DE19946292C1 - Temperaturkompensierter Arbeitstisch für mikrosystemtechnische Komponenten - Google Patents
Temperaturkompensierter Arbeitstisch für mikrosystemtechnische KomponentenInfo
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Abstract
Ein Arbeitstisch wird mit einer Temperiervorrichtung und einer Temperaturregelung versehen. Die Temperiervorrichtung besteht aus einem Wärmeübertrager, einer Kühldose und einer Heizkartuschenaufnahme, in der eine Heizkartusche angebracht werden kann. Der Wärmeübertrager verfügt über eine Ausnehmung, in die ein Tiegel eingesetzt wird. Der Tiegel enthält in einer Kalotte die Materialprobe, deren Materialeigenschaften zu bestimmen sind. Die Temperiervorrichtung ist an der Arbeitstischplatte angebracht. Die Temperiervorrichtung verfügt über eine thermische Isolierung, die ebenfalls an der Arbeitstischplatte befestigt ist. Zwischen Temperiervorrichtung und thermischer Isolierung befindet sich ein Dehnungsspalt, der eine Wärmedehnung der Temperiervorrichtung ermöglicht. Auf diese Weise ist der Arbeitstisch temperaturkompensiert. Die hängende Anordnung der Temperiervorrichtung verhindert zusammen mit den Dehnungsspalten, daß sich die Wärmedehnung der Temperiervorrichtung auf die Materialprobe überträgt. Ein Wärmekonvektionsraum zwischen der thermischen Isolierung der Temperiervorrichtung und der Gehäusewand sowie Grundplatte des Arbeitstisches verhindert, daß sich die Temperaturänderung der Temperiervorrichtung auf die Gehäusewand oder die Grundplatte des Arbeitstisches übertragen kann. Damit ist auch bei lange andauernden Messungen sichergestellt, daß die Prüfeinrichtung, die den Arbeitstisch enthält, nicht erwärmt wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein Erzeugnis nach dem Oberbegriff des unabhängigen Anspruchs.
Bei sogenannten kommerziellen Mikrometerhärtetestern wird ein Eindringkörper mit einer
definierten Kraft in das zu prüfende Werkstück eingedrückt. Dabei wird die Eindringtiefe
kontinuierlich gemessen. Aus den aufgenommenen Verformungskurven wird dann anhand
von verschiedenen Verfahren die Härte des Werkstücks bestimmt. Bekannte Verfahren zur
Bestimmung der Materialhärte sind z. B. die Vickershärte, die Rockwellhärte oder die
Brinellhärte. Die bekannten Vorrichtungen und Verfahren arbeiten vornehmlich bei der
jeweiligen Umgebungstemperatur.
Derzeitige Forschungsaktivitäten in den Materialwissenschaften befassen sich verstärkt mit
theoretischen Modellbildungen. Hierbei wird mit rechnerbasierten Finite Elementen
Methoden ein Materialmodell erstellt und die Materialeigenschaften und das
Materialverhalten von Werkstoffen simuliert. Derartige Simulationen ermöglichen z. B. die
Berechnung des Werkstoffverhaltens bei Temperaturänderungen. Die Verifizierung der
Materialmodelle erfolgt durch Kontrollmessungen. Bei diesen Kontollmessungen ist es u. a.
erforderlich die Materialhärte des Werkstoffs bei sehr unterschiedlichen Temperaturen zu
messen.
In den gattungsbildenden Druckschriften IBM Techn. Disclosure Bull., Vol 17, No. 2, S.
432-433, Juli 1974; "App. for hightemperature micro indentation studies" und US 3,738,160
hat man deshalb jeweils vorgeschlagen den Arbeitstisch, bzw. die Probenaufnahme beheizbar
zu machen. Bei den gattungsbildenden Mikrohärtetestern besteht die Gefahr, daß sich die
Beheizung der Probenaufnahme bei lang andauernden Messungen, wie z. B. Kriechversuchen,
schließlich trotz thermischer Isolierungen auf den mechanischen Aufbau der Gesamtapparatur
überträgt und durch die damit verbundenen Längendehnungen in der Apparatur die
Mikrohärtemessung verfälscht.
Erfindungsgemäße Aufgabe ist daher, die kommerziellen Mikrohärtetester derart zu
erweitern, daß mit den Mikrohärtetestern auch Kriechversuche bei vorbestimmbaren
Temperaturen durchgeführt werden können. Hierbei muß unbedingt vermieden werden, daß
mit der Temperaturänderung verbundene Wärmedehnungen die Messung beeinflussen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch die kennzeichnenden Merkmale des
unabhängigen Anspruchs. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen sind in den
Unteransprüchen enthalten.
Ein Arbeitstisch wird mit einer Temperiervorrichtung und einer Temperaturregelung verse
hen. Die Temperiervorrichtung besteht aus einem Wärmeübertrager, einer Kühldose und ei
ner Heizkartuschenaufnahme, in der eine Heizkartusche angebracht werden kann. Der Wär
meübertrager verfügt über eine Ausnehmung, in die ein Tiegel eingesetzt wird. Der Tiegel
enthält in einer Kalotte die Materialprobe, deren Materialeigenschaften zu bestimmen sind.
Die Temperiervorrichtung ist an der Arbeitstischplatte angebracht. Die Temperiervorrichtung
verfügt über eine thermische Isolierung, die ebenfalls an der Arbeitstischpaltte befestigt ist.
Zwischen Temperiervorrichtung und thermischer Isolierung befindet sich ein Dehnungsspalt,
der eine Wärmedehnung der Temperiervorrichtung ermöglicht. Auf diese Weise ist der Ar
beitstisch temperaturkompensiert. Die hängende Anordnung der Temperiervorrichtung ver
hindert zusammen mit den Dehnungsspalten, daß sich die Wärmedehnung der Temperiervor
richtung auf die Materialprobe überträgt. Ein Wärmekonvektionsraum zwischen der thermi
schen Isolierung der Temperiervorrichtung und der Gehäusewand sowie Grundplatte des Ar
beitstisches verhindert, daß sich die Temperaturänderung der Temperiervorrichtung auf die
Gehäusewand oder die Grundplatte des Arbeitstisches übertragen kann. Damit ist auch bei
lange andauernden Messungen sichergestellt, daß die Prüfeinrichtung, die den Arbeitstisch
enthält, nicht erwärmt wird.
Mit der Erfindung werden hauptsächlich die folgenden Vorteile erzielt:
Der erfindungsgemäße Arbeitstisch ermöglicht Härtemessungen und Kriechversuche in ei
nem weiten Temperaturbereich. Die Temperatur der Probenaufnahme sowie der Materialpro
be ist veränderbar und regelbar. Durch die hängende Anbringung der Temperiervorrichtung
wird im Zusammenwirken mit Dehnungsspalten verhindert, daß Wärmedehnungen auf die
Materialprobe übertragen werden. Weiterhin wird mit dem Wärmekonvektionsraum in vor
teilhafterweise eine Erwärmung der gesamten Prüfeinrichtung bei lange andauernden Mes
sungen verhindert.
Der erfindungsgemäße Arbeitstisch ermöglicht mit Vorteil Messungen in einem Temperatur
bereich von Minus 50°C bis 150°C bei einer Temperaturkonstanz von +/-2 K. Die Temperatur
der der Probenaufnahme sowie der Materialprobe kann hierbei im gesamten Tempera
turbereich für mindestens 30 min konstantgehalten werden, ohne daß ein Temperatureinfluß
auf die den Arbeitstisch umgebende Prüfeinrichtung zu beobachten ist.
Der Arbeitstisch ist besonders vorteilhaft zur Verwendung in Mikrohärtetestern. Er ermög
licht Belastungen der Materilaproben im Bereich von 10 mN bis 1000 mN und eine nomi
nelle Auflösung in der Verformung bis zu 2 nm (Nanometer).
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen darge
stellt und näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Querschnitt durch den erfindungsgemäßen Arbeitstisch
Fig. 2 eine dreidimensionale Gesamtansicht des erfindungsgemäßen Arbeitstisches
In Fig. 1 ist mit Ziffer 1 allgemein ein Arbeitstisch bezeichnet. Der Arbeitstisch besteht aus
einer Arbeitstischplatte 2, einer Grundplatte 3 und einer zylinderförmigen Gehäusewand 4.
Arbeitstisch, Grundplatte und Gehäusewand sind mit Gewindebohrungen 5 miteinander zu
einem festen zylinderförmigen Aufbau verbindbar. An der Arbeitstischplatte ist mit einer
Aufhängung 6 die Temperiervorrichtung 7 befestigt. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel
besteht die Temperiervorrichtung aus einem Wärmeübertrager 8, einer Kühldose 9, die ihrer
seits aus einem Kühldosenoberteil 10 und einem Kühldosenunterteil 11 zusammengesetzt ist.
Die Kühldose enthält Fluidkanäle 12, durch die ein Kühlmedium fließt. Weiterhin enthält die
Temperiervorrichtung in diesem Ausführungsbeispiel eine Heizkartuschenaufnahme 13, in
die bei Bedarf eine hier nicht gezeigte Heizkartusche eingebracht werden kann. Die Tempe
riervorrichtung 9 ist mit einer thermischen Isolierung 14 umgeben, die ebenfalls mit einer
Aufhängung 15 an der Unterseite der Arbeitstischplatte 2 befestigt ist. Die Isolierung umgibt
die Temperiervorrichtung an ihren zylindrischen Mantelseiten und an ihrer kreisförmigen
Unterseite. An der Oberseite der Temperiervorrichtung übernimmt die Arbeitstischplatte die
Isolierung. Zwischen der hängenden Isolierung 14 und der Temperiervorrichtung 7 befindet
sich eine Dehnungsspalte 16, die eine Wärmedehnung der Temperiervorrichtung nach unten
und zur Seite ermöglicht, so daß auf die Arbeitstischplatte und die Probenaufnahme 17 keine
Wärmedehnung übertragen wird. Die Probenaufnahme 17 besteht vorzugsweise aus Kupfer
oder einem anderen die Wärme gut leitenden Material und wird durch eine Ausnehmung in
der Arbeitsplatte in eine zylinderförmige Vertiefung im Wärmeübertrager eingelassen. Über
Bohrungen 18, kann die Probenaufnahme 17 mit dem Wärmeübertrager 8 verschraubt wer
den. Die Probenaufnahme 17 enthält eine Kalotte 19, in die die zu untersuchende Material
probe z. B. in flüssiger Form eingegossen werden kann. Dies ist besonders vorteilhaft, wenn
Metalle oder Metallverbindungen untersucht werden sollen. In diesem Fall können die Me
talle in die Kalotte eingegossen werden und in der Kalotte erstarren. Zwischen der an der
Arbeitsplatte aufgehängten Isolierung 14 und der Gehäusewand 4 sowie der Grundplatte 3
befindet sich ein Wärmekonvektionraum 20, der über Durchführungen 22 mit der Umgebung
verbunden ist. Der Wärmekonvektionsraum verhindert, daß bei lange andauernden Versuchen
Wärme von der Isolierung 14 auf die Gehäusewand 4 oder die Grundplatte 3 übertragen wird.
Falls die natürliche Wärmekonvektion hierzu nicht ausreicht, kann an den Durchführungen
22 zu Kühlungszwecken ein Luftschlauch mit einer Pumpe angeschlossen werden und eine
Zwangskonvektion im Wärmekonvektionsraum 20 erzwungen werden. Vorteilhafterweise
werden durch die Durchführungen 22 ebenfalls die Kühlmittelanschlüsse 21 durchgeführt.
Die Kühlmittelanschlüsse 21 sind mit der Kühldose 9 verbunden und versorgen die Kühldose
mit Kühlflüssigkeit. Zwischen Wärmeübertrager 8 und Kühldose 9 ist ein Folienthermoele
ment 23 angebracht, mit dessen Hilfe die Temperatur des Wärmeübertragers überwacht wird.
Hierzu ist das Folienthermoelement über die Durchführung 24 an eine nicht gezeigte Tempe
raturregelung angeschlossen.
Zur Temperaturregelung kommen zwei voneinander unabhängige Regelungen zum Einsatz.
Das Kühlen wird von einer Flüssig-Stickstoffkühlung übernommen. Hierbei wird der flüssige
Stickstoff in der Kühldose 9 verdampft. Eine Temperaturregelung, die durch Volumenstro
mänderung des über die Kühlmittelanschlüsse zugeführten Stickstoffs die Kühlleistung der
Kühldose 9 variiert, regelt die Temperatur der Probenaufnahme auf die jeweils gewünschte
Temperatur und hält sie für eine bestimmte Zeit konstant.
Das Heizen wird von einem Heizelement bzw. einer Heizkartusche übernommen, die in der
Heizkartuschenaufnahme 13 angeordnet ist. Die Heizleistung des Heizelementes wird in an
sich bekannter Weise mit einem PID-Regler geregelt. Sowohl für das Kühlen als auch für das
Heizen wird als Temperatursensor ein PT 100 Element in Form eines Folienthermometers
eingesetzt. Diese Dünnfilmelemenmte reagieren aufgrund ihrer geringen Masse schnell auf
Temperaturänderungen. Sie bieten weiterhin die Möglichkeit, eine Temperatur nicht nur an
einem Punkt, sondern ein Referenzwert für ein Flächenmittel zu erzeugen. Die Temperatur
kann, da es sich um eine auswechselbare Probenaufnahme 17 handelt, nicht direkt an der
Probe gemessen werden. Es muß also ein Referenzpunkt definiert werden. Als Referenzpunkt
wird ein Flächenmittel dicht unterhalb der Probenaufnahme 17 gewählt. Diese Temperatur
kann natürlich nur in beschränktem Maße ein Wert für die tatsächliche Probentemperatur
sein. Es ist im späteren Betrieb der Temperaturunterschied zu ermitteln und eventuell ein
notwendiger Abgleich vorzunehmen.
Fig. 2 zeigt eine dreidimensionale Gesamtansicht des erfindungsgemäßen Arbeitstisches. Die
Bezugsziffern wurden soweit schon beschrieben aus der Fig. 1 übernommen. Fig. 2 vermit
telt einen dreidimesionalen Gesamteindruck des Arbeitstisches und zeigt mit den Bezugszif
fern 25 schematisch die Bohrungen für die Aufhängungen der Isolierung und der Temperier
vorrichtung im Inneren des Arbeitstisches.
Claims (5)
1. Arbeitstisch (1) aus einer Arbeitstischplatte (2), einer Grundplatte (3) und einer
Gehäusewand (4),
mit einer Temperiervorrichtung (7), die aus einem Wärmeübertrager (8), einer Kühldose (9) und einer Heizkartuschenaufnahme (13) gebildet ist,
mit einer thermischen Isolierung (14), die die Temperiervorrichtung (7) umgibt,
mit einer Probenaufnahme (17), die durch eine Ausnehmung in der Arbeitstischplatte (2) in eine Vertiefung des Wärmeübertragers (8) einsetzbar ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Temperiervorrichtung (7) und die Isolierung (14) an der Arbeitstischplatte (2) mit Aufhängungen (6, 15) befestigt sind und sich zwischen der Temperiervorrichtung (7) und der Isolierung (14) eine Dehnungsspalte (16) befindet, so daß auf die Probenaufnahme (17) und die Arbeitsplatte (2) keine Wärmedehnung übertragen wird.
mit einer Temperiervorrichtung (7), die aus einem Wärmeübertrager (8), einer Kühldose (9) und einer Heizkartuschenaufnahme (13) gebildet ist,
mit einer thermischen Isolierung (14), die die Temperiervorrichtung (7) umgibt,
mit einer Probenaufnahme (17), die durch eine Ausnehmung in der Arbeitstischplatte (2) in eine Vertiefung des Wärmeübertragers (8) einsetzbar ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Temperiervorrichtung (7) und die Isolierung (14) an der Arbeitstischplatte (2) mit Aufhängungen (6, 15) befestigt sind und sich zwischen der Temperiervorrichtung (7) und der Isolierung (14) eine Dehnungsspalte (16) befindet, so daß auf die Probenaufnahme (17) und die Arbeitsplatte (2) keine Wärmedehnung übertragen wird.
2. Arbeitstisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Isolierung (14)
und der Gehäusewand (4) sowie der Grundplatte (3) ein Wärmekonvektionsraum (20)
angeordnet ist.
3. Arbeitstisch nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Kühldose
(9) und Wärmeübertrager (8) ein Temperatursensor (23) angebracht ist.
4. Arbeitstisch nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Temperatursensor (23)
ein Folienthermolelement ist.
5. Verwendung eines Arbeitstisches nach einem der Ansprüche 1 bis 4 in Mikrohärtete
stern, wobei die Temperatur der Probenaufnahme (17) von Minus 50°C bis 150°C verän
derbar und mit einer Temperaturkonstanz von +/-2 Kelvin einstellbar und regelbar ist
und im gesamten Temperaturbereich für mindestens 30 Minuten konstant gehalten werden
kann und Materialproben in der Probenaufnahme (17) mit Belastungen im Bereich
von 10 mN bis 1000 mN (Milli-Newton) mit einer Auflösung inder Verformung bis zu 2 nm
(Nanometer) beaufschlagt werden können.
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| DE1999146292 DE19946292C1 (de) | 1999-09-27 | 1999-09-27 | Temperaturkompensierter Arbeitstisch für mikrosystemtechnische Komponenten |
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| IBM Techn. Disclosure Bull., Vol. 17, No. 2, S. 432-433, Juli 1974: App. for high-temperature microindentation studies * |
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