DE2338859C3 - Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem, das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern verbundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator und einer Spulenprüfschaltung, wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblockier-Regelschaltung verbindbar ist und dieser dem gleichmäßigen Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die Spulenprüfschaltung mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinricntung verbunden ist

Antiblockier-Regelsysteme werden im Eisenbahnwesen, in Flugzeugen und in Kraftfahrzeugen verwendet, um das Blockieren von Rädern zu verhindern. Sie weisen in der Regel einen oder mehrere Radgeschwindigkeitsgeber auf, welche etwa durch Induktionsspulen gebildet sein können, die mit genuteten zusammen mit den Rädern umlaufenden Trommeln zusammenarbeiten. Die von den Radgeschwindigkeitsgebern erzeugten Impulszüge stellen Radgeschwindigkeitssignale dar, die auf den Eingang einer Antiblockier-Regelschaltung gegeben werden. Wird von der letzteren eine unzulässig starke Abnahme der Radgeschwindigkeit, d. h. eine zu starke Verzögerung eines Rades, welche ein Blockieren nach sich ziehen könnte, festgestellt, so betätigt die Antiblockier-Regelschaltung eine Druckentlastungseinrichtung. Diese weist oft ein elektromagnetisch betätigtes Druckminderungsventil auf, dessen Erregerspule einerseits fest mit der ersten Klemme einer BetriebsstromqueUe verbunden ist und andererseits über die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten Klemme der BetriebsstromqueUe verbunden ist. Im folgenden werden diese Klemmen auch als positive Klemme und Erde bezeichnet. Die nachstehenden Ausführungen gelten jedoch sinngemäß auch für Antiblockier-Regelsysteme in Fahrzeugen, bei denen die positive Klemme der Betriebsstromquelle das Erdpotential darstellt.

Durch die bekannten Antiblockier-Regelsysteme kann das Bremsverhalten von Fahrzeugen wesentlich verbessert werden (Verkürzung des Bremsweges, Verhindern des Schleuderns). Andererseits sind sie sowohl im mechanischen als auch im elektronischen Teil verhältnismäßig kompliziert aufgeDaut. In der US-PS 32 75 384 ist daher eine Prüfschaltung für ein Antiblokkier-Regelsystem angegeben, welche einen Geschwindigkeitssignalgenerator aufweist. Dieser gibt Signale mit ei.ier Frequenz von 400 Hz auf die mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbundenen Eingänge der Antiblockier-Regelschaltung. Sind die Induktionsspulen der Radgeschwindigkeitsgeber nicht gegen Erde kurzgeschlossen, so arbeitet die Antiblockier-Reeelschal-

tung beim Erhalten der simulierten Radgeschwindigkeitssignale genauso, wie wenn die Räder des Fahrzeuges mit einer bestimmten konstanten Geschwindigkeit laufen. Trennt man den Geschwindigkeitssignalgenerator von den Eingängen der Antiblokkier-Regelschaltung ab, so arbeitet die Antiblockier-Regelschaltung genau so, wie wenn alle Räder vollständig blockieren. Durch Beobachten der Spannung an der mit Erde verbindbaren Klemme der Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung kann das richtige Arbeiten der Antiblockier-Regelschaltung festgestellt werden, sofern das andere Ende der Erregerspule richtig mit der positiven Klemme der Betriebsstromquelle verbunden ist.

Die bekannte Prüfschaltung erlaubt jedoch nicht festzustellen, ob die Induktionsquelle eines Radgeschwindigkeitsgebers oder die Verbindung zu derselben unterbrochen ist. Ein derartiger Fehler führt im Betrieb dazu, daß die Druckentlastungsvorrichtung fälschlicherweise stets betätigt wird, wodurch der Bremsweg stark verlängert wird und ein sicherer Betrieb der Fahrzeugbremsen nicht mehr gewährleistet ist. Ferner kann nicht festgestellt werden, ob der Widerstand des Induktionsspulenkreises der Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt (Erkennung von Wackelkontakten mit hohen Übergangswiderständen oder von hochohmigen Kurzschlüssen gegen Erde). Genauso wenig kann ermittelt werden, welcher Radgeschwindigkeitsgeber defekt ist. Schließlich bleibt bei der Prüfung mit der bekannten Prüfschaltung offen, ob der Widerstand der Erregerspule innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsberciches liegt und ob die Verbindungen des Erregerspulenkreises frei von hohen Übergangswiderständen sind. Damit wird die Betriebssicherheit des Antiblockier-Regelsystem nicht zufriedenstellend geprüft.

Durch die Erfindung soll dagegen eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem angegeben werden, durch welche die möglichen Fehler in einem Antiblokkier-Regelsystem umfassend und zuverlässig erkannt sowie zur Anzeige gebracht werden.

Diese Aufgabe ist ausgehend von der oben beschriebenen Prüfschaltung dadurch gelöst, daß diese eine Schalteinheit aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgenerator mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbindbar ist; daß sie einen Verzögerungssignalgenerator aufweist, dessen Ausgang mit der Schalteinheit verbunden ist und dieser Verzögerungssignale übermittlet, durch die die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale durch die Schalteinheit freigegeben und unterbunden wird; daß der Verzögerungssignalgenerator ferner mit Eingängen der Spulenprüfschaltung und eines dieser zugeordneten Spulenprüfmodusumschalters verbunden ist und zusammen mit dem letzteren über die Verzögerungssignale eine Umschaltung des Spulenprüfmodus von der Prüfung im simulierten Betrieb unter Einbeziehung der Antiblockier-Rcgelschaltung auf die Prüfung des Spulenwiderstandes sowie auf Prüfung des Durchganges des Erregerspulenkreises bewirkt; daß ein Geberprüfkreis vorgesehen ist, der mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbunden ist und feststellt, ob deren Widerstand innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt; und daß ein Abfragemodusschalter vorgesehen ist, der mit der Schalteinheit verbunden ist und das Anlegen von Radgeschwindigkeitenssignalen an die Ausgänge der Schalteinheit steuert

Durch die erfindungsgemäße Prüfschaltung werden die möglichen Fehlerstellen eines Antiblockier-Regelsystems einfach, umfassend und schnell geprüft um beobachtete Fehler lassen sich auch leicht lokalisieren.

Dies wird dadurch erreicht, daß die Schalteinheit zun Herstellen der bei den verschiedenen Prüfungei (Funktionsprüfung im simulierten Antiblockier-Regel betrieb, Widerstandsprüfungen) jeweils erforderlichei Verbindungen zwischen dem Geschwindigkeitssignal generator und dem Verzögerungssignalgenerator einer seits sowie dem Geberprüfkreis, der Antiblockier-Re

ίο gelschaltung und der Spulenprüfschaltung andererseit vorgesehen ist. Der Aufbau dieser Verbindungen wire durch den Abfragemodusumschalter und den Spulen prüfkreismodusumschalter gesteuert.

In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung is gemäß Anspruch 2 vorgesehen, daß der Geberprüfkrei einen ersten Vergleichswiderstand für den oberer Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radge schwindigkeitsgebers und einen zweiten Vergleichs widerstand für den unteren Grenzwert des zulässiget Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers auf weist; daß der Geberprüfkreis für jeden der Radge schwindigkeitsgeber eine erste Diskriminatorstufe füi den oberen Grenzwert und eine zweite Diskriminator stufe für den unteren Grenzwert aufweist, bei denen eir erster Eingang jeweils mit einem Eingangswiderstanc verbunden ist, welcher zusammen mit dem zugeordne ten Radgeschwindigkeitsgeber einen Spannungsteilei bilden, und ein zweiter Eingang mit dem entsprechen den Vergleichswiderstand verbunden ist; und daß die einem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Diskri minatorstufen den Eingang eines diesem Radgeschwin digkeitsgeber zugeordneten Anzeigekreises beaufschla gen.

In der US-PS 36 28 099 ist zwar eine Schaltunj

beschrieben, durch welche festgestellt werden kann, oi ein Widerstand in ein enges Widerstandsintervall fäll oder nicht. Dabei dient jedoch die Schaltung al: elektrisches Schloß und ein entsprechender Widerstanc als Schlüssel, während bei der Erfindung jeden Radgeschwindigkeitsgeber eine Diskriminatorstufe füi die obere Grenze und eine für die untere Grenze dei Widerstandsbereiches zugeordnet ist. Dabei ist jeweih ein gemeinsamer Vergleichswiderstand für den oberer Grenzwert bzw. den unteren Grenzwert gemeinsam füi die Diskriminatorstufen gleicher Funktion vorgesehen. Vorzugsweise sind gemäß Anspruch 5 die Vergleichs widerstände Potentiometer. Damit läßt sich ein« Prüfschaltung ohne weiteres an unterschiedliche Radge schwindigkeitsgeber anpassen.

In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung is gemäß Anspruch 9 vorgesehen, daß die Spulenprüf schaltung einen durch die vom Verzögerungssignal generator gelieferten Verzögerungssignale gesteuerter Klemmschalter aufweist, über den die mit dei Antiblockier-Regelschaltung verbundene Klemme dei Erregerspule über den Referenzwiderstand für dei unteren Grenzwert des Erregerspulenwiderstandes mi' der Klemme der Betriebstromquelle verbindbar ist mi der sie auch über die Antiblockier-Regelschaltunj verbindbar ist, oder mit einer Hilfsversorgungsklemnu verbindbar ist, welche ein von der anderen Klemme dei Betriebsstromquelle nur wenig verschiedenes Potentia aufweist.

Damit kann die Spulenprüfschaltung zwischen zwe

b5 Prüfarten »Widerstandsmessung« und »Verbindungs prüfung« umgeschaltet werden, wobei zur Umschaltung die periodischen Verzögerungssignale verwendet wer den können. Die »Widerstandsmessung« erfolgt mit de

vollen Spannung der Betriebsstromquelle und erlaubt somit eine genaue Messung des Spulenwiderstandes. Dagegen erfolgt die »Verbindungsprüfung« mit einer kleinen Spannung, so daß hohe Übergangswiderstände an Verbindungsslellen (etwa Steckverbindungen zu Anhängern) erkannt werden können.

In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 11 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen Spulenprüfmodusumschalter aufweist, der einen Taktgeber aufweist und in Abständen der Schalteinheit Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale vom Geschwindigkeitssignalgenerator an die Antibiockier-RegelschaUung weitergegeben werden, so daß die Erregerspule über die Antiblockier- is Regelschaltung für vorgegebene Zeitspannen nicht mit Erde verbunden wird.

Damit wird eine Umschaltung der Prüfung des Antiblockier-Regelsystems von »Funktionsprüfung im simulierten Antiblockier-Regelbetrieb« auf »Wider-Standsmessung« oder »Verbindungsprüfung« erhalten.

In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 12 vorgesehen, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit jeweils über einen Vorschaltwiderstand mit dem Ausgang des Geschwindigkeitssignalgenerators verbunden sind und über ihnen zugeordnete steuerbare Schalter getrennt an Erde kurzschließbar sind. Für jedes Prüfprogramm kann somit in einfacher Weise die entsprechende Aktivierung der steuerbaren Schalter bewerkstelligt werden.

!n vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist gemäß Anspruch 13 vorgesehen, daß die steuerbaren Schalter durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die Schließsignale aller steuerbaren Schalter zugleich durch den Spulenprüfmodusschalter kurzschließbar sind; daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß den am Ausgang des Verzögerungssignalgenerators anstehenden Verzögerungssignaien kurzschiießbar sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß den Signalen an den ihnen zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters kurzschließbar sind.

Hierdurch wird eine besonders einfache Betätigung der steuerbaren Schalter durch die den Prüfablauf steuernden Signale erreicht, welche vom Prüfmodusumschalter, vom Verzögerungssignalgenerator und vom Radabfragemodusschalter auf die Schalteinheit gegeben werden.

Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 16 vorgesehen, daß der Abfragemodusschalter einen Umschalter mit einer Anzahl von Arbeitsstellung aufweist, die um eins größer ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber, wobei jeweils in einer der Arbeitsstellungen das Schließsignal eines dieser Stellung zugeordneten steuerbaren Schalters erhalten bleibt während die restlichen Schließsignale kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten Arbeitsstellung die steuerbaren Schalter nacheinander aktiviert werden.

Dabei können zu Beginn der Prüfvorganges die den verschiedenen Rädern zugeordneten Teile des Antiblockier-Regelsystem automatisch nacheinander geprüft werden. Wird ein Fehler beobachtet, kann durch Drehen des Umschalters von Hand der einem bestimmten Rad zugeordnete fehlerhafte Kreis ermittelt werden.

Ferner ist gemäß Anspruch 18 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen Netzprüfkreis aufweist. Damit kann geprüft werden, ob das Antiblockier-Regelsystem und die Prüfschaltung ausreichend mit Energie versorgt werden.

Für die einzelnen Prüffunktionen sind jeweils Anzeigekreise vorgesehen, die gemäß Anspruch 19 Prüfklemmen aufweisen, über die sie gesondert an Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit überprüfen zu können.

Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den übrigen Unteransprüchen angegeben.

Damit wird durch die Erfindung insgesamt eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem geschaffen, das festzustellen erlaubt, ob ein Fehler im Antiblockier-Regelsystem vorliegt, welchem Rad der fehlerhafte Teil zuzuordnen ist, und ob der Fehler in den Radgeschwindigkeitsgebern, der Antibiockier-Regelschaltung, der Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung, den Verbindungen im Erregerspulenkreis oder in der Energieversorgung zu suchen ist. Zugleich sind Prüfkreise zum Feststellen der Funktionsfähigkeit der Prüfschaltung selbst vorgesehen.

Die erfindungsgemäße Prüfschaltung kann bei beliebigen Antiblockier-Regelsystemen verwendet werden, die mit einer Netzleitung zu ihrer Versorgung verbunden sind und mit mindestens einem Radgeschwindigkeitsgeber und einer Erregerspule zusammenarbeiten.

Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. In dieser zeigt

Fig. 1 ein Antiblockier-Regelsystem in Verbindung mit einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;

Fig. 2 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;

F i g. 3 das Schaltbild eines Netzprüfkreises und eines Geberprüfkreises gemäß der Erfindung;

F i g. 4 das Schaltbild einer Spulenprüfschaltung und eines Spulenprüfmodusumschalters gemäß der Erfindung;

F i g. 5 das Schaltbild eines Geschwindigkeitssignalgenerators einer Schalteinheit und eins Radabfragemodusschalters gemäß der Erfindung; und

Fig. 6 das Schaltbild eines Radabfragetaktgebers sowie eines Verzögerungsgenerators zur Verwendung in der erfindungsgemäßen Prüfschaltung.

In F i g. 1 und 2 sind mit 10 und 12 zwei Radsätze eines Lastkraftwagens bezeichnet, die auf einer ersten Achse 11 bzw. einer zweiten Achse 13 angeordnet sind. Dem ersten Radsatz 10 ist ein erster Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnet, während dem zweiten Radsatz 12 ein zweiter Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnet ist. Die Radgeschwindigkeitsgeber können induktive Geber sein, welche eine Induktionsspule aufweisen, mit der magnetische Feldänderungen erfaßt werden können und entsprechende Radgeschwindigkeitkeitssignale erzeugt werden. Es können jedoch auch andere Radgeschwindigkeitsgeber verwendet werden, die eleltrische Ausgangssignale oder in solche umsetzbare Ausgangssignale erzeugen, die sich mit der Geschwindigkeit eines Rades ändern.

Über Signalleitungen 15 bzw. 17 sind die Radgeschwindigkeitsgeber 14 und 19 mit ihnen zugeordneten Eingängen einer Antibiockier-Regelschaltung 16 verbunden.

Die Bremsanlage weist einen Druckbehälter 18 für unter Druck stehende Druckmittel (etwa Druckluft) auf. Beim Betätigen eines Bremspedales 24 wird über eine

Leitung 25 ein Signal an eine Druckmittelsteuereinheit

23 geleitet. Diese stellt dann eine Verbindung zwischen einer vom Druckbehälter 18 herkommenden Druckmitelleitung 20 und einer weiteren Druckmittelleitung 26 her, so daß Druckmittel über mit der Leitung 26 verbundene Druckleitungen 27 und 28 zu Radbremszylindern 30 und 31 strömt. Der Radbremszylinder 30 betätigt über ein Bremsgestänge 32 die Bremsen des Radsatzes 10, der Radbremszylinder 31 über Bremsgestänge 33 die Bremsen des Radsatzes 12.

Durch das Bremspedal 24 wird ferner ein nicht dargestellter Bremslichtschalter betätigt, der über eine Leitung 34 die Bremsleuchten des Fahrzeuges mit Energie aus einer nicht dargestellten Betriebsstrorr·- quelle versorgt. Über die Leitung 34 wird zugleich die Antiblcckäer-Regelschaitung 16 eingeschaltet.

Wird einer der Radsätze zu stark abgebremst, so erzeugt die Antiblockier-Regelschaltung ein Druckentlastungssienal, das über eine Leitung 35 an eine Pruckentlastungseinrichtung 36 weitergegeben wird. Diese ist hier durch ein Magnetventil gebildet, das eine Erregerspule 37 aufweist. Die Erregerspule wird beim Vorliegen eines Druckentlastungssignals auf der Leitung 35 mit Energie versorgt, wodurch das Magnetventil betätigt wird und der Druck des den Radbremszylindern zugeführten Druckmittels herabgesetzt wird. Damit wird ein Blockieren der Radsätze vermieden.

Eine erfindungsgemäße Prüfschaltung ist über eine Versorgungsleitung 41 mit der Antiblockier-Regelschaltung 16 verbunden und wird über diese mit der Betriebsstromquelle verbunden, wenn das Bremspedal

24 betätigt wird. Über eine Leitung 42 ist die Prüfschaltung 40 mit der Signalleitung 15 und damit mit dem Radgeschwindigkeitsgeber für den in Fi g. 1 linken Radsatz 10 verbunden, während sie über eine Leitung 43 mit der vom rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 herkommenden Signalleitung 17 verbunden ist. Ein weiterer Eingang der Prüfschaltung 40 ist über eine Leitung 44 mit der Leitung 35 verbunden und damit mit der Erregerspule 37 und dem Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung 16, an dem das Druckentlastungssignal bereitgestellt wird.

In Fig. 1 sind die Verbindungsstellen zum Anschluß der Prüfschaltung 40 außerhalb der Antiblockier-Regelschaltung liegend dargestellt, und die Prüfschaltung 40 ist durch getrennte Leiter angeschlossen. In der Praxis bereitet es keinerlei Schwierigkeiten, auf einem die Antiblockier-Regelschaltung 16 aufnehmenden Gehäuse eine Steckdose vorzugsehen, an die ein direkt oder über ein Kabel mit der Prüfschaltung 40 verbundener Stecker angeschlossen werden kann, um die erforderlichen Verbindungen herzustellen.

Wie F i g. 2 zeigt, wird die Netzgleichspannung über eine Leitung 45 auf einen Netzprüfkreis 46 und über eine Leitung 47 auf eine Versorgungsklemme einer Spulenprüfschaltung 48 gegeben. Der Netzprüfkreis 46 erzeugt ein Signal, wenn die Netzgleichspannung so groß ist, daß sie zum ordnungsgemäßen Setrieb der in F i g. 1 dargestellten Antiblockier-Regelschaltung 16 ausreicht Die Netzgleichspannung wird vom Netzprüfkreis 46 an ein Netzteil 50 weitergegeben, das eine einfache Spannungsstabilisierungsstufe aufweisen kann. Über Verteilerleitungen 51, 52 und 53 wird eine stabilisierte Gleichspannung an einzelne Bausteine der Prüfschaltung weitergeleitet.

Über die Verteilerleitung 51 wird, wie F i g. 2 zeigt ein Geschwindigkeitssignalgenerator 54, eine Schalteinheit 55, ein Abfragemodusschalter 58, ein Radabfragetaktgeber 56 und ein Verzögerungssignalgenerator 60 mit Energie versorgt. Der Verzögerungssignalgenerator 60 kann ein einfacher Multivibrator oder ein anderer Schalter sein, der an seinen Ausgangsklemmen 61 und 62 entgegengesetzte Signale bereitstellt. Ist der Verzögerungssignalgenerator ein Multivibrator, so weist die Ausgangsklemme 61 ein hohes Potential gegen Erde und die Ausgangklemme 61 ein hohes Potential gegen Erde auf und umgekehrt. Der Verzögerungssi-

iü gnalgenerator kann auch Verzögerungssignale herstellen, die keine Rechteckimpulse sind. Auch durch sie kann die Antiblockier-Regelschaltung 16 aktiviert werden. Zum Beispiel können Verzögerungssignale mit schräger Anstiegsflanke z. B. Sägezahnspannungssigna-Ie oder Spannungssignale mit dreieckiger Form verwendet werden, solange der Anstieg des an den Ausgangsklemmen 61 und 62 bereitgestellten Verzögerungssignals größer ist als der Anstieg des Verzögerungssignals, bei dem die entsprechenden Schaltkreise der Antiblockier-Regelschaltung 16 ansprechen.

Auch der Radabfragetaktgeber 56 kann ein Multivibrator sein, der an seinen Ausgangsklemmen 63 und 64 sich in entgegengesetztem Sinne ändernde Ausgangssignale bereitstellt. Diese Ausgangssignale werden auf den Abfragemodusschalter 58 gegeben. Die jeweils über Leiter 66 und 67 vom Abfragemodusschalter 58 auf die Schalteinheit 55 weitergegebenen Signale hängen von der Schaltstellung des Abfragemodusschalters 58 ab. Der Abfragemodusschalter 58 stellt ein wesentliches Merkmal der Erfindung dar, da er ermöglicht, daß eine einzige Prüfschaltung 40 in Verbindung mit verschiedenen Antiblockier-Regelschaltungen 16 verwendet werden kann, welche nach dem Prinzip der Auswahl des hohe Verzögerung aufweisenden Rades, dem Prinzip der Auswahl des niedere Verzögerung aufweisenden Rades und dem Prinzip der Abfrage der einzelnen Räder nacheinander arbeiten. Der Schalteinheit 55 werden neben den durch den Abfragemodusschalter 58 erzeugten Signalen und den durch den Verzögerungssignalgenerator 60 erzeugten Verzögerungssignalen über eine Leitung 68 die vom Geschwindigkeitssignalgenerator 54 erzeugten Radgeschwindigkeitssignale und über eine von dem Spulenprüfmodusumschalter 71 herkommende Leitung 70 ein Blockiersignal zugeführt.

Das auf der Leitung 70 übermittelte Blockiersignal wird, wie noch genauer beschrieben, an drei unterschiedliche Klemmen der Schalteinheit 55 geliefert und dient zum Aufbau der in der Prüfart »Verbindungsprüfung« erforderlichen Verbindungen. Ein AusgangsF-gnal der Schalteinheit 55 wird über eine Leitung 72, einen Kondensator 73 und eine Leitung 74 und die Leitung 42 auf einen Geberprüfkreis 75 gegeben. Die Leitung 42 ist dem linken Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnet. Ein zweites Ausgangssignal der Schalteinheit 55 wird über eine Leitung 76, einen Kondensator 77 und eine Leitung 78 und die Leitung 43 auf eine zweite Eingangsklemme des Geberprüfkreises 75 gegeben. Die Leitung 43 ist mit dem rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 verbunden. Weist das zu prüfende Antiblockier-Regelsystem nur einen einzigen Radgeschwindigkeitsgeber auf, so ist auch nur eine einzige Verbindung von der Schalteinheit 55 zu einer Eingangsklemme des Geberprüfkreises 75 vorgesehen. Wie noch im einzelnen ausgeführt werden wird, kann der Geberprüfkreis 75 über die über die Leitungen 42 und 43 hergestellten Verbindungen prüfen, ob der jeweils angetroffene Widerstand der Induktionsspule eines jeden der Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb zulässiger Gren-

zen liegt, wodurch angezeigt wird, daß der eben geprüfte Radgeschwindigkeitsgeber fehlerfrei ist. Die an den Ausgängen der Schalteinheit 55 bereitgestellten Radgeschwindigkeitssignale, durch welche eine rasche Verzögerung der Geschwindigkeit eines Rades simuliert wird, werden ferner über die Leitungen 72 und 76, die Kondensatoren 73 und 77 und die mit den Signalleitungen 15 und 17 verbundenen Leitungen 42 und 43 auf die den Radgeschwindigkeitsgebern 14 und 19 zugeordneten Eingänge der Antibiockier-Regel- u> schaltung 16 gegeben. Damit kann geprüft werden, ob die Antiblockier-Regelschaltung 16 selbst richtig arbeitet. Ist dies der Fall, so erzeugt jedes vom Verzögerungssignalgenerator erzeugte Verzögerungssignal, ganz gleich ob es auf die dem linken Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnete Signaiieitung i5 oder die dem rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnete Signalleitung 17 gegeben wird ein Druckentlastungssignal am Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung. Durch dieses wird der Druck des in der Leitung 26 und den Leitungen 27 und 28 befindlichen Druckmittels entlastet. Die entsprechende Betätigung des Magnetventils der Druckentlastungseinrichtung 36 kann akustisch wahrgenommen werden. Darüber hinaus weist die Prüfschaltung 40 Prüfleuchten auf, durch welche angezeigt wird, welche Teile des Antiblockier-Regelsystems richtig arbeiten.

Obwohl die Spulenprüfschaltung 48 und der Spulenprüfrnodusumschalter 71, wie noch im einzelnen dargelegt wird, eng zusammenarbeiten, sind sie in F i g. 2 als getrennte Einheiten dargestellt. Die Spulenprüfschaltung stellt fest, ob der Widerstand der Erregerspule 37 in einen vorgegebenen Widerstandsbereich fällt. Der Spulenprüfmodusumschalter 71 ist vorgesehen, um prüfen zu können, ob die Erregerspule auch bei niederer Versorgungsspannung ordnungsgemäß arbeitet. Das von dem Verzögerungssignalgenerator an seiner Ausgangsklemme 62 bereitgestellte Verzögerungssignal wird über eine Leitung 80 und eine Leitung 81 auf einen Eingang der Spulenprüfschaltung 48 und über die Leitung 80 und eine Leitung 82 auf einen Eingang des Spulenprüfmodusumschalters 71 gegeben.

Fig.3 zeigt die Kreiseinzelheiten des Energietestkreises 46, die Energieversorgungsanordnung 50 und den Testkreis 75 für den Geberwiderstand. Die Energieleitung 41 und der zugehörige, geerdete Leiter 85 übertragen die vom Steuersystem 16 (Fig. 1) empfangene Energie zum Energietestkreis 46. Im Testkreis sind eine Zenerdiode 86 und Widerstände 87, 88 in Reihe geschaltet und zwischen den Leitern 41 und 58 angeschlossen. Die Basis eines npn-Transistors ist an die gemeinsame Verbindung zwischen den Widerständen 87,88 angeschlossen, während sein Emitter geerdet ist Sein Kollektorkreis ist über eine Fotodiode 91 und einen Widerstand 92 an die Leitung 41 angeschlossen, während sein Kollektor auch über eine weitere Diode 93 an einen Bezugspunkt T angeschlossen ist. Das im Schaltschema verwendete Symbol T stellt einen Anschluß eines nicht gezeigten Erdungsschalters dar, der zum Testen der Leitfähigkeit und Erleuchtung jeder Fotodiode im System verwendet werden kann, d. h., wenn Energie zwischen den beiden Leitern 41 und 85 zugeführt wird, sofern die Kathode der Diode 93 durch den Erdungspunkt Γgeerdet ist, fließt Strom durch den Widerstand 92, die Fotodiode 91 und die Diode 93 zur Erde. Dadurch leuchtet die Fotodiode 91 auf und zeigt an, daß der Indikatorteil des Kreises gut ist. Im dargestellten Kreis ist die Zenerdiode 86 so ausgewählt, daß, wenn eine Spannung von ungefähr 9 V zwischen den Leitern 41 und 85 vorhanden ist, der Transistor 90 durchgeschaltet wird und leitet, um einen Erdungskreis für die Fotodiode 91 zu bilden. Dies gibt der die Prüfschaltung 40 verwendenden Person an, daß von der Fahrzeugbatterie zum Steuersystem genügend Energie geliefert wird, um nicht nur den Steuerkreis, sondern auch den Magneten mit der Wicklung 37 zu erregen. Somit ist der Energietestkreis 46 ein bedeutender Teil der erfindungsgemäßen Kombination.

Der Energieversorgungskreis enthält einen npn-Transistoi 94, der als in Reihe angeordneter Schalter angeschlossen ist. Sein Kollektor ist an den Leiter 41 und sein Emitter an den Leiter 51 angeschlossen. Zwischen der Basis und dem Kollektor ist ein Widerstand 95 angeschlossen. Zur Regelung der Spannung an der Leitung 51 ist zwischen der Basis und der Erdung eine Zenerdiode 96 angeschlossen. Diese Spannung wurde bei der dargestellten Ausführungsform mit 5 V gewählt. Diese geregelte Spannung wird demnach zum Erregen der weiteren Kreise in der Prüfschaltung verwendet.

Die geregelte Spannung der Leitung 51 wird über die Leitungen 52 und 53 dem Testkreis 75 für den Geberwiderstand zugeführt, der den Widerstand des linken und des rechten Gebers prüft. Der linke Geber erhält einen Bezugswiderstand 118, der zur Bildung eines Spannungsteilers mit dem gerade getesteten Geber angeschlossen ist, wobei der Widerstand dieses Gebers zwischen den Leitern 42 und 114 erscheint. Ein Indikatorkreis enthält einem mit dem Indikatorbestandteil in Reihe geschalteten, ersten Transistor 102. Dieser Indikatorbestandteil ist bei der dargestellten Ausführungsform eine Fotodiode 101. Es ist ein zweiter Transistor 106 angeschlossen zum Einschalten des ersten Transistors 102, wenn der effektive Widerstand des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen, oberen Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 111 gebildet ist. Es ist ein dritter Transistor 116 angeschlossen zum Ausschalten des ersten Transistors 102 (über einen Transistor 105), wenn der effektive Widerstand des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 140 eingestellt ist.

Der erregende Leiter 51 ist in einer aus dem Leiter 98, dem Widerstand 100, der Fotodiode 101 und dem Kollektor Emitterkreis den npn-Transistors bestehenden Reihenschaltung an Masse angeschlossen. Der Kollektor ist auch über eine Diode 103 mit einem weiteren Testpunkt Γ verbunden, der beim Kurzschließen die Diode 101 erleuchtet, um anzuzeigen, daß sich diese Fotodiode in gutem Zustand befindet. Die Basis des Transistors 102 ist an eine Seite eines Widerstandes 104 und auch an den Kollektor eines weiteren npn-Transistors 105 angeschlossen, dessen Emitter geerdet ist Die andere Seite des Widerstands 104 ist an den Kollektor eines npn-Transisitors 106 angeschlossen, dessen Emitter über Leitung 107, 108 und einen πρπ-Transistors der Emitterfolgebauart an den Schleifer eines Potentiometers 111 angeschlossen ist. Dieses Potentiometer ist an die Erdung und über einen Widerstand 112 an den Leiter 53 angeschlossen, an dem die geregelte Spannung angelegt ist. Der Widerstand 111 ist die Einstelleinheit für die obere Grenze des Widerstandtestkreises. Das heißt, die Einstellung seines Schleifers stellt die obere Grenze des Widerstandsbereichs ein, in den der effektive Wert des Widerstands des linken und des rechten Gebers fallen muß, um als

»gut« getestet zu werden. Diese obere Grenze wird eingestellt durch die Einstellung der an den Emitter des Tiansistors 106 angelegen Vorspannung. Der Emitter der Stufe 110 wird über einen Widerstand 113 mit Masse verbunden.

Der linke zu testende Geber ist zwischen den Leitern 42 und 114 angeschlossen, wobei der Leiter 114 geerdet ist. Der Leiter 42 ist über einen ersten Widerstand 115 an die Basis eines npn-Transistors 116 angeschlossen, über einen weiteren Widerstand 117 an die Basis des Transistors 106 und über einen Bezugswiderstand 118 an den Leiter 53, der die geregelte Gleichspannung empfängt. Es ist somit offensichtlich, daß der Bezugswiderstand 118 zusammen mit dem Widerstand des zwischen den Leitern 42 und 114 (plus dem Widerstand der Kreisleitungen) einen Spannungsteiler bildet, so daß die Spannung am Leiter 42 im Widerstandstestkreis verwendt werden kann. Vorläufig ist es nicht nötig, das dynamische Signal in Betracht zu ziehen, das über den Kondensator und über den Leiter 42 auf die logischen Kreise im Steuersystem selbst ausgeübt werden soll.

Der recht Geber ist zwischen den Leitern 43 und 120 angeschlossen, wobei der Leiter 120 geerdet ist. Der Leiter 43 ist über einen Widerstand 121 an die Basis eines npn-Transistors 122 angeschlossen, die auch über einen weiteren Widerstand 123 an die Basis eines weiteren pnp-Transistors 124 und auch über einen weiteren Bezugswiderstand 125 an den erregenden Leiter 53 angeschlossen ist. Es wird demnach eine weitere Spannungsteilungsanordnung gebildet mit einem Bezugswiderstand 125 und dem effektiven Widerstand des rechten Gebers und der zugehörigen Leitungen entsprechend der Messung zwischen den Leitungen 43 und 120. Der Emitter des Transistors 124 ist über die Leitung 108 an die Emitterfolgestufe 110 angeschlossen, während der Kollektor des Transistors 124 über einen Widerstand 126 sowohl an den Kollektor eines npn-Transistors 127 und über eine Leitung 128 an die Basis eines weiteren πρ/7-Transistors 130 mit geerdetem Emitter angeschlossen ist. Der Kollektor des Transistors 130 ist über eine Fotodiode 131 und einen Widerstand 132 an die Spannungsspeiseleitung 53 angeschlossen. Die gemeinsame Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors 130 und der Kathode der Fotodiode 131 ist über einen eine Diode bildenden Testkreis mit einem weiteren Schaltpunkt 7"verbunden. Der Emitter des Transistors 122 ist über eine Leitung 134 an eine Emitterfolgeschaltung 135 angeschlossen, während der Emitter der Stufe 116 im linken Geber auch über eine weitere Leitung 136 an den gleichei· Emitterfolgekreis angeschlossen ist. Der Emitter des Transistors 135 ist über einen Widerstand 137 an Masse angeschlossen, während sein Kollektor an die Spannungsspeiseleitung 53 angeschlossen ist. Zwischen der Leitung 53 und Masse befinden sich in Reihe geschaltet ein Widerstand 138 und ein Potentiometer 140, dessen Schleifer an die Basis des Transistors 135 angeschlossen ist. Das Potentiometer 140 stellt die untere Grenzwerteinstellung sowohl für die Geberkreise als auch für die Widerstandstestkreise dar. Die Einstellung seines Schleifers bildet einen oberen Widerstandsgrenzwert, der vom effektiven Sensorwiderstand überschritten werden muß, damit durch Aufleuchten der Fotodiode »gut« getestet wird. Diese Schleifereinstellung des Potentiometers 140 bildet die Vorspannung am Emitter beider Transistoren 116 und 122.

Bei der Betrachtung der Arbeitsweise des Kreises 75 wird zu Ueginri angenommen, dall im linken Gebertestkreis zwischen den Leitern 42 und 114 ein Geber angeschlossen ist. Bei solchen Steuersystemen, bei denen nur ein einziger Sensor verwendet wird, kann natürlich die Schaltung unterhalb des linken Gebertestkreises außer den Kreisen zur Einstellung der oberen und unteren Grenzwerte weggelassen werden. Es wird zuerst der Test für die obere Grenze betrachtet. Ein auf die Einsteilung des Potentiometers 111 bezogener Vorspannungswert wird über eine Emitterfolgestufe 110

ίο und einen Leiter 107 auf den Emitter des Transistors 106 übertragen. Dies erzeugt ein Bezugsniveau am Emitter des Transistors 106, das auf die obere, annehmbare Grenze für den Widerstandstest des linken Gebers bezogen ist. Wenn der linke Geber in einem Widerstandsteilernetz mit einem Bezugswiderstand 118 angeschlossen ist, der vom tatsächlichen Widerstandswert des linken Gebers und dessen zugehörigen Leitungen abhängt, wird eine besondere Spannung über den Leiter 42 und den Widerstand 117 zur Basis des Transistors 106 geleitet. Wenn die über den Widerstand 117 ausgeübte Spannung kleiner ist als die Vorspannung am Emitter des Transistors 106 — was anzeigt, daß der wirkliche Widerstand des Sensors geringer ist als der obere Grenzwert ies annehmbaren Widerstands —, wird der Basis-Emitteranschluß des Transistors 106 vorwärts vorgespannt und dieser Transistor durchgeschaltet. Die Spannung am Emitter des Transistors 106 wird somit auf dessen Kollektor übertragen und über den Widerstand 104 zum Durchschalten des Transistors 102 verwendet. Die Fotodiode 101 für »linker Geber gut« leuchtet auf, dies betrifft die obere Widerstandsgrenze. Wenn der Widerstand des Sensors zu groß gewesen wäre, wäre natürlich der Transistor 106 nicht eingeschaltet worden.

Es wird nun die untere Grenze für die annehmbare Widerstandsgrenze des linken Gebers betrachtet. Die Vorspannung für die untere Grenze wird vom Potentiometer 140 gebildet und durch den Emitternachfoiger 135 über den Leiter 136 zum Emitter des Transistors 116 geleitet. Falls die Spannung des Spannungsteilerkreises, die über den Widerstand 115 auf die Basis des Transistors 116 ausgeübt wird nicht zu niedrig ist, d. h., falls sie oberhalb der am Emitter des Transistors 116 gebildeten Vorspannung liegt, dann wird der Transistor 116 nicht eingeschaltet und der Transistor 105 wird auch ausgeschaltet bleiben. Somit wird der vorher beschriebene Kreis mit den Transistoren 106 und 102 nicht gestört und die Fotodiode 101 bleibt erleuchtet zur Anzeige, daß der Widerstandswert des linken Gebers innerhalb annehmbarer Grenzen liegt. Wäre der Widerstand des linken Gebers zu niedrig gewesen, so wäre der Transistor 116 eingeschaltet worden und hätte den Transistor 105 eingeschaltet, was der Basis des Transistors 102 die Ansteuerung genommen hätte. Dies schaltet den Transistor 102 ab und unterbricht die Erregung des Kreises für die Fotodiode 102 für »linker Sensor gut«. Der Kreis für den rechten Geber mit den Transistoren 123, 124, 127 und 130 arbeitet im wesentlichen in der gleichen Weise.

F i g. 4 stellt die Einzelheiten des Testkreises 48 (oberer Teil) für den Magnetwiderstand und den Magnetniederspannungstestkreis 71 (unterer Teil) dar. Es wird zuerst der Testkreis 48 betrachtet, der die Magnetwicklung auf annehmbaren Widerstand prüft. Wie bereits beschriebt ben ist zur Aufnahme des F.ingangsgleichsstroms die Leitung 47 an die Leitung 41 angeschlossen. Die andere Eingangsleitung 142 zum Testkreis für den Magnetwiderstand ist an das binde der Solenoidwicklung

angeschlossen, das bei Erregung des Druckentlastungssystems geerdet ist In Reihe zwischen den Leitern 47 und i42 (F i g. 1 der vorliegenden Anmeldung) ist ein in Reihe geschalteter Kreis angeschlossen, bestehend aus einem Widerstand 143, einer Fotodiode 144 und aus einem weiteren Widerstand i45. Wenn die logischen Kreise im Steuersystem 16 zufriedenstellend arbeiten, wird das Ablaßsystem vorgesehen zum Betätigen des Magneten und das Spannungsniveau an der Leitung 142 wird periodisch abfallen (bis auf Null), wenn die Magnetwicklung geerdet wird. Dies läßt die Fotodiode 114 aufleuchten zur Anzeige, daß die Logik im Steuersystem zufriedenstellend arbeitet. Eine den Kreis vervollständigende Diode 146 ist zwischen dem Erdungsschaltpunkt T und der gemeinsamen Verbin- is dung zwischen dem Widerstand 145 und der Fotodiode 144 angeschlossen zum Vorsehen einer Anzeige, daß sie gut ist. Dieser von der Fotodiode 144 simulierte Zustand für »Logik gut« gewährleistet nicht, daß der Magnetwidersland innerhalb annehmbarer Grenzen liegt, oder daß das Magnetventil unter Niederspannungsbedingungen zufriedenstellend arbeitet. Tests für diese beiden zusätzlichen Zustände werden durch die Kreise 48 und 71 vollendet.
Die Spannung am Leiter 47 wird über einen Leiter

147 auf das Ende eines Potentiometers 148 übertragen, dessen anderes Ende geerdet ist. Diese Spannung wird auch über einen Leiter 150 an die Kathode einer Zenerdiode 151 übertragen, deren Anode über einen Widerstand 152 und den Kollektor-Emitterdurchgang eines npn-Transistors 153 mit Masse verbunden ist. Diese Spannung ist auch über einen Leiter 154 und eine Reihenschaltung, bestehend aus einem Widerstand 155, einer weiteren Fotodiode 156 und einem n/wj-Transistor 157, mit Masse verbunden. Schließlich wird diese Spannung auch an den Emitter eines pnp-Transistors 158 angeschlossen. Der Schleifer des Potentiometers

148 ist über einen Leiter 160 an den Emitter eines p/jp-Transistors 161 angeschlossen, dessen Basis über einen Widerstand 162 an den Leiter 142 angeschlossen ist. Der Kollektor des Transistors 161 ist über einen Widerstand 163 an die Basis eines npn-Transistors 164 angeschlossen, dessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor dieses Transistors ist über einen Leiter 165 an die Basis des Transistors 157 angeschlossen, an dem Kollektor eines Transistors 166 und an ein Ende eines Widerstands 157, dessen anderes Ende mit dem Kollektor des Transistors 158 verbunden ist. Der Leiter 81, über den Signale vom Verzögerungsfunktionsgenerator 60 empfangen werden, ist über eine Diode 168 an die Basis des Transistors 153 angeschlossen. Ein pnp-Transistor 170 ist als Reihenregler an die gemeinsame Verbindung zwischen dem Widerstand 152 und der Anode der Zenerdiode 151 angeschlossen, während sein Kollektor geerdet und sein Emitter mit dem Eingangsleiter 142 verbunden sind.

Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe geschalteter Kreis, bestehend aus Widerständen 171, 172 und dem Kollektor-Emitterkreis eines npn-Transistors 173, dessen Emitter geerdet ist. Sein Kollektor ist über einen in Reihe geschalteten Kreis, bestehend aus einem Widerstand 174 und einer Diode 175, an die Basis des Transistors 16(S angeschlossen. Die Basis des Transistors 173 ist an den Kollektor eines npn-Transistors 176 und auch über einen Widerstand 177 an den Leiter 142 angeschlossen. Der Emitter des Transistors 176 ist geerdet. Ein zwischen dem Leiter 142 und der Erdung angeschlossener Kreis besteht aus einem Widerstand 178, einem Kondensator 180 und einem weiteren Widerstand 181. Die Basis des Transistors 176 ist an die gemeinsame Verbindung zwischen dem Kondensator und dem Widerstand angeschlossen.

Im allgemeinen wird der Transistor 157 im oberen, rechten Bereich des Testkreises 148 für den Magnetwiderstand zum Aufleuchten der Fotodiode 156 eingeschaltet, wenn der Widerstand der Magnetwicklung in einem annehmbaren Bereich liegt Die Fotodiode 156 kann getestet werden durch Erden des mit der Kathode der Diode 182 verbundenen Anschlusses T um einen Stromdurchgang durch die Fotodiode

156 zu bilden und deren Zustand zu testen.

Es wird zu Beginn angenommen, daß der Test für das einen niedrigen Widerstand aufweisende Ende der Magnetwicklung zuerst ausgeführt wird. Falls dieser Magnetwiderstand zu klein ist, wird der Transistor 157 nicht eingeschaltet. Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe geschalteter Kreis, bestehend aus einem ersten Widerstand 171, einem zweiten Widerstand 172 und dem Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 173. Es wird ferner angenommen, daß der Transistor 173 leitet, so daß das untere Ende des Widerstands 172 geerdet ist. Bei einer bevorzugten Ausführungsform, die sich an die besonderen Magnetcharakteristiken anpaßt, betrug der Widerstand 172/50 Ohm. Der Widerstand 172 bildet einen Spannungsteiler, bei dem der effektive Widerstand des Magneten und die Leitungsanschlüsse mit den Leitern 47, 142 verbunden sind, während die Magnetwicklung der obere Teil dieses Spannungsteilers ist. Wenn der Magnetwiderstand ausreichend hoch ist, d. h. nicht kurzgeschlossen oder unter einem annehmbaren Wert, so reicht die zwischen den Leitern 47, 142 erscheinende Spannung aus, die Basis-Emitterve'-bindung des Translators 158 vorzuspannen. Diese Basis-Emitterverbindung mit dem Widerstand 171 ist über die Magnetwicklung angeschlossen. Wenn der Transistor 158 durchschaltet, wird die an seinem Emitter erscheinende Spannung auf den Kollektor übertragen und schaltet über den Widerstand 167 den Transistor

157 durch. Dementsprechend wird die Fotodiode 156 aufleuchtet, wenn der Magnetwiderstand nicht zu niedrig ist, unter der Annahme in diesem Augenblick, daß der Magnetwiderstand nicht das hohe Niveau übersteigt.

Es wird nun das Potentiometer 148 betrachtet und betont, daß der obere Teil dieses Potentiometers an die Leitung 47 angeschlossen ist. Somit ändert in ähnlicher Weise jede Unregelmäßigkeit oder Schwankung der Spannung der Hauptstromversorgung des Fahrzeugs die Spannung über dem Potentiometer 148 mit einer proportionalen Änderung der Spannung am Leiter 160. Dies bildet eine positive Vorspannung am Emitter des Transistors 161. Die Basis des Transistors ist über den Widerstand 162 und den Leiter 142 an die andere Seite der Magnetwicklung angeschlossen. Es ist zu beachten, daß die Magnetwicklung und der Widerstand 172 in einer Spannungsteileranordnung verbunden sind. Somit ist die Basis 161 über den Widerstand 162 an den Spannungsteilungspunkt oder die gemeinsame Verbindung zwischen der Solenoidwicklung und dem Widerstand 172 im Spannungsteiler angeschlossen. Es ist nützlich, das Potentiometer an der Leitung 47 der Nullbezugsspannung zu betrachten, während das Potential an der Leitung 142 eine negative Spannung gegenüber derjenigen in der Leitung 47 ist. Es wird

ferner angenommen, daß die Magnetwicklung offen ist Ist die Magnetwicklung offen, so befindet sich die Spannung an der Leitung 142 an der negativen Versorgungsspannung, z. B. minus 12 V, gegenüber dem Potential an der Leitung 47. Unter diesen Bedingungen und mit der positiven Bezugsvorspannung am Emitter des Transistors 161 wird dieser Transistor durchgeschaltet und überträgt die Vorspannung (positives Potential) auf seinen Kollektorkreis und den Widerstand 163 auf die Basis des Transistors 164 und der Transistor 164 leitet. Das Leiten des Transistors 164 erdet die Basis des Transistors 157 und nimmt diesem Transistor seine Ansteuerung. Dies unterbricht den Kreis für die Fotodiode 156, die erlöscht Dadurch, daß die Transistoren 158 und 157 anfangs nicht betrieben werden, wird die Fotodiode auch ausgelöscht, falls der Widerstandswert zu niedrig ist.

Die obigen Ausführungen beschreiben die Widerstandsmessung des Magneten, wenn die Logik im Steuersystem 16 nicht periodisch in Betrieb gesetzt wird. Zieht man nun in Betracht, daß der Verzögerungssignalgenerator 60 (Fig.2) simulierte Verzögerungssignale durch die Schalteinheit 55 und über die Leiter 42, 43 zu den Eingangsanschlüssen der Antiblockierregelschaltung 16 (F i g. 1) leitet, so arbeitet das Regelsystem in der Weise, daß es den Magneten erregt und aberregt, so daß das Potential an der Leitung 142 in Fig.4 nacheinander geerdet und von der Masse getrennt wird. Ein wertvoller Teil des Testvorganges ist das hörbare Ansprechen beim öffnen und Schließen des Magnetventils, was eine hervorragende Anzeige dafür gibt, daß das System tatsächlich periodisch arbeitet und daß das Ventil in Betrieb ist.

Mit dem während des Leitens des Transistors 173 ununterbrochen geerdeten, niederohmigen Widerstand 172 hält dies jedoch einen kleinen elektrischen Strom durch den Magneten aufrecht, der zwar nicht zum Betätigen des Magneten ausreicht, nach dem Betätigen dennoch einen ausreichenden Haltestrom aufrecht erhält, so daß der Magnet nicht abfällt, wenn es dies normalerweise tun sollte. Somit würde der Magnet das erstemal erregt werden und dann im erregten Zustand ohne periodisches Ein- und Ausschalten verbleiben, obwohl die Logik periodisch betrieben wird, um Erregungs- und Aberregungssignale zu liefern. Es ist daher erforderlich, daß der niederohmige Widerstand 172 von der Masse abgeschaltet wird, um den Haltestromdurchgang zu unterbrechen und um dem Magneten ein Aberregen zu gestatten. Zu diesem Zweck sind die Bestandteile 176 und 181 als Schalt- und Zeitgliedanordnung verbunden. Der Transistor 176 kann als Schalter betrachtet werden und die Zeitgebung wird durch die Kombination des Widerstands 178 mit dem Kondensator 180 bewirkt.

Es wird nun angenommen, daß der Magnet erregt und das Potential an der Leitung 142 tatsächlich zur Erde abgeleitet wurde. Somit wurde die Ansteuerung des Transistors 173 entfernt, da diese Ansteuerung normalerweise über die Leitung 142 und den Widerstand 177 aufgenommen wird. In ähnlicher Weise fließt der das erforderliche Durchschaltpotential für den Transistor 176 liefernde Ladestrom für den in Reihe geschalteten Kreis aus dem Widerstand 178 und den Kondensator 180 nicht, solange die Spannung am Leiter 142 geerdet bleibt. Nach dem Erregen des Magneten ist dementsprechend weder für den Transistor 173 noch für den Transistor 176 eine Ansteuerung vorhanden. Es wird ΓίΐΐΏ sn^enorrirrieri daß eir! A.ußerb^tn^bs^tzpn Hps Magneten durch Aberregen dessen Wicklung gewünscht wird, so benötigt das Magnetventil eine gewisse, begrenzte Zeit zum Ansprechen und zum Wiedereinnehmen der unbetätigten Stellung. In diesem Zeitintervall in der Größenanordnung von 100 msec ist es natürlich wünschenswert, die Erdung des Widerstands 172 um wenigstens dieses Zeitintervalls zu verzögern. Dies gestattet eine Aberregung des Solenoids und eine Stabilisierung des Kreises. Sobald der

Ό Leiter 142 von der Masse getrennt ist, findet ein unmittelbares Fließen von Ladestrom durch den Widerstand 178, den Kondensator 180 und die Basis-Emitter-Verbindung des Transistors 176 statt Solange dieser Ladestrom fließt, ist der Transistor 176 eingeschaltet und erdet seinerseits die Basis des Transistors 173, was gewährleistet, daß der Transistor 173 während der Ladezeit abgeschaltet bleibt Ist dieser R-C Kreis 178, 180 geladen, wird der Antrieb für die Basis-Emitterverbindung des Transistors 176 entfernt und dieser abgeschaltet Wenn der Transistor 176 abschaltet entfernt er die Erdung von der Basis des Transistors 173, der seine Basissteuerung wieder über den Widerstand 177 empfängt und somit durchschaltet. Zu dieser Zeit ist der niederohmige Widerstand 172 wieder wirksam über dem Transistor 173 geerdet

Während der Zeit, in der der Widerstand 172 durch Nichtleiten des Transistors 173 von der Masse getrennt ist, ist es wünschenswert, sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 nicht unbeabsichtigt eingeschaltet werden kann. Es könnte ein fälschliches Aufleuchten eintreten, bewirkt durch periodisches Betreiben des logischen Ausgangskreises des Steuersystems 16, was eine falsche Anzeige ergeben würde, wenn der Transistor 173 abgeschaltet war. Dementsprechend wird, wenn der Transistor 173 zum Abschalten der Erdung des Transistors 172 ausgeschaltet ist, ein Signal vom Widerstand 172 über den Widerstand 174 und die Diode 175 geliefert, damit der Transistor 106 durchgeschaltet wird. Dieser Transistor erdet wirksam die Basis des Transistors 157, um die Ansteuerung zu entfernen und um sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 in der Zeit nicht erregt werden kann, in der der Widerstand 172 geerdet ist. Die in Reihe mit der Basis des Transistors 166 geschaltete Diode 175 vergrößert den zum Einschalten des Transistors 166 erforderlichen Spannungsabfall. Wenn der Transistor 173 tatsächlich eingeschaltet ist, stellt dies sicher, daß kein den Transistor 166 einschaltendes, irrtümliches Signal vorhanden ist.

Es wird nun der Niederspannungstestkreis 71 in. Unterteil der Fig.4 betrachtet Dieser Kreis enthält einen üblichen Multivibratorkreis, der zwischen dem Spannungseingangsleiter 53 und Masse angeschlossen ist. Der Schaltkreis enthält np/J-Transistoren 185, 186 Kondensatoren 187,188 und Widerstände 190-193. Das vom Verzögerungssignalgenerator 60 über die Leitung 80 empfangene simulierte Verzögerungssignal wird über einen Widerstand 195, den Leiter 82 und eine Diode 194 zum Kollektor des Transistors 185, zu einem Ende eines Widerstands 196 und zu einem Ende eines Widerstands 197 geleitet. Der Emitter eines ersten np/7-Transistors 198 ist geerdet, während dessen Basis mit dem Widerstand 196 und dessen Kollektor über eine Fotodiode 200 und einen Widerstand 201 mit dem erregenden Leiter 53 verbunden sind. Der Kollektor des Transistors 198 isi auch über eine den Kreis vervollständigende Diode 202 an einen weiteren Testnunkt Taneeschlossen. Der andere Widerstand 197

ist an die Basis eines weiteren npn-Transistors 203 angeschlossen, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über den Leiter 70 an die Kathode jeder· Diode 204, 206 und 208 angeschlossen sind. 'Venn der Transistor 203 durchgeschaltet ist, wird ein noch zu beschreibender Sperrkreis durch die Dioden 204, 206 und 208 gebildet Dieser Kreis ist allgemein durch die einzige Linie 70 in F i g. 2 dargestellt

Beim Betrieb des Multivibratorkreises im Niederspan nungstestkreis 71 wird, wenn der linke Transistor 185 abgeschaltet ist, das vom Leiter 53 ausgeübte, positive Potential über den Widerstand 190 zu einem Ende jedes Widerstands 196 und 197 geleitet, was die Transistoren 198 und 203 durchschaltet Der Transistor 198 vervollständigt in seinem durchgeschalteten Zustand einen Erregungsweg für die Fotodiode 200, die ausfluchtet und anzeigt, daß der Niederspannungstest für den Magneten gerade läuft Gleichzeitig leitet der andere Transistor 203 und sperrt über den Leiter 70 und die Dioden 204, 206 und 208 wirksam die Schalteinheit 55, so daß der logische Kreis Antiblockierregelsystem 16 während des Niederspannungstest durch die Prüfschaltung nicht periodisch betrieben wird. Andernfalls könnte das zu den linken und rechten Geberanschlüssen gelieferte, simulierte Verzögerungssignal in der Tat den logischen Kreis periodisch betreiben und ein »Ablaß«- signal erzeugen. Es wäre dann zweide utig, ob der Niederspannungstest das Ablassen bewirkt hatte, oder ob dieses Signal durch Betrieb der Logik herbeigeholt wurde. Somit wird mit der erleuchteten. Fotodiode 200, mit der über die Leitung 70 gesperrten Schalteinheit und mit den erwähnten Dioden das über die Leitung 80 empfangene, simulierte Verzögerungssignal über den Widerstand 195, den Leiter 181 und die Diode 168 (im Testkreis 48 für den Magnetwiderstand) weitergeleitet, um den Transistor 153 durch- und abzuschalten, wenn das Verzögerungssignal empfangen wurde. Der Transistor 170 ist an die Leitung oder den Leiter 47 mit positiver Spannung angeschlossen. Die positive Spannung ist somit das Nullbezugsniveau und auf die untere Hälfte des Magneten wird eine negative Spannung ausgeübt. Das Durch- und Abschalten des Transistors 153 schaltet den Antrieb der regelnden Zenerdiode 151 abwechselnd ab und an, die bei einer bevorzugten Ausführungsform auf 7,7 V Spannung eingestellt wurde. Es wird jedesmal eine geregelte Spannung von etwa 6 bis 7 V an der Magnetwicklung ausgeübt, wenn das Verzögerungssignal übar den Transistor 153 zum Einschalten des Transistors 170 empfangen wurde.

Es ist zu bemerken, daß, wenn der Multivibrator im Kreis 71 in den anderen Zustand umschlägt, indem der Transistor 185 durchgeschaltet und der Transistor 186 abgeschaltet ist, die vom Verzögerungssignalgent rator 60 über den Leiter 80 erfolgende Ansteuerung wirksam über die Diode 194 und den nicht leitenden Transistor 185 geerdet wird. Somit wird die Erdung vom Leiter 70 entfernt und der logische Kreis in den Normalzustand zurückgeführt. Dementsprechend ist der Niederspannungsmagnettest erst durchgeführt, wenn der Transistor 185 abgeschaltet ist.

Der Geschwindigkeitssignalgenerator 54 für das Raddrehzahlsignal ist im linken Teil der Fig. 5 gezeigt. Dieser Signalgenerator enthält einen npr-Transistor 210, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über einen Widerstand 211 an den Leiter 51 angeschlossen ist. Die Basis des Transistors 210 ist an ein Ende eines Widerstands 212. dessen anderes Ende eeerdet ist. an eine Seite eines Kondensators 213 und an eine Seite eines Widerstands 214 angeschlossen, dessen andere Seite sowohl an einen Kondensator 215 als auch an einen Widerstand 216 angeschlossen ist Die andere Platte des Kondensators 215 ist geerdet, während das andere Ende des Widerstands 216 an eine Seite eines Kondensators 217 und an den Kollektor des Transistors 210 angeschlossen ist Ein Ende eines Widerstands 218 ist geerdet, während das andere Ende an eine Platte

ίο jedes Kondensators 213 und 217 angeschlossen ist. Die Bestandteile 210-218 sind in einer Oszillatoranordnung angeschlossen zum Liefern eines Sinuswellenausgangssignais an einem Leiter 210. Bei einer bevorzugten Ausführungsform war dieser Oszillator angeschlossen, um ein Ausgangssignal von ungefähr 1000 Hz zu liefern. Das Signal an der Leitung 220 wird auf in eine Darlingtonschaltung angeschlossenen Transistoren 221, 222 übertragen zum Entwickeln eines Ausgangssignals über einen Widerstand 223, das über den Leiter 68 zur Schalteinheit 55 geleitet wird. Dadurch, daß der Oszillatorkreis auf die Belastung empfindlich ist, trennt die Darlingtonschaltung 221, 222 die Belastung vom Oszillator und bewirkt einen ununterbrochenen und genauen Ausgangsbetrieb des Oszillators.

Das i 000 Hz Signal an der Leitung 68 wird über einen Widerstand 224, den Leiter 72, den Kondensator 73 und die Leiter 74, 42 an den linken Gebereingangsanschluß des Antiblockierregeisystems 16 angeschlossen. In ähnlicher Weise wird auch das Signal an der Leitung 68 über einen Widerstand 225, den Leiter 76, dem Kondensator 77 und die Leiter 78, 43 an den rechten Gebereingangsanschluß angeschlossen. Wäre es nicht für die Anwesenheit und das Funktionieren des anderen Kreises in der Schalteinheit 55, wurden diese beiden Signale (über Widerstände 224, 225) ständig über die Gebereingangsanschlüsse die Prüfschaltung über die passenden Anschlüsse im Steuersystem übertragen werden, um die logischen Kreise des Steuersystems periodisch zu betreiben. Das Signal an der Leitung 68 ist ein Signal mit sehr schwacher Energie und beeinflußt die Spannungsteileranordnung am Eingangsteil des bereits beschriebenen Testkreises 75 für den Geberwiderstand nicht. Der Fachmann wird erkennen, daß, falls irgendein über die Leitung 72 und den Kondensator 73 ausgeübtes Signal oder das andere auf der Leitung 76 und dem Kondensator ausgeübte Signal vorübergehend geerdet oder stufenweise auf Null zulaufen würde, dies für die logische Schaltung im Regelsystem ein Verzögerungssignal simulieren würde. Es verbleibt noch die Erläuterung des Betriebs der anderen Kreise, um diese Abänderung des ununterbrochenen Sinuswellensignals zum Simulieren des Verzögerungssignals vorzusehen.
Die Schalteinheit 55 enthält zwei npn-Transistoren 226,227, von denen jeder als Schalter angeschlossen ist, um ein Erden eines der über die Widerstände 224, 225 geleiteten 1000 Hz Signale zu bewirken, um dem Regelsystem ein Verzögerungssignal zu simulieren. Der Emitter des Transistors 226 ist geerdet, während dessen Kollektor an den Widerstand 224 und an den Leiter 72 angeschlossen ist. Zwischen der Basis und dem Emitter des Transistors 226 ist ein Widerstand 228 angeschlossen, der das Abschalten des Kreises unterstützt. Die Basis ist auch über einen Widerstand 230 an einen Leiter 231 angeschlossen. Die Kathoden der Dioden 232 und 233 sind an den Leiter 231 angeschlossen. Die Anode der Diode 232 ist über einen Widerstand 234 an den Leiter 205 und an feststehende Kontakte des logischen

Schalters 58 angeschlossen. Dieser logische Schalter enthält zwei bewegliche Konttakte 226, 247, die wie dargestellt feststehende Kontakte 244, 245 berühren. Dies ist die Stellung für »Auswahl im unteren Bereich« des Abfrageradiusschalters 58, in der die Prüfschaltung ein Regelsystem mit der Logik für »Auswahl im unteren Bereich« durchprüft. In der Mittelstellung des Schalters 58, in der die beweglichen Kontakte 246, 247 die feststehenden Kontakte 242, 243 berühren, ist die Prüfschaltung angeschlossen zum Testen eines Systems »Rad-für-Rad«. In der oberen Stellung, in der die beweglichen Kontakte 246, 247 die feststehenden Kontakte 240, 241 berühren, testet die Prüfschaltung wirksam ein für »Auswahl im oberen Bereich«.

Die Anode der Diode 233 ist an die Anode beiden Dioden 235 und 236 und auch über einen Widerstand 237 an einen gemeinsamen Anschluß 250 und Leiter 207 angeschlossen, über die ein Signal vom Niederspannungstestkreis 71 für den Magneten (F i g. 4) empfangen wird. Gleichstrom zum Betreiben der Kreise wird vom Leiter 51 über den Widerstand 238 zum gemeinsamen Anschluß 250 geleitet, der auch an den Leiter 207, den Widerstand 237 und den Widerstand 251 angeschlossen ist.

Der Leiter 231 ist über einen Widerstand 252 an die Basis eines npn-Transistors 251 angeschlossen, dessen Emitter geerdet ist. Ein Widerstand 254 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors angeschlossen. Der Kollektor des Transistors 253 ist über eine Reihenschaltung aus einer Fotodiode 255 und einem Widerstand 256 an den Leiter 51 angeschlossen. Die Fotodiode 255 leuchtet, wenn ein Verzögerungssignal (simuliert, wenn der Transistor 266 durchschaltet) zum linken Gebereingangsanschluß geleitet wird. Eine den Kreis vervollständigende Diode 257 ist zwischen dem Testpunkt T und der gemeinsamen Verbindung des Kollektors des Transistors 253 mit der Kathode der Diode 255 angeschlossen, um über die Fotodiode 255 einen Kreis zu bilden, wenn der Testkreis geerdet ist, wodurch der Betrieb der Fotodiode 255 überprüft wird.

Im Kreis des Transistors 277 ist ein Widerstand 258 zwischen dessen Basis und dessen Emitter angeschlossen, während dessen Emitter geerdet ist. Die Basis ist auch über einen Widerstand 260 an den Leiter 263 und an die gemeinsame Verbindung der Dioden 261 und 262 angeschlossen. Die Anode der Diode 261 ist an ein Ende des Widerstands 251 und an die Anoden beider Dioden 264, 265 angeschlossen. Die Kathode der Diode 264 ist an die feststehenden Kontakte 245 des Abfragemodusschalters angeschlossen, während die Kathode der Diode 265 über den Leiter 65 an die Leiter 62 und 80 angeschlossen ist Die Anode der Diode 262 ist über einen Widerstand 266 an den Leiter 209 und an den feststehenden Kontakt 241 des Schalters 58 angeschlossen. Der Leiter 209 empfängt ein Signal vom Niederspannungstestkreis 71 (Fig.4) des Magneten. Der Leiter 263 ist über einen Widerstand an die Basis eines np/J-Transistors 268 angeschlossen, während dessen Emitter geerdet ist Ein Widerstand 270 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors angeschlossen. Dessen Kollektor ist Ober einen in Reihe geschalteten Kreis, bestehend aus einer Fotodiode 271 und einem weiteren Widerstand 272 an den Leiter 51 angeschlossen. Eine den Kreis vervollständigende Diode 273 ist zwischen einem Testpunkt T und der gemeinsamen Verbindung zwischen dem Kollektor des Transistors 268 und der Kathode der Diode 271 angeschlossen. Dieser Kreis sieht beim Kurzschließen des Testpunkts T einen Test für die Betriebsfähigkeit der Fotodiode 271 vor. Das Aufleuchten dieser Fotodiode 271 zeigt anders als beim Testvorgang an, daß das Verzögerungssignal gerade zum rechten Gebereingangsanschluß geliefert wird, bewirkt durch das Leiten des Transistors 227 zum Erden des Signals, was sonst über den Kondensator geliefert werden würde. Vor der ins einzelne gehenden Betrachtung des Betriebs dieses Kreises ist es nützlich, den Radabfragetaktgeber 56 und den Verzögerungssignalgenerator 60, die beide in F i g. 6 gezeigt sind, zu beschreiben.

Jeder dieser Kreise ist, wie dargestellt, eine übliche Multivibratoranordnung. Der Radabfragetaktgeber 56 enthält zwei /jpn-Transistoren 275, 276, Widerstände 277-280 und Kondensatoren 281, 282, die in einem üblichen astabilen Multivibratorkreis miteinander verbunden sind. Weitere zwei npn-Transistoren 283, 284, sind als Sperrstufen zwischen den Multivibratorausgangsanschlüssen und den Leitern 63,64 angeschlossen. Der Kollektor des Transistors 275 ist über einen Widerstand 285 an die Basis des Transistors 283 angeschlossen, währenddessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor der Sperrs<ufe 283 ist an den Leiter 63 und auch über einen Widerstand 286 und den Leiter 57 zum Erregen des Leiters 51 angeschlossen. Der Emitter der anderen Sperrstufe 284 ist geerdet, deren Basis ist über einen Widerstand 287 an den Kollektor der Stufe 276 angeschlossen und deren Kollektor ist sowohl über einen Widerstand 288 an den Leiter 51 als auch über den Leiter 64 an den beweglichen Kontakt 247 des logischen Schalters angeschlossen.

Der Verzögerungssignalgenerator 60 enthält einen weiteren Multivibratorkreis aus zwei npn-Transistoren 290, 291. Diese Stufe enthält auch Widerstände 291-295 und zwei Kondensatoren 296, 297, die alle in einer üblichen, astabilen Multivibratoranordnung miteinander verbunden sind. Bei einer bevorzugten Ausführungsform wurde die Zeit zum periodischen Betreiben des Verzögerungssignalgenerators 60 eine Sekunde und des Radabfragetaktgebers 56 ungefähr zehnmal so lang gemacht, um eine eine Größenordnung höhere Radauswahlschaltfrequenz vorzusehen als die Frequenz, bei der das Verzögerungssignal durch den Genenrator 60 vorgesehen wurde.

Bei der Betrachtung des Betriebs der Kreise 54,55,56 und 60 zusammen mit dem logischen Schalter 58 wird angenommen, daß die Multi vibratoren im Radabfragetaktgeber 56 und im Verzögerungssignalgenerator 60 arbeiten und an den Leitern 63,64 vom Kreis 56 und an den Leitern 61, 62 vom Kreis 60 Ausgangssignale vorsehen. Bei der dargestellten (Auswahl im unteren Bereich) Stellung des logischen Schalters 58 werden die Ausgangssignale vom Verzögerungssignalgenerator 60 über den Leiter 6t und die Diode 236 zur Anode der Diode 233 und über Leiter 62,65 und die Diode 265 zur Anode der Diode 261 geleitet Es wird wieder darauf hingewiesen, daß die Transistoren 226, 227 wahlweise durchgeschaltet werden können, um den Antrieb entweder zum linken oder rechten Gebereingangsanschluß zu erden, während die normale Durchschaltansteuerung für die Transistoren 226, 227 vom Leiter 51 über den Widerstand 238 zur gemeinsamen Verbindung 250 und von dort über den Widerstand 237, die Diode 233 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistors 226 und über den Widerstand 251, die Diode 261 und den Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geleitet wird. Beim Fehlen jedes Erdungssignals würden beide Transistoren 226, 227 ununterbrochen durchgeschaltet

sein zum Liefern von 1000 Hz Signalen mit konstanter Amplitude ?:u den linken und rechten Gebereingangsanschlüssen des logischen Systems.

Es wird nun angenommen, daß im Verzögerungssignalgenerator 60 der Transistor 290 leitet und der Transistor 291 nicht leitet. Das Leiten des Transistors 290 erdet wirksam die Leitung 61 und dieses Erdungssignal wird über den Leiter 61 und die Diode 236 gleitet zum Erden des Ansteuerungssignals für den Transistor 226. Dieser Transistor wird somit abgeschaltet und gestattet dem 1000 Hz Signal einen Übergang von der Leitung 68 über die Leitung 72 und den Kondensator 73 zum linken Gebereingangsanschluß. Der Transistor 227 bleibt eingeschaltet und hindert jedes Ausgangssignai an der Überleitung über die is Leitung 76 und den Kondensator 77 zum rechten GebereingangsanschluB an der Leitung 43. Wenn die Transistoren 290 und 291 ihre Zustände im Verzögerungssignalgenerator 60 ändern, wird das Ansteuerungssignal für den Transistor 227 durch das über die Leiter 62,65 und die Diode 265 geleitete Erdungssignal gesperrt. Der Transistor 227 wird somit abgeschaltet und das Gebersignal der rechten Seite wird über den Leiter 76 und den Kondensator 77 zum rechten Gebereingang der Logik im Regelsystem geleitet.

In diesem Zeitpunkt beginnt der Transistor 226 zu leiten und erdet wirksam das linksseitige Gebereingangssignal, um das 1000 Hz Signal zur Erdung zu leiten, was ein Verzögerungssignal zum linken Geberanschluß simuliert. Somit werden mit nur dem funktionierenden Verzögerungssignalgenerator 60 Verzögerungssignale zu den Gebe-eingangsanschlüssen des Regelsystems 16 geliefert, jedesmal, wenn ein Ansteuersignal zum Transistor 226 zu dessen Einschaltung und zum Aberden des linksseitigen Signals zum Simulieren eines Verzögerungssignals geliefert wird, wird dieses Ansteuersignal über den Leiter 231 und den Widerstand 252 zur Basis des Transistors 253 geliefert, was diesen Transistor ansteuert und die Fotodiode 255 aufleuchten läßt. Dies zeigt an, daß die linksseitige Logik im Regelsystem gerade periodisch betrieben wird. In ähnlicher Weise wird das Einschalten des Transistors 227 durch ein Signal über den Leiter 263 und den Widerstand 267 bewerkstelligt zum Ansteuern des Transistors 268, was die Fotodiode 271 aufleuchten läßt, um anzuzeigen, daß die rechte Seite des logischen Systems gerade getestet wird. Falls die Logik richtig arbeitet und sogar falls das Arbeiten des Magnetventils nicht hörbar ist wird das elektrische Ausgangssignai zu den Eingangsleitern 47, 142 in der linken Seite von Fig.4 geleitet und die Fotodiode 144 wird erleuchtet, um das zufriedenstellende Arbeiten der Logik im Regelsystem 16 anzuzeigen.

Für größere Systeme, z. B. ein Mehrf achachsensystem für große Lastwageneinheiten mit zwei Gebern an jeder Achse, wäre es wünschenswert, eine Seite der Logik wiederholt periodisch für eine kurze Zeitdauer und dann die andere Seite der Logik wiederholt periodisch zu betreiben, um sicher zu sein, welche Seite gerade periodisch betrieben wurde und um die passenden Ausgangsangaben von nur dieser Seite zu suchen. Es wäre auch wünschenswert, eine einzige Prüfschaltung zu haben, der für verschiedene Arten von Logiken arbeiten kann. Zu diesem Zweck wurden der Radabfragetaktgeber 56 und der logische Schalter vorgesehen.

Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetaktgeber 56 in einem Takt periodisch arbeitet, der wesentlich langer ist als derjenige des Verzögerungssignalgenerators 60, wobei diese Schaltausgangssignale an den Leitern 63, 64 vorgesehen werden. Die dargestellte Stellung des logischen Schalters 58 ist die Stellung für »Auswahl im unteren Bereich«. Um die Logik für »Auswahl im unteren Bereich« eines Steuersystems zu testen, ist es nur nötig, eine Seite der Logik ununterbrochen zu betreiben, oder an einem hohen Niveau, während das andere Signal periodisch ein- und ausgeschaltet wird, so daß das Abschalten eine schnelle Verzögerung bis zum Wert Null des Drehzahlsignals simuliert.

Diese stufenarige Verzögerungssimulierung kann erreicht werden durch Einschalten beider Stufen 226, 227 wie bereits beschrieben.

Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetaktgeber 56 sich in dem Zustand befindet, indem der Transistor 275 nicht leitend und der Transistor 276 leitend ist, wobei bei nichtleitendem Transistor 275 ein positives Ansteuersignal vom Leiter 51 über die Widerstände 277 und 285 zur Basis des Transistors 283 geleitet wird, was diesen Transistor schnell durchschaltet und die Kathode der Diode 235 über die Schaltkontakte 244, 246 den Leiter 63 und den Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 283 erdet. Dies nimmt tatsächlich die Ansteuerung vom Transistor 226 weg, der abgeschaltet wird. Dies gestattet dem 1000 Hz Signal auf den linken Gebereingangsanschluß überzugehen. Somit ist es während dieses langen Zeitintervalls, in dem das Erdungssignal an der Kathode der Diode 235 empfangen wird, unwesentlich, daß das über die Leitung an der Kathode der anderen Diode 236 empfangene Signal periodisch an- und abgeschaltet wird. Ist jedoch der Transistor 275 im Kreis 56 abgeschaltet so ist der Transistor 276 durchgeschaltet und der Transistor 284 abgeschaltet. Somit wird während des gleichen Zeitintervalls ein positives Signal über den Leiter 64 und die Schaltkontakte 247, 245 an der Kathode der Diode 264 ausgeübt Demnach ist der Betrieb dieser Diode 264 im Kreis z. Zt nicht wesentlich. Jedoch arbeitet der Generator 60 periodisch während dieses Zeitir.tervalls, wobei sich die Signale an seinen Ausgangsleitern 61,62 abwechseln. Jedesmal wenn das Signal an der Leitung 62 schwach wird, wird die Kathode der Diode 265 geerdet und die Ansteuerung wird effektiv vom Transistor 227 entfernt, der abgeschaltet wird. Wenn der Verzögerungssignalgenerator 60 schaltet wird das Signal an der Leitung 62 stark und gestattet der normalen Ansteuerung (über Widerstand 251) den Transistor 227 durchzuschalten, der das Signal vom Widerstand 225 erdet Dies simuliert das Verzögerungssignal über die Leitung 76 und den Kondensator 77 zum rechten Gebereingangsanschluß des logischen Glieds. Dementsprechend wird der Transistor 226 gesperrt und während dieses Zeitintervalls der Transistor 227 periodisch durch- und abgeschaltet Während des. nachfolgenden Zeitintervalls, wenn der Radabfragetaktgeber 56 auf den Zustand schaltet in dem die Stufe 275 eingeschaltet und die Stufe 276 abgeschaltet ist wird der Transistor 227 gesperrt und der Transistor 226 periodisch gesteuert um fortlaufend Verzögerungssignale zum linken GebereingangsanschluB der Logik zu liefern.

Bei dem Zustand des Radabfragetaktgebers 56, in dem der Transistor 275 nicht leitend und der Transistor 263 leitend sind, bewirkt das über den Leiter 63, die Schaltkontakte 246, 244 und die Diode 235 ausgeübte Erdungssignal eine wirksame Erdung an der Verbindung der Diode 233 mit dem Widerstand 237. Dies nimmt dem Transistor 226 die Ansteuerung, was diesen

Transistor wirksam wegläßt und gestattet, daß ein ununterbrochenes 1000 Hz Signa! von der Leitung 68 über den Widerstand 224, den Leiter 72 und den Kondensator 73 auf den linken Gebereingangsanschluß des Regelsystems ausgeübt wird. Weil dieses Signal ununterbrochen eingeschaltet ist, wogegen das periodische Arbeiten des Verzögerungssignalgenerators 60 abwechselnd hohe und niedrige Signale erzeugt (über die Leitungen 62, 65, die Dioden 265, 261 und den Widerstand 260), um abwechselnd den Transistor 227 durch- und abzuschalten, schaltet das periodische Arbeiten des Transistors 227 wirksam das Signal an der Leitung 76 und am Kondensator 77 zum rechten Gebereingang ein und aus und läßt dieses als das niedrige Radsignal zum Regelsystem hin auftreten. Nachdem der Radabfragetaktgeber 56 den Zustand geändert hat, leitet die Sperrstufe 284, und die Sperrstufe 283 wird nicht leitend, während das Erdungssignal über die Leitung 64, die Schaltkontakte 247,245 und die Diode 264 an der Verbindung der Diode 261 mit dem Widerstand 251 ausgeübt wird. Dies entfernt wirksam die Ansteuerung vom rechtsseitigen Kreis mit dem Transistor 227, der durchgeschaltet bleibt und die rechte Seite als hohe Seite erscheinen läßt. In diesem Zeitpunkt betreibt das Ausgangssignal vom Verzögerungssignalgenerator 60, das über den Leiter 61 ausgeübt wird, periodisch die linksseitigen logischen Kreise durch abwechselndes Leitend- und Nichtleitendmachen des Transistors 226. Dies liefert die Ausgangssignale für »Auswahl im unteren Bereich« zu dem gerade von der Prüfschaltung getesteten Regelsystem. Es ist wichtig festzustellen, daß dieser Test der logischen Kreise im Anitblockier-Regelsystem 16 gleichzeitig durchgeführt werden können mit den Messungen der effektiven Widerstände in den Gleichstromkreisen einschließlich dem Geberwiderstandstestkreis 75 und dem Magnetwiderstandstestkreis 48. Dieses gleichzeitige Arbeiten der Kreise vermindert die zum Prüfen eines vollständigen Regelsystems erforderliche Zeit bedeutend.

Um ein Regelsystem zu testen, indem die Logik in einer Anordnung für »Auswahl im oberen Bereich« angeschlossen ist, in der das die Drehzahl des Rads mit der höheren Drehzahl anzeigende Signal verwendet wird, wird der Abfragemodusschalter 58 aus der in F i g. 5 und F i g. 6 angegebenen Stellung in die Stellung verschoben, in der die beweglichen Kontakte 146,147 die feststehenden Kontakte 240,241 berühren. In dieser Stellung sind die Dioden 235,264 in deren Radabfragetaktgeber unwirksam. Der Verzögerungssignalgenerator 60 arbeitet wie vorher und liefert die Schaltsignale über die Leitungen 61, 62 zu den Dioden 236, 265. In dieser Stellung des Abfragemodusschalters steht jedoch eine andere Ansteuerungsquelle zur Verfugung zum Durchschalten der Transistoren 226, 227. Es wird angenommen, daß sich der Radabfragetaktgeber 56 in der Stellung mit durchgeschaltetem Ausgangstransistor 275 und abgeschalteter Sperrstufe 283 befindet Es wird dann ein Ansteuerungssignal vom Leiter 51 über den Leiter 57, den Widerstand 286, den Leiter 63, die Schaltkontakte 246,240, den Widerstand 234, die Diode 232 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistors 226 geliefert Somit ist der Transistor 23f to lange durchgeschaltet wk der Radabfragetaktgeber 56 in der erwähnten Stellung bleibt, wobei die Sperrstufe 283 abgeschaltet ist Ist die Stufe 226 leitend, so wird das Signal zum linken Gebereingangsanschluß dauernd gesperrt. Das linke Gebersignal ist dann das niedrige Signal, weil es dauernd Null ist, während das rechtsseitige Gebereingangssignal verändert wird. s Wenn der konstante Langzeitkreis in dem Radabfragetaktgeber 56 umschaltet, so daß die Sperrstufe 283 leitend wird und die Stufe 284 nicht leitend wird, wird ein Ansteuersignal von der Leitung 51 über den Widerstand 288, den Leiter 64, die Schaltkontakte 247, 241, den Widerstand 266, die Diode 262 und den Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geliefert, was diesen Transistor anhält und das rechtsseitige Geberausgangssignal erdet. Unter diesen Bedingungen ist das rechtsseitige Signal das niedrige Signal, während das linksseitige Gebersigna! ständig periodisch ein- und ausgeschaltet wird, wenn der Verzögerungssignalgenerator 60 arbeitet.

Bei diesem Betrieb wirkt das von einem der Kondensatoren 73 oder 77 gelieferte Verzögerungssignal über die logische Schaltung in dem zu testenden Regelsystem, um ein Betätigungssignal zum Magneten zu liefern. Um eine Verwirrung während des Magnetniederspannungstests zu vermeiden, der mit dem oben in Verbindung mit Fig.4 beschriebenen Kreis 71 bewerkstelligt wird, wird der Transistor 203 in dem Magnetniederspannungstestkreis 71 durchgeschaltet, um ein Erdungssignal am Leiter 70 zu liefern, das durch Dioden 204,206 und 208 über Leiter 205,207 und 209 zu den angegebenen Kreisstellungen in Fig.5 geleitet

so wird. Die Erdung am Leiter 207 entzieht den Kreisen über die Dioden 235,236,264 und 265 wirksam jegliche Ansteuerung. Die Erdung am Leiter 205 bedeutet, daß der Transistor 226 nicht durch das über den Widerstand 234 empfangene Signal durchgeschaltet werden kann, während in ähnlicher Weise die Erdung am Leiter 209 ein Durchschaltsignal an der Überleitung über den Kreis mit dem Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 hindert Unter diesen Bedingungen können die logischen Kreise im Regelsystem nicht periodisch betrieben werden, weil keiner der Transistoren 226, 227 in der Schalteinheit 55 durch- oder abgeschaltet werden kann. Dieser ist gesperrt, während der Niederspannungsmagnettest durchgeführt wird. Dieser Test wird angezeigt durch das Aufleuchten der Fotodiode 200, wenn der Transistor 198 zur gleichen Zeit durchgeschaltet wird wie der Transistor 203 angesteuert wird zum Erzeuger.

der Erdungs- oder Abhaltesignale über die Leiter 205, 207 und 209.

Um ein Rad-für-Rad-System zu testen, in dem keine

so Logik vorhanden ist zum Auswählen entweder des höheren oder niedrigeren Signals von zwei oder mehr Raddrehzahlanzeigesignalen, wird der Abfragemodus schalter 58 verstellt so daß die beweglichen Kontakte 246, 247 die freien Kontakte 242, 243 berühren. In diesem Zustand des Kreises werden die von Radabfra getaktgeber 56 über die Leiter 63, 64 geleiteten Ausgangssignale in der Schalteinheit nicht verwendet Es werden jedoch noch die Signale von Verzögerungssignalgenerator 16 über den Leiter 61 und die Dioden 236, die Dioden 233 und über den Leiter 62 und die Diode 265 ausgeübt um die Schalttransistoren 226,227 periodisch zu betreiben. Somit empfangen die linken und rechten Gebereingangsanschlüsse Verzögerungssignale, wenn der Verzögerungssignalgenerator 60 periodisch arbeitet ohne irgendwelche Änderung der Arbeitsweise durch den Radabfragetaktgeber 56.

Hierzu 6 Blatt Zeichnungen

Claims (19)

Patentansprüche:

1. Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem, das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern verbundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator und einer Spulenprüfschaltung, wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblokkier-Regelschaltung verbindbar ist und dieser gleichmäßigem Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die Spulenprüfschaltung mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Schalt- is einheit (55) aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgeherator (54) mit den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbindbar ist. daß sie einen Verzögerungssignalgenerator (60) aufweist, dessen Ausgang mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und dieser Verzögerungssignale übermittelt, durch die die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale durch die Schalteinheit (55) freigegeben und unterbunden wird; daß der Verzögerungssignalgenerator (60) ferner mit Eingängen der Spulenprüfschaltung (48) und eines dieser zugeordneten Spulenprüfmodusumschalters (71) verbunden ist und zusammen mit dem Letzteren über die Verzögerungssignale eine Umschaltung des Spulenprüfmodus von der Prüfung im simulierten Betrieb unter Einbeziehung der Antiblockier-Regelschaltung (16) auf die Prüfung des Spulenstandes sowie auf Prüfung des Durchganges des Erregerspulenkreises bewirkt; daß ein Geberprüfkreis (75) vorgesehen ist, der mit den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbunden ist und feststellt, ob deren Widerstand innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt; und daß ein Abfragemodusschalter (58) vorgesehen ist, der mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und das Anlegen von Radgeschwindigkeitssignalen an die Ausgänge der Schalteinheit (55) steuert.

2. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Geberprüfkreis (75) einen ersten Vergleichswiderstand (111) für den oberen Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) und einen zweiten Vergleichswiderstand (140) für den unteren Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) aufweist; daß der Geberprüfkreis (75) für jeden der Radgeschwin- so digkeitsgeber (14; 19) eine erste Diskriminatorstufe für den oberen Grenzwert (106; 124) und eine zweite Diskriminatorstufe für den unteren Grenzwert (116, 105; 122,127) aufweist, bei denen ein erster Eingang jeweils mit einem Eingangswiderstand (118; 125) verbunden ist, welcher zusammen mit dem zugeordneten Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) einen Spannungsteiler bildet, und ein zweiter Eingang mit dem entsprechenden Vergleichs widerstand (111, 140) verbunden ist; und daß die einem Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) zugeordneten Diskriminatorstufen den Eingang eines diesem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten An7f»igekreii>es (101, 102; 130,131) beaufschlagen.

3. Prüfschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Diskriminatorstufen jeweils einen Eingangstransistor (106, 116, 122, 124) aufweisen, dessen Kollektor-Emittervorspannung über den entsprechenden Vergleichswiderstand (Ul, 140) einstellbar ist.

4. Prüfschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils eine der einem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Diskriminatorstufen einen Inverter (105; 127) aufweist, so daß das Ausgangssignal der ersten Diskriminaiorstufe (106; 124) bei Oberschreiten des oberen Grenzwertes und das Ausgangssignal der zweiten Diskriminatorstufe (116, 105; 122, 127) bei Unterschreiten des unteren Grenzwertes gleiche Polarität aufweisen.

5. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichswiderstände für den oberen und unteren Grenzwert durch Potentiometer (111,140) gebildet sind.

6. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung (48) einen ersten Referenzwiderstand (148) für den oberen Grenzwert des Widerstandes der Erregerspule (37) und einen zweiten Referenzwiderstand (172) für den unteren Grenzwert des Widerstandes der Erregerspule (37) aufweist; daß die Spulenprüfschaltung (48) eine erste mit der Erregerspule (37) und dem ersten Referenzwiderstand (148) verbundene Diskriminatorschaltung (161,164) für den oberen Grenzwert und eine zweite mit der Erregerspule (37) und dem zweiten Referenzvviderstand (172) verbundene Diskriminatorschaltung (158) für den unteren Grenzwert aufweist; und daß die beiden Diskriminatorschaltungen (161,164; 158) den Eingang eines Widerstandsanzeigekreises (156, 157) beaufschlagen, durch welchen ein im vorgebenen Widerstandsbereich liegender Widerstand der Erregerspule (37) angezeigt ist.

7. Prüfschaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstandsanzeigekreis einen Einschalttransistor (157) und eine in Reihe geschaltete Leuchtdiode (156) aufweist, wobei die Basis des Einschalttransistors (157) über die Kollektor-Emitterstrecke eines Ausgangstransistors (158) der zweiten Diskriminatorschaltung in Durchlaßrichtung vorgespannt ist, wenn der Widerstand der Erregerspule (37) über dem unteren Grenzwert liegt, und über die Kollektor-Emitterstrecke eines Ausgangstransistors (164) der ersten Diskriminatorschaltung mit der Emitterklemme des Einschalttransistors verbindbar ist, wenn der Widerstand der Erregerspule über dem oberen Grenzwert lieft.

8. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 u.'s 7, wobei die Erregerspule fest mit der ersten Klemmt einer Betriebsstormquelle verbunden ist und über die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten Klemme der Betriebsstromquelle verbindbar ist, gekennzeichnet durch einen Funktionsanzeigekreis, welcher eine einerseits mit der ersten Klemme der Betriebsstromquelle und andererseits mit der mit der Antiblockier-Regelschaltung (16) verbundenen Klemme (142) der Erregerspule (37) verbundene Leuchtdiode (144) aufweist.

9. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung (48) einen durch die vom Verzögerungssignalgenerator (60) gelieferten Verzögerungssignale gesteuerten Klemmenumschalter (153, 170, 173) aufweist, über den die mit der Antiblockier-Regelschaltung (16) verbundene Klemme (142) der Erregerspule (37) über den zweiten Referenzwider-

stand (172) mit der Klemme der BetriebsstromqueUe verbindbar ist, mit der sie auch über die Antiblokkier-Regelschaltung (16) verbindbar ist, oder mit einer Hilfversorgungsklemme verbindbar ist, welche ein von der anderen Klemme der Betriebsstromquei-Ie nur wenig verschiedenes Potential aufweist.

10. Prüfschaltung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfsversorgungsquelle die Kathode einer mit dem positiven Pol der Betriebsstromquelle verbundenen Zenerdiode (151) ist

11. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis

10, gekennzeichnet durch einen Spulenprüf modusumschalter (71), der einen Taktgeber (185, 186) aufweist und in Abständen der Schalteinheit (55) Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale vom Geschwindigkeitssignaigenerator (54) an die Antiblockier-Regelschaltung (16) weitergegeben werden, so daß die Errsgerspule (37) über die Antiblockier-Regelschaltung für vorgegebene Zeitspannen nicht mit Erde verbunden wird.

12. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis

11, dadurch gekennzeichnet, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit (55) jeweils über einen Vorschaltwiderstand (224, 225) mit dem Ausgang des Geschwindigkeitsgenerators (54) verbunden sind und über ihnen zugeordnete steuerbare Schalter (226,227) getrennt an Erde kurzschließbar sind.

13. Prüfschaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die steuerbaren Schalter (226, 227) durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die Schließsignale aller steuerbaren Schalter (226, 227) zugleich durch den Spulenprüfmodusumschalter (71) kurzschließbar sind; daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226, 227) gemäß den am Ausgang des Verzögerungssignalgenerators (60) anstehenden Verzögerungssignalen kurzschließbar sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226,227) gemäß den Signalen an den ihnen zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters (58) kurzschließbar sind.

14. Prüfschaltung nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß jedem der steuerbaren Schalter (226,227) ein Schlie3anzeigekreis (253,255; 268,271) zugeordnet ist.

15. Prüfschaltung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Schließanzeigekreise Anzeigeschalter (253, 268) aufweisen, die durch Ausgangssignale des Spulenprüfmodusschalters (71) betätigbar sind.

16. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfra^emodusschalter (58) einen Umschalter (246) mit einer Anzahl von Arbeitsstellungen aufweist, die um eins größer ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber (14,19), wobei jeweils in einer der Arbeitsstellungen des Schließsignals eines dieser Stellung zugordneten Steuerschalters (226, 227) erhalten bleibt, während die restlichen Schließsignale kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten Arbeitsstellung die steuerbaren Schalter (226, 2227) nacheinander aktiviert werden.

17. Prüfschaltung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfragemodusschalter (58) mit einem Radabfragetaktgeber (56) verbunden ist, welcher in der letzten Arbeitsstellung des Radabfragemodusschalters (58) die nacheinander in vorgegebener Reihenfolge stattfindende Aktivierung der steuerbaren Schalter (226,227) steuert

18. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis

17, gekennzeichnet durch einen Netzprüfkreis (46).

19. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis

18, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigekreise der Prüfschaltung jeweils eine Prüfklemme (T) aufweisen, über die sie gesondert mit Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit überprüfen zu können.