DE2012440A1 - Halbleiterelement - Google Patents
HalbleiterelementInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 61
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims description 8
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 9
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 235000015108 pies Nutrition 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241001137251 Corvidae Species 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108010013381 Porins Proteins 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 102000007739 porin activity proteins Human genes 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 230000010512 thermal transition Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/051—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body another lead being formed by a cover plate parallel to the base plate, e.g. sandwich type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
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Description
Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, Tokyo / Japan
Halbleiterelement-.
Die Erfindung betrifft ein Halbleiterelement aus einem
nach beiden Seiten offenen hohlen Zylinderteil aus elektrisch
isolierendem Material, Elektrodenblöcken, welche die offenen Enden des h«hlen Zylinderteils, zur Bildung eines abgedichteten
Raumes hermetisch abschließen und einem Halbleiterteilelement mit gegenüberliegenden Hauptflächen, welche in dem abgedichteten
Raum von ,den Elektrodenblöcken berührt und von diesen getragen
werden.
Sie betrifft insbesondere Verbesserungen bezüglich der
Kühlung eines solchen Halbleiterelements. , \
-2-
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HalbleiteieLemente 1er oben beschriebenen Art sind bereits
bekannt. In letzter Zeit sind derartige Halbleiterelemente in den meisten Fällen se hergestellt worden, daß das Halbleitorteilelement
unter Druck zwischen einem Paar von Elektrodenblöcken in dem abgedichteten Raum gleitend beweglich gehalten wird. Um
da Halbleiterelemente zu kühlen, wurde eine Kühleinrichtung aus einem Paar wärmeableitender Teile aufgebaut, welche unter Druck
gegen die äußeren Oberflächen der Elektrodenblöcke anstießen und: diese zwischen sich geschichtet hatten. Falls gewünscht,
konnte ein Kühlmittel wie Wasser, öl usw. durch die wärrneableitenden
Teile strömen.
Bei den beschriebenen Halbleiterelementen konnte der thermische übergangswiderstand an der Kontaktfläche zwischen
Elektrodenblock und dem zugehörigen wärmeableitenden Teil nicht unter einen Grenzwert verringert werden. Pies führte zur Unmöglichkeit,
die Wirkung der Wärmeableitung zu verbessern, weil die äußere Oberfläche des Elektrodenblocks nur in Druckkontakt
mit dem getrennt vom Elektrodenblock hergestellten wärmeableitenden Teil war. Allgemein kann gesagt werden, daß ein Paar
metallischer Teile, die einander mit einer gegebenen Kontaktfläche berühren, einen thermischen Widerstand in der Größenordnung
einer Kupferstange miMindestens 2 cm Lange bei gleichem
Querschnitt aufweisen. Da z.B. eine Kupferstange mit k cm Durchmesser
einen Wärmeleitwiderstand von o,o22°C je Watt und cm aufweist, ergibt der Übergang zwischen zwei Kupferteilen, welche
eine Kontaktfläche entsprechend einem Kreis ir.it einem Durchmesser
von 4 cm aufweisen, einen thermischen Übergangsviiderstand von etwa 0,050C je Watt. Es ist daher leicht zu verstehen, daß
eine Kontaktfläche für die Wärmeableitung hinderlich ist.
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Andererseits wurden in letzter Zeit Halbl.eiterteilelemente
für höhere Spannungen und größere Leistungen entwickelt, ·
so daß ein Halbleiterteilelement entstanden ist, welches eine Verlustleistung vcn einigen Kilowatt aufweist. Z.B. ergibt eine
Halbleiterdiode, welche eine Sannung von 5poo Volt aushält und
für einen Strom vcn in der Größenordnung looo Ampere ausgelegt
ist, eine Verlustleistung vcn 3 Kilowatt. Dies kommt daher,
daß eine Widerstandsfähigkeit gegen hohe Spannungen unabwendbar
zu einer Zunahme der Dicke des Halbleiterplättchens führt, was wiederum von einer Zunahme dessen Durchmessers begleitet
ist, wobei trotzdem der Spannungabfall in Durchlaßrichtung auf
einem hohen Wert bleibt. Daß der Spannungsabfall-doch auf einem hohen Wert bleibt, führt zusammen mit der hohen Strornbelastbarkeit
zu einem sdch hohen Wert der Verlustleistung.
Bei Halbleiterelementen mit den oben beschriebenen hohen Verlustleistungen ist der erwähnte thermische übergangswiderstand
an der Kontaktfläche zwischen Elektrodenblook und wärmeableitendern
Teil ein wesentlicher Nachteil, welcher der Verbesserung der Wärmeableitung entgegensteht. Es ist daher wünschenswert,
ein Halbleiterelement vorzusehen, das keine derartige
Kontaktfläche aufweist. In diesem Zusammenhang ist zu bemerken, daß bei Halbleiterelementen, bei welchen Elektrodenblöcke mit den offenen Enden eines hohlen Zylinderteils aus
elektrisch isolierenden Material verbunden sind, die Elektrodenblöcke
normalerweise durch Löten mit dem isolierenden Teil verbunden sind. Wenn dner die Kontaktfläche zwischen Elektrodenblock
und wärmeableitendem Teil weggelassen werden soll, ist es- erforderlich, einen Aufbau vorzusehen, durch welchen der
Verbindungsvorgang nicht behindert wird.
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Es ist daher ein Ziel der Erfindung, ein neues und verbessertes Halbleiterelement zu schaffen, welches keine Kontaktflächen
zwischen einem bei seinem Aufbau verwendeten Elektrodenblock und einem entsprechenden wärmeableitenden Teil aufweist
und einen Aufbau hat, welcher den Verbindungsvorgang des Elek-■
trodenblocks mit dem verwendeten isolierenden hohlen Zylinderteil
nicht behindert.
Dieses Ziel wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß mindestens ein Elektrodenblock kegeistumpfförmig ist und einen
Endteil mit kleinerem rurchmesser mit einer Endfläche aufweist, welche in Kontakt mit der benachbarten Hauptfläche des Halbleiterteilelements
steht, der andere Endteil mit größerem Durchmesser des Elektrodenblocks einen größeren Durchmesser als das
zugehörige offene Ende des Zylinderteils aufweist, und daß der Endteil mit kleinerem Durchmesser über eine kegelstumpfförmige
Oberfläche mit dem Endteil mit größerem Durchmesser verbunden ist.
Der konische Elektrsdenblock kann vorzugsweise am Endteil
mit dem kleineren Durchmesser einen Flansch aufweisen, welcher mit einem fest am zugehörigen Ende des hohlen Zylinderteils befestigten
Plansch verbunden ist.
Vorteilhaft kann der konische Elektrodenblock an seinem
größeren Ende mit einer zentralen Vertiefung und einer Vielzahl von Vorsprüngen versehen sein, welche aus der Oberfläche
der Vertiefung derart hervorragen, daß ein Strömen von Kühlmittel um die Vorsprünge möglich ist.
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BAD ORiGiNAL
Die Erfindung wird klarer anhand der folgenden ausführ-.
liehen Beschreibung von Ausführungsbeispielen, welche im Zusammenhang
mit der Zeichnung erfolgt. Es zeigen
Pig. 1 einen Längsschnitt durch ein nach der Erfindung aufgebautes Halbleiterelement,
Fig. 2 einen Querschnitt des Halbleiterteilelements in Pig. 1,
Fig. 5 einen Längsschnitt durch den hehlen Zylinderteil aus elektrisch
isolierenden Material in Fig. 1, " . "
Fig. 4 einen Längsschnitt durch einen der Elektrodenblöcke in
Fig.' 1, ■■-.■-■.■■■:
Fig. 5 eine Draufsicht auf den Elektrodenblock in Fig. 1 und 4
und · ■
Fig. β eine Seitenansicht, teilweise im Längsschnitt, einer
Modifikation der Erfindung. -
In Fig. 1 der Zeichnung ist ein Halbleiterelement dargestellt,
welches entsprechend der Erfindung aufgebaut ist. Die dargestellte Anordnung umfaßt ein allgemein mit der Bezugsziffer Io bezeichnetes Halbleiterteilelement, einen allgemein
mit der Bezugsziffer 2o bezeichneten hohlen Zylinderteil aus
elektrisch isolierendem Material und ein Paar allgemein mit der Bezugsziffer 3o bezeichnete Elektrodenblöcke. Das Halbleiterteilelement
Io kann die Form einer flachen Halbleiterdiode haben,
wie sie in Fig. 2 dargestellt ist. Die dargestellte Diode oder das Halbleiterteilelement Io umfaßt ein. rundes Plättchen 11 aus
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einem geeigneten Halbleitermaterial wie Silizium mit einander gegenüberliegenden Haujfflächen und einem abgeschrägten Umfang
und enthält eine p-Schicht und eine η-Schicht, um dazwischen einen p-n-Übergang 12 zu bilden. Eine Stützplatte IJ aus einem
geeisten metallischen Material wie Molybdän oder Wolfram wird
mit der Oberfläche der p-Schicht des Plättchens 11 durch eine Lötschicht l4, z.B. aus Aluminium in ohmschen Kontakt verbunden,
und eine metallische Elektrode 15 ist auf die Oberfläche der η-Schicht des Plättchens 11 legiert. Pie Elektrode kann vorzugsweise
aus Gold oder Antimon sein. Die ausgesetzte Oberfläche des Plättchens 11 aus Silizium ist natürlich einer bekannten
Oberflächenbehandlung zur Stabilisierung unterzogen worden, um
das Halbleiterteilelement Io zu vollenden.
Das so hergestellte Halbleiterteilelement Io wird aus
seinem Platz in dem in Pig. 3 gezeigten isolierenden hohlen Zylinderteil
2o gebracht. Wie dargestellt, weist der Zylinderteil 2e einen hohlen zylindrischen Isolierkörper 21, der an beiden
Enden offen ist, und eine ringförmige Rippe 22 auf, welche sich radial vom Umfang des Isolierkörpers nach außen erstreckt. Der
hohle zylindrische Isolierkörper 21 und die ringförmige Rippe 22 sind einstückig aus einem geeigneten elektrischen Isoliermaterial,
wie z.B. Keramik, geformt. Der zylindrische Isolierkörper 21 hat an seinen beiden offenen Enden ein Paar ringförmige
Plansche 23 angelötet, deren innerer Durchmesser im wesentlichen
gleich dem des offenen Endes und deren äußerer Durchmesser etwas geringer als der Außendurchmesser der Rippe aus einem
Grund ist, welcher später klar werden wird.
Auf den einander gegenüberliegenden Haup^flächen des Halbleiterteilelements
Io in dem isolierenden hohlen Zylinderteil sind ein Paar Elektrodenblöcke Jo angeordnet, von denen einer in
Fig. 4 und 5 gezeigt ist. Beide Elektrodenblöcke Jo sind im
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'■ - s
Aufbau identisch und symmetrisch in Bezug auf das Hibleiterteilelenent
Ic angeordnet. Daher wird nur einer der Elektrodenblöcke J)O, z.B. der obere Elektrodenblock Jo in Fig. 1, im einzelnen
beschrieben werden.
Wie in Flg. 4 gezeigt, enthält der Elektrodenblock 30
ein metallisches Elektrodenelement ~$l, welches etwa die Form
eines abgestumpften Hohlkegels hat und einen Endteil mit kleinerem
Durchmesser und einer flachen -Endfläche 32 sowie einen anderen
Endteil 33 größeren Durehmessers aufweist, der im wesent-.liehen
wie ein Hohlzylinder geformt ist und auf dessen Umfang eine ringförmige Vertiefung odr RiUe J>h aus einem später klar
werdenden Grund vorgesehen ist. Der größere Endteil 33 ist mit
dem kleineren Endteil über eine kegelstumpfförmige Oberfläche
verbunden. Das Elektrodenelement Jl weist am größeren End*3 eine
zentrale Vertiefung auf, wodurch innen eine im wesentlichen konische Oberfläche J>6 entsteht, die zur äußeren Oberfläche 35 nahezu
parallel"'ist. Zu einem Zweck, der später klar werden wird,
ragen eine Vielzahl Vorsprünge 37 im Abstand und paiaLlel zueinander
angeordnet von der inneren Oberfläche 36 zum größeren Ende des Elektrodenelements 31 und verlaufen längs des "Kegels". Die
Vorsprünge haben, wie in Fig. 5 gezeigt, vorzugsweise einen
kreisförmigen Querschnitt und ragen etwas über das größere Ende
des Ele.ktrodenelements 31 hinaus. Sie weisen entsprechende
flache Endflächen 37 a auf, die wie in Fig. 4 gezeigt, in einer
zur Ebene der Endfläche des größeren Endes des Elektrodenelements 31 im wesentlichen parallelen Ebene verlaufen. Wie in Fig. 5 gezeigt,
sind die Vorsprünge 37 am Mittelteil der konischen Oberfläche
36 von größerem Durchmesser als jene, die am Randgebiet
angeordnet sind. Der Grund hierfür wird später klar werden. Das ". _
Elektrodenelement 31 und die Vorsprünge 37 können vorzugsweise
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einstückig aus einem geeigneten elektrisch und thermisch leitenden
Material wie Kupfer durch Gießen geformt sein.
Das Elektrodenelement 31 v/eist am äußeren Umfang nahe
der Endfläche 32 eine ringförmige Schulter 38 auf, auf welche ein
gebogener Plansch 39 oder eine Scheibe in Form eines Ringes
angelötet ist Der Flansch 39 ist aus einem geeigneten nachgiebigen
metallischen Material wie Kovar (Warenzeichen) und hat einen geringeren Durchmesser als der zylindrische Endteil 33 des
Elektrodenelements 3I· Er hat im wesentlichei/den gleichen
Durchmesser wie der ringförmige Flansch 23 an dem isolierenden Zylinderteil 2o. Der nachgiebige Flansch 39 kann mit dem Flansch
23 verschweißt oder anderweitig verbunden werden.
Zur Bezeichnung der Teile des oberen Elektrodenblocks verwendeten Bezugszeichen sind auch dazu verwendet, die entsprechenden
Teile des unteren Elektrodenblocks 30 zu bezeichnen.
Das Halbleiteid-ement lo, der isolierende Zylinderteil
und die Elektrodenblöcke 3o* wie sie oben beschrieben wurden,
können vorzugsweise zu einem Halbleiterelement nach Fig. 1 in folgenden Schritten zusammengestellt werden. Zuerst wird einer
der Elektrodenblocke 30, in diesem Fall der untere Block in Fig. 1, mit dem unteren Ende des ZylinderteLls 2o dadurch verbunden,
daß der ringförmige Flansch 39 gegen dc-n ringförmigen Flansch 23 gestoßen und mit diesem durch Bogenschweißen mit
■Argon verschweißt wird. Dann wird das Halbleiterteilelemont
in dem hohlen Zylinderteil 2o auf die flache Endfläche 32 des
Blektrödenbl<*oks 30 &o aufgesetzt, daß die Stutzplatte 13 des
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Halbleiterteilelements Io die Endfläche 32 konzentrisch berührt.
Hierauf wird der obere Elektrodenblock auf die gleiche Weise wie oben beschrieben mit dem oberen Ende des Zylinderteils 2o
verbundenj um das in Pig. I gezeigte Halbleiterelement fertigzustellen.
In dem sich ergebenen Element haben sowohl die Elektrode
15 des Halbleiterteilelements Io und die flache Endfläche 32
des oberen Elektrodenblocks 30 als auch die Stützplatte IJ des
Halbleiterteilelements Io und die flache Endf1 äehe 32 des unteren
Elektrodenblocks 3° je eine gemeinsame Kontaktflächen
welche infolge des Verschweißens der Plansche 23 und 39 unter
einem geeigneten Druck steht. Der Druck entsteht infolge der Nachgiebigkeit des Flansches 39. Daher ist das Halbleiterfeilelement
Io unter Druck zwischen den oberen und unteren Elektrodenblöcken 30 geschichtet und ist über den hohlen Zylinderteil
2o und dfe an dessen beiden Enden anschließenden Elektrodenblöcke..hermetisch verschlossen. Auf diese Weise ist das Halbleiterteilelement
Io gleitend in einer Kammer gehalten, welche duch den Zylinderteil 2o und die Elektrodenblöcke 30 begrenzt
wird.
Die Elektrodenblöcke 30 sind in innigem Kontakt mit den
einander gegenüberliegenden Hauptflächen des Halbleiterteilelements
Io und stellen ein Paar Elektroden für das letztere dar, während sie gleichzeitig als Wärmeableiter für direkte Kühlung
des HalbleiterteileTements Io dienen. D.h., die Elektrodenblöcke
30 können z.B. durch die um die Vorsprünge 37 strömende Luft eingekühlt
sein, WQdurch das Halbleiterteilelement Io wirksamer
gekühlt wird. Hierdurch ist kein eigener Wärmeableiter in Druckkontakt
mit dem Elektrodenblock erforderlich, wodurch keinerlei
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Verbindung Metall-zu-Metall irr. übergangsw'ig der von Halblei ter·--
teileler.ient abgeführten '-.'ärine vorhanden ist. Die Wirksamkeit
der Wärmeableitung ist daher wesentlich verbessert.
Jeder der Elektrod^-nblöcke 3° v/eist eine kegeistumpfförmige
Oberfläche 35 auf der Seite auf, welche mit dem Zylinderteil 2o verbunden werden soll. Diese kegelstumpfförrnige Oberfläche
33 wirkt zur Erleichterung des Verbindungsvorgangs zwischen
den Flanschen 39 und 23 durch Verschweißen. Würde man
annehmen, daß der Elektrodenblock 30 im wesentlichen derart
zylinderförmig ist, daß die kleinere Endfläche den Portsatz des
zylindrischen Teils am größeren Ende schneidet, so könnten die
Elektrodenblöcke 3o nur rr.it großer Schwierigkeit mit dem isolierenden
Zylinderteil 2o verbunden werden. Wenn z.B. die beiden Planschen 23 und 39 durch einen Argonschweißvorgang miteinander
verbunden werden sollen, bei welchem das elektrische Bogenschweißen
in einer Schutzatmosphäre aus Argon durchgeführt wird, wobei eine Schweißelektrode nahe den Flanschen angeordnet
ist, so wäre das Heranführen der Schweißelektrode an die Flanschen
infolge der Form des Elektrodenblocks schwierig. Andererseits läßt die Außenfläche des Elektrodenblocks in Form eines
Kegelstumpfes eine leichte Annäherung der Schweißelektrode an die Flansche 23 und 39 zu, wobei gleichzeitig die Überwachung
des entsprechenden Schweißvorgangs erleichteife wird.
Wenn der Elektrodenblock 30 eine im wesentlichen zylindrische Form wie oben beschrieben aufweist, ist zu bemerken, daß
die Umfangskanteeflachen Endfläche 32 von dem Halbleiterteilelement
Io entfernt ist' und daher nicht besonders zur Wärmeableitung
beiträgt. Aus diesem Grund wurde der äußere Umfang des Elektrodenblocks 30 als kegelstumpfförmige Oberfläche 35 ausgeführt,
wodurch der SchweißVorgang wie oben beschrieben erleichtert wird.
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Aus dem gleichen Grund sind die mittleren Vorsprünge 37, welche den: Halbleiterteilelement Io näher liegen, mit größerem
Querschnitt als die äußeren Vorsprünge ausgeführt.
Wie bereits erwähnt liegen alle freien Endflächen 37a
der Vorsprünge 37 in einer gemeinsamen Ebene, Diese Maßnahme
hat den Vorteil,, daß das Halbleiterelement nach Fig. 1 zwischen
ein Paar nicht gezeigten Druckplatten geschichtet werden kann,-In
diesem Falle liegt jede Druckplatte auf allen Endflächen 37a der Vorsprünge 37 eines Elektrodenblocks 3o auf, um eine
wirksame Kontaktkraft auf den zugehörigen Elektrodenblock zu übertragen.
In Fig. 6 ist ein Halbleiterelement nach Fig. 1 gezeigt,
an dessen Seitenenden je eine Abdeckvorriehtung angebracht ist,
um die Elektrodenblöcke ~}o mit einen 'Kühlmittel oder, einer
Flüssigkeit wie Wasser, öl, oder gasförmigen Medien zwangszukühlen.
Beide Abdeckvorrichtungen sind identisch im Aufbau. Daher soll nur eine der Vorrichtungen, z.B. die untere in Fig.
6, im einzelnen beschrieben werden, und die Teile der anderen oder oberen Vorrichtunggen mit den gleichen Bezugszeichen entsprechend
den Teilen der unteren Vorrichtung versehen werden. Die allgemein mit der Bezugsziffer 5o bezeichnete Abdeckvorriehtung besteht aus einem schüsseiförmigen metallischen Deckel
51, der auf den zylindrischen Endteil 33 des zugehörigen Elektrodenblocks
3o, in diesem Falle des unteren Elektrodenblocks, aufgesetzt ist. Im einzelnen weist der Deckel 51 einen kreisförmigen
Bodenteil 52, gegen welchen die meisten Vorsprünge
des Elektrodenblocks 3o anstoßen, und einen zylindrischen Wand-.
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teil 53 auf, der an der Umfangskante des Bodenteils 52 nach
oben steht und mit Hilfe eines O-Rings ho in der ringförmigen
Rille J>h des Endteils 33 des Elektrodenblocks 3o dichtend aufgepaßt
ist. Auf der äußeren Oberfläche des Bodenteils 52 ist eine elektrische Klemr.ienplatte 54 mit einem scheibenförmigen
Isolationskörper 55 auf ihrer dem Deckel 51 abgewandten Oberfläche
angeordnet. Ein Taststift 56 ragt durch die Klemmenplatte 5^ und ist mit seinen beiden Enden mit vorbestimmter Ti ofυ
in Mittelvertiefungen in dein Bodenteil 52 und dem Isolierkörper
55 eingepaßt. Eer Isolierkörper 55 weist auf seiner der Klemmenplatten 5^ abgewandten Seite einen zentralen Vorsprung
57 auf.
Um zur Kühlung der Vorsprünge 37 ein Kühlmittel durch das abgedichtete Innere des schüsseiförmigen Deckelrs 5I führen
zu können, stehen mit dem Inneren des Deckels 51 eine Eingangsleitung 5Ö und eine Ausgangsleitung 59 in Verbindung.
Auf der Oberseite des Halbleiterelements lo-2o-3o in Fig. 6 sind den eben beschriebenen Teilen identische Teile angeordnet
und mit den gleichen-B^zugszeichen bezeichnet. Die so aufgebaute
Anordnung wird zwischen ein Paar Druckplatten 60 aurj
einem geeigneten nachgiebigen metallischen Material wie Eisen geschichtet, wobei der zentrale Vorsprung 57 an jedem Isolierkörper
55 in ein zentrales Loch in jeder Druckplatte €0 eingepaßt wird. Eine Vielzahl Gewindestangen 6l ragen in gegenseitigem
Abstand zueinander durch die Druckplatten Co an Stellen,
• wo sie den oberen und unteren Deckel 51 nicht berühren, und
sind an den Druckplatten 60 mit Muttern ;:2 verschraubt, wobei
jede Gewindestange von einer isolierenden Hülse 63 umgeben ist.
. Durch Anziehen der Muttern 62 auf den Gewindebolzen 6l werden
-13-
009886/1338
ORIGINAL
die Druckplatten 60 fest miteinander verschraubt, was dazu
führt, daß sich die Druckplatten aufeinander zu bewegen. Der Elektrodenblock 3o, die Abdichtung 50, die Klemmplatte 54 und
der Isolierkörper 55 sowohl der oberen als auch der unteren Anordnung
werden daher mit einer geeigneten Befestigungskraft
zusammengehalten, die mit etwa I,ο bis 1,5 Tonnen vorgewählt
ist. ' ■
In der in Fig. 6 gezeigten Anordnung wird das Kühlmittel
in das Innere des Deckels 51 durch die Eingangsleitung 58 eingeführt,
um die Vorsprünge 37 zu umströmen und das Halbeiterteilelement Io wirksam zu kühlen.
Die Erfindung hat verschiedene Vorteile. Zum Beispiel
kann der Verbindungsflansch am Elektrodenblock leichter hermetisch
mit dem isolierenden hohlen Zylinderteil, welcher das Halbleiterteilelement umgibt, verschweißt werden, während
gleichzeitig die Wirksamkeit der Wärmeableitung vergrößert wird.
Sie ist so sehr wirksam zur Vergrößerung der Leistungsfähigkeit von Halbleiterelement. Weiter können die Vorsprünge an dem Elektrodenblock
zwangsgekühlt werden, um die Wirkung der Wärmeableitung weiter zu verbessern.
Während die Erfindung im Zusammenhang mit einzigen bevorzugten
Ausführungsformen dargestellt und beschrieben wurde, versteht es sich, daß verschiedene Änderungen und Modifikationen
durchgeführt werden können, ohne vom Gedanken und Bereich der Erfindung abzuweichen. Zum Beispiel ist die Erfindung statt
für flache Halbleiterdioden in gleicher Weise mit anderen flachen
Halbleiterteilelementen wie Leistungstransistoren und Thyristoren anwendbar.
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0Q9886/133Ö
Zusammengefaßt beinhaltet die Erfindung ein flaches Halbleiterelement, welches in einem isolierten hohlen Zylinderteil
angeordnet ist und rr.it seinen gegenüberliegenden Hauptflächen in Druckkontakt mit jeweils der kleineren Endfläche von
Elektroden in Porin von abgestumpften Hohlkegeln steht, welche
die Enden des isolierenden Zylinderteils abschließen. Die Elektroden weisen an ihren kleineren Enden nachgiebige Plansche
auf, die mit entsprechenden nachgiebigen Planschen am benachbarten Ende des isolierten Zylinderteils verschweißt sind. Die
Elektroden haben weiter viele Vcrsprünge, welche für Kühlzwecke aus vertieften größeren Endteilen hervorragen. Ein Deckel kann
jeweils den größeren Endteil abdecken, um ein Kühlmittel um die Vorsprünge strömen lassen zu können.
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00 9 8 86/1338
Claims (5)
1. Halbleiterelement aus einem nach beiden Seiten offenen
hohlen Zylinderteil aus elektrisch isolierendem Material, Elektrodenblöcke}
welche die offenen-Enden des hohlen Zylinderteils zur Bildung eines abgedichteten Raumes hermetisch abschließen
und einen: Halbleiterteilelernent mit gegenüberliegenden Hauptflächen,
welche in dem abgedichteten Raum von den Elektrodenblöcken berührt und von diesen getragen werden, dadurch
g e k e η η zeichne t, daß mindestens ein Elektrodenblock
(Jo) kegelstumpfförmig ist und einen Endteil mit kleinerem
Durchmesser mit einer Endfläche (32) aufweist,-"-welche in Kontakt
mit der benachbarten Hauptfläche des Halbleiterteilelements (lo) steht, der andere Endteil (33) mit größerem Durchmesser*
des Elektrodenblocks (3°) einen größeren Durchmesser als das
zugehörige offene Ende des Zylinderteils (2o) aufweist, und daß der Endteil mit kleinerem Durchmesser über eine kegelstumpfförmlge
Oberfläche (35) mit dem Endteil mit größerem Durchmesser verbunden ist.
2. Halbleiterelement nach Anspruch 1, dadurch g e k e η nzeichne
t, daß der konische Elektrodenblock (3o) am Endteil mit dem kleineren Durchmesser einen Plansch (39) aufweist,
welcher fest mit einem fest am zugehörigen offenen. Ende, des
hohlen Zylinderteils (2o) befestigten Flansch(23) verbunden
ist.
3· halbleiterelement nach Anspruch 1, dadurch g e k e η nzeichnet,
daß der konische Elektrodenblock (3o) am größeren Ende mit einer zentralen Vertiefung und einer Vielzahl
von Vorsprüngen (37) versehen ist, welche aus der Oberfläche (35)
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009886/1333
,'.'-■ BAD ORIGINAL
- i6 ~
der Vertiefung so hervorragen, daß ein Kühlmittel um die Vorsprünge (37) strömen kann.
4. Halbleiterelement nach Anspruch 3 j dadurch g e k e η η-zeichnet,
daß der konische Elektrodenblock (3°) an seinem Endteil (33) mit dem größeren Durchmesser mit einer Abdeckvorrichtung
(5o) zur Abdichtung der Vertiefung und Bildung eines abgedichteten, der Vielzahl von Vorsprüngen (37) darin angepaßten
Raumes versehen ist, und daß die Abdeckvorrichtung (5°) einu Eingangsleitung (58) und eine Ausgangsleitung (59) in Verbindung
mit den abgedichteten Raum aufweist, über welche ein Kühlmittel dir- Vorsprünge (37) umströmen kann.
5. Halbleiterelement nach Anspruch 4, dadurch ge k e η η zeichnet,
daß es eine Befestigungseinrichtung (60, Cl, ,2)
mit ein Paar Druckplatten (60) aufweist, welche mit den Außenflächen der Abdeckvorrichtungen (50) verbunden ist und durch
welche eine Befestigungskraft den Druckplatten zuführbar ist,
um die Abdeckvorrichtungen (50) und damit die Elektrodenblöcke (30) zueinander hinzubewegen.
009886/1338 BAD ORIGINAL
Lee r s e i t e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ID=12007297
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