DE2223270C3

DE2223270C3 - Infrarot-Bildaufnahmesystem mit pyroelektrischer Speicherelektrode

Info

Publication number: DE2223270C3
Application number: DE2223270A
Authority: DE
Inventors: Francois Le Saint Egreve Carvennec (Frankreich)
Original assignee: Thomson CSF SA
Current assignee: Thales SA
Priority date: 1971-05-14
Filing date: 1972-05-12
Publication date: 1979-02-08
Also published as: JPS5512787B1; FR2137164B1; FR2137164A1; DE2223270B2; DE2223270A1; US3774043A

Description

Die Erfindung betrifft ein Infrarot-Bildaufnahmesystem mit einer pyroelektrischen, Sekundärelektronen emittierenden Speicherelektrode, die der einfallenden Strahlung ausgesetzt ist und durch Abtastung mittels eines Elektronenstrahls mit langsamen Leseelektronen abgelesen wird, wobei diese Abtastung abwechselnd mit einer Abtastung durch einen Elektronenstrahl mit schnellen Elektronen in einem Wechsel erfolgt, der durch den Zyklus eines vor der Speicherelektrode angebrachten Verschlusses gesteuert wird, der die Speicherelektrode für die einfallende Strahlung während einer Schließphase abdeckt und während einer Öffnungsphase freigibt, wobei die Abtastung mit langsamen Elektronen in der einen Phase und die Abtastung mit schnellen Elektronen in der anderen Phase des Verschlußzyklus liegen.

Ein Infrarot-Bildaufnahmesystem dieser Art ist aus der Zeitschrift »Electronics«, Bd. 43, November 1970, Seiten 8E/9E, bekannt. Es unterscheidet sich von den optischen Bildaufnahmesystemen dadurch, daß die Speicherelektrode aus einem Material besteht, das die Eigenschaft besitzt, daß es an jedem Punkt eine elektrische Polarisation aufweist, die von der Temperatur an diesem Punkt abhängt. Die Polarisation, auf die es hier insbesondere ankommt, ist die Polarisation, die im Innern der Speicherelektrode in der Richtung ihrer Dicke erscheint.

Wenn eine solche pyroelektrische Speicherelektrode einer von einem Gegenstand kommenden Jnfrarotstrahs lung ausgesetzt wird, kann aufgrund dieser Eigenschaft ein Bild dieses Gegenstands unter der Wirkung der Temperaturänderungen erhalten werden, welche von der Strahlung an jedem Punkt der Speicherelektrode erzeugt werden.

ίο Damit ein diese Temperaturänderungen ausdrückendes elektrisches Signal erhalten wird, ist die eine Fläche der Speicherelektrode mit einer elektrisch leitenden Schicht bedeckt, und ein Leseelektronenstrahl bestreicht die andere Fläche.

Diese pyroelektrischen Speicherelektroden sind für ein sehr breites Spektrum empfindlich, vorausgesetzt, daß die auftreffende Strahlung eine Temperaturänderung an dem Auftreffpunkt auf der Speicherelektrode erzeugt Sie sind insbesondere für Infrarotstrahlung empfindlich und ermöglichen demzufolge die Feststellung von nicht beleuchteten Gegenständen aufgrund ihrer Eigenstrahlung.

Diese Speicherelektroden haben die folgende Wirkungsweise:

Eine auf einen Punkt der Speicherelektrode auftreffende Strahlung erzeugt an diesem Punkt eine Temperaturänderung des die Speicherelektrode bildenden Materials, wobei diese Temperaturänderung in Beziehung zu der Energie der auftreffenden Strahlung steht Diese Temperaturänderung ergibt ihrerseits eine Intensitätsänderung des elektrischen Polarisationsvektors im Innern der Speicherelektrode an diesem Punkt, d. h., daß an diesem Punkt zwei gleiche Ladungsmengen auf den beiden Flächen der Photokatode erscheinen, von denen die eine positiv und die andere negativ ist. Dies ist die pyroelektrische Erscheinung. Der Elektronenstrahl ermöglicht unter bestimmten Bedingungen die Neutralisierung dieser Ladungen und die Abnahme eines Lesesignals, das in Beziehung zu der Intensität der auftreffenden Strahlung steht, welche das Erscheinen dieser Ladungen verursacht hat; dieses Signal wird an den Klemmen eines Widerstands abgenommen, der in Serie zwischen dem den Elektronenstrahl erzeugenden Elektronenstrahlsystem und der leitenden Schicht angeschlossen ist

Das Ablesen geschieht in folgender Weise: Das Elektronenstrahlsystem schickt zu der Speicherelektrode einen Elektronenstrahl aus langsamen Elektronen, die sich auf der Speicherelektrode niedersetzen, bis die positiven Ladungen neutralisiert sind, die an diesen*, Punkt unter der Wirkung der einfallenden Strahlung erschienen sind. Dabei wird angenommen, daß die an diesem Punkt auf der betreffenden Seite der Speicherelektrode angesammelten Ladungen positive Ladungen

sind, welche durch die vom Elektronenstrahlsystem aufgebrachten negativen Ladungen neutralisiert werden können. Der Fall von negativen Ladungen soll später betrachtet werden. Nach dem Lesen hat der abgetastete Punkt dann ein Potential, das in der Nähe

des Potentials der Katode des Elektronenstrahlsystems Hegt

Wenn angenommen wird, daß das Material der Speicherelektrode ein so großes Isolationsvermögen hat, daß zwischen zwei Durchgängen des Elektronen-

Strahls keine merklichen Kriechströme im Innern des Materials entstehen, kann beim folgenden Durchgang des Leseelektronenstrahls durch den gleichen Punkt nur dann ein neues Signal entstehen, wenn sich inzwischen

die elektrische Polarisation der Speicherelektrode an diesem Punkt geändert hat, d. h. wenn im Verlauf des Zeitintervalls zwischen zwei Durchgängen des Elektronenstrahls an diesem Punkt eine Temperaturänderung stattgefunden hat, die eine Änderung der an diesem Punkt erscheinenden Ladungsmenge zur Fc'ge hatte.

insbesondere im Fall von unbewegten Gegenständen, die eine Strahlung mit konstanter Intensität aussenden, ist diese Bedingung nach dem Zeitpunkt, an welchem das thermische Gleichgewicht der Speicherelektrode unter der Wirkung der Strahlung erreicht ist, sich ihre Temperatur also nicht mehr ändert, nicht mehr erfüllt Durch die Abtastung kann dann kein Bildsignal mehr erhalten werden.

Aus diesem Grund ist bei dem bekannten Infrarot-Bildaufnahmesystem im Weg der einfallenden Strahlung ein Verschluß so angeordnet, daß er die Strahlung zwischen zwei aufeinanderfolgenden Durchgängen des Leseelektronenstrahls durch den gleichen Punkt der Speicherelektrode unterbricht und dadurch die elektrisehe Polarisation der Speicherelektrode an diesem Punkt zwischen zwei Durchgängen verändert

Die Verwendung eines solchen Verschlusses ergibt jedoch die Wirkung, daß an den verschiedenen Punkten der Speicherelektrode zwischen den Öffnungszeiten 2s und den Schließzeiten des Verschlusses Temperaturänderungen verursacht werden. Diese entgegengesetzten Temperaturänderungen äußern sich in entgegengesetzten Änderungen der Ladungsmengen, die an dem betreffenden Punkt zwischen der Zeit, in der der Punkt der Strahlung ausgesetzt ist und der Zeit, in der er durch den Verschluß abgedeckt ist, erscheinen.

Der Leseelektronenstrahl aus langsamen Elektronen, der nur negative Ladungen aufbringen kann, kann nur eine dieser beiden Änderungen kompensieren, nämlich die Änderung, die sich in einer Zunahme der am abgetasteten Punkt erscheinenden positiven Ladungsmenge äußert

Es ist daher notwendig, in Verbindung mit dem Verschluß Maßnahmen zu treffen, damit auch die negativen Ladungen neutralisiert werden; aus vorstehender Erläuterung geht hervor, daß hierfür nicht die langsamen Elektronen des Elektronenstrahlsystems herangezogen werden können.

Eine bekannte Lösung zur Neutralisierung solcher negativer Ladungen besteht in der Verwendung eines Elektronenstrahlsystems, das Elektronen großer Energie liefert, die bei ihrem Auftreffen auf einer Speicherelektrode eine Sekundäremission mit einem Sekundäremissionsfaktor verursachen können, der SO größer als Eins ist. Unter den gegenwärtig für die Herstellung von Speicherelektroden verwendeten pyroelektrischen Materialien können leicht solche gefunden werden, die die Eigenschaft aufweisen, daß sie beim Beschüß mit schnellen Elektronen Sekundärelektronen emittieren. Hierzu gehört beispielsweise das TGS (Triglycinsulfat).

Gemäß einer bekannten Ausführung liefert das gleiche Elektronenstrahlsystem die langsamen Elektronen und die zuvor erwähnten Elektronen hoher Energie oder schnellen Elektronen, je nach der Beschleunigungsspannung, die zwischen dem Elektronenstrahlsystem und der Fläche der Speicherelektrode angelegt wird, auf welche die Elektronen auftreffen. In diesem Fall ändert sich die Beschleunigungsspannung im Verlauf der Abtastung der Speicherelektrode im allgemeinen nach einer Rechteckfunktion zwischen dem den langsamen Elektronen entsprechenden Spannungswert (niedrige Spannung) und dem den schnellen Elektronen entsprechenden Spannungswert (hohe Spannung). Diese Spannlingsänderungen sind mit den Phasen des Verschlusses synchronisiert, wobei als Phasen die Offenzeiten hsw. die Schließzeiten des Verschlusses bezeichnet sind

Dabei hat es sich jedoch herausgestellt, daß das Gleichgewichtspotential der Fläche eines Isolierteils, in welchem eine Sekundäremission mit einem Sekundäremissionsfaktor stattfindet der größer als Eins ist, nur eine mäßige Gleichförmigkeit aufweist Bei dem zuvor erwähnten Abtastsystem mit zwei Spannungen erscheint dieser Nachteil notwendigerweise am Ende der mit hoher Spannung durchgeführten Abtastphase.

Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Infrarot-Bildaufnahmesystems der eingangs angegebenen Art, bei welchem die durch Unregelmäßigkeiten der Sektmdärelektronenemission verursachten Potentialschwankungen vermieden sind.

Nach der Erfindung wird diese Aufgabe gelöst durch eine Einrichtung für eine zweite Abtastung der Speicherelektrode mit langsamen Elektronen nach dem Ende der Abtastung mit schnellen Elektronen und wenigstens bis zum Beginn der Phase des Verschlußzyklus, in welcher die Abtastung mit langsamen Leseelektronen stattfindet

Bei dem Infrarot-Bildaufnahmesystem nach der Erfindung erfolgen somit in jedem Verschlußzyklus drei Abtastungen mit unterschiedlicher Elektronengeschwindigkeit, nämlich zunächst eine Abtastung mit langsamen Leseelektronen zur Gewinnung des Lesesignals in einer Verschlußphase, dann eine Abtastung mit schnellen Elektronen zur Erzeugung einer Sekundärelektronenemission und schließlich eine zweite Abtastung mit langsamen Elektronen. Durch diese zweite Abtastung mit langsamen Elektronen werden die durch Unregelmäßigkeiten der Sekundärelektronenemission verursachten Potentialschwankungen beseitigt, so daß für die nächste Abtastung mit Leseelektronen wieder gleichmäßige Potentialverhältnisse bestehen.

Die Erfindung wird anhand der Zeichnung beispielshalber beschrieben. Darin zeigt

F i g. 1 eine schematische Gesamtansicht eines Infrarot-Bildaufnahmesystems mit pyroelektrischer Speicherelektrode nach der Erfindung,

F i g. 2 ein Diagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise des Bildaufnahmesystems von F i g. 1 und

F i g. 3 ein Ausführungsbeispiel eines Bestandteils des Bildaufnahmesystems von F i g. 1.

F i g. 1 zeigt einen isolierenden Kolben 10, beispielsweise aus Glas, in dem ein Elektronenstrahlsystem 11 für die Erzeugung eines Elektronenstrahls angebracht ist. Dieses Elektronenstrahlsystem 11 besteht in an sich bekannter Weise aus mehreren Teilen, die nicht getrennt bezeichnet sind. Der von dem Elektronenstrahlsystem erzeugte Elektronenstrahl ist zu der Stirnfläche 20 des Kolbens hin gerichtet, an dem eine Bildaufnahme-Speicherelektrode angebracht ist, auf die später noch im einzelnen eingegangen wird. Im Weg des Elektronenstrahls sind nicht dargestellte Einrichtungen angeordnet, die es in bekannter Weise ermöglichen, den Elektronenstrahl so abzulenken, daß er auf jeden gewünschten Punkt der Stirnfläche der Röhre auftreffen kann.

An der Stirnseite 20 ist der Kolben 10 dicht durch eine Pla"e 21 verschlossen, die für die Strahlung (Pfeil) durchlässig ist, die von dem zu beobachtenden Gegenstand stammt. Diese Platte ist auf der Innenseite

mit einer Schicht 22 aus einem elektrisch leitenden Material überzogen und trägt Kontaktstücke 23, die ebenfalls elektrisch leitend sind. Auf diesen Kontaktstücken liegt eine Speicherelektrode 24 aus einem für die ankommende Strahlung empfindlichen pyroelektrischen Material auf, deren in Kontakt mit den Kontaktstücken 23 stehende Fläche einen elektrisch leitenden Überzug 25 trägt. Die betreffende Strahlung kann eine Infrarotstrahlung sein, oder irgendeine andere Strahlung, welche die pyroelektrische Speicherelektrode erregen kann, d. h. deren elektrische Polarisation in merklicher Weise verändern kann. Ein Verschluß

26 liegt im Weg der ankommenden Strahlung vor der Stirnfläche 20 des Kolbens und ermöglicht die periodische Unterbrechung der vom Gegenstand kommenden Strahlung.

Ein Umschalter 27 mit drei Stellungen ermöglicht es, die ieitende Schicht 22 über einen Widerstand 28 der Reihe nach mit drei Spannungsquellen 31,32 und 33 zu verbinden, wobei die beiden Spannungsquellen 31 und 33 eine niedrige Spannung liefern, während die Spannungsquelle 32 eine hohe Spannung liefert.

Die Minusklerr.men dieser Spannungsquellen sind mit Masse verbunden, an die auch die Katode des Elektronenstrahlsystems 11 gelegt ist, wie in F i g. 1 gezeigt ist. Die vom Elektronenstrahlsystem abgegebenen Elektronen werden auf eine große Geschwindigkeit beschleunigt (schnelle Elektronen), wenn die hohe Spannung der Quelle 32 an die Schicht 22 angelegt ist, und auf eine geringe Geschwindigkeit (langsame Elektronen), wenn die niedrige Spannung der Quellen 31 und 33 an die Schicht 22 angelegt ist

Die Synchronisation des öffnens und Schließens des Verschlusses 26 mit der Fortschaltung des Umschalters

27 ermöglicht das Ablesen der verschiedenen Punkte der vom Elektronenstrahl bestrichenen Speicherelektrode 24 unabhängig davon, ob zwischen zwei Durchgängen des Elektronenstrahls durch den gleichen Punkt der Speicherelektrode eine Abkühlung oder Erwärmung dieses Punktes erfolgt ist; dabei wird für die Abtastung der Elektronenstrahl mit langsamen Elektronen verwendet, wenn die zu neutralisierenden Ladungen positive Ladungen sind, während der Elektronenstrahl mit schnellen Elektronen verwendet wird, wenn die zu neutralisierenden Ladungen negative Ladungen sind. Im letzten Fall bewirkt der Elektronenstrahl mit schnellen Elektronen eine Sekundärelektronenemission an seinem Auftreffpunkt auf der Speicherelektrode. Diese Sekundäreiektronen werden unter den allgemein bekannten Bedingungen von einer Fangelektrode 40 aufgefangen, die bei dem Ausführungsbeispiel von F i g. 1 die Form eines Gitters hat

Als Beispiel ist angenommen, daß der Verschluß 26 aus einer Metallscheibe 29 (Fig.3) besteht, die einen kreisbogenförmigen Ausschnitt 30 hat, der sich über einen Halbkreis erstreckt Diese Metallscheibe liegt parallel zu der isolierenden Platte 21 und dreht sich um ihre Achse y, die parallel zu der Achse x-x der Röhre liegt, mit einer gleichförmigen Drehzahl, die ihr von einer nicht dargestellten Vorrichtung erteilt wird, beispielsweise mit einem Takt von einer Umdrehung in 240 ms, wobei die Speicherelektrode 24 während der Hälfte dieser Zeit der ankommenden Strahlung ausgesetzt ist (Öffnungsphase) und während der anderen Hälfte dieser Zeit der Strahlung entzogen ist (Schließphase).

Diese beiden Phasen sind im Diagramm von Fig.2 (oberste Linie) bei O (Öffnungsphase) bzw. F (Schließphase) für einen auf der Abszisse aufgetragenen vollständigen Zyklus der Bewegung des Verschlusses dargestellt.

Im unteren Teil des Diagramms von F i g. 2 sind durch einen gebrochenen Kurvenzug die auf der Ordinate aufgetragenen Spannungen dargestellt, welche während dieses Zyklus an die leitende Schicht 22 angelegt sind, wobei die Spannungen mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, wie in F i g. 1 die Spannungsquellen, von denen sie erzeugt werden.

Schließlich sind in Fig. 2 (mittlere Linie) die Zeiten dargestellt, während denen die Speicherelektrode 24 vom Elektronenstrahl abgetastet wird; diese Zeiten entsprechen den in dicken Strichen gezeichneten Abschnitten dieser Linie, wobei die einfachen dicken Striche für die Abtastungen mit langsamen Elektronen und der dicke Doppelstrich für die Abtastung mit schnellen Elektronen stehen. Diese Zeiten fallen nicht notwendigerweise mit den Zeiten zusammen, während denen die Spannungen der Quellen 31,32 bzw. 33 an die Schicht 22 angelegt sind; wie nämlich aus der Technik der Elektronenstrahlröhren allgemein bekannt ist, wird die Elektronenemission nicht ausschließlich durch diese Spannungen allein gesteuert, sondern es sind im allgemeinen noch weitere Elektroden im Elektronenstrahlsystem 11 vorgesehen, mit denen die Elektronenemission nach Belieben gesperrt werden kann.

Es ist ferner zu bemerken, daß eine Abtastung der Speicherelektrode während der gesamten öffnungs- und Schließzeiten des Verschlusses zwar möglich, aber keineswegs für ein einwandfreies Ablesen unerläßlich ist. Im allgemeinen genügt bei weitem eine Abtastung, die sich nur über einen Bruchteil jeder dieser Phasen erstreckt; es besteht auch die Möglichkeit von mehreren aufeinanderfolgenden Abtastungen gleicher oder verschiedener Dauer, die sich über einen Teil der Dauer jeder dieser Phasen oder über die gesamte Dauer dieser Phasen erstrecken, wobei die Wahl von den thermischen Eigenschaften der Speicherelektrode abhängt.

Im Beispiel von F i g. 2 ist der Fall dargestellt, daß die Abtastung mit langsamen Elektronen, welche der Stellung 1 des Umschalters 27 von Fig. 1 entspricht, eine Dauer von etwa 20 ms am Ende der Öffnungsphase des Verschlusses hat, wobei angenommen ist, daß am Ende dieser Phase eine Verringerung der Anzahl der negativen Ladungen oder eine Zunahme der Anzahl der positiven Ladungen seit dem vorangehenden Durchgang des Leseelektronenstrahls durch den betreffenden Punkt dort entstanden ist.

Wenn dies nicht zutrifft, brauchen in F i g. 2 nur die Buchstaben O und F vertauscht zu werden, damit das Diagramm seine Gültigkeit behält

Das Lesesignal ist das Signal, das am Widerstand 28 bei der Abtastung mit langsamen Leseelektronen erscheint Die Erfahrung hat gezeigt, daß diese Abtastung vorzugsweise gerade vor der Abtastung mit schnellen Elektronen erfolgt und nur für einen Bruchteil der betreffenden Phase des Verschlusses durchgeführt wird, wie es bei dem in F i g. 2 gezeigten Beispiel der Fall ist Diese Abtastung mit langsamen Leseelektronen ist durch den einfachen dicken Strich (Abschnitt A) in der Mitte der mittleren Linie des Diagramms von Fig.2 dargestellt

Bei dem gleichen Beispiel beginnt die Abtastung mit schnellen Elektronen (Umschalter 27 in der Stellung 2) gleichzeitig mit der Offnungsphase des Verschlusses, und sie dauert etwa 100 ms (Abschnitt B in F i g. 2).
Aus Erfahrung weiß man, daß am Ende der Abtastung

mit schnellen Elektronen das Potential der Speicherelektrode wegen der Instabilitäten der Sekundäremissionserscheinung schwanken würde, wenn keine Gegenmaßnahmen getroffen würden.

Aus diesem Grund erfolgt bei der beschriebenen Anordnung nach der betreffenden Abtastung mit schnellen Elektronen (Abschnitt B) und vor der folgenden Abtastung mit langsamen Elektronen, die das Lesesignal liefert, d. n. vor dem Abschnitt A des folgenden Zyklus, eine weitere Abtastung der Speicherelektrode von kurzer Dauer durch einen Elektronenstrahl mit langsamen Elektronen, v/elche der Stellung 3 des Umschalters 27 entspricht (Spannung 33 < Spannung 31; Fig.2), damit das Potential der Speicherelektrode gleichförmig gemacht wird.

Bei dem Beispiel von F i g. 2 ist diese Abtastung, die unmittelbar am Ende des Abschnitts B (Abtastung mit schnellen Elektronen) beginnt und bis zum Beginn der Öffnungsphase O des folgenden Zyklus aufrechterhalten wird, durch den einfachen dicken Strich (Abschnitt Q am rechten Ende der mittleren Linie des Diagramms dargestellt. Es sind mehrere andere Variationen möglich: Diese Abtastung könnte beispielsweise eine gewisse Zeit nach dem Ende der Abtastung mit schnellen Elektronen beginnen, sie könnte in die nächste Verschlußphase übergreifen usw. Der letzte Fall wird notwendigerweise eintreten, wenn die Abtastung mit schnellen Elektronen bei dem Beispiel von Fig.2 bis zum Ende der Phase F andauern würde. Alle diese verschiedenen Möglichkeiten sind anwendbar.

Die an die Elektrode 22 während der Abtastung mit schnellen Elektronen angelegte Spannung sowie der Strahlstrom des Elektronenstrahls mit schnellen Elektronen sind so gewählt, daß die Menge der positiven Ladungen, die auf der von den schnellen Elektronen abgetastenen Fläche der Speicherelektrode erzeugt werden, größer als die Menge der negativen Ladungen ist, die auf dieser Fläche infolge der pyroelektrischen Erscheinung während der Zeit zwischen dem Beginn der Verschlußphase, in welcher der Elektronenstrahl mit schnellen Elektronen angelegt wird, und im Augenblick des Beginns der Abtastung mit langsamen Elektronen erscheinen können.

In F i g. 2 ist ein Beispiel für einen möglichen Zyklus dargestellt, doch ist es selbstverständlich, daß ganz allgemein verschiedene andere Formen des Zyklus anwendbar sind, wobei die einzige Bedingung hinsichtlich der Erzielung der gewünschten Wirkung darin besteht, daß nach dem Ende der Abtastung mit schnellen Elektronen und wenigstens bis zum Beginn der Verschlußphase, in welcher die Abtastung mit langsamen Leseeiektronen erfolgt, eine Abtastung kurzer Dauer mit langsamen Elektronen durchgeführt wird.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims

Patentansprüche:

1. Infrarot-Bildaufnahmesystem mit einer pyroelektrischen Sekundärelektronen emittierenden Speicherelektrode, die der einfallenden Strahlung ausgesetzt ist und durch Abtastung mittels eines Elektronenstrahls mit langsamen Leseelektronen abgelesen wird, wobei diese Abtastung abwechselnd mit einer Abtastung durch einen Elektronenstrahl mit schnellen Elektronen in einem Wechsel erfolgt, der durch den Zyklus eines vor der Speicherelektrode angebrachten Verschlusses gesteuert wird, der die Speicherelektrode für die einfallende Strahlung während einer Schließphase abdeckt und während einer Öffnungsphase freigibt, wobei die Abtastung mit langsamen Elektronen in der einen Phase und die Abtastung mit schnellen Elektronen in der anderen Phase des Verschlußzyklus liegen, gekennzeichnet durch eine Einrichtung für eine zweite Abtastung der Speicherelektrode mit langsamen Elektronen nach dem Ende der Abtastung mit schnellen Elektronen und wenigstens bis zum Beginn der Phase des Verschlußzyklus, in welcher die Abtastung mit langsamen Leseelektronen stattfindet.

2. Infrarot-Bildaufnahmesystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung mit langsamen Leseelektronen und/oder die Abtastung mit schnellen Elektronen in mehrere durch Intervalle voneinander getrennte Elementarabtastungen unterteilt sind.

3. Infrarot-Bildaufnahmesystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung aus einem Umschalter besteht, der in den Speisestromkreis der Elektronenstrahlen eingefügt ist und drei Stellungen aufweist, die der Abtastung mit langsamen Leseelektronen, der Abtastung mit schnellen Elektronen bzw. der zweiten Abtastung mit langsamen Elektronen entsprechen.