DE2407963A1 - Schaltungsanordnung zur abnahmepruefung von schaltungskomponenten - Google Patents
Schaltungsanordnung zur abnahmepruefung von schaltungskomponentenInfo
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Description
9148-73/H/Elf
ital.Anm. No. 20533 A/73
vom 19.2.1973
Societä Italiana Telecomunicazioni Siemens s.p.a., Mailand (Italien)
Schaltungsanordnung zur Abnahmeprüfung von Schaltungskomponenten.
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Abnahmeprüfung
von elektrischen und elektronischen Schaltungskomponenten mittels Analogmessungen mit einer Speiseschaltung und
einer Anzahl von Informationsermittlungsvorrichtungen, die mit
den zu prüfenden Schaltungskomponenten über eine Abtastvorrichtung koppelbar sind und deren Ausgangssignale mit Sollwerten
verglichen werden.
Bei der industriellen Fertigung von Schaltungskomponenten, also von einzelnen Bauelementen oder auch von Gesamtschaltungen,
müssen durch eine Abnahmeprüfung alle Parameter der Schaltungskomponenten sowohl hinsichtlich der Gesamtschaltung als auch
der einzelnen Elemente sowie der Verbindungen zwischen ihnen ermittelt werden. Jede auf den Markt kommende Schaltungskomponente
muß nämlich vorbestimmten Normen genügen, die genau die Grenzen einer einwandfreien Punktion festlegen;und falls diese
Grenzen überschritten werden, muß die Komponente als mangelhaft ausgeschieden werden.
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Ein bevorzugtes Anwendungsbeispiel der Erfindung ist die Prüfung von gedruckten Schaltungen, die sich auf einer Trägerplatte
befinden, auf deren Rückseite die Anschlußstellen der Schaltungen vorgesehen sind, an die die Klemmen der Prüfvorrichtung
angeschlossen werden.
Aufgabe der Erfindung ist, eine Schaltungsanordnung anzugeben, mit der die Abnahmeprüfung etwa von gedruckten Schaltungsplatten
möglichst schnell, flexibel und zuverlässig durchgeführt werden kann.
Die Erfindung löst diese Aufgabe durch die in den Patentansprüchen
angegebene Schaltungsanordnung.
Eine Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung enthält also im wesentlichen:
Eine vorbestimmte Anzahl von Codewandlern, von denen jeder am Eingang nach einem vorbestimmten Code codierte Informationen
empfängt, sie codiert und sie anschließend nach einem weiteren vorbestimmten Code umsetzt;
eine Verarbeitungs- und Vergleichseinheit, die aufgrund der von den Codewandlern empfangenen codierten Informationen an ihren
Ausgängen Steuersignale liefert, und die anschließend eine vorbestimmte Anzahl zweiter Informationen empfängt, diese mit ebensovielen
ähnlichen Informationen mit vorbestimmtem Wert vergleicht und sodann Ausgangssignale liefert, die den bei dem
Vergleich gefundenen Unterschieden entsprechen; eine Vorrichtung zur Sichtbarmachung der Unterschiede, die am
Eingang von den Ausgangssignalen der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit gespeist wird;
eine vorbestimmte Anzahl η von Informationsermittlungsvorrichtungen
mit von außen gesteuerter veränderbarer Ansprechempfindlichkeit, von denen jede am Eingang ein von der Verarbeitungs-
und Vergleichseinheit stammendes Steuersignal empfängt, wodurch ihre Ansprechempfindlichkeit geändert wird, und nach
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Ermittlung einer Information ein zu ihr proportionales Signal an die Verarbeitungs- und Vergleichseinheit sendet;
eine Speiseschaltung aus mehreren in Kaskade geschalteten Stufen, von denen jede Stufe am Ausgang einen vorbestimmten
Spannungswert und einen vorbestimmten Stromwert liefert und am Eingang von der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit stammende
Steuersignale empfängt, wobei jedem Steuersignal ein Ausgangssignal einer Stufe entspricht;
eine in ihrem Betrieb von der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit gesteuerte Schalteinrichtung, deren Klemmen an die Ausgänge
des Spannungsgenerators bzw. an die η Informationsermittlungsvorrichtungen
bzw. an eine Abtastvorrichtung angeschlossen sind; und
die Abtastvorrichtung, deren Betrieb von Steuersignalen der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit gesteuert wird, und die
mit ihren ersten m Klemmen an ebensoviele Klemmen der Schalteinrichtung angeschlossen ist, wobei m eine vorbestimmte Anzahl
ist, und die gleichzeitig mit zweiten m Klemmen an k Empfangsvorrichtungen angeschlossen ist, von denen jede m Ausgänge und
m Eingänge hat, wobei die Eingänge wenigstens teilweise an eine entsprechende Anzahl von Klemmen der zu prüfenden Schaltung
angeschlossen sLnd.
Die Erfindung hat die folgenden wesentlichen Vorteile: Im Vergleich zu den bisher üblichen Methoden wird die für die
Abnahmeprüfung jeder Schaltungsplatte oder dgl. erforderliche Gesamtzeit erheblich reduziert. Es besteht die Möglichkeit,
für jede Schaltungsplatte eine große Anzahl von Messungen in einer vorbestimmten Folge auszuführen. Ferner besteht die Möglichkeit,
sowohl die Lage gegebenenfalls gefundener Fehler als auch die Größe des Fehlers, also beispielsweise das Ausmaß der
Abweichung des Widerstandswertes usw. eines Schaltungselementes vom Nennwert, sichtbar zu machen, womit eine erhebliche Zeitersparnis
bei der Ausfindigmachung des Fehlers verbunden ist.
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Die Schaltungsanordnung zur Abnahmeprüfung zeichnet sich durch hohe Zuverlässigkeit aus. Ihre verschiedenen Bestandteile
werden nicht schnell veralten. Die Art der Abnahmeprüfungen kann nach Belieben verändert und an jede einzelne zu prüfende
Schaltungsplatte angepaßt werden. Schließlich besteht die Möglichkeit, mehrere Abnahmeprüfungen für jeweils eine Serie
gleicher Schaltungsplatten entweder durch eine Bedienungsperson oder durch selbsttätige Steuerung vorzunehmen.
Vorzugsweise besteht die erwähnte, einen Teil der hier beschriebenen
Schaltungsanordnung bildende Schalteinrichtung in der Hauptsache aus einer Matrix aus Quecksilberbadrelais vom Reed-Typ,
die jeweils wenigstens einen Kontakt haben. Solche Relais haben den Vorteil, daß Änderungen der Kontaktwiderstände vermieden
werden und sehr hohe Umschaltgeschwindigkeiten möglich sind, wie sie mit den z.Zt. verfügbaren normalen Relais nicht
erreicht werden können. Zugleich machen sie das System besonders anpassungsfähig, wenn Sonderleistungen , wie z.B. das Einschalten
simulierter Lasten oder ein Anschluß der Prüfschaltung an spezielle äußere Schaltungen erforderlich sind.
Die ebenfalls in der Schaltungsanordnung zur Abnahmeprüfung vorgesehene
Abtastvorrichtung besteht vorzugsweise aus einem Vielfachschrittschalter,
der selbsttätig gesteuert werden kann. Dieser Vielfachschrittschalter, von dessen Schritten jeder den m
Klemmen einer der k Empfangsvorrichtungen entspricht, kann nicht nur selbsttätig durch Steuersignale betätigt werden, die in
einer vorbestimmten Folge von der Verarbeitungs- und Vergleichseinheit kommen, sondern auch von Hand durch eine Bedienungsperson.
Im ersten Fall besteht die Möglichkeit, in kurzer Zeit in der Größenordnung von wenigen Sekunden die Abnahmeprüfungen
der k untereinander verschiedenen, zu ebensovielen Plattenserien gehörenden zu prüfenden Schaltungsplatten durchzuführen, wobei
die Anzahl k unterschiedlicher Platten bzw. Serien irgendeine gegebene Zahl ist.
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Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt. Es zeigen:
Figur 1 ein Prinzipschaltbild der Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung;
Figur 2 das Schaltschema einer Scnalt- oder Koppeleinrichtung für die Schaltungsanordnung nach Figur 1; und
Figur 3 das Schaltschema eines zu prüfenden Widerstandsnetzwerkes.
ßie wesentlichen Einzelheiten der Schaltungsanordnung sind Figur 1 und 2 zu entnehmen, wobei die genaue Ausführung und
die Funktionsweise an sich bekannter Einheiten nicht näher beschrieben
werden. Zur Vereinfachung sei angenommen, daß der Vielfachumschalter
von Hand durch eine Bedienungsperson betätigt wird.
Anhand von Figur 1 sei die Abnahmeprüfung einer elektronischen
Schaltungskomponente erläutert, beispielsweise einer gedruckten Schaltung für die Schwachstromtechnik, etwa einer Verknüpfungsschaltung
für eine Fernsprech-Vermittlungsstelle. Wie jede gedruckte Schaltung besteht die zu prüfende Schaltung aus einer
Kombination von Widerständen, Kondensatoren, Transistoren und integrierten Schaltungen, die an eine bestimmte Anzahl von
Klemmen für die Verbindung der gedruckten Schaltung mit anderen Einheiten angeschlossen sind. Ferner sei angenommen, daß eine
bestimmte Anzahl k schaltungstechnisch untereinander verschiedener gedruckter Schaltungen zu prüfen sind, oder genauer gesagt
k unterschiedliche Serien von jeweils gleichen Schaltungen. Wenn beispielsweise eine modulare Systemeinheit geprüft werden soll,
die aus zehn untereinander verschiedenen Schaltungsplatten besteht, dann ist k β 10. Die Prüfungen werden also in einer
Folge von zehn Serien von Platten durchgeführt, wobei jede Serie aus untereinander gleichen Platten besteht, die z.B. an einem
Arbeitstag gefertigt v/erden. Offensichtlich muß jede Platten-
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serie in der Regel anderen Prüfungen unterzogen werden als die jeweils anderen Serien, so daß k untereinander verschiedene
Abnahmeprüfungen vorzunehmen sind. Die folgende Beschreibung einer Abnahmeprüfung einer elektronischen Komponente gilt demgemäß
auch für die übrigen k-1 Prüfungen von k-1 Komponenten
unter Berücksichtigung der notwendigen Änderungen bei den einzelnen Messungen.
Wenn die Zahl der an einer Schaltungsplatte oder, was dasselbe ist, an einer Plattenserie durchzuführenden Messungen sowie
ihre Zeitfolge festgesetzt ist, wird ein geeignetes Programm vorbereitet, das nach einem vorbestimmten Code verschlüsselt
wird und beispielsweise auf einen Lochstreifen übertragen werden kann. Offensichtlich sind für k Serien zu prüfender Platten
k nacheinander durchzuführende Programme notwendig. Gemäss Figur 1 sind folglich k Lochstreifenleser L^...L, und k Empfangsvorrichtungen P,...P, vorgesehen. Die (zur Vereinfachung nicht
dargestellten) Anschlußklemmen zur Durchführung der verschiedenen ließungen am Ausgang der Empfangsvorrichtungen bestehen
aus einem Klemmenbrett mit einer festen und/oder beweglichen Verbindung (z.B. einem Kabel) zum Anschluß an mehrere vorbestimmte
Punkte der zu prüfenden Schaltung. Jede einzelne Abnahmeprüfung besteht aus einer bestimmten Anzahl von Analogmessungen.
Die Anschlußklemmen der betreffenden Empfangsvorrichtung, beispielsweise der Empfangsvorrichtung P1 , werden an
die Punkte der Schaltungsplatte angeschlossen, an der die analogen Messungen durchgeführt werden sollen (Spannungs-, Strom-
und Widerstandsmessungen usw.). Das Programm , das alle codierten Informationen bezüglich aller an der Abnahmeprüfung beteiligten
Platten enthält (Gesamtheit der Messungen , der zulässigen Abweichungen in Prozent der gefundenen Werte von den
Nennwerten, Meßfolge) , wird auf dem Lochstreifen in den Lochstreifenleser
L, eingegeben. Beim hier beschriebenen Beispiel schließt die Bedienungsperson von Hand mittels des Vielfachschrittschalters
SP die Empfangsvorrichtung P, an die ver-
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schiedenen Meßinstrumente und Vorrichtungen an, die an der Prüfung beteiligt sind. Nun kann die Abnahmeprüfung entsprechend
dem Programm durchgeführt werden.
Zunächst seien die in Figur 1 dargestellten Einheiten erläutert: AL ist eine Speiseschaltung aus mehreren Stufen in Kaskadeschaltung,
von denen jede einzelne Stufe am Ausgang einen vorbestimmten Spannungswert und einen vorbestimmten Stromwert liefert.
T ist eine Koppel- oder Schalteinrichtung, die im wesentlichen aus einer Matrix aus Quecksilberbad-Reed-Relais besteht.
Mj-...Mn sind jeweils Meßinstrumente mit veränderbarer Ansprechempfindlichkeit.
SP ist ein normaler Vielfachschrittschalter. VIS ist ein normaler Fernschreiber mit hoher Betriebsgeschwindigkeit.
Das vom Lochstreifenleser L, aufgenommene Programm steuert mittels der elektronischen Zentraleinheit EL , die
Verarbeitungs- und Vergleichseinheit dient, den aufeinanderfolgenden
Betrieb der Speiseschaltung AL, der Schalteinrichtung T, der Meßinstrumente M,....M , des Vielfachschrittschalters SP
und des Fernschreibers VIS. Die elektronische Zentraleinheit EL kann eine gewöhnliche Datenverarbeitungseinheit sein.
Die Speiseschaltung AL kann an den Ausgängen jeder ihrer Stufen sowohl positiv als auch negative vorbestimmte Spannungswerte
liefern, mit denen Messungen jeder Art durchgeführt werden können. Wenn beispielsweise die Eigenschaften einer Diode geprüft
werden sollen, kann man diese hierbei sowohl in Durchlaufrichtung als auch in Sperrichtung vorspannen. Die Programmierung
der Speiseschaltung AL richtet sich nicht nur nach der Grössenordnung der bei verschiedenen Messungen zu erwartenden
Nennwerte, sondernfnach den zu ermitteLnden Abweichungen von
den einzelnen Nennwerten. Diese Abweichungen bedingen auch die Wahl der vorprogrammierten Ansprechempfindlichkeit der
Meßinstrumente M1...M , bei denen es sich um Voltmeter, Ohmmeter,
Amperemeter usw. handeln kann.
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Die Quecksilberbad-Reed-Relais der Schalteinrichtung T zeichnen
sich, wie schon erwähnt wurde, gegenüber normalen Relais durch eine höhere Zuverlässigkeit und durch bessere Leistungsfähigkeit
aus. Die von der elektronischen Zentraleinheit EL gesteuerte Schalteinrichtung T sorgt dafür, die Verbindungen
zwischen der Speiseschaltung AL und den Meßinstrumenten und den für die Durchführung der gewünschten Messungen erforderlichen
Stellen der zu prüfenden Schaltungsplatte herzustellen. Es sei bemerkt, daß je nach der Kompliziertheit der zu prüfenden
Schaltung eine Abnahmeprüfung sich aus einigen wenigen Messungen bis zu einigen tausend Messungen zusammensetzen kann,
die alle im Zeitraum von einigen Sekunden durchgeführt werden; großenordnungsmassig kano-beispielsweise eine Abnahmeprüfung
von 3000 Messungen in ca. 60 Sekunden durchgeführt werden.
Der als Abtastvorrichtung dienende Vielfachschrittschalter SP
üblicher Art kann nicht nur extern von Hand, sondern auch direkt von der Computer- oder Zentraleinheit gesteuert werden,
wenn ein Zeitverlust durch die Bedienungsperson vermieden werden soll oder wenn den Empfangsvorrichtungen P1...P^ nicht nur
einer, sondern verschiedene (gegebenenfalls selbst nahe benachbarte) Prüfstände , zu denen mehrere Bedienungspersonen gehören,
zugewiesen sind.
Unter Bezugnahme auf Figur 2 und 3 soll nun die Funktionsweise der Schalteinrichtung T im einzelnen erläutert werden, wobei
zu beachten ist, daß in Figur 2 auch einige nicht zur Schalteinrichtung T gehörende Blöcke dargestellt sind, während andererseits
von den die Schalteinrichtung T bildenden Relais nur ihr Kontakt, nicht aber ihre Wicklungen dargestellt sind,
damit die Zeichnung so einfach und verständlich wie möglich ist. Die Darstellung der Figur 2 bezieht sich im übrigen auf den
Fall einer Prüfung einer einzigen Schaltungskomponente, also die Verwendung einer einzigen Empfangsvorrichtung P1, mit zwei
Meßinstrumenten M1, M mit veränderbarer AnsprechempfindIich-
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keit sowie mit einer zweistufigen Speiseschaltung, deren Stufen mit AL, und AL2 bezeichnet sind. Ferner sei angenommen, daß
die Empfangsvorrichtung P1 60 Klemmen hat, und daß fünf Signale
gleichzeitig über einen gemeinsamen Draht gehandhabt werden sollen. Demgemäß weist die die Schalteinrichtung T bildende
Relaismatrix sechs Zeilen k, ic, b, c , d, e und 60 Spalten
a,....ai-o auf. Die zu prüfende Schaltungsplatte hat eine bestimmte
Anzahl von Ausgangsklemmen, die mit ebensovielen festen Klemmen der Einrichtung verbunden sind, während die übrigen
Klemmen der Einrichtung als beweglich angenommen und an ebensoviele
Punkte der gedruckten Schaltungsplatte angeschlossen werden können oder auch die im einfachsten Fall der aus einem
Widerstandsnetzwerk bestehenden Schaltung nach Figur 3 nicht angeschlossen werden.
Bei der eigentlichen Prüfung bringt (beim hier beschriebenen Beispiel) die Bedienungsperson von Hand den Vielfachschrittschalter
SP in die richtige Lage, bei der die Empfangsvorrichtung P1 an die Schalteinrichtung T angeschlossen wird und folglich
die Abnahmeprüfung der an die Klemmen der Empfangsvorrichtung P1 angeschlossenen Schaltungsplatte durchgeführt werden
kann. Sodann gibt die Bedienungsperson das auf einem Lochstreifen in codierter Form enthaltene Programm der erforderlichen
Operationsfolge in den Lochstreifenleser L1 ein. Dieses
Programm muß die Zentraleinheit EL in Steuersignale für die verschiedenen Einheiten der Prüfschaltungsanordnung gemäß
Figur 1 umsetzen. Anschließend bringt die Bedienungsperson mittels einer Drucktaste die Einrichtung in den Startzustand, d.h.
alle Einheiten , aus denen sich die Einrichtung zusammensetzt, in die Ruhelage.
Bei jeder einzelnen, zwischen zwei Punkten der Schaltungsplatte durchzuführenden Messungen kann man folgendermassen
vorgehen: Eine der beiden Stufen AL., AL2 der Speiseschaltung
(Figur 2) wird von der Zentraleinheit EL veranlaßt, einen be-
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stimmten Spannungs- oder Stromwert zu erzeugen. Dann wird durch
ein entsprechendes Vorbereitungssignal die Ansprechempfindlichkeit
der Meßinstrumente M, und M2 (z.B. ein Voltmeter und ein
Ohmmeter) entsprechend der GrossenOrdnung und der gewünschten
Genauigkeit der Messung auf ein geeignetes Niveau eingestellt. Wenn die Meßinstrumente den Wert der zu messenden Grossen
(Spannung und Widerstand) ermittelt haben, senden sie der Zentraleinheit EL ein der gemessenen Grosse proportionales
Signal, worauf sie auf weitere Befehle für anschliessende Messungen warten.
Die elektronische Zentraleinheit speichert bei jedem von ihr gesteuerten Meßvorgang die vom betreffenden Meßinstrument empfangene
Information und vergleicht sie mit dem zugehörigen Solloder Nennwert. Über den Fernschreiber VIS liefert sie der !bedienungsperson
alle Daten , aus denen diese feststellen kann, ob die durch die Planungs- und Betriebsnormen gesetzten Toleranzgrenzen
eingehalten worden sind. Damit diese Abschätzung der Meßergebnisse von der Bedienungsperson unabhängig durchgeführt
werden kann, enthält der Speicher der elektronischen Zentraleinheit alle notwendigen Informationen (absolute und prozentuale
zulässige Abweichungen vom Nennwert), auf grund welcher sie jedesmal dann ein Meßergebnis liefert, wenn die Messung
einen unzulässigen Wert ergeben hat.
Es sei darauf hingewiesen, daß die Drähte a.....a6Q in Figur 2
den Vielfachschalter SP mit der Empfangsvorrichtung P, verbinden. Das gleiche gilt für die anderen Drähte f, , f~f g-i^-g^
und h,...h7· Ferner ist zu beachten, daß in Figur 2 zur grösseren
Klarheit nur einige Kontakte der Matrix dargestellt bzw. näher bezeichnet sind; so handelt es sich bei dem Kontakt Rt.01
um denjenigen Kontakt, welcher die Verbindung zwischen dem Draht k und dem Draht a. bei Betätigung des betreffenden Relais
durch einen Steuerbefehl von der Zentraleinheit EL herstellt;
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bei den anderen Kontakten verhält es sich entsprechend.
Um den Wert des Widerstandes X1 in Figur 1 zu messen, kann man
nicht einfach ein Ohmmeter benutzen, weil in dem Widerstandsnetzwerk, zu dem der Widerstand X1 gehört, eine direkte Messung
durch Anlegen einer Spannung an die Klemmen a1., und a'2 offensichtlich
nicht zu dem richtigen Ergebnis führen würde. Es wird daher der Kunstgriff angewandt, die Klemmen a' und a' q mit
einer geeigneten Spannung zu speisen, die z.B. von der Stufe AL1
der Speiseschaltung geliefert wird, und mit dem Meßinstrument M1 (Voltmeter) den Spannungsabfall zwis-hen den Klemmen a'^ und
a*2 des Widerstandes X1 zu messen. Aus dem Wert des Spannungsabfalls
kann der unbekannte Widerstandswert nach den elementaren Regeln der Netzwerktheorie errechnet werden. Der Wert des Widerstands
x- kann dagegen mit dem Meßinstrument M2 (Ohmmeter)
direkt gemessen werden, indem man seine beiden Klemmen aV«
und g'7 mit den Klemmen des Meßinstruments M2 verbindet.
Zur Messung des Widerstandswertes des Widerstands X1 müssen
folgende Verbindungswege hergestellt werden: Das Meßinstrument M. (Voltmeter) in Figur 2 wird an die mit den Klemmen a*, und
a'„ verbundenen entsprechenden Drähte a, und a2 , welche die
ersten beiden Spalten der Matrix bilden, durch den Kontakt R1,
den Draht k und den Kontakt R koi (für den Draht a..) bzw. durch
den Kontakt R2 , den Draht k und den Kontakt Rj^02 (Draht a2)
angeschlossen. Die Stufe AL1 der Speiseschaltung (Figur 2 wird
an die Klemmen a1, und a' « (Figur 3) angeschlossen, denen die
zwei Spalten der Matrix bildenden Drähte Bl1 und a,.. entsprechen,
und zwar durch den Kontakt R^, den Draht b und den Kontakt Rj30I
(Draht a ) bzw. durch den Kontakt R4, den Draht c und den
Kontakt R __ (Draht a^„) .
Zur Messung des Wertes des Widerstandes X2 sind dagegen folgende
Verbindungswege notwendig: Das Meßinstrument M3 (Ohmmeter)
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ist gemäß Figur 2 mit seiner ersten Klemme an die Klemme a'rg
(Figur 3) entsprechend dem Draht a™, der wiederum eine Spalte der Matrix in Figur 2 bildet, durch den Kontakt R,, den Draht k und den Kontakt Rkgn angeschlossen, während seine zweite Klemme mit der Klemme g'7 in Figur 3 entsprechend dem Draht g_ ,
der einen Ausgang der Koppel- oder Schalteinrichtung T gemäß
Figur 2 bildet, durch den Kontakt R^, den Draht k, den Kontakt
(Figur 3) entsprechend dem Draht a™, der wiederum eine Spalte der Matrix in Figur 2 bildet, durch den Kontakt R,, den Draht k und den Kontakt Rkgn angeschlossen, während seine zweite Klemme mit der Klemme g'7 in Figur 3 entsprechend dem Draht g_ ,
der einen Ausgang der Koppel- oder Schalteinrichtung T gemäß
Figur 2 bildet, durch den Kontakt R^, den Draht k, den Kontakt
den Kontakt Ra60/ den Draht e , den Kontakt R5 und den Kontakt
R7 verbunden ist.
Auch kompliziertere Messungen werden mit der Koppel- oder
Schalteinrichtung T gemäß Figur 2 unter Steuerung durch die
Zentraleinheit EL, die alle an den verschiedenen Verbindungen
zur Leitweglenkung der Prüfungssignale beteiligten Relais betätigt, in entsprechender Weise durchgeführt, so daß sich eine weitere Beschreibung erübrigt. Es versteht sich , daß in Fig.2 sowohl den Speiseschaltungsstufen als auch den Meßinstrumenten Steuersignale (nicht dargestellt) von der Zentraleinheit zugeführt werden. Die Erläuterungen für das beschriebene Ausführungs beispiel gelten auch für den allgemeinen Fall, daß η Speiseschaltungen und eine beliebige Anzahl von Meßinstrumenten vorhanden sind und auch die Anzahl der Drähte am Ausgang der
Matrix beliebig ist. Der Aufwand der Schalteinrichtung T erhöht sich nur durch eine entsprechend größere Anzahl von Zeilen und Spalten der Koppelmatrix.
Schalteinrichtung T gemäß Figur 2 unter Steuerung durch die
Zentraleinheit EL, die alle an den verschiedenen Verbindungen
zur Leitweglenkung der Prüfungssignale beteiligten Relais betätigt, in entsprechender Weise durchgeführt, so daß sich eine weitere Beschreibung erübrigt. Es versteht sich , daß in Fig.2 sowohl den Speiseschaltungsstufen als auch den Meßinstrumenten Steuersignale (nicht dargestellt) von der Zentraleinheit zugeführt werden. Die Erläuterungen für das beschriebene Ausführungs beispiel gelten auch für den allgemeinen Fall, daß η Speiseschaltungen und eine beliebige Anzahl von Meßinstrumenten vorhanden sind und auch die Anzahl der Drähte am Ausgang der
Matrix beliebig ist. Der Aufwand der Schalteinrichtung T erhöht sich nur durch eine entsprechend größere Anzahl von Zeilen und Spalten der Koppelmatrix.
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Claims (3)
- -13-PatentansprücheSchaltungsanordnung zur Abnahmeprüfung von elektrischen und elektronischen Schaltungskomponenten mittels Analogmessungen mit einer Speiseschaltung und einer Anzahl von Informationsermittlungsvorrichtungen, die mit den zu prüfenden Schaltungskomponenten über eine Abtastvorrichtung koppelbar sind und deren Ausgangssignal mit Sollwerten verglichen werden, dadurch gekennzeichnet , daß die Abnahmeprüfung in Abhängigkeit von nach einem gegebenen Code codierten Eingangsinformationen erfolgt, die von einer gegebenen Anzahl von Codewandlern (L1...L.) decodiert und nach erneuter Codierung einer zur Informationsverarbeitung und zum Durchführen von Vergleichen dienenden Zentraleinheit (EL) zugeführt werden, die in Abhängigkeit von den codierten Informationen Steuersignale erzeugt, mit denen die veränderbare Ansprechempfindlichkeit einer gegebenen Anzahl η von Informationsermittlungsvorrichtungen (M1...Mn) eingestellt und die Erzeugung je eines vorbestimmten Spannungswertes und eines vorbestimmten Stromwertes am Ausgang jeder der in Kaskade geschalteten Stufen (AL1, AL2) einer mehrstufigen Speiseschaltung (AL) gesteuert wird, wobei für jede Informationsermittlungsvorrichtung (M ...) und für jeden Spannungs- bzw. Stromwert jeweils ein Steuersignal erzeugt wird; daß die Zentraleinheit (EL) ferner eine Schalteinrichtung (T) steuert, deren Klemmen mit den Ausgängen der Speiseschaltung (AL) und mit den η Informationsermittlungsvorrichtungen (M1...M) bzw. mit der Abtastvorrichtung (SP) verbunden sind, welche von der Zentraleinheit (EL) betätigbar ist und einerseits mit einer gegebenen Anzahl m Klemmen an m Klemmen der Schalteinrichtung (T) angeschlossen und andererseits mit weiteren m Klemmen mit einer Anzahl k Empfangsvorrichtungen(P1....Pk) verbindbar ist, von denen jede m Ausgänge und m wenigstens teilweise an eine entsprechende Anzahl von Klemmen der zu prüfenden Schaltung (Fig.3) angeschlossene Eingänge hat; und daß die Zentraleinheit (EL)409847/0266zu den von den Informationsermittlungsvorrichtungen (M^... .M) aufgrund der Steuersignale gelieferten Informationen proportionale Signale mit Sollwerten vergleicht und den Unterschieden entsprechende Signale an eine die Unterschiede sichtbar machende Vorrichtung (VIS) liefert.
- 2.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalteinrichtung (T) im wesentlichen aus einer Koppelmatrix aus Quecksilberbadrelais mit jeweils einem oder mehreren Kontakten besteht.
- 3.) Schaltungsanordnung nach Anspruchl oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Abtastvorrichtung aus einem Vielfachschrittschalter (SP)besteht, der m Ausgänge und k jeweils m Eingänge betreffende Schritte hat.409847/0266
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2407963A1 true DE2407963A1 (de) | 1974-11-21 |
Family
ID=11168444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19742407963 Withdrawn DE2407963A1 (de) | 1973-02-19 | 1974-02-19 | Schaltungsanordnung zur abnahmepruefung von schaltungskomponenten |
Country Status (4)
| Country | Link |
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| ES (1) | ES421945A1 (de) |
| FR (1) | FR2218721B1 (de) |
| IT (1) | IT983459B (de) |
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| IT983459B (it) | 1974-10-31 |
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