DE2147142B2 - Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen - Google Patents

Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen

Info

Publication number
DE2147142B2
DE2147142B2 DE2147142A DE2147142A DE2147142B2 DE 2147142 B2 DE2147142 B2 DE 2147142B2 DE 2147142 A DE2147142 A DE 2147142A DE 2147142 A DE2147142 A DE 2147142A DE 2147142 B2 DE2147142 B2 DE 2147142B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
wavelength
photometer
modulator
solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2147142A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2147142C3 (de
DE2147142A1 (de
Inventor
Guy Ivry Sur Seine Berthelot
Jean-Jacques Chatillon Perez
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Publication of DE2147142A1 publication Critical patent/DE2147142A1/de
Publication of DE2147142B2 publication Critical patent/DE2147142B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2147142C3 publication Critical patent/DE2147142C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Photometer für die quantitative Analyse von in einer !lösung enthaltenen Elementen mit einer Strahlungsquelle für die Aussendung zweier monochromatischer Strahlungen unterschiedlicher Wellenlänge, mit je einem Strahlungsdetektor für den Empfang jeweils einer dieser beiden Strahlungen, mit einer in den beiden Strahlungen zwischen der Strahlungsquelle einerseits und dem der betreffenden Strahlung zugeordneten Strahlungsdetektor andererseits gemeinsamen Strahlenweg eingefügten Küvette für die Aufnahme der zu untersuchenden Lösung und mit einem rotierenden Modulator für die alternierende Unterbrechung des Strahlenweges für die Strahlung der einen Wellenlänge und für die Strahlung der anderen Wellenlänge.
Ein Photometer dieser Art ist in der US-PS 2 856 811 beschrieben. Bei diesem bekannten Photometer liegt die Küvette mit der zu untersuchenden Lösung unmittelbar hinter der Strahlungsquelle und wird von der ge samten von dieser abgegebenen Strahlung durchsetzt, die erst nach dem Durchqueren der Küvette in zwei Teilbündel aufgespalten wird. In den Weg jedes dieser beiden Teilbündel zu dem ihm zugeordneten Strahlungsdetektor ist zunächst ein für nur eine ganz bestimmte Wellenlänge durchlässiges Filter und sodann ein Modulator eingefügt. Dieser Modulator, der die Form einer um eine zur Strahlungsrichtung parallele Achse rotierenden Scheibe mit strahlungsdurchlässigen Sektoren aufweist, bewirkt eine alternierende Unterbrechung des Strahlenweges für die beiden Teilbundel in der Weise, daß immer nur einer der beiden Strahlungsdetektoren von der für ihn bestimmten Strahlung beaufschlagt wird.
Wegen der Einfügung der die zu untersuchende Lösung enthaltenden Küvette in den Strahlenweg unmittelbar hinter der Strahlungsquelle und vor einer Aufteilung der von dieser abgegebenen Strahlung läßt sich bei diesem bekannten Photometer eine unabhängige Beeinflussung der Strahlungsintensität für die verschiedenen am Meßvorgang beteiligten Wellenlängen erst nach dem Durchgang der Strahlung durch die Küvette vornehmen, so daß dem Verhalten dieser Meßstrahlungen innerhalb der zu untersuchenden Lösung nicht Rechnung getragen werden Svann. Außerdem führt die Beaufschlagung der zu untersuchenden Lösung mit der gesamten von der Strahlungsquelle abgegebenen Strahlung zu einer großen Energiezufuhr und einer dementsprechend starken Erwärmung für die zu untersuchende Lösung, die nicht in allen Fällen ohne weiteres hingenommen werden kann.
Mit einem in Form einer rotierenden Scheibe ausgebildeten Modulator, der alternierend den Weg einer Meßstrahlung und den Weg einer von der gleichen Strahlungsquelle stammenden Vergleichsstrahliing zu einem gemeinsamen Strahlungsdetektor unterbricht, ist auch ein vorbekanntes Betriebsphotonieter ausgerüstet. In der normalen Ausführung dieses bekannten Photometers liegt die Meßküvctte mit der zu untersuchenden Lösung in einem allein von der Meßstrahlung durchlaufenen Teil des Strahlenweges, während die Vcrgleichsstrahlung an der Meßküvette vorbeigeführt wird. F.ine gleichzeitige Bestimmung zweier Elemente in der in der Küvette enthaltenen Lösung mit Hilfe je einer dem jeweils zu bestimmenden Element zugeordneten Meßstrahlung bestimmter Wellenlänge ist also bei dieser Ausführungsform des bekannten Betriebsphotometers nicht möglich. Diese Feststellung trifft auch für eine Alternativausführung des bekannten Betriebsphotometers zu, bei der die Meßküvette im gemeinsamen Strahlenweg für die Meßstrahlung und die Vergleichsstrahlung unmittelbar vor dem Strahlungsdetektor angeordnet ist, da in diesem Falle die Vergleichsstrahlung eine Wellenlänge aufweisen muß, für
die sich keine wesentliche Beeinflussung durch die in der Küvette enthaltene Lösung ergeben darf. Die gleichzeitige Bestimmung mehrerer Elemente in der /u untersuchenden Lösung würde eine Ergänzung des bekannten Betriebsphotometers durch einen Demodula- j tor verlangen, der in seinem Betrieb mit der Modula· torscheibe über eine äußere Schaltung synchronisiert werden müßte.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Photometer der eingangs erwähnten Art so auszubilden, daß es ohne einen gesondert zu synchronisierenden Demodulator auskommt, die zu untersuchende Lösung an einer Stelle enthält, an der diese dem Einfluß einerseits aller beiden am Meßvorgang beteiligten Strahlungen, andererseits aber nur dieser beiden Strahlungen )5 allein ausgesetzt ist, und eine Einsteilung des Intensitätsverhältnisses für die beiden am Meß Vorgang beteiligten Strahlungen vor deren Durchgang durch die zu untersuchende Lösung ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Küvette zwischen dem als eine um eine zur Sirahlrichtung durch die Küvette parallele Achse rotierende Scheibe mit einer geraden Anzahl von Öffnungen, von denen im Verlaufe der Scheibenrotation alternierend die einen Öffnungen jeweils über einen auf der 2* Scheibe montierten Spiegel oder die anderen öffnungen unmittelbar in den Weg der Strahlung der einen Wellenlänge bzw. in den Weg der Strahlung der anderen Wellenlänge einfügbar sind, ausgebildeten Modulator einerseits und einem als analog ausgebildete und 3c auf der gleichen Achse sitzende Scheibe mit fluchtenden Öffnungen für den Durchgang der Strahlung beider Wellenlängen ausgebildeten Demodulator andererseits in den Strahlenweg von der Strahlungsquelle zu jedem der beiden Strahlungsdetektoren eingefügt ist.
Bei dem erfindungsgemäß ausgebildeten Photometer erfolgt die Abspaltung der beiden für den Meßvorgang verwendeten Wellenlängen aus der von der Strahlungsquelle abgegebenen Gesamtstrahlung bereits an einer vor der π untersuchenden Lösung liegenden Stelle des Strahlenweges, so daß die Energiezufuhr zu der zu untersuchenden Lösung auf das für die Messungen unbedingt notwendige Maß begrenzt werdeii kann. Außerdem werden auf diese Weise die beiden am Meßvorgang beteiligten Strahlungen bereits vor dem Durchitrahlen der z.u unteisuchenden Lösung voneinander unabhängig und lassen sich daher in ihrer Intensität auf gewünschte Werte einstellen, so daß sich beispielsweise itets die Möglichkeit ergibt, die für den Empfang dieser Strahlungen eingesetzten Strahlungsdetektoren in ihfern optimalen Bereich, also beispielsweise in ihrem Lieearitätsbereich zu betreiben. Schließlich werden durch die starre mechanische Kopplung der beiden als Modulator und als Demodulator dienenden Scheiben über ihre gemeinsame Antriebsachse auch alle Synchronisiefungsprobleme in Verbindung mit dem Antrieb von Modulator und Demodulator ohne die Notwendigkeit einer äußeren Regeleinrichtung gelöst.
Ein erfindungsgemäß ausgebildetes Photometer cig net sich zur Durchführung einer gleichzeitigen quantitativen Analyse für zwei in einer zu untersuchenden Lösung enthaltene Elemente, es gestattet aber auch eine quantitative Analyse für nur ein einziges in einer zu untersuchenden Lösung enthaltenes Element, wobei die zu untersuchende Lösung getrübt sein oder Vcrunreinigungen enthalten kann.
Vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung sind in Unteransprüchen im einzelnen gekennzeichnet.
In der Zeichnung ist die Erfindung an Hand eines» bevorzugten Ausführungsbeispiels veranschaulicht; dabei zeigt
F i g. 1 ein Ausführungsbeispiel für ein erfindungsgemäß ausgebildetes Photometerund
F i g. 2 ein Ausführungsbeispiel für die Modulator-Demodulator-Kombination des Photometers von Fig. 1.
Das in F i g. 1 dargestellte Photometer besteht im wesentlichen aus einer Modulator-Demodulator-Kombination 2, die zwischen einer Beleuchtungseinrichtung t die zwei monochromatische Lichtbündel I und II abgibt, und einer Detektoreinrichtung 3 angeordnet ist.
Gemäß einem wichtigen Merkmal der Erfindung läßt man die beiden Lichtbündel I und FI mit unterschiedlicher Wellenlänge in die Modulator-Demodulator-Kombination 2 eintreten, die diese beiden Lichtbündel! und II alternativ eine Küvette 11 durchstrahlen läßt, die eine zu analysierende Lösung 12 enthält.
Die Modulator-Demodulaior-Kombination 2, die in F i g. 2 genauer wiedergegebc.· ist, besteht aus zwei Scheiben 13 und 14, die auf einer von einem Motor 16 angetriebenen Achse 15 montiert sind An beiden Scheiben 13 und 14 sind jeweils symmetrisch zwei Spiegel A und vier Öffnungen (zwei öffnungen Bund zwei öfiriungen C) so angeordnet, daß einerseits bei der Scheibe 13 das einfallende Lichtbündel I durch die Spiegel ,4 reflektiert und danach durch die entsprechenden öffnungen B zur Küvette ! 1 durchgelassen wird, während ähnlich das einfallende Lichtbündel Il durch die Öffnungen C zur Küvette 11 durchgelassen wird, und zwar abwechselnd mit dem Lichtbündel I und andererseits bei der Scheibe 14 die beiden Lichtbündel I und II von neuem getrennt werden, bevor sie in die Detcktoreinrichtung 3 geschickt werden.
Die Beleuchtungseinrichtung 1 weist eine Lichtquelle 4, einen Kondensor 10, zwei Filter 5 und 6, die Licht verschiedener Wellenlänge durchlassen, zv si Spiegel 7 und 8 und einen halbdurchlässigcn Spiegel 9 mit variablem Schwächungskoeffizienten auf, der um 45° gegen das von der Lichtquelle 4 emittierte Lichtbündel geneigt ist.
Das von der Lichtquelle 4 abgegebene Licht wird mittels des Spiegels 9 in die beiden Lichtbündel I und Il aufgeteilt, die im Fall der Anwendung des Photomeiers zur quantitativen Analyse eines einzigen Elements in der Lösung der Küvette 11 ein Meßbündel I und ein Bezugsbündel Il sind. Der Spiegel 9 gewährleistet außer dieser Aufteilung des Lichts auch einen genauen Ausgleich der Lichtintensität in beiden Lichtbiindeln. Um diesen Ausgleich zu erzielen, genügt es, den Spiefccl 9 in Längsrichtung unter 45° zum einfallenden Bündel geneigt zu verschieben. Die Reflexion und die mehr oder weniger geschwächte Durchlässigkeit ei geben zusammen eine größere Anpassungsfähigkeit bei der Einstellung der Lichtintensitäten, die in Höhe der Filter 5 und b verfügbar sind. Diese können Monochroma'.oren (Prismen, Gitter) oder einfach normale Filter sein. Der Durchla'ssigkeitskoeffizient von kommerziell erhältlichen Filtern schwankt von Filter z.u Filter ziemlich (vor allem, wenn sie verschiedene Wellenlängen haben), so daß die Möglichkeit zur Einstellung der Lichtintensitäten mittels des Spiegels 9 besonders vorteilhaft ist.
Im Fall der Anwendung des Photometers zur quantitativen Analyse von zwei Elementen in der Lösung in der Küvette Il sind die Lichtbündel I und II zwei Meßbündel, von denen jedes einem dieser beiden Elemente
spricht. Die Detcktorcinrichtung 3 hat wie folgt aulrcnnt:
) Im F7alle einer Anwendung des Photometers zur quantitativen Analyse eines einzigen Elements in der Lösung in der Küvette ti werden die Liehtbündel I und Il hinter der Modulator-Dcmodulator-Kombinalion 2 je einem von zwei entgegengesetzt geschalteten Detektoren 17 b/.w. 17' zugeführt. Dabei ist in den Weg für das als Hczugsbiindcl dienende Lichtbiindel hinter der den Demodulator bildenden Scheibe bei einem Photometer mit optischer Kompensation ein photometrischer Keil 18 cinlugbar, der zweekmäßigerweise durch ein System gesteuert wird, das mit einem Servomechanismus versehen ist.
ι) Im Falle einer Anwendung des Photometers zur gleichzeitigen quantitativen Analyse von zwei Elementen in der Lösung in der Küvette 11 ist für jedes der beiden Lichtbündel I und Il am Ausgang der Modulator-Demodulator-Kombination 2 ein eigener Detektor 17 bzw. 17' vorgesehen, von denen jeder einem der beiden Elemente zugeordnel ist, die in der Lösung der Küvette 11 quantitativ zn analysieren sind.
Diis erfindungsgfmaß ausgebildete Photometer hai
s den Vorteil eines einfachen Aufbaus, der ohne eine Synchronregclung zwischen Modulator und Demodulator auskommt. Es gewährleistet eine genaue Koinzidenz der beiden Lichtbiindel beim Durchgang durch die Küvette. Im Fall der quantitativen Analyse eines ein/i
ίο gen Elements in der Küvette erlaubt es einen optischer Ausgleich zwischen den beiden Lichtbündcln dank ihrer räumlichen Trennung am Eingang des Modulators so daß die Detektoreinrichtung in ihrer Linearitätszonc für die beiden Wellenlängen betrieben werden kann Außerdem gestattet das erfindungsgemäß ausgebil detc Photonieter wegen der räumlichen Trennung dei beiden Lichtbiindel am Ausgang der Modulator-Demo dulator-Kombination 2 eine quantitative Analyse vor zwei Elementen in ein und derselben Lösung mit Hilft zweier voneinander unabhängiger Detektoren.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen mit einer s Strahlungsquelle Für die Aussendung zweier monochromatischer Strahlungen unterschiedlicher Wellenlänge, mit je einem Strahlungsdetektor für den Empfang jeweils einer dieser beiden Strahlungen, mit einer in den beiden Strahlungen zwischen der Strahlungsquelle einerseits und dem der betreffenden Strahlung zugeordneten Strahlungsdetektor andererseits gemeinsamen Strahlenweg eingefügten Küvette für die Aufnahme der zu untersuchenden Lösung und mit einem rotierenden Modulator für die alternierende Unterbrechung des Strahlenweges für die Strahlung der einen Wellenlänge und für die Strahlung der anderen Wellenlänge, d a durch gekennzeichnet, daß die Küvette (11) zwischen dem als eine um eine zur Strahlrichtung durch die Küvette parallele Achse (15) rotierende Scheibe (13) mit einer geraden Anzahl von öffnungen (B, Q, von denen im Verlaufe der Scheibenrotation alternierend die einen öffnungen (B) jeweils über einen auf der Scheibe montierten Spiegel (A) oder die anderen Öffnungen (C) unmittelbar in den Weg der Strahlung der einen Wellenlänge bzw. in den Weg der Strahlung der anderen Wellenlänge einfügbar sind, ausgebildeten Modulator einerseits und einem als analog ausgebildete und auf der glc. hen Achse sitzende Scheibe (14) mit fluchtenden Öffnungen für den Durchgang der Strahlung beider Wellenlängen abgebildeten Demodulator andererseits in den Stra'ilenweg von der Strahlungsquelle (4) /u jedem oer beiden Strahlungsdetektoren (17 und 17') eingefügt ist.
2. Photometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in den Strahlenweg vor dem Modulator (Scheibe 13) und/oder hinter dem Demodulator (Scheibe 14) eine Einrichtung (Spiegel 9 bzw. Keil ^o 18) für die Beeinflussung der Intensität der Strahlung mindestens einer Wellenlänge eingefügt ist.
3. Photometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Einrichtung zur Beeinflussung der 1 Strahlungsintensität vor dem Modulator (Scheibe 13) ein halbdurchlä>siger Spiegel (9) mit variablem Schwächungskoeffizienten in seiner Lage einstellbar angeordnet ist. der die von der Strahlungsquelle (4) ausgesandte Strahlung in zwei Teilbündel (I und II) mit einstellbarer Intensität aufteilt, von denen jedes vor der Durchstrahlung der Küvette (11) ein nur für eine bestimmte Wellenlänge durchlässiges Filter (5 bzw. 6) durchläuft.
4. Photometer nach Anspruch 2 oder 3. dadurch gekennzeichnet, daß als Einrichtung zur Bceinflussung der Strahlungsintensität hinter dem Demodulator (Scheibe 14) im Strahlenweg für die Strahlung der einen Wellenlänge ein photometrischer Keil (18) quer dazu verschiebbar angeordnet ist.
60
DE2147142A 1970-09-23 1971-09-21 Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen Expired DE2147142C3 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7034443A FR2106754A5 (de) 1970-09-23 1970-09-23
US00181734A US3819277A (en) 1970-09-23 1971-09-20 Photometric analyzer having two wavelengths for the determination of elements in a solution

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2147142A1 DE2147142A1 (de) 1972-06-29
DE2147142B2 true DE2147142B2 (de) 1974-10-10
DE2147142C3 DE2147142C3 (de) 1975-06-26

Family

ID=26215960

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2147142A Expired DE2147142C3 (de) 1970-09-23 1971-09-21 Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3819277A (de)
DE (1) DE2147142C3 (de)
FR (1) FR2106754A5 (de)
GB (1) GB1338129A (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2303533A1 (de) * 1973-01-25 1974-08-01 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomabsorptions-spektrometer
DE3625490A1 (de) * 1986-07-28 1988-02-04 Kernforschungsz Karlsruhe Multikomponenten-prozessanalysensystem
DE3733573A1 (de) * 1987-10-03 1989-04-20 Leybold Ag Vorrichtung zum messen des fremdstoffanteils in stroemenden fluessigkeiten
DE3926090A1 (de) * 1989-08-07 1991-02-14 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Zweistrahlphotometer

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4168910A (en) * 1978-04-27 1979-09-25 The Perkin-Elmer Corporation Optical beam-switching chopper
US4410785A (en) * 1978-06-07 1983-10-18 Philip Morris Incorporated Method and apparatus for perforation of sheet material by laser
US4439663A (en) * 1978-08-10 1984-03-27 Philip Morris Incorporated Method and system for laser perforation of sheet material
US4404454A (en) * 1978-09-20 1983-09-13 Philip Morris Incorporated Light energy perforation apparatus and system
US4404452A (en) * 1979-06-08 1983-09-13 Philip Morris Incorporated Optical perforating apparatus and system
US4310763A (en) * 1979-10-15 1982-01-12 John Shields Electro-optical analyzer for measuring percentage by weight of fat, protein and lactose in milk
FR2474166A1 (fr) * 1980-01-23 1981-07-24 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure photometrique pour solutions complexes a bruit de fond variable
DE3152252A1 (de) * 1980-08-14 1982-09-23 Panametrics Method and apparatus for photometric detection in fluids
DE3045156C2 (de) * 1980-12-01 1983-12-08 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Vorrichtung zur Spektralanalyse
US4519680A (en) * 1982-11-05 1985-05-28 Philip Morris Incorporated Beam chopper for producing multiple beams
US4499361A (en) * 1983-05-02 1985-02-12 Philip Morris Incorporated Laser beam interrupter and divider
JPH06105256B2 (ja) * 1983-06-14 1994-12-21 株式会社東芝 免疫分析方法
DE3915421C2 (de) * 1989-05-11 1995-03-02 Bayer Ag Vorrichtung zur Messung der Fluoreszenzanregung biologischer Zellen bei zwei verschiedenen Wellenlängen
US5053626A (en) * 1989-09-29 1991-10-01 Boston University Dual wavelength spectrofluorometer
DE10038185C2 (de) 2000-08-04 2003-05-28 Siemens Ag Einrichtung zum Erfassen von unterschiedlichen Fluoreszenzsignalen eines mit verschiedenen Anregungswellenlängen ganzflächig beleuchteten Probenträgers
EP2045015B1 (de) * 2007-10-01 2011-11-23 Tecan Trading AG Mikroküvetten-Anordnung und deren Verwendung
EP2194368B1 (de) * 2008-12-03 2019-07-17 Grundfos Management A/S Sensorsystem zum Erfassen und Spezifizieren von einzelnen Partikeln in einem Fluid
US9030663B2 (en) * 2011-10-31 2015-05-12 Exelis Inc. Remote absorption spectroscopy by coded transmission
CN104237125A (zh) 2013-06-07 2014-12-24 西克股份公司 双通道测量装置
FI20136173L (fi) * 2013-11-24 2015-05-25 Kemira Oyj Virran anionisen varauksen optinen määritys

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3045123A (en) * 1960-10-14 1962-07-17 Joseph C Frommer Calibrating system for particle sensing machine
US3176576A (en) * 1961-05-22 1965-04-06 Beckman Instruments Inc Tracking accuracy control for analyzers
US3381135A (en) * 1964-07-01 1968-04-30 Bausch & Lomb Density measuring system having optical wedge to vary length of light path
US3520614A (en) * 1966-06-30 1970-07-14 Phoenix Precision Instr Co Spectrophotometer and process
US3666362A (en) * 1970-12-22 1972-05-30 Johnson Research Foundation Me Dual wavelength spectrophotometry
US3712738A (en) * 1971-03-10 1973-01-23 Shimadzu Corp Illuminator system for use in spectrophotometer

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2303533A1 (de) * 1973-01-25 1974-08-01 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomabsorptions-spektrometer
DE3625490A1 (de) * 1986-07-28 1988-02-04 Kernforschungsz Karlsruhe Multikomponenten-prozessanalysensystem
DE3733573A1 (de) * 1987-10-03 1989-04-20 Leybold Ag Vorrichtung zum messen des fremdstoffanteils in stroemenden fluessigkeiten
DE3926090A1 (de) * 1989-08-07 1991-02-14 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Zweistrahlphotometer
DE3926090C2 (de) * 1989-08-07 1998-09-10 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Zweistrahlphotometer

Also Published As

Publication number Publication date
DE2147142C3 (de) 1975-06-26
GB1338129A (en) 1973-11-21
US3819277A (en) 1974-06-25
DE2147142A1 (de) 1972-06-29
FR2106754A5 (de) 1972-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2147142B2 (de) Photometer für die quantitative Analyse von in einer Lösung enthaltenen Elementen
DE2415049C3 (de) Spektralphotometer zur Messung des Absoptionsvermögens von chromatographisch getrennten Flüssigkeiten
DE2364069C3 (de) Spektralphotometer
EP0098429B1 (de) Monochromator
DE2014531B2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von in einem Fluid suspendierten Teilchen
DE2340252A1 (de) Verfahren und einrichtung zur auszaehlung von biologischen partikeln
DE2460434A1 (de) Flud-analysator
DE2539183C2 (de) Optisches Meßinstrument
DE2059863A1 (de) Automatischer Absorptionsspektrophotometrie-Analysator
EP3271694A1 (de) Lichtemissionsmessgerät und verfahren zur messung von lichtemission
DE1472207B2 (de) Vorrichtung zur Messung des zirkulären Dichroismus
DE2114107B2 (de) Photometer
DE2948590C2 (de) Vorrichtung zur Absorptionsmessung von Gasgemischen
DE1212743B (de) Photometer mit Strahlenaufteilung
DE3535652A1 (de) Anordnung zur optischen strahlenfuehrung in photometrischen analysenmessgeraeten
DE2321735A1 (de) Verfahren zum ausgleichen der abweichung, die die von einem elektronischen messinstrument vorgenommenen digitalen messungen bestimmt
DE1962594A1 (de) Vorrichtung zum Abtasten von bogen- oder bandfoermigem,durchlaufendem Gut
DE1447246C3 (de) Spektrometer
DE19816487A1 (de) Vorrichtung zum Nachweis eines Fluoreszenzfarbstoffs
DE1961141B2 (de) Spektrometer
DE2609067A1 (de) Detektoraufbau zur spektralphotometrischen analyse
DE2036165B2 (de) Infrarotspektrometer
DE69929086T2 (de) Vorrichtung und verfahren zum fernnachweis von emissionen mit einem aus ir- und uv-strahlung zusammengesetzten strahl, der zum nachweis nicht geteilt wird
DE1295886B (de) Spektralphotometer
DE2359688A1 (de) Lumineszenzspektralphotometer

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee