DE2357593A1 - Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem transmissionsbereich - Google Patents

Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem transmissionsbereich

Info

Publication number
DE2357593A1
DE2357593A1 DE2357593A DE2357593A DE2357593A1 DE 2357593 A1 DE2357593 A1 DE 2357593A1 DE 2357593 A DE2357593 A DE 2357593A DE 2357593 A DE2357593 A DE 2357593A DE 2357593 A1 DE2357593 A1 DE 2357593A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layers
interference
filter according
layer
refractive indices
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2357593A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2357593C3 (de
DE2357593B2 (de
Inventor
Alfred Dr Thelen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OC Oerlikon Balzers AG
Original Assignee
Balzers AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Balzers AG filed Critical Balzers AG
Publication of DE2357593A1 publication Critical patent/DE2357593A1/de
Publication of DE2357593B2 publication Critical patent/DE2357593B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2357593C3 publication Critical patent/DE2357593C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/285Interference filters comprising deposited thin solid films
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K2323/00Functional layers of liquid crystal optical display excluding electroactive liquid crystal layer characterised by chemical composition
    • C09K2323/03Viewing layer characterised by chemical composition
    • C09K2323/031Polarizer or dye
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K2323/00Functional layers of liquid crystal optical display excluding electroactive liquid crystal layer characterised by chemical composition
    • C09K2323/03Viewing layer characterised by chemical composition
    • C09K2323/033Silicon compound, e.g. glass or organosilicon

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

BALZERS HOCHVAKUUM OMBH, Reinrich-Hertz-Str.6, D 6 Prankfurt/M 90
Interfeifezvle-lsehichtfilter" mit breitbandigern Transmissionsbereich.
Die .vorliegende Erfindung betrifft ejin Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem Ti^ansmissionsbereich, bei .welchem die Sperrbänder höherer Ordnung teilweise-unterdrückt sind.
Die. Naherungstheorien von Epstein-und Thelen betreffend die Konstruktion von Filtern mit unterdrückten Sperrbändern.bzw erweiterten TrarismisGionobaiicicrn sind b.Gkann.t; siehe· z.B. , As Thelen, J. Opt. Soc. Am. 56, 1553 '1966). -
A0982A/0718
BADORtGINAL
Epstein hat gezeigt, dass unter bestimmten Annahmen nichtab sorbierende periodische Vielschichtsysteme für jene Wellenlängenbereiche ein Sperrband besitzen, für_welche gilt
(1)
wobei ψ~ (Q7t/A)nci ein Mass für die Dicke jeder Einsel schicht des Systems (die sogenannte Phasendicke) darstellt.
ψ bedeutet die Summe der Phasendicksn aller Schichten innerhalb einer Periode. Ferner bedeutet t die Transmission der einzelnen Periode, wobei unter Periode im Sinne dieser Beschreibung das Teilpaket von Schichten verstanden wird, v/elches sich innerhalb des Gesamtsystems mehrmals identisch wiederholt. . -·'_-.-"
Die genannte Bedingung (1) ist, wie ersichtlich, erfüllt, wenn
51 ψ :==
mit m = 1, 2, ^ usv/., ausgenommen der Fall t = 1.
Die erwähnte Theorie wurde von Epstein und später von Thelcn bei der Konstruktion verschiedener Filter mit erweitertem Trrr: ms si er; "band angewendet.
409824/0718
In seiner Abteilung der Formel (1) machte Epstein die "Annehme, dass mehrfache Reflexionen zwischen·· den Grenzflächen der einzelnen Schichten <äes yielschieiitsystenis vernachlässigt'werden könnten. Dies ist, wie bekannt, .nurannaherungswoise der Fall und deshalb konnten die nach diesem bisherigen Stand der Technik konstruiörten Filter fur manche Aufgabenstellungen keine befriedigenden lösungen bieten.
Für die optische Technik von besonderem interesse sind Filter, bei denen zur Erzielung eines breitbandigen Transmissionsbepeiehes mehrere einander benachbarte Sperrbänder: unterdrückt sind. Naherungslösun^en hiefür nach der erwähnten Theorie von Epstein sind bisher nur für Filter entwickelt worden, bei denen höchstens drei benachbarte Sperrbänder unterdrückt sind. Für Filter mit noch grösserem Transmissionsbereich erwies sieh die bekannte Theorie als nicht anwendbar.
Die vorliegende Erfindung hat sich zur Aufgabe gestellt, ein derartiges Breitbandfilter anzugeben. Das erfindungsgemässe Interfepenzvielschichtfilter mit breitbandigem Transmissionsbereieh, bei welchem die Sperrbänder höherer Ordnung teilweise unterdrückt sind, ist dadurch gekennzeichnet, dass es durch
eins periodische Sehlchtanordnuns der Struktur ABCDDCBA gebildet ist, wobei A, B, G, D je eine Schicht von λ/Λ optiseiic-r
BAD
2357533
Dicke für·· die vorgegebene Konstruktionsteilen! äng;e bedeutet und die voneinander verschiedenen BrcchungGindlzes der genannten Schichten folgende Bedingungen erfüllen:
x = nK / n_, und
nc
sov.'ie
Die angegebene Gleichung lässt zwei Lösungen zu, nämlich
y '_ y? - Ti + ι _ χ -, ι
y2 - χ x"
Bei der Konstruktion eines erfindungsgeiriässen Filters kann man die BreehunKsindlzes nr und n_ und damit χ = ψ~ frei v.'ählen.
BAD ORKSlMAL
Daraus kann man ein y (y. oder yo) d.h. das Verhältnis r> zu n„ ermitteln.
Aus den beiden angegebenen Boßtimmungssleichungen.können .dann die Werte n_, und nn wie folgt berechnet .werden. '
11B11C
Wie eine nähere Untersuchung gezeigt hat,"liegt erfindungcgemäss ein Filter vor, bei welchem fünf benachbarte Sperrbänder unterdrückt sind. ' ' '
Für die Beschreibung der nachfolgenden Beispiele wird die fachübliche abgekürzte Schreibweise zur Darstellung von Schicht strukturen verwendet. Dabei bedeutet die'erste Zahl (wenn angegeben) den Brechungsindex des Mediums auf der einen Seite des Schichtsystems; 1.50 also beispielsweise ein Glas mit dem Brechungsindex 1,50· Die Bezeichnungen A, B, C, D.bedeuten verschiedene Schichten mit den Brechwerten n., n_, n^ bzw. nr.
Die Dicke dieser Schichten ist- festzulegen; im Rahmen, dieser
409824/0718
- ir -
Beschreibung sind damit stets.Schichten von \/k optischer Schichtdicke gemeint, wobei λ die Bezug-siiellenlänge bedexitet, für welche das Filter konstruiert wird. Die optische Schichtdicke ist bekanntlich durch das Produkt aus Brechungsindex mal geometrischer Dicke definiert'. Ein Klaminerausärnck, (z.B. ABCD ) bedeutet eine Schichtenfolge mit den angegebenen Schichten, wobei ein etwaiger hochgestellter Index an-
gibt, wie oft die in der Klammer angegebene Schichtenfolge sich wiederholt. Zu beachten ist, dass bei einer solchen Wiederholung gleichartige Schichten aneinanderstossen können, z.3. zwei Α-Schichten, die dann zusammen als eine einzige Schicht der Dicke 2Λ aufgefasst werden könnten. Die bei einem solchen Pormelausdruck zuletzt angegebene Zahl bedeutet den Brechungsindex des angrenzenden Mediums auf der anderen Seite des Schichtsystems.; 1.0 bedeutet also, dass das Schichtsystem an Vakuum oder - für praktische Zv,Tecke hinreichend - an Luft angrenzt.
Nachfolgend sollen nun einige Ausführungsbeispiele der "Erfindung näher beschrieben werden.
Die Figur 1 zeigt als erstes Beispiel die Transmissionskurve «dnes Filters mit einem Transniissionsbereich von ca. 0,4 bis 2,3 Mn und mit einem anschliessendem Sperrband, das bis ctv:a J· t.-.V\ *
BAD ORKBiNAL
409824/0718
reicht. Dieses Sehlehtsystem weist; die _ Folgende periodische Struktur auf * *.
(A B C ß D CB-K )8 1,0
mit dien Brechzahlen
ne = 2,0%
und ist für eine Wellenlänge von 65Q pm konstruiert,
Ein zweites Beispiel^das in Figur 2 dargestellt ist und das für Anwendungeri im. ultraviolett&m, sichtbaren'und nahen Infrarot-Spektralbereich gedacht ist,, besitzt die Struktur
f IBSBBCBlf
mit den Breehv;erten
ΒΛ = 2.θΒ
und einer Konstrulctionswc-llenlänge von 500 pn, u'ie Öle Figur 2 zeigte reicht dor- Transinissionsbcreieh dieses Filters von etwa 0,3 um öis fast 1,7 /um. ..
Das dritte Beispiel entsprechend der Figur 3 betrifft ein InfrarOt-TransmissionsTiltcF mit einem fransmissionsbereich von
2 bis 9f""j an welchen sich ein breiter bis 1,6 /am reichender Sperrboreich anschliesSt* Dieses Filter besitzt den Aufbau
(ABC D DCBA)4 1,0
und ist mit
nA = 1.80
n„- = 3,28
für eine Konstruktioriswellenlänge von 5 pn ausgelegt.
Im allgemsincn ist zu empfehlen, die periodische Struktur innerhalb des Sohichtsystenfs v/enigstfcns dreimal zu v/iederholen.
n kommen die ans ich bekannten optiech-in hicihtv/efrfcs-to-i'e, Öle im int-c-ressl&rendsn Spektraloctq! eh
BAD 0RK5INÄL
eine hinreichende Transmission aufweisen, in Fräse; vor allem die durch Aufdampfen oder Kathodenzerstäubung leicht herstellbaren Schichten aus Siliciumdioxid (Quarz) Aluminiumtrioxid (AIgO5),Zirkoncxid (ZrO3) und Titandioxid (TiO2). Pur das sichtbare Spektralgebiet und das anschliessende Infrarot (Beispiele 1 und 2) können MgFp, ThP7,, La^O verwendet· werden".
Für Filter, deren Transmission weiter in das Infrarot reichen soll, kann man als, .Schichtmaterialien Siliciutnmonoxid (SiO) Zinksulfid (ZnS). Silicium (Si) und Germanium (Ge) benutzen. Die Technik der Herstellung der Schichten, vor allem durch Aufdampfen und Kathodenzerstäubung, ist bekannt und braucht hier nicht näher beschrieben zu werden. ■
Für ein grundsätzliches theoretisches Verständnis der Erfindung werde im folgenden eine vom Erfinder aufgestellte Theorie -näher , erläutert. ·
Hiezu bildet man (nach Epstein) den Begriff des äquivalenten Brechungsindex N einer symmetrischen Kombination nicht absor-
bierender Schichten. Dieser äquivalente Brechungsindex ist bekanntlich gegeben durch die Formel
N Z= ' M /M ^l
409824/0718
wobei H21 und M, ρ die Elemente der Matrix der Schichtkombination darstellen; hiezu siehe: Principles of.Optics ν. Max Born und Emil Wolf, New York 1964, S. 51 u.f,
Für ein Schichtsystem, das aus lauter optisch gleichdicken Schichten besteht, ist die zugehörige Matrix durch folgende Polynome gegeben: '
Für ungerades P
Id = JV ι J f ^
und für gerade P
12 = j(°i Äinc0.£os y? ■+- CL,sin y? c<D f-h -t Ο.μ£ ι η ~y> )
<f W^f -t- t>/my u?y+ f bsio
v/obei P die Zahl der optisch gleichdicken Schichten der Kombination bedeutet und die Grossen a und b allein Funktionen der Brechungsindizes sind; j = ~\ - 1.
\7enn man diese Ausdrücke in die obige Gleichung \3_) ojr;cet:%t und die Sinusfuktionen oliminiert, erhält man für den äquiva-
t ν ,, 409824/0718
BAD ORIGINAL
23 St S 9-3
lenfcea Breehuimsiride^.ϊί Ausdrücke in der Forms Für itiigerades
OoS φ + Aeös V """ψ'+ * + A v Λ/
-K
für gerades μ* :
Α., cos " ψ+ A^cös ip + *.** + A
-
Mit der Abkürzung G ^ (Α,/Β^) j/2 ergibt sieh für ungerades
53 2 "
bzvi» für
BAD ORKSSNAL
Es ist eine Erkenntnis vorliegender Erfindung, di^ss die Stellen, für welche die Kl axme raus drücke (cos ψ ~^c.)
\>ym , (cos "Ψ - f3- ) gleich Null werden, also für cos y? -OCp
bzw, cos jT 55Pc d^e Kanten der SperrbMmier düs Filters be
c
stimmen und dass man Sperrbänder beseitigen kann, wenn es gelingt, die Brechimgßindizes der Schichten so zu wählen, dass in der angegebenen Formel ein oder mehrere Klarnmerauüdrücke der Form
sich gegen die entsprechenden Ausdrücke
kürzen lassen; wenn dies für mehrere aiifeinanderfolgende Klammer^ audrücke gelingt, versehwinden ebensoviel© nepencinainderliegende Sperrbänder, Kan kann daher Filter in? Prinzip koristruicren, denen mehrere benachbarte SperrOänder imter<3rüolck sind.
Die Tiieorie ist aber leider noch nicht soweit entwickelt dass man daraus ableiten konnte, wl$ die Brechungüin
4098247 0718
konkreten Falle, zu wählen sind, um "beliebige Sperruänder zu beseitigen. Sie kann aber dazu dienen, clie Wirkungsweise cter erfindungsgeniäss vorgeschlagenen Lösung verständlich zu machen. Wenn man die erfindungsgeniässe üchichtanordnung betrachtet, und geraäss Obensteilendem den äquivalenten Brechungsindex N berechnet und die entsprechenden OC^ \>zv../3<j dem cos2" CP gleichsetzt, findet man die ansogebene Theorie bestätigt.
409824/0718
BAD

Claims (8)

  1. P A T E N T A N S P R U E C H E
    InterferenzvleLschichtfilter mit breitbandigem Transmissionsbereieh, bei welchem die Sperrbänder höherer Ordnung teilweise unterdrückt sind, dadurch gekennzeichn et, dass das Filter durch eine periodische Schichtanordnung der Struktur ABCDDCBA gebildet ist, wobei A, B, C, D je eine Schicht von λ/4 optischer Dicke für die vorgegebene Konstruktionswellenlänge bedeutet und'die voneinander verschiedenen Brechungsindizes der genannten Schichten folgende Bedingungen erfüllen:
    = 0
    χ = nA / nß und
    sowie
    nD = nB
    - n^ τιη ·
  2. 2. Interferenzvielschichtfilter nach Patentanspruch 1, d a ^Üurch gekennzeichnet, dass die Schicht-
    4098 24/071Ö
    anordnung ABCHDCBA im Schichtsyistem" wenigstens dreimal wiederholt ist.
  3. 3. Interf erenzvJeLschichtf ilter nach Patentanspruch 1, ge ke η η ζ ei c h η e t durch die folgernden Werkte der Brechungsindizes der Schichten; .... ; ./·.:..- -
    nA = 1.46
    11B
    = 1.68
    n_ ^ 2.04 nD'« 2.35
  4. 4," Interferenzvielschichtfilter nach Patentanspruch 1, ge kennzeichnet durch die folgenden Werte der Brecnungsindizes der Schichten:
    nA= 1.38
    nB =.1.55 '-"■■- ■ ■-■ ·-.
    nc » I.83
  5. 5. InterferenzvMsehichtfilter nach Patentanspruch 1, ge* kennzei ohne t durch die f olgende.n Werte der Brechungsindizes der Schichten:
    nA = I.80 nB · 2.31
    •nD = 4.20
  6. 6. Interferenzvielschichtfilter nach Patentanspruch 1, d a durch ge kennzeichne t> dass
    die Ä-Schlehten aus die B-Schichten aus die CrSchichten aus die D-Schichten aus
    bestehen.
  7. 7. Interferenzvielsehichtfilter nach Patentanspruch, da durch, gekennzeichnet, dass
    die Ä-Sehlchten aus MgF_, die B-Sehlchten aus ThP1,, die G-Schichten aus
    p die D-Schichten aus
    bestehen.
  8. 8. Interferenzvielschlchtfilter nach Patentanspruch; dadurch gekennzeichnet, dass
    die A-Sehichten aus SiO, die B-Schichten aus ZnS,
    die C-Schichten aus Si, ·
    die D-Schichten aus Ge
    bestehen. ■ ■ ·
    409824/0718
    PR 7215 d
DE19732357593 1972-12-08 1973-11-19 Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem transmissionsbereich Expired DE2357593C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH1794672A CH564785A5 (de) 1972-12-08 1972-12-08

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2357593A1 true DE2357593A1 (de) 1974-06-12
DE2357593B2 DE2357593B2 (de) 1976-09-09
DE2357593C3 DE2357593C3 (de) 1977-04-28

Family

ID=4429286

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19732357593 Expired DE2357593C3 (de) 1972-12-08 1973-11-19 Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem transmissionsbereich

Country Status (9)

Country Link
US (1) US3914023A (de)
JP (1) JPS5438903B2 (de)
AT (1) AT329298B (de)
CH (1) CH564785A5 (de)
DE (1) DE2357593C3 (de)
FR (1) FR2209943B1 (de)
GB (1) GB1406970A (de)
IT (1) IT1002258B (de)
NL (1) NL151517B (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5513039A (en) * 1993-05-26 1996-04-30 Litton Systems, Inc. Ultraviolet resistive coated mirror and method of fabrication
DE4444786A1 (de) * 1994-12-15 1996-06-20 Fraunhofer Ges Forschung Interferenz-Bandpaßfilter

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS523440A (en) * 1975-06-26 1977-01-11 Toshiba Corp Stripe filter
DE2728127A1 (de) * 1976-06-23 1978-01-05 Nippon Kogaku Kk Antireflexbelag fuer ein kunststoffsubstrat
JPS54126540A (en) * 1978-03-25 1979-10-01 Ricoh Co Ltd Corona discharger
JPS552446A (en) * 1978-06-21 1980-01-09 Minoru Watanabe Corona discharge electrode for generating air ion
JPS5760353A (en) * 1980-09-26 1982-04-12 Konishiroku Photo Ind Co Ltd Electric charger
SU1125588A1 (ru) * 1982-01-27 1984-11-23 Киевское Научно-Производственное Объединение "Аналитприбор" Интерференционный отрезающий фильтр
DE3525892C1 (de) * 1985-07-19 1986-10-02 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Reflexionsvermindernder Belag fuer ein optisches Element aus organischem Material
JPS63113507A (ja) * 1986-10-31 1988-05-18 Hitachi Ltd 光導波路およびその製造法
US5245474A (en) * 1988-03-22 1993-09-14 Compagnie Generale D'electricite Electromagnetic filter device
US5764416A (en) * 1988-04-19 1998-06-09 Litton Systems, Inc. Fault tolerant antireflective coatings
DE3902144A1 (de) * 1989-01-25 1990-08-02 Heraeus Gmbh W C Deuterium-lampe fuer spektralanalyse-vorrichtungen
US5144498A (en) * 1990-02-14 1992-09-01 Hewlett-Packard Company Variable wavelength light filter and sensor system
US5194989A (en) * 1990-05-07 1993-03-16 Mcdonnell Douglas Corporation Dielectric combiner including first and second dielectric materials having indices of refraction greater than 2.0
US5400179A (en) * 1992-02-18 1995-03-21 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Optical multilayer thin film and beam splitter
US5751466A (en) * 1996-01-11 1998-05-12 University Of Alabama At Huntsville Photonic bandgap apparatus and method for delaying photonic signals
US6262830B1 (en) 1997-09-16 2001-07-17 Michael Scalora Transparent metallo-dielectric photonic band gap structure
US5907427A (en) 1997-10-24 1999-05-25 Time Domain Corporation Photonic band gap device and method using a periodicity defect region to increase photonic signal delay
US6107564A (en) * 1997-11-18 2000-08-22 Deposition Sciences, Inc. Solar cell cover and coating
US6028693A (en) * 1998-01-14 2000-02-22 University Of Alabama In Huntsville Microresonator and associated method for producing and controlling photonic signals with a photonic bandgap delay apparatus
US6304366B1 (en) 1998-04-02 2001-10-16 Michael Scalora Photonic signal frequency conversion using a photonic band gap structure
US6744552B2 (en) * 1998-04-02 2004-06-01 Michael Scalora Photonic signal frequency up and down-conversion using a photonic band gap structure
US6396617B1 (en) 1999-05-17 2002-05-28 Michael Scalora Photonic band gap device and method using a periodicity defect region doped with a gain medium to increase photonic signal delay
AU7734900A (en) 1999-09-30 2001-04-30 Mark J. Bloemer Efficient non-linear phase shifting using a photonic band gap structure
US6414780B1 (en) 1999-12-23 2002-07-02 D'aguanno Giuseppe Photonic signal reflectivity and transmissivity control using a photonic band gap structure
US6339493B1 (en) 1999-12-23 2002-01-15 Michael Scalora Apparatus and method for controlling optics propagation based on a transparent metal stack
US20020154387A1 (en) * 2001-04-20 2002-10-24 Kenji Mori Gain equalizer, collimator with gain equalizer and method of manufacturing gain equalizer
JP2003015175A (ja) 2001-04-27 2003-01-15 Mitsubishi Electric Corp 固体光源装置
US6611378B1 (en) 2001-12-20 2003-08-26 Semrock, Inc. Thin-film interference filter with quarter-wavelength unit sub-layers arranged in a generalized pattern
GB2396436B (en) * 2002-12-19 2006-06-28 Thales Plc An optical filter
FR2857885B1 (fr) * 2003-07-23 2006-12-22 Saint Gobain Procede de preparation d'un revetement photocatalytique integre dans le traitement thermique d'un vitrage
JP2005302275A (ja) * 2004-03-18 2005-10-27 Sharp Corp 光情報記録媒体、記録再生方法、ならびに記録再生装置
CN102323630B (zh) * 2011-08-23 2013-07-31 杭州科汀光学技术有限公司 一种宽带反热多层膜
TWI500978B (zh) * 2013-09-02 2015-09-21 Largan Precision Co Ltd 紅外線濾除元件
US10451783B2 (en) 2017-05-22 2019-10-22 Viavi Solutions Inc. Induced transmission filter having plural groups of alternating layers of dielectric material for filtering light with less than a threshold angle shift
US11009636B2 (en) 2018-03-13 2021-05-18 Viavi Solutions Inc. Sensor window to provide different opacity and transmissivity at different spectral ranges
US10948640B2 (en) * 2018-03-13 2021-03-16 Viavi Solutions Inc. Sensor window with a set of layers configured to a particular color and associated with a threshold opacity in a visible spectral range wherein the color is a color-matched to a surface adjacent to the sensor window

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1028899A (fr) * 1949-10-28 1953-05-28 Jeaner Glaswerk Schott & Gen Filtre à interférence
US3247392A (en) * 1961-05-17 1966-04-19 Optical Coating Laboratory Inc Optical coating and assembly used as a band pass interference filter reflecting in the ultraviolet and infrared
US3423147A (en) * 1963-10-14 1969-01-21 Optical Coating Laboratory Inc Multilayer filter with wide transmittance band

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5513039A (en) * 1993-05-26 1996-04-30 Litton Systems, Inc. Ultraviolet resistive coated mirror and method of fabrication
DE4444786A1 (de) * 1994-12-15 1996-06-20 Fraunhofer Ges Forschung Interferenz-Bandpaßfilter
DE4444786C2 (de) * 1994-12-15 1998-04-30 Fraunhofer Ges Forschung Interferenz-Bandpaßfilter

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5438903B2 (de) 1979-11-24
NL151517B (nl) 1976-11-15
NL7302585A (de) 1974-06-11
DE2357593C3 (de) 1977-04-28
FR2209943A1 (de) 1974-07-05
DE2357593B2 (de) 1976-09-09
CH564785A5 (de) 1975-07-31
US3914023A (en) 1975-10-21
ATA1002673A (de) 1975-07-15
IT1002258B (it) 1976-05-20
JPS501755A (de) 1975-01-09
FR2209943B1 (de) 1977-06-10
AT329298B (de) 1976-05-10
USB421797I5 (de) 1975-01-28
GB1406970A (en) 1975-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2357593A1 (de) Interferenzvielschichtfilter mit breitbandigem transmissionsbereich
DE2341359C3 (de) Aus einer Mehrzahl von einfachen oder zusammengesetzten lambda/4-Schichten bestehender reflexionsvermindernder
DE60314706T2 (de) Drahtgitter-Polarisator
DE2052346C2 (de) Mehrschichtfilter
DE602004008515T2 (de) Mehrschichtiger reflektor mit unterdrückung von reflexionen hoher ordnung
DE2637616A1 (de) Filter fuer fotodetektoren
DE102017004828B4 (de) Optischer Filter und Verfahren zur Herstellung eines optischen Filters
EP3204802B1 (de) Richtungsselektiver interferometrischer optischer filter
DE2524461A1 (de) Mehrschichtenbelag fuer bauzwecke und verfahren zur herstellung eines derartigen belages
DE102008041869A1 (de) Brillenlinse mit farbneutraler Antireflexbeschichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE102016118362A1 (de) Antireflexionsfilm, optisches Element und augenoptische Vorrichtung
DE102014113077B4 (de) Dielektrischer Spiegel für Hochleistungs-Laserpulse
DE1913901C3 (de) Kaltlichtspiegel mit teilweise aus Silizium bestehenden Schichten, der einen Reflexionskoeffizienten von über 90% aufweist
AT409905B (de) Mehrschichtiger spiegel zur herbeiführung einer vorgegebenen gruppenverzögerungsdispersion
DE102016110192A1 (de) Omnidirektionale rote strukturelle Farbe hoher Chroma mit Halbleiterabsorberschicht
DE102010012044A1 (de) Strukturierte Siliziumschicht für ein optoelektronisches Bauelement und optoelektronisches Bauelement
DE4442045C2 (de) Interferenzfilter
EP1364433B1 (de) Dispersiver mehrschicht-spiegel
DE3102301A1 (de) &#34;interferenzspiegel mit hoher reflexion fuer mehrere spektralbaender&#34;
DE2143504C3 (de) Aus einer Mehrzahl von abwechselnd hoch- und niederbrechenden lichtdurchlässigen Schichten bestehendes, auf einem lichtdurchlässigen Träger aufgebrachtes, Innerhalb eines vorgegebenen Wellenlängenbereiches ein bestimmtes Wellenlängenband reflektierendes, die Strahlung der übrigen Teile des genannten Bereiches hindurchlassendes Interferenzfilter
DE902191C (de) Interferenzfilter mit verminderter Bandenstruktur
DE3401914A1 (de) Interferenzfilter mit einem durchlassband
WO2013127741A1 (de) Beugungsgitter und verfahren zu dessen herstellung
DE758767C (de) UEberzug aus mindestens drei Schichten von verschiedener Brechungszahl fuer einen nichtmetallischen Gegenstand zur Verminderung von dessen Oberflaechenreflexion
DE2355851C3 (de) Verfahren zur Herstellung lückenlos und ohne Überlappung aneinanderstossender Überzüge

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee