DE2513345B1 - Vorrichtung fuer die spektralanalytische bestimmung der legierungskomponenten von materialproben aus metall - Google Patents
Vorrichtung fuer die spektralanalytische bestimmung der legierungskomponenten von materialproben aus metallInfo
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Description
40
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die spektralanalytische Bestimmung der Legierungskomponenten
von Metallen, wobei in bekannter Weise die mit der Materialprobe erzeugte Funkenentladung
über einen Primärspalt auf ein Konkavgitter abgebildet wird und die auf die zu untersuchenden Spektrallinien
eingestellten Sekundärspalte auf einem Kreis angeordnet sind. Die Intensität der Linien wird
mit Fotoempfängern gemessen, wobei die Fotoströme ein Maß für den Anteil dieser Elemente in der Probe
sind.
Die Abbildungseigenschaften von Konkavgittern sind durch Astigmatismus begrenzt:
In einem Schnitt quer zu den Gitterfurchen liegen die Bildorte auf einem Kreis, dem sogenannten
Rowland-Kreis, wenn der Primärspalt ebenfalls auf diesem Kreis liegt. Der Kreis tangiert die Gitteroberfläche
im Zentrum des Konkavgitters, wobei der Durchmesser des Kreises gleich dem Krümmungsradius
des Konkavgitters ist. Im Schnitt parallel zu den Furchen werden die Bildpunkte auf dem Kreis
unscharf abgebildet, so daß der Spalt sehr exakt parallel zu den Furchen justiert werden muß, wenn das
Auflösungsvermögen des Gitters nicht vermindert werden soll.
Die derzeit bekannten Spektrometer zur Untersuchung der Zusammensetzung von Metallegierungen
und ähnlichen Materialproben, die auch als Quantometer bezeichnet werden, die mit einem Konkavgitter
arbeiten, haben beachtliche Abmessungen und sind deshalb als ortsfeste Vorrichtungen für den Laboratoriumsbetrieb
ausgebildet. Diese Abmessungen sind vor allem dadurch bedingt, daß man bisher Kreisdurchmesser
von etwa 1 m nicht unterschritten hat, da man bisher der Auffassung war, daß beim Unterschreiten
dieser Durchmesser eine Justierung überhaupt nicht mehr möglich ist bzw. derart kompliziert
wird, daß nur ein Arbeiten in wissenschaftlichen Instituten mit entsprechenden Fachkräften möglich ist.
Da die Justierung des Primärspaltes mit großer Genauigkeit und sehr sorgfältig erfolgen muß, sitzt
dieser bei bekannten Spektrometern z. B. auf einem schwenkbaren Arm, der in der Nähe des Eintrittsfensters zur Abbildung der Funkentladung auf das
Gitter auf einem Zapfen gelagert ist, oder er wird mit einer Spindel linear verschoben. Der große
Krümmungsradius des Rowland-Kreises erlaubt, daß für die erforderlichen kleinen Korrekturen der Kreisbogen
im Bereich des Primärspaltes in erster Näherung als geradliniger Streckenabschnitt betrachtet
werden kann. Diese relativ leicht zu handhabende Justierung des Spaltes hat jedoch den Nachteil, nur
in einem Spektrometer mit einem langbrennweitigen Gitter und damit räumlich großem Rowland-Kreis
befriedigend zu arbeiten.
Diese große Abmessung ist bei stationär arbeitenden Spektrometern im allgemeinen nicht von Nachteil,
da ein Teil der zu untersuchenden Spektrallinien im kurzwelligen UV-Bereich des Lichts liegt, der
von Luft absorbiert wird, weshalb das Spektrometer selbst evakuiert werden muß, wofür voluminöse Zusatz-Aggregate
erforderlich sind.
In Fällen, in denen man daran interessiert ist. Werkstoffe auf Legierungskomponenten zu analysieren,
deren auswertbare Spektrallinien im sichtbaren oder langwelligen UV-Bereich liegen, sind die Zusatzeinrichtungen
für das sogenannte Vakuum-UV nicht erforderlich.
Ein solches »Luftgerät« ist zwar nicht so universell wie ein »Vakuum-Quantometer«, weil einige Elemente
nicht zu erfassen sind, es bietet aber immer noch große Vorteile bei der Materialkontrolle sowohl
beim Erzeuger als auch bei der verarbeitenden Industrie, die beispielsweise daran interessiert ist, daß in
einem angelieferten Bund von Stabmaterial eventuell falsch einsortierte Stäbe mit anderen Anteilen an Legierungskomponenten
als den geforderten in einfacher Weise aussortiert werden können. Stets müßten aber die einzelnen Stäbe bzw. Scheiben dieser
Stäbe an das Spektrometer herangebracht werden. Wie oben dargelegt ist, können derartige Spektrometer
nicht an die zu untersuchenden Werkstücke herantransportiert werden. Insbesondere ist es aber
auch nicht möglich, sie beispielsweise oberhalb eines Transportbandes mit zu analysierenden Werkstücken
anzubringen, so daß Werkstücke mit anderen als der vorgegebenen Zusammensetzung registriert und aussortiert
werden können.
Eine von der Anmelderin am gleichen Tag eingereichte Schutzrechtsanmeldung befaßt sich damit,
Durchmesser des Rowland-Kreises klein zu wählen und trotzdem eine exakte Justierung des Primärspaltes
zu erzielen, so daß ein derart ausgebildetes Spektrometer ohne weiteres als tragbares Gerät ausgebildet
werden kann, falls as lediglich im sichtbaren und nahen UV-Spektralbereich arbeitet.
Zu diesem Zweck ist eine den Primärspalt aufweisende Platte im Gehäuse der Vorrichtung auf dem
Kreisbogen des Rowland-Kreises verschiebbar und arretierbar angeordnet. Durch diese Maßnahmen
wird erreicht, daß stets parallel zum Kreis auf ihm eine Justierung des Primärspaltes erfolgt, so daß es
nicht mehr erforderlich ist, den Kreisdurchmesser so groß zu wählen, daß er für die Justierung des Primärspaltes
als geradlinige Strecke in erster Näherung betrachtet werden kann.
In einer vorteilhaften Ausführungsform wurde vorgeschlagen, die Platte mit dem Primärspalt in zwei
der Krümmung des Rowland-Kreises folgenden Nuten zu führen und arretierbar auszubilden, so daß
durch diese Führung einerseits die Justierung längs des Kreises gewährleistet und andererseits eine erschütterungsunempfindliche
Lagerung mit dem Spalt möglich ist.
Hierbei ergibt sich jedoch folgendes Problem: Bei den bekannten Quantometern wird zur Erzeugung der
Funkenentladung die Materialprobe auf einen Petrey-Tisch gespannt und bildet mit einer Gegenelektrode
eine Funkenstrecke, die durch Anlegen einer Hochspannung gezündet wird. Die Materialprobe dient
hierbei als die eine Elektrode der Funkenstrecke. Dieser Petrey-Tisch ist erforderlich, damit die Funkenentladung
in einem vorgegebenen Abstand zum Primärspalt erzeugt wird, da im gegenteiligen Falle
eine genaue Abbildung der Funkenstrecke auf das Gitter gegebenenfalls trotz richtiger Justierung des
Primärspaltes nicht möglich ist.
Es ist zwar prinzipiell möglich, den Petrey-Tisch in die oben beschriebene noch nicht zum Stand der
Technik gehörende Vorrichtung zu integrieren, jedoch wird hierdurch ihre Handlichkeit und auch ihre
Einsatzmöglichkeit beschränkt, da beispielsweise bei der Untersuchung von Stäben eines angelieferten
Bundes von Stabmaterial von diesen Stäben einzelne Materialproben abgeschnitten und auf den Petrey-Tisch
gespannt werden müßten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die mit der Materialprobe die Funkenstrecke bildende Gegenelektrode
derart anzuordnen, daß eine Funkenentladung stets in vorgegebenem Abstand zum Primärspalt
erzeugt wird, ohne daß von dem zu untersuchenden Material Proben entnommen werden müssen,
und eine derartige Anordnung zu treffen, daß das Bedienungspersonal gegen Hochspannungsschläge
geschützt ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die mit der Materialprobe die Funkenstrecke
bildende Gegenelektrode am Gehäuse der Vorrichtung in einer Hülse aus Metall angeordnet ist und
die Hülse am Rande eine Ausnehmung hat, die nach dem Aufsetzen auf die Materialprobe mit dieser eine
Blendenöffnung für die Abbildung der Funkenentladung auf den Primärspalt begrenzt. Durch diese
Maßnahmen wird erreicht, daß die Vorrichtung lediglich auf die zu untersuchende Materialprobe mit
der Hülse aufzusetzen ist, wobei durch die Hülse der Abstand der die Funkenstrecke bildenden Materialprobe
und der Gegenelektrode vorgegeben ist. Die Blendenöffnung legt zugleich den Ort der Funkenentladung
für die Abbildung auf den Primärspalt und damit auch auf das Rowland-Gitter fest, die mittels
eines optischen Systems vorgenommen wird.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die Gegenelektrode in einem am Gehäuse befindlichen
Isolierkörper arretierbar angeordnet und taucht in die Hülse ein. Durch diese Maßnahme wird
die an die Gegenelektrode für die Funkenentladung zu liegende Hochspannung von der Vorrichtung ferngehalten
und andererseits vor dem Arretieren eine Justierung der Gegenelektrode zu der Hülse ermöglicht.
In einer noch weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist der Abstand der Gegenelektrode von der
Ebene des Randes der Hülse gleich dem Elektrodenabstand der mit der Materialprobe zu bildenden
Funkenstrecke. Durch diese Maßnahme wird erreicht, daß ein Funkenüberschlag stets von der Gegenelektrode
in die Materialprobe und nicht etwa zur Hülse stattfindet. Selbstredend ist hierbei der Ringspalt
zwischen Gegenelektrode und Hülse breiter zu wählen als dieser Abstand.
In einer noch weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung weist die Hülse einen Anschluß für
einen Schutzkreis auf, der die Funkenstrecke bei fehlendem Kontakt der Hülse mit der auf Bezugspotential liegenden Materialprobe verriegelt. Durch
diese Maßnahme wird erreicht, daß eine Funkenentladung erst dann ablaufen kann, wenn die Materialprobe,
die Hülse und das Bedienungspersonal sich auf gleichem Potential befinden, so daß für letzteres
keine Gefahr beim Arbeiten mit der Vorrichtung besteht.
Die Erfindung wird an Hand eines Ausführungsbeispiels in der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigt
F i g. 1 eine perspektivische Ansicht der noch nicht zum Stand der Technik gehörenden Vorrichtung einschließlich
der schematisch dargestellten Hülse und der Gegenelektrode,
F i g. 2 die perspektivische Ansicht nach F i g. 1 bei entferntem Gehäuseoberteil,
F i g. 3 die Anordnung von Hülse, Gegenelektrode und Isolierkörper im Schnitt.
Gemäß F i g. 1 besteht das Gehäuse der Vorrichtung aus einem kreissegmentartigen Deckeloberteil 1
und einem kreissegmentartigen Gehäuseunterteil 2 mit einem zylinderabschnittförmigen Seitenteil 3 sowie
zwei plattenförmigen Seitenteilen 4, von denen nur das vordere mit dem Tragegriff 5 sichtbar ist. Durch
das vordere Seitenteil 4 ist eine Justierschraube 13 für den Primärspalt geführt, während das gekrümmte
Seitenteil eine Fassung 14 mit dem eingesetzten Fenster 15 und einer dahinter befindlichen Linse 15' zur
Abbildung der Funkenentladung auf das im Gehäuseinneren befindliche Konkavgitter 25 hat. Zur Auslösung
der Funkenentladung ist auf einem auf das gekrümmte Seitenteil aufgesetzten Schutzgehäuse 16
die Hülse 17 aus Metall angeordnet, die konzentrisch die Gegenelektrode 17' zur Auslösung der Funkenentladung
umfaßt und die in Richtung zu der Linse 15' eine halbkreisförmige Ausnehmung 17" aufweist.
Durch Aufsetzen der Vorrichtung mit der Hülse
17 auf die zu untersuchende Materialprobe bildet diese mit der Ausnehmung 17" das Austrittsfenster
für die Funkenentladung, die durch dieses über die Linse auf das Konkavgitter abgebildet wird. Diese
Hülse ist Bestandteil eines Schutzkreises, der die Entladeeinrichtung, die in einem weiteren Gerät untergebracht
ist, verriegelt, falls diese Elektrode bzw. Schutzhülse die Materialprobe nicht berührt und
gleichzeitig nicht auf Erdpotential liegt, auf dem sich auch das Bedienungspersonal befindet. Die Entladeeinrichtung,
mittels derer die Funkentladung ausge-
löst und gesteuert wird, befindet sich in dem Gerät 17"', das mit dem erfindungsgemäßen Spektrometer
über die nicht bezifferten Hochspannungskabel verbunden ist.
Gemäß F i g. 2 bildet die Grundplatte 2' mit den seitlichen Profilleisten 2" eine verwindungssteife Einheit.
Auf dieser Grundplatte, die an drei Punkten in dem eigentlichen Gehäuse elastisch aufgehängt ist,
ist ein gemäß der Krümmung des Rowland-Kreises gekrümmter Spaltträger 20 angeordnet, in den die
Sekundärspalte 21 eingesetzt ist. Dieser Spaltträger ist mittels der Einstellschrauben 22, 23 auf dem Trägerrahmen
justierbar angeordnet. Der Spaltträger führt den Primärspaltträger 32 mit dem Primärspalt
34, auf den mittels der Linie 15 (F i g. 1) die Funkenentladung ausgebildet wird. Das Konkavgitter 25 ist
auf einer nicht dargestellten Trägerplatte montiert. Der Gehäuseboden weist zusätzlich eine Heizfolie 23'
auf, mit der während des Betriebes das Gehäuse auf einer höheren Temperatur als die Umgebungstemperatur
gehalten werden kann, so daß Schwankungen dieser Umgebungstemperatur die eigene Temperatur
des Gerätes nicht verändern und dadurch keine Wärmedehnungen auftreten.
In F i g. 3 ist das zylinderabschnittförmige Seitenteil 3 des Gehäuses im Ausschnitt dargestellt, auf
dem das Schutzgehäuse 16 befestigt ist. In diesem Schutzgehäuse ist der Isolierkörper 40 angeordnet,
der eine Bohrung aufweist, in der eine über die Stirnfläche 41 des Isolierkörpers ragende Metallhülse
42 eingesetzt ist, die ihrerseits in eine Isolierhülse 44 ragt. In der Isolierhülse 44 schließt sich an diese
Metallhülse 42 eine Klemmhülse 45 an, in der mittels der Isolierschraube 46 die Gegenelektrode 17' festgeklemmt
wird. Die Isolierhülse 44 läuft in einen hohlzylinderförmigen Isolierteil 47 aus, über den die
Metallhülse 17 geschoben ist. Die Bohrungen dieser Hülsen schließen sich fluchtend aneinander und nehmen
die Gegenelektrode 17' auf, die gegen eine Feder 48 ansteht. Die Feder sowie die Hülse 42 stehen
in elektrisch leitendem Kontakt mit der Anschlußplatte 48' für das Hochspannungskabel 51. Mit 50 ist
die Materialprobe bezeichnet, die mit der Gegenelektrode 17' die Funkenstrecke bildet, wobei der
ίο Elektrodenabstand von der Hülse 17 vorgegeben ist.
Die Hülse 17 weist zusätzlich einen Anschluß 52 für den Schutzkreis auf. Der Elektrodenabstand wird
mittels einer auf den Rand der Hülse 17 aufgestellten Lehre bei gelöster Isolierschraube 46 eingestellt,
die nach dem Justieren angezogen wird.
Durch die erfindungsgemäße Justierung des Primärspaltes und des Gitters sowie die Verwendung der
leichten Trägerplatte ist es möglich, das Spektrometer als handliches transportables Gerät, insbesondere
weil nicht unter Vakuum gearbeitet wird, auszubilden, wobei die Einrichtung zur Erzeugung der Funkenentladung
durch entsprechende Dimensionierung ebenfalls transportabel gemacht werden kann. Durch
den Einbau von Schutz- bzw. Verriegelungskreisen, die ein Auslösen der Funkenentladung sperren, falls
die Materialprobe und die als Schutzkontakt ausgebildete Hülse 17 sich nicht auf Erdpotential gemeinsam
befinden, wird dafür gesorgt, daß das Bedienungspersonal gegen die von den elektronischen Zusatzeinrichtungen
erzeugte Hochspannung geschützt wird. Die Ausbildung einer Funkenstrecke mit Schutzkreisen ist Gegenstand einer weiteren, am
gleichen Tage von der Anmelderin eingereichten Anmeldung und in diesem Zusammenhang nicht näher
beschrieben wird.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Vorrichtung für die spektralanalytische Bestimmung der Zusammensetzung von Metallegierangen
und ähnlichen Materialproben, wobei die erzeugte Funkentladung mittels eines Primärspaltes
auf ein Konkavgitter abgebildet wird und die auf die zu untersuchenden Spektrallinien eingestellte
Sekundärspalte und der Primärspalt auf dem Rowland-Kreis angeordnet sind, dadurch
gekennzeichnet, daß die mit der Materialprobe (50) die Funkenstrecke bildenden Gegenelektrode
(17') am Gehäuse der Vorrichtung in einer Hülse (17) aus Metall angeordnet ist und
die Hülse am Rande eine Ausnehmung (17') hat, die nach dem Aufsetzen auf die Materialprobe mit
dieser eine Blendenöffnung für die Abbildung der Funkenladung auf dem Primärspalt begrenzt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gegenelektrode (17') in
einem am Gehäuse befestigten Isolierkörper (40) arretierbar angeordnet ist und in die Hülse eintaucht.
3. Vorrichtung nach Ansprach 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand der Gegenelektrode
von der Ebene des Randes der Hülse gleich dem Elektrodenabstand der mit der Materialprobe
zu bildenden Funkenstrecke ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Hülse
einen Anschluß (52) für einen Schutzkreis hat, der die Funkenstrecke bei fehlendem Kontakt der
Hülse mit der auf Bezugspotential liegenden Materialprobe verriegelt.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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