DE2460346A1 - Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrens - Google Patents
Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrensInfo
- Publication number
- DE2460346A1 DE2460346A1 DE19742460346 DE2460346A DE2460346A1 DE 2460346 A1 DE2460346 A1 DE 2460346A1 DE 19742460346 DE19742460346 DE 19742460346 DE 2460346 A DE2460346 A DE 2460346A DE 2460346 A1 DE2460346 A1 DE 2460346A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- contact
- cooling
- web
- comb
- contact legs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
- H01L23/3135—Double encapsulation or coating and encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49562—Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49568—Lead-frames or other flat leads specifically adapted to facilitate heat dissipation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/842—Applying energy for connecting
- H01L2224/84201—Compression bonding
- H01L2224/84203—Thermocompression bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
- H01L2224/848—Bonding techniques
- H01L2224/84801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/84—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01021—Scandium [Sc]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01058—Cerium [Ce]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1203—Rectifying Diode
- H01L2924/12036—PN diode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1301—Thyristor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Description
MANNHEIM BROWN BOVERI
Mp.-Nr. 689/74 Mannheim, den 19. Dezember1974
ZFE/P 3-Pp./Ha.
Verfahren zum Kontaktieren von Halbleiterbauelementen und/oder integrierter Schaltungen sowie Kontaktierungsstreifen zur
Durchführung des Verfahrens
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Kontaktieren von Halbleiterbauelementen und/oder integrierter Schaltungen
(IC), bei dem die Halbleiterkörper mit ihrer einen Oberflächenseite auf Kühlfahnen eines Kontaktierungsstreifens elektrisch
leitend befestigt, nachfolgend mit ihrer anderen Oberflächenseite mit Kontaktbeinen des Kontaktierungsstreifens verlötet
werden und wobei schließlich nach dem Umgeben der Halbleiterkörper und der Kontaktstellen mit einem Isolierstoff der die
Kühlfahnen und Kontaktbeine verbindende Steg abgetrennt wird und die aus dem Isolierstoff herausragenden Teile der Kühlfahnen
und Kontaktbeine als Elektrodenzuleitungen verbleiben. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf einen Kontaktierungsstreif
en zur Durchführung dieses Verfahrens. Das Verfahren dient bevorzugt der Massenfertigung von Halbleiterbauelementen,
insbesondere Thyristoren und Dioden.
Es ist allgemein bekannt und entspricht dem konventionellen Fertigungsverfahren z.B. für Thyristoren einen Kühlfahnenkamm
für die Anodenseite des Halbleitersystems und
609826/04
Pat4 (172 3500/KE)
einen Beinchenkamm für die Kathode und die Gate-Kontaktierung
zu benutzen. Dabei werden die beiden getrennten Kämme aufeinandergelegt, die Halbleiterbauelemente werden zwischen
diese beiden Kämme geschoben und anschließend wird gelötet.
Es ist weiterhin ein Verfahren zum Kontaktieren von Dioden, Planartransistoren und integrierten Schaltungen bekannt, bei
dem in Abwandlung des vorbeschriebenen Zweikammsystems ein Kontaktierungsstreifen verwendet wird, der beidseitig eines
mittleren Holmes die beiden benötigten Kämme besitzt (DT-AS 1 564 867). Die Halbleiterbauelemente werden bei
dem bekannten Verfahren mit ihrer Kollektorseite auf den Sprossen des einen Kammes befestigt und anschließend wird
dieser Kamm mit den Halbleiterkörpern um die Holmmitte um 180° auf den anderen Kamm geklappt, der eine der Anzahl der
Basis- und Emitterelektroden entsprechende Zahl von Sprossen besitzt. Diese Klappung wird zwar durch eine Perforierung
in der Holmmitte erleichtert, aber bereits bei sehr geringen Abweichungen der tatsächlichen Klapplinie von der Mittellinie
des Kontaktierungsstreifens ergeben sich unterschiedliche und im Randbereich des Kontaktierungsstreifens starke Versetzungen
der Kontaktstellen. Diese Versetzungen setzen sich zwangsläufig aus Versetzungen in Längs- und Querrichtung
des Kontaktierungsstreifens zusammen. Die Versetzungen sind insbesondere in den Fällen nachteilig, in denen streifenförmige
Elektroden zu kontaktieren sind. Weiterhin ist bei dem bekannten Verfahren neben der späteren Abtrennung des
Mittelholmes auch eine Abtrennung des Kammrückens des Emitter-Gate-Kammes notwendig.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ausgehend von dem eingangs beschriebenen Kammsystem die Montage zu vereinfachen,
insbesondere mit geringer Ausrichtarbeit eine genaue Kontaktierung zu erreichen.
609826/0488
Pat 4 F 1 (172.11500/KE)
Die Lösung dieser Aufgabe bestellt darin, daß erfindungsgemäß
als Kontaktierarngsstreifen ein einziges Kammteil dient, das
von einer Seite des üamsteges ausgehende, zunächst in einer
Grundebene liegende Mitalfalmen und Kontaktbeine besitzt, daß
die Kontaktbeine und/oder"Künlfahnen durch Umbiegung derart
verfonnt werden, dia© die Kontaktbeine oder die Kühlfahnen
aus der Grundetseme heraus in eine dazu parallele Ebene gelangen,
ihre Federkraft erhöhen und teilweise die Kühlfahnen oder die Kontaktteile mit für die Aufnahme der Halbleiterkörper
und/oder IC*s geeignetem Zwischenraum überspannen. Bei dem erfindnarngsgemaBen "»Einkaram-Konzept" erfolgt vorteilhaft
die zur Vorljereitemg der Kontaktierung notwendige Ausrichtung
von KiShIfahmen, nand Kontaktbeinen in zueinander
parallelen Achsem, so daß die Gefahr von Versetzungen der Kontaktstellen gegeneinander erheblich reduziert ist.
Zweckmäßig wird das Kamateil vor der durch Prägen bewirkten Umbiegung aus einem Blechstreifen aus gut wärmeleitendem
und. elektrisch leitendem Material herausgestanzt, werden die
Kühlfahnen im Kontaktstelleribereich tauchverbleit und die
Halbleiterkörper und/oder ICs durch Thermokompression auf den Kontaktsteilem vorfixiert. Nach der umbiegung von Kontaktbeinen
und Kiihlfahnen wird das Kammteil mit den Halbleiterkörpern und/oder ICs bestückt, im Kontaktstellenbereich
tauchverlötet, tanichverlackt und unter Ausnutzung eines am
Kammteil vorgesehenen Kunststoff-Abdichtungs Steges zum Kammsteg
hin begrenzt mit Kunststoff umgeben. Schließlich werden
die Halbleiterbauelemente und/oder ICs mit ihren Elektrodenzuleitungen in üblicher.Welse aus dem Kammsystem herausgestanzt.
. .
Der Erfindung liegt weiterhin die Aufgabe zugrunde, einen Kontaktierungsstreifen mit Kiihlf ahnen und Kontaktbeinen zu
schaffen, mit dessen Hilfe eine einfache Montage möglich ist.
609826/0488
WJ4FI O72
Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß sich erfindungsgemäß die Kühlfahnen und die Kontaktbeine an einem einzigen
Kammteil befinden, von einer Seite des Kammsteges ausgehen und daß sich jeweils ein Kontaktteil der Kühlfahne und/oder
der Kontaktbeine parallel zum Kammsteg erstreckt.
zum Kammsteg
Die Ausbildung des/parallelen Kontaktteiles hat einerseits
j den Vorteil, daß in einfacher Weise die vorherige Tauchverbleiung
im Kontaktstellenbereich möglich ist. Als weiterer Vorteil ergibt sich daraus, daß die vorbeschriebene Umbiegung
im Prinzip in parallelen Achsen erfolgen kann, so daß sich
dabei z.B. die Kontaktbeine über das Kontaktteil der ent-
! sprechenden Kühlfahne schieben. Eine Umbiegung mit einer Komponente in Kamm-Längsrichtung ist zwar prinzipiell auch
! möglich (z.B. Hammerschlag oder Prägen in einem äußeren Bereich der jeweils streifenförmigen Kühlfahnen oder Kontaktbeine);
ein solches Umbiegen ist jedoch schwerer kontrollierbar, als die bevorzugte Ausbiegung aus der Grundebene und
Umlenkung in eine parallel dazu verlaufende Ebene sowie die dabei bewirkte Versetzung quer zur Längsrichtung des Kammteiles.
Zweckmäßig sind die jeweils für ein Halbleiterbauelement benötigten Kontaktbeine über einen Kunststoffabdichtungsteg
miteinander verbunden und ist die Kühlfahne mit einem Kontaktteil und einem Abdichtungsstegteil im wesentlichen
F-förmig gestaltet. Die Abdichtungsstege übernehmen dabei vorteilhaft einmal die an sich bekannte Funktion von
Versteifungs- bzw. Stabilisierung3stegen (DT-AS 1 564 867) und zum anderen bilden sie Grenzflächen für die vorgesehene
Kunststoffabdichtung.
Für die Fixierung der Halbleiterkörper kann entweder von dem gestanzten Kammteil oder von einem Kammteil ausgegangen werden
das bereits montagefertig mit durch Umbiegung stark verkürzten Kühlfahnen, tauchverbleitem Kontaktteil und über
609826/04 8 8
■ I -1 I 1 |1 7? I IfiOD KfI
— 5 —
diesem liegenden Kontaktbeinen vorrätig ist.
diesem liegenden Kontaktbeinen vorrätig ist.
Nähere Einzelheiten der Erfindung werden nachfolgend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein gestanztes Kammteil,
Fig. 2 ein vorverbleites Kammteil,
Fig. 3 ein umgebogenes Kammteil in Seitenansicht,
Fig. 4 ein umgebogenes Kammteil in Draufsicht,
Fig. 5 ein mit einem Halbleiterkörper bestücktes und tauchgelötetes
Kontaktteil in Seitenansicht,
Fig. 6 die Draufsicht auf das in Fig. 5 dargestellte Element,
Fig. 7 ein Kammteil in montagefertiger Form und
Fig. 8 ein mit Kunststoffabdichtung versehenes Halbleiterbauelement.
In Fig. 1 ist ein gestanztes Kammteil 1 dargestellt, das für
Jedes zu erstellende Halbleiterbauelement 2 (Fig. 8), im Ausführungsbeispiel Thyristoren, eins Kühlfahne 3 und zwei
Kontaktbeine 4 und 5 besitzt. Die Kühlfahne 3 ist dabei für die Anodenseite des Halbleiterkörpers und die Kontaktbeine
k und 5 sind für die Kathoden- und Gate-Kontaktierung vorgesehen.
Sie sind weiterhin über einen Kunststoff-Abdichtungssteg 6 miteinander verbunden. Dieser Kunststoff-Abdichtungssteg 6 kehrt an der Kühlfahne 3 wieder. Die Kühlfahne besitzt
parallel zum Kunststoffabdichtungssteg 6 und zum Kammrücken 7 ein Kontaktteil 8, so daß sie im wesentlichen F-förmig
gestaltet ist.
Fig. 2 zeigt wie Fig. 1 einen Ausschnitt aus dem Kammteil, wobei jedoch das Kontaktteil 8 der Kühlfahne 3 bereits tauchverbleit
ist.
609826/OA88
Pal 4 F 1 (172 11500/KE)
Das durch Biegung veränderte Kammteil 1 zeigt Fig. 3 in Seitenansicht. Die Kühlfahne 3 erhält eine verhältnismäßig
starke Biegung, so daß sie sich entsprechend verkürzt; die Kontaktbeine 4 und 5 werden mechanisch so umgebogen, daß sie
über das Kontaktteil 8 der KUhIfahne 3 gelangen und gleichzeitig
ihre Federkraft erhöhen (Fig. 4). Nach der Umbiegung liegen die Teile des Kunststoff-Abdichtungssteges luFeinir*?
Linie quer zur Kühlfahne 3 und quer zu den Kontaktbeinen 4 und 5. Die Biegestellen sind mit 31, 41 bis 43 und 51 bis
bezeichnet. Es sind prinzipiell auch andere Biegungen möglich; aber bevorzugt wird eine parallele Versetzung von Kühlfahne
und Kontaktbeinen angestrebt.
Zwischen die Gate-Kathoden-Kontaktbeine 4 und 5 und die
Anoden-Kühlfahne 3 wird jeweils ein Halbleiterkörper 9 eingesetzt (Fig. 5 u. Fig. 6).
Es kann jedoch auch vorteilhaft derart vorgegangen werden, daß zunächst die Anoden-Kühlfahne 3 tauchverbleit wird und der
Halbleiterkörper 9 auf dem vorverbleiten Kontaktierungsteil 8 genau zu dem Beinchenkamm-Kontaktstellen orientiert durch
Thermokompression vorfixiert wird. Danach folgt dann die Umbiegung und schließlich eine Tauchlötung von Kontaktteil 8,
Halbleiterkörper 9 und den Kontaktbeinen 4 und 5 (Fig. 5 u. Fig. 6).
Weiterhin kann auch von einem montagefertig vorgebogenen Kammteil 1 ausgegangen werden (Fig. 7).
Nach einer zusätzlichen Tauchverlackung bzw. Passivierung erfolgt ein Vorpressen mit Kunststoff 11, wobei der Kunststoff-Abdichtungssteg
6 als Grenzfläche für den Kunststoff dient. Natürlich können die Halbleiterkörper 9 und teilweise
die Elektrodenzuleitungen auch mit Kunststoff 11 bis zum Kunststoff-Abdichtungssteg 6 umgössen werden. Aus der stark
vergrösserten Darstellung in Fig. 8 ist ersichtlich, daß der
609826/0488
Pat 4 F 1 (172.11500/KE)
Halbleiterkörper 9 zweckmäßig durch einen besonderen Podest aus thermisch und elektrisch leltfähigem Material vom
Kontaktteil 8 der Kühlfahne abgesetzt ist. Diese Maßnahme
entspricht einem älteren Vorschlag (Patentanmeldung P 24 00
Dadurch wird vermieden, daß ein bis zur Randfläche des .Halbleiterkörpers
reichender pn-übergang sich in Nachbarschaft von leitfähigem Material, z.B. Lot, auf dem Kontaktteil 8
der Kühlfahne 3 befindet.
609826/0488
' ·' J I . ι 11 Γ? ι ir>r>[) !■[Ί
Claims (1)
- PatentansprücheVerfahren zum Kontaktieren von Halbleiterbauelementen und/oder integrierter Schaltungen (IC), bei dem die Halbleiterkörper mit ihrer einen Oberflächenseite auf Kühlfahnen eines Kontaktierungsstreifens elektrisch leitend befestigt, nachfolgend mit ihrer anderen Oberflächenseite mit Kontaktbeinen des Kontaktierungsstreifens verlötet werden und wobei schließlich nach dem Umgeben der Halbleiterkörper und der Kontaktstellen mit Isolierstoff der die KUhlfahnen und Kontaktbeine verbindende Steg abgetrennt wird und die aus dem Isolierstoff herausragenden Teile der Kühlfahnen und Kontaktbeine als Elektrodenzuleitungen verbleiben, dadurch gekennzeichnet, daß als Kontaktierungsstreifen ein einziges Kammteil dient, das von einer Seite des Kammsteges ausgehende, zunächst in einer Grundebene liegende Kühlfahnen und Kontaktbeine besitzt, daß Kontaktbeine und/oder Kühlfahnen durch Umbiegung derart verformt werden, daß die Kontaktbeine oder die Kühlfahnen aus der Grundebene heraus in eine dazu parallele Ebene gelangen, ihre Federkraft erhöhen und teilweise die Kühlfahnen oder die Kontaktbeine mit für die Aufnahme der Halbleiterkörper und/oder ICs geeigneter Kraft bzw. mit geeignetem Zwischenraum überspannen.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor der durch Prägen bewirkten Umbiegung die KUhlfahnen im Kontaktstellenbereich tauchverbleit und die Halbleiterkörper und/oder ICs durch Thermokompression auf den Kontakt stellen vorfixiert werden.J5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daf das Kammteil nach der Umbiegung mit Halbleiterkörpern und/ oder ICs bestückt, im Kontaktstellenbereich tauchverlötet,60 98 2 6/04 88Ι'·ΙΙ ι (1 Γ2 ' 'l;Ofi Ι<Έ·tauchverlackt und unter Ausnutzung eines am Kammteil vorgesehenen Kunststoff-Abdichtungsteges zum Kammsteg hin begrenzt mit Kunststoff umgeben wird und daß schließlich die Halbleiterbauelemente und/oder ICs mit ihren Elektrodenzuleitungen herausgestanzt werden.4. Kontaktierungsstreifen zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder folgenden mit Kühlfahnen und Kontaktbeinen, dadurch gekennzeichnet, daß sich die KUhIfahnen (.3) und die Kontaktbeine (4,5) an einem einzigen Kammteil (1) befinden, von einer Seite des Kammsteges (-101) ausgehen und daß sich jeweils ein Kontaktteil (8) der Kühlfahne (3) und/oder der Kontaktbeine (4,5) parallel zum Kammsteg erstreckt.5. Kontaktierungsstreifen nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils ein Kunststoff-Abdichtungssteg (6) an der Kühlfahne (3) und an dem Kontaktbein bzw. den Kontakt beinen (4,5) sitzt.6. Kontaktierungsstreifen nach Anspruch 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die flache Kühlfahne (3) mit Kontaktteil (8) und Abdichtungssteg (6) im wesentlichen F-förmig gestaltet ist.7. Kontaktierungsstreifen nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß in der Grundebene, die über den Kunststoff-Abdichtungssteg (.6) verbundenen Kontaktbeine zwischen dem Kammsteg (101) und dem Kontaktteil (8) liegen.8. Kontaktierungsstreifen nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Kammteil (l) montagefertig mit durch Umbiegung stark verkürzten Kühlfahnen (3), deren tauchverbleites Kontaktteil (8) von jeweils dem bzw. den federnden Kontaktbein(en) teilweise überspannt ist, verwendet wird.609826/0488Pal 4 F 1 (172 11500/KE) 'Al·Le e rs e i
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460346 DE2460346A1 (de) | 1974-12-20 | 1974-12-20 | Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrens |
FR7538931A FR2295686A7 (fr) | 1974-12-20 | 1975-12-18 | Sac en tricot rachel |
JP15116175A JPS5186973A (de) | 1974-12-20 | 1975-12-18 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460346 DE2460346A1 (de) | 1974-12-20 | 1974-12-20 | Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrens |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2460346A1 true DE2460346A1 (de) | 1976-06-24 |
Family
ID=5933954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742460346 Pending DE2460346A1 (de) | 1974-12-20 | 1974-12-20 | Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrens |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5186973A (de) |
DE (1) | DE2460346A1 (de) |
FR (1) | FR2295686A7 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2340553A1 (de) * | 2008-10-20 | 2011-07-06 | Nxp B.V. | Verfahren zur herstellung einer mindestens eine mikroelektronische anordnung umfassenden mikroelektronischen kapselung |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0408779B1 (de) * | 1989-07-18 | 1993-03-17 | International Business Machines Corporation | Halbleiter-Speichermodul höher Dichte |
DE102017110504A1 (de) * | 2017-05-15 | 2018-11-15 | He System Electronic Gmbh & Co. Kg | Verbindungselement sowie Anordnung |
-
1974
- 1974-12-20 DE DE19742460346 patent/DE2460346A1/de active Pending
-
1975
- 1975-12-18 FR FR7538931A patent/FR2295686A7/fr not_active Expired
- 1975-12-18 JP JP15116175A patent/JPS5186973A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2340553A1 (de) * | 2008-10-20 | 2011-07-06 | Nxp B.V. | Verfahren zur herstellung einer mindestens eine mikroelektronische anordnung umfassenden mikroelektronischen kapselung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2295686A7 (fr) | 1976-07-16 |
JPS5186973A (de) | 1976-07-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1811837A1 (de) | Anordnung fuer ein elektrisches oder elektronisches Bauelement,insbesondere fuer einen Tantalkondensator | |
DE1514827B2 (de) | Verfahren zur serienmaessigen herstellung von halbleiterbauelementen | |
DE3329886A1 (de) | Verfahren zum herstellen von trocken-elektrolyt-kondensatoren | |
DE3010876A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer leiterplatte | |
DE2104207C3 (de) | Verfahren zum Verbinden eines Kontaktierungsdrahtes | |
DE2460346A1 (de) | Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen und/oder integrierter schaltungen sowie kontaktierungsstreifen zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE1932261A1 (de) | Elektrische Schaltanordnung | |
DE1765089B1 (de) | Anschlussoese zum einsetzen in bohrungen von schaltungs platten | |
DE2328798A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
EP0171838A1 (de) | Umhülltes elektrisches Element | |
DE1916554B2 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleitergleichrichteranordnungen | |
DE2354256A1 (de) | Verfahren zum kontaktieren eines halbleiterbauelementes | |
EP0071917B1 (de) | Elektrisches Bauelement, Bauelementegruppe oder integrierte Schaltung, deren aktiver Teil auf einem Metallträger aufgebracht ist und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2003423C3 (de) | Verfahren zum Kontaktieren von Halbleiteranordnungen | |
DE10057412A1 (de) | Halbleitergeräteeinkapselungsanordnung und Verfahren zu deren Hertellung | |
DE1614567C3 (de) | Halbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung | |
AT519780B1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Bondverbindungen | |
DE2749428C2 (de) | Halterungsvorrichtung für einen plattenförmigen Resonator | |
DE7605140U1 (de) | ||
EP0817265A1 (de) | Zuleitungsrahmen für einen integrierten Schaltkreis und ein einen Zuteilungsrahmen enthaltendes Bauteil mit Kühlkörper | |
DE1765089C (de) | Anschlußose zum Einsetzen in Bohrun gen von Schaltungsplatten | |
DE829633C (de) | Trockengleichrichtersystem | |
DE3005416A1 (de) | Vorrichtung zur verbindung eines kehlbalkens mit einem dachsparren | |
DE2400863A1 (de) | Verfahren zur herstellung von halbleiterbauelementen | |
DE8525981U1 (de) | Zweiteiliges Schneid-Klemmkontaktelement |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OHJ | Non-payment of the annual fee |