DE2259284A1 - Einrichtung zur bildformanalyse - Google Patents

Einrichtung zur bildformanalyse

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Description

  • Einrichtung zur Bildformanalyse Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verbesserung der Einrichtung zur Analyse der Bildform, die auf einer Umwandlung der Bildform in einen Fourierkoeffizientensatz nach einem System zweidimensionaler Funktionen beruhen, und kann beispielsweise zur Bilderkennung, Trennung des Bildes vom Rauschhintergrund, Codierung und Fotometrierung eingesetzt werden.
  • Bekanntlich kann ein beliebiges Bild in Form einer Fourierreihe dargestellt werden, deren Koeffizienten, die das Bild eindeutig charakterisieren, ein Bildspektrum nach Raumfrequenzen bilden. Üblicherweise werden als vollständiges orthogonales Funktionensystem, nach dem eine Fourierentwicklung erfolgt, Sinus- und Kosinusfunktionen benutzt.
  • Jedoch können als Basis-Funktionensystem Tschebyschewsche Polynome, Walsh- und Besselfunktionen sowie ein beliebiges anderes vollständiges orthogonales Funktionensystem eingesetzt werden. Die Operationen über den Raumfrequenzspektren eröffnen im Unterschied zu den Operationen unmittelbar über dem Bild weite Möglichkeiten zur Bildumwandlung, zum Vergleich des Gesamtbildes oder von dessen Teilen mit Normalen, zur Entfernung der überflüssigen Bildteile, Identifizierung u. dgl. m.
  • Normalerweise wird das optische Bild in eine Fourierreihe nach orthogonalen Funktionen zur anschließenden Analyse durch eine mechanische Modulierung des Bildes mittels Masken entwickelt, deren geometrisches Bild den genannten Funktionen entspricht. Die Fourierkoeffizienten können unter Verwendung elektronenoptischer Einrichtungen zur Analyse der Bildform berechnet werden.
  • Es ist zum Beispiel eine Einrichtung weitbekannt, die ein Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes enthält, das eine Lichtquelle in sich einschließt, die mittels Linse ein paralleles Strahlenbündel ausbildet, in dessen Weg eine Begrenzungsblende für das Bildfeld steht.
  • Hinter der Begrenzungsblende liegt ein Photofilm mit dem zu analysierenden Bild und ein Photofilm mit einem Satz optischer Masken, die abwechselnd in das Bildfeld eingeführt werden und eine Gesamtheit durchsichtiger und undurchsichtiger Filmteile darstellen, deren Verteilung auf Gruppen einem durch ein System zweidimensionaler Funktionen vorgegebenen Gesetz entspricht. Die Einführung von Matrizen in das Bildfeld wird mittels eines mechanischen Antriebs verwirkliche, Der durch das Bild und die Maske durchgegangene Lichtstrom wird durch eine Linse auf einem Lichtempfänger gesammelt. In Abhängigkeit davon, welcher der Fourierkoeffizienten bei der Bildanalyse zu erhalten ist, wird in das Bildfeld diese oder jene Maske aus dem genannten Satz eingeführt. Bei reihenmäßiger Maskierung des Bildes nach einem durch eine Wahl zweidimensionaler Funktionen beschriebenen vorgegebenen Gesetz bildet sich am Ausgang des Lichtempfängers eine Zeitfolge elektrischer, den Integralwerten von Lichtströmen des gesamten Bildfeldes, die durch die Maske durchgegangen und also den Fourierkoeffizienten proportional sind, proportionaler Signale aus. Die Ausgangssignale des Lichtempfängers können im weiteren zur Verarbeitung beispeilsweise in einem Computer ausgenutzt werden.
  • Wesentlicher Nachteil der beschriebenen Einrichtung ist eine begrenzte Geschwindigkeit des durch das Vorhandensein eines mechanischen Antriebs bedingten Maskenwechsels.
  • Darüber hinaus ist der Maskensatz für den betreffenden Film fest vorgegeben und bleibt unverändert, was das schnelle Ansprechen der Einrichtung beim Übergang von der Bildzerlegung nach einem Funktionssystem zur Bildzerlegung nach dem anderen Funktionssystem oder bei Änderung dar Reihenfolge deren Wechsels herabsetzt.
  • Ein weiterer Nachteil der oben beschriebenen Einrichtung besteht darin, daß beim mechanischen Maskenwechsel eine genaue Einstellung der Maske im Bildfeld wesentlich erschwert ist. Schließlich zählen zu den Mängeln der beschriebenen Konstruktion deren große Abmessungen.
  • Es ist auch eine Einrichtung bekannt, die es gestattet, den Vorgang der Maskierung auszuschließen. Bei dieser Einrichtung wird das Bild abgetastet, wodurch eine Zeitfolge elektrischer, der Beleuchtungsstärke einzelner Abschnitte im Bildfeld entsprechender Signale ausgebildet wird. Diese Signale werden in einen Computer eingegeben, wo unter Benutzung schneller Algorithmen das zu analysierende Bild eindeutig bestimmende Fourierkoeffizienten berechnet werden.
  • Die zur Berechnung der Fourierkoeffizienten notwendige Zeit T wird durch die Anzahl der Abtastpunkte bestimmt und ist dieser proportional, d. h. T ' NM lgNM, wo NM die Anzahl der Abtastpunkte im Raster ist. Bei größerer Zahl der Abtastpunkte beträgt die Verarbeitungszeit einige Minuten, was nicht immer annehmbar ist.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist eine Erhöhung der Geschwindigkeit der Analyse des Bildes; ferner eine Erhöhung der Geschwindigkeit des Maskenwechsels bei der Entwicklung nach einer der vorgegebenen Funktionen; außerdem eine Geschwindigkeitssteigerung beim Maskenwechsel während des Überganges von der Zerlegung eines Bildes bei der Analyse nach einem Funktionensystem zur Zerlegung desselben Bildes nach einem anderen Funktionssystem; und schließlich Justierungen beim Maskenwechsel zu eliminieren und die Abmessungen der Gesamteinrichtung zu reduzieren. Genauer gesagt, der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Einrichtung zur Analyse des Bildes derart auszuführen, daß die Maskierung dieses Bildes lediglich mittels elektrischer Signale ohne Anwendung mechanischer Mittel zustandekommt, was es gestattet, sowohl die Geschwindigkeit der Bildanalyse als auch die des Maskenwechsels zu erhöhen ebenso wie die Justierungen zu vermeiden und die Abmessungen der Gesamteinrichtung zu verringern.
  • Diese Aufgabe wird bei einer Einrichtung zur Bildformanalyse mit einem Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes, dessen Strahlung zur Trennung der Strahlung verschiedener Bildteile zu verschiedenen Zeitpunkten gemäß einem vorgegebenen, durch einen Satz zweidimensionaler Funktionen beschriebenen Gesetz maskiert wird, und mit einem Lichtempfänger, der die maskierte Lichtstrahlung registriert und in eine Zeitfolge elektrischer Impulse umwandelt, die den Integralwerten von Lichtströmen des Bildfeldes proportional sind, die jeder zweidimensionalen Funktion entsprechen und eine Information über die Bildform tragen, erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Lichtempfänger eine im Bildfeld aufzustellende Matrix lichtempfindlicher Zellen darstellt, die bei Lichtbestrahlung symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinien mit Sättigungsabschnitten aufweisen, und daß ein System gegenseitig orthogonaler elektrischer Schienen vorgesehen ist, in deren Fadenkreuzen die lichtempfindlichen Zellen liegen, wobei die Schienen jede für sich an einen derart ausgeführten Spannungsgenerator angeschlossen sind, daß an den Schienen zu vorgegebenen Zeitpunkten eine Spannung anliegt, die die Zellen in einen lichtempfindlich bzw. lichtunempfindlich gemachten Zustand nach Gruppen überführt, die räumlich auf die Matrizenfläche gemäß einer des Satzes der vorgegebenen zweidimensionalen Funktionen verteilt sind, worauf die Matrix die maskierte Lichtstrahlung gleichzeitig maskiert und registriert, wobei dem Integralwert des auf die Gruppe lichtempfindlich gemachter Zellen auftreffenden Lichtstromes proportional die Summe der Absolutwerte der Fotoströme der Zellen ist, die den Koeffizienten der vorgegebenen zweidimensionalen Maskierungsfunktion entspricht.
  • Bei dieser Ausführung der Einrichtung ist die Maske mit den Lichtempfängern der Matrix vereinigt, und die Maskierungsgeschwindigkeit wird durch die Geschwindigkeit der Überführung der Lichtempfänger aus dem lichtempfindlichen in den lichtunempfindlichen Zustand bestimmt. Dies gestattet es, die Geschwindigkeit des Maskenwechsels ebenso wie die Geschwindigkeit des Überganges von einem Maskensatz zum anderen zu steigern, da bei der erfindungsgemäßen Einrichtung die Maskierung lediglich durch elektrische Signale gesteuert wird.
  • Es ist zweckmäßig, daß die Matrix ein Satz von Abtastern ist, der eine lichtempfindliche Halbleiterstruktur mit pn-Übergängen in Form von die gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der Struktur entstehenden Minoritätsträger aufweisenden und in zwei zur Strukturoberfläche, auf die die Lichtstrahlung einzufallen hat, parallelen Ebenen liegenden Streifen darstellt, wobei die in den gleichnamigen Ebenen liegenden Streifen der pn-Ubergänge geometrisch zueinander parallel, elektrisch gegeneinander isoliert und zu den Streifen der pn-Übergänge der anderen Ebene orthogonal sind, weshalb sich an den Kreuzungsstellen der Streifen eine bei der Lichtbestrahlung eine symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinie aufweisende Dreischichtenstruktur ausbildet, und daß Jeder Streifen der pn-Ubergänge mit einer eigenen Schiene versehen ist, deren Gesamtheit das System gegenseitig orthogonaler, an einen Spannungsgenerator angeschlossener Schienen bildet.
  • Diese Ausführung der Matrix gestattet es, den Aufbau der Einrichtung durch Reduzierung der Zahl elektrischer Verbindungen der Matrizenelemente untereinander zu vereinfachen sowie die Gesamtzahl der Matrizenelemente ohne Vergrößerung der Abmessungen der Matrix zu vergrößern, das Auflösungsvermögen und den Füllfaktor für die Lichtempfangsfläche durch die lichtempfindlichen Zellen zu erhöhen.
  • Als Matrix kann auch ein diskreter Abtaster ausgenutzt werden, von dem jede lichtempfindliche Zelle zwei pn-Übergänge aufweist, die die gleiche Trennungswirksamkeit für die bei der Lichtbestrahlung der lichtempfindlichen Matrizenzellen entstehenden Minoritätsträger besitzen und auf der Außenfläche der Matrix symmetrisch in bezug auf das sie trennende Basisgebiet in einer Ebene liegen, auf die die Lichtstrahlung einzufallen hat, wobei jede lichtempfindliche Zelle in das entsprechende Fadenkreuz des Systems orthogonaler Schienen mit den Gebieten vom gleichen Leitungstyp geschaltet ist.
  • Dieser Aufbau der Matrix erlaubt es, sie unter Verwendung einer einfachen Herstellungstechnologie zu fertigen sowie eine hohe Auflösung zu gewährleisten.
  • Als lichtempfindliche Zelle de Matrix kenn eine Fünfschichten-Halbleiterstruktur mit vier pn-8bergängen benutzt werden, deren zwei innere abwechselnd als Kollektorübergänge in Abhängigkeit von der Polarität der Spannung auftreten und eine gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der Matrix entstehenden Minoritätsträger aufweisen, während die beiden anderen Emitterübergänge sind und das Vorhandensein eines Zweigs mit negativem Widerstand bei der Strom-Spannungs-Kennlinie gewährleisten, weshalb die Halbleiterstruktur eine Speicherfähigkeit besitzt.
  • Als Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes kann eine Matrix aus Injektions-Leuchtdioden verwendet werden, deren jede mit einer der lichtempfindlichen Zellen in der Weise fest verbunden ist, daß deren Strahlung auf den lichtempfindlichen Abschnitt der entsprechenden Zelle auftrifft.
  • Die Erfindung soll nachstehend anhand der Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Einrichtung sowie beiliegender Zeichnung näher erläutert werden. Es zeigen: Fig. 1 eine Blockschaltung der Einrichtung gemäß der Erfindung; Fig. 2 eine elektrische Ersatzschaltung der lichtempfindlichen Matrix; Fig. 3 die Strom-Spannungs-Kennlinie der lichtempfindlichen Matrizenzelle; Fig. 4 graphisch ein System zweidimensionaler Walsh-Funktionen; Fig. 5 Verläufe der am System gegenseitig orthogonaler Schienen zur Maskierung des Bildes nach dem System der Walsh-Funktionen eintreffenden Spannungen; Fig. 6 eine lichtempfindliche Matrix in Form eines Skanistors; Fig. 7 einen Schnitt VII-VII nach Fig. 6; Fig. 8 eine Matrix in Form eines diskreten Skanistors; Fig. 9 eine lichtempfindliche Fünfschichtenstruktur (Fotosymistor); Fig 10 die Strom-Spannungs-Kennlinie eines Fotosymistors; Fig. 11 eine elektrische Ersatzschaltung für den Anschluß der Fotosymistoren an ein Schienensystem.
  • Die Einrichtung zur Bildanalyse enthält ein Mittel zur optischen Bildwiedergabe, das durch eine Beleuchtungsvorrichtung 1 (Fig. 1) mit einer Blende 2 und einem Halter 3 gebildet wird, in dem ein Film mit einem zu untersuchenden Bild untergebracht wird; eine Matrix 4 aus lichtempfindlichen Zellen (lichtempfindliche Matrix); Spannungsgeneratoren 5 und 6 und einen Integrator 7 für Fotoströme der lichtempfindlichen Zellen (in Fig. 1 nicht gezeigt). Jede derartige Zelle kann durch zwei antiparallel geschaltete Fotodioden (in Fig. 1 nicht gezeigt) gebildet werden. Diese beiden Fotodioden müssen mit den lichtempfindlichen Flächen dem zu untersuchenden Bild zugewandt sein. Die Stromversorgung der Zellen erfolgt durch die Spannungsgeneratoren 5 und 6 über ein System gegenseitig orthogonaler horizontaler und vertikaler Schienen X und Y. Hierbei werden die lichtempfindlichen Zellen aus zwei Fotodioden in die Fadenkreuze der Schienen X und Y geschaltet.
  • Die elektrische Ersatzschaltung der Matrix 4 ist in Fig. 2 dargestellt, wo jede Zelle 8 in das entsprechende Fadenkreuz geschaltet ist. Bei gleicher Fotoempfindlichkeit der Fotodioden müssen derartige Zellen symmetrische Strom- Spannungs-Kennlinien mit Sättigungsabschnitten aufweisen.
  • Unter einer Strom-Spannungs-Kennlinie versteht man die Gesamtheit der Abhängigkeiten des durch eine Zelle fließenden Stromes von der Spannung bei verschiedenen Beleuchtungsstärken.
  • Eine symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinie einer lichtempfindlichen Zelle ist in Fig. 3 dargestellt, wo auf der Ordinatenachse Stromwerte und auf der Abszissenachse Spannungswerte aufgetragen sind, wobei die Kurve 9 einer größeren und die Kurve 9' einer kleineren Lichtintensität entspricht.
  • Als die Spannungsgeneratoren 5 und 6 können die bekannten Mehrkanal-Rechteckimpulsgeneratoren eingesetzt werden, bei denen die Anzahl der Ausgänge jeweils der Anzahl der an sie anzuschließenden Schienen gleich ist. Hierbei muß bei den Generatoren 5 und 6 die Möglichkeit einer Anderung der Impulsabstände vorgesehen werden. Diese Impulse erzeugen an den Schienen Spannungen, die die Zellen 8 in einen lichtempfindlichen bzw. lichtunempfindlichen Zustand nach Gruppen überführen, deren räumliche Verteilung auf der Matrizenfläche dem vorgegebenen, durch einen Satz zweidimensionaler Funktionen bestimmten Maskierungsgesetz entspricht. Durch Umpolung der Ausgangsspannungen der Generatoren 5 und 6 kann man eine beliebige Verteilungskombination für die Zellen 8 nach den genannten Gruppen erhalten und folglich eine Maskierung des zu untersuchenden Bildes nach einem beliebigen Gesetz zu verwirklichen, Bei der vorliegenden Einrichtung erweist sich also die Maske als vereinigt mit der Lichtempfangs-Matrix, und die Überführung der lichtempfindlichen Zellen in lichtempfindliche bzw.
  • lichtunempfindliche Zustände entspricht der Maskierung.
  • Der Eingang des Integrators 7 ist mit sämtlichen Schienen X und Y derart verbunden, daß darin eine Summierung der Absolutwerte der diese Schienen von den lichtempfindlichen Zellen durchfließenden Fotoströme erfolgt. Auf diese Weise erweist sich das elektrische Signal am Ausgang des Integrators 7 als proportional dem Integralwert des auf die Gruppe der lichtempfindlichen Zellen-auftreffenden Lichtstromes und entspricht der vorgegebenen Maskierungsfunktion, d. h. enthält die gesuchte Information über das zu untersuchende Bild Der Ausgang des Integrators 7 kann zum Beispiel zwecks anschließender Bilderkennung, Filterung oder Durchführung anderer Operationen der Analyse mit einem Computer gekoppelt werden In einigen Fällen kann für die Durchführung der Operationen der Analyse eine Registrierung des Ausgangssignals durch den Integrator 7 ausreichen.
  • Nachstehend wird die Arbeitsweise der vorliegenden Einrichtung anhand einer Bildumwandlung (in der Figur nicht gezeigt) unter Verwendung zweidimensionaler Walsh-Funktionen betrachtet.
  • Graphisch ist das System zweidimensionaler Walsh-Funktionen in Fig. 4 dargestellt. Zur Realisierung dieser Funktionen mit Hilfe einer Matrix ist deren Maskierung in der Weise vorzunehmen, daß die Natrizenzellen zu bestimmten Zeitpunkten in einen lichtunempfindlichen Zustand nach Gruppen übergeführt werden, wodurch den verdunkelten Abschnitten nach Fig. 4 entsprechende räumliche Konfigurationen aus--gebildet werden, während sich die anderen in einem lichtempfindlichen Zustand befinden.
  • Bei der vorliegenden Einrichtung geschieht eine derartige Umschaltung mit Hilfe der Spannungsgeneratoren 5 und 6 und des Systems gegenseitig orthogonaler Schienen X und Y.
  • Es sei angenommen, daß zum Ausgangszeitpunkt an allen Ausgängen der Generatoren 5 und 6 eine gleiche, beispielsweise einen Wert von - 2 betragende Spannung anliegt (UO 2 ist eine Vorspannung an den Zellen 8). Dann ist in den Fadenkreuzen der Schienen X und Y (Fig. 2) der Spannungsabfall gleich Null, und über die Zellen 8 fließt kein Strom unabhängig davon, ob sie beleuchtet sind oder nicht. Diese Eigenschaft der Zellen 8 ist durch die Symmetrie von deren Strom-Spannungs-Kennlinie bezüglich der Null spannung bedingt. Dieser Zustand der Zellen bleibt im Zeitintervall T11 (Fig. 5) erhalten und entspricht der Lebensdauer der ersten Maske S11 - der Zeit einer vollständigen Unempfindlichkeit der Matrix gegenüber der Strahlung. In dem nächsten der Lebensdauer der Maske S12 entsprechenden Zeitintervall ist die Spannung an den Schienen X1, X2, X3, X4, Y4 gleich - 2 und an den Schienen Y1 und Y2 gleich + so daß an den Fadenkreuzen der Schienen Y und Y4 und al-3 Y4 ler Schienen X die Vorspannung gleich Null und an den Fadenkreuzen der Schienen Y1 und Y2 und aller Schienen X'der Spannungsabfall nach dem Betrag gleich U ist. Dank einer 0 derartigen Vorspannung nimmt die obere Hälfte der Matrix das Licht auf und die untere nicht. Unter Vernachlässigung des Dunkelstromes (ins) der Fotodioden gegenüber dem Fotostrom (if) ist der Strom der das Licht aufnehmenden Dioden in jeder Zelle dem Wert des auf die betreffende Zelle einfallenden Lichtstromes proportional.
  • Diese Ströme gelangen in den Integrator 7, wo sie summiert werden, worauf am Ausgang des Integrators ein der Summe der Fotoströme der in einem der Maske S12 entsprechenden lichtempfindlichen Zustand befindlichen Zellen proportionales elektrisches Signal erscheint0 Auf diese Weise erscheint eines der Merkmale - der das Bild charakterisierende Koeffizient C12 Betrachtet sei nunmehr das der Maske S22 entsprechende Zeitintervall T22. Die Spannungen an den Ausgängen der Generatoren 5 und 6 sorgen bei den in die Fadenkreuze der Schienen X1 und Y3, X2 und Y4, X3 und Y1, X4 und Y2 geschalteten Zellen 8 für eine Vorspannung gleich Null, bei den in die Fadenkreuze X1 und Y1, X2 und Y2 geschalteten Zellen für eine Vorspannung von + UO und bei den in die Fadenkreuze X3 und Y3, X,4 und Y4 geschalteten Zellen für eine Vorspannung von - UO. Bei der Beleuchtung der Zellen mit der Vorspannung von + U sind also die Ströme in den,ent-0 sprechenden Schienen gleich + if und der Zellen mit der Vorspannung von - UO gleich - if. Diese Ströme gelangen in den Integrator 7, wo sie nach dem Betrag summiert werden, worauf am Ausgang des Integrators 7 ein der Summe der durch die in einem lichtempfindlichen Zustand bei einer der Maske S22 entsprechenden Konfiguration befindlichen beleuchteten Zellen 8 erzeugten Fotoströme proportionales elektrisches Signal erscheint.
  • Auf diese Weise erscheint ein weiteres Merkmal - der das Bild charakterisierende Koeffizient C22.
  • Indem man die Schienen nacheinander umschaltet, bekommt man im Zeitintervall //Ti//, wie dies in den Spannangsverläufen nach Fig. 5 gezeigt ist, einen vollen Maskensatz //sie// und dementsprechend einen Koeffizientensatz (i = 1, 2, 3, ..., M, j = 1, 2, 3, 1 N, wo M die Zahl der Matrizenelemente in horizontaler Richtung und N die Zahl der Matrizenelemente in vertikaler Richtung ist).
  • Der Satz der Koeffizienten Cij charakterisiert das Bild eindeutig mit einer durch die Dimension der Matrix MN bestimmten Genauigkeit und stellt ein Resultat der Zerlegung dieses Bildes in ein räumliches Spektrum nach orthogonalen Walsh-Funktionen dar.
  • Diese Zerlegung erfolgt für die Zeit Tk = TijNM. Die Wahl des minimalen Zeitintervalls T hängt mit dem Anspreij chen der lichtempfindlichen Elemente zusammen, da bei der Umschaltung der Fotodioden vom Zustand mit negativer Vorspannung in den Zustand mit positiver Vorspannung die Lebensdauer der Minoritätsträger im Basisbereich des Halbleiterbauelements, die unterhalb von 10 7 s liegen kann, von Bedeutung ist, und die für die Bildung eines Koeffizienten erforderliche Zeit hat dementsprechend einen Wert von 10 -7 s unabhängig vom Wert NM.
  • Bei der Bildung der Zweigradationsmasken sollte der Wert U , wie dies sich aus der Strom-Spannungs-Kennlinie ergibt, den Wert von #U/2 überschreiten und #U = 4k T°/q sein, mit TO = Temperatur in C, q = Elektronenladung, k = Boltzmann-Konstante.
  • Grundsätzlich kann die Entwicklung nach beliebigen orthogonalen Funktionen, darunter auch nicht im Binärcode, sondern beispielsweise nach trigonometrischen exp (t w t) erfolgen. In diesem Fall muß der Arbeitsbereich der Spannungen für die Maskierung in den Grenzen des Bereiches L1 U (Fig. 3) liegen, wobei dieser Bereich künstlich bis zu einigen Volt durch Reihenschaltung eines ohmschen Widerstandes in jede lichtempfindliche Zelle erweitert werden kann.
  • Vorstehend wurde eine lichtempfindliche Matrix beschrieben, deren Zellen durch ein Paar von antiparallel geschalteten Fotodioden gebildet sind. Nachteilig können bei derartiger Matrix in einer Reihe von Fällen ein geringes Auflösungsvermögen, beträchtliche Abmessungen der gesamten Matrix und eine unvollständige Ausnutzung der Matrizenflächen sein.
  • Diese Mängel können durch Anwendung einer Matrix gemildert werden, die einen Satz von auf einer Halbleiterplatte 10, beispielsweise aus n-leitendem Silizium, hergestellten Abtastern (Fig. 6) darstellt. In die Platte 10 läßt man von den gegenüberliegenden Flächen zur Ausbildung von p-leitenden Schichten 11 und 12 (Fig. 7), zwischen denen eine n-leitende Schicht 13 eingeschlossen ist, beispielsweise Bor eindiffundieren.
  • Die p-leitenden Schichten ii und 12 müssen derart angeordnet sein, daß die sich ausbildenden pn-ffbergänge 14 und 15 die Form von Streifen aufweisen, die in zu der Plattenfläche parallel verlaufenden Ebenen liegen, auf die die Lichtstrahlung (kg ), wie durch Pfeile angedeutet, einzufallen hat. Hierbei müssen die in den gleichnamigen Ebenen liegenden pn-8bergänge zueinander geometrisch parallel und gegeneinander elektrisch isoliert sein. Die elektrische Isolierung der Streifen der pn-8bergänge wird durch eine künstliche Verringerung der Lebensdauer der Minoritätsträger in der Schicht 13 mittels Einführung eines Goldzusatzes, worauf der Abstand zwischen den in einer Ebene liegenden Streifen bis auf einige Mikrometer (/um) reduziert werden kann, erreicht.
  • Die in verschiedenen Ebenen liegenden Streifen der pn-Übergänge sind zueinander orthogonal. Auf diese Weise bildet sich an den Kreuzungsabschnitten der Streifen eine dreischichtige pnp-Struktur (Fig. 7) aus, bei der die p-Schicht 11 das Licht vorgegebener Wellenlänge schwach aufnimmt.
  • Die Symmetrie der Strom-Spannungs-Kennlinie der Dreischichtenstruktur wird durch das Verhältnis der Tiefen der pn-Übergänge 14 und 15 sichergestellt. Für die vorgegebene Wellenlänge des Lichtes wird dieses Tiefenverhältnis derart gewählt, daß die beiden pn-Übergänge 14 und 15 eine gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der Matrix entstehenden Minoritätsträger aufweisen, d. h.
  • daß die Trennung der Minoritätsträger in gleichem Maße durch die beiden pn-Ubergänge 14 und 15 beim Anlegen einer Vorspannung an sie geschieht.
  • Jeder Streifen der pn-Ubergänge ist mit einer eigenen Schiene Xi und i versehen, deren Gesamtheit ein System gegegenseitig orthogonaler Schienen bildet.
  • Jede derartige Dreischichtenstruktur stellt eine lichtempfindliche Matrizenzelle dar und entspricht im Grunde einem Paar von antiparallel geschalteten Fotodioden, deshalb entspricht deren Ersatzschaltung der betrachteten Schaltung nach Fig. 2.
  • Da alle Zellen in einer Platte ausgeführt sind, haben sie eine gemeinsame Basiszone. Damit die Verbindung zwischen den einzelnen Zellen auf keinen Fall über die gemeinsame Basiszone zustandekommt, wird die letztere hochohmig ausgeführt; so kann z. B. die Basiszone 13, falls die gesamte Struktur auf der Basis einer Siliziumplatte 10 hergestellt wird, mit Gold dotiert werden, damit die geringeren Beimischungen kompensiert werden und ein spezifischer Widerstand nahezu gleich dem Eigenwiderstand erreicht wird. Bei dieser Struktur mit verteilten Parametern werden die Abmessungen der Elementarzelle durch die Diffusionslänge der durch das Licht und die Tiefen der pn-Übergänge 14 und 15 erzeugten Ladungsträger bestimmt. Diese Dimensionen können in den Grenzen von 100 /um x 100 /um eingehalten werden.
  • Die Breite des Streifens der pn-8bergänge und der Abstand zwischen ihnen werden durch die Möglichkeiten der Fotolithographie bestimmt und können von ca. 100 /um und bis zu wenigen Mikrometern herab betragen.
  • Die Arbeitsweise einer derartigen Matrix entspricht voll und ganz der Arbeitsweise der oben beschriebenen Matrix.
  • Bei der anderen Ausführungsform kann die lichtempfindliche Matrix einen auf der Basis einer Siliziumplatte 16 (Fig. 8) vom n-Leitungstyp mit erniedrigter Lebensdauer der Minoritätsträger ausgeführten diskreten Abtaster darstellen.
  • Auf der Außenfläche dieser Platte sind durch Eindiffusion von Phosphor n+-leitende Gebiete 17 in Form von durch Abschnitte 18 des Ausgangsmaterials gegeneinander isolierten Rechtecken und komplizierten Figuren erzeugt. In jedem n+-leitenden Gebiet ist ein Paar von p-leitenden Gebieten 19 geschaffen> so daß die pn+-UbergEnge 20 anmitteltar auf der Außenfläche der Platte 16 liegen, die im Arbeitsprozeß der Lichtstrahlung zugewandt werden muß. Die gbnanttot p-Ge biete 19 müssen symmetrisch in bezug auf das als Basis wirkende, sie trennende n+-leitende Gebiet 21 liegen. Die einander zugewandten Ränder der p-Gebiete müssen voneinander in einer Entfernung liegen, die die Diffusionslänge der Ladungsträger im n+-leitenden Gebiet unterschreitet.
  • Auf diese Weise bildet sich eine Struktur aus, die im Grunde der Dreischichtenstruktur äquivalent ist.
  • Während der Arbeit mit der beschriebenen Matrix sind Bedingungen einzuhalten, daß der Lichtstrom im wesentlichen auf das Basisgebiet 21 auftrifft, was die Trennung der Minoritätsträger durch die beiden pn-tbergänge 20 zu gleichen Teilen und als Folge davon die Symmetrie der Strom-Spannungs-Kennlinie der Zelle bei der Beleuchtung gewährleistet.
  • Auf die die lichtempfindlichen Zellen elektrisch trennenden n-leitenden Abschnitte 18 ist zur Ausbildung des Systems gegenseitig orthogonaler, an den Kreuzungsstellen gegeneinander isolierter Schienen X und Y Gold aufgedampft.
  • Die p-leitenden Gebiete jeder Zelle sind jeweils mit einem Fadenkreuz des genannten Schienensystems durch Elektroden 22 verbunden. Diese Schienen sind an die Generatoren (in Fig. nicht gezeigt) angeschlossen.
  • Die beschriebene Matrix besitzt eine der Schaltung nach Fig. 2 ähnliche elektrische Ersatzschaltung und arbeitet wie oben beschrieben.
  • Bei Verwendung einer Matrix auf der Grundlage eines diskreten Abtasters wird zweckmäßigerweise als Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes eine Matrix (in der Figur nicht gezeigt) aus Injektions-Leuchtdioden eingesetzt. Jede Leuchtdiode wird in die Basis der entsprechenden lichtempfindlichen Zelle eingeklebt, wodurch die Symmetrie der Strom- Spannungs-Kennlinie ebenso wie die effektivste Ausnutzung des Lichtstromes gewährleistet wird In den Fällen, wo außer'der Maskierung und Umwandlung des Lichtstromes in elektrische Signale das optische Bild zu speichern ist, werden zweckmäßigerweise als lichtempfangende Zellen lichtempfindliche Fünfschichtenstrukturen ausgenutzt, die unter der BezeichJung von eine symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinie mit Sättigungsabschnitten und Abschnitten mit negativem Widerstand in Sperrichtung aufweisenden Fotosymistoren bekannt sind. Eine derartige Strom-Spannungs-Kennlinie gestattet es, zwei diskrete Zustände -"Eingeschaltet" und "Ausgeschaltet'e, für jeden Zweig der Strom-Spannungs-Kennlinie zu verwirklichen, deren erster dem lichtempfindlichen und deren zweiter dem lichtunempSindlichen Zustand der Zellen entspricht.
  • Auf diese Weise arbeiten alle Matrizenzellen im lichtempfindlichen Zustand unabhängig vom Wert des auf sie einfallenden Lichtstromes gleich, weshalb die Forderungen an die Einhaltung der Symmetrie der Strom-Spannungs-Kennlinien der verschiedenen fotoempfindlichen Zellen reduziert werden können.
  • Der Fotosymistor 23 (Fig. 9) stellt eine FUnfschichtenstruktur auf n-Siliziumbasis mit wechselnden npnpn-Schichten 24, 25, 26, 27 und 28 dar. Die inneren pn-8bergänge 29 und 30 treten abwechselnd in Abhängigkeit von der Polarität der angelegten Spannung als Kollektor- bzw. Emitterübergänge auf.
  • Diese Übergänge weisen im geschlossenen Zustand die gleiche Wirkung im Hinblick auf die Trennung der Paare der durch das Licht erzeugten Minoritätsladungsträger auf.
  • Bekanntlich ermöglicht es eine derartige Struktur dank dem Vorhandensein der äußeren Emitterübergänge 31 und 32, bei der Strom-Spannungs-Kennlinie Abschnitte mit negativem Widerstand in Sperrichtung zu erhalten. Die Strom-Spannungs-Kennlinie eines Fotosymistors ist in Fig. 10 wiedergegeben.
  • Sie hat einen die Unempfindlichkeitszone bestimmenden Ab-4kT schnitt #U = 4kT, zwei Sättigungsabschnitte (durch ausgeq zogene Linie sind Sättigungsabschnitte beim Fehlen des Lichtstromes und durch gestrichelte beim Vorhandensein des Lichtstromes angedeutet) sowie zwei Abschnitte eines linear ansteigenden Durchlaßstromes. Bei der Einspeisung der der Überführung der Zelle in einen lichtempfindlichen Uo Zustand entsprechenden Spannung + t7 und beim Fehlen des Lichtes fließt über die Struktur ein dem Sättigungsabschnitt bei der Stromspannungskennlinie entsprechender Strom i . Beim Anlegen derselben Spannung und Vorhanden-0 sein des Lichtes fließt über die Struktur ein bekanntlich von der Lichtstärke unabhängiger und nur von der angelegten Spannung abhängiger Strom I I0»i0. io. Da die Strom-Spannungs-Kennlinie einen Zweig mit negativem Widerstand besitzt, fließt der Strom 1 nach der Wegnahme der Beleuch-0 tung weiter, bis die Vorspannung abgeschaltet worden ist.
  • Auf diese Weise wird die Information gespeichert. Da 1 0 von der Lichtintensität unabhängig ist, werden die Forderungen an die Symmetrie der Strom-Spannungs-Kennlinie der Zelle reduziert.
  • Die äußeren Schichten 24 und 25, die bei der Arbeit der Einrichtung dem zu analysierenden Bild zugewandt werden müssen, werden derart ausgeführt, daß sie die vorgegebene Lichtwellenlänge schwach aufnehmen. Die elektrische Schaltung eines Fotosymistors in ein Fadenkreuz des Systems gegenseitig orthogonaler Schienen kommt durch die äußeren Abschnitte gleichen Leitungstyps über ohmsche Kontakte 33 und 34 zustande. Die Verwendung des Fotosymistors gestattet es auch, das Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes zu vereinfachen, das in Form einer Matrix von Strahlungselementen, beispielsweise von Injektions-Leuchtdioden, ausgeführt werden kann. Indiesem Fall wird jede Leuchtdiode 35 an einen Fotosymistor angeklebt. Die Leuchtdiode ist durch mit ohmschen Kontakten 38 und 39, wie in Fig. 9 gezeigt, versehene p- und n-Schichten 36 bzw. 37 gebildet. Die Leuchtdiodenmatrix ist mit einem eigenen System gegenseitig orthogonaler Schienen versehen, in deren Faden~ kreuze die genannten Leuchtdioden geschaltet sind. Durch Anlegen einer Spannung an diese Schienen wird auf der Strahlungsmatrix ein zu analysierendes Lichtbild ausgebildet.
  • Das elektrische Ersatzschaltbild für die Anschaltung der Fotosymistoren an das Schienensystem ist in Fig. 11 gezeigt, wo jeder Fotosymistor in Form zweier antiparallel geschalteter Fotothyristoren 40 dargestellt ist. In dieser Figur ist eine elektrische Ersatzschaltung für die Leuchtdiodenmatrix wiedergegeben, wo jede Leuchtdiode in Gestalt zweier hintereinandergeschalteter Leuchtdioden 41 dargestellt ist.
  • Betrachtet sei nun der Mechanismus der Bildung der Fourierkoeffizienten bei der Bildanalyse.
  • Es sei angenommen, daß auf die Schienen der Strahlungsmatrix ein elektrisches Signal gelangt, das für die Zeit T11 die Erhaltung eines Lichtbildes vorgegebener Konfiguration gewährleistet. Es sei weiter angenommen, daß hierbei auf der Lichtempfangs-Matrix die Maske S11 einwirkt. Für das zweite Zeitintervall T12 wird wiederum dieselbe Strahlungskonfiguration geformt, die dem zu analysierenden Signal entspricht, und eine neue Maske S12, wie vorstehend beschrieben, usw.
  • wirkt ein.
  • Da jede Matrix in der oben beschriebenen Weise arbeitet, kann das Ergebnis jeder Maskierung durch die Matrix gespeichert werden.
  • Da der Wert des Stromes J vom Wert des Lichtstromes un-0 abhängig ist, erhöht sich die Genauigkeit der Berechnung der Koeffizienten C, deren jeder eine Summe der Absolutwerte der Ströme der beleuchteten Zellen auf den lichtempfindlichen Abschnitten der Maske darstellt.
  • Die Anwendung der vorliegenden Erfindung gestattet es, auf Matrizen aus 256 x 256 Elementen 256 x 256 Koeffizienten für die Bildzerlegung in eine Fourierreihe für eine Zeit von 0,05 bis o,o6 s zu erhalten, während bei der Anwendung von "schnellen" Algorithmen für die Bildzerlegung in eine Fourierreihe mittels Computer ca. 2 bis 4 min erforderlich sind. Die lichtempfindliche Matrix kann in einem Einkristall ausgeführt werden und Kantenabmessungen von 0,1 x 0,1 cm aufweisen, was die Abmessungen der Gesamteinrichtung, insbesondere bei Verwendung einer Leuchtdiodenmatrix, als Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes wesentlich verringert.

Claims (5)

  1. Patentansprüche
  2. (1, Einrichtung zur Bildformanalysep mit einem Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes, dessen Strahlung zur Trennung der Strahlung verschiedener Bildteile zu verschiedenen Zeitpunkten gemäß einem vorgegebenen, durch einen Satz zweidimensionaler Funktionen beschriebenen Gesetz maskiert wird, und mit einem Lichtempfänger, der die maskierte Lichtstrahlung registriert und in eine Zeitfolge elektrischer Impulse umwandelt, die den Integralwerten von Licht strömen des Bildfeldes proportional sind, die jeder zweidimensionalen Funktion entsprechen und eine Information über die Bildform tragen, dadurch g e k e n n z e i c h -n e t , daß der Lichtempfänger eine im Bildfeldaufzustellede Matrix (4) lichtempfindlicher Zellen (8) darstellt die bei Lichtbestrahlung symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinien mit Sättigungsabschnitten aufweisen, und daß ein System gegenseitig orthogonaler elektrischer Schienen (X, Y) vorgesehen ist, in deren Fadenkreuzen die lichtempfindlichen Zellen liegen, wobei die Schienen jede für sich an einen derart ausgeführten Spannungsgenerator angeschlossen sind, daß an den Schienen zu vorgegebenen Zeitpunkten eine Spannung anliegt, die die Zellen in einen lichtempfindlich bzw. lichtunempfindlich gemachten Zustand nac 1 Gruppen überführt, die räumlich auf die Matrizenfläche gemäß einer des Satzes der vorgegebenen zweidimensionalen Funktionen verteilt sind, worauf die Matrix die maskierte Lichtstrahlung gleichzeitig maskiert und registriert, wobei dem Integralwert des auf die Gruppe lichtempfindlich gemachter Zellen auftreffenden Lichtstromes proportional die Summe der Absolutwerte der Fotoströme der Zellen ist, die den Koeffizienten der vorgegebenen zweidimensionalen Maskierungsfunktion entspricht 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Matrix ein Satz von Abtastern ist, der eine lichtempfindliche Halbleiterstruktur mit pn-Übergängen (14, 15) in Form von die gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der Struktur entstehenden Minoritätsträger aufweisenden und in zwei zur Strukturoberfläche, auf die die Lichtstrahlung einzufallen hat, parallelen Ebenen liegenden Streifen darstellt, wobei die in den gleichnamigen Ebenen liegenden Streifen der pn-0bergänge geometrisch zueinander parallel, elektrisch gegeneinander isoliert und zu den Streifen der pn-Ubergänge der anderen Ebene orthogonal sind, weshalb sich an den Kreuzungsstellen der Streifen eine bei der Lichtbestrahlung eine symmetrische Strom-Spannungs-Kennlinie aufweisende Dreischichtenstruktur ausbildet, und daß jeder Streifen der pn-Ubergänge mit einer eigenen Schiene versehen ist, deren Gesamtheit das System gegenseitig orthogonaler, an einen Spannungsgenerator angeschlossener Schienen bildet.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Matrix ein diskreter Abtaster ist, von dem jede lichtempfindliche Zelle zwei pn-8bergänge (20) aufweist, die eine gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der lichtempfindlichen Matrizenzellen entstehenden Minoritätsträger besitzen und auf der Außenfläche der Zellen symmetrisch in bezug auf das sie trennende Basisgebiet (21) in einer Ebene liegen, auf die die Lichtstrahlung einzufallen hat, wobei Jede lichtempfindliche Zelle in das entsprechende Fadenkreuz des Systems orthogonaler Schienen mit den Gebieten vom gleichen Leitungstyp geschaltet ist.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtempfindliche Matrizenzelle eine fünfschichtige Halbleiterstruktur mit vier pn-Übergängen (28, 29, 30, 31) ist, deren zwei innere (29, 30) abwechselnd als Kollektorüb-ergänge in Abhängigkeit von der Polarität der Spannung auftreten und eine gleiche Trennungswirkung für die bei der Lichtbestrahlung der Matrix entstehenden Minoritätsträger aufweisen, während die beiden anderen Emitterübergänge sind und das Vorhandensein eines Zweigs mit negativem Widerstand bei der Strom- Spannungs-Kennlinie gewährleisten, weshalb die Halbleiterstruktur eine Speicherfähigkeit besitzt.
  5. 5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Mittel zur optischen Wiedergabe des zu analysierenden Bildes eine Matrix aus Injektions-Leuchtdioden ist, deren jede mit einer der lichtempfindlichen Zellen in der Weise fest verbunden ist, daß deren Strahlung auf den lichtempfindlichen Abschnitt der entsprechenden Zelle auftrifft.
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DE3010424A1 (de) * 1980-03-19 1981-09-24 Rasmussen Gmbh, 6457 Maintal Schlauchschelle

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0013276A2 (de) * 1979-01-02 1980-07-09 Westinghouse Electric Corporation Optisches Markierungs-Lesesystem
EP0013276A3 (en) * 1979-01-02 1981-04-01 Westinghouse Electric Corporation Optical reading system
DE3010424A1 (de) * 1980-03-19 1981-09-24 Rasmussen Gmbh, 6457 Maintal Schlauchschelle

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