DE2349463B2 - Halbleiter-Druckfühler - Google Patents
Halbleiter-DruckfühlerInfo
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Description
Meßfaktor GjF =
J O/D
dL/L0
In dieser Gleichung ist A0 der Anfangswiderstand,
L0 die Anfangslänge, di? die Änderung des elektrisehen
Widerstands und dL die Änderung der Länge.
Nachfolgend wird für verschiedene Halbleitermaterialien der Meßfaktor GF und die zugeordnete
kristallographische Orientierung angegeben. Der Meßfaktor ist ein Proportionalitätsfaktor.
Material | Ladungs | KrisUll- | Meß- |
trägertyp | oiicuiierung | iaktor | |
Si | P | 111 | 175 |
as Si | N | 111 | -5 |
Si | N | 100 | -133 |
Si | P | 100 | 5 |
Si | P | 110 | 120 |
Si | N | 110 | -55 |
3° Ge | N | 111 | -157 |
Ge | P | 111 | 102 |
InSb | P | 100 | -45 |
InSb | N | 100 | -74 |
Die Erfindung betrifft einen Halbleiter-Druckfühler, der aus einem eine bestimmte kristallographische
Orientierung aufweisenden Halbleitermaterial «it einer zentralen öffnung und einer darauf angebrachten
P+-leitenden ersten epitaxialen Schicht sowie einer zweiten darüberliegenden epitaxialen
Schicht eines ersten Leitfähigkeitstyps besteht, wobei in der zweiten epitaxialen Schicht druckempfindliche
Piezowiderstandselemente ausgebildet sind.
Halbleiter-Druckfühler aus monokristallinem Silicium sind bekannt und dienen der Umwandlung
einer mechanischen Verbiegung bzw. eines mechanischen Zuges in einen elektrischen Strom, dessen Amplitude
proportional der mechanischen Änderung ist (Zeitschrift »Der Elektroniker«, Nr. 6, 1972, S. 261
bis 269). Beim Silicium-Dtuckfühler ändert sich der Widerstand in Abhängigkeit von der mechanischen
Deformation, so daß bei der Verwendung eines solchen Druckfühlers in einer Brückenschaltung die
Brückenschaltung durch die Deformation aus dem Widerstandsgleichgewicht gebracht werden kann und
eine Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der mechanischen Verformung liefert.
Ein maximaler Meßfaktor ergibt sich bei einer 111-Kristallorientierung für ein P-leitendes Silicium
mit einem Widerstand größer als l,0Ohm-cm. Es wurde ferner festgestellt, daß eine Maximalisierung
des Meßfaktors auch zu einer Maximalisierung des Temperaturkoeffizienten des Meßfaktors führt und
die Nichtlinearität der angelegten Spannung nicht minimalisiert. Diese Einflüsse auf den Meßfaktor erfordern
zur Überwindung der Nachteile verschiedene Handelsausführungen.
Es ist auch bereits bekannt (US-PS 32 70 554), druckempfindliche Piezowiderstandselemente in
einem Halbleiterblock durch diffundierte Bereiche eines zum Halbleiterblock entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps
vorzusehen und diese Piezowider-Standselemente durch eine Brückenschaltung miteinander
zu verbinden. Bei dieser Ausgestaltung werden alle vier Brückenzweige einer Verformung ausgesetzt.
Dies beeinträchtigt sowohl die Genauigkeit der Messung als auch die Empfindlichkeit der Meßbrücke.
Neben dieser Brückenschaltung ist aus der gleichen Quelle auch bereits der Aufbau eines Halbleiter-Druckfühlers
aus einer Halbleiterscheibe bekannt, die eine zentrische Ausnehmung umfaßt, so daß ein
verhältnismäßig starrer Randbereich und ein verhältnismäßig nachgiebiger Zentrumsbereich entsteht. Das
Piezowiderstandselement erstreckt sich vom Randbereich in den Zentrumsbereich. Auch bei diesem
Aufbau läßt sich keine optimale Empfindlichkeit erzielen.
Auch bei einer weiteren bekannten Ausgestaltung eines Druckfühlers ist es bekannt (US-PS 34 82 197),
zwei Halbleiter-Dehnungsmeßstreifen auf einer Membran hintereinander in radialer Anordnung zu be-
festigen und mit zwei Festwiderständen zusammen in eine Brücke zu schalten. Diese Anordnung ist sehr
aufwendig, insbesondere, wenn eine größere Stückjahi
von Druckfühlern geschaffen werden soll, die deiche charakteristische Eigenschaften zeigen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen HaJbleiter-Druckfühler zu schaffen, der ein sehr
großes Längen-Dickenverhältnis hat und derart ausgebildet ist, daß auf dem Halbleiterträger eine Brük-Itenschaltung
aus mehreren Piezowiderstandselementen möglich ist, wobei druckempfindliche und nicht
druckempfindliche Widerstandselemente vorhanden sind. Der Druckfühler soll sich durch besonders
große Wirtschaftlichkeit bei der Herstellung sowie durch Zuverlässigkeit, hohe Genauigkeit und große
Empfindlichkeit im Einsatz auszeichnen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zumindest ein druckempfindliches Piezowiderstandselement
(R 1 oder R 3) aus einem Halbleitermaterial eines zweiten Leitfähigkeitstyps in der
^weiten epitaxialen Schicht über der zentralen Öffnung der Trägerscheibe angeordnet ist, daß zumindest
ein nicht druckempfindliches Piezowiderstandselement (R2 oder R4) vom zweiten Leitfähigkeitstyp in der zweiten epitaxialen Schicht über dem
Randbereich der Halbleiterscheibe angeordnet ist und daß die Piezowiderstandselemente in einer Meßschaltung
miteinander verbunden sind.
In vorteilhafter Weise führt bei einem srlchen Halbleiter-Druckfühler in Brückenschaltung eine
Druckeinwirkung auf die Piezowiderstandselemente Rl und JR3 zu einer Änderung der Ausgangsspannung,
da sich die Widerstandswerte von R1 und R 3
identisch, jedoch verschieden von den Widerstandswerten R 2 und R 4 ändern.
Durch die erfindungsgemäße Ausgestaltung des Halbleiterdruckfühlers ist es in vorteilhafter Weise
möglich, diesen zusammen mit anderen Halbleiterelementen auf ein und derselben Halbleiterscheibe
anzubringen, wobei es besonders vorteilhaft ist, wenn der Druckfühler aus einem P-leitenden monokristallinen
Silicium aufgebaut und der Siliciumkristall
ngs der 110-Kristallebene geschnitten ist. Es kann
jtJoch auch vorteilhaft sein, für de ι Druckfühler
einen N-leitcnden Siliciumeinkristall /ι. verwenden,
der längs der 100-Krisliilleberie geschnitten ist.
Die Verwendung einer P+-leitenden Schicht in
Verbindung mit einer anisotropischen Ätzung durch KOH bei der Herstellung des Druckfühlers bietet die
Möglichkeit, zwei druckempfindliche Piezowiderstandselemente zu schaffen, die äußerst dünn sind
bezüglich ihrer Längsabmessung. Dadurch ergibt sich eine sehr hohe mechanische Verstärkung, was dazu
führt, daß der Druckfühler in seinen Abmessungen sehr klein, z. B. unter 1,3 mm, bezüglich seiner größten
Abmessung gehalten werden kann.
Die Erfindung wird an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert. Es zeigen
F i g. 1 a bis Id Schnitte durch Halbleiteranordnungen
während verschiedener Verfahrensschritte bei der Herstellung eines Silicium-Druckfühlers,
F i g. 2 einen Schnitt durch den Silicium-Druckfühler
gemäß Fig. 1 in einer um 90° gedrehten Ansicht,
F i g. 3 eine Draufsicht auf den Druckfühler,
Fig. 4 eine Brückenschaltung mit einem druckempfindlichen Element und druckunempfindlichen
Elementen.
Gemäß Fig. 1 a besteht eine monokristalline SiIiciumscheibe
10, welche längs der 110-Kristallebene geschnitten ist, aus einem Siliciumkörper 11 mit einer
Schutzschicht 13 aus Siliciumnitrid (Si3N4) auf der
einen Oberfläche 16 und einer Schicht 12 aus bordotiertem
und P-leitendem Material, welches epitaxial aufgewachsen ist, auf der anderen Oberfläche
18 des Siliciumkörpers 11.
In Fig. Ib ist ein Kalbleiteraufbau dargestellt,
In Fig. Ib ist ein Kalbleiteraufbau dargestellt,
ίο nachdem eine epitaxiale Schicht 14 auf der Oberfläche
17 der PMeitenden epitaxialen Schicht 12 aufgewachsen ist. Diese epitaxiale Schicht 14 besteht bei
einem bevorzugten Ausführungsbeispiel aus einem N--leitenden Material. Auf der Oberfläche 19 der
epitaxialen Schicht 14 ist eine Schicht 15 aus Siliciumdioxyd (SiO2) aufgebracht.
Die Darstellung gemäß Fig. Ic zeigt den Halbleiteraufbau,
nachdem eine Photoresistmaske auf der Siliriumdioxydschicht 15 in bekannter Weise und anschließend
eine Ätzung sowie eine Diffusion mit bestimmten Störstellen in die Oberfläche 19 der epitaxialen
Schicht 14 ausgeführt worden sind, um druckempfindliche Piezowiderstandselemente Al und R3
sowie druckunempfindliche Widerstandselemente R 2 und A4 zu schaffen. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispie!
erzeugt das für die Diffusion vorgesehene Material ein P-leitendes Piezowiderstandselement.
Anschließend wird auf der Siliciumnitridschicht 13
in bekannter Weise ein Photoresistmuster aufgebracht, um bestimmte Teile der Schicht 13 zu entfernen.
Darauf wird die die Widerstände Al bis R 4 umfassende
Oberfläche durch Eintauchen in Wachs mit einem Schutzüberzug versehen. Die Oberfläche 16
wird einer KOH-Ätzung unterzogen, wodurch Einschnitte mit schräg verlaufenden Seitenwänden entstehen,
die bis zur P+-leitenden Schicht 12 verlaufen. Diese schräg verlaufenden Seitenwände sind in
Fig. Id mit 24 bezeichnet. Anschließend wird die
verbleibende Siliciumnitridschicht und die Photoresistschicht entfernt. Schließlich wird mit Hilfe bekannter
Verfahren eine Metallschicht aufgebracht und teilweise durch Ätzen entfernt, um Anschlüsse
20 und 21 gemäß Fig. Id sowie 22 und 23 gemäß
F i g. 3 zu schaffen.
In F i g. 2 ist ein Schnittbild dargestellt, welches
einen Schnitt durch den Halbleiteraufbau gemäß Fig. Id nach einer Drehung um 90° zeigt. Aus diesem
Schnitt gehen die druckunempfindlichen EIemente R 2 und R 4 hervor. Ferner Kann man aus dieser
Darstellung erkennen, daß die KOH-Ätzung bei einem Material mit einer 110-Kristallorientierung
schräg verlaufende Seitenwände 24 nur in einer bestimmten Lage zur Kristallorientierung auslöst, wogegen
die übrigen Wände 25 vertikal verlaufen. Wenn ein Material mit einer 100-Kristallorientierung verwendet
worden wäre, würden die Seitenwände 25 in gleicher Weise wie die Seitenwände 24 geneigt verlaufen.
In F i g. 3 ist in einer Draufsicht der fertiggestellte Siiicium-Druckfühler zu sehen. Man erkennt, daß bei
dem bevorzugten Ausführungsbeispiel die Widerstandselemente R1, R2, R3 und R4 aneinander angrenzen
und Anschlüsse 20, 21, 22 und 23 aufweisen, die entsprechend angeordnet sind, um ein Brückennetzwerk
gemäß F i g. 4 zu schaffen.
Dieses Brückennetzwerk gemäß Fig. 4 ist an den
Anschlüssen 21 und 22 mit der Ansteuerspannung
Ve beaufschlagt und liefert an den Anschlüssen 20
und 23 die Ausgangespannung !'„. Wenn die Widerstandselemente
R 2 und R 3 keinem Druck ausgesetzt sind, ist die Ausgangsspannung Va gleich Null bei
einer entsprechenden Auswahl der Widerstandswerte. Wenn jedoch das Widerstandselement Rl
und/oder das Widerstandselement R 3 durch eine Druckeinwirkung verbogen wird, ändert sich der jeweilige
Widerstandswert, so daß die Ausgangsspannung Va von Null abweicht.
Der erfindungsgemäße Silicium-Druckfühler, wie er aus den F i g. 1 d, 2 und 3 hervorgeht, ist in seinen
Abmessungen einmalig. Die Länge der druckempfindlichen Piezowiderstandselemente R1 und R 2 beträgt
etwa 0,89 mm und weniger bei einer Gesamtdicke im Mittelbereich mit den beiden epitaxialen
Schichten 14 und 12 von etwa 1,3 · 10~2 mm. Damit ist es möglich, einen Druckfühler mit einer Gesamtabmessung
von nicht mehr als 1,25 mm zu schaffen Druckfühler mit derart geringen Abmessungen sind
mit Mitteln des bekannten Standes der Technik nicht herstellbar.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Halbleiter-Druckfühler, der aus einem eine bestimmte kristallographische Orientierung aufweisenden
Halbleitermaterial mit einer zentralen öffnung und einer darauf angebrachten P+-leitenden
ersten epitaxialen Schicht sowie einer !weiten darüberliegenden epitaxialen Schicht
eines ersten Leitfähigkeitstyps besteht, wobei in der zweiten epitaxialen Schicht druckempfindliche
Piezowiderstandselemente ausgebildet sind, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest
ein druckempfindliches Piezowiderstandselement (R 1 oder R 3) aus einem Halbleitermaterial
eines zweiten Leitfähigkeitstyps in der zweiten epjtax'alen Schicht (14) über der zentralen
öffnung (24, 25) der Trägerscheibe (11) angeordnet ist, daß zumindest ein nicht druckempfindliches
Piezowiderstandselement (R2 oder R4)
vom zweiten Leitfähigkeitstyp in der zweiten epitaxialen Schicht über dem Randbereich der Halbleiterscheibe
angeordnet ist und daß die Piezowiderstandselemente in einer Meßschaltung miteinander
verbunden sind.
2. Halbleiter-Druckfühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das druckempfindliche
Piezowiderstandselement (R 1 oder R 3) und das nicht druckempfindliche Piezowiderstandselement
(R 2 oder R 4) jeweils aus einem innerhalb der zweiten Schicht durch Diffusion gebildeten
Bereich bestehen.
3. Halbleiter-Druckfühler nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwei druckempfindliche
Piezowiderstandselemente (Rl und /?3) und zwei nicht druckemnfindliche Piezowiderstandselemente
(R 2 und R 4) elektrisch zu einer Brücke zusammengeschaltet sind und ein
Ausgangssignal liefern, wenn die Brücke durch Einwirkung eines Druckes auf die druckempfindlichen
Piezowiderstandselemente verstimmt wird.
Das physikalische Verhalten von Halbleitermaterial mit Piezowiderstandseigenschaften ist allgemein
bekannt. In diesem Zusammenhang wurde insbesondere monokristallines Silicium intensiv untersucht.
Die Fähigkeit eines bestimmten Materials, den Widerstand in Abhängigkeit von der Entwicklung
einer mechanischen Kraft zu ändern, kann durch einen Meßfaktor gekennzeichnet werden. Dieser
Meßfaktor ist mathematisch wie folgt definiert:
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