei / ü 0 b 9
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gesetzt wird, um andere interessierende Objekte zu erfassen. Die Analyse kann folglich im wesentlichen gleichzeitig mit einer Mehrzahl von Auflösungsgraden durchgeführt werden.
Die Merkmale und Vorteile der Erfindung werden nachfolgend anhand einer bevorzugten Ausführungsform beschrieben, die zur Darstellung ausgewählt ist. Es zeigen
Fig. 1 perspektivisch und in einem Diagramm den erfindungsgemässen Doppel-Auflösungs-Analysator;
Fig. 2 in einem Blockschaltbild die elektrische Schaltung zum Lokalisieren eines interessierenden Objektes in dem Bild und zum Bestimmen dessen Koordinaten;
Fig. 3A bis 3D verschiedene Relationen zwischen dem Feld geringer Auflösung und dem Feld höherer Auflösung und
Fig. 4 in einem weiteren Diagramm eine andere Ausführungsform des Doppel-Auflösungs-Analysators.
Fig. 1 zeigt in perspektivischer Ansicht und in Form eines Diagramms den erfindungsgemässen Doppel-Auflösungs-Analysator. Ein Probenträger 1, der mittels Antriebsmotoren 2 und 3 in X- und Y-Richtung bewegt werden kann, enthält eine Probe Jj mit einer Mehrzahl interessierender Objekte 5a, 5b und 5c. Bei der zur Blutkörperchenanalyse vorgesehenen Ausführungsform enthält der Probenträger 1 normalerweise ein Glasplättchen, das in herkömmlicher V/eise mit der Blutprobe 4 bestrichen ist. Die Blutprobe enthält viele rote Blutkörperchen und eine Anzahl verteilter weisser Blutkörperchen, das sind die Körperchen 5a, 5b, 5c usw., die von Interesse sind.
Ein optisches Hauptobjektiv 6, wie z.B. ein Mikroskopobjektiv, stellt eine Abbildung einer Fläche der Probe her. Die Fläche
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der Probe, die als "Feld geringer Auflösung" 7 bezeichnet wird, wird durch das Hauptobjektiv 6, den Strahlenteiler 6b und eine zusätzliche Optik 8 geringer Auflösung auf einem Sensor 9 geringer Auflösung abgebildet. Das Abbild des Feldes 7 geringer Auflösung auf dem Sensor 9 geringer Auflösung ist mit der Bezugsziffer 10 bezeichnet. Eine relativ kleine Fläche der Probe, die als "Feld hoher Auflösung" 11 bezeichnet ist, wird durch das Hauptobjektiv 6 und eine zusätzliche Optik 12 hoher Auflösung auf einem Sensor 13 hoher Auflösung abgebildet. Das Abbild hoher Auflösung auf dem für hohe Auflösung vorgesehenen Sensor 13 ist mit der Bezugsziffer 14 bezeichnet.
Die Sensoren 9 und 13, die für niedrige bzw. hohe Auflösung vorgesehen sind, sind herkömmliche optisch-elektrische Bildabtaster. Die optisch-elektrischen Abtastungssensoren können z.B. eine Fernsehkamera, einen Bildzerleger, ein Photodiodenfeld oder dgl. enthalten. Die optisch-elektrischen Sensoren setzen die entsprechenden Abbilder in bekannter Weise in elektrische Signale um.
Bei der vorliegenden Erfindung erscheint das für niedrige Auflösung vorgesehene Ausgangssignal des Sensors 9 auf der Leitung 14b und wird zur Feststellung der Lage eines interessierenden Objektes (weisses Blutkörperchen), wie z.B. der Teilchen 5a, 5b oder 5c, relativ zu dem Feld 11 hoher Auflösung verwendet, so dass geeignete Signale erzeugt werden können, um das interessierende Objekt in das Feld hoher Auflösung zu bewegen. Bei der in Fig. 1 gezeigten Ausführungsform wird das interessierende Objekt dadurch in das Feld 11 höherer Auflösung bewegt, dass der Probenträger 1 in X- und Y-Richtung mittels der Antriebsmotoren 2 und 3 bewegt wird. Eine äquivalente Relativbewegung kann dadurch erreicht werden, dass das optische System bewegt wird und der Probenträger feststeht. Eine solche Anordnung ist in Fig. 1I gezeigt und wird unten erläutert.
b 0 'J Γί 7 ■- / 0 9 5 9
9 3187 ''
Eine Schaltung zum Lokalisieren des neuen interessierenden Objektes j zum Berechnen seiner Koordinaten und zum Erzeugen geeigneter Ausgangssignale zum Betätigen der Antriebsmotore 2 und 3, die das interessierende Objekt in das Feld 11 höherer Auflösung bewegen, ist als Blockschaltbild in Fig. 2 gezeigt. Das Ausgangssignal auf Leitung 14b des für niedrige Auflösung vorgesehenen Sensors wird in dem Komparator 16 mit einem vorher festgelegten Schwellenwert 15 verglichen. Im vorliegenden Beispiel ist die Dichte der interessierenden Objekte höher als die der umgebenden Probe. Der Schwellenwert ist daher so festgelegt, dass davon ausgegangen wird, der Doppel-Auflösungs-Abtaster habe ein interessierendes Objekt angetroffen, wenn das für niedrige Auflösung vorgesehene Ausgangssignal des Sensors 9 den Schwellenwert übersteigt. Dieser Zustand wird durch ein Signal angezeigt, das auf der Ausgangsleitung 17 des Komparators erscheint.
Unter der Annahme, dass der für niedrige Auflösung vorgesehene Abtaster 9 rasterartig abtastet und 64 χ 61J Auflösungselemente besitzt, kann die Position des Abtasters mittels 6-Bit-X- und -Y-Zähler 19 bzw. 20 verfolgt werden. Die X- und Y-Zähler werden vor dem Beginn jeder Abtastung durch die Rücksetzleitung 21 rückgesetzt. Während der Abtastung erhöht die Taktleitung 18 den X-Zähler 19 jedesmal, wenn der Abtaster auf einer horizontalen Abtastungszeile ein Auflösungselement wahrnimmt. Am Ende jeder horizontalen Abtastungszeile erzeugt der X-Zähler einen übertrag und wird das Übertrag-Signal auf der Übertragleitung 22 zur Erhöhung des Y-Zählers 20 verwendet.
Den X- und Y-Zählern 19, 20 sind entsprechende X- bzw. Y-Register 23, 21J zugeordnet. Das X-Register 23 ist mit dem X-Zähler und das Y-Register mit dem Y-Zähler derart verbunden, dass der Inhalt des X-Zählers in das X-Register und der Inhalt des Y-Zählers in das Y-Register übertragen wird, wenn ein Ausgangssignal des Komparators 16 ("Laden"-
6 0 9 B 2 =; / 0 a 5 9
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Signal) vorhanden ist. Wenn ein interessierendes Objekt durch den Komparator 1β erkannt wird, wird folglich die Position des betreffenden Objektes in dem Feld 7 geringer Auflösung in den X- und Y-Registern 23 und 2k gespeichert.
Die Ausgangssignale der X- und Y-Register erscheinen auf Ausgangs-Sammelleitungen 25 und 26. Die beiden Ausgangs-Sammelleitungen führen zu entsprechenden Addier/Subtrahier-Werken 27 und 28, in denen die Position des Feldes 11 hoher Auflösung relativ zu dem Feld 7 geringer Auflösung, je nachdem substrahiert oder addiert wird, um auf den Ausgangsleitungen 29 und 30 geeignete X- und Y-Bewegungssignale zu erzeugen. Die X- und Y-Motor-Antriebsschaltung 31 und 32 setzt die X- und Y-Bewegungssignale in geeignete elektrische Signale um, um die durch die X- und Y-Bewegungssignale dargestellten Bewegungen zu erzeugen.
Die Schaltung der Fig. 2 hat am Ende einer Abtastung die Position des letzten Objektes in dem Feld 7 niedriger Auflösung gespeichert. Selbstverständlich ist es jedoch auch möglich, die "Laden"-Signale nach dem Antreffen des ersten interessierenden Objektes zu sperren, so dass die Position des ersten statt des letzten Objektes aufbewahrt wird. Der Y-übertrag des Y-Zählers 20 wird mittels eines Schaltkreises 3^ zum "Steuern der Bewegung am Ende der Abtastung" zum Sperren des Befehles der Motorbewegungen bis zur letzten Änderung in den X- und Y-Registern 23 und 24 verwendet.
Es ist ferner zu beachten, dass die Relativ-Position des Feldes 11 höherer Auflösung bezüglich des Feldes 7 niedriger Auflösung, wie sie in Fig. 1 gezeigt wird, nur eine von mehreren möglichen Positionen ist. Fig. 3 zeigt einige der möglichen Relativpositionen der beiden Auflösungsfelder. In Fig. 3A ist das Feld 11b höherer Auflösung im Zen-
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? S B / 9 O 3
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trum des Feldes 7b niedriger Auflösung liegend gezeigt. Andere Lagen innerhalb des Feldes niedriger Auflösung können entsprechend der Darstellung in Fig. 3B verwendet werden. Das Feld höherer Auflösung kann das Feld niedriger Auflösung zum Teil überlappen, wie es in Fig. 3C dargestellt ist, oder kann vollständig ausserhalb des Feldes niedriger Auflösung liegen, wie es in Fig. 3D gezeigt ist. Diese drei Anordnungen sind nicht erschöpfend, sondern verdeutlichen nur die grosse Anzahl möglicher Anordnungen.
Es wurde oben darauf hingewiesen, dass es nicht notwendig ist, den Probenträger 1 körperlich zu bewegen, um ein interessierendes Objekt in das Feld höherer Auflösung zu bewegen. In Fig. 4 ist der Probenträger mit Ib und die Probe mit 4b bezeichnet . Die Antriebsmotore 2b und 3b v/erden dazu verwendet, bewegliche Spiegel 33 und 34 anzutreiben, die die Fläche der Probe 4b, die durch die Felder hoher und niedriger Auflösung abgetastet wird, ändern, ohne die Probe körperlich zu bewegen. Im allgemeinen ist diese besondere Ausgestaltung nur dann praktikabel, wenn der Arbeitsabstand des optischen Hauptobjektives 6b ausreichend gross ist, um die Spiegel bequem zwischen ihm und der Probe anzuordnen und dabei die Scharfeinstellung relativ gleichmässig aufrechtzuerhalten.
Die Relativbewegung des Feldes hoher Auflösung gegenüber dem interessierenden Objekt kann selbstverständlich mit oder ohne eine entsprechende Relativbewegung des Feldes 7 geringer Auflösung erreicht werden. Bei der bevorzugten Ausfuhrungsform werden sowohl das Feld niedriger als auch das Feld hoher Auflösung relativ zu dem interessierenden Objekt bewegt, um das interessierende Objekt in das Feld höherer Auflösung zu bringen. Bei der bevorzugten Ausführungsform findet jedoch während der Relativbewegung des interessierenden Objektes in das Feld
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höherer Auflösung keine Relativbewegung zwischen den beiden Auflösungsfeldern statt.
Das Ausgangssignal des für höhere Auflösung vorgesehenen Sensors 13 wird an eine geeignete Einrichtung 37 zur Analyse des Objektes gelegt, Ein solcher Analysator ist in der deutschen Patentanmeldung P 23 ^ 528 {"Verfahren und Vorrichtung zur Analyse unter Verwendung von Farb-Algebra und von Bild-Verarbeitungsverfahren") beschrieben*
Es wurde eine bevorzugte Ausfübrungsform der Erfindung ±m Detail beschrieben. Für den Fachmann ergeben sich
dabei im Rahmen der nachfolgenden Ansprüche zahlreiche Knderungsmöglichkeiten, ohne dadurch vom Grundgedanken der Erfindung abzuweichen.
η y 5 9

Claims (1)

  1. Patentansprüche
    1. Verfahren zur Doppel-Auflösungs-Bildanalyse, dadurch gekennzeichnet, dass
    das Bild bei niedriger Auflösung abgesucht wird, um darin ein Objekt zu erfassen;
    das erfasste Objekt analysiert wird, um zu bestimmen, ob es ein interessierendes Objekt ist;
    das interessierende Objekt bei höherer Auflösung analysiert wird, während das Absuchen des Bildes bei niedrigerer Auflösung fortgesetzt wird, um darin andere Objekte zu erfassen.
    2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
    ein für niedrige Auflösung bestimmtes Feld der Probe bis zum Erfassen eines Objektes abgetastet wird und dann
    ein für höhere Auflösung bestimmtes Feld, das das erfasste Objekt enthält, abgetastet wird, während die Abtastung des für niedrige Auflösung bestimmten Feldes fortgesetzt wird, um andere Objekte in der Probe zu erkennen, wobei die mit niedriger Auflösung erfolgende, fortgesetzte Abtastung ohne Bewegen der Probe relativ zu wenigstens einem der Auflösungs-Felder durchgeführt wird.
    3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das für höhere Auflösung bestimmte Feld relativ zu der Probe bewegt wird, um jedes erfasste Objekt in das für höhere Auflösung bestimmte Feld zu bringen.
    4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass sowohl das für niedrige als auch das für hohe Auflösung bestimmte Feld relativ zu der Probe bewegt wird, wobei
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    9oV
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    die gleiche Relativposition der Felder untereinander beibehalten wird.
    Doppel-Auflösungs-Bildanalysator, gekennzeichnet durch
    Einrichtungen (9) zum Absuchen des Bildes bei niedriger Auflösung;
    Einrichtungen (16) zum Erkennen, dass ein Objekt während des mit niedriger Auflösung erfolgenden Absuchens erfasst wird;
    Einrichtungen (13) zum Analysieren des interessierenden Objektes mit höherer Auflösung;
    Einrichtungen (Fig. 2), die auf die Einrichtung zum Analysieren des erfassten Objektes ansprechen und die Analyse des interessierenden Objektes durch die mit höherer Auflösung arbeitenden Analysiereinrichtungen auslösen, während die mit niedriger Auflösung arbeitenden Absucheinrichtungen (9) fortfahren, das Bild abzusuchen, um darin weitere Objekte zu erfassen.
    Analysator nach Anspruch 5 mit Abtastvorrichtung, gekennzeichnet durch
    Einrichtungen (1) zum Positionieren einer Probe;
    Einrichtungen (9) zum Abtasten einer positionierten Probe mit niedriger Auflösung, wobei diese mit niedriger Auflösung arbeitenden Abtastungseinrichtungen ein für niedrige Auflösung bestimmtes Blickfeld (7) besitzen;
    Einrichtungen (16) zum Erkennen, dass während der mit niedriger Auflösung erfolgenden Abtastung ein Probenobjekt erfasst wird;
    Einrichtungen (13) zum Abtasten eines erfassten Objektes mit höherer Auflösung, wobei diese mit höherer Auflösung arbeitenden Abtastungseinrichtungen ein für höhere Auflösung bestimmtes Blickfeld (11) besitzen;
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    ff
    Einrichtungen (Fig. 2), die auf die Objekterfassungseinrichtungen (16) ansprechen und die Abtastung des Objektes durch die mit höherer Auflösung arbeitenden Einrichtungen auslösen, während die mit niedriger Auflösung arbeitenden Einrichtungen fortfahren, die Probe abzutasten, um andere Gegenstände in der Probe zu erfassen, ohne die Probe relativ zu wenigstens einem der Auflösungs-Blickfelder zu bewegen.
    7. Analysator nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch Einrichtungen (1) zum Positionieren einer Probe;
    eine erste optisch-elektrische Bildabtastungseinrichtung (9) zum Erzeugen eines Ausgangssignals, wenn ein Probenobjekt während der Abtastung erfasst wird;
    eine zweite optisch-elektrische Bildabtastungseinrichtung (13) zum Erzeugen von Ausgangssignalen, die ein abgetastetes Bild darstellen;
    optische Einrichtungen (6, 6b, 8, 12) zum Abbilden eines für niedrige Auflösung bestimmten Probenfeldes (7) auf der ersten optisch-elektrischen Bildabtastungseinrichtung (9) und eines für höhere Auflösung bestimmten Probenfeldes (7) auf der zweiten optisch-elektrischen Bildabtastungseinrichtung (13);
    Einrichtungen (Fig. 2), die auf das Ausgangssignal der ersten optisch-elektrischen Bildabtastungseinrichtung (9) ansprechen und das für höhere Auflösung bestimmte Probenfeld (11) relativ zu der Probe bewegen, um das erfasste Probenobjekt zur Abtastung durch die zweite optisch-elektrische Bildabtastungseinrichtung (13) in das für höhere Auflösung vorgesehene Feld (11) zu bringen, während die erste optischelektrische Bildabtastungseinrichtung (9) fortfährt, das für niedere Auflösung vorgesehene Feld abzutasten, um andere Objekte in der Probe zu erfassen, wobei die mit niedriger
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    1Z
    Auflösung erfolgende, fortgesetzte Abtastung durchgeführt wird, ohne die Probe relativ zu wenigstens einem der Auflösungsfelder zu bewegen, und
    Einrichtungen (37), die auf die Ausgangssignale der zweiten optisch-elektrischen Bildabtastungseinrichtung (13) ansprechen und diese verwerten.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die optischen Einrichtungen (6, 6b, 8, 12) zum Abbilden der für niedere und hohe Auflösung bestimmten Probenfelder (7, 11) einen optischen Weg für das. für niedere Auflösung bestimmte Probenfeld (7) und einen optischen Weg für das für hohe Auflösung bestimmte Probenfeld (11) aufweisen.
    9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die optischen Wege einen gemeinsamen Bereich besitzen.
    10. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die .Positionierungseinrichtung einen in X- und Y-Richtung verschiebbaren Probenträger aufweist und die auf die Ausgangssignale ansprechenden Bewegungseinrichtungen (2, 3) X- und Y-Antriebsmittel zum Bewegen des Probenträgers aufweisen.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die auf die Ausgangs signale ansprechenden Bewegungsmittel sowohl das für niedrige als auch das für höhere Auflösung bestimmte Probenfeld relativ zu der Probe bewegen.
    12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Bewegungsmittel (2, 3; 2b, 3b) sowohl das für niedrige als auch das für höhere Auflösung bestimmte Probenfeld relativ zu der Probe bewegen, ohne die gegenseitige Relation der beiden Felder zueinander zu verändern.
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    ? s s ? q o 3 3187
    13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das für höhere Auflösung vorgesehene Probenfeld (11) innerhalb des für niedrige Auflösung vorgesehenen Probenfeldes (7) angeordnet ist.
    I1J. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass sich das für höhere Auflösung vorgesehene Probenfeld und das für niedrige Auflösung vorgesehene Probenfeld zum Teil überlappen.
    15. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das für höhere Auflösung vorgesehene Probenfeld ausserhalb des für niedrige Auflösung vorgesehenen Probenfeldes angeordnet ist.
    16. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eines der Auflösungsfelder ein für niedere Auflösung bestimmtes Feld ist.
    17. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eines der Auflösungsfeider ein für hohe Auflösung vorgesehenes Feld ist.
    18. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die mit niedriger Auflösung erfolgende, fortgesetzte Abtastung ohne Bewegen der Probe relativ zu den für niedrige und höhere Auflösung vorgesehenen Felder erfolgt.
    19. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Auflösungsfeld ein für niedrige Auflösung vorgesehenes Feld ist.
    20. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Auflösungsfeld ein für höhere Auflösung vorgesehenes Feld ist.
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    3 0 3 3 > ' ■· O 9 5 9
    3187
    7 S S 2 9 O 3
    21. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass
    die mit niedriger Auflösung erfolgende, fortgesetzte Abtastung ohne Bewegen der Probe realtiv zu den für niedrige und hohe Auflösung bestimmten Feldern durchgeführt wird.
    22. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Auflösungsfeld ein für niedrige Auflösung vorgesehenes Feld ist.
    23. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Auflösungsfeld ein für höhere Auflösung vorgesehenes Feld ist.
    2k. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die mit niedriger Auflösung erfolgende, fortgesetzte Abtastung ohne Bewegen der Probe relativ zu den für niedrige und höhere Auflösung bestimmten Felder erfolgt.
    ö 0 S δ 2 ... / C 9 5 9
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