DE19906757A1 - Optische Anordnung - Google Patents
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Abstract
Eine optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13), ist zur variablen Ausgestaltung bei einfachster Konstruktion dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Element (4) Anregungslicht (3, 9) unterschiedlicher Wellenlänge ausblendbar ist. Alternativ ist eine solche optische Anordnung dadurch gekennzeichnet, daß das spektral selektive Element (4) auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist.
Description
Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluores
zenzanregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfo
kalen Laser-Scanning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Ele
ment zum Einkoppeln des Anregungslichts mindestens einer Lichtquelle in das Mi
kroskop und zum Ausblenden des am Objekt gestreuten und reflektierten Anre
gungslichts bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlen
gang vom Objekt kommenden Licht.
Sowohl bei der konventionellen wie auch bei der konfokalen Laser-Scanning-Mikro
skopie werden in den Strahlengang einer für Fluoreszenzanregung geeigneten
Lichtquelle Farbstrahlteiler mit einer ganz besonderen Transmissions- und Refle
xionscharakteristik verwendet. Dabei handelt es sich ganz überwiegend um dichroi
tische Strahlteiler. Mit einem solchen Element wird die Fluoreszenzanregungswel
lenlänge λill1 (bzw. λill2, λill3 λilln bei der Verwendung von mehreren Lasern) in den
Beleuchtungsstrahlengang reflektiert, um die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzu
regen und dann zusammen mit dem am Objekt gestreuten und reflektierten Anre
gungslicht den Strahlengang bis hin zum Farbstrahlteiler zu durchlaufen. Das Anre
gungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, λill3, . . ., λilln wird am Farbstrahlteiler zu
rück in den Laser reflektiert, nämlich aus dem Detektionsstrahlengang heraus. Das
Fluoreszenzlicht mit den Wellenlängen λfluo1, λfluo2, λfluo3, . . ., λfluon passiert den
Farbstrahlteiler und wird - gegebenenfalls nach weiterer spektraler Aufteilung -
detektiert.
Farbstrahlteiler sind üblicherweise durch ein Interferenzfilter realisiert und werden je
nach den verwendeten Wellenlängen für die Anregung bzw. für die Detektion gezielt
bedampft. An dieser Stelle sei angemerkt, daß gemäß voranstehender Beschrei
bung des Standes der Technik unter einem Dichroit ein Wellenlängen-separierbares
Element verstanden wird, welches das Licht unterschiedlicher Wellenlänge aufgrund
der Wellenlänge und nicht aufgrund der Polarisation trennt.
In der Praxis ist die Verwendung von Farbstrahlteilern zunächst einmal insoweit
nachteilig, als es sich hierbei um in der Herstellung aufwendige und daher teure op
tische Bausteine handelt. Des weiteren ist nachteilig, daß Farbstrahlteiler eine feste
Wellenlängencharakteristik aufweisen und daher nicht mit beliebiger Flexibilität hin
sichtlich der Wellenlänge des Anregungslichts verwendet werden können. Bei einem
Wechsel der Wellenlänge des Anregungslichts müssen auch die Farbstrahlteiler
ausgewechselt werden, so beispielsweise bei einer Anordnung mehrerer
Farbstrahlteiler in einem Filterrad. Dies ist abermals aufwendig und daher teuer und
erfordert im übrigen eine ganz besondere Justage der einzelnen Farbstrahlteiler.
Die Verwendung eines Farbstrahlteilers bringt den weiteren Nachteil mit sich, daß
durch Reflexion bedingte Lichtverluste auftreten, insbesondere Lichtverluste von
Fluoreszenzlicht, welches gerade detektiert werden soll. Der spektrale Transmissi
ons-/Reflexionsbereich ist bei Farbstrahlteilern recht breit (λill ± 20 nm) und keines
wegs ideal "steil". Folglich läßt sich das Fluoreszenzlicht aus diesem spektralen Be
reich nicht ideal detektieren.
Bei Verwendung von Farbstrahlteilern ist die Anzahl der gleichzeitig einkoppelbaren
Laser begrenzt, nämlich beispielsweise auf die Anzahl der in einem Filterrad ange
ordneten und kombinierbaren Farbstrahlteiler. Üblicherweise werden maximal drei
Laser in den Strahlengang eingekoppelt. Wie bereits zuvor ausgeführt, müssen
sämtliche Farbstrahlteiler, also auch die in einem Filterrad angeordneten
Farbstrahlteiler, exakt justiert werden, was einen ganz erheblichen Aufwand in der
Handhabung mit sich bringt Alternativ können geeignete Neutralstrahlteiler einge
setzt werden, die das Fluoreszenzlicht gemeinsam mit dem am Objekt gestreu
ten/reflektierten Anregungslicht effizient zum Detektor leiten. Die Verluste bei der
Lasereinkopplung sind dabei jedoch erheblich.
Zur Dokumentation des Standes der Technik wird lediglich beispielhaft auf die DE 196 27 568 A1
verwiesen, die eine optische Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
zeigt. Dabei handelt es sich im Konkreten um eine Anordnung zur zeitgleichen kon
fokalen Beleuchtung einer Objektebene mit einer Vielzahl geeignet divergierender
Leuchtpunkte sowie zugehörigen Abbildungsgliedern und einer Vielzahl von Pinho
les zur konfokalen kontrastreichen Abbildung in einem Beobachtungsgerät, wobei es
sich dabei um ein Mikroskop handeln kann. Die Einkopplung mehrerer Lichtquellen
erfolgt dort über ein diffraktives Element. Mehrere optische Teilerelemente bzw.
Farbstrahlteiler sind im Detektionsstrahlengang angeordnet, wodurch sich ein ganz
erheblicher apparativer Aufwand ergibt.
Hinsichtlich der Verwendung aktiver optischer Elemente im Strahlengang eines La
ser-Scanning-Mikroskops wird ergänzend auf die US 4,827,125 und die US
5,410,371 verwiesen, wobei diese Druckschriften die grundsätzliche Verwendung
eines AOD (Acousto-Optical-Deflector) und eines AOTF (Acousto-Optical-Tunable-
Filter) zeigen, und zwar stets mit dem Zweck, einen Strahl abzulenken oder abzu
schwächen.
Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine optische Anord
nung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Lichtquelle, vor
zugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, derart
auszugestalten und weiterzubilden, daß das Einkoppeln des Anregungslichts unter
schiedlicher Anregungswellenlänge möglich ist, ohne bei einem Wechsel der Wel
lenlänge des Anregungslichts einen Wechsel oder eine besondere Justage der dort
verwendeten optischen Elemente vornehmen zu müssen. Des weiteren soll die An
zahl der erforderlichen optischen Elemente weitestmöglich reduziert sein. Schließlich
soll eine ideale Detektion des Fluoreszenzlichts möglich sein.
Die erfindungsgemäße optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenz
anregung geeigneten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen
Laser-Scanning-Mikroskops, löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale
der nebengeordneten Patentansprüche 1 und 2. Danach ist eine gattungsgemäße
optische Anordnung dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Ele
ment Anregungslicht unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar sowie entspre
chend einkoppelbar ist. Alternativ ist die optische Anordnung dadurch gekennzeich
net, daß das spektral selektive Element auf die auszublendende Anregungswellen
länge einstellbar ist.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, daß man im Strahlengang einer zur Fluores
zenzanregung geeigneten Lichtquelle, insbesondere im Strahlengang eines konfo
kalen Laser-Scanning-Mikroskops, den dort bislang verwendeten Farbstrahlteiler
durch ein ganz besonderes spektral selektives Element ersetzen kann, nämlich
durch ein spektral selektives Element, welches geeignet ist, Anregungslicht unter
schiedlicher Wellenlängen auszublenden oder einzublenden bzw. einzukoppeln.
Dieses spektral selektive Element dient einerseits zum Einkoppeln des Anregungs
lichts mindestens einer Lichtquelle in das Mikroskop und andererseits zum Ausblen
den des am Objekt gestreuten und reflektierten Anregungslichts bzw. der entspre
chenden Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang vom
Objekt kommenden Licht. Insoweit kommt dem spektral selektiven Element eine
Doppelfunktion zu, wobei beide Funktionen quasi zwangsgekoppelt sind.
Alternativ zu der Fähigkeit des spektral selektiven Elements, Anregungslicht unter
schiedlicher Wellenlängen ausblenden zu können, ist das spektral selektive Element
auf die jeweils einzublendende oder auszublendende Anregungswellenlänge ein
stellbar ist. Auch insoweit ist aufgrund der voranstehend geschilderten Doppelfunk
tion eine Zwangskopplung auf einfache Weise gewährleistet, nämlich dadurch, daß
mit Hilfe des spektral selektiven Elements das Anregungslicht in den Beleuchtungs
strahlengang einkoppelbar und daß exakt die Wellenlänge des Anregungslichts,
nämlich die Anregungswellenlänge, aufgrund der hier vorgesehenen Einstellbarkeit
aus dem über den Detektionsstrahlengang vom Objekt kommenden Licht ausblend
bar ist, so daß zur Detektion das vom Objekt kommende Detektionslicht (=Fluores
zenzlicht) verbleibt.
In vorteilhafter Weise kann es sich bei dem spektral selektiven Element - zur Be
günstigung der voranstehend erörterten Doppelfunktion - um ein passives Element
bzw. Bauteil handeln. Dazu könnte das spektral selektive Element als transparentes
optisches Gitter oder als holographisches Element ausgeführt sein. Ebenso ist es
denkbar, das spektral selektive Element als passiven AOD (Acousto-Optical-Deflec
tor) oder als passiven AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) auszuführen.
In ganz besonders vorteilhafter Weise, nämlich zur konkreten Realisierung der Ein
stellbarkeit des spektral selektiven Elements auf die auszublendende Anregungs
wellenlänge, kann es sich bei dem spektral selektiven Element um ein aktives Bau
teil handeln, so bspw. um ein akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitendes Ele
ment. Im Konkreten kommt hier als spektral selektives Element ein AOD (Acousto-
Optical-Deflector) oder ein AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) in Frage.
Anstelle des im Stand der Technik üblichen Farbstrahlteilers wird hier ein aktives
spektral selektives Element verwendet, so beispielsweise ein AOD oder ein AOTF.
Die Aufgabe dieser aktiven Bauteile besteht darin, das Anregungslicht der Licht
quelle bzw. des Lasers oder der Laser λill1, λil12, λill3, . . ., λilln in den Beleuchtstrah
lengang und somit in das Mikroskop einzukoppeln, um danach per Beam-Scanning
die Fluoreszenzverteilung im Objekt anzuregen. Bei der Detektion kann das vom
Objekt kommende Fluoreszenzlicht nahezu ungestört das aktive spektral selektive
Element passieren. Dabei wird das vom Objekt gestreute oder reflektierte Licht mit
den Anregungswellenlängen der Lichtquelle bzw. des Lasers oder der Laser aus
dem Detektionsstrahlengang weitgehend herausreflektiert.
Zur Einkopplung einer Lichtquelle bzw. eines Lasers oder mehrerer Laser mit ver
schiedenen Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln kann ein AOD mit entsprechenden Fre
quenzen ν1, ν2, . . ., νn vorzugsweise simultan beschaltet werden, so daß die ver
schiedenen Laserstrahlen nach dem Durchgang durch den AOD koaxial mit der op
tischen Achse verlaufen. Hinsichtlich der Verwendung des AOD ist wesentlich, daß
dort eine Frequenz νn eine Wellenlänge λilln selektiert, die aus dem eigentlichen
Strahlengang abgelenkt wird. Der Ablenkungswinkel Φ ist dabei durch die Formel
Φ = λilln νn/2f
definiert, wobei f die Ausbreitungsgeschwindigkeit der Schallwelle im AOD ist. Das
zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer spektralen Verteilung um die Wellenlän
gen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon zusammen mit dem am Objekt gestreuten bzw. reflektierten
Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln durchläuft nun den AOD in
umgekehrter Richtung. Jedoch wird gemäß der Umkehrbarkeit des Lichtwegs das
Anregungslicht mit den Wellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln wegen der spezifischen Ein
stellung des AOD aus dem Detektionsstrahlengang in Richtung des Lasers abge
lenkt (1. Ordnung). Somit kann das "spektral verbleibenden Fluoreszenzlicht um die
Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon - verglichen mit einem herkömmlichen Farbstrahl
teiler - auf verbesserte Weise detektiert werden (0. Ordnung). Dadurch läßt sich je
denfalls die Justage der Einkopplung unterschiedlicher Laser einfacher als im Stand
der Technik (dort unter Anwendung herkömmlicher Farbstrahlteiler in einem Filter
rad) vornehmen.
In weiter vorteilhafter Weise könnte ein Nachschalten weiterer AOTF die einzelnen
Wellenlängen in ihrer Leistung nach der Strahlzusammenführung selektiv regeln.
Zur Einkopplung einer Laserlichtquelle mit verschiedenen Wellenlängen λfill1, λfill2, . . .,
λfilln kann ein AOTF mit entsprechenden Frequenzen ν1, ν2, . . ., νn simultan geschal
tet sein, so daß die verschiedenen Wellenlängen in ihrer Anregungsleistung variie
ren und auf die Anwendung hin optimierbar sind. Die Zuführung des Laserlichts kann
mittels Lichtleitfaser erfolgen.
Jedenfalls wird die Lichtquelle bzw. der Laser koaxial aus der Richtung der 1. Ord
nung des Kristalls eingekoppelt. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht mit einer
spektralen Verteilung um die Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . ., λfluon gemeinsam mit dem
am Objekt gestreuten bzw. reflektierten Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1,
λfill2, . . ., λfilln durchlaufen nun den AOTF in umgekehrte Richtung. Gemäß der Um
kehrbarkeit des Lichtwegs wird das Anregungslicht mit den Wellenlängen λfill1, λfill2, . . .,
λfilln wegen der spezifischen Einstellung des AOTF aus dem Detektionsstrahlen
gang in Richtung der Lichtquelle bzw. des Lasers abgelenkt. Somit kann auch hier
bei das "spektral verbleibende" Fluoreszenzlicht um die Wellenlängen λfluo1, λfluo2, . . .,
λfluon in einer - verglichen zum herkömmlichen Farbstrahlteiler - verbesserten Weise
detektiert werden (0. Ordnung).
Sowohl unter Verwendung eines AOD oder AOTF als auch unter Verwendung eines
transparenten Gitters wird sich das Fluoreszenzlicht nach dem Durchgang durch das
jeweilige aktive Element aufgrund der auftretenden Dispersion spektral auffächern.
Insoweit ist es von Vorteil, ein oder mehrere entsprechende "inversell Elemente
nachzuschalten, so daß die ungewünschte spektrale Auffächerung wieder rückgän
gig gemacht wird. Auch ist es denkbar, weitere optische Elemente zur Fokussierung
oder zum Ausblenden unerwünschter Strahlanteile dem jeweiligen Element (AOD,
AOTF oder transparentes Gitter) vor- bzw. nachzuschalten. Der dadurch wiederver
einigte Detektionsstrahl kann dann in herkömmlicher Weise durch nachgeschaltete
Farbstrahlteiler spektral zerlegt und auf die verschiedenen Detektoren abgebildet
werden.
Grundsätzlich ist eine Anordnung im Sinne eines "Multibanddetektor" denkbar.
Hierzu wird auf die Patentanmeldung DE 43 30 347.1-42 verwiesen, deren Inhalt
hier ausdrücklich hinzugezogen und insoweit als bekannt vorausgesetzt wird. Zwi
schen der Scan-Einheit und dem AOD bzw. dem transparenten Gitter (bei mehreren
Lichtquellen bzw. Lasern mehrerer Wellenlängen) bzw. dem AOTF (bei einer Licht
quelle bzw. einem Laser mit verschiedenen Wellenlängen) ist das Anregungs-
Pinhole angeordnet, wobei dieses identisch mit dem Detektions-Pinhole ist. In vor
teilhafter Weise wird dabei die Eigenschaft des Kristalls, den Lichtstrahl der 0. Ord
nung durch den Prismeneffekt spektral aufzufächern, zur Detektion genutzt. Das
dispersive Element des Multibanddetektors ist dabei mit dem Farbstrahlteiler zu
einem Bauteil vereinigt, wodurch alle weiteren, dem herkömmlichen Detektions
strahlengang nachgeordneten und mit weiteren Verlusten in der Fluoreszenzinten
sität behafteten Farbstrahlteiler entfallen.
In ganz besonders vorteilhafter Weise kann die voranstehend erörterte Technik in
Kombination mit einer in der Wellenlänge variabel durchstimmbaren Laserlichtquelle -
z. B. Farbstofflaser, OPO (optisch parametrisierter Oszillator), Elektronenstrahlkolli
sionslichtquelle - äußerst flexible Fluoreszenzmikroskopie-Anwendungen ermögli
chen. Die Einstellung bzw. Kontrolle der Anregungswellenlänge kann direkt mit der
Ansteuereinheit eines der zuvor beschriebenen spektral selektiven Elemente gekop
pelt sein, so daß nur diese Anregungswellenlänge koaxial in den Anregungsstrah
lengang des Mikroskops eingekoppelt und wiederum nur diese Wellenlänge aus
dem Detektionsstrahlengang ausgeblendet wird. Die Kopplung bzw. Zwangskopp
lung der Lichtquelle mit dem strahlteilenden Element kann entweder manuell oder
automatisch oder gar nach einer vorgebbaren Vorschrift erfolgen, wobei diese Mög
lichkeit dem jeweiligen Anforderungsprofil anzupassen ist. Beispielsweise kann nach
jeder gescannten Bildebene die Anregungswellenlänge sowie der Strahlteiler in ge
eigneter Weise verändert werden. Somit lassen sich Mehrfarbenfluoreszenzobjekte
detektieren. Eine zeilenweise Umschaltung ist ebenso denkbar.
Zusammenfassend lassen sich die Vorteile der erfindungsgemäßen Lehre nebst
vorteilhafter Ausgestaltung wie folgt zusammenfassen:
Die spektral selektiven Elemente sind für alle Wellenlängen außer für die selektier
ten Anregungswellenlängen λill1, λill2, . . ., λilln "transparent". Der "spektrale Verlust" ist
minimal, da vom spektral selektiven Element nur der selektierte spektrale Bereich
von typischerweise λilln ± 2 nm abgelenkt wird. Dadurch wird der spektrale Bereich
für die Detektion vergrößert. Somit können nahezu beliebig viele unterschiedliche
Wellenlängenbereiche simultan eingekoppelt und genutzt werden. Die spektral "ver
lorene Fluoreszenzintensität", die durch die spektral selektiven Elemente bedingt ist,
ist geringer als bei herkömmlichen Farbstrahlteilern. Mit anderen Worten liegen hier
reduzierte Intensitätsverluste im interessierenden Bereich vor. Die aktiven spektral
selektiven Elemente sind flexibel einstellbar, so daß prinzipiell beliebig viele Licht
quellen bzw. Laser mit unterschiedlichen Wellenlängen auch simultan in das Mikro
skop einkoppelbar sind. Dies ermöglicht die verbesserte Anwendung bei Multi-Color
FISH (Fluoreszenz-in-situ-Hybridisierung). Folglich ist dann nur noch eine Limitie
rung der spektralen Aufspaltung des Fluoreszenzlichts, bspw. durch "Cross-Talk",
gegeben. Herkömmliche Sperrfilter können komplett entfallen, so daß weitere Verlu
ste von Fluoreszenzlicht in der Detektion vermieden sind.
Schließlich ist es auch denkbar, daß ein anderes aktives holographisches Element
dem spektral selektiven Element nachgeschaltet ist und dabei die Aufgabe des
Strahlscanners ausübt. Beide Elemente können zu einem einzigen Bauteil zusam
mengefaßt sein.
Grundsätzlich lassen sich unterschiedliche Lichtquellen verwenden, solange sie zur
Fluoreszenzanregung geeignet sind. So kommt bspw. eine Weißlichtquelle, eine
Lichtquelle zur Verwendung eines optisch parametrisierten Oszillators, eine Elektro
nenstrahlkollisionslichtquelle oder eine Laserlichtquelle in Frage, wobei die Laser
lichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar sein kann. Laserlichtquellen
mit verschiedenen Wellenlängen oder eine mehrere Laser umfassende Lichtquelle
ist bzw. sind verwendbar.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in
vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die
den Patentansprüchen 1 und 2 nachgeordneten Patentansprüche, andererseits auf
die nachfolgende Erläuterung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung an
hand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzug
ten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im all
gemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In
der Zeichnung zeigen
Fig. 1 in einer schematischen Darstellung eine gattungsbildende opti
sche Anordnung im Strahlengang eines konfokalen Laser-
Scanning-Mikroskops zur Dokumentation des der Erfindung zu
grundeliegenden Standes der Technik,
Fig. 2 in einer schematischen Darstellung ein erstes Ausführungsbei
spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen
gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort
ein Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen
einkoppelbar ist,
Fig. 3 in einer schematischen Darstellung ein zweites Ausführungsbei
spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen
gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort
drei Laser mit unterschiedlichen Anregungswellenlängen einkop
pelbar sind,
Fig. 4 in einer schematischen Darstellung ein drittes Ausführungsbei
spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung im Strahlen
gang eines konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops, wobei dort
die Einkopplung von drei Laserlichtquellen über ein transparentes
Gitter erfolgt,
Fig. 5 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Be
leuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dem
aktiven spektral selektiven Element zur Strahlzusammenführung
dienende Mittel nachgeschaltet sind,
Fig. 6 in schematischer Darstellung, vergrößert und teilweise, den Be
leuchtungsstrahlengang und Detektionsstrahlengang, wobei dort
eine Dispersionskorrektur erfolgt,
Fig. 7 in einer schematischen Darstellung die prinzipielle Funktionsweise
eines AOD oder AOTF,
Fig. 8 in einer schematischen Darstellung ein weiteres Ausführungsbei
spiel einer erfindungsgemäßen optischen Anordnung, wobei dort
eine zusätzliche spektrale Auffächerung vor einem Multibandde
tektor stattfindet und
Fig. 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel aus
Fig. 8, wobei dort im Detektionsstrahlengang vor dem Multiband
detektor ein variables Spaltfilter angeordnet ist.
Fig. 1 dokumentiert den Stand der Technik und zeigt dabei eine herkömmliche opti
sche Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigneten Licht
quelle, wobei es sich hier um eine optische Anordnung im Strahlengang eines kon
fokalen Laser-Scanning-Mikroskops handelt. Der Laserscanner 1 ist dabei lediglich
symbolisch dargestellt. Bei der den Stand der Technik betreffenden Darstellung sind
als Lichtquellen insgesamt drei Laser 2 vorgesehen, die mit ihrem Anregungslicht 3
über spektral selektive Elemente 4 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikro
skops einkoppeln. Bei den spektral selektiven Elementen 4 handelt es sich im Kon
kreten um einen Spiegel 6 sowie um Farbstrahlteiler 7. Jedenfalls wird das Anre
gungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 eingekoppelt und gelangt über ei
nen weiteren Spiegel 8 als Anregungslicht 9 zum Laserscanner 1.
Das von dem ebenfalls lediglich symbolisch dargestellten Objekt 10 zurückkom
mende Licht - hier handelt es sich um das am Objekt gestreute und reflektierte An
regungslicht 9 einerseits und um das vom Objekt 10 ausgesandte Fluoreszenzlicht
11 - gelangt über den Spiegel 8 zu dem spektral selektiven Element 4, wobei es
sich hier um den Farbstrahlteiler 7 handelt. Von dort aus wird das Anregungslicht 9
bzw. die Anregungswellenlänge aus dem über den Detektionsstrahlengang 12 vom
Objekt 10 kommenden Licht 13 ausgeblendet und gelangt als zurückkommendes
Anregungslicht 9 zurück zu den Lasern 2. Das durch den Farbstrahlteiler 7 nicht ab
gelenkte Detektionslicht 14 gelangt unmittelbar zu dem Detektor 15.
Erfindungsgemäß ist durch das spektral selektive Element 4 zurückkommendes An
regungslicht 3 unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar. Dies ist insbesondere in
Fig. 4 dargestellt.
Alternativ - in ebenfalls erfindungsgemäßer Weise - ist das spektral selektive Ele
ment 4 auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar. Dies läßt sich
den Ausführungsbeispielen aus den Fig. 2, 3 und 8, 9 besonders gut entnehmen.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist lediglich ein Laser 2 vorgese
hen, dessen Anregungslicht 3 unterschiedliche Wellenlängen aufweisen kann. Je
denfalls gelangt das Anregungslicht 3 über einen Spiegel 6 und über ein zusätzli
ches optisches Element, nämlich über eine Linse 16 zu einem AOTF 17, der als
spektral selektives Element arbeitet. Von dort aus gelangt das Anregungslicht 3 wie
derum über ein zusätzliches optisches Element - im hier gewählten Ausführungsbei
spiel eine Linse 18 - und über einen Spiegel 8 zum Laserscanner 1. Vom Objekt 10
reflektiert, gelangt das zurückkommende Licht - reflektiertes Anregungslicht 9 und
Detektionslicht 11 - über den Spiegel 8 und die Linse 18 zurück in den AOTF 17
und wird dort entsprechend der Beschaltung des AOTF 17 teilweise ausgeblendet.
Im Konkreten wird nämlich das Detektionslicht bzw. Fluoreszenzlicht 11 über den
Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15 geführt (0. Ordnung). Das zurückkom
mende Anregungslicht 9 wird dagegen über die Linse 16 und den Spiegel 6 zurück
zum Laser 2 geführt und ist somit aus dem Detektionsstrahlengang 12 ausgeblen
det.
Ähnlich verhält es sich bei dem in Fig. 3 gezeigten Ausführungsbeispiel, wobei dort
gleichzeitig drei Laser 2 über zusätzliche optische Elemente, hier Linsen 16, ihr An
regungslicht 3 über ein AOD 19, eine weitere nachgeschaltete Linse 18 und einen
Spiegel 8 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 ein koppeln. Von dort aus gelangt das
Anregungslicht 3 zum Laserscanner 1 und zum Objekt 10.
Das vom Objekt kommende Licht 13 umfaßt bei dem voranstehend genannten Aus
führungsbeispiel Fluoreszenzlicht 11 und zurückkommendes Anregungslicht 9, wo
bei dort der AOD 19 das zurückkommende Fluoreszenzlicht als Detektionslicht 14 zu
dem Detektor 15 führt. Das zurückkommende Anregungslicht 9 wird ausgeblendet
und gelangt über Linsen 16 zu den jeweiligen Lasern 2.
Das in Fig. 4 gezeigte Ausführungsbeispiel umfaßt als spektral selektives Element 4
ein transparentes Gitter 20, wobei über das transparente Gitter 20 gleichzeitig drei
Laser 2 ihr Anregungslicht 3 in den Beleuchtungsstrahlengang 5 des Mikroskops
einkoppeln. Wesentlich ist hier jedenfalls, daß das transparente Gitter 20 das vom
Objekt 10 zurückkommende Anregungslicht 9 aus dem Detektionsstrahlengang aus
blendet, so daß dieses Licht zurück zu den Lasern 2 gelangt. Das zu detektierende
Fluoreszenzlicht 11 gelangt über den Detektionsstrahlengang 12 zum Detektor 15.
Fig. 5 zeigt die Möglichkeit einer Dispersionskorrektur, wobei das vom Objekt zu
rückkommende Licht 13 in den AOTF 17 oder AOD 19 gelangt. Dort wird das zurück
kommende Detektionslicht 14 - zwangsweise - spektral aufgefächert und über
nachgeschaltete Elemente - AOD/AOTF - parallelisiert und schließlich konvergiert.
Das spektral vereinigte Detektionslicht 14 gelangt von dort zu dem in Fig. 5 nicht
gezeigten Detektor 15.
Bei der in Fig. 6 gezeigten Dispersionskorrektur wird das vom Objekt kommende
Licht 13 mittels AOD 17/AOTF 19 aufgefächert, wobei das aufgefächerte Detekti
onslicht 14 über ein weiteres passives spektral selektives Element 4 - AOTF 17 oder
AOD 19 - über eine Linse 21 mit Feldkorrektur konvertiert und durch ein Detektions
pinhole 22 oder durch einen Detektionsspalt zum Detektor 15 gelangt.
Gemäß der Darstellung in Fig. 7 handelt es sich bei dem spektral selektiven Element
4 um ein AOTF 17 oder ein AOD 19, wobei diese Elemente einen speziellen Kristall
mit dispersionsfreier 0. Ordnung umfassen. Dieser Kristall bzw. dieses spektral se
lektive Element wird über ein Piezoelement 23 angeregt bzw. beaufschlagt. Fig. 7
zeigt besonders deutlich, daß das vom Objekt kommende Licht 13 in dem AOTF 17
bzw. AOD 19 aufgespalten wird, wobei das Detektionslicht 14 als dispersionsfreies
Licht 0. Ordnung ungehindert durch den Kristall läuft. Das vom Objekt zurückkom
mende Anregungslicht 9 wird dagegen als Licht 1. Ordnung abgelenkt und zurück zu
den hier nicht gezeigten Lasern geführt.
Fig. 8 zeigt eine spezielle Detektion unter Ausnutzung der spektralen Auffächerung
des spektral selektiven Elements 4, wobei hier im Konkreten ein AOTF 17 verwendet
ist. Das vom Objekt 10 kommende Licht 13 wird im AOTF 17 spektral aufgespalten,
wobei das Detektionslicht 14 über eine Linse 16 und einen Spiegel 6 zu einem Mul
tibanddetektor 24 bzw. Spektrometer gelangt. Der Spiegel 6 führt zu einer Verlänge
rung der Strecke, so daß eine Auffächerung des zurückkommenden Detektionslichts
14 bis hin zum Multibanddetektor 24 begünstigt wird.
Das im AOTF 17 ausgeblendete Anregungslicht 9 gelangt über die Linse 16 und den
Spiegel 8 zurück zum Laser 2.
Schließlich zeigt Fig. 9 in einer schematischen Darstellung das Ausführungsbeispiel
aus Fig. 8, wobei dort - in Ergänzung - im Detektionsstrahlengang vor dem Multi
banddetektor 24 ein variables Spaltfilter 25 angeordnet ist. Dieses Spaltfilter 25 ist
im Detektionsstrahlengang 12 unmittelbar vor dem Detektor 15 angeordnet und im
Detektionsstrahlengang positionierbar. Desweiteren ist der Spalt 26 des Spaltfilters
25 variabel, so daß auch insoweit eine spektrale Selektion des Detektionslichts 14
möglich ist.
Hinsichtlich weiterer Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Lehre, die den Figu
ren nicht zu entnehmen sind, wird zur Vermeidung von Wiederholungen auf den all
gemeinen Teil der Beschreibung und die dort geschilderte Funktionsweise der Lehre
und der vorteilhaften Ausgestaltungen verwiesen.
1
Laserscanner
2
Laser (Lichtquelle)
3
Anregungslicht
4
spektral selektives Element
5
Beleuchtungsstrahlengang
6
Spiegel
7
Farbstrahlteiler
8
Spiegel
9
Anregungs- und Detektionslicht
10
Objekt
11
Fluoreszenzlicht (Detektionslicht)
12
Detektionsstrahlengang
13
(vom Objekt kommendes) Licht
14
Detektionslicht (nicht abgelenktes
Detektionslicht)
15
Detektor
16
Linse
17
AOTF
18
Linse
19
AOD
20
transparentes Gitter
21
Linse (mit Feldkorrektur)
22
Detektions-Pinhole
23
Piezoelement
24
Multibanddetektor (Spektrometer)
25
(variables) Spaltfilter
26
Spalt (von
25
)
Claims (48)
1. Optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigne
ten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scan
ning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum
Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das
Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und reflektierten
Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den Detek
tionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13),
dadurch gekennzeichnet, daß durch das spektral selektive Element
(4) Anregungslicht (3, 9) unterschiedlicher Wellenlängen ausblendbar ist.
2. Optische Anordnung im Strahlengang einer zur Fluoreszenzanregung geeigne
ten Lichtquelle, vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Laser-Scan
ning-Mikroskops, mit mindestens einem spektral selektiven Element (4) zum
Einkoppeln des Anregungslichts (3) mindestens einer Lichtquelle (2) in das
Mikroskop und zum Ausblenden des am Objekt (10) gestreuten und reflektier
ten Anregungslichts (3) bzw. der Anregungswellenlänge aus dem über den
Detektionsstrahlengang (12) vom Objekt (10) kommenden Licht (13),
dadurch gekennzeichnet, daß das spektral selektive Element (4)
auf die auszublendende Anregungswellenlänge einstellbar ist.
3. Optische Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei
dem spektral selektiven Element (4) um ein passives Bauteil handelt.
4. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) als transparentes optisches Gitter (20) ausgeführt ist.
5. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) als holographisches Element ausgeführt ist.
6. Optische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) als passives AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19)
oder passives AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) ausgeführt ist.
7. Optische Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es
sich bei dem spektral selektiven Element (4) um ein aktives Bauteil handelt.
8. Optische Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) akustooptisch und/oder elektrooptisch arbeitet.
9. Optische Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) als AOD (Acousto-Optical-Deflector) (19) ausgeführt
ist.
10. Optische Anordnung nach Anspruch 9, wobei mehrere Lichtquellen mit unter
schiedlichen Wellenlängen einkoppelbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß das
AOD (19) mit entsprechenden Frequenzen vorzugsweise simultan beschaltet ist,
so daß die verschiedenen Lichtstrahlen nach dem Durchgang des AOD (19)
koaxial mit der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs (5) sind.
11. Optische Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das spek
tral selektive Element (4) als AOTF (Acousto-Optical-Tunable-Filter) (17) aus
geführt ist.
12. Optische Anordnung nach Anspruch 11, wobei eine Lichtquelle mit unterschied
lichen Wellenlängen einkoppelbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß das AOTF
(17) mit entsprechenden Frequenzen simultan beschaltbar ist.
13. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß das spektral selektive Element (4) derart konstruiert ist, daß eine
spektrale Auffächerung des Detektionslichts (11) zumindest weitgehend vermie
den ist.
14. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekenn
zeichnet, daß zur leistungsspezifischen Regelung einzelner Wellenlängen dem
spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres aktives bzw. spektral
selektives Element nachgeschaltet ist.
15. Optische Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei
dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOD (19) handelt.
16. Optische Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei
dem weiteren spektral selektiven Element um ein AOTF (17) handelt.
17. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 16, wobei das spektral
selektive Element (4) eine Ansteuereinheit umfaßt, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einstellung/Kontrolle der Anregungswellenlänge mit der Ansteuereinheit
zwangsgekoppelt ist, so daß nur diese Anregungswellenlänge vorzugsweise
koaxial in den Beleuchtungsstrahlengang (5) des Mikroskops einkoppelbar ist
und ausschließlich diese Wellenlänge aus dem Detektionsstrahlengang (12)
ausblendbar ist.
18. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Ansteuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven
Element (4) manuell oder automatisch erfolgt.
19. Optische Anordnung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die An
steuerung der Lichtquelle (2) mit dem spektral selektiven Element (4) nach einer
frei definierbaren Vorschrift erfolgt.
20. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekenn
zeichnet, daß dem spektral selektiven Element (4) mindestens ein weiteres opti
sches Element vor- und/oder nachgeschaltet ist.
21. Optische Anordnung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß ein im
Beleuchtungsstrahlengang (5) dem spektral selektiven Element (4) nachge
schaltetes aktives holographisches Element als Strahlscanner dient.
22. Optische Anordnung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß das
spektral selektive Element (4) und das nachgeschaltete holographische Element
zu einem funktionalen Baustein vereint sind.
23. Optische Anordnung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß es sich
bei dem weiteren optischen Element um ein Strahlanpassungsmittel bzw. um ein
Mittel zur Kompensation der durch das spektral selektive Element (4) verur
sachten spektralen Auffächerung handelt.
24. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das
Strahlanpassungsmittel als Linse (16) ausgeführt ist.
25. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das
Strahlanpassungsmittel als Prisma ausgeführt ist.
26. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das
Strahlanpassungsmittel als Blende, vorzugsweise als Lochblende oder Schlitz
blende, ausgeführt ist.
27. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das
Strahlanpassungsmittel als Filter, vorzugsweise als Sperrfilter, ausgeführt ist.
28. Optische Anordnung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß das Filter
unmittelbar vor dem Detektor (15) angeordnet ist.
29. Optische Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß das
Strahlanpassungsmittel als Fokussiermittel ausgeführt ist.
30. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 29, dadurch gekenn
zeichnet, daß als weiteres optisches Element ein Farbstrahlteiler zur weiteren
spektralen Zerlegung vorgesehen ist.
31. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 30, dadurch gekenn
zeichnet, daß als weiteres optisches Element mindestens ein AOTF (17) vorge
sehen ist.
32. Optische Anordnung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß das
AOTF (17) als passives Element verwendbar ist.
33. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 32, dadurch gekenn
zeichnet, daß Kombinationen weiterer optischer Elemente vorgesehen sind.
34. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 33, dadurch gekenn
zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12) Mittel zur Mehrfachreflexion an
geordnet sind, die eine Winkelvergrößerung der Auffächerung des Detektions
strahls herbeiführen.
35. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 34, dadurch gekenn
zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12), vorzugsweise unmittelbar vor
dem Detektor (15), ein Spaltfilter (25) angeordnet ist.
36. Optische Anordnung nach Anspruch 35, dadurch gekennzeichnet, daß das
Spaltfilter (25) im Detektionsstrahlengang (12) positionierbar ist.
37. Optische Anordnung nach Anspruch 35 oder 36, dadurch gekennzeichnet, daß
der Spalt (26) des Spaltfilters (25) variabel ist.
38. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 37, dadurch gekenn
zeichnet, daß im Detektionsstrahlengang (12) nach dem spektral selektiven
Element (4) ein Spektrometer zur Detektion der spektralen Auffächerung ange
ordnet ist.
39. Optische Anordnung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, daß der
Spektrometer als Multibanddetektor (24) ausgeführt ist.
40. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 39, dadurch gekenn
zeichnet, daß die ausgeblendeten Anregungswellenlängen in Richtung der
Lichtquellen (2) aus dem Detektionsstrahlengang (12) abgelenkt werden.
41. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Weißlichtquelle ausgeführt ist.
42. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als optisch parametrisierter Oszillator (OPO)
ausgeführt ist.
43. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Elektronenstrahlkollisionslichtquelle ausge
führt ist.
44. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 40, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Lichtquelle (2) als Laserlichtquelle ausgeführt ist.
45. Optische Anordnung nach Anspruch 44, dadurch gekennzeichnet, daß die La
serlichtquelle in der Wellenlänge variabel durchstimmbar ist.
46. Optische Anordnung nach Anspruch 44 oder 45, dadurch gekennzeichnet, daß
die Laserlichtquelle einen Laser mit verschiedenen Wellenlängen umfaßt.
47. Optische Anordnung nach Anspruch 44, dadurch gekennzeichnet, daß die
Lichtquelle mehrere Laser (2) mit unterschiedlichen Wellenlängen umfaßt.
48. Optische Anordnung nach einem der Ansprüche 44 bis 47, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Laser (2) als Farbstofflaser ausgeführt ist.
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE19906757B4 (de) | 2004-07-15 |
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8127 | New person/name/address of the applicant |
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|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
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