DE2361626B2 - Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen System - Google Patents
Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen SystemInfo
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Description
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Beugungselement ein Hologramm
(135,136; G1 bis G7;g5; IJ2,/4;236,237) ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Beugungselement (46; 235)
mehrere Bereiche (43,44,45; 236,237) unterschiedlicher
Beugungsstruktur aufweist
4. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtleiter
eine ebene Glasplatte (115; 231; 232; 235) ist
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtleiter eine
Kondensorlinse (207,215) ist.
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen
System gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
Eine Anordnung der eingangs erwähnten Art ist bereits aus der DE-AS 12 36 924 bekannt, bei welcher
der Strahlenteiler kein Beugungselement ist, sondern ein halbdurchlässiger Spiegel mit teilverspiegelten
Reflexionsflächen. Ein derartiger Strahlenteiler erfordert einen relativ hohen Platzbedarf.
Die Anwendung eines Beugungselements als Strahlenteiler ist in der US-PS 36 89 692 beschrieben. Das
Beugungselement ist dabei nicht stationär vorgesehen und wird durch ein sich bewegendes Band gebildet,
welches abzutastende Informationen trägt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung der eingangs genannten Art hinsichtlich
ihres Platzbedarfs zu verbessern. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Gegenstand des Hauptanspruchs
gelöst. Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Bei der erfindungsgemäßen Anordnung hat die Verwendung einer platzsparenden Beugungsstruktur
mit dem, Lichtleiter den Vorteil, daß ein Teillichtstrahl für eine Totalreflexion erzeugt wird, wozu normalerweise
eine Umlenkeinrichtung benötigt wird, die den Teillichtstrahl in der erforderlichen Richtung in dem
Lichtleiter ablenkt Solche Strahlenteiler führen jedoch dazu, daß der Lichtleiter relativ dick wird. Derartige
Probleme werden durch die erfindungsgemäße Anordnung vermieden, insbesondere läßt sich ein sehr dünner
Lichtleiter schaffen, der die gleiche Wirkung wie die bekannten, relativ dicken Lichtleiter hat. Bei Verwendung
des Beugungselements in Verbindung mit dem ein Teilstrahlenbündel im Inneren durch Totalreflexion
führenden Lichtieiier kann somit der vom Beugungsele-
ment abgespaltene Teilstrahl durch geeignete Dimensionierung der Beugungsstruktur so abgelenkt werden,
daß er auch im Falle einer sehr dünnen, planparallelen Platte einer Totalreflexion unterliegt. Die im wesentlichen
ebene flache Struktur der Anordnung aus Beugungselement und Lichtleiter ermöglicht eine sehr
raumsparende Bauweise.
Im folgenden wird die erfindungsgemäße Anordnung anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Verfahren zur Herstellung eines Beugungselements,
Fig.2 eine Anordnung des Beugungselements in
einem eine Abbildung liefernden Strahlenbündel,
F i g. 3 und 4 bekannte Strahlenteiler,
F i g. 5 ein weiteres Verfahren zur Herstellung eines Beugungselements,
F i g. 6 eine Anordnung des Beugungselements nach F i g. 5 in dem eine Abbildung liefernden Strahlenbündel,
F i g. 7 eine Darstellung einer unterteilten Bildebene,
Fig.8 eine Aufsicht auf ein weiteres Beugungselement,
F i g. 9 die Anordnung des Beugungselements in dem die Abbildung liefernden Strahlenbündel,
Fig. 10ein Beugungselement zur Lichtmessung,
F i g. 11 das Verfahren zur Hersteilung des Beugungselements
n&ch Fig. 10,
Fig. 12 ein Verfahren zur Herstellung eines weiteren
Beugungselements,
F i g. 13 ein Diagramm zur Erläuterung der Durchlaßkurve eines Filters zur Herstellung des Beugungselements,
Fig. 14 bekannte Möglichkeiten, ein Strahlenbündel zu einer total reflektierenden Oberfläche zu leiten,
F i g. 15 den Strahlenverlauf bei Totalreflexion,
Fig. 16 eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Anordnung,
F i g. 17 ein Verfahren zur Herstellung des Beugungselements nach F i g. 16,
Fig. 18 eine Darstellung einer weiteren erfindungsgemäßen
Anordnung,
Fig. 19 die Optik einer bekannten einäugigen Spiegelreflexkamera,
F i g. 20 die erfindungsgemäße Anordnung in Verbindung mit der Optik nach F i g. 19,
Fig.21 eine Anwendung der erfindungsgemäßen Anordnung,
F i g. 22 die erfindungsgemäße Anordnung in einer einäugigen Spiegelreflexkamera,
F i g. 23 und 24 eine weitere Anwendung,
F i g. 25 die Anwendung der Anordnung in einem Entfernungsmesser,
Fig. 26 und 27 eine weitere Anwendungsmöglichkeit
und
F i g. 28 die erfindungsgemäße Anordnung in einem weiteren Anwendungsbeispiel.
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf F i g. 1 ein bekanntes Verfahren erläutert, mit welchem auf
holografischem Wege ein richtungsselektives Beugungselement hergestellt werden kann.
Ein von einem Laser 1 erzeugtes Strahlenbündel 2 wird mittels eines Strahlenteilers 3 in zwei Strahlenbündel
unterteilt, wobei jedes Teilstrahlenbündel durch Linsen 4 und 5 bzw. 7 und 8 derart aufgeweitet wird, daß
beide Teilstrahlenbündel in Richtung auf die Oberfläche eines lichtempfindlichen Materials 9 auffallen. Auf der
Oberfläche des lichtempfindlichen Materials 9 wird durch beide Strahlenbündel ein 'nterferenzmuster
erzeugt, welches fotografisch auf dem lichtempfindlichen Material aufgezeichnet wird. Das lichtempfindliche
Material, auf welchem die Beugungsbilder fotografisch aufgezeichnet sind, stellt ein Hologramm dar, welches
als ein richtungsselektives Beugungselement verwendbar ist
In F i g. 2 ist ein optisches Abbildungssystem dargestellt,
das aus Linsen 11 und 12 besteht, weiche derart angeordnet sind, daß von einem Objekt 10 ein Bild 13
erzeugt wird. Das Beugungselement, welches nach dem in F i g. 1 gezeigten Verfahren erhalten wird, wird in
dem die Abbildung liefernden Strahlenbündel des erwähnten optischen Systems angeordnet. Mit diesem
Beugungselement, das mit 14 angegeben ist, werden reflektierte abgebeugte Strahlenbündel 15 und 16 sowie
hindurchgelassene abgebeugte Strahlenbündel 17 und 18 erzeugt, ein reflektiertes nicht gebeugtes Strahlenbündel
19 und ein hindurchgelassenes nicM gebeugtes Strahlenbündel 20, welches man auch als abgebeugtes
Strahlenbündel Ot er Ordnung bezeichnen kann.
Wenn das das Objekt 10 beleuchtende Strahlenbündel weißes Licht ist, erhält man ein Bild mit dem
abgebeugten Strahlenbündel, das farbmäßig verfälscht ist, während dies für das durch die nicht abgebeugten
Strahlenbündel erzeugte Bild nicht zutrifft. Es ist somit möglich, gleichzeitig die Helligkeit des vom Objekt
ausgesandten Strahlenbündels zu messen, indem man das nicht abgebeugte Strahlenbündel als das die
Abbildung liefernde Strahlenbündel verwendet und die abgebeugten Strahlenbündel mit einer lichtelektrischer!
Einrichtung empfängt.
Das holografische Beugungselement soll durchsichtig sein. Vorzugsweise werden die Hologramme aus
silbersalzhaltigen lichtempfindlichen Materialien entfärbt, oder es werden transparente lichtempfindliche
Materialien verwendet, welche keine Silbersalze enthalten. Als lichtempfindliches Material, welches kein
Silbersalz enthält, eignen sich beispielsweise Fotoätzstoffe, Fotopolymere oder Fotothermoplaste.
Das Beugungselement muß kein Hologramm sein. Es ist möglich, bereits bekannte Beugungsgitter zu
verwenden. Jedoch ist erwünscht, daß der Abstand zwischen benachbarten Gitterelementen so klein ist,
daß ein mit einer höheren als der zweiten Ordnung abgebeugtes Strahlenbündel unterdrückt wird und daß
nur die Strahlenbündel mit ± 1. Ordnung abgebeugt werden.
Es ist auch möglich, ein lichtempfindliches Material zu verwenden, bei dem der lichtempfindliche Bereich
ungefähr 5 μίτι bis zu 50 μίτι dick ist, so daß lediglich ein
abgebeugtes Strahlenbündel erzeugt werden kann. Es kann daher eine wirksame Beugung erzielt werden,
indem ein dreidimensionales Hologramm verwendet wird.
Falls entsprechend Fig.2 ein reflektiertes nicht abgebeugtes Strahlenbündel als Abbildungsstrahlenbündel
verwendet wird, empfiehlt es sich, ein holografisches lichtempfindliches Material von der Reliefbauart,
d. h. mit Erhöhungen und Vertiefungen zu verwenden, wodurch das Hologramm entsprechend den Unebenheiten
der Oberfläche des lichtempfindlichen Materials erzeugt wird, indem die Oberfläche mit einem das
Strahlenbündel reflektierenden Film, beispielsweise in Form einer AI-Abscheidung, behandelt wird.
Ein derartiges richtungsselektives Beugungselement wird im wesentlichen enwedpr in dem Abbildungsstrahlengang
angeordnet oder auf der Oberfläche von anderen optischen Teilen, die in dem Strahlengang
derart angeordnet sind, daß das von dem Beugungselement abgebeugte Strahlenbündel zu einer lichtempfindlichen
Einrichtung gelangt.
Irr folgenden werden weitere Anwendungsmöglichkeiten
beschrieben. Der Wellenfläche des abgebeugten Strahlenbündels muß eine bestimmte festgelegte Neigung
erteilt werden. Dies wird im folgenden an Hand eines Vergleichs mit bekannten Techniken erläutert.
F i g. 3 zeigt eine bekannte Lichtmeßeinrichtung, bei
F i g. 3 zeigt eine bekannte Lichtmeßeinrichtung, bei
in der das Strahlenbündel mittels eines halbdurchlässigen
Spiegels aufgespalten wird. Bei dem in der Zeichnung dargestellten Fall ist die das Licht aufnehmende
Oberfläche der Fotozelle 25 klein; es ist daher notwendig, das abgebeugte Strahlenbündel zu konzen-
-, trieren. Hierbei wird das Strahlenbündel 23, welches von
dem halbdurchlässigen Spiegel 21 des Strahlenteilers 22 aufgespalten ist, auf die lichtempfindliche Oberfläche
der Fotozelle 25 mittels einer Kondensor- oder Zylinderlinse 24 fokussiert.
Fig.4 zeigt eine gegenüber Fig.3 verbesserte
bekannte Lichtmeßeinrichtung. Im Inneren des optischen Elements 26 ist eine geneigte, sphärische und
halbdurchsichtige Fläche 27 so angeordnet, daß sie das Abbildungsstrahlenbündel 28 aufteilt und das abgespal-
r> tene Strahlenbündel auf die lichtempfindliche Fläche der Fotozelle 29 konzentriert. Die beschriebenen
bekannten Anordnungen weisen jedoch einen großen Raumbedarf auf und sind teilweise auch schwierig
herstellbar.
jo Durch den Einsatz eines Beugungselements als Strahlenteiler kann dem abgebeugten Strahlenbündel
eine bestimmte festgelegte Eigenschaft, beispielsweise eine Sammelwirkung, erteilt werden. Die Herstellung
eines derartigen Beugungselements ist in F i g. 5
j-> beschrieben. Die Herstellungsmethode selbst ist allerdings
bereits bekannt.
Gemäß F i g. 5 erzeugt ein Laser 1 ein Strahlenbündel, das durch den Strahlenteiler 3 aufgeteilt wird. Eines
dieser Teilstrahlenbündel wird von Linsen 4 und 5 aufgeweitet und wird anschließend parallelisiert, während
das andere Teilstrahlenbündel von einem Spiegel zu einer kleinen Linse 7 reflektiert wird, welche das
Teilstrahlenbündel derart divergent macht, daß beide Teilstrahlenbündel auf das lichtempfindliche Material 30
a> gelangen. Beide Teilstrahlenbündel bilden daher zueinander
konzentrische, exzentrisch angeordnete Interferenzstreifen, die fotografisch aufgezeichnet werden.
Falls ein derart hergestelltes Beugungselement 31 in den Abbildungsstrahlengang gemäß F i g. 2 in der in F i g. 6
gezeigten Weise eingebracht wird, werden durch dieses Beugungselement 31 konvergierende, gebeugte Strahlenbündel
32 und 33 sowie divergierende gebeugte Strahlenbündel 34 und 35 erzeugt. In diesem Falle sind
die nicht abgebeugten Strahlenbündel 36 und 37 frei von
5ϊ jeglichen ungünstigen Einflüssen des Beugungselements
31.
Wenn im Brennpunkt des konvergierenden Strahlenbündels 32 oder 33 eine Fotozelle angeordnet ist, läßt
sich eine Lichtmessung durchführen, auch wenn das
wi lichtempfindliche Gebiet der Fotozelle klein ist. Auch
bei nicht kreisförmigem lichtempfindlichen Bereich der Fotozelle läßt sich das in die Fotozelle eintretende
Strahlenbündel so formen, daß es der Fotozelle entspricht Wenn beispielsweise der lichtempfindliche
bi Bereich der Fotozelle schmal ist, kann man das
Strahlenbündel zu einer Linie zusammendrücken, was mittels eines Hologramms als Beugungselement gelingt.
Dieses Beugungselement wird dadurch hergestellt, daß
ein Strahlenbündel mit parallelen Wellenfronten mit einem anderen Strahlenbündel mit zylindrischen Wellenfronten
zur Interferenz gebracht wird. Falls dagegen der lichtempfindliche Bereich ringförmig gestaltet ist,
kann man zu diesem Zweck ein Hologramm herstellen, indem man ein Strahlenbündel mit sphärischer Wellenfläche
von einem ringförmigen Teil aus emittiert.
Im folgenden wird erläutert, wie ein Abbildungsstrahlenbündel, das auf mehrere Stellen gerichtet werden soll,
mittels eines Beugungselements in einzelne Strahlenbündel für entsprechende Fotozellen aufgeteilt wird.
F i g. 7 zeigt einen Schnitt eines Abbildungsstrahlenbündels beispielsweise in der Brennebene eines
Kamerasuchers. Hierbei ist es erwünscht, die Lichtmessung in den Bereichen 40 und 41, welche eine
Gesamtbildebene bilden, und in einem Mittelbereich unabhängig voneinander auszuführen. Das für diesen
Zweck erforderliche Beugungselement läßt sich in diesem Falle mittels des an Hand von F i g. 5
beschriebenen Verfahrens herstellen. Zuerst wird auf der Vorderseite des in Fig.5 gezeigten lichtempfindlichen
Materials 30 eine Maske angeordnet, deren Schnitt eine entsprechende Gestalt aufweist, und es wird ein
Hologramm fotografiert. Anschließend wird eine andere Maske mit einem Schnitt an einem unterschiedlichen
Teil auf das gleiche lichtempfindliche Material 30 gelegt, worauf das lichtempfindliche Material gemeinsam
mit der Maske um einen bestimmten Winkel um die optische Achse als Mittelpunkt gedreht und anschließend
eine zweite Aufnahme gemacht wird. Auf diese Weise werden fotografische Aufnahmen auf dem
gleichen lichtempfindlichen Material derart getätigt, daß schließlich ein Hologramm 46 entsteht, wie es in
Fig.8 dargestellt ist. In diesem Hologramm sind insbesondere die Interferenzstreifen 43, 44 und 45 des
Beugungselements 46 aufgezeichnet, welche unterschiedliche Neigungen aufweisen. Wenn das Beugungselement
46 in das Abbildungsstrahlenbündei 47 gemäß F i g. 9 eingebracht wird, ergibt sich, daß die von den
Teilen 43, 44 und 45, welche das Beugungselement 46 bilden, abgebeugten Strahlenbündel an räumlich unterschiedlichen
Stellen gesammelt werden. Es ist somit möglich, die Lichtmenge in jeder Lage unabhängig von
der anderen zu messen, indem an den Stellen, an denen diese Strahlenbündel gesammelt werden, Fotozellen 48,
49 und 50 vorgesehen werden. Es ist ferner möglich, die abgebeugten Strahlenbündel mittels eines Hologramms
zu teilen, indem die Einfallsrichtung der Strahlenbündel aufeinanderfolgend geändert wird.
Wenn beispielsweise das Licht in dem Suchersystem einer Kamera gemessen werden soll, erweist es sich
vielfach als erwünscht, die Lichtmessung im mittleren Bereich und nicht im Bereich nahe des Randes des
Sucherstrahlenbündels durchzuführen. Diese Art einer Lichtmessung wird allgemein als partielle Lichtmessung
bezeichnet. Dabei wird in Nachbarschaft des Okulars eine Linse des Suchers derart angeordnet, daß das
Strahlenbündel nahe dem Mittelpunkt der Brennebene auf die lichtempfindliche Fläche einer Fotozelle gelangt,
welche das Licht mißt. Ein optisches System, welches diesen Zweck erfüllt, hat jedoch normalerweise
komplizierten Aufbau. Wird bei einer derartigen Lichtmessung ein Beugungselement als Strahlenteiler
verwendet, dann ergibt sich die in Fig. 10 gezeigte Anordnung. Die Brennebene 51 liegt in dem Sucherstrahlenbündel.
Mit dem Bezugszeichen 53 ist das Beugungselement bezeichnet. Mit 52 ist das Okular, mit
65 eine Fotozelle bezeichnet. Im vorliegenden Falle wird das von dem Punkt 64 auf der Brennebene 51
liegende Strahlenbündel wirksam von dem Beugungselement 53 abgebeugt und zu der Fotozelle 65 geleitet,
während die Strahlenbündel, welche von dem Bereich nahe des äußeren Randes der Brennebene 51 kommen,
weniger wirksam in derartiger Weise abgebeugt werden, so daß das zu der Fotozelle gelangende
Strahlenbündel vermindert ist. Auf diese Weise ist eine selektive Lichtmessung durchführbar.
ίο Im folgenden wird ein Verfahren zur Herstellung
eines Beugungselements für eine derartige selektive Lichtmessung beschrieben. In F i g. 11 ist mit 54 das
lichtempfindliche Material angegeben, welches an einer Lage angebracht ist, die der des Elements 53 von
F i g. 10 entspricht. Mit dem Bezugszeichen 64 ist ferner die Lage einer Stelle gekennzeichnet, welche dem Punkt
64 auf der Brennebene 51 von F i g. 10 entspricht, wobei an dieser Stelle eine selektive Lichtmessung durchgeführt
werden soll. Ein kohärentes Strahlenbündel ist mittels der Linse 57 auf diese Stelle fokussiert. Nach
Durchlaufen der Lage 64 divergiert das Strahlenbündel und gelangt zu dem lichtempfindlichen Material 54. Des
weiteren wird ein anderes kohärentes Strahlenbündel, das mittels des Strahlenteilers abgespalten ist, als
divergentes Strahlenbündel auf das lichtempfindliche Material 54 geleitet, was mittels eines Spiegels 6 und
einer Linse 62 geschieht. Ein durch die Interferenz dieser beiden kohärenten Strahlenbündel erzeugtes
Interferenzstreifenmuster wird auf einem lichtempfind-
JO liehen Material erzeugt, dessen lichtempfindlicher
Bereich ungefähr 10 μπι bis zu 100 μπι dick ist, so daß
ein Hologramm gebildet wird. Das derartige Hologramm ist dreidimensional und weist eine äußerst
scharfe Richtungsselektivität auf. Das zu dem lichtempfindlichen Material von der Linse 62 geleitete
Strahlenbündel muß nicht unbedingt ein divergentes Strahlenbündel sein, sondern kann irgendein Strahlenbünde!
sein, das eine Wellenfläche von beliebiger Gestalt aufweist.
Die Abspaltung eines Strahlenbündels mit einem bestimmten Neigungswinkel aus dem Abbildungsstrahlenbündei
heraus läßt sich dadurch verwirklichen, daß ein Hologramm hergestellt wird und daß das Strahlenbündel
58 die in F i g. 11 gezeigte Form hat.
Die Intensität des von dem Beugungselement abgebeugten Strahlenbündels kann eine wunschgemäße
Verteilung auf der Oberfläche des Elements aufweisen, wie im folgenden beschrieben wird. Es ist möglich, eine
selektive Lichtmessung mit einem derartigen Beugungsso element durchzuführen, das in der Brennebene des
Kamerasuchers angeordnet ist. Das Verfahren zur Herstellung eines Beugungselements, welches derartige
Eigenschaften hat, wird im folgenden beschrieben. Fig. 12 zeigt einen optischen Aufbau ähnlich dem von
Fig.5, wobei jedoch die Intensitäten des Strahlenbündels
70 und des Strahlenbündels 71 zueinander gleich sind, so daß ein Interferenzstreifenmuster auf dem
lichtempfindlichen Material 30 entsteht. Hierbei ist in dem einen Strahlenbündel 71 ein Filter 72 angeordnet.
Das Filter 72 weist die in F i g. 13 gezeigte Durchlaßkurve
auf. Ein Hologramm, das mit Hilfe eines derartigen Filters 72 hergestellt ist, liefert einen maximalen
Kontrast hinsichtlich des Interferenzstreifens, der von dem gleichen Strahlenbündel hervorgerufen ist, welches
nahe dem Punkt A mit dem größten Transmissionsvermögen des Filters hindurchgegangen ist, wobei mit
zunehmender Entfernung von dem Punkt A der Kontrast abnimmt.
Wenn ein derartiges Beugungselement in das
Abbildungsstrahlenbündel eingebracht wird, erzeugt der Bereich, welcher der Nachbarschaft des Punktes A
entspricht, ein abgebeugtes Strahlenbündel mit größtem Wirkungsgrad, während mit zunehmendem Abstand
von dem Punkt der Wirkungsgrad des Strahlcnteilers abnimmt, so daß eine selektive Lichtmcssung ähnlich
vorstehender Angabe durchgeführt werden kann.
In dem einen Strahlenbündel kann zur Änderung des Kontrastes des Interferenzstreifens ein Filter angeordnet
werden; es reicht jedoch aus, den Kontrast des Interferenzstreifenmusters in einem kleinen Bereich zu
ändern.
Das von der Gitterstruktur des Beugungselcments abgebeugte Strahlenbündel wird in den bisher beschriebenen
Fällen direkt auf das lichtempfindliche Material gerichtet. Das abgebeugte Strahlenbündel kann jedoch
auch auf das lichtempfindliche Material über einen Lichtleiter geleitet werden. Der Lichtleiter kann das
Strahlenbündel beispielsweise durch Totalreflexion weiterführen und auf eine Fotozelle leiten.
Die Anwendung der Totalreflexion an der Endoberfläche eines Prismas ist allgemein bekannt. F i g. 14 zeigt,
wie ein Strahlenbündel in ein Prisma eingeführt wird, so daß eine Totalreflexion bewirkt wird, oder wie ein dem
Prisma total reflektiertes Strahlenbündel aus dem Prisma herausgeleitet wird. Ein Strahlenbündel, für das
die Bedingungen der Totalreflexion erfüllt sind, trifft auf eine Oberfläche 102 auf. Hierdurch wird die Totalreflexion
des Prismas 101 hervorgerufen, wobei die Einfallsfläche 103 ebenso wie die Austrittsfläche 104
bezüglich der Oberfläche 102 geneigt verlaufen. Wenn dagegen entsprechend der Oberfläche 103' von Fig. 15
die Einfallsfläche oder die Austrittsfläche parallel zur total reflektierenden Oberfläche verlaufen, ergibt sich
folgendes: Ein die Bedingung für die Totalreflexion an der Oberfläche 102 erfüllendes Strahlenbündel 105,
insbesondere das von außen auf das Prisma einfallende Strahlenbündel, unterliegt außerdem einer Totalreflexion
an der Grenzfläche 103' zwischen der Außenseite und dem Prisma 106, so daß das Strahlenbündel nicht in
das Prisma eintreten kann. Umgekehrt wird ein Strahlenbündel, das die Bedingung für die Totalreflexion
an der Oberfläche 103' nicht erfüllt und das in das Prisma eintritt und unter Reflexion durch das Prisma
106 hindurchgeht, nicht an der Fläche 102 total reflektiert. Des weiteren wird das an der Fläche 102
total reflektierte Strahlenbündel 105 ebenfalls an der Oberfläche 103' total reflektiert, so daß es nicht aus dem
Prisma 106 austritt.
Die in Fig. 16 gezeigte Ausführungsform weist eine
Oberfläche auf, welche als F.infallsflächc oder als Austrittsfläche eines optischen Teilers mit einer
Beugungsgilterstruktur derart dient, daß das hierdurch abgebeugte Strahlenbündel total reflektiert wird. Die
Einfallsfläche und die Austrittsflächc müssen nicht zur total reflektierenden Fläche geneigt sein, so daß es
möglich wird, ein Strahlenbündel, welches die Bedingung für die Totalreflexion erfüllt, in das optische Teil
einzuleiten oder aus dem optischen Teil herauszuführen, ohne daß zusätzliche optische Teile verwendet werden
müssen, um die Bedingung für Totalreflexion /u
umgehen. In Fig. 16 ist 113 ein Prisma, 114 eine total
reflektierende Oberfläche, 108 die Oberfläche, welche ein Beugungselement aufweist, 109 ein in das Prisma
von außen eintretendes Strahlenbündel, 110 ein
iibgchiMiplcs Strahlenbündel der I. Ordnung, III ein
pU's Siiiihlcnbündcl der (!.Ordnung und 112 fin
abgebendes Strahlenbündel der +1. Ordnung. Das Strahlenbündel 109, welches in die Oberfläche 108 mit
dem Beugungselement eintritt, wird abgebeugt und in drei Strahlenbündel unterteilt, nämlich ein abgebeugtes
Strahlenbündel 110 der - 1. Ordnung, ein abgebeugtes
Strahlenbündel 111 der 0. Ordnung sowie ein abgebeugtes Strahlenbündel 112 der + 1. Ordnung. Die Richtung
des abgebeugten Strahlenbündels 111 der 0. Ordnung ist durch die folgende Beziehung bestimmt:
<-)■, = Sill
■(»;,„ 4
Die Richtungen der abgebeugten Strahlenbündel ± 1. ΐί Ordnung sind in folgender Beziehung definiert:
\ .4 = H, i sin
Hierbei bedeutet n\ den Brechungsindex des Mediums, in welchem sich das einfallende Strahlenbündel 109
ausbreitet, während n2 der Brechungsindex des Prismas
ist. Θι ist der Einfallswinkel des Strahlenbündels 109, Θ2
der Brechungswinkel des abgebeugten Strahlenbündels
2r> 109 0. Ordnung, λ die Wellenlänge des Strahlenbündels
109, ρ der Gitterabstand des Beugungsgitters und <x +
die Richtung des Strahlenbündels mit der — 1. Ordnung und « - die des Strahlenbündels + 1. Ordnung.
Das abgebeugte Strahlenbündel 112der +!.Ordnung
in tritt in die total reflektierende Fläche 114 mit einem
Winkel 0j ein, der durch folgende Gleichung wiedergegeben
wird, wobei β den Neigungswinkel der Fläche 114
gegenüber der Fläche 108 darstellt:
Die Bedingung für die Totalreflexion des Strahlenbündels 112 auf der Fläche 114 ist durch folgende
Beziehung wiedergegeben, wobei ri2> ni.
<-)λ > sin
■Γ) m ist der Brechungsindex des Mediums außerhalb des
Prismas.
Die Beziehung (4) läßt sich mittels der Beziehungen (1 ),(2) und (3) folgendermaßen umformen:
w sin '("'-. sin «Λ H sinf λ)
\i>2 7 \n2pj
Wenn die Brechungsindizes der Medien n\, n2 und iu,
der Gittcrabstand pdes Beugungsgitters des Bcugungs·
elements, der Einfallswinkel öi des Prisinas und der
Neigungswinkel β geeignet gewählt sind, läßt sich das Strahlenbündel 109 in die total reflektierende Obcrfliiehe
14 des Prismas von außen einführen.
Wenn beispielsweise das Prisma aus parallelen Platten besteht und der Neigungswinkel des Strahlenbündel
ein rechter Winkel Lsi, d. h. Hi = 0 und // = 0,
ergibt sich die folgende Ikvicliiing aus der Gleichung
(5):
Es ist daher möglich, das Strahlenbündel in das Prisma mittels eines Beugungsgitters einzubringen, welches die
Beziehung (6) erfüllt.
Wenn beispielsweise Θι = 45°, β = 0, n\ - η>
= I, /?> = 1,5 und λ = 5000 Ä ist, ist ρ kleiner als 144 μηι. Es
ist daher möglich, ein Strahlenbündel in das Innere der planparallelen Platten von außen einzuführen, welches
andernfalls an der Oberfläche total reflektiert würde, indem man die Einfallsplatte der planparallelcn Platten
mit einer Beugungsgitterstruktur von ρ = I μηι versieht.
Da das Beugungsgitter eine ebene Struktur aufweist, enthält das abgebeugte Strahlenbündel der 0. Ordnung
die größte Lichtmenge, während es erwünscht wäre, daß die abgebeugten Strahlenbündel der ±1. Ordnung die
größte Lichtmenge erhalten, damit das Licht der einfallenden Strahlenbündel mit größtem Wirkungsgrad
ausgenützt wird. Daher wird ein Beugungsgitter mit dreidimensionaler Struktur bevorzugt.
Fig. 17 zeigt eine Ausführungsform eines Verfahrens
/ur Herstellung eines Beugungsgitters mit einer dreidimensionalen Struktur. In der Zeichnung bedeutet
115 ein mit einem Beugungsgitter bzw. Beugungselement
zu versehendes total reflektierendes Teil, 116 eine
lichtempfindliche Schicht, 117 ein Hilfsprisma zur
Erzeugung des Beugungsgitters, 118 ein Material wie eine Flüssigkeit, welche einen Brechungsindex aufweist,
der ähnlich dem des total reflektierten Teils und des Hilfsprismas ist. 122 ist ein Lasergenerator, 130 ein
zweites Hilfsprisma. Wie aus der Zeichnung hervorgeht, ist auf der einen Oberfläche des total reflektierenden
Teils 115 die lichtempfindliche Schicht 116 angebracht,
wobei nahe an dieser Schicht das Prisma 117 angeordnet ist.
Wird das total reflektierende Teil 115 in Berührung mit dem Prisma 117 mittels der Flüssigkeit gebracht,
deren Brechungsindex dem der beiden genannten Hinrichtungen ähnlich ist, läßt sich ein optisch enger
Kontakt herstellen. Mittels dieser Ausbildung können zwei zueinander kohärente Strahlenbündel 119 und 120
in das Prisma 117 geleilet werden. Das eine Strahlenbündel
119 gelangt auf die Oberfläche 12! des Teils 115,
während das Strahlenbündel 120 in das Prisma derart und mit einem solchen Winkel eingeführt wird, daß die
Oberfläche 121 die Bedingung für die Totalreflexion erfüllt, falls die Oberfläche in Berührung mit dem
äußeren Medium wie Luft steht. Hierdurch werden die beiden kohärenten Strahlenbündel 119 und 120 derart
erzeugt, daß das von dem Laser 122 emittierte Strahlenbündel 123 von einem Linsensystem aufgeweitet
wird, welches aus den Linsen 124 und 125 besteht, in zwei Strahlenbündel mittels des Strahlenlcilers 126
aufgeteilt und von einem Reflektor 127 reflektiert wird. Die Sirahlenbündel 128 und 129, welche in das Prisma
117 eintreten, erreichen die lichtempfindliche Schicht
116, wobei in dieser Schicht ein dreidimensionales
Inlerlerenzslreifenmusler Π5 erzeugt wird, wie es in
Fig. 18dargestellt ist.
Nach Entwickeln der lichtempfindlichen Schicht erhall man ein total reflektierendes Teil 115, welches ein
Beugungselement mil dreidimensionaler Beugungs- gitterstruktur aufweist. Das auf der total reflektierenden
Oberfläche 121 während der Herstellung total refleklierle
Strahlenbündel 128 würde die lichtempfindliche Schicht als störendes Strahlenbündel erreichen. Zur
Vermeidung dieses Effekts wird die total reflektierende Oberfläche 121 mit einer Farbschicht behandelt, welche
die Totalreflexion verhindert, oder es wird, wie in Fig. 17 dargestellt, das zweite Hilfsprisma 130 in
Berührung mit der total reflektierenden Oberfläche 115 mittels einer Flüssigkeit 131 derart gebracht, daß das
Strahlenbündel 132, welches in das zweite Hilfsprisma 130 eingetreten ist, von der auf die Oberfläche 133 des
Prismas aufgebrachten Farbschicht absorbiert wird. Die Oberfläche 133 kann hierbei mit einem eine Reflexionsbildung verhindernden Überzug derart versehen werden,
daß das Strahlenbündel aus dem Prisma 130 herausgeführt wird.
Mittels eines derart hergestellten total reflektierenden Teils 115 entsprechend Fig. 18 läßt sich ein
abgebeugtes Strahlenbündel 134' erhalten, welches in nahezu der gleichen Richtung wie das Strahlenbündel
128 verläuft, wenn das Strahlenbündel 134 etwa entlang
der gleichen Richtung wie das Strahlenbündel 119 in Fig. 17 projiziert wird, so daß das Strahlenbündel 134'
an der Oberfläche 121 total reflektiert wird. Das Beugungselement 135 hat eine dreidimensionale Gitterstruktur,
so daß der Hauptanteil des darauf gerichteten Strahlenbündel 134 entlang der Richtung des sich
geradlinig ausbreitenden abgebeugten .Strahlenbündels 0. Ordnung und des abgebeugten Strahlenbündels 114'
+ 1. Ordnung übertragen wird, während nur ein geringer Anteil in die Richtung des abgebeugten
Sirahlenbündels - 1. Ordnung gelangt. Eine Verminderung der Intensität des Strahlenbündels kann daher
vermieden werden.
Das Strahlenbündel kann aus dem to1,,.'! reflektierenden
Teil 115 herausgeleitet werden, indem ein Beugungselement 135 mit dreidimensionaler Struktur
sowie ein weiteres Beugungselement 136, das ebenfalls eine dreidimensionale Struktur aufweist, jedoch in
seiner Neigung symmetrisch zu dem des Beugungsgitters 135 ist, verwendet werden. Als lichtempfindliche
Schicht, welche die I lerstellung derartiger Beugungsgitter ermöglicht, eignen sich beispielsweise Fotoätzmaterialien,
Fotopolymere usw. Mit Hilfe des Beugungsgitters kann ein Strahlenbündel in ein Medium eingeführt
werden, auch wenn der Einfallswinkel normalerweise nicht zu einer Totalreflexion führen würde.
Im folgenden wird die Arbeitsweise der crfindungsgemäßen
Anordnung unter Bezugnahme auf bekannte Anordnungen erläutert: Fig. 19 zeigt ein optisches
System einer Spiegelreflexkamera, mit dem ein Teil des Sirahlenbündels zum lichtelektrischen Wandler 140
geleitet wird, um die Menge des auffallenden Lichts zu messen. Mit 137 ist ein Fotoobjektiv und mit 139 eine
Glasplatte angegeben, welche einen Strahlenteiler 138 im Inneren enthält. Ein Teil des vom Objekt
kommenden und durch das Objektiv hindurchgehenden Slrahlenbündels 141 wird von dem Strahlenteiler 138
rcllektiert und erzeugt ein Strahlenbündel 142, welches an beiden Oberflächen der Glasplatte 139 total
reflektiert und zu dem Wandler 140 geleitet wird, welcher die I lelligkeitsmessung vornimmt. Anstelle der
Glasplatte 139 kann ein total reflektierendes Feil verwendet werden, welches ein Beugungselement auf
der einen Oberfläche der planparallelen Glasplatte trügt.
Ist in dem Weg des Slrahlenbündels 141 eine planparallele Glasplatte mit einem Beugungselement
auf einer Oberfläche entsprechend dem total reflektierenden Teil in Fig. 18 angebracht, wird ein Teil des
eintretenden Slrahlenbündels mit der + I. Ordnung abgebeugt, auf beiden Oberflächen der planparallelen
Glasplatte total reflektiert und zu dem Wandler 140 geleitet, während das sich geradlinig ausbreitende
abgebeugte Strahlenbündel O. Ordnung ein Sucherbild liefert.
Wenn ein streuendes Element 135 unter dem total reflektierenden Teil 115 angeordnet wird, ist eine
Verbesserung hinsichtlich der Abhängigkeit des von dem Beugungselement abgebeugten Strahlenbündels
von Änderungen der Blendenöffnung der Objektive ebenso wie bezüglich des Einflusses von spektrografischen
Beugungscharakteristiken möglich.
Wenn das total reflektierende Teil 115 als Lichtmeßplatte
des Suchers verwendet wird, treten die von dem Objektiv 137 kommenden Strahlenbündel in das Teil
115 mit unterschiedlichen Winkeln ein, so daß es sich für
eine optimale Totalreflexion für alle Strahlenbündel empfiehlt, ein Strahlenbündel zu verwenden, dessen
Wellenform gleich der Kugelwelle ist, die von dem Mittelpunkt der Austrittspupille des die Abbildung
vornehmenden Objektivs 137 in Richtung auf das total reflektierende Teil ausgeht, wenn das total reflektierende
Teil hergestellt wird. Das Strahlenbündel 141 besteht aus weißem Licht, d. h. aus Licht, welches alle Farben
enthalt. Wenn man daher alle Strahlenbündel des sichtbaren Lichts zum Wandler leiten will, sollte das
total reflektierende Teil 115 mit der in F i g. 17 gezeigten
Anordnung durch Verwendung eines blauen Laserstrahlenbündels mit kurzer Wellenlänge hergestellt werden,
so daß alle Strahlenbündel, deren Wellenlänge größer ist als die des blauen Strahlenbündels, hindurchgelangen.
Der Vorteil, der sich bei der Verwendung des total reflektierenden Teils 115 mit Beugungsgitter bei einer
Anwendung für die Lichtmessung ergibt, beruht darin, daß man entsprechend dem Bereich des Teiles, der mit
dem Beugungsgitter versehen ist (vgl. Unterseite des Elements 115), oder entsprechend dem Herstellungsverfahren
jeden erwünschten Winkel für die Lichtmessung und jeden erwünschten Bereich erhalten kann. Ein
weiterer Vorteil beruht darin, daß das total reflektierende Teil sehr dünn gemacht werden kann, da das
Beugungselement als Strahlenteiler dient, wogegen für die herkömmliche, in Fig. 19 gezeigte Glasplatte 139
zur Lichtmessung im Hinblick auf die Notwendigkeit, einen Strahlenteiler 138 darin anzubringen, die Dicke
der Glasplatte groß sein muß. (In der Zeichnung ist das total reflektierende Teil 115 hinsichtlich seiner Dicke
übertrieben dargestellt.) Wenn das Beugungselement ein ebenes Beugungsgitter aufweist, lassen sich die
Herstellungskosten im Vergleich zu den herkömmlichen Anordnungen erheblich vermindern, da eine Vervielfältigung
durch Prägen, Stanzen oder Pressen möglich ist. Abgesehen von der Lichtmessung in optischen Suchersystemen
läßt sich somit grundsätzlich mit diesem total reflektierenden Teil eine Lichtmessung von Strahlenbütulcln
ausführen. Fig. 21 zeigt eine Anordnung mit einem total reflektierenden Teil 115 im Weg eines
Strahlenbündels 134, bei der ein Teil des Strahlenbündel mittels eines auf der einen Oberfläche des total
reflektierenden Teils 115 angebrachten Beugungselement* 135 abgebeugt, von beiden Oberflächen des
Teiles total reflektiert und zu einem lichlelektrischen Wandler 140 zur Lichtmessung geleitet wird.
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf Fig. 22 eine Anordnung beschrieben, die in dem Belichtungsmeßsystem
einer Kamera vorgesehen ist. Aus der Zeichnung ist die Lage des reflektierenden Teils mit
dem Beugungselement und die des lichtelektrischen Wandlers in einer einäugigen Spiegelreflexkamera
ersichtlich. In F i g. 22 sind mit 200 ein Fotoobjektiv, 201 eine Blende, 203 ein Spiegel, 204 eine Bildebene, 205 ein
Verschluß, 206 eine Brennebene, 207 eine Kondensorlinse, 208 ein Pentagonalprisrna und mil 209 ein Okular
bezeichnet. Mit G ist jeweils ein reflektierendes Teil bezeichnet, welches ein Beugungselement aufweist,
> während mit P jeweils ein lichtelektrischer Wandler angegeben ist.
Das Teil G\ liegt zwischen der Brennebene 206 und der Kondensorlinse 207. Der lichtelektrische Wandler
P\ ist auf die Endfläche des Teiles Ci gerichtet. Bei
in dieser Anordnung tritt das von dem Objekt kommende
Strahlenbündel durch das Fotoobjektiv 200 hindurch. Es wird an dem Spiegel 203 reflektiert und an der
Brennebene 206 gestreut. Das gestreute Strahlenbündel tritt durch das Teil G\ hindurch, so daß sich ein Teil des
ij Strahlenbündels in dem Teil Gi unter Totalreflexion
entlang des Teils G\ ausbreitet und den lichtelektrischen Wandler Pi erreicht. Gemäß einer zweiten Möglichkeit
liegt zwischen der Kondensorlinse 207 und dem Pentagonalprisma 208 ein Teil G.?, wobei ein lichtelektri-
_'u scher Wandler Pi der Endfläche des Teiles G;
gegenübersteht. Die Lichtmessung wird durch Verwendung eines Teils des .Strahlenbündels durchgeführt,
welches durch die Kondensorlinse hindurchtritt. Nach einer dritten Möglichkeit ist das Teil Gt auf der
j-, Vorderseite der reflektierenden Ebene 208' des Pentagonalprismas angebracht, während ein lichtelektrischer
Wandler P\ dem Ende des Teiles d gegenübersteht. Das hier für die Lichmessung verwendete
Strahlenbündel ist dasjenige Strahlenbündel, welches im
in Richtung auf die reflektierende Fläche 208' verlauft,
welche das wirksame Sucherstrahlenbündel empfängt. Entsprechend der vierten Möglichkeit ist schließlich ein
Teil d zwischen dem Pentagonalprisma 208 und dem Okular angeordnet, wobei der lichtelektrische Wandler
)-, Pa dem Ende des Teiles G, gegenübersteht. Bei der
fünften Anordnungsmöglichkeit ist das Teil G=, hinter dem Okular 209 angeordnet, wobei der lichtelektrische
Wandler dem Ende des Teils G^ gegenüberliegt. Ein nicht erwünschtes Strahlenbündel von dem Okular 209
to kann zu dem Pentagonalprisma gelangen, hat jedoch nur geringfügigen Einfluß. Ein derartiges störendes
Strahlenbündel läßt sich vermeiden, wenn das Interferenzstreifenmuster
des Beugungselements dreidimensional gestaltet wird. Bei der sechsten Anordnungsmög-
4-, lichkeit ist das Teil Gb auf der Reflexionsebene des
Spiegels 203 angebracht. Der lichtelektrische Wandler Pb ist derart angeordnet, daß er der Endfläche des Teiles
Gt, gegenüberliegt, wenn der Spiegel 203 geneigt
verläuft. Das Teil Gn führt gemeinsam mit dem Spiegel
■Ϊ0 203 eine Schwenkbewegung aus, weshalb es erwünscht
ist, daß das Teil G„ aus einem möglichst leichten Material besteht. Das Teil G„ kann auch ein in schräger
Lage fest angeordneter halbdurchlässiger Spiegel sein. Gemäß der siebten Möglichkeit ist das Teil G? vor der
μ Bildebene 204 angeordnet, wobei der lichtelektrische
Wandler P1 der Endfläche des Teiles G7 gegenüberliegt.
Die Lichtmessung kann während der Belichtung eines Films erfolgen.
In den Fig. 23 und 24 wird das von dem
:iii Beugungselement abgebeugte Strahlenbündel /u einem
lichtelektrischen Wandler geleitet, ohne daß ein Lichtübertragungsteil sowie eine ebene Glasplatte
vorgesehen sind. In dem in Fig. 23 gezeigten Anwendungsbeispiel
ist ein Beugungselement g\ an der
ii Außenseite der wirksamen Reflcxionsebene der vorderen
Reflexionsoberfläche 208' des Pentagonalprismas 208 angeordnet. Der lichtelektrische Wandler Q\ ist
hierbei in einer Lage vorgesehen, bei der sich die
vordere obere Ebene und die Dachebene des Pentagonalprismas
kreuzen. Die Lagt des lichtelektrischen Wandlers ist beliebig, wenn das von dem Beugungselement
abgebeugte Strahlenbündel den Wandler erreicht und wenn es vom Sucherstrahlenbündel nicht negativ
beeinflußt wird. Wenn das in dem Pentagonalprisma 208 reflektierte Sucherstrahlenbündel auf das Beugungselement
g\ auffällt, erfolgLeine Beugung dieses Strahlenbündel,
das gleichzeitig konvergent gemacht wird und auf die lichtempfindliche Oberfläche des lichtelektrisehen
Wandlers Qi fokussiert wird. Gemäß einer zweiten Ausbildung der Optik ist ein Beugungselement
g: mit Durchlaßcharakteristik und der Ausgangsoberfläche 208" des Pentagonalprismas angeordnet. Der
lichtelektrische Wandler Q2 ist oberhalb des Okulars 109
und in dessen Nähe angeordnet, kann aber auch unterhalb des Okulars bzw. rechts oder links desselben
angeordnet werden. Das Sucherstrahlenbündel tritt durch das Beugungselement g? hindurch, so daß das
;ib;:rebeugte Strahlenbündel auf die lichtempfindliche
Oberfläche des lichtelektrischen Wandlers Q2 fokussiert
wird, während das Strahlenbündel 0. Ordnung durch das Beugungselement g2 hindurch zu dem Okular gelangt. In
einer dritten Anordnung ist ein Beugungselement gi mit
Reflexionscharakteristik auf der Austi ittsfläche 208" des Pentagonalprismas gebildet, während der Wandler
Qi in der Nähe zur vorderen oberen Fläche 208111
angeordnet ist.
Bei der vierten Anordnung ist ein Beugungselement gi mit Reflexionscharakteristik auf der Bodenfläche des
Pentagonalprismas vorgesehen, der lichtelektrische Wandler Q* ist ai'f eine andere Stelle als die effektiv
reflektierende Oberfläche der vorderen reflektierenden Fläche 208' gerichtet. Die fünfte Anordnung weist ein
Beugungselement g$ mit Reflexionscharakteristik auf
dei ebenen Fläche einer Kondensorlinse 207 auf. Der zugeordnete lichtelektrische Wandler Qs ist neben dem
oberen Teil der Kondensorlinse 207 angeordnet. In der sechsten Anordnung ist ein Beugungselement gb mit
Reflexionscharakteristik auf der reflektierenden Oberfläche des Spiegels 203 vorgesehen, und der lichtelektrische
Wandler Qt, ist an der Stelle angeordnet, durch welche das Strahlenbündel für die fotografische
Aufnahme und für den Sucher hindurchgeht. Die siebte Anordnung enthält ein Beugungselement gi mit Reflexionscharakteristik
auf der Oberfläche eines durchsichtigen Festkörpers 210, welcher senkrecht zur optischen
Achse des Fotoobjektivs 200 angeordnet ist. Der lichtelektrische Wandler Q ist außerhalb des Strahlengangs
für die fotografische Aufnahme angeordnet. Die achte Anordnung entspricht der fünften, wobei jedoch
der lichtelektrische Wandler Qi am F.nde der Kondensorlinse
207 angeordnet ist. Das abgebeugte Strahlenbündel breitet sich in der Kondensorlinse durch
Toliilreflexion aus und tritt in den lichtelektrischen
Wandler ein.
Im folgenden wird die Anwendung auf eine mit Markierung versehene Scharfeinstellungseinrichtung
beschrieben.
In F i g. 25 bezeichnet 212 ein mit einer Markierung
versehenes Fenster, während /ein Beugungselement ist, das auf der ebenen Fläche einer Kondensorlinse 215
vorgesehen ist. R ist ein lichtelektrischer Wandler, welcher derart vorgesehen ist, daß et auf das seitliche
Knde der Kondensorlinsc 215 gerichtet ist. 216 ist ein
Objektiv, 217 ein halbdurchlässig Spiegel und 218 ein Okular. Das vom Objekt koiiimcncii' Strahlenbündel
trill durch das Fenster 212 und wild ;in einem Spiegel
213 reflektiert. Anschließend tritt es durch eine Linse
214 und gelangt zu der Kondensorlinse 215. Da! Strahlenbündel wird von dem Beugungselement
abgebeugt. Hierdurch wird erreicht, daß das abgebeugts
abgebeugt. Hierdurch wird erreicht, daß das abgebeugts
> Bündel der 1. Ordnung auf den lichtelektrischer
Wandler R gerichtet ist, während das abgebeugte Bündel 0. Ordnung durch die Kondensorlinse 21i
hindurchgeht. Das von dem Beugungselement / der 1 Ordnung abgebeugte Strahlenbündel wird entweder ir
ic der Kondensorlinse total reflektiert und zu derr
lichtelektrischen Wandler geleitet oder auf der lichtelektrischen Wandler direkt durch das Beugungselement
/ abgebildet oder zu dem lichtelektrischer Wandler entlang des Beugungselements /geleitet.
Das abgebeugte Strahlenbündel 0. Ordnung, welches durch die Kondensorlinse 215 hindurchgegangen ist
wird an dem halbdurchlässigen Spiegel 217 mit dem Strahlenbündel kombiniert, welches durch das Objektiv
216 hindurchgetreten ist, und erreicht das Okular 218.
?(i Die F i g. 26 und 27 zeigen Belichtungsmesseroptiken
für Kino- oder Fernsehkameras. In den Zeichnungen sind 120 ein Zoom-Objektivteil, 121 ein Relaisobjektiv,
222 ein Strahlenteiler, 223 eine Blende und 224 die Bildebene. 225 bezeichnet ferner das Objektiv eines
2~> Suchers, 226 einen Spiegel, 227 eine Feldlinse, 228 einen
Erektor, d. h. eine Bildumkehroptik, 229 eine Kondensorlinse und 230 ein Okular.
In der ersten Anordnung ist das Beugungselement U
auf der Oberfläche des halbdurchlässigen Spiegels in
in dem Strahlenteiler 222 angeordnet. Hierdurch wird
erreicht, daß das in 1. Ordnung von der Beugungsgitterstruktur abgebeugte Strahlenbündel entweder auf dem
lichtelektrischen Wandler Si fokussiert wird oder daß es
auf der Oberfläche 222' reflektiert und zu dem
j-j lichtelektrischen Wandler S2 geleitet wird. Im übrigen
wird ein Beugungselement mit Durchlaßcharakteristik gebildet, wobei das abgebeugte Strahlenbündel an der
Oberfläche 222' reflektiert und zu dem lichtelektrischen Wandler Sj geleitet wird. Hierbei wird das mit 0.
au Ordnung abgebeugte Strahlenbündel von dem halbdurchlässigen Spiegel des Strahlenteilers 222 in zwei
Strahlenbündel aufgeteilt, von denen das eine auf die Bildebene und das andere auf das Suchersystem
gerichtet ist. In der zweiten Anordnung ist das
<r> Beugungselement J2 auf einem durchsichtigen festen
Körper 231 angebracht, der senkrecht zur optischen Achse des Suchersystems angeordnet ist. Das von dem
Beugungselement abgebeugte Strahlenbündel fällt auf die lichtelektrischen Wandler St, S5 oder St,. Bei der
id dritten in F i g. 27 dargestellten Anordnung ist ein
Beugungselement J1 der Reflexionsbauart auf der
Oberfläche des Spiegels 226 gebildet. Hierdurch wird erreicht, daß das Beugungselement unter keinen
Umständen einen negativen Einfluß auf das Bildfeld des
v> Suchers ausübt. In der vierten Anordnung ist ein
durchsichtiger fester Körper 232 senkrecht zur optischen Achse zwischen der Relaislinse 221 und der
Abbildungsebene 224 angeordnet. Auf der Oberfläche des durchsichtigen festen Körpers 232 ist ein Beugungs-
Mi element ausgebildet. Das in erster Ordnung abgebeugte
Strahlenbündel, welches in den lichtelektrischen Wandler Sh eintritt, wird in dem durchsichtigen Festkörper
232 durch Totalreflexion oder längs des Beugungsclemenis
übertragen. Die in die lichtelektrischen Elemente
hr, Sv und Sm eintretenden Strahlenbündel werden direkt
von dem Beugungselement auf diese fokussiert.
Eine Steuereinrichtung 234 bewirkt eine Einstellung der Blende 223 aufgrund der Ausgangsstufe des
lichtelektrischer! Wandlers Sg (oder S9 oder Sm).
Hierdurch gelingt die Erzeugung eines ordnungsgemäßen Bildes auf dem Aufzeichnungssystem, welches
beispielsweise ein Film oder eine Aufnahmeröhre sein kann.
F i g. 28 zeigt eine weitere Ausführungsform, welche es ermöglicht, eine Belichtungsmessung in dem mittleren Bereich und in einem nahe dem Rand der
Abbildungsebene gelegenen Bereich mit Hilfe einer Anordnung durchzuführen, welche aus einer Kombina- ι ο
tion eines Lichtleiters und einem Beugungselement besteht Das Belichtungsmeßelement 235 enthält eine
ebene Glasplatte, die auf einer Oberfläche mit einem Beugungselement versehen ist Das Beugungselement
ist in zwei Bereiche unterteilt, nämlich den mittleren Bereich 236 und den Bereich 237 in der Nähe des
Randes. Mit den Bezugszeichen 238, 240 und 240' sind optische Faserbündel bezeichnet, welche an den
Endflächen des Elements 235 befestigt sind. Das Strahlenbündel, welches in dem Bereich 236 eintritt und
in dem Element übertragen wird, indem es einer Totalreflexion unterliegt, erreicht das optische Faserbündel 240 oder 240'. An den anderen Enden jedes
optischen Faserbündels ist eine Fotozelle 239 bzw. 242 angebracht Zwischen den Endflächen jeder optischen
Faser und der entsprechenden Fotozelle ist ein Verschluß 241 bzw. 241' derart angebracht daß eine
Umschaltung zwischen einer Belichtungsmessung im Mittelbereich und einer Belichtungsmessung im Randbereich durchgeführt werden kann. Das in den Bereich
236 bzw. in den Bereich 237 eintretende Strahlenbündel erreicht bei dieser Anordnung die Fotozelle 239 bzw.
242, so daß es möglich ist, die Belichtungsmessung in jedem der Bereiche durchzuführen.
Es ist auch möglich, eine derartige Anordnung zu treffen, daß der Ausgang der Fotozelle zum Zwecke
einer Belichtungsmessung zu der elektronischen Schaltung mittels eines Schalters geleitet wird, ohne daß
hierbei ein Verschluß vorgesehen ist.
Das Beugungselement weist ein Gitter mit Phasenstruktur auf, das holografisch hergestellt wird. Es ist
jedoch auch möglich, als Beugungselement ein Hologramm oder ein richtungsselektives Beugungselement
zu verwenden. Hierbei kann der lichtelektrische Wandler entsprechend der Struktur des Beugungselements oder des Lichtleiterteils, welches zwischen dem
Beugungselement und dem lichtelektrischen Wandler vorgesehen ist, an jeder geeigneten Lage in dem
optischen Instrument angebracht sein.
Als Strahlenübertrager oder Lichtleiter können in der oben dargestellten Weise Faseroptiken neben einer
Strahlensammlerplatte verwendet werden.
Bei Verwendung eines Hologramms als Beugungselement kann nicht nur eine bessere Beugungswirksamkeit
erzielt werden, sondern es ist auch erheblich einfacher möglich, die erwünschte Beugungsart oder -charakteristik zu erhalten. Ferner gelingt es, eine gleichmäßige
Qualität zu erzeugen, so daß die Herstellung kompakter Belichtungsmesser möglich ist.
Claims (1)
1. Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen System, mit
einem Strahlenteiler im Wege des Strahlenbündels zur Abspaltung mindestens eines Teillichtstrahls von
dem Strahlenbündel, einem photoelektrischen Wandler zum Empfang des Teillichtstrahls und
einem zwischen Strahlenteiler und photoelektrischem Wandler angeordneten, den Teillichtstrahl in
seinem Inneren total reflektierenden und eine bauliche Einheit mit dem Strahlenteiler bildenden
Lichtleiter, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler ein Beugungselement (135, 136;
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12419672A JPS5625652B2 (de) | 1972-12-11 | 1972-12-11 | |
JP48134782A JPS5833534B2 (ja) | 1973-11-29 | 1973-11-29 | 光分割器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2361626A1 DE2361626A1 (de) | 1974-06-12 |
DE2361626B2 true DE2361626B2 (de) | 1978-05-24 |
DE2361626C3 DE2361626C3 (de) | 1979-01-25 |
Family
ID=26460919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2361626A Expired DE2361626C3 (de) | 1972-12-11 | 1973-12-11 | Anordnung zur Messung der Intensität eines Strahlenbündels in einem optischen System |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4215924A (de) |
DE (1) | DE2361626C3 (de) |
GB (1) | GB1461084A (de) |
Families Citing this family (21)
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