DE19906757A1 - Optische Anordnung - Google Patents

Optische Anordnung

Info

Publication number
DE19906757A1
DE19906757A1 DE1999106757 DE19906757A DE19906757A1 DE 19906757 A1 DE19906757 A1 DE 19906757A1 DE 1999106757 DE1999106757 DE 1999106757 DE 19906757 A DE19906757 A DE 19906757A DE 19906757 A1 DE19906757 A1 DE 19906757A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement according
optical arrangement
spectrally selective
selective element
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE1999106757
Other languages
English (en)
Other versions
DE19906757B4 (de
Inventor
Johann Engelhardt
Heinrich Ulrich
Joachim Bradl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems Heidelberg GmbH, Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Priority to DE1999106757 priority Critical patent/DE19906757B4/de
Publication of DE19906757A1 publication Critical patent/DE19906757A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19906757B4 publication Critical patent/DE19906757B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

Eine optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13), ist zur variablen Ausgestaltung bei einfachster Konstruktion dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Element (4) Anregungslicht (3, 9) unterschiedlicher Wellenlänge ausblendbar ist. Alternativ ist eine solche optische Anordnung dadurch gekennzeichnet, daß das spektral selektive Element (4) auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist.

Description

Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluores­ zenzanregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfo­ kalen Laser-Scanning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Ele­ ment zum Einkoppeln des Anregungslichts mindestens einer Lichtquelle in das Mi­ kroskop und zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und reflektierten Anre­ gungslichts bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlen­ gang vom Objekt kommenden Licht.
Sowohl bei der konventionellen wie auch bei der konfokalen Laser-Scanning-Mikro­ skopie werden in den Strahlengang einer für Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle Farbstrahlteiler mit einer ganz besonderen Transmissions- und Refle­ xionscharakteristik verwendet. Dabei handelt es sich ganz überwiegend um dichroi­ tische Strahlteiler. Mit einem solchen Element wird die Fluoreszenzanregungswel­ lenlänge λill1 (bzw. λill2, λill3 λilln bei der Verwendung von mehreren Lasern) in den Beleuchtungsstrahlengang reflektiert, um die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzu­ regen und dann zusammen mit dem am Objekt gestreuten und reflektierten Anre­ gungslicht den Strahlengang bis hin zum Farbstrahlteiler zu durchlaufen. Das Anre­ gungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, λill3, . . ., λilln wird am Farbstrahlteiler zu­ rück in den Laser reflektiert, nämlich aus dem Detektionsstrahlengang heraus. Das Fluoreszenzlicht mit den Wellenlängen λfluo1, λfluo2, λfluo3, . . ., λfluon passiert den Farbstrahlteiler und wird - gegebenenfalls nach weiterer spektraler Aufteilung - detektiert.
Farbstrahlteiler sind üblicherweise durch ein Interferenzfilter realisiert und werden je nach den verwendeten Wellenlängen für die Anregung bzw. für die Detektion gezielt bedampft. An dieser Stelle sei angemerkt, daß gemäß voranstehender Beschrei­ bung des Standes der Technik unter einem Dichroit ein Wellenlängen-separierbares Element verstanden wird, welches das Licht unterschiedlicher Wellenlänge aufgrund der Wellenlänge und nicht aufgrund der Polarisation trennt.
In der Praxis ist die Verwendung von Farbstrahlteilern zunächst einmal insoweit nachteilig, als es sich hierbei um in der Herstellung aufwendige und daher teure op­ tische Bausteine handelt. Des weiteren ist nachteilig, daß Farbstrahlteiler eine feste Wellenlängencharakteristik aufweisen und daher nicht mit beliebiger Flexibilität hin­ sichtlich der Wellenlänge des Anregungslichts verwendet werden können. Bei einem Wechsel der Wellenlänge des Anregungslichts müssen auch die Farbstrahlteiler ausgewechselt werden, so beispielsweise bei einer Anordnung mehrerer Farbstrahlteiler in einem Filterrad. Dies ist abermals aufwendig und daher teuer und erfordert im übrigen eine ganz besondere Justage der einzelnen Farbstrahlteiler.
Die Verwendung eines Farbstrahlteilers bringt den weiteren Nachteil mit sich, daß durch Reflexion bedingte Lichtverluste auftreten, insbesondere Lichtverluste von Fluoreszenzlicht, welches gerade detektiert werden soll. Der spektrale Transmissi­ ons-/Reflexionsbereich ist bei Farbstrahlteilern recht breit (λill ± 20 nm) und keines­ wegs ideal "steil". Folglich läßt sich das Fluoreszenzlicht aus diesem spektralen Be­ reich nicht ideal detektieren.
Bei Verwendung von Farbstrahlteilern ist die Anzahl der gleichzeitig einkoppelbaren Laser begrenzt, nämlich beispielsweise auf die Anzahl der in einem Filterrad ange­ ordneten und kombinierbaren Farbstrahlteiler. Üblicherweise werden maximal drei Laser in den Strahlengang eingekoppelt. Wie bereits zuvor ausgeführt, müssen sämtliche Farbstrahlteiler, also auch die in einem Filterrad angeordneten Farbstrahlteiler, exakt justiert werden, was einen ganz erheblichen Aufwand in der Handhabung mit sich bringt Alternativ können geeignete Neutralstrahlteiler einge­ setzt werden, die das Fluoreszenzlicht gemeinsam mit dem am Objekt gestreu­ ten/reflektierten Anregungslicht effizient zum Detektor leiten. Die Verluste bei der Lasereinkopplung sind dabei jedoch erheblich.
Zur Dokumentation des Standes der Technik wird lediglich beispielhaft auf die DE 196 27 568 A1 verwiesen, die eine optische Anordnung zur konfokalen Mikroskopie zeigt. Dabei handelt es sich im Konkreten um eine Anordnung zur zeitgleichen kon­ fokalen Beleuchtung einer Objektebene mit einer Vielzahl geeignet divergierender Leuchtpunkte sowie zugehörigen Abbildungsgliedern und einer Vielzahl von Pinho­ les zur konfokalen kontrastreichen Abbildung in einem Beobachtungsgerät, wobei es sich dabei um ein Mikroskop handeln kann. Die Einkopplung mehrerer Lichtquellen erfolgt dort über ein diffraktives Element. Mehrere optische Teilerelemente bzw. Farbstrahlteiler sind im Detektionsstrahlengang angeordnet, wodurch sich ein ganz erheblicher apparativer Aufwand ergibt.
Hinsichtlich der Verwendung aktiver optischer Elemente im Strahlengang eines La­ ser-Scanning-Mikroskops wird ergänzend auf die US 4,827,125 und die US 5,410,371 verwiesen, wobei diese Druckschriften die grundsätzliche Verwendung eines AOD (Acousto-Optical-Deflector) und eines AOTF (Acousto-Optical-Tunable- Filter) zeigen, und zwar stets mit dem Zweck, einen Strahl abzulenken oder abzu­ schwächen.
Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine optische Anord­ nung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, vor­ zugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, derart auszugestalten und weiterzubilden, daß das Einkoppeln des Anregungslichts unter­ schiedlicher Anregungswellenlänge möglich ist, ohne bei einem Wechsel der Wel­ lenlänge des Anregungslichts einen Wechsel oder eine besondere Justage der dort verwendeten optischen Elemente vornehmen zu müssen. Des weiteren soll die An­ zahl der erforderlichen optischen Elemente weitestmöglich reduziert sein. Schließlich soll eine ideale Detektion des Fluoreszenzlichts möglich sein.
Die erfindungsgemäße optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenz­ anregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale der nebengeordneten Patentansprüche 1 und 2. Danach ist eine gattungsgemäße optische Anordnung dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Ele­ ment Anregungslicht unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar sowie entspre­ chend einkoppelbar ist. Alternativ ist die optische Anordnung dadurch gekennzeich­ net, daß das spektral selektive Element auf die auszublendende Anregungswellen­ länge einstellbar ist.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, daß man im Strahlengang einer zur Fluores­ zenzanregung geeigneten Lichtquelle, insbesondere im Strahlengang eines konfo­ kalen Laser-Scanning-Mikroskops, den dort bislang verwendeten Farbstrahlteiler durch ein ganz besonderes spektral selektives Element ersetzen kann, nämlich durch ein spektral selektives Element, welches geeignet ist, Anregungslicht unter­ schiedlicher Wellenlängen auszublenden oder einzublenden bzw. einzukoppeln. Dieses spektral selektive Element dient einerseits zum Einkoppeln des Anregungs­ lichts mindestens einer Lichtquelle in das Mikroskop und andererseits zum Ausblen­ den des am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslichts bzw. der entspre­ chenden Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang vom Objekt kommenden Licht. Insoweit kommt dem spektral selektiven Element eine Doppelfunktion zu, wobei beide Funktionen quasi zwangsgekoppelt sind.
Alternativ zu der Fähigkeit des spektral selektiven Elements, Anregungslicht unter­ schiedlicher Wellenlängen ausblenden zu können, ist das spektral selektive Element auf die jeweils einzublendende oder auszublendende Anregungswellenlänge ein­ stellbar ist. Auch insoweit ist aufgrund der voranstehend geschilderten Doppelfunk­ tion eine Zwangskopplung auf einfache Weise gewährleistet, nämlich dadurch, daß mit Hilfe des spektral selektiven Elements das Anregungslicht in den Beleuchtungs­ strahlengang einkoppelbar und daß exakt die Wellenlänge des Anregungslichts, nämlich die Anregungswellenlänge, aufgrund der hier vorgesehenen Einstellbarkeit aus dem über den Detektionsstrahlengang vom Objekt kommenden Licht ausblend­ bar ist, so daß zur Detektion das vom Objekt kommende Detektionslicht (=Fluores­ zenzlicht) verbleibt.
In vorteilhafter Weise kann es sich bei dem spektral selektiven Element - zur Be­ günstigung der voranstehend erörterten Doppelfunktion - um ein passives Element bzw. Bauteil handeln. Dazu könnte das spektral selektive Element als transparentes optisches Gitter oder als holographisches Element ausgeführt sein. Ebenso ist es denkbar, das spektral selektive Element als passiven AOD (Acousto-Optical-Deflec­ tor) oder als passiven AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) auszuführen.
In ganz besonders vorteilhafter Weise, nämlich zur konkreten Realisierung der Ein­ stellbarkeit des spektral selektiven Elements auf die auszublendende Anregungs­ wellenlänge, kann es sich bei dem spektral selektiven Element um ein aktives Bau­ teil handeln, so bspw. um ein akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitendes Ele­ ment. Im Konkreten kommt hier als spektral selektives Element ein AOD (Acousto- Optical-Deflector) oder ein AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) in Frage.
Anstelle des im Stand der Technik üblichen Farbstrahlteilers wird hier ein aktives spektral selektives Element verwendet, so beispielsweise ein AOD oder ein AOTF. Die Aufgabe dieser aktiven Bauteile besteht darin, das Anregungslicht der Licht­ quelle bzw. des Lasers oder der Laser λill1, λil12, λill3, . . ., λilln in den Beleuchtstrah­ lengang und somit in das Mikroskop einzukoppeln, um danach per Beam-Scanning die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzuregen. Bei der Detektion kann das vom Objekt kommende Fluoreszenzlicht nahezu ungestört das aktive spektral selektive Element passieren. Dabei wird das vom Objekt gestreute oder reflektierte Licht mit den Anregungswellenlängen der Lichtquelle bzw. des Lasers oder der Laser aus dem Detektionsstrahlengang weitgehend herausreflektiert.
Zur Einkopplung einer Lichtquelle bzw. eines Lasers oder mehrerer Laser mit ver­ schiedenen Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln kann ein AOD mit entsprechenden Fre­ quenzen ν1, ν2, . . ., νn vorzugsweise simultan beschaltet werden, so daß die ver­ schiedenen Laserstrahlen nach dem Durchgang durch den AOD koaxial mit der op­ tischen Achse verlaufen. Hinsichtlich der Verwendung des AOD ist wesentlich, daß dort eine Frequenz νn eine Wellenlänge λilln selektiert, die aus dem eigentlichen Strahlengang abgelenkt wird. Der Ablenkungswinkel Φ ist dabei durch die Formel
Φ = λilln νn/2f
definiert, wobei f die Ausbreitungsgeschwindigkeit der Schallwelle im AOD ist. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer spektralen Verteilung um die Wellenlän­ gen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon zusammen mit dem am Objekt gestreuten bzw. reflektierten Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln durchläuft nun den AOD in umgekehrter Richtung. Jedoch wird gemäß der Umkehrbarkeit des Lichtwegs das Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln wegen der spezifischen Ein­ stellung des AOD aus dem Detektionsstrahlengang in Richtung des Lasers abge­ lenkt (1. Ordnung). Somit kann das "spektral verbleibenden Fluoreszenzlicht um die Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon - verglichen mit einem herkömmlichen Farbstrahl­ teiler - auf verbesserte Weise detektiert werden (0. Ordnung). Dadurch läßt sich je­ denfalls die Justage der Einkopplung unterschiedlicher Laser einfacher als im Stand der Technik (dort unter Anwendung herkömmlicher Farbstrahlteiler in einem Filter­ rad) vornehmen.
In weiter vorteilhafter Weise könnte ein Nachschalten weiterer AOTF die einzelnen Wellenlängen in ihrer Leistung nach der Strahlzusammenführung selektiv regeln.
Zur Einkopplung einer Laserlichtquelle mit verschiedenen Wellenlängen λfill1, λfill2, . . ., λfilln kann ein AOTF mit entsprechenden Frequenzen ν1, ν2, . . ., νn simultan geschal­ tet sein, so daß die verschiedenen Wellenlängen in ihrer Anregungsleistung variie­ ren und auf die Anwendung hin optimierbar sind. Die Zuführung des Laserlichts kann mittels Lichtleitfaser erfolgen.
Jedenfalls wird die Lichtquelle bzw. der Laser koaxial aus der Richtung der 1. Ord­ nung des Kristalls eingekoppelt. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer spektralen Verteilung um die Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon gemeinsam mit dem am Objekt gestreuten bzw. reflektierten Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1, λfill2, . . ., λfilln durchlaufen nun den AOTF in umgekehrte Richtung. Gemäß der Um­ kehrbarkeit des Lichtwegs wird das Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1, λfill2, . . ., λfilln wegen der spezifischen Einstellung des AOTF aus dem Detektionsstrahlen­ gang in Richtung der Lichtquelle bzw. des Lasers abgelenkt. Somit kann auch hier­ bei das "spektral verbleibende" Fluoreszenzlicht um die Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon in einer - verglichen zum herkömmlichen Farbstrahlteiler - verbesserten Weise detektiert werden (0. Ordnung).
Sowohl unter Verwendung eines AOD oder AOTF als auch unter Verwendung eines transparenten Gitters wird sich das Fluoreszenzlicht nach dem Durchgang durch das jeweilige aktive Element aufgrund der auftretenden Dispersion spektral auffächern. Insoweit ist es von Vorteil, ein oder mehrere entsprechende "inversell Elemente nachzuschalten, so daß die ungewünschte spektrale Auffächerung wieder rückgän­ gig gemacht wird. Auch ist es denkbar, weitere optische Elemente zur Fokussierung oder zum Ausblenden unerwünschter Strahlanteile dem jeweiligen Element (AOD, AOTF oder transparentes Gitter) vor- bzw. nachzuschalten. Der dadurch wiederver­ einigte Detektionsstrahl kann dann in herkömmlicher Weise durch nachgeschaltete Farbstrahlteiler spektral zerlegt und auf die verschiedenen Detektoren abgebildet werden.
Grundsätzlich ist eine Anordnung im Sinne eines "Multibanddetektor" denkbar. Hierzu wird auf die Patentanmeldung DE 43 30 347.1-42 verwiesen, deren Inhalt hier ausdrücklich hinzugezogen und insoweit als bekannt vorausgesetzt wird. Zwi­ schen der Scan-Einheit und dem AOD bzw. dem transparenten Gitter (bei mehreren Lichtquellen bzw. Lasern mehrerer Wellenlängen) bzw. dem AOTF (bei einer Licht­ quelle bzw. einem Laser mit verschiedenen Wellenlängen) ist das Anregungs- Pinhole angeordnet, wobei dieses identisch mit dem Detektions-Pinhole ist. In vor­ teilhafter Weise wird dabei die Eigenschaft des Kristalls, den Lichtstrahl der 0. Ord­ nung durch den Prismeneffekt spektral aufzufächern, zur Detektion genutzt. Das dispersive Element des Multibanddetektors ist dabei mit dem Farbstrahlteiler zu einem Bauteil vereinigt, wodurch alle weiteren, dem herkömmlichen Detektions­ strahlengang nachgeordneten und mit weiteren Verlusten in der Fluoreszenzinten­ sität behafteten Farbstrahlteiler entfallen.
In ganz besonders vorteilhafter Weise kann die voranstehend erörterte Technik in Kombination mit einer in der Wellenlänge variabel durchstimmbaren Laserlichtquelle - z. B. Farbstofflaser, OPO (optisch parametrisierter Oszillator), Elektronenstrahlkolli­ sionslichtquelle - äußerst flexible Fluoreszenzmikroskopie-Anwendungen ermögli­ chen. Die Einstellung bzw. Kontrolle der Anregungswellenlänge kann direkt mit der Ansteuereinheit eines der zuvor beschriebenen spektral selektiven Elemente gekop­ pelt sein, so daß nur diese Anregungswellenlänge koaxial in den Anregungsstrah­ lengang des Mikroskops eingekoppelt und wiederum nur diese Wellenlänge aus dem Detektionsstrahlengang ausgeblendet wird. Die Kopplung bzw. Zwangskopp­ lung der Lichtquelle mit dem strahlteilenden Element kann entweder manuell oder automatisch oder gar nach einer vorgebbaren Vorschrift erfolgen, wobei diese Mög­ lichkeit dem jeweiligen Anforderungsprofil anzupassen ist. Beispielsweise kann nach jeder gescannten Bildebene die Anregungswellenlänge sowie der Strahlteiler in ge­ eigneter Weise verändert werden. Somit lassen sich Mehrfarbenfluoreszenzobjekte detektieren. Eine zeilenweise Umschaltung ist ebenso denkbar.
Zusammenfassend lassen sich die Vorteile der erfindungsgemäßen Lehre nebst vorteilhafter Ausgestaltung wie folgt zusammenfassen:
Die spektral selektiven Elemente sind für alle Wellenlängen außer für die selektier­ ten Anregungswellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln "transparent". Der "spektrale Verlust" ist minimal, da vom spektral selektiven Element nur der selektierte spektrale Bereich von typischerweise λilln ± 2 nm abgelenkt wird. Dadurch wird der spektrale Bereich für die Detektion vergrößert. Somit können nahezu beliebig viele unterschiedliche Wellenlängenbereiche simultan eingekoppelt und genutzt werden. Die spektral "ver­ lorene Fluoreszenzintensität", die durch die spektral selektiven Elemente bedingt ist, ist geringer als bei herkömmlichen Farbstrahlteilern. Mit anderen Worten liegen hier reduzierte Intensitätsverluste im interessierenden Bereich vor. Die aktiven spektral selektiven Elemente sind flexibel einstellbar, so daß prinzipiell beliebig viele Licht­ quellen bzw. Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen auch simultan in das Mikro­ skop einkoppelbar sind. Dies ermöglicht die verbesserte Anwendung bei Multi-Color FISH (Fluoreszenz-in-situ-Hybridisierung). Folglich ist dann nur noch eine Limitie­ rung der spektralen Aufspaltung des Fluoreszenzlichts, bspw. durch "Cross-Talk", gegeben. Herkömmliche Sperrfilter können komplett entfallen, so daß weitere Verlu­ ste von Fluoreszenzlicht in der Detektion vermieden sind.
Schließlich ist es auch denkbar, daß ein anderes aktives holographisches Element dem spektral selektiven Element nachgeschaltet ist und dabei die Aufgabe des Strahlscanners ausübt. Beide Elemente können zu einem einzigen Bauteil zusam­ mengefaßt sein.
Grundsätzlich lassen sich unterschiedliche Lichtquellen verwenden, solange sie zur Fluoreszenzanregung geeignet sind. So kommt bspw. eine Weißlichtquelle, eine Lichtquelle zur Verwendung eines optisch parametrisierten Oszillators, eine Elektro­ nenstrahlkollisionslichtquelle oder eine Laserlichtquelle in Frage, wobei die Laser­ lichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar sein kann. Laserlichtquellen mit verschiedenen Wellenlängen oder eine mehrere Laser umfassende Lichtquelle ist bzw. sind verwendbar.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprüchen 1 und 2 nachgeordneten Patentansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung an­ hand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzug­ ten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im all­ gemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen
Fig. 1 in einer schematischen Darstellung eine gattungsbildende opti­ sche Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser- Scanning-Mikroskops zur Dokumentation des der Erfindung zu­ grundeliegenden Standes der Technik,
Fig. 2 in einer schematischen Darstellung ein erstes Ausführungsbei­ spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen­ gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort ein Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen einkoppelbar ist,
Fig. 3 in einer schematischen Darstellung ein zweites Ausführungsbei­ spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen­ gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort drei Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen einkop­ pelbar sind,
Fig. 4 in einer schematischen Darstellung ein drittes Ausführungsbei­ spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen­ gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort die Einkopplung von drei Laserlichtquellen über ein transparentes Gitter erfolgt,
Fig. 5 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Be­ leuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dem aktiven spektral selektiven Element zur Strahlzusammenführung dienende Mittel nachgeschaltet sind,
Fig. 6 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Be­ leuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dort eine Dispersionskorrektur erfolgt,
Fig. 7 in einer schematischen Darstellung die prinzipielle Funktionsweise eines AOD oder AOTF,
Fig. 8 in einer schematischen Darstellung ein weiteres Ausführungsbei­ spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung, wobei dort eine zusätzliche spektrale Auffächerung vor einem Multibandde­ tektor stattfindet und
Fig. 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel aus Fig. 8, wobei dort im Detektionsstrahlengang vor dem Multiband­ detektor ein variables Spaltfilter angeordnet ist.
Fig. 1 dokumentiert den Stand der Technik und zeigt dabei eine herkömmliche opti­ sche Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Licht­ quelle, wobei es sich hier um eine optische Anordnung im Strahlengang eines kon­ fokalen Laser-Scanning-Mikroskops handelt. Der Laserscanner 1 ist dabei lediglich symbolisch dargestellt. Bei der den Stand der Technik betreffenden Darstellung sind als Lichtquellen insgesamt drei Laser 2 vorgesehen, die mit ihrem Anregungslicht 3 über spektral selektive Elemente 4 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikro­ skops einkoppeln. Bei den spektral selektiven Elementen 4 handelt es sich im Kon­ kreten um einen Spiegel 6 sowie um Farbstrahlteiler 7. Jedenfalls wird das Anre­ gungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 eingekoppelt und gelangt über ei­ nen weiteren Spiegel 8 als Anregungslicht 9 zum Laserscanner 1.
Das von dem ebenfalls lediglich symbolisch dargestellten Objekt 10 zurückkom­ mende Licht - hier handelt es sich um das am Objekt gestreute und reflektierte An­ regungslicht 9 einerseits und um das vom Objekt 10 ausgesandte Fluoreszenzlicht 11 - gelangt über den Spiegel 8 zu dem spektral selektiven Element 4, wobei es sich hier um den Farbstrahlteiler 7 handelt. Von dort aus wird das Anregungslicht 9 bzw. die Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang 12 vom Objekt 10 kommenden Licht 13 ausgeblendet und gelangt als zurückkommendes Anregungslicht 9 zurück zu den Lasern 2. Das durch den Farbstrahlteiler 7 nicht ab­ gelenkte Detektionslicht 14 gelangt unmittelbar zu dem Detektor 15.
Erfindungsgemäß ist durch das spektral selektive Element 4 zurückkommendes An­ regungslicht 3 unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar. Dies ist insbesondere in Fig. 4 dargestellt.
Alternativ - in ebenfalls erfindungsgemäßer Weise - ist das spektral selektive Ele­ ment 4 auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar. Dies läßt sich den Ausführungsbeispielen aus den Fig. 2, 3 und 8, 9 besonders gut entnehmen.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist lediglich ein Laser 2 vorgese­ hen, dessen Anregungslicht 3 unterschiedliche Wellenlängen aufweisen kann. Je­ denfalls gelangt das Anregungslicht 3 über einen Spiegel 6 und über ein zusätzli­ ches optisches Element, nämlich über eine Linse 16 zu einem AOTF 17, der als spektral selektives Element arbeitet. Von dort aus gelangt das Anregungslicht 3 wie­ derum über ein zusätzliches optisches Element - im hier gewählten Ausführungsbei­ spiel eine Linse 18 - und über einen Spiegel 8 zum Laserscanner 1. Vom Objekt 10 reflektiert, gelangt das zurückkommende Licht - reflektiertes Anregungslicht 9 und Detektionslicht 11 - über den Spiegel 8 und die Linse 18 zurück in den AOTF 17 und wird dort entsprechend der Beschaltung des AOTF 17 teilweise ausgeblendet. Im Konkreten wird nämlich das Detektionslicht bzw. Fluoreszenzlicht 11 über den Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15 geführt (0. Ordnung). Das zurückkom­ mende Anregungslicht 9 wird dagegen über die Linse 16 und den Spiegel 6 zurück zum Laser 2 geführt und ist somit aus dem Detektionsstrahlengang 12 ausgeblen­ det.
Ähnlich verhält es sich bei dem in Fig. 3 gezeigten Ausführungsbeispiel, wobei dort gleichzeitig drei Laser 2 über zusätzliche optische Elemente, hier Linsen 16, ihr An­ regungslicht 3 über ein AOD 19, eine weitere nachgeschaltete Linse 18 und einen Spiegel 8 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 ein koppeln. Von dort aus gelangt das Anregungslicht 3 zum Laserscanner 1 und zum Objekt 10.
Das vom Objekt kommende Licht 13 umfaßt bei dem voranstehend genannten Aus­ führungsbeispiel Fluoreszenzlicht 11 und zurückkommendes Anregungslicht 9, wo­ bei dort der AOD 19 das zurückkommende Fluoreszenzlicht als Detektionslicht 14 zu dem Detektor 15 führt. Das zurückkommende Anregungslicht 9 wird ausgeblendet und gelangt über Linsen 16 zu den jeweiligen Lasern 2.
Das in Fig. 4 gezeigte Ausführungsbeispiel umfaßt als spektral selektives Element 4 ein transparentes Gitter 20, wobei über das transparente Gitter 20 gleichzeitig drei Laser 2 ihr Anregungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikroskops einkoppeln. Wesentlich ist hier jedenfalls, daß das transparente Gitter 20 das vom Objekt 10 zurückkommende Anregungslicht 9 aus dem Detektionsstrahlengang aus­ blendet, so daß dieses Licht zurück zu den Lasern 2 gelangt. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht 11 gelangt über den Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15.
Fig. 5 zeigt die Möglichkeit einer Dispersionskorrektur, wobei das vom Objekt zu­ rückkommende Licht 13 in den AOTF 17 oder AOD 19 gelangt. Dort wird das zurück­ kommende Detektionslicht 14 - zwangsweise - spektral aufgefächert und über nachgeschaltete Elemente - AOD/AOTF - parallelisiert und schließlich konvergiert. Das spektral vereinigte Detektionslicht 14 gelangt von dort zu dem in Fig. 5 nicht gezeigten Detektor 15.
Bei der in Fig. 6 gezeigten Dispersionskorrektur wird das vom Objekt kommende Licht 13 mittels AOD 17/AOTF 19 aufgefächert, wobei das aufgefächerte Detekti­ onslicht 14 über ein weiteres passives spektral selektives Element 4 - AOTF 17 oder AOD 19 - über eine Linse 21 mit Feldkorrektur konvertiert und durch ein Detektions­ pinhole 22 oder durch einen Detektionsspalt zum Detektor 15 gelangt.
Gemäß der Darstellung in Fig. 7 handelt es sich bei dem spektral selektiven Element 4 um ein AOTF 17 oder ein AOD 19, wobei diese Elemente einen speziellen Kristall mit dispersionsfreier 0. Ordnung umfassen. Dieser Kristall bzw. dieses spektral se­ lektive Element wird über ein Piezoelement 23 angeregt bzw. beaufschlagt. Fig. 7 zeigt besonders deutlich, daß das vom Objekt kommende Licht 13 in dem AOTF 17 bzw. AOD 19 aufgespalten wird, wobei das Detektionslicht 14 als dispersionsfreies Licht 0. Ordnung ungehindert durch den Kristall läuft. Das vom Objekt zurückkom­ mende Anregungslicht 9 wird dagegen als Licht 1. Ordnung abgelenkt und zurück zu den hier nicht gezeigten Lasern geführt.
Fig. 8 zeigt eine spezielle Detektion unter Ausnutzung der spektralen Auffächerung des spektral selektiven Elements 4, wobei hier im Konkreten ein AOTF 17 verwendet ist. Das vom Objekt 10 kommende Licht 13 wird im AOTF 17 spektral aufgespalten, wobei das Detektionslicht 14 über eine Linse 16 und einen Spiegel 6 zu einem Mul­ tibanddetektor 24 bzw. Spektrometer gelangt. Der Spiegel 6 führt zu einer Verlänge­ rung der Strecke, so daß eine Auffächerung des zurückkommenden Detektionslichts 14 bis hin zum Multibanddetektor 24 begünstigt wird.
Das im AOTF 17 ausgeblendete Anregungslicht 9 gelangt über die Linse 16 und den Spiegel 8 zurück zum Laser 2.
Schließlich zeigt Fig. 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel aus Fig. 8, wobei dort - in Ergänzung - im Detektionsstrahlengang vor dem Multi­ banddetektor 24 ein variables Spaltfilter 25 angeordnet ist. Dieses Spaltfilter 25 ist im Detektionsstrahlengang 12 unmittelbar vor dem Detektor 15 angeordnet und im Detektionsstrahlengang positionierbar. Desweiteren ist der Spalt 26 des Spaltfilters 25 variabel, so daß auch insoweit eine spektrale Selektion des Detektionslichts 14 möglich ist.
Hinsichtlich weiterer Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Lehre, die den Figu­ ren nicht zu entnehmen sind, wird zur Vermeidung von Wiederholungen auf den all­ gemeinen Teil der Beschreibung und die dort geschilderte Funktionsweise der Lehre und der vorteilhaften Ausgestaltungen verwiesen.
Bezugszeichenliste
1
Laserscanner
2
Laser (Lichtquelle)
3
Anregungslicht
4
spektral selektives Element
5
Beleuchtungsstrahlengang
6
Spiegel
7
Farbstrahlteiler
8
Spiegel
9
Anregungs- und Detektionslicht
10
Objekt
11
Fluoreszenzlicht (Detektionslicht)
12
Detektionsstrahlengang
13
(vom Objekt kommendes) Licht
14
Detektionslicht (nicht abgelenktes Detektionslicht)
15
Detektor
16
Linse
17
AOTF
18
Linse
19
AOD
20
transparentes Gitter
21
Linse (mit Feldkorrektur)
22
Detektions-Pinhole
23
Piezoelement
24
Multibanddetektor (Spektrometer)
25
(variables) Spaltfilter
26
Spalt (von
25
)

Claims (48)

1. Optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigne­ ten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scan­ ning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und reflektierten Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detek­ tionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13), dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Element (4) Anregungslicht (3, 9) unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar ist.
2. Optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigne­ ten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scan­ ning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und reflektier­ ten Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13), dadurch gekennzeichnet, daß das spektral selektive Element (4) auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist.
3. Optische Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem spektral selektiven Element (4) um ein passives Bauteil handelt.
4. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) als transparentes optisches Gitter (20) ausgeführt ist.
5. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) als holographisches Element ausgeführt ist.
6. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) als passives AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19) oder passives AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) ausgeführt ist.
7. Optische Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem spektral selektiven Element (4) um ein aktives Bauteil handelt.
8. Optische Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitet.
9. Optische Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) als AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19) ausgeführt ist.
10. Optische Anordnung nach Anspruch 9, wobei mehrere Lichtquellen mit unter­ schiedlichen Wellenlängen einkoppelbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß das AOD (19) mit entsprechenden Frequenzen vorzugsweise simultan beschaltet ist, so daß die verschiedenen Lichtstrahlen nach dem Durchgang des AOD (19) koaxial mit der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs (5) sind.
11. Optische Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das spek­ tral selektive Element (4) als AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) aus­ geführt ist.
12. Optische Anordnung nach Anspruch 11, wobei eine Lichtquelle mit unterschied­ lichen Wellenlängen einkoppelbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß das AOTF (17) mit entsprechenden Frequenzen simultan beschaltbar ist.
13. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das spektral selektive Element (4) derart konstruiert ist, daß eine spektrale Auffächerung des Detektionslichts (11) zumindest weitgehend vermie­ den ist.
14. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zur leistungsspezifischen Regelung einzelner Wellenlängen dem spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres aktives bzw. spektral selektives Element nachgeschaltet ist.
15. Optische Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOD (19) handelt.
16. Optische Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOTF (17) handelt.
17. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 16, wobei das spektral selektive Element (4) eine Ansteuereinheit umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß die Einstellung/Kontrolle der Anregungswellenlänge mit der Ansteuereinheit zwangsgekoppelt ist, so daß nur diese Anregungswellenlänge vorzugsweise koaxial in den Beleuchtungsstrahlengang (5) des Mikroskops einkoppelbar ist und ausschließlich diese Wellenlänge aus dem Detektionsstrahlengang (12) ausblendbar ist.
18. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Ansteuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven Element (4) manuell oder automatisch erfolgt.
19. Optische Anordnung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die An­ steuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven Element (4) nach einer frei definierbaren Vorschrift erfolgt.
20. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekenn­ zeichnet, daß dem spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres opti­ sches Element vor- und/oder nachgeschaltet ist.
21. Optische Anordnung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß ein im Beleuchtungsstrahlengang (5) dem spektral selektiven Element (4) nachge­ schaltetes aktives holographisches Element als Strahlscanner dient.
22. Optische Anordnung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß das spektral selektive Element (4) und das nachgeschaltete holographische Element zu einem funktionalen Baustein vereint sind.
23. Optische Anordnung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem weiteren optischen Element um ein Strahlanpassungsmittel bzw. um ein Mittel zur Kompensation der durch das spektral selektive Element (4) verur­ sachten spektralen Auffächerung handelt.
24. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlanpassungsmittel als Linse (16) ausgeführt ist.
25. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlanpassungsmittel als Prisma ausgeführt ist.
26. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlanpassungsmittel als Blende, vorzugsweise als Lochblende oder Schlitz­ blende, ausgeführt ist.
27. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlanpassungsmittel als Filter, vorzugsweise als Sperrfilter, ausgeführt ist.
28. Optische Anordnung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß das Filter unmittelbar vor dem Detektor (15) angeordnet ist.
29. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das Strahlanpassungsmittel als Fokussiermittel ausgeführt ist.
30. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 29, dadurch gekenn­ zeichnet, daß als weiteres optisches Element ein Farbstrahlteiler zur weiteren spektralen Zerlegung vorgesehen ist.
31. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 30, dadurch gekenn­ zeichnet, daß als weiteres optisches Element mindestens ein AOTF (17) vorge­ sehen ist.
32. Optische Anordnung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß das AOTF (17) als passives Element verwendbar ist.
33. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 32, dadurch gekenn­ zeichnet, daß Kombinationen weiterer optischer Elemente vorgesehen sind.
34. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 33, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12) Mittel zur Mehrfachreflexion an­ geordnet sind, die eine Winkelvergrößerung der Auffächerung des Detektions­ strahls herbeiführen.
35. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 34, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12), vorzugsweise unmittelbar vor dem Detektor (15), ein Spaltfilter (25) angeordnet ist.
36. Optische Anordnung nach Anspruch 35, dadurch gekennzeichnet, daß das Spaltfilter (25) im Detektionsstrahlengang (12) positionierbar ist.
37. Optische Anordnung nach Anspruch 35 oder 36, dadurch gekennzeichnet, daß der Spalt (26) des Spaltfilters (25) variabel ist.
38. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 37, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12) nach dem spektral selektiven Element (4) ein Spektrometer zur Detektion der spektralen Auffächerung ange­ ordnet ist.
39. Optische Anordnung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, daß der Spektrometer als Multibanddetektor (24) ausgeführt ist.
40. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 39, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die ausgeblendeten Anregungswellenlängen in Richtung der Lichtquellen (2) aus dem Detektionsstrahlengang (12) abgelenkt werden.
41. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Weißlichtquelle ausgeführt ist.
42. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als optisch parametrisierter Oszillator (OPO) ausgeführt ist.
43. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Elektronenstrahlkollisionslichtquelle ausge­ führt ist.
44. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Laserlichtquelle ausgeführt ist.
45. Optische Anordnung nach Anspruch 44, dadurch gekennzeichnet, daß die La­ serlichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar ist.
46. Optische Anordnung nach Anspruch 44 oder 45, dadurch gekennzeichnet, daß die Laserlichtquelle einen Laser mit verschiedenen Wellenlängen umfaßt.
47. Optische Anordnung nach Anspruch 44, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle mehrere Laser (2) mit unterschiedlichen Wellenlängen umfaßt.
48. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 44 bis 47, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Laser (2) als Farbstofflaser ausgeführt ist.
DE1999106757 1998-02-19 1999-02-17 Mikroskop Expired - Lifetime DE19906757B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999106757 DE19906757B4 (de) 1998-02-19 1999-02-17 Mikroskop

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE198068670 1998-02-19
DE19806867 1998-02-19
DE1999106757 DE19906757B4 (de) 1998-02-19 1999-02-17 Mikroskop

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19906757A1 true DE19906757A1 (de) 1999-12-02
DE19906757B4 DE19906757B4 (de) 2004-07-15

Family

ID=26043965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1999106757 Expired - Lifetime DE19906757B4 (de) 1998-02-19 1999-02-17 Mikroskop

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19906757B4 (de)

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1122574A2 (de) * 2000-02-01 2001-08-08 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Mikroskop-Aufbau
EP1164403A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop
EP1164400A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
EP1178345A1 (de) * 2000-08-02 2002-02-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Spektroskopische Anordnung in einem konfokalen Mikroskop
US6392794B1 (en) 1999-09-15 2002-05-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Laser scanning microscope
EP1255105A1 (de) * 2001-04-26 2002-11-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren zur Untersuchung einer Probe und Scanmikroskop
DE10123439A1 (de) * 2001-05-14 2002-11-21 Bernhard Trier Fluoreszenzmikroskop
EP1281997A2 (de) * 2001-07-30 2003-02-05 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop und optisches Element
WO2003012516A1 (de) * 2001-07-30 2003-02-13 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optische anordnung und scanmikroskop
US6525812B1 (en) 1999-09-16 2003-02-25 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement for a laser scanning microscope
DE10241472A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-25 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
DE10302259B3 (de) * 2003-01-22 2004-06-03 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil
US6806953B2 (en) 2001-10-12 2004-10-19 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for fluorescence microscopy, and fluorescence microscope
DE10313138A1 (de) * 2003-03-24 2004-10-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
DE10324478B3 (de) * 2003-05-30 2004-12-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
US6867919B2 (en) 2002-10-10 2005-03-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement and microscope
US6867899B2 (en) 2001-12-20 2005-03-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Microscope, flow cytometer, and method for examination of a specimen
US6898367B2 (en) 2000-06-17 2005-05-24 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and instrument for microscopy
DE10137158B4 (de) * 2001-07-30 2005-08-04 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE102004030208B3 (de) * 2004-06-22 2005-12-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Auflichtmikroskop
US6977724B2 (en) 2002-03-23 2005-12-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for spectral analysis, and scanning microscope
US7092086B2 (en) 2002-09-19 2006-08-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Cars microscope and method for cars microscopy
EP1720052A1 (de) * 2005-05-03 2006-11-08 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Vorrichtung zur Steuerung von Lichtstrahlung
WO2008012000A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-scanning-mikroskop
DE102007028337A1 (de) * 2007-06-15 2008-12-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger
DE10016377B4 (de) * 2000-04-04 2009-01-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum Vereinigen von Licht
US7477380B2 (en) 2002-12-05 2009-01-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope comprising a confocal slit scanner for imaging an object
EP2045643A1 (de) 2000-06-17 2009-04-08 Leica Microsystems CMS GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
US7660035B2 (en) 2003-12-05 2010-02-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope
US7999935B2 (en) 2006-11-28 2011-08-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Laser microscope with a physically separating beam splitter
US8047985B2 (en) 1998-08-27 2011-11-01 Optiscan Pty Ltd Compact confocal endoscope and endomicroscope method and apparatus
EP2535756A1 (de) 2011-06-17 2012-12-19 Leica Microsystems CMS GmbH Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie
DE10027323B4 (de) * 2000-06-05 2013-09-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Generieren eines dreidimensionalen Objekts
DE102012110749A1 (de) * 2012-11-09 2014-05-15 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Messvorrichtung zur Messung optischer Eigenschaften eines Mediums
DE102013227103A1 (de) 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit einer akustooptischen Vorrichtung
DE102013227104A1 (de) 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und akustooptischer Hauptstrahlteiler für ein Scanmikroskop
WO2015032820A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und akustooptischer strahlvereiniger für ein mikroskop

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4827125A (en) * 1987-04-29 1989-05-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services Confocal scanning laser microscope having no moving parts
GB8913129D0 (en) * 1989-06-07 1989-07-26 Secr Defence Scanning optical microscope
DE4115401C2 (de) * 1991-05-10 1994-04-14 Rainer Dr Uhl Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Bestimmen der Ionenkonzentration eines Untersuchungsobjekts, das mit einem Fluoreszenzfarbstoff eingefärbt ist, dessen Anregungsmaximum sich in Abhängigkeit von der zu bestimmenden Ionenkonzentration ändert
US5422712A (en) * 1992-04-01 1995-06-06 Toa Medical Electronics Co., Ltd. Apparatus for measuring fluorescent spectra of particles in a flow
DE4228366C2 (de) * 1992-08-26 1995-05-24 Rainer Dr Uhl Fluoreszenz-Meßvorrichtung
US5410371A (en) * 1993-06-07 1995-04-25 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Display system employing acoustro-optic tunable filter
DE4330347C2 (de) * 1993-09-08 1998-04-09 Leica Lasertechnik Verwendung einer Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls
DE19510102C1 (de) * 1995-03-20 1996-10-02 Rainer Dr Uhl Konfokales Fluoreszenzmikroskop
DE19627568A1 (de) * 1996-07-09 1998-01-15 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung und Verfahren zur konfokalen Mikroskopie

Cited By (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8047985B2 (en) 1998-08-27 2011-11-01 Optiscan Pty Ltd Compact confocal endoscope and endomicroscope method and apparatus
US6392794B1 (en) 1999-09-15 2002-05-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Laser scanning microscope
DE19944148C2 (de) * 1999-09-15 2003-08-21 Leica Microsystems Mikroskop
US6525812B1 (en) 1999-09-16 2003-02-25 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement for a laser scanning microscope
DE19944355B4 (de) * 1999-09-16 2004-11-18 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optische Anordnung
DE10004233A1 (de) * 2000-02-01 2001-08-16 Leica Microsystems Mikroskop-Aufbau
DE10004233B4 (de) * 2000-02-01 2005-02-17 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop-Aufbau
EP1122574A2 (de) * 2000-02-01 2001-08-08 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Mikroskop-Aufbau
EP1122574A3 (de) * 2000-02-01 2003-11-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Mikroskop-Aufbau
DE10016377B4 (de) * 2000-04-04 2009-01-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum Vereinigen von Licht
DE10027323B4 (de) * 2000-06-05 2013-09-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Generieren eines dreidimensionalen Objekts
US6888674B1 (en) 2000-06-17 2005-05-03 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Arrangement for examining microscopic preparations with a scanning microscope, and illumination device for a scanning microscope
JP2002048980A (ja) * 2000-06-17 2002-02-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh 走査顕微鏡
US7123408B2 (en) 2000-06-17 2006-10-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Arrangement for examining microscopic preparations with a scanning microscope, and illumination device for a scanning microscope
EP1164403A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop
EP1164400A1 (de) * 2000-06-17 2001-12-19 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
US6710918B2 (en) 2000-06-17 2004-03-23 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope
EP2045643A1 (de) 2000-06-17 2009-04-08 Leica Microsystems CMS GmbH Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
US6898367B2 (en) 2000-06-17 2005-05-24 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and instrument for microscopy
US7679822B2 (en) 2000-06-17 2010-03-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Broadband laser illumination device for a scanning microscope with output stabilization
US7110645B2 (en) 2000-06-17 2006-09-19 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and instrument for microscopy
EP1178345A1 (de) * 2000-08-02 2002-02-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Spektroskopische Anordnung in einem konfokalen Mikroskop
EP1255105A1 (de) * 2001-04-26 2002-11-06 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Verfahren zur Untersuchung einer Probe und Scanmikroskop
DE10123439A1 (de) * 2001-05-14 2002-11-21 Bernhard Trier Fluoreszenzmikroskop
EP1281997A3 (de) * 2001-07-30 2004-02-04 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop und optisches Element
DE10137155B4 (de) * 2001-07-30 2006-11-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und Scanmikroskop
DE10137158B4 (de) * 2001-07-30 2005-08-04 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop
US6958858B2 (en) 2001-07-30 2005-10-25 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for scanning microscopy; and scanning microscope
US6967764B2 (en) 2001-07-30 2005-11-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement and scan microscope
DE10137155A1 (de) * 2001-07-30 2003-02-27 Leica Microsystems Optische Anordnung und Scanmikroskop
US6850358B2 (en) 2001-07-30 2005-02-01 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and optical element
US7016101B2 (en) 2001-07-30 2006-03-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope and optical element
EP1281997A2 (de) * 2001-07-30 2003-02-05 Leica Microsystems Heidelberg GmbH Scanmikroskop und optisches Element
WO2003012516A1 (de) * 2001-07-30 2003-02-13 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optische anordnung und scanmikroskop
DE10150542B4 (de) * 2001-10-12 2007-03-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Fluoreszenzmikroskopie
US6806953B2 (en) 2001-10-12 2004-10-19 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for fluorescence microscopy, and fluorescence microscope
US6867899B2 (en) 2001-12-20 2005-03-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Microscope, flow cytometer, and method for examination of a specimen
US6977724B2 (en) 2002-03-23 2005-12-20 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method for spectral analysis, and scanning microscope
US7701632B2 (en) 2002-09-04 2010-04-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method and arrangement for changing the spectral composition and/or intensity of illumination light and/or specimen light in an adjustable manner
DE10241472B4 (de) * 2002-09-04 2019-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
DE10241472A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-25 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
US7092086B2 (en) 2002-09-19 2006-08-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Cars microscope and method for cars microscopy
US6867919B2 (en) 2002-10-10 2005-03-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement and microscope
DE10257120B4 (de) 2002-12-05 2020-01-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts
US7477380B2 (en) 2002-12-05 2009-01-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope comprising a confocal slit scanner for imaging an object
DE10302259B3 (de) * 2003-01-22 2004-06-03 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil
US7087891B2 (en) 2003-01-22 2006-08-08 Leica Mircosystems Heidelberg Gmbh Scanning microscope having an acoustooptical component
DE10313138B4 (de) * 2003-03-24 2007-11-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
DE10313138A1 (de) * 2003-03-24 2004-10-21 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
US7428043B2 (en) 2003-05-30 2008-09-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Apparatus for ascertaining the light power level of a light beam, and scanning microscope
DE10324478B3 (de) * 2003-05-30 2004-12-09 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
US7660035B2 (en) 2003-12-05 2010-02-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope
DE10356826B4 (de) 2003-12-05 2021-12-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop
DE102004030208B3 (de) * 2004-06-22 2005-12-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Auflichtmikroskop
EP1720052A1 (de) * 2005-05-03 2006-11-08 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Vorrichtung zur Steuerung von Lichtstrahlung
WO2008012000A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-scanning-mikroskop
US7999935B2 (en) 2006-11-28 2011-08-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Laser microscope with a physically separating beam splitter
DE102007028337B4 (de) * 2007-06-15 2019-08-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger
DE102007028337A1 (de) * 2007-06-15 2008-12-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger
EP2535756A1 (de) 2011-06-17 2012-12-19 Leica Microsystems CMS GmbH Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie
US9372334B2 (en) 2011-06-17 2016-06-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and method for fluorescence imaging microscopy
DE102011105181A1 (de) 2011-06-17 2012-12-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie
DE102012110749B4 (de) 2012-11-09 2023-03-02 Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg Messvorrichtung zur Messung optischer Eigenschaften eines Mediums
DE102012110749A1 (de) * 2012-11-09 2014-05-15 Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG Messvorrichtung zur Messung optischer Eigenschaften eines Mediums
US9658103B2 (en) 2012-11-09 2017-05-23 Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg Measuring apparatus for measuring the optical properties of a medium using a light source and light receiver as well as a dispersing element
WO2015032821A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und akustooptischer hauptstrahlteiler für ein scanmikroskop
US9933686B2 (en) 2013-09-03 2018-04-03 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanning microscope and acousto-optical main beam splitter for a scanning microscope
DE102013227103B4 (de) 2013-09-03 2018-05-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit einer akustooptischen Vorrichtung
DE102013227104B4 (de) 2013-09-03 2018-05-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und akustooptischer Hauptstrahlteiler für ein Scanmikroskop
US10132682B2 (en) 2013-09-03 2018-11-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope with an acousto-optical device
CN105723270A (zh) * 2013-09-03 2016-06-29 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 扫描显微镜以及用于扫描显微镜的声光主分束器
CN105723194A (zh) * 2013-09-03 2016-06-29 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 显微镜以及用于显微镜的声光合束器
CN105723270B (zh) * 2013-09-03 2019-10-22 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 扫描显微镜以及用于扫描显微镜的声光主分束器
WO2015032820A1 (de) * 2013-09-03 2015-03-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und akustooptischer strahlvereiniger für ein mikroskop
US10591356B2 (en) 2013-09-03 2020-03-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope and acousto-optic beam combiner for a microscope
DE102013227104A1 (de) 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und akustooptischer Hauptstrahlteiler für ein Scanmikroskop
DE102013227103A1 (de) 2013-09-03 2015-03-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit einer akustooptischen Vorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE19906757B4 (de) 2004-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19906757A1 (de) Optische Anordnung
EP1055144B1 (de) Optische anordnung mit spektral selektivem element
EP1058101B1 (de) Auswahl von Spektralbereichen durch eine Spiegelblende
DE19944355B4 (de) Optische Anordnung
DE102011106916B4 (de) Konfokales Auflicht-Rastermikroskop, Verfahren und Programm zum Betrieb eines solchen Mikroskops
DE19835072A1 (de) Anordnung zur Beleuchtung und/oder Detektion in einem Mikroskop
EP2904442B1 (de) Konfokales mikroskop mit frei einstellbarer probenabtastung
DE10137155B4 (de) Optische Anordnung und Scanmikroskop
WO2005024482A1 (de) Lichtquelle mit einem mikrostrukturierten optischen element
DE10038049A1 (de) Optische Anordnung zur Selektion und Detektion des Spektalbereichs eines Lichtstrahls
DE102009043745A1 (de) Spektraldetektor mit variabler Filterung durch räumliche Farbtrennung und Laser-Scanning- Mikroskop
EP1617268A2 (de) Lichtrastermikroskop mit einem Beleuchtungsmodul
DE102005020545A1 (de) Vorrichtung zur Steuerung von Lichtstrahlung
DE102007002583A1 (de) Optische Anordnung und Verfahren zum Steuern und Beeinflussen eines Lichtstrahls
EP3513235B1 (de) Lichtmikroskop
EP1591825B2 (de) Vorrichtung zur Einkopplung von Licht in einen Strahlengang eines Mikroskops
WO2009047189A2 (de) Fluoreszenzlichtmikroskopisches messen einer probe mit rotverschobenen stokes-linien
DE10227111B4 (de) Spektralmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop
EP3333611B1 (de) Optisches gerät mit mindestens einem spektral selektiven bauelement
DE10247247A1 (de) Optische Anordnung und Mikroskop
DE60001848T2 (de) Vorrichtung zur erzeugung spektroskopischer bilder
DE102006011277A1 (de) Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskopierverfahren
WO2008043459A2 (de) Anordnung zur aufteilung von detektionslicht
DE102004030208B3 (de) Auflichtmikroskop
EP3864446B1 (de) Bandpassfilter für licht mit variabler unterer und oberer grenzwellenlänge

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH, 68165 MANNHEIM

8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH, 35578 WETZLAR, DE

R071 Expiry of right