DE19847617C2 - Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Länge des Lichtleiters - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Länge des LichtleitersInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Länge eines
Lichtleiters.
Lichtleiter werden in der Kommunikationstechnik zunehmend zur Signal- bzw. Datenüber
tragung eingesetzt. Ein wachsendes Anwendungsgebiet ist der Einsatz von Lichtleitern in
Kraftfahrzeugen, wo sie weniger Platz brauchen als ein konventioneller Kabelbaum. Die
Qualitätskontrolle der Lichtleiter erfolgt meist dadurch, daß die Dämpfung des durch sie
hindurchgeleiteten Lichts gemessen wird. Diese Dämpfung liefert jedoch nur dann eine
verlässliche Aussage über einwandfreie Qualität des Lichtleiters, wenn die Länge des Lichtleiters
bekannt ist. Diese Länge kann insbesondere dann, wenn der Lichtleiter bereits eingebaut ist,
nicht mehr ohne weiteres gemessen werden.
Die DE 29 09 400 A1 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung zur IR-Messung der
Folienschichtdicken einer mehrschichtigen Verbundfolie, bei dem Infrarotlicht mit Licht einer
Anzahl von Proben-Wellenlängen entsprechend den IR-Absorptionswellenlängen der
Folienschichten mit wenigstens einer dazu unterschiedlichen Bezugswellenlänge auf die
Mehrschichtfolie gerichtet wird, an dem durch die Mehrschichtfolie hindurchgetretenen IR-Licht
die Anteilsverhältnisse zwischen den Probenwellenlängen und der Bezugswellenlänge ermittelt
und aus den ermittelten Verhältnissen die Folienschichtdicken bestimmt werden. Dabei wird zur
Bestimmung der Folienschichtdicken ein Simultangleichungssystem gelöst, das als
Koeffizienten die Verhältnisse und die Absorptionskoeffizienten der Folienschichten bei den
Proben- und Bezugswellenlängen sowie als Unbekannte die Folienschichtdicken einbezieht.
Licht unterschiedlicher Wellenlängen im Infrarotbereich durchstrahlt eine Mehrschichtfolie,
deren Schichten in Lichtdurchstrahlrichtung hintereinander angeordnet sind. Die Intensität des
durch die Mehrschichtfolie hindurchstrahlenden Lichts wird von dem Detektor ausgewertet.
Die einzelnen Wellenlängen sind derart gewählt, daß die Bezugswellenlänge für die Messung der
Gesamtfoliendicke angezogen wird, wohingegen Licht mit den Probenwellenlängen gezielt von
den einzelnen Folienschichten absorbiert werden.
In "Principles of Modern Optical Systems", J. Andonovic and D. Uttamachandani, Artech House
1989, Inc. ist eine Temperaturmessung mittels beispielsweise mit Neodym gedopten
Lichtleiterfasern beschrieben. Dabei wird die temperatur- und wellenlängenabhängige
Absorption von Neodym genutzt. Zwei LEDs strahlen zwei ausgewählte Wellenlängen in einen
Referenzlichtleiter und einen gedopten Lichtleiter. Über die Signalauswertung finden sich keine
Einzelheiten.
Die EP 0 082 007 A2 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung einer
Filmdicke. Dabei wird Licht durch einen Referenzfilm und durch einen hinsichtlich seiner Dicke
zu messenden Film durchgeleitet, und die gemessenen Intensitäten der Ausgangssignale werden
in gegenseitige Beziehung gesetzt. Um daraus die Dicke des zu messenden Films ohne Messung
der Lichteintrittsintensitäten herleiten zu können, muß angenommen werden, daß die
Lichteintrittsintensitäten einander gleich sind. Dies ist wegen der erforderlichen Strahlenteilung
nicht der Fall.
Die DE 43 13 138 A1 beschreibt ein Meßnormal für optische Dämpfungsmessungen mit einer
künstlich gealterten Lichtleiterfaser von bekannter Dämpfung und bekannter Länge in einem mit
zähem Medium gefüllten Kabelmantel.
Die US 5,455,672 beschreibt ein Verfahren zur Messung der Abschwächung bzw. Dämpfung
einer optischen Faser, bei dem mehrere, optische Signale unterschiedlicher Wellenlängen und
Leistungen durch die zu messende Faser geschickt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit
dem bzw. der die Länge eines Lichtleiters in einfacher Weise auch dann gemessen werden kann,
wenn der Lichtleiter in einer Vorrichtung derart eingebaut ist, daß nur noch sein Eintrittsfenster
und sein Austrittsfenster zugänglich ist.
Eine Lösung der das Verfahren betreffenden Aufgabe wird mit den Merkmalen des Anspruchs 1
erzielt. Die Erfindung macht sich zu nutze, daß die Dämpfungskonstante eines Lichtleiters im
Allgemeinen von der Wellenlänge abhängig ist. Wenn die Dämpfung für zwei unterschiedliche
Wellenlängen bzw. Wellenlängebereiche gemessen wird, kann aus den Meßergebnissen und den
durch das Material des Lichtleiters gegebenen Dämpfungskonstanten die Länge des Lichtleiters
berechnet werden. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren kann ohne Probleme an
unterschiedlichen Stellen gemessen werden. Eine Absolutmessung ist nicht erforderlich.
Mit den Merkmalen des Anspruchs 2 wird eine in der Praxis bisweilen auftretende Schwierigkeit
umgangen, daß die wellenlängenabhängigen Einstrahlintensitäten im Allgemeinen schwierig zu
messen sind. Des weiteren kommt das Verfahren gemäß dem Anspruch 2 mit einer einzigen
Meßeinrichtung aus, die nur Verhältnisse von Lichtaustrittsintensitäten mißt. Dieses Verfahren
ist entsprechend einfach durchführbar und führt dennoch zu genauen Ergebnissen.
Der Anspruch 3 gibt eine Formel an, mit der vorteilhaft gearbeitet wird.
Der Anspruch 4 ist auf ein weiteres, vorteilhaftes Merkmal gerichtet.
Der Anspruch 5 kennzeichnet den grundsätzlichen Aufbau einer Vorrichtung zur Lösung des
diesbezüglichen Teils der Erfindungsaufgabe, mit der das Verfahren in Anspruch 1 durchführbar
ist.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung wird mit den Merkmalen der nachfolgenden Unteransprüche
in vorteilhafter Weise weitergebildet, wobei mit den Merkmalen des Anspruchs 7 das
Meßverfahren gemäß Anspruch 2 durchgeführt werden kann.
Die Erfindung wird im folgenden anhand schematischer Zeichnungen beispielsweise und mit
weiteren Einzelheiten erläutert.
Es stellen dar:
Fig. 1 die Abhängigkeit der Dämpfungskonstanten von der Wellenlänge für einen
Lichtleiter,
Fig. 2 eine Prinzipanordnung zur Erläuterung physikalischer Zusammenhänge,
Fig. 3 eine Prinzipanordnung zur Messung der Dämpfung bei unterschiedlichen Wellen
längen und
Fig. 4 eine Weiterbildung gemäß Fig. 3 zur Messung der Länge eines Lichtleiters.
Fig. 1 zeigt die Wellenlängenabhängigkeit der Dämpfungskonstanten α für einen Vollkunst
stofflichtleiter mit einem Kern aus Plexiglas. Die Dämpfung, die Licht erfährt, das in einem
Lichtleiter geleitet wird, ist durch Rayleigh-Streuung - und bei POF-Lichtleitern (Polymer
optische Fasern; Kern aus Plexiglas; Mantel aus fluoresziertem Polymer) bzw. Lichtleiterfasern -
durch CH-Absorption bedingt. Wie ersichtlich, nimmt die Dämpfung
mit zunehmender Wellenlänge zu, d. h. ist im roten Bereich stärker als im blauen Bereich.
Fig. 2 zeigt die Prinzipanordnung für einige Definitionen.
Mit z ist die Länge eines Lichtleiters 4 bezeichnet; P0 ist die optische Leistung bzw. Inten
sität, die bei z = 0 in das Eintrittsfenster 6 des Lichtleiters 4 einstrahlt. P(z) ist die
Leistung bzw. Intensität des Lichts, das, nachdem es einen Lichtleiter der Länge z durch
strahlt hat, aus dessen Austrittsfenster 8 austritt. Es gilt die Beziehung:
wobei αλ die von der wellenlängenabhängige Dämpfungskonstante ist.
Für zwei unterschiedliche Wellenlängen λ1 und λ2 gelten die folgenden Beziehungen:
Aus (2) und (3) ergibt durch einfache Umrechnung:
Wenn die Dämpfungskonstanten αλ1 und αλ2 bekannt sind (vom Material des Lichtleiters
abhängig und die Eintrittsintensitäten P0λ1 und P0λ2 sowie die Austrittsintensitäten Pλ1(z)
und Pλ2(z) bekannt sind bzw. gemessen werden, so kann die Länge z des Lichtleiters aus
der Formel (4) errechnet werden. Es versteht sich, daß in den vorgenannten Gleichungen
anstelle diskreter Wellenlängen λ1 und λ2 Wellenlängebereiche eingesetzt werden können,
beispielsweise ein blauer Längenwellenbereich, der von 430 nm bis 600 nm reicht und ein
roter Längenwellenbereich, der von 600 nm bis 700 nm reicht. Bei einem üblichen POF-
Lichtleiter ergibt sich dann eine Dämpfungskonstante:
αblau ungefähr = 0,09 dB/m und
αrot ungefähr = 0,02 dB/m.
αblau ungefähr = 0,09 dB/m und
αrot ungefähr = 0,02 dB/m.
Fig. 3 zeigt eine Meßanordnung zur Messung der Dämpfung für zwei unterschiedliche
Wellenlängenbereiche.
Als Lichtquelle 10 dient eine Weißlicht-LED, die über eine Linse 12 in das Eintrittsfenster
6 des Lichtleiters 4 abgebildet wird. Das aus dem Austrittsfenster 8 des Lichtleiters 4 aus
tretende Licht trifft auf einen dichroitischen Spiegel 14, dessen Reflexion von der Wellen
länge abhängig ist. Im dargestellten Beispiel ist der dichroitische Spiegel 14 ein Rotlicht
spiegel, dessen Reflexionsvermögen bei etwa 600 nm sprunghaft zunimmt, so daß ein rotes
Lichtbündel 16 auf einen Lichtdetektor 18 reflektiert wird und ein blaues Lichtbündel 20
durch den dichroitischen Spiegel 14 hindurch auf einen Lichtdetektor 22 fällt.
Wenn die wellenlängenabhängigen Dämpfungskonstanten αλ des Lichtleiters 4 bekannt sind
und die wellenlängenabhängigen Lichteinstrahlintensitäten P0 λ bekannt sind, kann aus Mes
sung der Intensitäten der beiden Lichtbündel 16 und 20, erforderlichenfalls mit Korrektur
des Einflusses des dichroitischen Spiegels 14, falls dieser das rote Lichtbündel nicht voll
ständig auf den Lichtdetektor 18 richtet und das blaue Lichtbündel nicht vollständig auf
den Lichtdetektor 22 richtet, mit den Formeln (2) und (3) bzw. der Formel (4) die Länge
des Lichtleiters 4 berechnet werden.
Im allgemeinen ist es schwierig, die wellenlängenabhängigen Einstrahlintensitäten P0λ zu
messen. In Fig. 4 ist eine Meßanordnung dargestellt, die die der Fig. 3 weiterbildet und
ermöglicht, ohne Messung der Lichteintrittsintensitäten die Länge des Lichtleiters 4 zu bestimmen.
In der Anordnung gemäß Fig. 4 sind folgende Bauteile zusätzlich zu der der Fig. 3 vor
handen:
Zwischen der Linse 12 und dem Eintrittsfenster 6 des Lichtleiters 4 ist ein beispielsweise als halbdurchlässiger Spiegel ausgebildeter Strahlteiler 24 angeordnet, der einen Teil des von der Lichtquelle 10 ausgestrahlten Lichts in das Eintrittsfenster 26 eines Referenzlicht leiters 28 ablenkt. Zwischen dem Eintrittsfenster 26 und dem Strahlteiler 24 ist ein Ver schluß 30 angeordnet.
Zwischen der Linse 12 und dem Eintrittsfenster 6 des Lichtleiters 4 ist ein beispielsweise als halbdurchlässiger Spiegel ausgebildeter Strahlteiler 24 angeordnet, der einen Teil des von der Lichtquelle 10 ausgestrahlten Lichts in das Eintrittsfenster 26 eines Referenzlicht leiters 28 ablenkt. Zwischen dem Eintrittsfenster 26 und dem Strahlteiler 24 ist ein Ver schluß 30 angeordnet.
Das aus dem Austrittsfenster 32 des Referenzlichtleiters 28 austretende Licht gelangt auf
einen halbdurchlässigen Spiegel und wird über eine Linse 36 je nach Wellenlängenbereich
auf einen der als Photodiode ausgebildeten Lichtdetektoren 18 und 22 abgebildet. Auch das
Austrittsfenster 8 wird über die Linse 36 auf die Lichtdetektoren 18 und 22 abgebildet.
Die Funktion der Meßanordnung ist folgende:
Bei noch fehlendem Lichtleiter 4 wird der Verschluß 30 geöffnet, so daß das Austritts fenster der Lichtquelle 10 über die Linse 12 und den Strahlteiler 24 in das Eintrittsfenster 26 des Referenzlichtleiters 28 abgebildet wird. Der Referenzlichtleiter 28 entspricht hin sichtlich seines Materials und seiner Querabmessungen dem hinsichtlich seiner Länge zu messenden Lichtleiter 4. Die Intensität des den Referenzlichtleiter 28 verlassenden Lichts wird mittels der Lichtdetektoren 18 und 22 gemessen, so daß aus der Formel (4), in der die Länge z des Referenzlichtleiters 28, die wellenlängenabhängigen Dämpfungskonstanten αλ1 und αλ2 sowie über die Messung der Lichtintensitäten mittels der Lichtdetektoren 18 und 22 das Verhältnis von Pλ1(z) und Pλ2(z) bekannt ist, das Verhältnis der eingestrahlten Lichtintensitäten P0λ1 zu P0λ2 errechnet werden kann.
Bei noch fehlendem Lichtleiter 4 wird der Verschluß 30 geöffnet, so daß das Austritts fenster der Lichtquelle 10 über die Linse 12 und den Strahlteiler 24 in das Eintrittsfenster 26 des Referenzlichtleiters 28 abgebildet wird. Der Referenzlichtleiter 28 entspricht hin sichtlich seines Materials und seiner Querabmessungen dem hinsichtlich seiner Länge zu messenden Lichtleiter 4. Die Intensität des den Referenzlichtleiter 28 verlassenden Lichts wird mittels der Lichtdetektoren 18 und 22 gemessen, so daß aus der Formel (4), in der die Länge z des Referenzlichtleiters 28, die wellenlängenabhängigen Dämpfungskonstanten αλ1 und αλ2 sowie über die Messung der Lichtintensitäten mittels der Lichtdetektoren 18 und 22 das Verhältnis von Pλ1(z) und Pλ2(z) bekannt ist, das Verhältnis der eingestrahlten Lichtintensitäten P0λ1 zu P0λ2 errechnet werden kann.
Nach der Messung von Pλ1(z) und Pλ2(z) für den Referenzlichtleiter 28 wird der Verschluß
30 geschlossen und der Lichtleiter 4 unbekannter Länge eingesetzt bzw., falls dieser ver
baut ist, die Anordnung mit den Bauteilen 10, 12 und 24 einerseits und den Bauteilen 34,
36, 14, 18 und 22 andererseits derart an dem zu messenden Lichtleiter 4 angebracht, daß
das von der Lichtquelle 10 ausgestrahlte Lichtbündel in das Eintrittsfenster 6 abgebildet
wird und das aus dem Austrittsfenster 8 austretende Lichtbündel auf die Detektoren 18 und
22 abgebildet wird. Die Anordnung funktioniert dann so, als wäre der Referenzlichtleiter
28 nicht vorhanden. Anschließend werden die Intensitäten der auf die Lichtdetektoren 18
und 22 fallenden Lichtbündel gemessen, so daß in der Formel (4) das Verhältnis Pλ1(z) zu
Pλ2(z) bekannt ist. Auf der rechten Seite der Formel (4) sind dann aufgrund der Messung
am Referenzlichtleiter 28 und der Messung am Lichtleiter 4 alle Größen bekannt, so daß
die Länge z des Lichtleiters 4 errechnet werden kann. Es versteht sich, daß etwaige Ein
flüsse des Strahlteilers 24 und des halbdurchlässigen Spiegels 34, die durch eine Frequenz
abhängigkeit von deren Eigenschaften bedingt sind, korrigierend berücksichtigt werden.
Zusammenfassend ist es, wie aus dem Vorstehenden ersichtlich, mit der Meßanordnung
gemäß Fig. 4 möglich, die Länge des Lichtleiters 4 zu messen. Wenn zusätzlich die
Dämpfung, d. h. das Verhältnis der in dem Lichtleiter 4 eintretenden Lichtintensität zur aus
dem Lichtleiter 4 austretenden Lichtintensität, gemessen wird, beispielsweise nur für den
spektralen Bereich, für den der Lichtleiter 4 in seiner Anwendung eingesetzt wird, kann,
da die Länge des Lichtleiters 4 bekannt ist, dessen einwandfreie Qualität sicher beurteilt
werden. Die Messung der Dämpfung erfolgt, wie im Stand der Technik an sich bekannt,
oder beispielsweise dadurch, daß die von den Lichtdetektoren 18 und/oder 22 bei Durch
strahlen des Lichtleiters 4 gemessenen Intensitäten in Beziehung zu den bei Messung des
Referenzlichtleiters 28 gemessenen Intensitäten gesetzt werden. Aus der Formel (1) kann
dann die Dämpfung des Lichtleiters 4 berechnet werden, d. h. das Verhältnis von P0λ zu
Pλ(z).
Es versteht sich, daß die Berechnungen von einem an die Lichtdetektoren 18 und 22 angeschlossenen
Datenverarbeitungsystem vollautomatisch erfolgen kann.
Die Anordnung der Fig. 4 kann in vielfältiger Weise abgeändert werden; beispielsweise
kann ein weiterer Verschluß zwischen dem Eintrittsfenster 6 und dem Strahlteiler 24 ange
ordnet werden. Der Strahlteiler 24 und der halbdurchlässige Spiegel 34 können entfallen,
wenn der Referenzlichtleiter 28 jeweils anstelle des Lichtleiters 4 in die Anordnung
eingebaut wird. Der dichroitische Spiegel 14 kann durch andere optische Bauteile mit wel
lenlängenabhängiger Lichtablenkung ersetzt werden, beispielsweise Prismen usw. Bei Ent
fall des Bauteils 14 kann mit nur einem Lichtdetektor gearbeitet werden, dem optische Fil
ter vorgeschaltet sind. Die Messungen zur Bestimmung der Länge können bei mehr als
zwei unterschiedlichen Wellenlängen durchgeführt werden. Als Lichtquelle können LED's
unterschiedlicher Wellenlänge verwendet werden oder Laser, Weißlichtquellen usw.
Claims (12)
1. Verfahren zum Messen der Länge eines Lichtleiters,
bei welchem Verfahren das Verhältnis der Eintrittsintensität des Lichts in den
Lichtleiter zur Austrittsintensität aus dem Lichtleiter oder das Verhältnis der Intensitäten
des in den Lichtleiter eintretenden Lichts und das Verhältnis der Intensitäten des aus dem
Lichtleiter austretenden Lichts bei zwei unterschiedlichen Wellenlängen oder Wellenlän
genbereichen bestimmt wird und die Länge des Lichtleiters aus den wellenlängenabhängi
gen Dämpfungskonstanten des Lichtleiters und den ermittelten Verhältnissen berechnet
wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
bei welchem Verfahren:
das von wenigstens einer Lichtquelle abgestrahlte Licht einem Referenzlichtleiter bekannter Länge und einem zu messenden Lichtleiter zugeführt wird,
die Verhältnisse der Austrittsintensitäten des Lichts aus dem Referenzlichtleiter und dem zu messenden Lichtleiter bei zwei unterschiedlichen Wellenlängen oder Wellenlän genbereichen gemessen werden,
aus dem Austrittsverhältnis des Lichts aus dem Referenzlichtleiter sowie dessen Länge und dessen Dämpfungskonstante das Verhältnis der Eintrittsintensitäten des Lichts berechnet wird, und
aus dem berechneten Verhältnis der Eintrittsintensitäten, dem gemessenen Verhältnis der Austrittsintensitäten des Lichts unterschiedlicher Wellenlängen aus dem in seiner Länge zu messenden Lichtleiter und dessen Dämpfungskonstante dessen Länge be rechnet wird.
das von wenigstens einer Lichtquelle abgestrahlte Licht einem Referenzlichtleiter bekannter Länge und einem zu messenden Lichtleiter zugeführt wird,
die Verhältnisse der Austrittsintensitäten des Lichts aus dem Referenzlichtleiter und dem zu messenden Lichtleiter bei zwei unterschiedlichen Wellenlängen oder Wellenlän genbereichen gemessen werden,
aus dem Austrittsverhältnis des Lichts aus dem Referenzlichtleiter sowie dessen Länge und dessen Dämpfungskonstante das Verhältnis der Eintrittsintensitäten des Lichts berechnet wird, und
aus dem berechneten Verhältnis der Eintrittsintensitäten, dem gemessenen Verhältnis der Austrittsintensitäten des Lichts unterschiedlicher Wellenlängen aus dem in seiner Länge zu messenden Lichtleiter und dessen Dämpfungskonstante dessen Länge be rechnet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei für die Berechnungen folgende Formel
verwendet wird:
mit:
z = Länge,
αλn = Dämpfungskonstante bei der Wellenlänge λn,
P0λn = Eintrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn und
Pλn(z) = Austrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn nach Durchstrahlen eines Lichtleiters der Länge z.
mit:
z = Länge,
αλn = Dämpfungskonstante bei der Wellenlänge λn,
P0λn = Eintrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn und
Pλn(z) = Austrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn nach Durchstrahlen eines Lichtleiters der Länge z.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Dämpfung des in seiner Länge zu messenden Lichtleiters nach Bestimmung von dessen
Länge mit Licht einer vorgegebenen Wellenlänge bestimmt wird.
5. Vorrichtung zur Messung der Länge eines Lichtleiters, enthaltend:
eine Lichtquelle (10),
eine Einrichtung (12) zur Einkopplung des Lichts in das Lichteintrittsfenster (6) des Lichtleiters (4),
eine erste Meßeinrichtung (14, 24, 28, 34, 18, 22) zur Bestimmung des Verhältnis ses der wellenlängenabhängigen Intensitäten des in das Lichteintrittsfenster (6) eintreten den Lichts für zwei unterschiedliche Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche und
eine zweite Meßeinrichtung (14, 34, 18, 22) zur Bestimmung des Verhältnisses der wellenlängenabhängigen Intensitäten des aus dem Lichtaustrittsfenster (8) des Lichtleiters austretenden Lichts für zwei unterschiedliche Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche.
eine Lichtquelle (10),
eine Einrichtung (12) zur Einkopplung des Lichts in das Lichteintrittsfenster (6) des Lichtleiters (4),
eine erste Meßeinrichtung (14, 24, 28, 34, 18, 22) zur Bestimmung des Verhältnis ses der wellenlängenabhängigen Intensitäten des in das Lichteintrittsfenster (6) eintreten den Lichts für zwei unterschiedliche Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche und
eine zweite Meßeinrichtung (14, 34, 18, 22) zur Bestimmung des Verhältnisses der wellenlängenabhängigen Intensitäten des aus dem Lichtaustrittsfenster (8) des Lichtleiters austretenden Lichts für zwei unterschiedliche Wellenlängen oder Wellenlängenbereiche.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei die zweite Meßeinrichtung (14, 34, 18, 22)
ein optisches Bauteil (14) enthält, das Licht unterschiedlicher Wellenlängen auf unter
schiedliche Lichtdetektoren (18, 22) lenkt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, wobei die erste Meßeinrichtung (14, 24, 28,
34, 18, 22) einen Strahlteiler (24), einen Referenzlichtleiter (28) und eine Meßeinrichtung
(14, 18, 22) zur Bestimmung der wellenlängenabhängigen Intensität des aus dem Licht
austrittsfenster (32) des Referenzlichtleiters austretenden Lichts enthält, wobei der Strahl
teiler wenigstens einen Teil des von der Lichtquelle (10) erzeugten Lichts in das Eintritts
fenster (26) des Referenzlichtleiters leitet.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, wobei ein an die Meßeinrichtung (14, 18, 22) ange
schlossenes Datenverarbeitungssystem Berechnungen unter Zuhilfenahme folgender For
mel ausführt:
mit:
z = Länge,
αλn = Dämpfungskonstante bei der Wellenlänge λn,
P0λn = Eintrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn und
Pλn(z) = Austrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn nach Durchstrahlen eines Licht leiters der Länge z.
mit:
z = Länge,
αλn = Dämpfungskonstante bei der Wellenlänge λn,
P0λn = Eintrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn und
Pλn(z) = Austrittsintensität des Lichts der Wellenlänge λn nach Durchstrahlen eines Licht leiters der Länge z.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, wobei die Länge des Referenzlichtleiters (28)
bekannt ist und der Referenzlichtleiter im übrigen dem Lichtleiter (4) gleicht, dessen Län
ge zu bestimmen ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, wobei der Strahlteiler (24) durch
einen halbdurchlässigen Spiegel gebildet ist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, wobei ein halbdurchlässiger Spie
gel (34) vorgesehen ist, mittels dessen das aus dem zu messenden Lichtleiter (4) austreten
de Licht und das aus dem Referenzlichtleiter (28) austretende Licht auf die zweite Meßein
richtung (14, 18, 22) gelangt.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 11, wobei ein Verschluß (30) zur Un
terbrechung des durch den Referenzlichtleiter (28) oder den zu messenden Lichtleiter (4)
auf die zweite Meßeinrichtung (14, 18, 22) vorgesehen ist.
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DE102006032701B3 (de) * | 2006-07-14 | 2008-01-10 | Sensor Instruments Entwicklungs- Und Vertriebs Gmbh | Gerät zum Detektieren einer Laser-angeregten Lumineszenzstrahlung |
WO2012073260A1 (en) * | 2010-11-29 | 2012-06-07 | Prysmian S.P.A. | Method for measuring the length of an electric cable that uses an optical fibre element as a sensor |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2909400A1 (de) * | 1978-03-10 | 1979-09-20 | Asahi Dow Ltd | Verfahren und vorrichtung zur ir- messung der folienschichtdicken einer mehrschichtigen verbundfolie |
EP0082007A2 (de) * | 1981-12-16 | 1983-06-22 | Teijin Limited | Vorrichtung zum Messen der Dicke eines Films |
DE4313138A1 (de) * | 1993-04-22 | 1994-10-27 | Felten & Guilleaume Energie | Meßnormal fuer optische Daempfungsmessungen |
US5455672A (en) * | 1992-01-21 | 1995-10-03 | Exto-Electro-Optical Engineering Inc. | Measurement of attenuation of an optical fiber using bidirectional transmission of information via the fiber |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4176954A (en) * | 1974-07-26 | 1979-12-04 | Beauvillain Gerard M | Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies |
GB9320500D0 (en) * | 1993-10-05 | 1993-11-24 | Rensihaw Plc | Interferometric distance measuring apparatus |
US5534994A (en) * | 1994-06-29 | 1996-07-09 | Corning Incorporated | Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR |
US5737067A (en) * | 1996-04-18 | 1998-04-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Length and elongation sensor |
US6011615A (en) * | 1997-06-09 | 2000-01-04 | Lucent Technologies Inc. | Fiber optic cable having a specified path average dispersion |
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-
1999
- 1999-10-15 US US09/419,750 patent/US6252660B1/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2909400A1 (de) * | 1978-03-10 | 1979-09-20 | Asahi Dow Ltd | Verfahren und vorrichtung zur ir- messung der folienschichtdicken einer mehrschichtigen verbundfolie |
EP0082007A2 (de) * | 1981-12-16 | 1983-06-22 | Teijin Limited | Vorrichtung zum Messen der Dicke eines Films |
US5455672A (en) * | 1992-01-21 | 1995-10-03 | Exto-Electro-Optical Engineering Inc. | Measurement of attenuation of an optical fiber using bidirectional transmission of information via the fiber |
DE4313138A1 (de) * | 1993-04-22 | 1994-10-27 | Felten & Guilleaume Energie | Meßnormal fuer optische Daempfungsmessungen |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Principles of Modern Optical Systems. Ivan ANDONOVIC and Deepak UTTAMCHANDANI Artech House 1989 * |
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