DE2546079A1 - Spiegelkondensor fuer mikroskope - Google Patents

Spiegelkondensor fuer mikroskope

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DE2546079A1
DE2546079A1 DE19752546079 DE2546079A DE2546079A1 DE 2546079 A1 DE2546079 A1 DE 2546079A1 DE 19752546079 DE19752546079 DE 19752546079 DE 2546079 A DE2546079 A DE 2546079A DE 2546079 A1 DE2546079 A1 DE 2546079A1
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condenser
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mirror
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mirrored
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Withdrawn
Application number
DE19752546079
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English (en)
Inventor
Willi Hagner
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Spiegelkondensor für Mikroskope
  • Die Erfindung betrifft einen Spiegelkondensor für Mikroskope, insbesondere zur Verwendung in der Auflichtfluoreszenz-Mikroskopie.
  • Bei dieser Art von Mikroskopie wird das Präparat von oben durch das Objektiv oder einen Äuflicht-Dunkelfeldkondensor mit einer Erregerstrahlung angestrahlt, die dieses Präparat zum Fluoreszieren anregt. Eine andere Wirkung hat die von oben auf das Präparat konzentrierte Erregerstrahlung nach dem Stand der Technik nicht, sondern tritt, ansonsten ungenutzt, durch das Präparat hindurch.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, diese ungenutzt hindurchtretenden Strahlen einer weiteren Nutzung zuzuführen.
  • Gemäß der Erfindung ist diese Aufgabe dadurch gelöst, daß der Kondensor dem Präparat zugekehrte, verspiegelte Flächen besitzt, die derart geformt sind, daß durch sie die durch das Präparat tretenden Auflicht-Strahlen zum Präparat zurück reflektiert werden und dasselbe nach Art einer Durchlicht-Dunkelfeldbeleuchtung von unten anstrahlenO Durch diesen Spiegelkondensor werden somit einmal die schon durch das Präparat getretenen und sonst verlorengehenden Erregerstrahlen ein zweites Mal genutzt. Sie werden zum Präparat zurück reflektiert und für eine Durchlichtanregung im Dunkelfeld genutzt. Zum anderen wird auch die allseitig emittierte Fluoreszenzstrahlung hinsichtlich des im Dunkelfeld- Strahlenkegels nach unten emittierten Anteils im Hellfeld-Strahlenkegel nach oben reflektiert.
  • Durch den erfundenen Spiegelkondensor wird daher vor allem bei Objektiven schwacher bis mittlerer V,rgröDerung und relativ niedriger Apertur eine wesentlich stärkere Fluoreszenzlichtausbeute für die mikroskopische Abbildung erzielt.
  • Aber auch bei höheren Aperturen kann der Kondensor mit Vorteil verwendet werden. Und zwar dann, wenn der Kondensor als kompaktes, im wesentlichen rotationssymmetrisches Bauteil ~~mit ver-spiegelter Grund- und Umfangsfläche und gerader Oberfläche ausgeführt wird und wenn zwischen die gerade Oberfläche und den Objektträger eine Immersion (Öl oder Wasser) eingebracht wird.
  • Des weiteren kann bei der beschriebenen Grundanordnung das vom Spiegelkondensor im Dunkelfeld-Strahlengang reflektierte Anregungslicht auch für die Streulichtmessung bzw. Dunkelfeldbeobachtung in der Vorwärtskeule des in der Präparatebene gestreuten Lichtes verwendet werden.
  • Die Anwendung des beschriebenen Prinzips ist immer dann von besonderem Vorteil, wenn die dadurch bewirkte Erhöhung der Leuchtdichte in der Objektebene noch nicht zu einem störenden Ausbleichen der fluoreszierenden Objektdetails führt.
  • Somit ist sie von besonderem Vorteil etwa bei relativ schwachen, beispielsweise aus Prelsgründen verwendeten Lichtquellen, wie Halogen-Glühlampen, oder aber bei automatisierten Verfahren mit vernachlässigbar geringer Verweildauer des Objektes im Strahlengang.
  • Sind die Reflexionsflachen des Kondensor mit dichromatischen Teilerschichten belegt, kann zusätzlich und gleichzeitig im durchlässigen Bereich der Teilerschichten im normalen Durchlicht (Hell- und Dunkelfeld) mikroskopiert werden. Das ist besonders vorteilhaft bei der quantitativen Immunfluoreszenz, denn es verhindert ein vorzeitiges Aus bleichen bei der Orientierung im Präparat und der Fokussierung der zu messenden Zelle, weil dadurch die Möglichkeit gegeben ist, beim Aufsuchen und Fokussieren des Objekts eine Vorbelastung durch Anregungsstrahlung zu vermeiden.
  • Weiterhin ist es möglich, mit dem vorgeschlagenen Spiegelkondensor eine Auflicht-Dunkelfeldanordnung gleichzeitig für Durchlicht-Hellfeldbeobachtung zu nutzen. Die Anwendung dieser kombinierten Methode ist bei bestimmten Präparaten von Vorteil, z.B. Gewebeuntersuchungen en Textilien. Sie kann bisher aber nur mit zwei getrennten Beleuchtungsanordnungen realisiert werden.
  • In der Zeichnung ist die Erfindung in mehreren Ausführungsbeispielen dargestellt. Es zeigen: Fig. 1 schematisch eine erste Ausführungsform eines Spiegelkondensors für niedrige bis mittlere Aperturen mit dem Verlauf der Lichtstrahlen als Erregerstrahlen und als reflektierte Durchlicht-Dunkelfeldbeleuchtung, Fig. 2 schematisch eine zweite Ausführungsform des Spiegelkondensors mit gleichen Eigenschaften für höhere Aperturen, Fig. 3 eine Ausführungsform des Kondensors, bei der die spiegelnden Flächen mit einer dichromatischen Teilerschicht belegt sind, Fig. 4 eine abgewandelte Form nach Fig. 3, bei der als Träger des vorgeschlagenen Spiegelkondensors der Kondensorkopf eines Durchlidht-Hellfeldkondensors verwendet wird.
  • In Fig. 1 ist mit 1 die Objektebene eines sonst nicht weiter dargestellten Mikroskops bezeichnet. In dieser Ebene befindet sich bei la da,s Präparat. Dieses wird mit Auflicht-Erregerstrahlen 2 von oben her angestrahlt und zum Fluoreszieren gebracht. Danach treten die Strahlen 2 nach unten durch das Präparat la hindurch.
  • Unterhalb des Präparates ist ein Spiegelkondensor angeordnet, der aus einer kreisförmigen Grundplatte 3 mit entsprechel.d sphirisch-oder asphäriscir-gefoT1nter -iind verspie -gelter Oberfläche 3a besteht.
  • Die Platte 3 wird von einem etwas näher zum Präparat la hin angeordneten Ringspiegel 4 umgeben, dessen sphärisch oder asphärisch geformte Innenwand 4a ebenfalls verspiegelt ist.
  • Die Oberfläche 3a und die Innenwand 4a sind mit ihren Krümmungen derart geformt, daß die von oben auf die verspiegelte Oberfläche 3a fallenden Erregerstrahlen 2 nach der Seite zur Innenwand 4a hin reflektiert werden und von dort wieder zurück zum Präparat, wo sich die Strahlen schneiden und das Präparat ia von unten her als Dunkelfeldbüschel beleuchten.
  • Dies ergibt für das Präparat eine Art Dunkelfeldbeleuchtung, die wesentlich zur Verstärkung der Fluoreszenz beiträgt, Die Erregerstrahlen 2 werden somit zweimal zur Erregung der Fluoreszenz ausgenutzt. Zum anderen wird auch die allseitig emittierte Fluoreszenzstrahlung hinsichtlich des im Dunkelfeld-Strahlenkegel nach unten emittierten Anteile im Hellfeld-Strahlenkegel nach oben reflektiert.
  • In der Ausführungsform der Fig. 2 sind die Grundplatte und der sie umgebende Ring zu einer Einheit zusammengefaßt und stellen einen Kondensor 5 als rotationssymmetrischen Körper mit leicht konischer Unterseite 5a und leicht gekrümmtem Umfang 5b dar.
  • Die dem Objekt zugewandte Seite 4c des Kondensors ist so geformtß daß sie über eine Immersion 8 in Kontakt mit der kondensorseitigen Fläche des Präparates (in Fig. 2 bestehend aus Objektträger 6, Objekt la und Deckglas 7) gebracht werden kann. Verlauf der Strahlen 2 und ihre Reflexion sind in diesem Ausführungsbeispiel die gleichen wie im Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1. Allerdings ist mit dieser letzten Ausführungsform eine weit höhere Apertur erreichbar.
  • Der Kondensor nach Fig. 3 besteht aus einem Kondensorkopf 30 und einem Tragkörper 31, die miteinander verkittet sind.
  • Die Reflexionsfläche 30a des Kondensorkopfes 30 ist mit einer dichromatischen Teilerschicht belegt, und seine leicht gekrümmte Umfangsfläche 30b ist verspiegelt. Durch entsprechende Formgebung des Tragkörpers 31 entsteht durch die Verkittung ein planparalleler, lichtdurchlässiger Körper, der einmal an der Reflexionsfläche 30a und der verspiegelten Umfangsfläche 30b die Auflichtstrahlung im diesseitigen Bereich der spektralen Kantenlage der Teilerschicht, wie schon in Fig. 1 und 2 beschrieben, reflektiert und eine zus ätz liche Durchlicht-Dunkelfeld- oder Hellfeldstrahlung im jenseitigen Spektralbereich ungehindert passieren läßt0 Fig. 4 zeigt ebenfalls einen zweigeteilten Kondensor mit dichromatischer Teilerschicht und stellt insoweit lediglich eine andere Ausführungsform des Kondensors nach Fig.3 dar. Er unterscheidet sich jedoch von letzterem dadurch, daß der Kondensorkopf 40 in den Tragkörper 41 vollständig eingebettet ist. Die Verkittungsfläche ist auch hier mit einer dichromatischen Teilerschicht belegt und wirkt als Reflexionsfläche 40a. Außerdem hat der Tragkörper im unteren Teil eine rotationssymmetrische sphärische Außenfläche 41a. Der gesamte Kondensor stellt an sich einen normalen Hellfeldkondensor dar, der jedoch durch die dichromatische Teilerschicht zwischen dem Kondensorkopf 40 und dem Tragkörper 41 zusätzlich als Spiegelkondensor verwendbar ist.

Claims (6)

  1. Ansprüche 1. Spiegelkondensor für Mikroskope zur Verwendung in der Auflichtfluoreszenz-Mikroskopie, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensor dem Präparat (la) zugekehrte, verspiegelte Flächen (3a, 4a; 30a, 40a) besitzt, die derart geformt sind, daß durch sie die durch das Präparat (1a) tretenden Auflicht-Strahlen (2) zum Präparat (la) zurück reflektiert werden und dasselbe nach Art einer Durchlicht-Dunkelfeldbeleuchtung von unten anstrahlen.
  2. - 2~ -ieglkondensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß derselbe aus einer Grundplatte (3) mit verspiegelter sphärischer bzw. asphärischer Oberfläche (3a) und einem diese etwa umgebenden, innen verspiegelten Ring (4) besteht, so daß die durch das Präparat (la) tretenden Auflicht-Strahlen (2) von der Oberfläche (3a) der Grundplatte (3) zur Ring-Innenwand (4a) und von dort zum Präparat (la) zurück reflektiert werden.
  3. 3. Spiegelkondensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Grundplatte (3) und der Ring (4) zwei separate Bauelemente sind.
  4. 4. Spiegelkondensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet9 daß die Grundplatte und der Ring zu einem kompletten Kondensor (5) in Form eines rotationssymmetrischen Körpers mit leicht konischer Unterseite (5a) und leicht gekrümmtem Umfang (Sb) zusammengefaßt sind.
  5. 5; Spiegelkondensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensor aus einem Kondensorkopf (30) und einem mit diesem entlang einer entsprechend konisch geformten Reflexionsfläche (30a) verkitteten Tragkörper (31) besteht, wobei die Reflexionsfläche mit einer dichromatischen Teilerschicht belegt ist, daß ferner der Kondensorkopf (30) mit einer leicht gekrümmten, verspiegelten Umfangsfläche (30b) versehen ist und daß die obere Fläche des Kondensorkopfes und die untere Fläche des Tragkörpers zueinander planparallel sind und senkrecht zur optischen Achse verlaufen.
  6. 6. Spiegelkondensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensor aus einem Tragkörper (41) und einem in diesen eingelassenen, entlang einer entsprechend konisch geformten Reflexionsfläche (30a) verkitteten Kondensorkopf (40) besteht, wobei die Reflexionsfläche mit einer dichromatischen Teilerschicht belegt ist und der Tragkörper eine rotationssymmetrische asphärische untere Seite besitzt.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4515445A (en) * 1982-02-11 1985-05-07 Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz Optical system for transmitted-light microscopy with incident illumination
US7166409B2 (en) * 2000-06-15 2007-01-23 3M Innovative Properties Company Multipass multiphoton absorption method and apparatus
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DE102015222768A1 (de) * 2015-11-18 2017-05-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur simultanen Fluoreszenz-Kontrastgebung in Durchlicht und Auflicht

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DE102015222768B4 (de) 2015-11-18 2023-10-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur simultanen Fluoreszenz-Kontrastgebung in Durchlicht und Auflicht

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