DE2338859B2 - Pruefschaltung fuer ein antiblockier- regelsystem - Google Patents
Pruefschaltung fuer ein antiblockier- regelsystemInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem, das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern
verbundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung
aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator und einer Spulenprüfschaltung,
wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblockier-Regelschaltung verbinabar ist und dieser
dem gleichmäßigen Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die Spulenprüfschaltung
mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung verbunden ist.
Antiblockier-Regelsysteme werden im Eisenbahnwesen, in Flugzeugen und in Kraftfahrzeugen verwendet,
um das Blockieren von Rädern zu verhindern. Sie weisen in der Regel einen oder mehrere Radgeschwindigkeitsgeber
auf, welche etwa durch Induktionsspulen gebildet sein können, die mit genuteten zusammen mit
den Rädern umlaufenden Trommeln zusammenarbeiten. Die von den Radgeschwindigkeitsgebern erzeugten
Impulszüge stellen Radgeschwindigkeitssignale dar, die auf den Eingang einer Antiblockier-Regelschahung
gegeben werden. Wird von der letzteren eine unzulässig starke Abnahme der Radgeschwindigkeit, d. h. eine zu
starke Verzögerung eines Rades, welche ein Blockieren nach sich ziehen könnte, festgestellt, so betätigt die
Antiblockier-Regelschaltung eine Druckentlastungseinrichtung. Diese weist oft ein elektromagnetisch
betätigtes Druckminderungsventil auf, dessen Erregerspule einerseits fest mit der ersten Klemme einer
Betriebsstromquelle verbunden ist und andererseits über die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten
Klemme der Betriebsstromquelle verbunden ist Im folgenden werden diese Klemmen auch als positive
Klemme und Erde bezeichnet. Die nachstehenden Ausführungen gelten jedoch sinngemäß auch für
Antiblockier-Regelsysteme in Fahrzeugen, bei denen die positive Klemme der Betriebsstromquelle das
Erdpotential darstellt.
Durch die bekannten Antiblockier-Regelsysteme kann das Bremsverhalten von Fahrzeugen wesentlich
verbessert werden (Verkürzung des Bremsweges, Verhindern des Schleuderns). Andererseits sind sie
sowohl im mechanischen als auch im elektronischen Teil verhältnismäßig kompliziert aufgebaut. In der US-PS
32 75 384 ist daher eine Prüfschaltung für ein Antiblokkier-Regelsystem
angegeben, welche einen Geschwindigkeitssignalgenerator aufweist. Dieser gibt Signale
mit einer Frequenz von 400 Hz auf die mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbundenen Eingänge der
Antiblockier-Regelschaltung. Sind die Induktionsspulen der Radgeschwindigkeitsgeber nicht gegen Erde kurzgeschlossen, so arbeitet die Antiblockier-Regelschal-
Hing beim Erhalten der simulierten Radgeschwindigkeitssignale
genauso, wie wenn die Räder des Fahrzeuges mit einer bestimmten konstanten Geschwindigkeit
laufen. Trennt man den Geschwindigkeitssignalgenerator von den Eingängen der Anüblokkier-Regelschaltung
ab. so arbeitet die Antiblockier-Regelschaltung genau so. wie wenn alle Räder vollständig
blockieren. Durch Beobachten der Spannung an der mit Erde verbindbaren Klemme der Erregerspule der
Druckenllaslungseinrichtung kann das richtige Arbeiten der Antiblockier-Regelschaltung festgestellt werden,
sofern das andere Ende der Erregerspule richtig mit der positiven Klemme der Betriebsstromquelle verbunden
ist.
Die bekannte Prüfschaltung erlaubt jedoch nicht festzustellen, ob die Induktionsquelle eines Radgeschwindigkeitsgebers
oder die Verbindung zu derselben unterbrochen ist. Ein derartiger Fehler führt im Betrieb
dazu, daß die Druckentlastungsvorrichtung fälschlicherweise stets betätigt wird, wodurch der Bremsweg stark
verlängert wird und ein sicherer Betrieb der Fahrzeugbremsen nicht mehr gew ährleistet ist. Ferner kann nicht
festgestellt werden, ob der Widerstand des Induktionsspulenkreises
der Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt (Erkennung
von Wackelkontakten mit hohen Übergangswiderständen oder von hochohmigen Kurzschlüssen
gegen Erde). Genauso wenig kann ermittelt werden, welcher Radgeschwindigkeitsgeber defekt ist. Schließlich
bleibt bei der Prüfung mit der bekannten Prüfschaltung offen, ob der Widerstand der Erregerspule
innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsberciches liegt und ob die Verbindungen des Erregerspulenkreises
frei von hohen Übergangswiderständen sind. Damit wird die Betriebssicherheit des Antiblockier-Regelsystem
nicht zufriedenstellend geprüft.
Durch die Erfindung soll dagegen eine P-üfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem angegeben werden,
durch welche die möglichen Fehler in einem Antiblokkier-Regelsystem
umfassend und zuverlässig erkannt sowie zur Anzeige gebracht werden.
Diese Aufgabe ist ausgehend von der oben beschriebenen Prüfschaltung dadurch gelöst, daß diese eine
Schalteinheit aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgenerator
mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbindbar ist; daß sie einen Verzögerungssignalgenerator
aufweist, dessen Ausgang mit der Schalteinheit verbunden ist und dieser Verzögerungssignale übermittlet,
durch die die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale durch die Schalteinheit freigegeben und
unterbunden wird; daß der Verzögerungssignalgenerator ferner mit Eingängen der Spulenprüfschaltung und
eines dieser zugeordneten Spulenprüfmodusumschalters verbunden ist und zusammen mit dem letzteren
über die Verzögerungssignale eine Umschaltung des Spulenprüfmodus von der Prüfung im simulierten
Betrieb unter Einbeziehung der Antiblockier-Regelschaltung auf die Prüfung des Spulenwiderstandes sowie
auf Prüfung des Durchganges des Erregerspulenkreises bewirkt; daß ein Geberprüfkreis vorgesehen ist. der mit
den Radgeschwindigkeitsgebern verbunden ist und feststellt, ob deren Widerstand innerhalb eines vorgegebenen
Widerstandsbereiches liegt; und daß ein Abfragemodusschalter vorgesehen ist. der mit der Schalteinheit
verbunden ist und das Anlegen von Radgeschw indigkeilenssignalen an die Ausgänge der Schalteinheit steuert.
Durch die erfindungsgemäße Prüfschaltung werden die möglichen Fehlerstellen eines Antiblockier-Regelsystems
einfach, umfassend und schnell geprüft und beobachtete Fehler lassen sich auch leicht lokalisieren.
Dies wird dadurch erreicht, daß die Schalteinheit zum Herstellen der bei den verschiedenen Prüfungen
(Funktionsprüfung im simulierten Antiblockier-Rcgelbetrieb,
Widerstandsprüfungen) jeweils erforderlichen Verbindungen zwischen dem Geschwindigkeitssignal
generator und dem Verzögerungssignalgenerator einerseits sowie dem Geberprüfkreis, der Antiblockier-Regelschaltung
und der Spulenprüfschaltung andererseits vorgesehen ist. Der Aufbau dieser Verbindungen wird
durch den Abfragemodusumschalter und den Spulenprüfkreismodusumschalter gesteuert.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist gemäß Anspruch 2 vorgesehen, daß der Geberprüfkreis
einen ersten Vergleichswiderstand für den oberen Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers
und einen zweiten Vergleichswiderstand für den unteren Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers aufweist:
daß der Geberprüfkreis für jeden der Radgeschwindigkeitsgeber eine erste Diskriminatorstufe für
den oberen Grenzwert und eine zweite Diskriminatorstufe für den unteren Grenzwert aufweist, bei denen ein
erster Eingang jeweils mit einem Eingangswiderstand verbunden ist. welcher zusammen mit dem zugeordneten
Radgeschwindigkeitsgeber einen Spannungsteiler bilden, und ein zweiter Eingang mit dem entsprechenden
Vergleichswiderstand verbunden ist; und daß die
so einem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Diskriminatorstufen
den Eingang eines diesem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Anzeigekreises beaufschlagen.
In der US-PS 36 28 099 ist zwar eine Schaltung
i=> beschrieben, durch welche festgestellt werden kann, ob
ein Widerstand in ein enges Widerstandsintervall fällt oder nicht. Dabei dient jedoch die Schaltung als
elektrisches Schloß und ein entsprechender Widerstand als Schlüssel, während bei der Erfindung jedem
■40 Radgeschwindigkeitsgeber eine Diskriminatorstufe für
die obere Grenze und eine für die untere Grenze des Widerstandsbereiches zugeordnet ist. Dabei ist jeweils
ein gemeinsamer Vergleichswiderstand für den oberen Grenzwert bzw. den unteren Grenzwert gemeinsam für
-i die Diskriminatorstufen gleicher Funktion vorgesehen.
Vorzugsweise sind gemäß Anspruch 5 die Vergleichswiderstände Potentiometer. Damit läßt sich eine
Prüfschaltung ohne weiteres an unterschiedliche Radgeschwindigkeitsgeber anpassen.
~>o In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist
gemäß Anspruch 9 vorgesehen, daß die Spulenprüfschaltung einen durch die vom Verzögemngssignalgenerator
gelieferten Verzögerungssignale gesteuerter Klemmschalter aufweist, über den die mit dei
υ Antiblockier-Regelschaltung verbundene Klemme dei
Erregerspule über den Referenzwiderstand für der unteren Grenzwert des Erregerspulenwiderstandes mi*
der Klemme der Betriebstromquelle verbindbar ist, mi der sie auch über die Antiblockier-Regelschahunj
r" verbindbar ist, oder mit einer Hilfsversorgungsklemmi
verbindbar ist. welche ein von der anderen Klemme de Betriebsstromquelle nur wenig verschiedenes Potentia
aufweist.
Damit kann die Spulenprüfschaltung zwischen zwe
<·'· Prüfarten »Widerstandsmessung« und »Verbindungs
prüfung« umgeschaltet werden, wobei zur Umschaltuni die periodischen Verzögerungssignale verwendet wer
den können. Die »Widerslandsmessung« erfolgt mit de
vollen Spannung der Betriebsstromquelle und erlaubt somit eine genaue Messung des Spulenwiderstandes.
Dagegen erfolgt die »Verbindungsprüfung« mit einer kleinen Spannung, so daß hohe Übergangswiderstände
an Verbindungsstellen (etwa Steckverbindungen zu r> Anhängern) erkannt werden können.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 11 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen
Spulenprüfmodusumschalter aufweist, der einen Taktgeber aufweist und in Abständen der Schalteinheit in
Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale
vom Geschwindigkeitssignalgcnerator an die Antiblockier-Regelschaltung weitergegeben
werden, so daß die Erregerspule über die Antiblockier-Regelschaltung für vorgegebene Zeitspannen nicht mit
Erde verbunden wird.
Damit wird eine Umschaltung der Prüfung des Antiblockier-Regelsystems von »Funktionsprüfung im
simulierten Antiblockier-Regeibetrieb« auf »Wider-Standsmessung« oder »Verbindungsprüfung« erhalten.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 12 vorgesehen, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern
zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit jeweils über einen Vorschaltwiderstand mit dem
Ausgang des Geschwindigkeitssignalgenerators verbunden sind und über ihnen zugeordnete steuerbare
Schalter getrennt an Erde kurzschließbar sind. Für jedes Prüfprogramm kann somit in einfacher Weise die
entsprechende Aktivierung der steuerbaren Schalter bewerkstelligt werden.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist gemäß Anspruch 13 vorgesehen, daß die steuerbaren
Schalter durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die
Schließsignale aller steuerbaren Schalter zugleich durch den Spulenprüfmodusschalter kurzschließbar sind; daß
die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß den am Ausgang des Verzögerungssignalgenerators anstehenden
Verzögerungssignalen kurzschließbar sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß
den Signalen an den ihnen zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters kurzschließbar sind.
Hierdurch wird eine besonders einfache Betätigung der steuerbaren Schalter durch die den Prüfablauf
steuernden Signale erreicht, welche vom Prüfmodusumschalter, vom Verzögerungssignalgenerator und vom
Radabfragemodusschalter auf die Schalteinheit gegeben werden.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch Ib vorgesehen, daß der
Abfragemodusschalter einen Umschalter mit einer Anzahl von Arbeitsstellung aufweist, die um eins größer
ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber, wobei jeweils in einer der Arbeitsstellungen das Schließsignal ^s
eines dieser Stellung zugeordneten steuerbaren Schalters erhalten bleibt, während die restlichen Schlicßsignale
kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten Arbeitsstellung die steuerbaren Schalter nacheinander
aktiviert werden. wi
Dabei können zu Beginn der Prüfvorganges die den verschiedenen Rädern zugeordneten Teile des Antiblockier-Rcgelsystem
automatisch nacheinander geprüft werden. Wird ein Fehler beobachtet, kann durch Drehen des Umschalters von Hand der einem nr>
bestimmten Rad zugeordnete fehlerhafte Kreis ermittelt werden.
Ferner ist gemäß Anspruch 18 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen Netzprüfkreis aufweist. Damit kann
geprüft werden, ob das Antiblockier-Regelsystem und die Prüfschaltung ausreichend mit Energie versorgt
werden.
Für die einzelnen Prüffunktionen sind jeweils Anzeigekreise vorgesehen, die gemäß Anspruch 19
Prüfklemmen aufweisen, über die sie gesondert an Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit
überprüfen zu können.
Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den übrigen Unteransprüchen angegeben.
Damit wird durch die Erfindung insgesamt eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem geschaffen,
das festzustellen erlaubt, ob ein Fehler im Antiblockier-Regelsystem vorliegt, welchem Rad der
fehlerhafte Teil zuzuordnen ist, und ob der Fehler in den Radgeschwindigkeitsgebern, der Antiblockier-Regelschaltung,
der Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung, den Verbindungen im Erregerspulenkreis oder
in der Energieversorgung zu suchen ist. Zugleich sind Prüfkreise zum Feststellen der Funktionsfähigkeit der
Prüfschaltung selbst vorgesehen.
Die erfindungsgemäße Prüfschaltung kann bei beliebigen Antiblockier-Regelsystemen verwendet werden,
die mit einer Netzleitung zu ihrer Versorgung verbunden sind und mit mindestens einem Radgeschwindigkeitsgeber
und einer Erregerspule zusammenarbeiten.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher
erläutert. In dieser zeigt
Fig. 1 ein Antiblockier-Regelsystem in Verbindung mit einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;
Fig. 2 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;
F i g. 3 das Schaltbild eines Netzprüfkreises und eines Geberprüfkreises gemäß der Erfindung;
Fig.4 das Schaltbild einer Spulenprüfschaltung und
eines Spulenprüfmodusumschalters gemäß der Erfindung;
Fig.5 das Schaltbild eines Geschwindigkeitssignalgenerators
einer Schalteinheit und eins Radabfragemodusschalters gemäß der Erfindung; und
Fig. 6 das Schaltbild eines Radabfragetaktgebers sowie eines Verzögerungsgenerators zur Verwendung
in der erfindungsgemäßen Prüfschaltung.
In F i g. 1 und 2 sind mit 10 und 12 zwei Radsätze eine?
Lastkraftwagens bezeichnet, die auf einer ersten Achse 11 bzw. einer zweiten Achse 13 angeordnet sind. Derr
ersten Radsatz 10 ist ein erster Radgesehwindigkeitsge ber 14 zugeordnet, während dem zweiten Radsatz 12 eit
zweiter Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnet ist Die Radgeschwindigkeitsgeber können induktive Gebe
sein, welche eine Induktionsspule aufweisen, mit de magnetische Feldänderungen erfaßt werden könnei
und entsprechende Radgeschwindigkeitkeitssignale er zeugt werden. Es können jedoch auch andere Radgc
schwindigkeitsgeber verwendet werden, die elcltrisch Ausgangssignale oder in solche umsetzbare Ausgangs
signale erzeugen, die sich mit der Geschwindigkeit eine Rades ändern.
Über Signalleitungcn 15 bzw. 17 sind die Radgc schwindigkeitsgeber 14 und 19 mit ihnen zugeordnete
Eingängen einer Antiblockier-Regelschaltung 16 vei bunden.
Die Bremsanlage weist einen Druckbehälter 18 fi unter Druck stehende Druckmittel (etwa Druckluft) au
Beim Betätigen eines Brcmspcdales 24 wird über cir
Leitung 25 ein Signal an eine Druckmittelsteuereinheit 23 geleitet. Diese stellt dann eine Verbindung zwischen
einer vom Druckbehälter 18 herkommenden Druckmitelleitung 20 und einer weiteren Druckmittelleitung 26
her, so daß Druckmittel über mit der Leitung 26 verbundene Druckleitungen 27 und 28 zu Radbremszylindern
30 und 31 strömt. Der Radbremszylinder 30 betätigt über ein Bremsgestänge 32 die Bremsen des
Radsatzes 10, der Radbremszylinder 31 über Bremsgestänge 33 die Bremsen des Radsatzes 12.
Durch das Bremspedal 24 wird ferner ein nicht dargestellter Bremslichtschalter betätigt, der über eine
Leitung 34 die Bremsleuchten des Fahrzeuges mit Energie aus einer nicht dargestellten Betriebsstromquelle
versorgt. Über die Leitung 34 wird zugleich die Ant'blockier-Regelschaltung 16 eingeschaltet.
Wird einer der Radsätze zu stark abgebremst, so erzeugt die Antiblockier-Regelschaltung ein Dmckentlaslungssignal,
das über eine Leitung 35 an eine Druckentlastungseinrichtung 36 weitergegeben wird.
Diese ist hier durch ein Magnetventil gebildet, das eine Erregerspule 37 aufweist. Die Erregerspule wird beim
Vorliegen eines Druckentlastungssignals auf der Leitung 35 mit Energie versorgt, wodurch das Magnetventil
betätigt wird und der Druck des den Radbremszylindern zugeführten Druckmittels herabgesetzt wird. Damit
wird ein Blockieren der Radsätze vermieden.
Eine erfindungsgemäße Prüfschaltung ist über eine Versorgungsleitung 41 mit der Antiblockier-Regelschaltung
16 verbunden und wird über diese mit der Betriebsstromquelle verbunden, wenn das Bremspedal
24 betätigt wird. Über eine Leitung 42 ist die Prüfschaltung 40 mit der Signalleitung 15 und damit mit
dem Radgeschwindigkeitsgeber für den in F i g. 1 linken Radsatz 10 verbunden, während sie über eine Leitung 43
mit der vom rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 herkommenden Signalleitung 17 verbunden ist. Ein
weiterer Eingang der Prüfschaltung 40 ist über eine Leitung 44 mit der Leitung 35 verbunden und damit mit
der Erregerspule 37 und dem Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung
16, an dem das Druckentlastungssignal bereitgestellt wird.
In Fig. 1 sind die Verbindungsstellen zum Anschluß
der Prüfschaltung 40 außerhalb der Antiblockier-Regelschaltung liegend dargestellt, und die Prüfschaltung
ist durch getrennte Leiter angeschlossen. In der Praxis bereitet es keinerlei Schwierigkeiten, auf einem die
Antiblockier-Regelschaltung 16 aufnehmenden Gehäuse eine Steckdose vorzugsehen, an die ein direkt oder
über ein Kabel mit der Prüfschaltung 40 verbundener Stecker angeschlossen werden kann, um die erforderlichen
Verbindungen herzustellen.
Wie Fi g. 2 zeigt, wird die Netzgleichspannung über
eine Leitung 45 auf einen Netzprüfkreis 46 und über eine Leitung 47 auf eine Versorgungsklemme einer Spulenprüfschaltung
48 gegeben. Der Netzprüfkreis 46 erzeugt ein Signal, wenn die Netzgleichspannung so groß ist,
daß sie zum ordnungsgemäßen Betrieb der in Fig. I dargestellten Antiblockier-Regelschaltung 16 ausreicht.
Die Netzgleichspannung wird vom Netzprüfkreis 46 an ein Netzteil 50 weitergegeben, das eine einfache
Spannurigsstabilisierungsstufe aufweisen kann. Über Verteilerleitungen 51, 52 und 53 wird eine stabilisierte
Gleichspannung an einzelne Bausteine der Prüfschaltung wcitergeleitet.
Über die Verteilerleitung 51 wird, wie F i g. 2 zeigt, ein Geschwindigkeitssignalgenerator 54, eine Schalteinheit
55. ein Abfragemodusschalter 58, ein Radabfragetaktgeber 56 und ein Verzögerungssignalgenerator 60 mit
Energie versorgt. Der Verzögerungssignalgenerator 60 kann ein einfacher Multivibrator oder ein anderer
Schalter sein, der an seinen Ausgangsklemmen 61 und 62 entgegengesetzte Signale bereitstellt. 1st der
Verzögerungssignalgenerator ein Multivibrator, so weist die Ausgangsklemme 61 ein hohes Potential gegen
Erde und die Ausgangklemme 61 ein hohes Potential gegen Erde auf und umgekehrt. Der Verzögerungssignalgeneralor
kann auch Verzögerungssignale herstellen, die keine Rechteckimpulse sind. Auch durch sie
kann die Antiblockier-Regelschaltung 16 aktiviert werden. Zum Beispiel können Verzögerungssignale mit
schräger Anstiegsflanke z. B. Sägezahnspannungssigna-Ie oder Spannungssignalc mit dreieckiger Form
verwendet werden, solange der Anstieg des an den Ausgangsklemmen 61 und 62 bereitgestellten Verzögerungssignals
größer ist als der Anstieg des Verzögerungssignals, bei dem die entsprechenden Schaltkreise
der Antiblockier-Regelschaltung 16 ansprechen.
Auch der Radabfiagetaktgeber 56 kann ein Multivibrator
sein, der an seinen Ausgangsklemmen 63 und 64 sich in entgegengesetztem Sinne ändernde Ausgangssignale
bereitstellt. Diese Ausgangssignale werden auf den Abfragemodusschalter 58 gegeben. Die jeweils über
Leiter 66 und 67 vom Abfragemodusschalter 58 auf die Schalteinheit 55 weitergegebenen Signale hängen von
der Schaltstellung des Abfragemodusschalters 58 ab. Der Abfragemodusschalter 58 stellt ein wesentliches
jo Merkmal der Erfindung dar, da er ermöglicht, daß eine
einzige Prüfschaltung 40 in Verbindung mit verschiedenen Antiblockier-Regelschaltungen 16 verwendet werden
kann, welche nach dem Prinzip der Auswahl des hohe Verzögerung aufweisenden Rades, dem Prinzip
der Auswahl des niedere Verzögerung aufweisenden Rades und dem Prinzip der Abfrage der einzelnen
Räder nacheinander arbeiten. Der Schalteinheit 55 werden neben den durch den Abfragemodusschalter 58
erzeugten Signalen und den durch den Verzögerungssignalgenerator 60 erzeugten Verzögerungssignalen
über eine Leitung 68 die vom Geschwindigkeitssignalgenerator 54 erzeugten Radgeschwindigkeitssignale
und über eine von dem Spulenprüfmodusumschalter 71 herkommende Leitung 70 ein Blockiersignal zugeführt
Das auf der Leitung 70 übermittelte Blockiersignal wird wie noch genauer beschrieben, an drei unterschiedliche
Klemmen der Schalteinheit 55 geliefert und dient zurr Aufbau der in der Prüfart »Verbindungsprüfung«
erforderlichen Verbindungen. Ein Ausgangssignal dei Schalleinheit 55 wird über eine Leitung 72, einer
Kondensator 73 und eine Leitung 74 und die Leitung 4;
auf einen Geberprüfkreis 75 gegeben. Die Leitung 42 is dem linken Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnei
Ein zweites Ausgangssignal der Schalteinheit 55 win 55 über eine Leitung 76, einen Kondensator 77 und ein<
Leitung 78 und die Leitung 43 auf eine zweiti Eingangsklemme des Geberprüfkreises 75 gegeben. Di'
Leitung 43 ist mit dem rechten Radgeschwindigkeitsge bei1 19 verbunden. Weist das zu prüfende Antiblockier
60 Regelsystem nur einen einzigen Radgeschwindigkeits
geber auf, so ist auch nur eine einzige Verbindung vo der Schalteinheit 55 zu einer Eingangsklemmc de
Gcberprijfkreises 75 vorgesehen. Wie noch im einze nen ausgeführt werden wird, kann der Geberprüfkre
b5 75 über die über die Leitungen 42 und 43 hergestellte
Verbindungen prüfen, ob der jeweils angetroffen Widerstand der Induktionsspule eines jeden dt
Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb zulässiger Grei
zen liegt, wodurch angezeigt wird, daß der eben geprüfte Radgeschwindigkeitsgeber fehlerfrei ist. Die
an den Ausgängen der Schalteinheit 55 bereitgestellten Radgeschwindigkeitssignale, durch welche eine rasche
Verzögerung der Geschwindigkeit eines Rades simuliert
wird, werden ferner über die Leitungen 72 und 76, die Kondensatoren 73 und 77 und die mit den
Signalleitungen 15 und 17 verbundenen Leitungen 42 und 43 auf die den Radgeschwindigkeitsgebern 14 und
>9 zugeordneten Eingänge der Antiblockier-Regelschaltung
16 gegeben. Damit kann geprüft werden, ob die Antiblockier-Regelschaltung 16 selbst richtig arbeitet.
Ist dies der Fall, so erzeugt jedes vom Verzögerungssignalgenerator
erzeugte Verzögerungssignal, ganz gleich ob es auf die dem linken Radgeschwindigkeitsgeber
14 zugeordnete Signalleitung 15 oder die dem rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnete
Signalleitung 17 gegeben wird ein Druckentlastungssignal am Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung.
Durch dieses wird der Druck des in der Leitung 26 und den Leitungen 27 und 28 befindlichen Druckmittels
entlastet. Die entsprechende Betätigung des Magnetventils der Druckentlastungseinrichtung 36 kann akustisch
wahrgenommen werden. Darüber hinaus weist die Prüfschaltung 40 Prüfleuchten auf, durch welche
angezeigt wird, welche Teile des Antiblockier-Regelsystems richtig arbeiten.
Obwohl die Spulenprüfschaltung 48 und der Spulenprüfmodusumschalter
71, wie noch im einzelnen dargelegt wird, eng zusammenarbeiten, sind sie in jo F i g. 2 als getrennte Einheiten dargestellt. Die Spulenprüfschaltung
stellt fest, ob der Widerstand der Erregerspule 37 in einen vorgegebenen Widerstandsbereich
fällt. Der Spulenprüfmodusumschalter 71 ist vorgesehen, um prüfen zu können, ob die Erregerspule 3;.
auch bei niederer Versorgungsspannung ordnungsgemäß arbeitet. Das von dem Verzögerungssignalgenerator
an seiner Ausgangsklemme 62 bereitgestellte Verzögerungssigna! wird über eine Leitung 80 und eine
Leitung 81 auf einen Eingang der Spulenprüfschaltung 48 und über die Leitung 80 und eine Leitung 82 auf einen
Eingang des Spulenprüfmodusumschalters 71 gegeben.
Fig.3 zeigt die Kreiseinzelheiten des Energietestkreises
46, die Energieversorgungsanordnung 50 und den Testkreis 75 für den Geberwiderstand. Die
Energieleitung 41 und der zugehörige, geerdete Leiter 85 übertragen die vom Steuersystem 16 (Fig. 1)
empfangene Energie zum Energietestkreis 46. Im Testkreis sind eine Zenerdiode 86 und Widerstände 87,
88 in Reihe geschaltet und zwischen den Leitern 41 und 58 angeschlossen. Die Basis eines πρπ-Transistors ist an
die gemeinsame Verbindung zwischen den Widerständen 87,88 angeschlossen, während sein Emitter geerdet
ist. Sein Kollektorkreis ist über eine Fotodiode 91 und einen Widerstand 92 an die Leitung 41 angeschlossen, 5s
während sein Kollektor auch über eine weitere Diode 93 an einen Bezugspunkt T angeschlossen ist. Das im
Schaltschema verwendete Symbol T stellt einen Anschluß eines nicht gezeigten Erdungsschalters dai,
der zum Testen der Leitfähigkeit und Erleuchtung jeder t>o Fotodiode im System verwendet werden kann, d. h.,
wenn Energie zwischen den beiden Leitern 41 und 85 zugeführt wird, sofern die Kathode der Diode 93 durch
den Erdungspunkt Tgeerdet ist, fließt Strom durch den Widerstand 92, die Fotodiode 91 und die Diode 93 zur b5
Erde. Dadurch leuchtet die Fotodiode 91 auf und zeigt an, daß der Indikatorteil des Kreises gut ist. Im
dargestellten Kreis ist die Zenerdiode 86 so ausgewählt, daß, wenn eine Spannung von ungefähr 9 V zwischen
den Leitern 41 und 85 vorhanden ist, der Transistor 90 durchgeschaltet wird und leitet, um einen Erdungskreis
für die Fotodiode 91 zu bilden. Dies gibt der die Prüfschaltung 40 verwendenden Person an, daß von der
Fahrzeugbatterie zum Steuersystem genügend Energie geliefert wird, um nicht nur den Steuerkreis, sondern
auch den Magneten mit der Wicklung 37 zu erregen. Somit ist der Energietestkreis 46 ein bedeutender Teil
der erfindungsgemäßen Kombination.
Der Energieversorgungskreis enthält einen npn-Transistor 94, der als in Reihe angeordneter Schalter
angeschlossen ist. Sein Kollektor ist an den Leiter 41 und sein Emitter an den Leiter 51 angeschlossen.
Zwischen der Basis und dem Kollektor ist ein Widerstand 95 angeschlossen. Zur Regelung der
Spannung an der Leitung 51 ist zwischen der Basis und der Erdung eine Zenerdiode % angeschlossen. Diese
Spannung wurde bei der dargestellten Ausführungsform mit 5 V gewählt. Diese geregelte Spannung wird
demnach zum Erregen der weiteren Kreise in der Prüfschaltung verwendet.
Die geregelte Spannung der Leitung 51 wird über die Leitungen 52 und 53 dem Testkreis 75 für den
Geberwiderstand zugeführt, der den Widerstand des linken und des rechten Gebers prüft. Der linke Geber
erhält einen Bezugswiderstand 118, der zur Bildung eines Spannungsteilers mit dem gerade getesteten
Geber angeschlossen ist, wobei der Widerstand dieses Gebers zwischen den Leitern 42 und 114 erscheint. Ein
Indikatorkreis enthält einem mit dem Indikatorbestandteil in Reihe geschalteten, ersten Transistor 102. Dieser
Indikatorbestandteil ist bei der dargestellten Ausführungsform eine Fotodiode 101. Es ist ein zweiter
Transistor 106 angeschlossen zum Einschalten des ersten Transistors 102, wenn der effektive Widerstand
des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen, oberen Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 111
gebildet ist. Es ist ein dritter Transistor 116 angeschlossen zum Ausschalten des ersten Transistors 102 (über
einen Transistor 105), wenn der effektive Widerstand des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen
Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 140 eingestellt ist.
Der erregende Leiter 51 ist in einer aus dem Leiter 98, dem Widerstand 100, der Fotodiode 101 und dem
Kollektor Emitterkreis den πρπ-Transistors bestehenden Reihenschaltung an Masse angeschlossen. Der
Kollektor ist auch über eine Diode 103 mit einem weiteren Testpunkt T verbunden, der beim Kurzschließen
die Diode 101 erleuchtet, um anzuzeigen, daß sich diese Fotodiode in gutem Zustand befindet. Die Basis
des Transistors 102 ist an eine Seite eines Widerstandes 104 und auch an den Kollektor eines weiteren
πρπ-Transistors 105 angeschlossen, dessen Erniüc; geerdet ist. Die andere Sehe des Widerstands 104 ist ar
den Kollektor eines πρ/7-TransisUors 106 angeschlossen
dessen Emitter über Leitung 107, 108 und einci
npn-Transistors der Emitterfolgebauart an den Schleifei eines Potentiometers Ul angeschlossen ist. Diese:
Potentiometer ist an die Erdung und über einci Widerstand 112 an den Leiter 53 angeschlossen, an den
die geregelte Spannung ingelegt ist. Der Widerstam 111 ist die Einstelleinheit für die obere Grenze de
Widerstandtestkreiües. Das heißt, die Einstellung seine
Schleifers stellt die obere Grenze des Widerstandsbe
reichs ein, in den der effektive Wert des Widerstand des linken und des rechten Gebers fallen muß, um al
Jj.
»gut« getestet zu werden. Diese obere Grenze wird eingestellt durch die Einstellung d^v an den Emitter des
Transistors 106 angelegten Vorspannung. Der Emitter der Stufe 110 wird über einen Widerstand 113 mit Nlasse
\erbunden.
Der linke zu testende Geber ist zwischen den Leitern 42 und 114 angeschlossen, wobei der Leiter 114 geerdet
ist. Der Leiter 42 ist über einen ersten Widerstand 115
an die Basis eines npn-Transistors 116 angeschlossen,
über einen weiteren Widerstand 117 an die Basis des Transistors 106 und über einen Bezugswiderstand 118
an den Leiter 53. der die geregelte Gleichspannung empfängt. Es ist somit offensichtlich, daß der Bezugswiderstand
128 zusammen mit dem Widerstand des zwischen den Leitern 42 und 114 (plus dem Widerstand
der Kreisleitungen) einen Spannungsteiler bildet, so daß die Spannung am Leiter 42 im Widerstandstestkreis
verwendt werden kann. Vorläufig ist es nicht nötig, das dynamische Signal in Betracht /u ziehen, das über den
Kondensator und über den Leiter 42 auf die logischen Kreise im Steuersystem selbst ausgeübt werden soll.
Der recht Geber ist zwischen den Leitern 43 und 120 angeschlossen, wobei der Leiter 120 geerdet ist. Der
Leiter 43 ist über einen Widerstand 121 an die Basis eines npn-Transistors 122 angeschlossen, die auch über
einen weiteren Widerstand 123 an die Basis eines weiteren pnp-Transistors 124 und auch über einen
weiteren Bezugswiderstand 125 an den erregenden Leiter 53 angeschlossen ist. Es wird demnach eine
weitere Spannungsteilungsanordnung gebildet mit einem Bezugswiderstand 125 und dem effektiven
Widerstand des rechten Gebers und der zugehörigen Leitungen entsprechend der Messung zwischen den
Leitungen 43 und 120. Der Emitter des Transistors 124 ist über die Leitung 108 an die Emitterfolgestufe 110
angeschlossen, während der Kollektor des Transistors 124 über einen Widerstand 126 sowohl an den Kollektor
eines n/w-Transistors 127 und über eine Leitung 128 an
die Basis eines weiteren npn-Transistors 130 mit geerdetem Emitter angeschlossen ist. Der Kollektor des
Transistors 130 ist über eine Fotodiode 131 und einen Widerstand 132 an die Spannungsspeiseleitung 53
angeschlossen. Die gemeinsame Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors 130 und der Kathode der
Fotodiode 131 ist über einen eine Diode bildender. Tcstkreis mit einem weiteren Schaltpunkt Tverbunden.
Der Emitter des Transistors 122 ist über eine Leitung 134 an eine Emittcrfolgeschaitung 135 angeschlossen,
während der Emitter der Stufe 116 im linken Geber auch über eine weitere Leitung 136 an den gleichen
Emitterfolgekreis angeschlossen ist. Der Emitter des Transistors 135 ist über einen Widerstand 137 an Masse
angeschlossen, während sein Kollektor an die Spannungsspeiscleitung
53 angeschlossen ist. Zwischen der Leitung 53 und Masse befinden sich in Reihe geschaltet
ein Widerstand 138 und ein Potentiometer 140, dessen Schleifer an die Basis des Transistors 135 angeschlossen
ist. Das Potentiometer 140 stellt die untere Grenzwerteinstellung sowohl für die Geberkreise als auch für die
Widerstandstestkreise dar. Die Einstellung seines Schleifers bildet einen <
eren Widerstandsgrenzwert. der vom effektiven Sensorwiderstand überschritten werden mui.v uamii uuilu Aufleuchten der Fotodiode
»gut« getesiet wird. Diese Schleifcrcinstellung des
Potentiometers 140 bildet die Vorspannung am Emitter beider Transistoren 116 und 122.
Bei der Betrachtung der Arbeitsweise des kreises 75
wird zu Bc'L'inn angenommen, daß im linken Gebertest
kreis zwischen den Leitern 42 und 114 ein Geber
angeschlossen ist. Bei solchen Steuersystemen, bei denen nur ein einziger Sensor verwendet wird, kann
natürlich die Schaltung unterhalb des linken Gebertestkreises außer den Kreisen zur Einstellung der oberen
und unteren Grenzwerte weggelassen werden. Es wird zuerst der Test für die obere Grenze betrachtet. Ein auf
die Einstellung des Potentiometers 111 bezogener Vorspannungswert wird über eine Emitterfolgestufe 110
und einen Leiter 107 auf den Emitter des Transistors 106 übertragen. Dies erzeugt ein Bezugsniveau am Emitter
des Transistors 106, das auf die obere, annehmbare Grenze für den Widerstandstest des linken Gebers
bezogen ist. Wenn der linke Geber in einem Widerstandsteilernetz mit einem Bezugswiderstand 118
angeschlossen ist. der vom tatsächlichen Widerstandswert des linken Gebers und dessen zugehörigen
Leitungen abhängt, w>rd eine besondere Spannung über den Leiter 42 und den Widerstand 117 zur Basis des
Transistors 106 geleitet Wenn die über den Widerstand 117 ausgeübte Spai .lung kleiner ist als die Vorspannung
am Emitter des Transistors 106 — was anzeigt, daß der wirkliche Widerstand des Sensors geringer ist als der
obere Grenzwert des annehmbaren Widerstands —, wird der Basis-Emitteranschluß des Transistors 106
vorwärts vorgespannt und dieser Transistor durchgeschaltet. Die Spannung am Emitter des Transistors 106
wird somit auf dessen Kollektor übertragen und über den Widerstand 104 zum Durchschalten des Transistors
102 verwendet. Die Fotodiode 101 für »linker Geber gut« leuchtet auf, dies betrifft die obere Widerstandsgrenze. Wenn der Widerstand des Sensors zu groß
gewesen wäre, wäre natürlich der Transistor 106 nicht eingeschaltet worden.
Es wird nun die untere Grenze für die annehmbare Widerstandsgrenze des linken Gebers betrachtet. Die
Vorspannung für die untere Grenze wird vom Potentiometer 140 gebildet und durch den Emitternachfolger
135 über den Leiter 136 zum Emitter des Transistors 116 geleitet. Falls die Spannung des
Spannungsteilerkreises, die über den Widerstand 115
auf die Basis des Transistors 116 ausgeübt wird nicht zu
niedrig ist, d. h., falls sie oberhalb der am Emitter des Transistors 116 gebildeten Vorspannung liegt, dann
wird der Transistor 116 nicht eingeschaltet und der Transistor 105 wird auch ausgeschaltet bleiben. Somit
wird der vorher beschriebene Kreis mit den Transistoren 106 und 102 nicht gestört und die Fotodiode 101
bleibt erleuchtet zur Anzeige, daß der Widerstandswen des linken Gebers innerhalb annehmbarer Grenzen
liegt. Wäre der Widerstand des linken Gebers zu niedrig gewesen, so wäre der Transistor 116 eingeschaltet
worden und hätte den Transistor 105 eingeschaltet, was der Basis des Transistors 102 die Ansteuerung
genommen hätte. Dies schaltet den Transistor 102 ab und unterbricht die Erregung des Kreises für die
Fotodiode 102 für »linker Sensor gut«. Der Kreis für den rechten Geber mit den Transistoren 123, 124, 127 und
130 arbeitet im wesentlichen in der gleichen Weii·?.
F i g. 4 stellt die Einzelheiten des Testkreises 48 (oberer Teil) für den Magnetwiderstand und den Magnetniederspannungstestkreis
71 (unterer Teil) dar. Es wird zuerst der Topfkreis 48 betrachtet, der die Magnetwicklung auf
annehmbaren Widerstand prüft. Wie bereits beschrieben ist zur Aufnahme des Eingangsgleichsstroms die
Leitung 47 an die Leitung 41 angeschlossen. Die andere Eingangsleimng 142 zum Tcstkreis für den Magnetwiderstand
ist an das Ende der Solenoidwicklung
JJ23
angeschlossen, das bei Erregung des Druckentlastungssystems
geerdet ist. In Reihe zwischen den Leitern 47 und 142 (F i g. 1 der vorliegenden Anmeldung) ist ein in
Reihe geschalteter Kreis angeschlossen, bestehend aus einem Widerstand 143. einer Fotodiode 144 und aus s
einem weiteren Widerstand 145. Wenn die logischen Kreise im Steuersystem 16 zufriedenstellend arbeiten,
wird das Ablaßsystem vorgesehen zum Betätigen des Magneten und das Spannungsniveau an der Leitung 142
wird periodisch abfallen (bis auf Null), wenn die Magnetwicklung geerdet wird. Dies laßt die Fotodiode
114 aufleuchten zur Anzeige, daß die Logik im Steuersystem zufriedenstellend arbeitet. F.ine den Kreis
vervollständigende Diode 146 ist zwischen dem Erdungsschaltpunkt Γ und der gemeinsamen Verbin- iri
dung zwischen dem Widerstand 145 und der Fotodiode 144 angeschlossen zum Vorsehen einer Anzeige, daß sie
gut ist. Dieser von der Fotodiode 144 simulierte Zustand für »Logik gut« gewährleistet nicht, daß der Magnetwiderstand
innerhalb annehmbarer Grenzen liegt, oder daß das Magnetventil unter Niederspannungsbedingungen
zufriedenstellend arbeitet. Tests für diese beiden zusätzlichen Zustände werden durch die Kreise 48 und
71 vollendet.
Die Spannung am Leiter 47 wird über einen Leiter 2r>
147 auf das Ende eines Potentiometers 148 übertragen,
dessen anderes Ende geerdet ist. Diese Spannung wird auch über einen Leiter 150 an die Kathode einer
Zenerdiode 151 übertragen, deren Anode über einen Widerstand 152 und den Kollektor-Emitterdurchgang so
eines npn-Transistors 153 mit Masse verbunden ist. Diese Spannung ist auch über einen Leiter 154 und eine
Reihenschaltung, bestehend aus einem Widerstand 155, einer weiteren Fotodiode 156 und einem npn-Transistor
157, mit Masse verbunden. Schließlich wird diese r> Spannung auch an den Emitter eines pnp-Transistors
158 angeschlossen. Der Schleifer des Potentiometers
148 ist über einen Leiter 160 an den Emitter eines pnp-Transistors 161 angeschlossen, dessen Basis über
einen Widerstand 162 an den Leiter 142 angeschlossen ist. Der Kollektor des Transistors 161 ist über einen
Widerstand 163 an die Basis eines npn-Transistors 164 angeschlossen, dessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor
dieses Transistors ist über einen Leiter 165 an die Basis des Transistors 157 angeschlossen, an dem 4s
Kollektor eines Transistors 166 und an ein Ende eines Widerstands 157, dessen anderes Ende mit dem
Kollektor des Transistors 158 verbunden ist. Der Leiter 81, über den Signale vom Verzögerungsfunktionsgenerator
60 empfangen werden, ist über eine Diode 168 an die Basis des Transistors 153 angeschlossen. Ein
pnp-Transistor 170 ist als Reihenregler an die
gemeinsame Verbindung zwischen dem Widerstand 152 und der Anode der Zenerdiode 151 angeschlossen,
während sein Kollektor geerdet und sein Emitter mit ■)■>
dem Eingangsleiter 142 verbunden sind.
Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe geschalteter Kreis,
bestehend aus Widerständen 171, 172 und dem Kollektor-Emitterkreis eines npn-Transistors 173, des- m>
sen Emitter geerdet ist. Sein Kollektor ist über einen in Reihe geschäiicicn Kreis, ucstcnenu aus einem ■ , iucr
stand 174 und einer Diode 175, an die Basis des Transistors 166 angeschlossen. Die Basis des Transistors
173 ist an den Kollektor eines npn-Transistors 176 und f>5
auch über einen Widerstand 177 an den Leiter 142 angeschlossen. Der Emitter des Transistors 176 ist
geerdet. Ein zwischen dem Leiter 142 und der Erdung angeschlossener Kreis besteht aus einem Widerstand
178, einem Kondensator 180 und einem weiteren Widerstand 181. Die Basis des Transistors 176 ist an die
gemeinsame Verbindung zwischen dem Kondensator und dem Widerstand angeschlossen.
Im allgemeinen wird der Transistor 157 im oberen,
rechten Bereich des Testkreises 148 für den Magnetwiderstand zum Aufleuchten der Fotodiode 156
eingeschaltet, wenn der Widerstand der Magnetwicklung in einem annehmbaren Bereich liegt. Die
Fotodiode 156 kann getestet werden durch Erden des mit der Kathode der Diode 182 verbundenen Anschlusses
Ti um einen Stromdurchgang durch die Fotodiode
156 zu bilden und deren Zustand zu testen.
Es wird zu Beginn angenommen, daß der Test für das einen niedrigen Widerstand aufweisende Ende der
Magnetwicklung zuerst ausgeführt wird. Falls dieser Magnetwiderstand zu klein ist, wird der Transistor 157
nicht eingeschaltet. Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe
geschalteter Kreis, bestehend aus einem ersten Widerstand 171, einem zweiten Widerstand 172 und dem
Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 173. Es wird ferner angenommen, daß der Transistor 173 leitet,
so daß das untere Ende des Widerstands 172 geerdet ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform, die sich an die besonderen Magnetcharakteristiken anpaßt, betrug der
Widerstand 172/50 Ohm. Der Widerstand 172 bildet einen Spannungsteiler, bei dem der effektive Widerstand
des Magneten und die Leitungsanschlüsse mit den Leitern 47, 142 verbunden sind, während die Magnetwicklung
der obere Teil dieses Spannungsteilers ist. Wenn der Magnetwiderstand ausreichend hoch ist, d. h.
nicht kurzgeschlossen oder unter einem annehmbaren Wert, so reicht die zwischen der. Leitern 47, 142
erscheinende Spannung aus, die Basis-Emitterverbindung des Transistors 158 vorzuspannen. Diese Basis-Emitterverbindung
mit dem Widerstand 171 ist über die Magnetwicklung angeschlossen. Wenn der Transistor
158 durchschaltet, wird die an seinem Emitter erscheinende Spannung auf den Kollektor übertragen
und schaltet über den Widerstand 167 den Transistor
157 durch. Dementsprechend wird die Fotodiode 156 aufleuchtet, wenn der Magnetwiderstand nicht zu
niedrig ist, unter der Annahme in diesem Augenblick, daß der Magnetwiderstand nicht das hohe Niveau
übersteigt.
Es wird nun das Potentiometer 148 betrachtet und betont, daß der obere Teil dieses Potentiometers an die
Leitung 47 angeschlossen ist. Somit ändert in ähnlicher Weise jede Unregelmäßigkeit oder Schwankung der
Spannung der Hauptstromversorgung des Fahrzeugs die Spannung über dem Potentiometer 148 mit einer
proportionalen Änderung der Spannung am Leiter 160. Dies bildet eine positive Vorspannung am Emitter des
Transistors 161. Die Basis des Transistors ist über den Widerstand 162 und den Leiter 142 an die andere Seite
der Magnetwicklung angeschlossen. Es ist zu beachten, daß die Magnetwicklung und der Widerstand 172 in
einer Spannungsteileranordnung verbunden sind. Somit ist die Basis 161 über den Widerstand 162 an den
Spannungsteüungspunkt oder die gemeinsame Verbindung zwischen der Solenoidwicklung und dem Widerstand
172 im Spannungsteiler angeschlossen. Es ist nützlich, das Potentiometer an der Leitung 47 der
Nullbezugsspannung zu betrachten, während das Potential an der Leitung 142 eine negative Spannung
gegenüber derjenigen in der Leitung 47 ist. Es wird
ferner angenommen, daß die Magnetwicklung offen ist. Ist die Magnetwicklung offen, so befindet sich die
Spannung an der Leitung 142 an der tiven
Versorgungsspannung, z. B. minus 12 V, gegen r dem
Potential an der Leitung 47. Unter diesen Bedingungen '
und mit der positiven Bezugsvorspannung am Emitter des Transistors J61 wird dieser Transistor durchgeschaltet
und überträgt die Vorspannung (positives Potential) auf seinen Kollektorkreis und den Widerstand 163 auf
die Basis dos Transistors 164 und der Transistor 164
leitet. Das Leiten des Transistors 164 erdet die Basis des Transistors 157 und nimmt diesem Transistor seine
Ansteuerung. Dies unterbricht den Kreis für die Fotodiode 156, die erlöscht. Dadurch, daß die Ti ansistoren
15E und 157 anfangs nicht betrieben werden, wird r>
die Fotodiode auch ausgelöscht, falls der Widerstandswert zu niedrig ist.
Die obigen Ausführungen beschreiben die Widerstandsmessung des Magneten, wenn die Logik im
Steuersystem 16 nicht periodisch in Betrieb gesetzt '°
wird. Zieht man nun in Betracht, daß der Verzögerungssignalgenerator 60 (Fig. 2) simulierte Verzögerungssignale durch die Schalteinheit 55 und über die Leiter 42,
43 zu den Eingangsanschlüssen der Antiblockierregelschaltung 16(Fig. 1) leitet, so arbeitet das Regelsystem -5
in der Weise, daß es den Magneten erregt und aberregt, so daß das Potential an der Leitung 142 in Fig.4
nacheinander geerdet und von der Masse getrennt wird. Ein wertvoller Teil des Testvorganges ist das hörbare
Ansprechen beim öffnen und Schließen des Magnetventils,
was eine hervorragende Anzeige dafür gibt, daß das System tatsächlich periodisch arbeitet und daß das
Ventil in Betrieb ist.
Mit dem während des Leitens des Transistors 173 ununterbrochen geerdeten, niederohmigen Widerstand
172 hält dies jedoch einen kleinen elektrischen Strom durch den Magneten aufrecht, der zwar nicht zum
Betätigen des Magneten ausreicht, nach dem Betätigen dennoch einen ausreichenden Haltestrom aufrecht
erhält, so daß der Magnet nicht abfällt, wenn es dies ">
normalerweise tun sollte. Somit würde der Magnet das erstemal erregt werden und dann im erregten Zustand
ohne periodisches Ein- und Ausschalten verbleiben, obwohl die Logik periodisch betrieben wird, um
Erregungs- und Aberregungssignale zu liefern. Es ist daher erforderlich, daß der niederohmige Widerstand
172 von der Masse abgeschaltet wird, um den Haltestromdurchgang zu unterbrechen und um dem
Magneten ein Aberregen zu gestatten. Zu diesem Zweck sind die Bestandteile 176 und 181 als Schalt- und ~'°
Zeitgliedanordnung verbunden. Der Transistor 176 kann als Schalter betrachtet werden und die Zeitgebung
wird durch die Kombination des Widerstands 178 mit dem Kondensator 180 bewirkt.
Es wird nun angenommen, daß der Magnet erregt und ^
das Potential an der Leitung 142 tatsächlich zur Erde abgeleitet wurde. Somit wurde die Ansteuerung des
Transistors 173 entfernt, da diese Ansteuerung normalerweise über die Leitung 142 und den Widerstand
177 aufgenommen wird. In ähnlicher Weise fließt der bi)
das erforderliche Durchschaltpotential für den Transistor 176 liefernde Ladestrom für den in Reihe
geschalteten Kreis aus dem Widerstand 178 und den
Kondensator 180 nicht, solange die Spannung am Leiter 142 geerdet bleibt. Nach dem Erregen des Magneten ist b5
dementsprechend weder für den Transistor 173 noch für den Transistor 176 eine Ansteuerung vorhanden. Es
wird nun angenommen, daß ein Außerbetriebsetzen des Magneten durch Aberregen dessen Wicklung gewünscht
wird, so benötigt das Magnetventil eine gewisse, begrenzte Zeit zum Ansprechen und zum
Wiedereinnehmen der unbetätigten Stellung In diesem Zeitintervall in der Größenanordnung von 100 msec ist
es natürlich wünschenswert, die Erdung des Widerstands 172 um wenigstens dieses Zeitintervalls zu
verzögern. Dies gestattet eine Aberregung des Solenoids und eine Stabilisierung des Kreises. Sobald der
Leiter 142 von der Masse getrennt ist, findet ein unmittelbares Fließen von Ladestrom durch den
Widerstand 178, den Kondensator 180 und die Efa&is-Emitter-Verbindung des Transistors 176 statt'
Solange dieser Ladestrom fließt, ist der Transistor 176 eingeschaltet und erdet seinerseits die Basis des
Transistors 173, was gewährleistet, daß der Transistor 173 während der Ladezeit abgeschaltet bleibt. Ist dieser
R-C Kreis 178, 180 geladen, wird der Antrieb für die Eiasis-Emitterverbindung des Transistors 176 entfernt
und dieser abgeschaltet. Wenn der Transistor 176 abschaltet, entfernt er die Erdung von der Basis des
Transistors 173, der seine Basissteuerung wieder über den Widerstand 177 empfängt und somit durchschaltet.
Zu dieser Zeit ist der niederohmige Widerstand 172 wieder wirksam über dem Transistor 173 geerdet.
Während der Zeit, in der der Widerstand 172 durch Nichtleiten des Transistors 173 von der Masse getrennt
ist, ist es wünschenswert, sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 nicht unbeabsichtigt eingeschaltet
werden kann. Es könnte ein fälschliches Aufleuchten eintreten, bewirkt durch periodisches Betreiben des
logischen Ausgangskreises des Steuersystems 16, was eine falsche Anzeige ergeben würde, wenn der
Transistor 173 abgeschaltet war. Dementsprechend wird, wenn der Transistor 173 zum Abschalten der
Erdung des Transistors 172 ausgeschaltet ist, ein Signal
vom Widerstand 172 über den Widerstand 174 und die Diode 175 geliefert, damit der Transistor 106 durchgeschaltet
wird. Dieser Transistor erdet wirksam die Basis des Transistors 157, um die Ansteuerung zu entfernen
und um sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 in der Zeit nicht erregt werden kann, in der der Widerstand
172 geerdet ist. Die in Reihe mit der Basis des Transistors 166 geschaltete Diode 175 vergrößert den
zum Einschalten des Transistors 166 erforderlichen Spannungsabfall. Wenn der Transistor 173 tatsächlich
eingeschaltet ist, stellt dies sicher, daß kein den Transistor 166 einschaltendes, irrtümliches Signal
vorhanden ist.
Es wird nun der Niederspannungstestkreis 71 im Unterteil der Fig.4 betrachtet. Dieser Kreis enthält
einen üblichen Multivibratorkreis, der zwischen dem Spannungseingangsleiter 53 und Masse angeschlossen
ist. Der Schaltkreis enthält πρ/7-Transistoren 185, 186
Kondensatoren 187, 188 und Widerstände 190-193. Das vom Verzögerungssignalgenerator 60 über die Leitung
80 empfangene simulierte Verzögerungssignal wird über einen Widerstand 195, den Leiter 82 und eine
Diode 194 7um Kollektor des Transistors 185, zu einem
Ende eines Widerstands 1% und zu einem Ende eines Widerstands 197 geleitet. Der Emitter eines ersten
πρ/7-Transistors 198 ist geerdet, während dessen Basis
mit dem Widerstand 196 und dessen Kollektor über eine Fotodiode 200 und einen Widerstand 201 mit dem
erregenden Leiter 53 verbunden sind. Der Kollektor des Transistors 198 ist auch über eine den Kreis
vervollständigende Diode 202 an einen weiteren Testpunkt Tangeschlossen. Der andere Widerstand 197
et an die Basis eines weiteren πρπ-Transistors 203
angeschlossen, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über den Leiter 70 an dU Kathode jeder
Diode 204, 206 und 206 angeschlossen sind. Wenn der Transistor 203 durchgeschaltet ist, wird ein noch zu
beschreibender Sperrkreis durch die Diodtn 204, 206 und 208 gebildet. Dieser Kreis ist allgemein durch die
einzige Linie 70 in F i g. 2 dargestellt.
BeimBctriebdesMultivibratorkreises im Niederspannungstestkreis
71 wird, wenn der linke Transistor 185 abgeschaltet ist, di.s vom Leiter 53 ausgeübte, positive
Potential über den Widerstand 190 zu einem Ende jedes Widerstands 1% und 197 geleitet, was die Transistoren
198 und 203 durchschaltet. Der Transistor 198 vervollständigt jn seinem durchgeschalteten Zustand
einen Erregungsweg für die Fotodiode 200, die ausfluchtet und anzeig!, daß der Niederspannungsiest
für den Magneten gerade läuft. Gleichzeitig leitet der andere Transistor 203 und sperrt über den Leiter 70 und
die Dioden 204, 206 und 208 wirksam die Schalteinheit 55 so daß der logische Kreis Antiblockierregelsystem
16 während des Niederspannungstest durch die Prüfschaltung nicht periodisch betrieben wird. Andernfalls
könnte das zu den linken und rechten Geberanschlüssen gelieferte, simulierte Verzögerungssignal in
der Tat den logischen Kreis periodisch betreiben und ein »Ablaß«- signal erzeugen. Es wäre dann zweideutig,
ob der Niederspannungstest das Ablassen bewirkt hatte, oder ob dieses Signal durch Betrieb der Logik
herbeigeholt wurde. Somit wird mit der erleuchteten, Fotodiode 200, mit der über die Leitung 70 gesperrten
Schalteinheit und mit den erwähnten Dioden das über die Leitung 80 empfangene, simulierte Verzögerungssignal über den Widerstand 195, den Leiter 181 und die
Diode 168 (im Testkreis 48 für den Magnetwiderstand) weitergeleitet, um den Transistor 153 durch- und
abzuschalten, wenn das Verzögerungssignal empfangen wurde. Der Transistor 170 ist an die Leitung oder den
Leiter 47 mit positiver Spannung angeschlossen. Die positive Spannung ist somit das Nullbezugsniveau und
auf die untere Hälfte des Magneten wird eine negative Spannung ausgeübt. Das Durch- und Abschalten des
Transistors 153 schaltet den Antrieb der regelnden Zenerdiode 151 abwechselnd ab und an, die bei einer
bevorzugten Ausführungsform auf 7,7 V Spannung eingestellt wurde. Es wird jedesmal eine geregelte
Spannung von etwa 6 bis 7 V an der Magnetwicklung ausgeübt, wenn das Verzögerungssignal über den
Transistor 153 zum Einschalten des Transistors 170 empfangen wurde.
Es ist zu bemerken, daß, wenn der Multivibrator im Kreis 71 in den anderen Zustand umschlägt, indem der
Transistor 185 durchgeschaltet und der Transistor 186 abgeschaltet ist, die vom Verzögerungssignalgenerator
60 über den Leiter 80 erfolgende Ansteuerung wirksam über die Diode. 194 und den nicht leitenden Transistor
185 geerdet wird. Somit wird die Erdung vom Leiter 70 entfernt und der logische Kreis in den Normalzustand
zurückgeführt. Dementsprechend ist der Niederspannungsmagnettest erst durchgeführt, wenn der Transistor
185 abgeschaltet ist.
Der Geschwindigkeitssignalgenerator 54 für das Raddrehzahlsignal ist im linken Teil der F i g. 5 gezeigt.
Dieser Signalgenerator enthält einen πρ/7-Transistor
210, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über einen Widerstand 211 an den Leiter 51 angeschlossen
ist. Die Basis des Transistors 210 ist an ein Ende eines Widerstands 212, dessen anderes Ende geerdet ist, an
eine Seite eines Kondensators 213 und an eine Seite eines Widerstands 214 angeschlossen, dessen andere
Seite sowohl an einen Kondensator 215 als auch an einen Widerstand 216 angeschlossen ist. Die andere
Platte des Kondensators 215 ist geerdet, während das andere Ende des Widerstands 216 an eine Seite eines
Kondensators 217 und an den Kollektor des Transistors 210 angeschlossen ist. Ein Ende eines Widerstands 218
ist geerdet, während das andere Ende an eine Platte jedes Kondensators 213 und 217 angeschlossen ist. Die
Bestandteile 210-218 sind in einer Oszillatoranordnung angeschlossen zum Liefern eines Sinuswellenausgangssignals
an einem Leiter 210. Bei einer bevorzugten Ausführungsform war dieser Oszillator angeschlossen,
um ein Ausgangssignal von ungefähr 1000 Hz zu liefern. Das Signal an der Leitung 220 wird auf in eine
Darlingtonschaltung angeschlossenen Transistoren 221, 222 übertragen zum Entwickeln eines Ausgangssignals
über einen Widerstand 223, das über den Leiter 68 zur Schalteinheit 55 geleitet wird. Dadurch, daß der
Oszillatorkreis auf die Belastung empfindlich ist, trennt die Darlingtonschaltung 221, 222 die Belastung vom
Oszillator und bewirkt einen ununterbrochenen und genauen Ausgangsbetrieb des Oszillators.
Das 1000 Hz Signal an der Leitung 68 wird über einen
Widerstand 224, den Leiter 72, den Kondensator 73 und die Leiter 74, 42 an den linken Gebereingangsanschiuß
des Antiblockierregelsystems 16 angeschlossen. In ähnlicher Weise wird auch das Signal an der Leitung 68
über einen Widerstand 225, den Leiter 76, dem Kondensator 77 und die Leiter 78, 43 an den rechten
Gebereingangsanschluß angeschlossen. Wäre es nicht für die Anwesenheit und das Funktionieren des anderen
Kreises in der Schalteinheit 55, würden diese beiden Signale (über Widerstände 224, 225) ständig über die
Gebereingangsanschlüsse die Prüfschaltung über die passenden Anschlüsse im Steuersystem übertragen
werden, um die logischen Kreise des Steuersystems periodisch zu betreiben. Das Signal an der Leitung 68 ist
ein Signal mit sehr schwacher Energie und beeinflußt die Spannungsteileranordnung am Eingangsteil des
bereits beschriebenen Testkreises 75 für den Geberwiderstand nicht. Der Fachmann wird erkennen, daß,
falls irgendein über die Leitung 72 und den Kondensator 73 ausgeübtes Signal oder das andere auf der Leitung 76
und dem Kondensator ausgeübte Signal vorübergehend geerdet oder stufenweise auf Null zulaufen würde, dies
für die logische Schaltung im Regelsystem ein Verzögerungssignal simulieren würde. Es verbleibt noch
die Erläuterung des Betriebs der anderen Kreise, um diese Abänderung des ununterbrochenen Sinuswellcnsignals
zum Simulieren des Verzögerungssignals vorzusehen.
Die Schalteinheit 55 enthält zwei npn-Transistoren 226, 227, von denen jeder als Schalter angeschlossen ist
um ein Erden eines der über die Widerstände 224, 225 geleiteten 1000Hz Signale zu bewirken, um deir
Kegelsystem ein Verzögerungssignal zu simulieren. Dei Emitter des Transistors 226 ist geerdet, während desscr
Kollektor an den Widerstand 224 und an den Leiter 7;
angeschlossen ist. Zwischen der Basis und dem Emittei des Transistors 226 ist ein Widerstand 228 angeschlos
sen. der das Abschalten des Kreises unterstützt. Di< Basis ist auch über einen Widerstand 230 an einen Leite
231 angeschlossen. Die Kathoden der Dioden 232 unc 233 sind an den Leiter 231 angeschlossen. Die Anod<
der Diode 232 ist über einen Widerstand 234 an der Leiter 205 und an feststehende Kontakte des logische!
Schalters 58 angeschlossen. Dieser logische Schalter enthält zwei bewegliche Konttakte 226, 247, die wie
dargestellt feststehende Kontakte 244, 245 berühren. Dies ist die Stellung für »Auswahl im unteren Bereich«
des Abfrageradiusschal'.ers 58, in der die Prüfschaltung ein Regelsystem mit der Logik für »Auswahl im unteren
Bereich« durchprüft. In der Mittelstellung des Schalters 58, in der die beweglichen Kontakte 246, 247 die
feststehenden Kontakte 242, 243 berühren, ist die Prüfschaltung angeschlossen zum Testen eines Systems
»Rad-für-Rad«. In der oberen Stellung, in der die
beweglichen Kontakte 246, 247 die feststehenden Kontakte 240, 241 berühren, testet die Prüfschaltung
wirksam ein für »Auswahl im oberen Bereich«.
Die Anode der Diode 233 ist an die Anode beiden Dioden 235 und 236 und auch über einen Widerstand
237 an einen gemeinsamen Anschluß 250 und Leiter 207 angeschlossen, über die ein Signal vom Niederspannungstestkreis
71 für den Magneten (F i g. 4) empfangen wird. Gleichstrom zum Betreiben der Kreise wird vom
Leiter 51 über den Widerstand 238 zum gemeinsamen Anschluß 250 geleitet, der auch an den Leiter 207, den
Widerstand 237 und den Widerstand 251 angeschlossen ist.
Der Leiter 231 ist über einen Widerstand 252 an die Basis eines npn-Transistors 251 angeschlossen, dessen
Emitter geerdet ist. Ein Widerstand 254 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors 253 ist über eine Reihenschaltung aus einer Fotodiode 255 und einem
Widerstand 256 an den Letter 51 angeschlossen. Die Fotodiode 255 leuchtet, wenn ein Verzögerungssignal
(simuliert, wenn der Transistor 266 durchschaltet) zum linken Gebereingangsanschluß geleitet wird. Eine den
Kreis vervollständigende Diode 257 ist zwischen dem Testpunkt Γ und der gemeinsamen Verbindung des
Kollektors des Transistors 253 mit der Kathode der Diode 255 angeschlossen, um über die Fotodiode 255
einen Kreis zu bilden, wenn der Testkreis geerdet ist, wodurch der Betrieb der Fotodiode 255 überprüft wird.
Im Kreis des Transistors 277 ist ein Widerstand 258 zwischen dessen Basis und dessen Emitter angeschlossen,
während dessen Emitter geerdet ist. Die Basis ist auch über einen Widerstand 260 an den Leiter 263 und
an die gemeinsame Verbindung der Dioden 261 und 262 angeschlossen. Die Anode der Diode 261 ist an ein Ende
des Widerstands 251 und an die Anoden beider Dioden 264, 265 angeschlossen. Die Kathode der Diode 264 ist
an die feststehenden Kontakte 245 des Abfragemodusschalters angeschlossen, während die Kathode der
Diode 265 über den Leiter 65 an die Leiter 62 und 80 angeschlossen ist. Die Anode der Diode 262 ist über
einen Widerstand 266 an den Leiter 209 und an den feststehenden Kontakt 241 des Schalters 58 angeschlossen.
Der Leiter 209 empfängt ein Signal vom Niederspannungstestkreis 71 (Fig. 4) des Magneten.
Der Leiter 263 ist über einen Widerstand an die Basis eines npn-Transistors 268 angeschlossen, während
dessen Emitter geerdet ist. Ein Widerstand 270 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors
angeschlossen. Dessen Kollektor ist über einen in Reihe geschalteten Kreis, bestehend aus einer Fotodiode 271
und einem weiteren Widerstand 272 an den Leiter 51 angeschlossen. Eine den Kreis vervollständigende
Diode 273 ist zwischen einem Testpunkt T und der gemeinsamen Verbindung zwischen dem Kollektor des
Transistors 268 und der Kathode der Diode 271 angeschlossen. Dieser Kreis sieht beim Kurzschließen
des Testpunkts T einen Test für die Betriebsfähigkeit der Fotodiode 271 vor. Das Aufleuchten dieser
Fotodiode 271 zeigt anders als beim Testvorgang an, daß das Verzögerungssignal gerade zum rechten
--, Gebereingangsanschluß geliefert wird, bewirkt durch
das Leiten des Transistors 227 zum Erden des Signals, was sonst über den Kondensator geliefert werden
würde. Vor der ins einzelne gehenden Betrachtung des Betriebs dieses Kreises ist es nützlich, den Radabfragetaktgeber
56 und den Verzögerungssignalgenerator 60, die beide in F i g. 6 gezeigt sind, zu beschreiben.
Jeder dieser Kreise ist, wie dargestellt, eine übliche Multivibratoranordnung. Der Radabfragetaktgeber 56
enthält zwei npn-Transistoren 275, 276, Widerstände 277-280 und Kondensatoren 281, 282, die in einem
üblichen astabilen Multivibratorkreis miteinander verbunden sind. Weitere zwei npn-Transistoren 283, 284,
sind als Sperrstufen zwischen den Multivibratorausgangsanschlüssen und den Leitern 63,64 angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors 275 ist über einen Widerstand 285 an die Basis des Transistors 283
angeschlossen, währenddessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor der Sperrstufe 283 ist an den Leiter 63 und
auch über einen Widerstand 286 und den Leiter 57 zum Erregen des Leiters 51 angeschlossen. Der Emitter der
anderen Sperrstufe 284 ist geerdet, deren Basis ist über einen Widerstand 287 an den Kollektor der Stufe 276
angeschlossen und deren Kollektor ist sowohl über einen Widerstand 288 an den Leiter 51 als auch über den
to Leiter 64 an den beweglichen Kontakt 247 des logischen
Schalters angeschlossen.
Der Verzögerungssignalgenerator 60 enthält einen weiteren Multivibratorkreis aus zwei npn-Transistoren
290, 291. Diese Stufe enthält auch Widerstände 291-295 und zwei Kondensatoren 296, 297, die alle in einer
üblichen, astabilen Multivibratoranordnung miteinander verbunden sind. Bei einer bevorzugten Ausführungsform wurde die Zeit zum periodischen Betreiben des
Verzögerungssignalgenerators 60 eine Sekunde und des Radabfragetaktgebers 56 ungefähr zehnmal so lang
gemacht, um eine eine Größenordnung höhere Radauswahlschaltfrequenz vorzusehen als die Frequenz, bei der
das Verzögerungssignal durch den Genenrator 60 vorgesehen wurde.
« Bei der Betrachtung des Betriebs der Kreise 54,55,56
und 60 zusammen mit dem logischen Schalter 58 wird angenommen, daß die Multivibratoren im Radabfragetaktgeber
56 und im Verzögerungssignalgenerator 60 arbeiten und an den Leitern 63,64 vom Kreis 56 und an
5ii den Leitern 61, 62 vom Kreis 60 Ausgangssignak
vorsehen. Bei der dargestellten (Auswahl im unterer Bereich) Stellung des logischen Schalters 58 werden die
Ausgangssignale vom Verzögerungssignalgenerator 6( über den Leiter 61 und die Diode 236 zur Anode dei
Diode 233 und über Leiter 62,65 und die Diode 265 zu:
Anode der Diode 261 geleitet. Es wird wieder darau hingewiesen, daß die Transistoren 226, 227 wahlwcisi
durchgeschaltet werden können, um den Antriel entweder zum linken oder rechten Gebercingangsan
w) Schluß zu erden, während die normale Durchschaltan
steuerung für die Transistoren 226, 227 vom Leiter 5 über den Widerstand 238 zur gemeinsamen Verbindun
250 und von dort über den Widerstand 237, die Diod 233 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistor
b% 226 und über den Widerstand 251, die Diode 261 und de
Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geleite wird. Beim Fehlen jedes Erdungssignals würden beid
Transistoren 226, 227 ununterbrochen durchgeschalti
sein zum Liefern von 1000 Hz Signalen mit konstanter Amplitude zu den linken und rechten Gebereingangsanschlüssen
des logischen Systems.
Es wird nun angenommen, daß im Verzögerungssignalgenerator 60 der Transistor 290 leitet und der
Transistor 291 nicht leitet. Das Leiten des Transistors 290 erdet wirksam die Leitung 61 und dieses
Erdungssignal wird über den Leiter 61 und die Diode 236 gleitet zum Erden des Ansteuerungssignals für den
Transistor 226. Dieser Transistor wird somit abgeschaltet und gestattet dem 1000 Hz Signal einen Übergang
von der Leitung 68 über die Leitung 72 und den Kondensator 73 zum linken Gebereingangsanschluß.
Der Transistor 227 bleibt eingeschaltet und hindert jedes Ausgangssignal an der Überleitung über die
Leitung 76 und den Kondensator 77 zum rechten Gebereingangsanschluß an der Leitung 43. Wenn die
Transistoren 290 und 291 ihre Zustände im Verzögerungssignalgenerator 60 ändern, wird das Ansteuerungssignal
für den Transistor 227 durch das über die Leiter 62, 65 und die Diode 265 geleitete Erdungssignal
gesperrt. Der Transistor 227 wird somit abgeschaltet und das Gebersignal der rechten Seite wird über den
Leiter 76 und den Kondensator 77 zum rechten Gebereingang der Logik im Regelsystem geleitet.
In diesem Zeitpunkt beginnt der Transistor 226 zu leiten und erdet wirksam das linksseitige Gebereingangssignal,
um das 1000 Hz Signal zur Erdung zu leiten, was ein Verzögerungssignal zum linken Geberanschluß
simuliert. Somit werden mit nur dem funktionierenden Verzögerungssignalgenerator 60 Verzögerungssignale
zu den Gebereingangsanschlüssen des Regelsystems 16 geliefert. Jedesmal, wenn ein Ansteuersignal zum
Transistor 226 zu dessen Einschaltung und zum Aberden des linksseitigen Signals zum Simulieren eines Verzögerungssignals
geliefert wird, wird dieses Ansteuersignal über den Leiter 23i und den Widerstand 252 zur Basis
des Transistors 253 geliefert, was diesen Transistor ansteuert und die Fotodiode 255 aufleuchten läßt. Dies
zeigt an, daß die linksseitige Logik im Regelsystem gerade periodisch betrieben wird. In ähnlicher Weise
wird das Einschalten des Transistors 227 durch ein Signal über den Leiter 263 und den Widerstand 267
bewerkstelligt zum Ansteuern des Transistors 268, was die Fotodiode 271 aufleuchten läßt, um anzuzeigen, daß
die rechte Seite des logischen Systems gerade getestet wird. Falls die Logik richtig arbeitet und sogar falls das
Arbeiten des Magnetventils nicht hörbar ist wird das elektrische Ausgangssignal zu den Eingangsleitern 47,
142 in der linken Seite von F i g. 4 geleitet und die Fotodiode 144 wird erleuchtet, um das zufriedenstellende
Arbeiten der Logik im Regelsystem 16 anzuzeigen.
Für größere Systeme, z. B. ein Mehrfachachsensystem für große Lastwageneinheiten mit zwei Gebern an jeder
Achse, wäre es wünschenswert, eine Seite der Logik wiederholt periodisch für eine kurze Zeitdauer und dann
die andere Seite der Logik wiederholt periodisch zu betreiben, um sicher zu sein, welche Seite gerade
periodisch betrieben wurde und um die passenden Ausgangsangaben von nur dieser Seite zu suchen. Es
wäre auch wünschenswert, eine einzige Prüfschaltung zu haben, der für verschiedene Arten von Logiken
arbeiten kann. Zu diesem Zweck wurden der Radabfragetaktgeber 56 und der logische Schalter vorgesehen.
Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetaktgeber 56 in einem Takt periodisch arbeitet, der
wesentlich langer ist als derjenige des Verzögerungssignalgenerators 60, wobei diese Schaltausgangssignale
an den Leitern 63, 64 vorgesehen werden. Die dargestellte Stellung des logischen Schalters 58 ist die
Stellung für »Auswahl im unteren Bereich«. Um die Logik für »Auswahl im unteren Bereich« eines
r, Steuersystems zu testen, ist es nur nötig, eine Seite der
Logik ununterbrochen zu betreiben, oder an einem hohen Niveau, während das andere Signal periodisch
ein- und ausgeschaltet wird, so daß das Abschalten eine schnelle Verzögerung bis zum Wert Null des Drehzahl-
Ki signals simuliert.
Diese stufenarige Verzögerungssimulierung kann erreicht werden durch Einschalten beider Stufen 226,
227 wie bereits beschrieben.
Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetakt-
ii geber 56 sich in dem Zustand befindet, indem der
Transistor 275 nicht leitend und der Transistor 276 leitend ist, wobei bei nichtleitendem Transistor 275 ein
positives Ansteuersignal vom Leiter 51 über die Widerstände 277 und 285 zur Basis des Transistors 283
,-■(i geleitet wird, was diesen Transistor schnell durchschaltet
und die Kathode der Diode 235 über die Schaltkontakte 244, 246 den Leiter 63 und den
Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 283 erdet. Dies nimmt tatsächlich die Ansteuerung vom Transistor
2·-> 226 weg, der abgeschaltet wird. Dies gestattet dem
1000 Hz Signal auf den linken Gebereingangsanschluß überzugehen. Somit ist es während dieses langen
Zeitintervalls, in dem das Erdungssignal an der Kathode der Diode 235 empfangen wird, unwesentlich, daß das
in über die Leitung an der Kathode der anderen Diode 236
empfangene Signal periodisch an- und abgeschaltet wird. 1st jedoch der Transistor 275 im Kreis 56
abgeschaltet, so ist der Transisitor 276 durchgeschaltet und der Transistor 284 abgeschaltet. Somit wird
.is während des gleichen Zeitintervalls ein positives Signal
über den Leiter 64 und die Schaltkontakte 247, 245 an der Kathode der Diode 264 ausgeübt. Demnach ist der
Betrieb dieser Diode 264 im Kreis z. Zt. nicht wesentlich. Jedoch arbeitet der Generator 60 periodisch während
dieses Zeitintervalls, wobei sich die Signale an seinen Ausgangsleitern 61, 62 abwechseln. Jedesmal wenn das
Signal an der Leitung 62 schwach wird, wird die Kathode der Diode 265 geerdet und die Ansteuerung
wird effektiv vom Transistor 227 entfernt, der
«■-, abgeschaltet wird. Wenn der Verzögerungssignalgenerator
60 schaltet, wird das Signal an der Leitung 62 stark und gestattet der normalen Ansteuerung (über Widerstand
251) den Transistor 227 durchzuschalten, der das Signal vom Widerstand 225 erdet. Dies simuliert das
,ο Verzögerungssignal über die Leitung 76 und den
Kondensator 77 zum rechten GebcrcingangsanschluQ des logischen Glieds. Dementsprechend wird det
Transistor 226 gesperrt und während dieses Zeitintcr valls der Transistor 227 periodisch durch- unc
S5 abgeschaltet. Während des nachfolgenden Zeitintcr
valls, wenn der Radabfragetaktgeber 56 auf den Zustam schaltet, in dem die Stufe 275 eingeschaltet und die Stufi
276 abgeschaltet ist, wird der Transistor 227 gesperr und der Transistor 226 periodisch gesteuert, ur
t,(] fortlaufend Verzögerungssignale zum linken Gebe
reingangsanschluß der Logik zu liefern.
Bei dem Zustand des Radabfragetaktgebers 56, i dem der Transistor 275 nicht leitend und der Transistc
263 leitend sind, bewirkt das über den Leiter 63, di
h5 Schaltkontakte 246, 244 und die Diode 235 ausgeübt
Erdungssignal eine wirksame Erdung an der Verbii dung der Diode 233 mit dem Widerstand 237. Di<
nimmt dem Transistor 226 die Ansteuerung, was diese
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Transistor wirksam wegläßt und gestattet, daß ein ununterbrochenes 1000 Hz Signal von der Leitung 68
über den Widerstand 224, den Leiter 72 und den Kondensator 73 auf den linken Gebereingangsanschluß
des Regelsystems ausgeübt wird. Weil dieses Signal ununterbrochen eingeschaltet ist, wogegen das periodische
Arbeiten des Verzögerungssignalgenerators 60 abwechselnd hohe und niedrige Signale erzeugt (über
die Leitungen 62, 65, die Dioden 265, 261 und den Widerstand 260), um abwechselnd den Transistor 227
durch- und abzuschalten, schaltet das periodische Arbeiten des Transistors 227 wirksam das Signal an der
Leitung 76 und am Kondensator 77 zum rechten Gebereingang ein und aus und läßt dieses als das
niedrige Radsignal zum Regelsystem hin auftreten. Nachdem der Radabfragetaktgeber 56 den Zustand
geändert hat, leitet die Sperrstufe 284, und die Sperrstufe 283 wird nicht leitend, während das
Erdungssignal über die Leitung 64, die Schaltkontakte 247,245 und die Diode 264 an der Verbindung der Diode
261 mit dem Widerstand 251 ausgeübt wird. Dies entfernt wirksam die Ansteuerung vom rechtsseitigen
Kreis mit dem Transistor 227, der durchgeschaltet bleibt und die rechte Seite als hohe Seite erscheinen läßt. In
diesem Zeitpunkt betreibt das Ausgangssignal vom Verzögerungssignalgenerator 60, das über den Leiter 61
ausgeübt wird, periodisch die linksseitigen logischen Kreise durch abwechselndes Leitend- und Nichtleitendmachen
des Transistors 226. Dies liefert die Ausgangssignale für »Auswahl im unteren Bereich« zu dem
gerade von der Prüfschaltung getesteten Regelsystem. Es ist wichtig festzustellen, daß dieser Test der logischen
Kreise im Anitblockier-Regelsystem 16 gleichzeitig durchgeführt werden können mit den Messungen der
effektiven Widerstände in den Gleichstromkreisen einschließlich dem Geberwiderstandstestkreis 75 und
dem Magnetwiderstandstestkreis 48. Dieses gleichzeitige Arbeiten der Kreise vermindert die zum Prüfen eines
vollständigen Regelsystems erforderliche Zeit bedeutend.
Um ein Regelsystem zu testen, indem die Logik in einer Anordnung für »Auswahl im oberen Bereich«
angeschlossen ist, in der das die Drehzahl des Rads mit der höheren Drehzahl anzeigende Signal verwendet
wird, wird der Abfragemodusschalter 58 aus der in F i g. 5 und F i g. 6 angegebenen Stellung in die Stellung
verschoben, in der die beweglichen Kontakte 146, die feststehenden Kontakte 240,241 berühren. In dieser
Stellung sind die Dioden 235, 264 in deren Radabfragetaktgeber unwirksam. Der Verzögerungssignalgenerator
60 arbeitet wie vorher und liefert die Schaltsignale über die Leitungen 61, 62 zu den Dioden 236, 265. In
dieser Stellung des Abfragemodusschalters steht jedoch eine andere Ansteuerungsquclle zur Verfügung zum
Durchschalten der Transistoren 226, 227. Es wird angenommen, daß sich der Radabfragetaktgeber 56 in
der Stellung mit durchgeschaltetem Ausgangstransistor 275 und abgeschalteter Sperrstufe 283 befindet. Es wird
dann ein Ansteuerungssignal vorn Leiter 51 über den Leiter 57, den Widerstand 286, den Leiter 63, die
Schaltkontakte 246, 240, den Widerstand 234, die Diode 232 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistors
226 geliefert. Somit ist der Transistor 226 so lange durchgeschaltet wie der Radabfragetaktgeber 56 in der
erwähnten Stellung bleibt, wobei die Sperrstufe abgeschaltet ist. Ist die Stufe 226 leitend, so wird das
Signal zum linken Gebereingangsanschluß dauernd gesperrt. Das linke Gebersignal ist dann das niedrige
Signal, weil es dauernd Null ist, während das rechtsseitige Gebereingangssignal verändert wird.
■ Wenn der konstante Langzeitkreis in dem Radabfragetaktgeber
56 umschaltet, so daß die Sperrstufe 283 leitend wird und die Stufe 284 nicht leitend wird, wird
ein Ansteuersignal von der Leitung 51 über den Widerstand 288, den Leiter 64, die Schaltkontakte 247,
ιυ 241, den Widerstand 266, die Diode 262 und den
Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geliefert, was diesen Transistor anhält und das rechtsseitige
Geberausgangssignal erdet. Unter diesen Bedingungen ist das rechtsseitige Signal das niedrige Signal, während
υ das linksseitige Gebersignal ständig periodisch ein- und ausgeschaltet wird, wenn der Verzögerungssignalgenerator
60 arbeitet.
Bei diesem Betrieb wirkt das von einem der Kondensatoren 73 oder 77 gelieferte Verzögerungssi-
-'n gnal über die logische Schaltung in dem zu testenden
Regelsystem, um ein Betätigungssignal zum Magneten zu liefern. Um eine Verwirrung während des Magnetniederspannungstests
zu vermeiden, der mit dem oben in Verbindung mit Fig.4 beschriebenen Kreis 71
J") bewerkstelligt wird, wird der Transistor 203 in dem
Magnetniederspannungstestkreis 71 durchgeschaltet, um ein Erdungssignal am Leiter 70 zu liefern, das durch
Dioden 204, 206 und 208 über Leiter 205,207 und 209 zu den angegebenen Kreisstellungen in F i g. 5 geleitet
>ii wird. Die Erdung am Leiter 207 entzieht den Kreisen
über die Dioden 235, 236, 264 und 265 wirksam jegliche Ansteuerung. Die Erdung am Leiter 205 bedeutet, daß
der Transistor 226 nicht durch das über den Widerstand 234 empfangene Signal durchgeschaltet werden kann,
!"> während in ähnlicher Weise die Erdung am Leiter 209 ein Durchschaltsignal an der Überleitung über den Kreis
mit dem Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 hindert. Unter diesen Bedingungen können die logischen
Kreise im Regelsystem nicht periodisch betrieber ><) werden, weil keiner der Transistoren 226, 227 in der
Schalteinheit 55 durch- oder abgeschaltet werden kann Dieser ist gesperrt, während der Niederspannungsmagnettest
durchgeführt wird. Dieser Test wird angezeigt durch das Aufleuchten der Fotodiode 200, wenn dei
« Transistor 198 zur gleichen Zeit durchgeschaltet wire
wie der Transistor 203 angesteuert wird zum Erzeuger der Erdungs- oder Abhaltesignale über die Leiter 205
207 und 209.
Um ein Rad-für-Rad-System zu testen, in dem keim ■"'|>
Logik vorhanden ist zum Auswählen entweder de höheren oder niedrigeren Signals von zwei oder meh
Raddrehzahlanzeigesignalen, wird der Abfragemodus schalter 58 verstellt, so daß die beweglichen Kontakt
246, 247 die freien Kontakte 242, 243 berühren. I diesem Zustand des Kreises werden die von Radabfra
getaktgeber 56 über die Leiter 63, 64 geleitete Ausgangssignale in der Schalteinheit nicht verwende
Es werden jedoch noch die Signale von Verzögerung; signalgenerator 16 über den Leiter 61 und die Diode
236, die Dioden 233 und über den Leiter 62 und di Diode 265 ausgeübt, um die Schalttransistoren 226, 22
periodisch zu betreiben. Somit empfangen die linke und rechten Gebereingangsanschlüsse Verzögerung;
signale, wenn der Verzögerungssignalgenerator 6 periodisch arbeitet ohne irgendwelche Änderung de
Arbeitsweise durch den Radabfragetaktgeber 56.
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
Claims (19)
1. Prüfschaltung für ein Antiblockier-Re; stern,
das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern \ jundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die
letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator
und einer Spulenprüfschaltung, wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblokkier-Regelschaltung
verbindbar ist und dieser gleichmäßigem Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die
Spulenprüfschaltung mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung verbunden ist, d a durch
gekennzeichnet, daß sie eine Schalt- iä einheit (55) aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgenerator
(54) mit den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbindbar ist, daß sie einen
Verzögerungssignalgenerator (60) aufweist, dessen Ausgang mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und
dieser Verzögerungssignale übermittelt, durch die die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale
durch die Schalteinheit (55) freigegeben und unterbunden wird; daß der Verzögerungssignaigenerator
(60) ferner mit Eingängen der Spulenprüf-Schaltung (48) und eines dieser zugeordneten
Spulenprüfmodusumschalters (71) verbunden ist und zusammen mit dem Letzteren über die Verzögerungssignale
eine Umschaltung des Spulenprüfmodus von der Prüfung im simulierten Betrieb unter
Einbeziehung der Antiblockier-Regelschaltung (16) auf die Prüfung des Spulenstandes sowie auf Prüfung
des Durchganges des Erregerspulenkreises bewirkt; daß ein Geberprüfkreis (75) vorgesehen ist, der mit
den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbunden J5 ist und feststellt, ob deren Widerstand innerhalb
eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt; und daß ein Abfragemodusschalter (58) vorgesehen ist,
der mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und das Anlegen von Radgeschwindigkeitssignalen an die
Ausgänge der Schalteinheit (55) steuert.
2. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Geberprüfkreis (75) einen
ersten Vergleichswiderstand (111) für den oberen Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines
Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) und einen zweiten Vergleichswiderstand (140) für den unteren
Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) aufweist; daß
der Geberprüfkreis (75) für jeden der Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) eine erste Diskriminatorstufe
für den oberen Grenzwert (106; 124) und eine zweite Diskriminatorstufe für den unteren Grenzwert (116,
105; 122, 127) aufweist, bei denen ein erster Eingang jeweils mit einem Eingangswiderstand (118; 125)
verbunden ist, welcher zusammen mit dem zugeordneten Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) einen
Spannungsteiler bildet, und ein zweiter Eingang mit dem entsprechenden Vergleichswiderstand (111,
140) verbunden ist; und daß die einem Radgeschwin- bo
digkeitsgeber (14; 19) zugeordneten Diskriminatorstufen
den Eingang eines diesem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Anzeigekreises (101. 102:
130,131) beaufschlagen.
3. Prüfschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Diskriminatorstufen jeweils
einen Eingangstransistor (106, 116, 122, 124) aufweisen, dessen Kollektor-Emittervorspannung
über den entsprechenden Vergleichswiderstand (111, 140)einstellbar ist.
4 Prüfschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils eine der einem Radgeschwindigkeitsgeber
zugeordneten Diskriminatorsiufen
einen Inverter (105; 327) aufweist, so daß das Ausgangssignal der ersten Diskriminatorstufe (106;
124) bei Überschreiten des oberen Grenzwertes und das Ausgangssignal der zweiten Diskriminatorstufe
(116 105; 122, 127) bei Unterschreiten des unteren Grenzwertes gleiche Polarität aufweisen.
5 Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichswiderstände
für den oberen und unteren Grenzwert durch Potentiometer(lll, 140)gebildet sind.
6 Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung (48) einen ersten Referenzwiderstand (148) für
den oberen Grenzwert des Widerstandes der Erregerspule (37) und einen zweiten Referenzwiderstand
(172) für den unteren Grenzwert des Widerstandes der Erregerspule (37) aufweist; daß
die Spulenprüfschaltung (48) eine erste mit der Erre<*erspule (37) und dem ersten Referenzwiderstand
(148) verbundene Diskriminatorschaltung (161,164) für den oberen Grenzwert und eine zweite
mit ' der Erregerspule (37) und dem zweiten Referenzwiderstand (172) verbundene Diskriminatorschaltung
(158) für den unteren Grenzwert aufweist; und daß die beiden Diskriminatorschaltungen
(161, 164; 158) den Eingang eines Widerstandsanzeigekreises (156, 157) beaufschlagen, durch
welchen ein im vorgebenen Widerstandsbereich liegender Widerstand der Erregerspule (37) angezeigt
ist.
7. Prüfschaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstandsanzeigekreis
einen Einschalttransistor (157) und eine in Reihe geschaltete Leuchtdiode (156) aufweist, wobei die
Basis des Einschalttransistors (157) über die Kollektor-Emitterstrecke eines Ausgangstransistors
(158) der zweiten Diskriminatorschaltung in Durchlaßrichtung vorgespannt ist, wenn der Widerstand
der Erregerspule (37) über dem unteren Grenzwert liegt, und über die Kollektor-Emitterstrecke eines
Ausgangstransistors (164) der ersten Diskriminatorschaltung mit der Emitterklemme des Einschalttransistors
verbindbar ist, wenn der Widerstand der Erregerspule über dem oberen Grenzwert liegt.
8. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die Erregerspule fest mit der ersten Klemme
einer Betriebsstormquelle verbunden ist und über die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten
Klemme der Betriebsstromquelle verbindbar ist, gekennzeichnet durch einen Funktionsanzeigekreis,
welcher eine einerseits mit der ersten Klemme der Betriebsstromquelle und andererseits mit der mit der
Antiblockier-Regelschaltung (16) verbundenen Klemme (142) der Erregerspule (37) verbundene
Leuchtdiode (144) aufweist.
9. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung
(48) einen durch die vom Verzögerungssignalgenerator (60) gelieferten Verzögerungssignale
gesteuerten Klemmenumschalter (153, 170, 173) aufweist, über den die mit der Antiblockier-Regelschaltung
(16) verbundene Klemme (142) der Erregerspule (37) über den zweiten Referenzwider-
tand (172) mit der Klemme der Betriebsstromquelle verbindbar ist, mit der sie auch über die Antiblokcier-Regelschaltung
(16) verbindbar ist, oder mit ;iner Hilfversorgungsklemme verbindbar ist, welche
;in von der anderen Klemme der Betriebsstromquel-Ie nur wenig verschiedenes Potential aufweist.
10. Prüfschaltung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfsversorgungsquelle die
Kathode einer mit dem positiven Pol der Betriebsstromquelle verbundenen Zenerdiode (151) ist.
11. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
10, gekennzeichnet durch einen Spulenprüfmodusunischalter
(71), der einen Taktgeber (185, 186) aufweist und in Abständen der Schalteinheit (55)
Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale
vom Geschwip-iigkeitssignalgenerator (54) an die Aniiblockier-Regelschaltung
(16) weitergegeben werden, so daß die Erregerspule (37) über die Antiblockier-Regelschaltung für vorgegebene
Zeitspannen nicht mit Erde verbunden wird.
12. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
11, dadurch gekennzeichnet, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern
(14, 19) zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit (55) jeweils über einen Vorschaltwiderstand (224, 225) mit dem Ausgang
des Geschwindigkeitsgenerators (54) verbunden sind und über ihnen zugeordnete steuerbare Schalter
(226,227) getrennt an Erde kurzschließbar sind.
13. Prüfschaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die steuerbaren Schalter (226,
227) durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die
Schließsignale aller steuerbaren Schalter (226, 227) zugleich durch den Spulenprüfmodusumschalter (71)
kurzschließbar sind; daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226, 227) gemäß den am
Ausgang des Verzögerungssignalgenerators (60) anstehenden Verzögerungssignalen kurzschließbar
sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226,227) gemäß den Signalen an den ihnen
zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters (58) kurzschließbar sind.
14. Prüfschaltung nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß jedem der steuerbaren
Schalter (226,227) ein Schließanzeigekreis (253,255;
268,271) zugeordnet ist.
15. Prüfschaltung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Schließanzeigekreise Anzeigeschalter
(253, 268) aufweisen, die durch Ausgangssignale des Spulenprüfmodusschalters (71)
betätigbar sind.
16. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfragemodusschalter
(58) einen Umschalter (246) mit einer Anzahl von Arbeitsstellungen aufweist, die um eins
größer ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber (14, 19), wobei jeweils in einer der Arbeitsstellungen
des Schließsignals eines dieser Stellung zugordneten Steuerschalters (226, 227) erhalten bleibt,
während die restlichen Schließsignale kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten Arbeitsstellung
die steuerbaren Schalter (226, 2227) nacheinander aktiviert werden.
17. Prüfschaltung nach Anspruch 16, dadurch b5
gekennzeichnet, daß der Abfragemodusschalter (58) mit einem Radabfragetaktgeber (56) verbunden ist,
welcher in der letzten Arbeitsstellung des Radabfragemodusschalters (58) die nacheinander in vorgegebener
Reihenfolge stattfindende Aktivierung der steuerbaren Schalter (226,227) steuert.
18. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
17, gekennzeichnet durch einen Netzprüfkreis (46).
19. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
18, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigekreise der Prüfschaltung jeweils eine Prüfklemme (T)
aufweisen, über die sie gesondert mit Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit
überprüfen zu können.
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