DE2315478A1

DE2315478A1 - Schaltungsanordnung zum pruefen von digital arbeitenden baugruppen mit hilfe einer binaerbitmusterquelle

Info

Publication number: DE2315478A1
Application number: DE19732315478
Authority: DE
Inventors: Maximilian Guerth
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1973-03-28
Filing date: 1973-03-28
Publication date: 1974-10-03

Description

Schaltungsanordnung zum Prüfen von digital arbeitenden Baugruppen mit Hilfe einer Binbrbitmusterquelle.
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zum Prüfen von digital arbeitenden Baugruppen mit Hilfe einer Binärbitmusterquelle, die in einer Vielzahl von Schritten an die Eingänge dieser Baugruppen mit einer hohen Taktimpulsfrequenz wechselnde 3inärbitmuster anlegt, deren Auswirkung ein Auswerter an den Ausgängen beobachtet und ein Vergleicher mit Soll-Werten vergleicht.
Derartige Prüfeinrichtungen sind schon hinreichend bekannt. Wie beispielsweise in der deutschen Offenlegungsschrift 2 121 330 angegeben ist, wird eine Taktimpulsfrequenz empfohlen, die sich danach richtet, für welche Frequenz der Prüfling gebaut ist. Enthält der Prüfling jedoch langsam arbeitende Bestandteile, dann müsse die Frequenz herabgesetzt werden, damit keine Prüfschritte als fehlerhaft angezeigt werden, die es nicht sind. Die Lehre dieser Literaturstelle, die Prüffrequenz herabzusetzen, ist von Nachteil, denn es können leicht Fehler übersehen werden oder einzelne Schritte als fehlerhaft bezeichnet werden, die wegen des dynamischen Verhaltens der Schaltelemente der Baugruppe bei einer anderen Frequenz, als der Betriebsfrequenz, abweichend arbeiten.
Es ist nun Aufgabe der Erfindung, eine Schaltungsanordnung anzugeben, mit der das dynamische Verhalten von digital arbeitenden Baugruppen mit einer Taktimpulsfrequenz geprüft wird, die der. Betriebefrequenz entspricht. Langsam arbeitende Baugruppen-Bestandteile sollen jedoch ebenfalls einer einwandfreie Prüfergebnisse liefernden Untersuchurg unterzogen werden.
Erreicht wird das gemäß der Erfindung dadurch, daß bei der Verwendung einer Prüftaktimpulsfrequenz,die etwa gleich groß ist wie die Betriebsfrequenz der Einrichtung, mit der die Baugruppen betrieben werden, für die Baugruppenschritte, die beispielsweise für eine interne Impulsverarbeitung eine längere Arbeitszeit benötigen, eine Taktimpulsfreigabesteuerung zwischen den Taktimpulsgenerator, der die Binärbitmusterquelle weiterschaltet, und die Baugruppe einschaltbar ist, die eine vorelnstellbare Anzahl von Fortschaltetakten des Taktimpulsgenerators unterdrückt.
Dadurch, daß zwischen dem Taktimpulsgenerator und der zu prüfenden Baugruppe eine Taktimpulsfreigabesteüerung eingefügt ist, kann die Schaltungsanordnung zum Prüfen solcher Baugruppen beim jeweilig interessierenden Prüfschritt eine bestimmte, voreinstellbare Anzahl von Takten des Taktimpulsgenerators unterdrücken und damit dem Prüfling die nötige Zeit geben, die interne Verarbeitung beispielsweise in einem sequentiellen Netzwerk einwandfrei-zu Ende zu führen.
Damit die Prüfzeit nicht unnötig ausgedehnt wird, ist der Taktimpulsfreigabesteuertlng gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ein erster Zähler zugeordnet, dessen aktive Stufenzahl einstellbar ist. Es braucht also auch nicht auf eine fest eingestellte Zeit Rücksicht genommen zu werden, die vielleicht zu lang oder zu kurz sein könnte.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist der Taktimpulsfreigabesteuerung ein zweiter einstellbarer Zähler zugeordnet, der genau den Taktimpuls angibt, nach dem eine Pause in der Fortschaltung des Binärbitmustergenerators einzulegen ist.
Durch diese Eins teIlbarkeit ist die Prüfeinrichtung für mehrere unterschiedliche Baugruppen einsetzbar, bei denen dieser gewählte Taktimpuls bei anderen Schritten liegt.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Dabei stellt G den Taktimpulsgenerator, B die Binärbitmusterquelle'P die zu prüfende Baugruppe, S die Taktsteuerung und F die Taktimpulsfreigabesteuerung dar.
Bei jedem Prüfschritt, bei dem das Binärbitmuser mit der Frequenz des Generators G wechselt, werden von einem nicht dargestellten Auswerter die logischen Potentialverhältnisse an den Ausgängen der zu prüfendenBaugruppe P beobachtet. Ein gleichfalls nicht dargestellter Vergleicher vergleicht diese Potentiale mit den Potentialen an den Ausgängen einer mit gleichen Potentialen an den Eingängen beschalteten Muster-Baugruppe, die garantiert keine Fehler enthält. Dieser Sollwert kann aber auch anstelle der Muster-Baugruppe einem Bandspeicher oder einer anderen Speichereinrichtung entnommen werden, die die Sollwerte für den Vergleich enthält.
Falls ein Ist-Wert mit einem Soll-Wert nicht übereinstimmt, wird die Fortschaltung des Binärmusters durch Sperren der Taktsteuerung S angehalten und der Pehler in bekannter Weise gemeldet.
Mit Hilfe des Zählers Z wird vor Prüfungsbeginn die Nummer des Prüfimpulses eingestellt, bei dem die Pause beginnen soll. Alle Taktimpulse des Generators G gelangen während der Prüfung über die Taktsteuerung S zum Zähler Z, der sie abzählt und bei Erreichen der eingestellten Zahl die Impulsfreigabesteuerung F sperrt, so daß eine Zeitlang keine weiteren Impulse zum Binärbitmustergenerator B durchdringen können.
Wie groß diese Pause ist, d.h welche Anzahl von Taktimpulsen des Impulsgenerators G zu unterdrücken ist, wird von der Einrichtung T bestimmt. Diese Einrichtung T kann ein binäres Teiler sein.oder auch ein anderer Zähler, beispielsweise ein Schieberegister. Für vorliegenden Fall sei angenommen, daß ein dreistufiger s;-chroner Teiler die Anzahl der zu unterdrückenden Impulse abmißt. Um die Länge der Pause den Bedürfnissen der Baugruppe anzupassen, wird nur eine bestimmte Anzahl von Stufen des Teilers aktiviert. Diese Aktivierung erfolgt mit Hilfe eines Einstellers, der auf die Schritte 1, 2, 4 oder 8 gestellt werden kann.
Falls noch größere Zeiten benötigt werden, kann dieser Teiler T selbstverständlich auch mehr Stufen enthalten.
Während des gesperrten Zustandes des Binärbitmustergenerators B arbeiten die sequentiellen Netzwerke der zu prüfenden Baugruppe weiter, gesteuert durch die von der aktsteuerung S ankommenden Taktimpulse, so daß die an den Ausgängen abnehmbaren Potentiale entsprechend beobachtet und mit den Sollwerten verglichen werden können.
Die Impulse des Generators G, die nicht zum Binärbitmustergenerator B gelangen sollen, werden beim Prüfen auf die Einrichtung T geleitet, die deren Anzahl abzählt und bei Erreichen der voreingestellten Zahl die Impulsfreigabesteuerung F wieder freigibt, so daß die weiteren Impulse wieder bis zum Binärbitmustergenerator B hindurchdringen und diesen weiterschalten können.
Weitere Einzelheiten einer solchen Schaltungsanordnung zum Prüfen von digital arbeitenden Baugruppen sind bekannt und werden deshalb hier nicht weiter beschrieben.
5 Patentansprüche 1 Figur

Claims

Pate ntansprüche f;Z Schaltungsanordnung zum Prüfen von digital arbeitenden Baugruppen mit Hilfe einer Bin S utsterquelle, die in einer Vielzahl von Schritten an die Eingänge dieser Baugruppen mit einer hohen Taktimpulsfrequenz wechselnde Binärbitmuster anlegt, deren Auswirkung ein Auswerter an den Ausgängen beobachtet und ein Vergleicher mit Soll-Werten vergleicht, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Verwendung einer Prüftaktimpulsfrequenz, die etwa gleich groß ist wie die Betriebsfrequenz (1s5 MHz) der Einrichtung, mit der die Baugruppen (P) betrieben werden, für die Baugruppenschritte, die beispielsweise für eine interne Implilsverarbeitung eine längere Arbeitszeit benötigen, eine Taktimpulsfreigabesteuerung (F) zwischen den Taktimpulsgenerator (G), der den Binärbitmustergenerator (B) weiterschaltet, und die Baugruppe (P) einschaltbar ist, diebine voreinstellbare Anzahl von Fortschaltetakten des Taktimpulsgenerators (G) unterdrückt.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Taktimpulsfreigabesteuerung (P) zum Abzählen der zu unterdrückenden Takte ein mehrstufiger erster Zähler (T) zugeordnet ist, dessen aktive Stufenzahl einstellbar'ist.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste mehrstufige Zähler (T) zum Abzählen der zu unterdrückenden Takte ein binärer Impulsteiler ist.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste mehrstufige Zähler (T) zum Abzählen der zu unterdrückenden Takte ein Schieberegister ist.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Taktimpulsfreigabesteuerung (F) ein zweiter einstellbarer Zähler (Z) zugeordnet ist, der die Anzahl der Prüftakte bis zu dem Baugruppenschritt abzählt, der eine längere Arbeitszeit benötigt.

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