DE2333664C3 - Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät - Google Patents
Nichtdispersives Infrarot-GasanalysengerätInfo
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 10
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 2
- 108010014172 Factor V Proteins 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 210000002159 anterior chamber Anatomy 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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- Analytical Chemistry (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät
mit einem Infrarot-Strahler, einer -4f»
Meß- und einer Referenzküvette, einem Zerhacker zur wechselseitigen Unterbrechung des Strahlengangs
durch die Meß- und die Referenzküvette, einem Doppelschicht-Empfänger mit zwei hintereinander Lm
Strahlengang angeordneten und mit dem nachzuweisen- ΐϊ
den Gas gefüllten Detektorkammern, deren vordere eine kürzere absorbierende Weglänge aufweist als die
hintere, sowie mit einem in der hinteren Detektorkammer mit der Spitze entgegen der Strahlungsrichtung
angeordneten Kegel. r><>
Bei derartigen Gasanalysengeräten wird im der vorderen Empfängerschicht vorwiegend Energie aus
dem für die Absorption wahrscheinlichsten Wellenlängenbereich, z. B. dem Zentrum einer Absorptiomlinie,
und in der hinteren, längeren Schicht aus dem weniger τ> wahrscheinlichen Flankenbereich absorbiert, da die
vordere Schicht die leicht absorbierbaren Wellemlängenbereiche bereits vorabsorbiert hat. Die Differenz
der in den beiden Empfängerkammern absorbierten Strahlungsenergien ist ein Maß für die Konzentration f>o
des zu analysierenden Gases in dem Gasgemisch.
Im Nullpunkt der Messung, wenn die Konzentration des zu analysierenden Gases Null ist, soll die
Empfangskammer kein Ausgangssignal liefern. Das würde bedingen, daß im Nullpunkt der Messung die e'>
Drtickimpulsc, die aufgrund der Absorption der modulierten Strahlung in den beiden Empfängerschich
ten entstehen, in Amplitude und Phase gleich groß sind,
um sich am Membrankondensator im dynamischen Gleichgewicht zu befinden,
Aus der SU-PS 1 78 158 ist bekannt eine Doppelsphicht-Empfangskammer
offenbar für ein nichtdispersives infrarot-Analysengerät, wobei die vordere Detektorschicht
dieser Kammer eine kürzere Absorptionslänge als die hintere Detektorschicht besitzt und wobei in
der hinteren Schicht ein mit flügelartigen Ansätzen versehener Körper angeordnet ist Bei diesem Körper
handelt es sich jedoch offensichtlich um einen starr, also nicht verstellbar angeordneten Körper, hinsichtlich
dessen Gestaltung keine Klarheit darüber besteht, ob der zentrale Teil massiv oder rohrförmig ausgebildet ist
Auch ist nicht erkennbar, wie das zugehörige Analysengerät im übrige« aufgebaut sein soll, ob es sich um ein
Ein- oder ein Zwei-Strahl-Gerät handeln soll.
Ein Infrarot-Gasanalysengerät der eingangs angegebenen Gattung ist aus der Druckschrift Nr. I 557/9 der
Anmelderin bekannt Bei diesem Gerät wird die Amplitude eines durch Absorption von modulierter
Strahlung in einer Empfängerschicht erzeugten Druckimpulses u. a. bestimmt durch die gesamte je Volumeneinheil absorbierte Strahlungsleistung. Der zeitliche
Verlauf des Druckimpulses und damit seine Phasenlage wird im wesentlichen durch die Zeitkonstanten der
Erwärmungs- und Abkühlungseffekte festgelegt, die für ein bestimmtes Gas u. a. vom Volumen und den
Wärmeableitungseigenschaften der Meßkammer abhängen. Zum Abgleich der Impulsamplituden werden
die Kammerlängen und die Partialdriicke entsprechend gewählt sowie für die hintere Kammer eine geeignete
nichtzylindrische Geometrie verwendet Wegen der unterschiedlichen Geometrie der Kammern, den verschiedenen
Kapillarendurchmessern sowie Unterschieden in den Eigenschaften der Gase in den beiden
Schichten ergeben sich aber verschiedene Zeitkonstanten für Erwärmung und Abkühlung; daher ist der
Abgleich der Impulse nicht vollkommen. Es entsteht ein Phasenunterschied zwischen dem Signal der vorderen
und dem der hinteren Schicht, der selbst bei völligem Amplitudenabgleich zu einem Ressiignal führen kann,
das größer als das Meßsignal für den jeweiligen Bereichsendwert ist. Der bei diesem bekannten
Analysengerät in der hinteren Schicht bzw. Kammer vorgesehene Kegel dient der Erreichung der in den
genannten Absatz angesprochenen geeigneten nichtzylindrischen Geometrie für die hintere Kammer und
damit zum Abgleich der Impulsamplituden.
Selbst bei genauester und gleichmäßiger Herstellung und Füllung der Meßkammer ist eine absolute
Symmetrie nicht gegeben, da in die Symmetrie die Strahlengeometrie und die wellenlängenabhängige
Strahlerintensität, also z. B. die Strahlertemperatur, mit eingehen.
Es müssen daher zum exakten Nullabgleich Mittel gefunden werden, die sowohl die Amplituden als auch
die Phasen der in den beiden Empfängerschichten entstehenden Druckimpulse abzugleichen gestatten;
besonders vorteilhaft ist es, diesen Abgleich für Amplitude und Phase praktisch getrennt durchführen zu
können.
Man hat einen vollkommenen Abgleich durch Eingriff in die Strahlengeometrie etwa mittels einstellbarer
Blenden vor der Empfangskammer zu erreichen versucht. Dadurch wird jedoch die je Volumeneinheil
absorbierte Energie in beiden Schichten verändert, und es erfolgt zugleich eine nicht erwünschte Meßbcrcichsünderung
(DE-PS 16 48 983)
Auch das Anbringen der Blende zwischen den Empfängerschichten ergibt keine befriedigende Lösung,
da hierdurch in erster Linie die Amplituden der Druckimpulse, kaum jedoch die durch die verschiedenen
Abkühlungs- und Erwärmungszeiten bedingten Phasendifferenzen verändert werden können (PE-PS
10 17 385), Man hat auch versucht, einen Kammerabgleich
durch pneumatische Nebenschlüsse und Puffervolumina zu ermöglichen. Dies ist jedoch aufwendig und
umständlich und ist durch die Volumenvergrößerung in auch mit einem Empfindlichkeitsverlust verbunden
(DE-PS 15 98 893).
Das gleiche gilt für die Lösung, bei der der Druckimpuls jeder Absorptionsschicht über ein passives
Ausgleichsvolumen, welches jeweils dem Volumen der π
anderen Absorptionsschicht entspricht, auf die Kondensatormembrane
geleitet wird. Auch in diesem Fall ergibt sich eine Signalschwächung um den Faktor
V1Z(Vi + Vr0(VOi)(DE-OS 21 12 525).
Es ist auch schon bekannt, beide Absorptionsschichten
voneinander durch ein axial bewegbares, von außerhalb der Meßkammer betätigbares Fenster zu
trennen (DE-AS 12 96 839) oder zwischen die beiden Absorptionsschichten eine Kompensationsschicht mit
einstellbarem Gasdruck einzufügen (DE-PS 16 73 159). _>■-,
Mit Hilfe dieser Vorrichtung gelingt es zwar, die Amplituden der Signale abzugleichen, die Geometrie
der Schichten und damit die Erwärmungs- und Abkühlungszeiten bleiben jedoch unverändert, so daß
der Phasenabgleich unvollkommen ist. Darüber hinaus jn erfolgt bei der ersten Lösung durch die Veränderung
der Volumina beider Kammern eine Meßbereichsänderung.
Bei einer weiteren Lösung wird vorgeschlagen, daß im Nullpunkt auftretende Differenzsignal nach Amplitu- η
de und Phase durch ein Hilfssignal einstellbarer Amplitude und Phasenlage zu kompensieren. Dies ist
ein relativ kompliziertes Verfahren (DE-PS 15 98 893).
Aufgabe der Erfindung ist es, eine einfache, zuverlässige, von außerhalb der Meßkammer zu
bedienende Vorrichtung mit der Möglichkeit zum exakten Meßkammerabgleich zu schaffen, ohne daß die
Meßempfindlichkeit verändert wird, bei der also nur auf die hintere Kammer eingewirkt wird und die Amplitude
und Phase praktisch getrennt voneinander verändert werden können. Dazu muß diese Vorrichtung so
beschaffen sein, daß einerseits das wirksame absorbierende Volumen der hinteren Schicht verändert werden
kann und andererseits der Erwärmungs- und Abkühlungsprozeß in der hinteren Schicht zeitlich beeinflußt
werden kann.
Diese Aufgabe wird erl'indungsgemäß dadurch gelöst, daß der Kegel axial verschiebbar und um seine Achse
drehbar gelagert ist und daß an dem Kegel zwei flügelähnliche Ansätze diametral zueinander ange- ■-,-,
bracht sind.
In einer weiteren Ausbildung der Erfindung sind die flügelartigen Ansätze in verschiedene Stellungen
klappbar, wobei die Klappvorrichtung von außerhalb der Meßkammer betätigt werden kann. wi
Vorzugsweise besteht der mit flügelartigen Ansätzen versehene Körper aus einem wärmeleitenden Material.
Dieser Körper kann auch eine optisch reflektierende Oberfläche besitzen.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen tr>
liarin, daß ein exakter Nullabgleich für Amplitude und Phase praktisch gelrennt durchführbar ist. Mit exaktem
Nullabgleich sind arich kleine Meßbereiche noch erfaßbar, und es ergibt sich eine gute Langzeitstabilität.
Eine Signalschwächung und damit ein Empfindlichkeitsverlust tritt nicht ein,
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in dsn
Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 den Gesamtaufbau eines Infrarot-Gasanalysengerätes,
Fig,2 eine Ausführungsform des mit flügelähnlichen
Ansätzen versehenen Körpers,
F i g. 3 einen Ausklappmechanismus der flügelähnlichen Ansätze und
F i g. 4 eine grafische Darstellung des Restsignals = f
(Höhen- und Winkelstellung des eingebrachten Körpers).
Das dargestellte Infrarot-Gasanalysengerät besteht aus einer Infrarot-Strahlungsquelle 1 mit Reflektor 2
und einer rotierenden Blende 3 mit Motor M zur Modulation der Strahlung. Die modulierte Strahlung
durchläuft in diesem Fall jeweils gegenphasig den zugeordnet Referenz- bzw. Meßraum der Küvette 4
und fällt anschließend in die MeC^.mmer 6 mit der vorderen Absorptionsschicht 7 und der hinteren
Absorptionsschicht 8, die mit einem Membrankondensator 9 verbunden sind. Etwa vorhandene statische
Druckunterschiede zwischen den Absorptionsschichten 7 und ü werden über eine Verbindungskapillare 10
ausgeglichen. Im Innern der hinteren Absorptionsschicht 8 ist ein mit flügelähnlichen Ansätzen versehener
Körper 11 angebracht, dessen Höhe und Winkelstellung
über eine Schraubenspindel 12 von außen einstellbar sind.
In F i g. 2 ist eine Ausführungsform des mit flügelähnlichen Ansätzen versehenen Körpers 11 angegeben. Auf
den Seitenflächen eines Kegels oder Kegelstumpfes 13 sind zwei Flügel 14 angebracht.
Fig.3 zeigt einen Körper 11 mit ausklappbaren
Flügeln 14, deren Stellung durch eine Einrichtung 15 in Kombination mit einer Feder 16 variiert werden kann.
Die Wirkung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist die folgende:
Durch die verschiedene Höhenstellung des Flügelkörpeis
11 in der hinteren Absorptionsschicht 8 wird das wirksame Absorptionsvolumen der hinteren Schicht
verändert, was sich besonders auf die Amplitude des Drucksignals der hinteren Schicht 8 auswirkt. Die
Amplitude des Drucksignals der vorderen Kammer 7 wird nicht beeinflußt. Mit der Höhenstellung des
Flügelkörpers 11 in der hinteren Absorptionsschicht 8 kann man demnach die Amplitude des Drucksignals der
hinteren Schicht 8 an die des Drucksignals der vorderen Schicht 7 anpassen. In der beschriebenen Zweistrahlanordnung
mit geteilter Küvette 4 kann man durch Drehung des Körpers 1! bereits einen guten PhasenabfleicS
erreichen.
Durch Drehung des Körpers 11 werden nämlich dessen Flügel in verschiedene Stellungen zu den beiden
Zentren der in der hinteren Schicht absorbierten Strahlungsleistung gebracht. Je nach Stellung haben
Gasmoleküle in der durch die Strahlung erwärmten Schicht längere oder kürzere Wege zu den Wänden der
Flügel, wodurch in erster Linie die Abkühlungszeiten der Gasschicht und s
>mit die Phasenlage des Cruckimpulses der hinteren Sc .icht 8 verändert werden. Wählt
man für die Schraub' ispindel 12 ein genügend feines
Gewinde, so kann für jede Höhenstellung des Korpers 11 praktisch getrennt ein Phasenabgleich durchgeführt
werden.
Die Ergebnisse eines entsprechenden Experimentes zeigt F i g. 4. Dort ist die Größe des Differenzsignal in
% · cm als Funktion von der Stellung des Körpers 11 in
der hinteren Absorptionsschicht 8 aufgetragen. Es ergibt sich eine Kurve mit einer Grob- und einer
Feinstruktur. Der Grobstruktur, die durch die Höhenstellung des Körpers Il bedingt ist, ist eine durch die
Winkelstellung verursachte Feinstruktur über der Winkelstellung ergibt sich somit η
Feinregulierung, mit der man das Differenz sehr kleine Werte bringen kann (in die
0,03% · cm). In F i g. 2 ist ergänzend und zu \ zwecken strichliniert noch das Restsignal fü
des Fehlens des Kegels dargestellt.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentansprüche;1, Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät mit einem Infrarot-Strahler, einer MeO- und einer Referenzkflvette, einem Zerhacker zur wechselseitigen Unterbrechung des Strahlengangs durch die Meß- und die Referenzküvette, einem Doppelschicht-Empfänger mit zwei hintereinander im Strahlengang angeordneten und mit dem nachzuweisenden Gas gefüllten Detektorkammern, deren vordere eine kürzere absorbierende Weglänge aufweist als die hintere, sowie mit einem in der hinteren Detektorkammer mit der Spitze entgegen der Strahlungsrichtung angeordneten Kegel, dadurch gekennzeichnet, daß der Kegel (13) axial verschiebbar und um seine Achse drehbar gelagert ist und daß an dem Kegel (13) zwei flügelähnliche Ansätze (14) diametral zueinander angebracht sind.Z Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die flügelartigen Ansätze (14) in verschiedene Stellungen klappbar angeordnet sind.3. Gerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine den flügelartigen Ansätzen (14) zugeordnete Klappeinrichtung (15) von außerhalb der Meßkammer (6) betätigbar ist4. Gerät nach irgendeinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der mit flügelartigen Ansätzen (14) versehene Kegel (13) aus einem wärmeleitenden Material besteht so5. Gerät nach irgendeinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der mit flügelartige;. Ansätzen (14) versehene Kegel (13) eine optisch reflektierende Oberfläche besitzt.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2333664A DE2333664C3 (de) | 1973-07-02 | 1973-07-02 | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät |
US05/484,336 US3950644A (en) | 1973-07-02 | 1974-06-28 | Non-dispensive infrared gas analyzer |
JP7440074A JPS5440040B2 (de) | 1973-07-02 | 1974-07-01 | |
GB2936974A GB1431429A (en) | 1973-07-02 | 1974-07-02 | Non-dispersive infrared gas analyser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2333664A DE2333664C3 (de) | 1973-07-02 | 1973-07-02 | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2333664A1 DE2333664A1 (de) | 1975-01-23 |
DE2333664B2 DE2333664B2 (de) | 1979-04-05 |
DE2333664C3 true DE2333664C3 (de) | 1979-11-29 |
Family
ID=5885740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2333664A Expired DE2333664C3 (de) | 1973-07-02 | 1973-07-02 | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3950644A (de) |
JP (1) | JPS5440040B2 (de) |
DE (1) | DE2333664C3 (de) |
GB (1) | GB1431429A (de) |
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CN105606560B (zh) * | 2016-01-12 | 2018-05-29 | 东莞石龙津威饮料食品有限公司 | 一种乳酸菌饮料保质期质量检测传感器及检测方法 |
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-
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- 1973-07-02 DE DE2333664A patent/DE2333664C3/de not_active Expired
-
1974
- 1974-06-28 US US05/484,336 patent/US3950644A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-07-01 JP JP7440074A patent/JPS5440040B2/ja not_active Expired
- 1974-07-02 GB GB2936974A patent/GB1431429A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5440040B2 (de) | 1979-12-01 |
DE2333664A1 (de) | 1975-01-23 |
US3950644A (en) | 1976-04-13 |
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JPS5039190A (de) | 1975-04-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |