DE2163970C3 - Prüfeinrichtung zur Prüfung von Leiterplatten - Google Patents
Prüfeinrichtung zur Prüfung von LeiterplattenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfeinrichtung zur Prüfung von in gedruckter Schaltungstech-
ink hergestellten Leiterplatten auf Stromdurchgang
der Leiterbahnen, mit einem Tisch für die Leiterplatten mit einer Einführstation und einer Prüfstation, in
die die Leiterplatten zur Prüfung verbringbar sind, und mit an die Prüfstation heranfahrbaren elektrisehen
Kontaktgebern.
Stromdurchgangsprüfungen an solchen Leiterplatten sollten durchgeführt werden, bevor möglicherweise
komplexe elektronische Bauelemente auf der Leiterplatte montiert sind. Zur Vornahme der
Stronidurchgangsprüfung, durch die vor dem Aufmontieren
verschiedener elektrischer Bauteile auf eine Leiterplatte festgestellt werden soll, ob in dieser
ein gewünschter Stromkreis aufgebaut wird, ist ein Prüfgerät bekannt (japanische Gebrauchsmuster-Veröffentlichung
31404/1969), bei dem je ein Satz oberer und unterer Kontaktgebernadeln mit Hilfe von
Impulsfortschahmotorcn verschoben wird, wobei die Leiterplatte bei der Prüfung in einer zwischen die
Nadeln geführten Halterung festgelegt ist.
Weiterhin ist eine Vorrichtung bekannt (USA.-Patentschrift 3 543 158), bei der als Kontaktgeber ein
elektrischer Leiter mit Hilfe eines Nockens an Klemmen eines elektrischen Geräts zur Prüfung auf
Stromdurchgang bewegbar ist. Hierbei ist jedoch die Zahl der Meßpunkte gering, und darüber hinaus müssen
die Kontaktgeber und deren BewegungsmechaniMnen bei erheblicher Abweichung der Größe und
Form des elektrischen Gerätes ausgetauscht werden. Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe
zugrunde, eine Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, die eine Stromdurchgangsprüfung
jedes Teils der gedruckten Schaltung und der Durchgangslöcher durch die Leiterplatte vor deren
Bestückung nvt elektrischen Bauelementen schnell und automatisch nach einem vorgegebenen Programm
ermöglicht.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß sich oberhalb und unterhalb der Prüfsta-
(inn j ι: ein an die Prüfstation heranfahrbarer Prüf1
knopl beiindei, der je auf einer oberen bzw. linieren
Horizonial-Vorschubvorrichiung sitzt, die für den
Oueruuschub und für den Längsvorschub je einen
impulsgespeisten Schrittmotor, eine in ihrer Winkellage \om Schrittmotor durch eine entsprechende Anzahl
von Impulsen beliebig einstellbare Spindel und eine auf die Spindel geschraubte Mutter umfaßt, und
der eine Mehrzahl von bis zur Berührung mit der Leiterplatte in der Prüfstation vertikal bewegbaren
Kontaktgebernadeln und einen der Verlikalhewegung der Kontaktgebernadeln dienenden Druckluftzylinder,
der über ein Riehlungsschaltvenül mit Druckluft beaufschlagbar ist, umfaßt. Mit dieser Anordnung
laßt sich die in der Prüfung befindliche Leiterplatte gleichzeitig von oben und von innen her mit durch
Inipulsketten wählbarem Programm prüfen, wahrend
bereits in der Einführstation eine weitere Leiterplatte eingebracht wird.
Eine bevorzugte Ausführung besteht darin, daß der obere und/oder der untere Prüfkopf mit seiner
jeweiligen Vorschubvorrichtung über einen ihn in Vertikalrichtung verschiebenden Druckluftzylinder
mil im Vergleich zum die Kontaktgebernadeln bewegenden Druckluftzylinder großem Hub verbunden
ist. Hierdurch wird die Prüfzeit verkürzt, indem sich die Konlaktgebernadeln oben und unten in zwei Bewegungsschritten
auf- und abbewegen, wobei während der laufenden Prüfung nur der kleine Druckiuftzylindcr
betätigt wird. Da obendrein der Prüfkopf nahe an der Leiterplatte ist, ist die Prüfung sehr sicher
durchführbar.
Eine Weiterbildung der Erfindung besteht darin, daß jeder der oberhalb bzw. unterhalb des Tisches
angeordneten Prüfköpfc eine Nullstellung der Längs- und der Quervorschubbewegung hat. die durch obere
und untere, paarweise zusammengehörende Zeigerinstrumente, die die Stellung der jeweiligen Prüfköpfe
angeben, anzeigbar ist, wobei vorzugsweise jedes der paarweise zusammengehörenden Zeigerinstrumente
an einem Längs- bzw. einem Quervorschubblock der jeweiligen Vorschubvorrichtung hängt, und daß die
Längs- und die Quervorschubblöcke an den Zeigerinstrunenten über eine Schwenkplatte bzw. eir Stabteil angreifen.
Diese Ausbildung bietet den Vorteil, daß ein durch einen Impulsausfall oder einen Schlupf während
eines Prüfzykius entstandener Fehler leicht korrigiert
werden kann, indem die Nullstellung für die Quer- und die Längsbewegung der Prüfküpfe vorgesehen
wird und deren Stellung nach Ruckkehr in die
Nullstellung auf den Zeigerinstrumenten abgelesen wird.
Die bevorzugte Ausführung, daß jeder der Prüf köpfe einen aus einem elektrisch isolierenden Material
bestehenden Block einbegreüt, der eine Vielzahl von Kontaktgebernadeln trägt, ferner Federn zur Lagerung
der betreffenden Kontaktgebernadeln in vertikal beweglicher Anordnung, Leitungsteile zur Lagerung
der beireffenden Federn, einen Halter, eine zwischen
dem Halter und dem Block fest angeordnete und mit den Kontaktgebernadeln über die Federn
und die Leitungstdle leitend verbundene Leiterplatte und an der Leiterplatte vorgesehene stromleitende
Anschlüsse, dient dem Wegfall mechanisch gleitender Bauteile und der Erhöhung der Lebensdauer der
Vorrichtung.
Eine weitere Weiterbildung der Erfindung bezieht sich aiii eine Erhöhung der Zuverlässigkeit der
Sironidurchganuspriifung durch Verbinden der Kontakluehernadei
mit einer Keder und der Feiler mit einem Leiierteil im Prüfkopf in gegenseitiger Verrieyelling,
wodurch ein sicherer Stromdurchgang erreicht und der Kontakteiderstand vermindert wird
und außerdem die Prüfung von Montagelöchern für Miniaturteile ermöglicht wird, indem die Leiterbahnen
als Teil der Verdrahtung von der Kontaktgeber-
jo nadel zur Klemme verwendet werden und insof.rn
der Zwischenraum zwischen den Konlaklgebernadeln vermindert wird.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung.
Auf den Figuren ist die Erfindung beispielsweise veranschaulicht, und zwar zeigt
F i g. 1 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform
des Prüfgerätes nach der erfindungsgemäßen Prüfeinrichtung für Leiterplatten, wobei in der
Darstellung Teile weggebrcrien sind,
F i g. 2 eine perspektivische Ansicht des oberen Prüfknopfes dieses Gerätes,
F i g. 3 eine perspektivische Ansicht des unteren Prüfkopfes des Geräts,
Fig.-1 eine perspektivische Ansicht des Lei:-;rolattenhalters
des Geräts,
F i g. 5 eine zur Darstellung des wesentlichen Bereichs teilgeschnittene perspektivische Ansicht einer
Kontaktnadeleinhcit,
F i g. 6 eine perspektivische Ansicht einer Vorrichtung zur Anzeige der Nullrückstellung des unteren
Prüfkopfes, und
F i g. 7 eine Schnittansicht der Kontaktnadeleinhcit eines bekannten Prüfgeräts für Leiterplatten.
Es sei zunächst an Hand von F i g. 7 die Kontaktnadeleinheit des Prüfkopfes eines bekannten Gerätes
beschrieben. Eine solche Kontaktgebemadcl 90 ist in einer Führungsbohrung angeordnet, die in einem Isolatorblock
91 ausgeformt ist, und wird durch eine Feder 92 gegen eine auf eine Substrattafel 93 aufgedruckte
Schaltung 94 aus metallischem Kupfer gedrückt. In das obere offene Ende der Führungsbohrung
in dem Isolatorblock 91 ist eine Flachkopfschraube 95 eingeschraubt, wobei zwischen dieser
Schraube und dem Isolatorblock ein lötfreicr Anschluß
96 festgeklemmt ist. Diese Flachkopfschraubc 95 dient gleichzeitig auch als Gegenhalterung für die
Feder 92.
Bei einer solchen Anordnung fließt der Strom von dem Anschluß 96 durch die Flachkopfschraubc 95,
die Feder 92 und die Kontaklgcbernadcl 90 der Schaltung 94 zu. Das nach dem Stand der Technik
bekannte Gerät ist allerdings mit dem schwerwiegenden Mangel behaftet, daß mitunter der elektrische
Kontakt zwischen der Flachkopfschraubc 95 und der Feder 92 und/oder zwischen der Feder 92 und der
Kontaktgcbernadel 90 infolge der Form des abgeschnittenen Fcdercndcs oder infolge des Rückprallens
der Feder im Augenblick des Xonlaktscllusscs
zwischen der Kontaktgebernadel 90 und der Schaltung 94 unterbrochen wird oder daß die leitende
Verbindung zwischen den Bauteilen sehr instabil wird, weil sich zwischen aneinandergrenzcndcn Teilen
Schmutzpartikel abgesetzt haben. Das Gerät hat
außerdem auch den Nachteil, daß es wegen des lötfreien
Anschlusses nicht möglich ist, den Abstand zwischen den Kontaktgebernadeln zu verringern,
wenn ein Prüfkopf mit einer Vielzahl von Kontaktgc-
berrKicieln hergestellt werden soll, und eine Prüfung
von Befestigiingslöchern für äußerst kleine Bauteile
ist daher nicht durchzuführen.
Die F i g. 1 bis 6 /eigen ein Cicriit mit einer eifindungsgemäßen
Prüfeinrichtung. Die Bezugszahl 1 bezeichnet eine zu prüfende Leiterplatte, die in der
MiUe eines Halters 2 gehalten ist. Der Halter 2 ist durch Schrauben 5 an einem Sehiebetisch 4 befestigt,
der seinerseits zu hin- und hergehenden Bewegungen in gleitend verschiebbarer Anordnung in eine Vertiefimg
aufgenommen ist. die in der oberen Fläche einer Abdeckung 3 an der Oberseite eines unteren Prüfkopfes
vorgesehen ist. Oberhalb der Leiterplatte 1 ist ein oberer Prüfkopf angeordnet, in dem eine in
F" ig. I dargestellte Antriebsvorrichtung 6 vorgesehen ist. die eine Längs- und eine Quervorschubeinrichtung
einbegreift.
Diese Antriebsvorrichtung 6 hat den folgenden Aufbau: Kin Längsvorscluibblock 7 wird von einem
Impiilsfortschaltmotor 10 über eine an dem Block
vorgesehene Mutter 8 und über eine Gcvvindcwclle 9 angetrieben. Mit der Bezugs/ahl 11 ist ein Lager für
die Gewindewelle 9 bezeichnet, die Bezugszahl 12 bezeichnet Führungsstangen für den Längsvorschubbloek
7 und die Bezugszahl 13 Halterungen für die Führungssiangen 12. Fin Qucrvorschubblock 14
wird von einem auf den Längsvorschubblock 7 aufmontierten Impiilsfortschaltmotor 16 in der Führung
durch eine Fülmings>tange 15 angetrieben, die an
dem Längsvorschubblock 7 befestigt ist. Die Bezugs-/ahl
17 bezeichnet eine Abdeckung für die Antriebsvorrichtung 6. mit den Bczugszahlen 18 und 18' sind
Zeigerinstrumente zur Anzeige der Rückstellung des oberen Prüfkopfes auf Null bezeichnet und mit den
Bczugszahlen 19 und 19' Zeigerinstrumente zur Anzeige der Rückstellung des unteren Prüfkopfes auf
Null. Die Rezugszahl 20 bezeichnet ein unteres Gehäuse,
in das eine elektrische Steuereinheit und eine Druckluftein'ncit aufgenommen sind.
Fs soll nun auf die baulichen Einzelheiten des oberen Prüfkopfes näher eingegangen werden. Wie in
F ig. 2 gezeigt ist. wird der obere Prüfkopf von einem Hallcrungsbügel 23 getragen, der mit der Unterseite
des Qucp.orschubblocks 14 verbunden ist. der mittels einer Mutter 21 in der Führung durch die
Führunssstangcn 15 in der Querrichtung verschiebbar ist.
Die Kontaktgebernadeln 24 sind mit ihren oberen Teilen in einem Block 28 gelagert, der mit dem einen
Ende eines Gleitblocks 27 verbunden ist. dessen anderes Ende mit der Kolbenstange 26 eines Druckluftzylinders
25 in Verbindung steht. Der Gleitblock 27 ist durch eine rechteckige Führung 29 gegen Drehbewegungen
festgehalten."
Der Druckluftzylinder 25 ist fest auf eine verschiebbare Platte 30 aufmontiert. Die verschiebbare
Platte 30 kann in vertikaler Richtung durch einen gesondert vorgesehenen Druckluflzylinder 31 mit großem
Hub bewegt werden, der fest auf den Halterungsbügel 23 aufmontiert ist, wobei zur Führung
der Platte Führungsmittel in Form von Gleitkugelbuchsen 32 an dem Halterungsbügel 23 und fest mit
der verschiebbaren Platte 30 verbundenen Führungsstangen 33 vorgesehen sind, so daß auf diesem Wege
ein Auswechseln der Leiterplatten ermöglicht wird.
Eine Steuereinheit zur Steuerung der Betätigung des Dnickluftzylinders 25 ist bei der gezeigten Ausfiihrungsform
ebenfalls an der LJntcrseitc des Quervorschubblocks 14 angeordnet. Die Steuereinheit
umfallt ein ilruckluftbetätigles Richtungsschaltvcntil 34. einen Fühler 35 zum Zuführen eines Sehnltdrucks
/U dem Richtungssclialtventil 34. eine Lochscheihe
36 zum intermittierenden Unterbrechen der Druckluftzufuhr zu dem Fühler 35. einen Impiilsfortschaltmotor
37 für den Antrieb der Lochscheibe 36 und Vorgelegeräder 38 und 39. wobei alle diese
Teile von Stützplatten 40 und 41 getragen werden.
ίο Die Anordnung der Steuereinheit muß nicht in jedem
Fall die in der Zeichnung gezeigte sein, doch ist vorzugsweise eine Anordnung der Steuereinheit in d>~'r
Nähe des zum Verschicben der Kontaktgebernadeln
dienenden Druckluftzylinders 25 mit kleinem Hub vorgesehen.
Der untere Prüfkopf hat den in F-" ig. 3 gezeigte!) Aufbau. Dieser untere Priifkopf wird von einem
Stützaufbau 46 getragen, der an der oberen Fläche eines Quervorschubblocks 43 befestigt ist. Der Quer
vorschubblock 43 ist in tier Führung durch Füh rungsstangen 42 mit Hilfe einer Gewindewclle 45
über eine Mutter 44 in der Querrichtung verschiebbar. Die Kontaktgebernadeln 47 sind mit ihren unteren IV'len in einem Glcitblock 50 gelagert, der mit
dem einen F.nde einer Kolbenstange 49 eines Druckluftzylindcrs
48 mit kleinem Hub verbunden ist. De! Gleitblock 50 ist durch eine rechteckige Führung 52
gegen Drehbewegungen festgelegt. Die Bezugszahl 53
bezeichnet Anschlüsse zur Stromzuführung zu den
Kontaktgebernadeln 47. Eine Steuereinheit zur Steuerung der Betätigung des Druckluftzylinders 4S
ist bei der gezeigten Ausfiihrungsform ebenfalls ;i'·.
der oberen Fläche des Oucrvorschubblocks 43 an geordnet. Ahnlich wie die Steuereinheit für den obe
ren Priifkopf umfallt auch diese Steuereinheit ein Richtiingsschaltventil 54. einen Fühler 55. eine
Lochscheibe 56. einen Impiilsfortschaltmotor 57 so wie Vorgelegcriider 58 und 59. wobei diese Teile
sämtlich von Stützplatten 60 und 61 getragen wer-
den. Die Bezugszahl 62 bezeichnet ein Drosselventil zur Regelung der Druckluftzufuhr von dem Fühler
55.
Fs soll nun an Hand der F ig. 4 der Aufbau des
Leiterplattenhaltcrs 2 erläutert werden. Die Lciterplatte
1 wird mit Hilfe von Paßstiften 64 in die vorgesehene Stellung eingepaßt und dann in dieser Stellung
durch Haltearme 66 festgelegt, die durch je eine
Schraube 65 an dem Halter 2 festgespannt sind. Jede der Schrauben 65 ist mit einer Feder versehen, und
die Leiterplatte 1 wird infolge der Belastung mit der Kraft dieser Federn mit einem geeigneten Anlagedruck
an dem Halter 2 festgehalten. An dem gegen die Leiterplatte 1 anliegenden Teil eines jeden der
Haltcarmc 66 und an den ebenfalls die Leiterplatte 1
berührenden Randbereichen des Halters 2 sind elektrisch isolierende Teile 67 bzw. 68 vorgesehen. Zur
Festlegung des Halters 2 auf dem Schiebetisch 4 nach erfolgter Einstellung mit Hilfe von Paßbohrungen 69
sind Schraubenlöeher 70 vorgesehen.
Die in den oberen und in den unteren Priifkopf eingegliederten Kontaktnadeleinheiten haben jeweils
den in F i g. 5 gezeigten Aufbau. Die Kontaktgebernadeln 24 sind mit dem einen Ende in einem Block
28 gelagert, der aus einem elektrisch isolierenden
S5 Material besteht und an einem Halter 71 befestigt ist.
Jede Kontaktgcbernadcl ist in einer Buchse 72 geführt. Zur Ermöglichung der Stromzuführung von
den Anschlüssen 74 tu den einzelnen Kontaktgeber-
nadeln 24 ist zwischen dem Halter 71 und dem Block 28 eine Leiterplatte 73 angeordnet und in diener
Stellung befestigt. Den Kontaktgebernadcln 24 kann also über die Anschlüsse 74, "die Leiterplatte
73. Leitungen 75 und Federn 76 Strom zugeführt »Tr Jen. Diejenigen Teile der Kontaktgebernadel 24
und der Leitung 75, die jeweils gegen die betreffende Feder 76 anliegen, sind mit zylindrischen bzw. konischen
Vorsprürigen ausgebildet, um die Kontaktwirkung zu erhöhen.
Die Kontaktnadelcinheit mit dem obigen Aufbau ist durch eine Schelle 77 an dem Glcitblock 27
(F i g. 2) befestigt.
Abschließend soll an Hand der F i g. 6 noch eine Vorrichtung zur Anzeige der Rückstellung des oberen
und des unteren Prüfkopfcs auf Null beschrieben Werden, wobei in diesel Figur die Rückslcllanzcigevorrichtung
für den unteren Prüfkopf dargestellt ist. Der bereits unter Bezugnahme auf F i g. 3 beschriebene
üuervorschubblock 43 ist an dem einen Ende mit einem Anschlag 78 versehen, der an einem Stab
•1 angreifen kann, welcher in einem Führungsblock •0 geführt ist, der mit dem Längsvorschubblock 79
verbunden ist. Die Verschiebungsbewegung des Stabes 81 wird mittels einer Welle 84, die durch eine
Schwenkplatte 82 und ein Lager 83 geführt wird, zur Ablesung auf ein Zeigerinstrument 19 übertragen.
Eine Feder 85 ist auf den Stab 81 aufgeschoben, um an diesen eine Rückstellkraft anzulegen. An dem
Längsvorschubblock 79 ist demgegenüber ein Stab •6 vorgesehen, und die Bewegung dieses Stabes 86
bei der Rückstellung des Längsvorschubblocks 79 auf Null kann an einem Zeigerinstrument 19' abgelesen
werden. Mit der Bezugszahl 87 ist eine Halterungsplatte zur Lagerung eines Impulsfortschaltmolors
88 bezeichnet und mit rlcr Bezugszahl 89 ein Lager für die Gewindeteile 45.
Bei der dargestellten Ausführungsform werden die
Zeigerinstrumente 18. 18'. 19 und 19' zur Sichtanzeige verwendet, doch können stattdessen natürlich
auch elektrische Mikrometer oder Meßuhren vorgesehen sein,-die elektrische Signale erzeugen. Die Verwendung
solcher Mikrometer oder Meßuhren isl
ίο nicht nur insofern vorteilhaft, weil sich auf diesem
Wege das Auftreten eines Fehlers im Verschiebungsgrad des Kopfes bei einem Bctiiligungszyklus feststellen
laßt, sondern weil hierdurch ein solcher Fchlei auch automatisch korrigiert werden kann.
HJi dem erfindungsgemäßen Prüfgerät für Leiterplatten
läßt sich ein zwangschlüssiger Kontakt herbeiführen, und der Kontaktwiderstand zwischen der
Kontaktgcbcrnadeln" und den Federn sowie zwischen
den Federn und den Leitungsanschlüssen kann dank dem beschriebenen Aufbau wcitcstgehcnd herabgesetzt
werden, so daß die Zuverlässigkeit des Stromschlusses der Bauteile entsprechend erhöht wird
Darüber hinaus kann hierbei auch der Abstand zwischen den Kontaktgebcrnadeln verringert werden, de
zwischen den Kontaktgebernadeln und den Anschlüssen als Bestandteil der Anordnung eine Leiterplatten
vorgesehen ist, so daß eine Prüfung auch ar Löchern für sehr kleine Bauteile vorgenommen werden
kann.
Das erfindungsgemäße Prüfgerät eignet sich somi zur zuverlässigen Prüfung von Löchern einer Tafe
mit gedruckter Schaltung, die beliebig klein sein können, und bietet daher einen erheblichen praktischer
Vorteil.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
309 651/33
Claims (7)
1. Prüfeinrichtung zur Prüfung von in gedruckter
Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Stromdurchiiang der Leiterbahnen, mit einem
lisch für die Leiterplatten mit einer Einführstalinn
und einer Prüfstation, in die die Leiterplatten zur Prüfung verbringbar sind, und mit an die
Prüfstation heranfahrbaren elektrischen Kontaktgebern, dadurch gekennzeichnet, daß
sich oberhalb und unterhalb der Prüfstation je ein an die Prüfstation heranfahrbarer Prüfkopf
befindet, der je auf einer olieren bzw. unteren Horizontal-Vorschubvorrichtung sitzt, die für
den Quervorschub und für den Längsvorschub je einen impulsgespeisten Schrittmotor (10, 16, 88),
eine in ihrer Winkellage vom Schrittmotor durch eine entsprechende Anzahl von Impulsen beliebig
einstellbare Spindel (9, 22. -4S) und eine auf die Spindel geschraubte Mutter (8, 21, 44) umfaßt,
und der eine Mehrzahl von bis zur Berührung mit der Leiterplatte (1) in der Prüfstation vertikal bewegbaren
Kontaktgebernadeln (24, 47) und einen der Vertikalbewegung der Kontaktgebernadeln
dienenden Druckluftzylindet (25, 31), der über ein Richtungsschaltvcntil (34. 54) mit Druckluft
beaufschlagbar ist, umfaßt.
2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der obere und/oder der untere
Prüfkopf mit seiner jeweiligen Vorschubvorrichtung über einen ihn in Vertikalrichtung verschiebenden
Druckluftzyünd r (31) mit im Vergleich zum die Kontaklgebcruadeln (27, 47) bewegenden
Drueklufizyünder (25, 48) großem Hub verbunden ist.
3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch' gekennzeichnet, daß jeder der oberhalb
bzw. unterhalb des Tisches (4) angeordneten Pnifköpfe eine Nullstellung der Längs- und der
Quervorschubbewegung hat. die durch obere und untere, paarweise zusammengehörende Zeigerinstrumente
(18, 18', 19, 19'). die die Stellung der jeweiligen Prüfköpfe angeben, anzeigbar ist.
4. Prüfeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der paarweise zusammengehörenden
Zcigcrinsirumcnte (18, 18', 19, 19') an einem Längs- bzw. einem Quervorschubblock
(43; 79) der jeweiligen Vorschubvorrichtung hängt und daß die Längs- und die Quervorschubblöckc
an den Zeigerinstrumenten über eine Schwenkplatte (82) bzw. ein Stabteil (86) angreifen.
5. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4. dadurch gekennzeichnet, daß die Druck
lufispeisung für die Druckluftzylinder oder für
einen Teil der Druckluflzylindcr (25, 48) über ein
Richtungsschaltvcntil (34, 54) mit Druckluftsleuening
erfolgt, dessen Steuerdruck über einen eine durch einen impulsgespeisten Schrittmotor
(37; 57) zu Drehbewegungen anlrcibbarc und zum Unterbrechen des Druckhiftstroms betätigbare
Stauscheibe (36; 56) einbegreifenden Fühler (35; 55) zuführbar ist.
6. Prüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der
Prüfköpfe einen aus einem elektrisch isolierenden Material bestehenden Block (28; 51) und die jcweils
in vertikal beweglicher Anordnung auf Federn (7f>) darin gelagert und in Buchsen (72) geführten
Kontaklgebernadeln (24; 47) einbegreift, die zur Erhöhung der Kontaktwirkung zwischen
der Kontaktgebernadel und der Feder (76) jeweils einen Vorsprung aufweisen.
7. Prüfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der die Köntaktgebernadeln
(24, 47) tragende Block (28, 51) Lei'erteile (75) zur Abstützung der sich andererseits an den Kontaktnebernadeln
abstützenden Federn (76), einen Halfer (71), eine zwischen dem Halter (71) und
dem Block (28; 51) fest angeordnete und mit den Kontaktgebernadeln (24"; 47) über die Federn
(76) und die Leitungsteile (75) leitend verbundene Leiterplatte (73) und an der Leiterplatte (73)
vorgesehene stromleitende Anschlüsse (74) aufweist.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14121570U JPS5011974Y1 (de) | 1970-12-25 | 1970-12-25 | |
JP14121270U JPS5011972Y1 (de) | 1970-12-25 | 1970-12-25 | |
JP14121370U JPS5011973Y1 (de) | 1970-12-25 | 1970-12-25 | |
JP13006970 | 1970-12-25 | ||
JP14121470 | 1970-12-25 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2163970A1 DE2163970A1 (de) | 1972-09-21 |
DE2163970B2 DE2163970B2 (de) | 1973-05-30 |
DE2163970C3 true DE2163970C3 (de) | 1973-12-20 |
Family
ID=27527223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2163970A Expired DE2163970C3 (de) | 1970-12-25 | 1971-12-22 | Prüfeinrichtung zur Prüfung von Leiterplatten |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3787768A (de) |
CA (1) | CA944435A (de) |
DE (1) | DE2163970C3 (de) |
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