DE19920428A1 - Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken - Google Patents

Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken

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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
    • G01R15/243—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption based on the Kerr effect, i.e. quadratic electro-optic effect

Abstract

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken (E) umfaßt folgende Merkmale: DOLLAR A - Wenigstens eine Lichtquelle (1), die linear polarisiertes Licht emittiert, DOLLAR A - wenigstens eine Kerrzelle (2), die elektro-optisch aktives Material enthält und die wenigstens eine Lichtauskopplung (20-23) aufweist, wobei DOLLAR A - das von der Lichtquelle (1) emittierte linear polarisierte Licht in die Kerrzelle (2) eintritt und darin eine vorgebbare Anzahl von optischen Weglängen (l¶k¶) zurücklegt und danach über die entsprechende Lichtauskopplung (20-23) austritt, DOLLAR A - wenigstens einen Analysator (30-33) für das aus der Kerrzelle (2) austretende linear polarisierte Licht, wobei DOLLAR A - die Polarisationsebene des Analysators (30-33) um einen vorgebbaren Drehwinkel (alpha) gegenüber der Polarisationsebene des aus der Lichtquelle (1) austretenden linear polarisierten Lichtes einstellbar ist, DOLLAR A - wenigstens einen Lichtsensor (40-43), der das aus dem Analysator (30-33) austretende Licht erfaßt.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung von elek­ trischen Feldstärken.
Bei den bekannten Vorrichtungen zur Messung von elektrischen Feldstärken wird die analoge Messung der elektrischen Feld­ stärke auf eine Spannungsmessung zurückgeführt. Die Vorrich­ tungen sind hierbei während der Messungen über ihre Innenwi­ derstände galvanisch mit den Meßobjekten gekoppelt. Dies führt bei der Messungen der elektrischen Feldstärke zu einer Belastung der Meßobjekte.
Sollen bei den bekannten Vorrichtungen zur Messung von elek­ trischen Feldstärken die Meßergebnisse in digitaler Form zur Verfügung stehen, dann müssen die analogen Meßwerte über Ana­ log-Digital-Wandler digitalisiert werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken zu schaffen, die über ihren gesamten Meßbereich eine nicht auf das Meßobjekt rückwirkende Messung ermöglicht und die die erfaßten Meßwerte in digitaler Form zur Verfügung stellt.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung nach Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfin­ dungsgemäßen Vorrichtung sind jeweils Gegenstand von weiteren Ansprüchen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken umfaßt folgende Merkmale:
  • - Wenigstens eine Lichtquelle, die linear polarisiertes Licht emittiert,
  • - wenigstens eine Kerrzelle, die elektro-optisch aktives Material enthält und die wenigstens eine Lichtauskopplung aufweist, wobei
  • - das von der Lichtquelle emittierte linear polarisierte Licht in die Kerrzelle eintritt und darin eine vorgebbare Anzahl von optischen Weglängen zurücklegt und danach über die entsprechende Lichtauskopplung austritt,
  • - wenigstens einen Analysator für das aus der Kerrzelle austretende linear polarisierte Licht, wobei
  • - die Polarisationsebene des Analysators um einen vorgebba­ ren Drehwinkel gegenüber der Polarisationsebene des aus der Lichtquelle austretenden linear polarisierten Lichtes einstellbar ist,
  • - wenigstens einen Lichtsensor, der das aus dem Analysator austretende Licht erfaßt.
Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung erhält man bereits bei einer Kerrzelle mit nur einer optischen Auskopplung eine bi­ näre Information. In diesem Fall beträgt die Wortlänge ein Bit und es wird eine einfache Ja/Nein-Information zur Verfü­ gung gestellt.
Eine Ja-Information erhält man, wenn der Lichtsensor Licht empfängt, also wenn ein elektrisches Feld entsprechender Stärke vorhanden ist, durch das die Polarisationsebene des durch die Kerrzelle hindurchtretenden Lichtes entsprechend verdreht wird, so daß die Polarisationsebene (Drehwinkel ϕk) des aus der Kerrzelle austretenden linear polarisierten Lich­ tes mit der Polarisationsebene (Drehwinkel αk) des der Kerr­ zelle nachgeordneten Analysators übereinstimmt. Der Lichtsen­ sor empfängt in diesem Fall das durch den Analysator hin­ durchtretende Licht.
Die Drehung der Polarisationsebene des durch die Kerrzelle hindurchtretenden Lichtes ist hierbei definiert als
ϕk [rad] = K.lk.E,

wobei mit K die elektro-optische Materialkonstante für eine bestimmte Wellenlänge des Lichtes (in nm), mit lk die opti­ sche Weglänge und mit E die auf die Kerrzelle einwirkende elektrische Feldstärke bezeichnet ist.
Eine Nein-Information bedeutet, daß das elektrische Feld un­ terhalb des vorgegebenen Schwellwertes liegt und deshalb bei dem durch die Kerrzelle hindurchtretenden Licht keine ausrei­ chende Drehung der Polarisationsebene auftritt und der Licht­ sensor deshalb kein Licht empfängt.
Damit erhält man jk= αk eine Ja-Information und bei ϕk + αk eine Nein-Information.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ermöglicht damit eine direk­ te digitale Messung der elektrischen Feldstärke, so daß eine zeitaufwendige Meßwert-Umwandlung durch Analog-Digital-Wand­ ler entfällt.
Die Vorrichtung nach Anspruch 1 ermöglicht weiterhin eine rückwirkungsfreie Messung der elektrischen Feldstärke, da das Licht, das durch die Kerrzelle hindurchtritt nicht die zu messende elektrische Feldstärke beeinflußt. Mit der Vorrich­ tung nach Anspruch 1 können dadurch auch die Feldstärken von hochfrequenten elektrischen Feldern gemessen werden.
Für eine digitale Messung der elektrischen Feldstärke mit ei­ ner größeren Auflösung eignet sich eine Ausgestaltung gemäß Anspruch 2 besonders gut. Bei der Vorrichtung nach Anspruch 2 sind die optischen Weglängen lk gemäß der folgenden Beziehung geometrisch gestuft
lk = 2-k.l0,
wobei k = 0 . . . N - 1 ist und mit l0 der längste elektro­ optisch wirksame Lichtweg in der Kerrzelle bezeichnet ist, innerhalb dessen der Kerreffekt auftritt und zu einer Drehung der Polarisationsebene des durch die Kerrzelle hindurchtre­ tenden Lichtes führt. Mit N ist die Anzahl der Lichtauskopp­ lungen bezeichnet.
Die größte optische Weglänge lk = l0 (k = 0) liefert das nie­ derwertigste Bit, wohingegen die kürzeste optische Weglänge lk = 1N-1 (k = N - 1) das höchstwertigste Bit liefert.
Die geometrische Stufung der optischen Weglängen lk kann bei­ spielsweise dadurch erreicht werden, daß für jede optische Weglänge jeweils eine Kerrzelle mit jeweils einer Lichtaus­ kopplung vorgesehen ist (Anspruch 4) oder, daß bei einer ein­ zigen Kerrzelle eine entsprechende Anzahl von Lichtauskopp­ lungen vorgesehen ist (Anspruch 5). Auch eine Kombination beider Maßnahmen - nämlich mehrere Kerrzellen mit jeweils mehreren Lichtauskopplungen - ist als vorteilhafte Ausgestal­ tung im Rahmen der Erfindung möglich.
Die elektrische Feldstärke, der die Vorrichtung gemäß An­ spruch 2 ausgesetzt ist, kann damit direkt als Binärzahl an der Helligkeit der Analysatoren abgelesen werden.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann auf einfache Weise durch die Länge und/oder den Durchmesser der Kerrzelle(n) an den benötigten bzw. gewünschten Meßbereich angepaßt werden. Um doppelt so starke elektrische Potentialdifferenzen zu er­ fassen, muß die Kerrzelle halbe Länge oder halbe Höhe bzw. halbe Breite aufweisen. Durch die Anzahl der Lichtauskopplun­ gen und/oder die Anzahl der Kerrzellen kann auf einfache Wei­ se die gewünschte oder benötigte digitale Auflösung gewählt werden.
Das elektro-optische Material kann entweder gasförmig, flüs­ sig oder fest sein. Bevorzugte isotrope Stoffe sind in den Ansprüchen 10 und 11 genannt.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von zwei schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zei­ gen:
Fig. 1 eine erste Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 2 eine zweite Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
In Fig. 1 und 2 ist mit 1 eine Lichtquelle bezeichnet, die li­ near polarisiertes Licht emittiert. Die Lichtquelle ist im dargestellten Ausführungsbeispiel als Laserquelle ausgebil­ det. Es ist jedoch auch möglich, anstelle einer Laserquelle eine Lichtquelle zu benutzen, die unpolarisiertes Licht emit­ tiert. Das Licht muß dann durch einen der Lichtquelle nachge­ schalteten Polarisator, dessen Polarisationsebene vorzugswei­ se einstellbar ist, linear polarisiert werden.
Der Lichtquelle 1 (Laserquelle) ist eine Kerrzelle 2 nachge­ ordnet. Die Kerrzelle 2 ist mit einem elektro-optisch aktiven Material, im dargestellten Ausführungsbeispiel mit Nitroben­ zol, gefüllt.
In die Kerrzelle 2 tritt das von der Lichtquelle 1 emittierte linear polarisierte Licht ein und legt in der Kerrzelle 2 ei­ ne vorgebbare Anzahl von optischen Weglängen lk zurück. Die Lichtintensität ändert sich hierbei periodisch nach [sin(K.lk.E)]2 mit der angelegten elektrischen Feldstärke E. Die absolute Empfindlichkeit der erfindungsgemäßen Vorrich­ tung ist bestimmt durch den längsten elektro-optisch wirksa­ men Lichtweg l0 (Maximalwert der optischen Weglänge lk)und durch die elektro-optische Materialkonstante K.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel der erfin­ dungsgemäßen Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feld­ stärken weist die Kerrzelle 2 für eine vorgebbare Anzahl von optischen Weglängen lk jeweils eine Lichtauskopplung 20 bis 23 auf. Über die Lichtauskopplungen 20 bis 23 tritt das line­ ar polarisierte Licht aus der Kerrzelle 2 aus.
Die optischen Weglängen lk sind hierbei gemäß der folgenden Beziehung geometrisch gestuft
lk = 2-k.l0,
wobei k = 0 . . . N - 1 ist und mit l0 der längste elektro­ optisch wirksame Lichtweg in der Kerrzelle 2 bezeichnet ist, innerhalb dessen der Kerreffekt auftritt und zu einer Drehung der Polarisationsebene des durch die Kerrzelle 2 hindurchtre­ tenden linear polarisierten Lichtes führt. Mit N ist die An­ zahl der Lichtauskopplungen bezeichnet. Bei der in Fig. 1 dar­ gestellten Ausführungsform ist N = 4 und damit k = 3.
Die größte optische Weglänge lk = l0 (k = 0) liefert das nie­ derwertigste Bit(im Beispiel 00012 = 110), wohingegen die kür­ zeste optische Weglänge lk = l3 (k = 3 wegen N = 4) das höchstwertigste Bit (im Beispiel 10002 = 810) liefert. Auf­ grund der geometrischen Abstufungen gilt damit für die in Fig. 1 dargestellte Ausführungsform:
l1 = 0,5.l0
l2 = 0,25.l0
l3 = 0,125.l0
Das über die Lichtauskopplung 20 aus der Kerrzelle 2 austre­ tende linear polarisierte Licht gelangt in einen als Polari­ sator ausgebildeten Analysator 30, dessen Polarisationsebene in einem vorgebbaren Drehwinkel von z. B. α0 = 90° gegenüber der Polarisationsebene des aus der Lichtquelle 1 austretenden linear polarisierten Lichtes verdreht ist. Dem Analysator 30 ist ein Lichtsensor 40 (Photosensor) nachgeschaltet, der das aus dem Analysator 30 austretende Licht erfaßt.
Analog ist der Lichtauskopplung 21 eine Analysator 31 (Pola­ risationsfilter) zugeordnet, dessen Polarisationsebene im be­ schriebenen Ausführungsbeispiel in einem Drehwinkel α1 = 180° gegenüber der Polarisationsebene des aus der Lichtquelle 1 austretenden linear polarisierten Lichtes verdreht ist. Dem Analysator 31 ist ein Lichtsensor 41 nachgeschaltet.
Der Lichtauskopplung 22 ist ein ebenfalls als Polarisations­ filter wirkender Analysator 32 mit einem Drehwinkel α2 = 360° sowie ein Lichtsensor 42 zugeordnet.
Ein Analysator 33 (Polarisationsfilter) mit einem Drehwinkel α3 = 720° und ein Lichtsensor 43 ist der Lichtauskopplung 23 zugeordnet.
Das Produkt lk.αk aus der optischen Weglänge lk und Drehwinkel αk ist damit konstant.
Die elektrische Feldstärke E, der die Vorrichtung ausgesetzt ist, kann damit direkt als Binärzahl an der Helligkeit der Analysatoren 30 bis 33 abgelesen werden.
Bei der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsform kann die Prä­ zisionsanforderung an die optischen Weglängen lk und die Schwellwerterkennung der Lichtintensitäten an den Analysato­ ren 30 bis 33 dadurch reduziert werden, daß jeweils statt ei­ ner optischen Weglänge lk für jede geometrische Stufung je­ weils zwei optische Weglängen gemäß der Beziehung
(1 ± 0,5).lk
vorgesehen sind, deren Lichtintensitäten miteinander vergli­ chen werden.
Das linear polarisierte Licht, das in der Kerrzelle 2 die op­ tischen Weglängen 0,5.l0 und 1,5.l0 zurücklegt, wird über Lichtauskopplungen 20a und 20b jeweils einem Analysator 30a bzw. 30b zugeführt. Analog ist den optischen Weglängen 0,5.l1 und 1,5.l1 jeweils eine Lichtauskopplung 21a bzw. 21b sowie jeweils ein Analysator 31a und 31b zugeordnet. Den optischen Weglängen 0,5.l2 und 1,5.l2 ist jeweils eine Lichtauskopplung 22a bzw. 22b sowie jeweils ein Analysator 32a bzw. 32b zuge­ ordnet. Weiterhin ist den optischen Weglängen 0,5.l3 und 1,5.l3 jeweils eine Lichtauskopplung 23a bzw. 23b sowie je­ weils ein Analysator 33a bzw. 33b zugeordnet.
Für die optischen Weglängen (1 ± 0,5).lk gilt hierbei wiederum die Beziehung:
l2 = 0,5.l0
l2 = 0,25.l0
l3 = 0,125.l0
Auch bei diesem Ausführungsbeispiel kann die elektrische Feldstärke E, der die Vorrichtung ausgesetzt ist, direkt als Binärzahl an der Helligkeit der Analysatoren 30a bzw. 30b bis 33a bzw. 33b abgelesen werden. Die Helligkeiten der Analysa­ toren 30a bzw. 30b bis 33a bzw. 33b werden hierzu paarweise von Lichtsensoren 40 bis 43 erfaßt.

Claims (14)

1. Vorrichtung zur Messung von elektrischen Feldstärken (E), die folgende Merkmale umfaßt:
  • - Wenigstens eine Lichtquelle (1), die linear polarisiertes Licht emittiert,
  • - wenigstens eine Kerrzelle (2), die elektro-optisch akti­ ves Material enthält und die wenigstens eine Lichtaus­ kopplung (20-23) aufweist, wobei
  • - das von der Lichtquelle (1) emittierte linear polarisier­ te Licht in die Kerrzelle (2) eintritt und darin eine vorgebbare Anzahl von optischen Weglängen (lk) zurücklegt und danach über die entsprechende Lichtauskopplung (20-23) austritt,
  • - wenigstens einen Analysator (30-33) für das aus der Kerrzelle (2) austretende linear polarisierte Licht, wo­ bei
  • - die Polarisationsebene des Analysators (30-33) um einen vorgebbaren Drehwinkel (α) gegenüber der Polarisationse­ bene des aus der Lichtquelle (1) austretenden linear po­ larisierten Lichtes einstellbar ist,
  • - wenigstens einen Lichtsensor (40-43), der das aus dem Analysator (30-33) austretende Licht erfaßt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Die optischen Weglängen (lk) gemäß der folgenden Bezie­ hung geometrisch gestuft sind
    lk = 2-k.l0,
    wobei k = 0 . . . N-1, l0 der längste elektro-optisch wirk­ same Lichtweg, innerhalb dessen der Kerreffekt auftritt, und N die Anzahl der Lichtauskopplungen (20-23) ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, die folgendes Merkmal um­ faßt:
- Das Produkt aus optischer Weglänge (lk) und Drehwinkel (αk) ist konstant, wobei das Produkt vorzugsweise l0.90° beträgt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Für eine vorgebbare Anzahl der vorgebbaren optischen Weglängen (lk) ist jeweils eine eigene Kerrzelle (2) vor­ gesehen.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Die Kerrzelle (2) weist für eine vorgebbare Anzahl der vorgebbaren optischen Weglängen (lk) jeweils eine Licht­ auskopplung (20-23) auf.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Jeder Kerrzelle (2) ist eine eigene Lichtquelle (1) zuge­ ordnet.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Allen Kerrzellen (2) ist eine gemeinsame Lichtquelle (1) zugeordnet, wobei das linear polarisierte Licht über eine Spiegelanordnung den einzelnen Kerrzellen (2) zugeführt wird.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Die Lichtquelle (1) ist als Laserquelle ausgebildet.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Die Lichtquelle (1) weist wenigstens eine Polarisator auf, dessen Polarisationsebene einstellbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Als elektro-optisches Material ist Nitrobenzol vorgese­ hen.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Als elektro-optisches Material ist Nitrotoluol vorgese­ hen.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Anstelle einer optischen Weglänge (lk) für jede geometri­ sche Stufung sind jeweils zwei optische Weglängen gemäß der Beziehung (1 ± 0,5).lk vorgesehen, deren Lichtinten­ sitäten miteinander verglichen werden.
13. Vorrichtung nach Anspruch 1, die folgendes Merkmal um­ faßt:
  • - Die Kerrzelle (2) ist zwischen den Platten eines Konden­ sators angeordnet, der ein elektrisches Feld auf die Kerrzelle (2) wirken läßt, das proportional zu einer mes­ senden Spannung ist.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0682261A2 (de) * 1994-05-09 1995-11-15 Abb Research Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Ermittlung einer physikalischen Grösse
DE19716477A1 (de) * 1997-03-05 1998-09-24 Harald Prof Dr Ing Schwarz Verfahren und Einrichtung zur Messung einer elektrischen Spannung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0682261A2 (de) * 1994-05-09 1995-11-15 Abb Research Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Ermittlung einer physikalischen Grösse
DE19716477A1 (de) * 1997-03-05 1998-09-24 Harald Prof Dr Ing Schwarz Verfahren und Einrichtung zur Messung einer elektrischen Spannung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SCHWAB, A.J.: Hochspannungsmeßtechnik, zweite Aufl., Springer Verlag Berlin Heidelberg New York 1981, ISBN 3-540-10545-X, S.177-184 *

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