DE19813558A1 - Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren - Google Patents

Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren

Info

Publication number
DE19813558A1
DE19813558A1 DE1998113558 DE19813558A DE19813558A1 DE 19813558 A1 DE19813558 A1 DE 19813558A1 DE 1998113558 DE1998113558 DE 1998113558 DE 19813558 A DE19813558 A DE 19813558A DE 19813558 A1 DE19813558 A1 DE 19813558A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
width
receiver
web
webs
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE1998113558
Other languages
English (en)
Other versions
DE19813558C2 (de
Inventor
Klaus Pawlik
Rainer Riesenberg
Thomas Seifert
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institut fuer Physikalische Hochtechnologie eV
Analytik Jena AG
Original Assignee
Institut fuer Physikalische Hochtechnologie eV
Analytik Jena GmbH Analysenmessgeraete und Laboreinrichtungen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institut fuer Physikalische Hochtechnologie eV, Analytik Jena GmbH Analysenmessgeraete und Laboreinrichtungen filed Critical Institut fuer Physikalische Hochtechnologie eV
Priority to DE1998113558 priority Critical patent/DE19813558C2/de
Priority to EP99919187A priority patent/EP1064526A1/de
Priority to PCT/EP1999/002292 priority patent/WO1999050627A1/de
Publication of DE19813558A1 publication Critical patent/DE19813558A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19813558C2 publication Critical patent/DE19813558C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0403Mechanical elements; Supports for optical elements; Scanning arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0437Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using masks, aperture plates, spatial light modulators, spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0448Adjustable, e.g. focussing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0237Adjustable, e.g. focussing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/06Scanning arrangements arrangements for order-selection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2846Investigating the spectrum using modulation grid; Grid spectrometers

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren. Die Aufgabe eine derartige Anordnung anzugeben, die eine variabel vorgebbare Ortsauflösungserhöhung ermöglicht und mit wenigen Baugruppen auskommt, wird dadurch gelöst, daß vor jedem Strahlungsempfängerelement (1) ein für die zu detektierende Strahlung nicht transparenter Steg (2) angeordnet ist, dessen Stegbreite (ba) zu einem Bruchteil der Strahlungsempfängerbreite festgelegt ist und der Steg (2) vermitts eines Verstellelements (3) über die gesamte Empfängerbreite verschiebbar ist, wobei über eine Steuer- und Datenleitung (4) diskrete Verstellpositionen des Verschiebeelements (3) einstellbar sind und diese diskreten Positionen in einer Steuer- und Auswerteeinheit (5) den jeweils zugehörigen, über eine Leitung (6) übertragenden Intensitätssignalen des Strahlungsempfängerelements (1) zuordenbar sind und nach einer rechnerischen Transformation den Intensitätsverlauf der zu detektierenden Strahlung mit erhöhter Auflösung in Abhängigkeit vom Verhältnis Empfängerbreite zur Stegbreite darstellen lassen.

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren, die bei allen Detektoren zum Einsatz gelangen kann, die über eine einzelne Strahlungsempfängerfläche oder mehrere Strahlungsempfängerflächen, die in einer Ebene in einem periodischen Abstand angeordnet sind, verfügen. Für solche Strahlungsdetektoren kommen alle flächigen fotoelektrische Empfänger, wie z. B. CCD's, Bolometer, Thermosäulen u. a. in Betracht.
Zur Erhöhung der Ortsauflösung von Strahlungsdetektoren werden üblicherweise die eingangsseitigen Elemente eines abbildenden Systems derart modifiziert, daß die Pixelflächen der Empfängerelemente verringert. Die Erhöhung der Auflösung ist begrenzt durch die verfügbaren Pixelgrößen in Zusammenhang mit ihrer Anzahl und den Kosten.
Nur indirekt mit vorliegender Erfindung in Zusammenhang steht eine Lösung nach EP 03 36 152 A1, bei der in einem relativ großen Abstand ein Einfachspaltsystem vor einem Empfänger positioniert wird, der mehrere Empfängerflächen in unterschiedlichen Abständen zueinander beinhaltet. Diese Lösung dient ausschließlich zur Detektion der Einfallsrichtung einer Strahlung mit der der Einfachspalt beleuchtet wird.
Vorliegender Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung üblicher Strahlungsdetektoren anzugeben, die eine variabel vorgebbare Ortsauflösungserhöhung ermöglicht und mit wenigen Baugruppen auskommt.
Die Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des ersten Patentanspruchs gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind durch die nachgeordneten Ansprüche erfaßt.
Die Erfindung soll nachstehend anhand schematischer Ausführungs­ beispiele näher erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung mit allen wesentlichen Baugruppen,
Fig. 1a schematisch ein Empfängerelement mit einem zugeordneten Steg in einer Ausgangs- und Endlage,
Fig. 2 beispielhaft den Intensitätsverlauf einer Quecksilberlinie,
Fig. 3 eine mit der erfindungsgemäßen Anordnung detektierte Intensitätsverteilung der Linie nach Fig. 2,
Fig. 4 den aus der Intensitätsverteilung nach Fig. 3 in einer Auswerteeinheit rechnerisch ermittelten Intensitätsverlauf der nach Fig. 3 gewonnenen Intensitätsverteilung,
Fig. 5 eine Ausbildung einer Mehrfachsteganordnung für einen zweidimensionalen Strahlungsdetektor und
Fig. 6 eine Ausbildung einer Mehrfachsteganordnung für einen eindimensionalen Strahlungsdetektor mit einer Variationsmöglichkeit der Ortsauflösungserhöhung.
Fig. 1 zeigt einen Strahlungsdetektor, der beispielhaft fünf Empfängerflächen 1, für die im Beispiel fotoelektrische Empfänger gewählt sind, in einem äquidistanten Abstand beinhaltet. Diese Empfängerflächen werden entsprechend der dargestellten Pfeile S mit einer von den Empfängern detektierbaren Strahlung beleuchtet. Besitzt die Strahlung eine Intensitätsverteilung, wie beispielhaft in Fig. 2 angedeutet, liefert jede einzelne Empfängerfläche 1 nur ein integrales, der Intensität entsprechendes Signal. Die Verteilung im Bereich der Empfängerfläche wird nicht aufgelöst. An dieser Stelle setzt die Erfindung an, indem jeder einzelnen Empfängerfläche ein für die zum Einsatz gelangende Strahlung nicht transparenter Steg 2 in einem Abstand in der Größenordnung der Stegbreite zugeordnet ist. Bei einem derartigen Abstand hat die Apertur der Beleuchtung keinen merklichen Einfluß auf die Abschattungswirkung des Stegs, so daß ein hoher Kontrast zwischen beleuchteten und abgeschatteten Empfängerflächenbereichen vorliegt. Die Stegbreite ba ist dabei vorzugsweise zu einem ganzzahligen Bruchteil der Empfängerbreite be festzulegen. Im Beispiel beträgt die Empfängerbreite be = 25 µm und die Stegbreite ba = 5 µm. Vermittels eines hochpräzisen Verstellelements 3, wofür ein piezoelektrischer Stellantrieb verwendet werden kann, wird der Steg 2, bzw. die Stege 2, in mehreren diskreten Positionen von einer in Fig. 1a mit 2a bezeichneten Ausgangsposition in eine Endposition 2e verschoben, so daß die gesamte Empfängerfläche 1 zumindest einmal erfaßt ist. Dabei werden bei jeder Position Teile der einfallenden Strahlung durch den Steg 2 ausgeblendet, die entsprechenden Empfängersignale über eine Leitung 6 einer Auswerteeinheit 5 zugeleitet, innerhalb derer eine Zuordnung des empfangenen Intensitätssignals zur aktuellen Stegposition erfolgt und von welcher aus, über eine Steuer- und Datenleitung 4, das Verstellelement 3 angesteuert wird, welches eine Stegverschiebung in die nächste diskrete Position bewirkt. Ist die gesamte Breite der Empfängerfläche einmal vom Steg überstrichen worden, liegen in der Auswerteeinheit pro diskreter Stegposition ermittelte Intensitäten vor, die in Summe eine invers interpretierbare Intensitätsverteilung der Linie nach Fig. 2 ergeben, wie in Fig. 3 angedeutet. Nach einer entsprechenden rechnerischen Transformation wird die örtliche Auflösung des Detektors auf Bruchteile der Empfängerbreite erhöht und man erhält den der Linie nach Fig. 2 entsprechenden Intensitätsverlaut, wie er in Fig. 4 dargestellt ist. Je feiner die Stegbreite ba in Bezug auf die Breite der Empfängerfläche be festgelegt ist, um so größer ist die Auflösung. Mit der dargestellten Ausführungsform wird eine Ortsauflösungserhöhung um den Faktor 5 gegenüber dem Empfänger ohne die vorgeschlagene Anordnung erreicht. Außerdem wird das Signal/Rausch-Verhältnis gegenüber herkömmlichen Anordnungen wesentlich verbessert. Weiterhin kann bspw. auf Multiplexerelemente, wie sie nach dem Stand der Technik für IR-Detektorzeilen erforderlich sind, verzichtet werden.
In Fig. 5 ist eine weitere Möglichkeit der Stegausbildung dargestellt, bei der eine Matrix aus fotoelektrischen Empfängern, bestehend aus drei Zeilen zu je fünf Empfängerelementen zum Einsatz gelangt. Die Anordnung der Stege 21 entspricht dabei der Anordnung nach Fig. 1. Die Stege 22 sind in analoger Weise, jedoch senkrecht zu den Stegen 21 angeordnet. Die Meßwerterfassung und Verschiebung der Stege 21 erfolgt zunächst, wie zu Fig. 1 beschrieben, wobei die Stege 22 in eine Stellung verbracht sind, in der sie nicht auf die Empfängerflächen einwirken, danach werden die Stege 21 in die in Fig. 5 dargestellte Lage verbracht und es erfolgt im einfachsten Fall lediglich eine Verschiebung der Stege 22; andere Abtastfolgen liegen im Rahmen der Erfindung. Durch eine solche Anordnung lassen sich auf der Matrix abgebildete zweidimensionale Intensitätsverläufe mit erhöhter Ortsauflösung detektieren.
Eine weitere Ausbildungsmöglichkeit der Stege ist in Fig. 6 schematisch dargestellt. Dort soll wiederum von zeilenförmig angeordneten fünf, in Fig. 6 nicht näher dargestellten Empfängerflächen ausgegangen werden, denen fünf Stege 21a zugeordnet sind. Weiterhin ist ein zweiter Satz von Stegen 21b vorgesehen, deren Breite gegenüber den Stegen 21a etwas verbreitert ausgeführt ist, wodurch bei deren Einsatz eine verringerte Auflösung erreicht wird, was für manche Meßaufgaben ausreichend sein kann. Werden mehrere solcher Sätze von unterschiedlichen Stegbreiten zur Verfügung gestellt, kann durch entsprechende Auswahl der Sätze und/oder der Schrittweite die jeweils gewünschte Ortsauflösungserhöhung vorgegeben werden.
Gemäß der Erfindung sind die Stege 2, 21, 22 bevorzugt gebildet durch Einbringen von Ausnehmungen 71, die in eine Siliziummembran mittels mikrosystemtechnischer Methoden. Auf die beschriebene Weise verbleiben die Stege und ein sie umfassender Siliziumrahmen 7, der seinerseits von eine nicht näher dargestellten Aufnahme erfaßt und mit dem Verstellelement 3 in Verbindung gebracht ist.
Alle in der Beschreibung, den nachfolgenden Ansprüchen und der Zeichnung dargestellten Merkmale können sowohl einzeln als auch in beliebiger Kombination miteinander erfindungswesentlich sein.
Bezugszeichenliste
1
Strahlungsempfängerelement
2
,
21
,
22
21
a,
21
b Stege
2
a Ausgangslage eines Stegs
2
e Endlage eines Stegs
3
Verstellelement
4
Steuer- und Datenleitung
5
Steuer- und Auswerteeinheit
6
Leitung
7
Rahmen
71
Ausnehmungen
ba Stegbreite
be Empfängerbreite
S Pfeile

Claims (5)

1. Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren, dadurch gekennzeichnet, daß vor jedem Strahlungsempfängerelement (1) ein für die zu detektierende Strahlung nicht transparenter Steg (2) angeordnet ist, dessen Stegbreite (ba) zu einem Bruchteil der Strahlungsempfängerbreite (be) festgelegt ist und der Steg (2) vermittels eines Verstellelements (3) über die gesamte Empfängerelementbreite (be) verschiebbar ist, wobei über eine Steuer- und Datenleitung (4) diskrete Verstellpositionen des Verschiebeelements (3) einstellbar sind und diese diskreten Positionen in einer Steuer- und Auswerteeinheit (5) den jeweils zugehörigen, über eine Leitung (6) übertragenen Intensitätssignalen des Strahlungsempfängerelements (1) zuordenbar sind und nach einer rechnerischen Transformation den Intensitätsverlauf der zu detektierenden Strahlung mit erhöhter Auflösung in Abhängigkeit vom Verhältnis Empfängerbreite (be) zur Stegbreite (ba) darstellen lassen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand der Stege zur Empfängerfläche in der Größenordnung der Stegbreite (ba) festgelegt ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß je nach Anzahl linear erfaßbarer Strahlungsempfängerelemente gleichviel Stege (2, 21, 22; 21a; 21b) mit dem gleichen Mittenabstand wie die Strahlungsempfängerelemente in einem Rahmen (7) zusammengefaßt angeordnet sind.
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen (7) mehrere Sätze von Stegen (21a; 21b) unterschiedlicher Breite beinhaltet.
5. Anordnung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stege einstückiges Bestandteil eines mit Ausnehmungen (71) versehenen Siliziumchips sind.
DE1998113558 1998-03-27 1998-03-27 Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren Expired - Fee Related DE19813558C2 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1998113558 DE19813558C2 (de) 1998-03-27 1998-03-27 Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren
EP99919187A EP1064526A1 (de) 1998-03-27 1999-03-26 Anordnung zur ortsauflösungserhöhung von strahlungsdetektoren
PCT/EP1999/002292 WO1999050627A1 (de) 1998-03-27 1999-03-26 Anordnung zur ortsauflösungserhöhung von strahlungsdetektoren

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1998113558 DE19813558C2 (de) 1998-03-27 1998-03-27 Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19813558A1 true DE19813558A1 (de) 1999-10-07
DE19813558C2 DE19813558C2 (de) 2000-10-26

Family

ID=7862549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1998113558 Expired - Fee Related DE19813558C2 (de) 1998-03-27 1998-03-27 Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1064526A1 (de)
DE (1) DE19813558C2 (de)
WO (1) WO1999050627A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4198466A1 (de) * 2021-12-17 2023-06-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Spektrometer, vorrichtung und verfahren zum schätzen von bioinformation

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0336152A1 (de) * 1988-03-28 1989-10-11 Hughes Danbury Optical Systems, Inc. Optischer Sensor zur Richtungsbestimmung eintreffender Strahlung
DE4327944A1 (de) * 1992-08-31 1994-03-03 Shimadzu Corp Zweidimensionaler Bilddetektor
DE4003698C2 (de) * 1990-02-07 1994-09-08 Wild Heerbrugg Ag Wellenfrontsensor
DE4307530A1 (de) * 1993-03-10 1994-09-15 Kodak Ag Verfahren und Anordnung zum berührungslosen Messen der Geschwindigkeit eines Gegenstandes
DE4331929A1 (de) * 1993-09-14 1995-03-16 Vision 2 D Mestechnik Gmbh Meßsystem zur Aufnahme hoch zeitaufgelöster Spektren und Bilder mit hoher Dynamik
US5428215A (en) * 1994-05-27 1995-06-27 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By Minister Of National Defence Of Her Majesty's Canadian Government Digital high angular resolution laser irradiation detector (HARLID)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4017317C2 (de) * 1990-05-30 2000-02-17 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Anodnung zur Verbesserung der Auflösung eines Spektrometers
US5604695A (en) * 1995-06-05 1997-02-18 Her Majesty The Queen, As Represented By The Minister Of National Defence Of Her Majesty's Canadian Government Analog high resolution laser irradiation detector (HARLID)

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0336152A1 (de) * 1988-03-28 1989-10-11 Hughes Danbury Optical Systems, Inc. Optischer Sensor zur Richtungsbestimmung eintreffender Strahlung
DE4003698C2 (de) * 1990-02-07 1994-09-08 Wild Heerbrugg Ag Wellenfrontsensor
DE4327944A1 (de) * 1992-08-31 1994-03-03 Shimadzu Corp Zweidimensionaler Bilddetektor
DE4307530A1 (de) * 1993-03-10 1994-09-15 Kodak Ag Verfahren und Anordnung zum berührungslosen Messen der Geschwindigkeit eines Gegenstandes
DE4331929A1 (de) * 1993-09-14 1995-03-16 Vision 2 D Mestechnik Gmbh Meßsystem zur Aufnahme hoch zeitaufgelöster Spektren und Bilder mit hoher Dynamik
US5428215A (en) * 1994-05-27 1995-06-27 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By Minister Of National Defence Of Her Majesty's Canadian Government Digital high angular resolution laser irradiation detector (HARLID)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4198466A1 (de) * 2021-12-17 2023-06-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Spektrometer, vorrichtung und verfahren zum schätzen von bioinformation
US11874168B2 (en) 2021-12-17 2024-01-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Spectrometer, and apparatus and method for estimating bio-information

Also Published As

Publication number Publication date
EP1064526A1 (de) 2001-01-03
DE19813558C2 (de) 2000-10-26
WO1999050627A1 (de) 1999-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3729137B1 (de) Multipuls-lidarsystem zur mehrdimensionalen erfassung von objekten
DE19721105C5 (de) Opto-eletronischer Sensor
DE2521037C3 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung und/oder Überwachung der Gleichförmigkeit der Oberfläche eines Werkstückes
DE102004003612B4 (de) Verfahren und Auswertung eines Bildes von einem vorbestimmten Ausschnitt eines Druckerzeugnisses
EP0529200B1 (de) Bildsensoranordnung für eine Kamera mit Mehrfachsensoren
DE102011053971A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen der Struktur von bewegten Stückgütern, insbesondere zur Erfassung von Störpartikeln in flüssigen oder pastösen Produkten
DE102006058057B3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Erfassung einer Struktur
DE3340924C2 (de)
EP3832344A1 (de) Optoelektronischer sensor und verfahren zur erfassung eines objekts
DE102014218460B4 (de) Assistenzsystem eines Kraftfahrzeugs, mit einer Kamera und Bildsensor
DE19813558C2 (de) Anordnung zur Ortsauflösungserhöhung von Strahlungsdetektoren
DE102017101791A1 (de) Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug und Kraftfahrzeug
WO2017005653A1 (de) Detektoreinheit für eine optische sensorvorrichtung
DE2838121B2 (de) Verfahren zur Scharfeinstellung einer Optik
DE4006181A1 (de) Anordnung zum abtasten einer roentgenaufnahme
DE1798215B1 (de) Laser entfernungsmessgeraet
DE3330861C2 (de)
DE102019106411B4 (de) Laserscaneinrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Vermessung einer Szenerie in großer Entfernung
DE10021103B4 (de) Vorrichtung zum Erfassen von Eigenschaften einer in Längsrichtung transportierten Warenbahn
EP3407035B1 (de) Messvorrichtung und verfahren zur messung der intensitätsverteilung einfallender lichtstrahlung
DE102018107363B4 (de) Verfahren und Sensor zum Erzeugen von 3D-Bilddaten
EP1070234B1 (de) Anordnung zur erhöhung der spektralen ortsauflösung eines spektrometers
DD291848A5 (de) Verfahren zur beruehrungslosen geschwindigkeitsmessung auf der basis flaechenabtastender sensoren
EP4045931A1 (de) Multipuls-lidarsystem und verfahren zur erfassung eines objekts in einem beobachtungsbereich
WO2003073745A1 (de) Elektronischer bildsensor und ein verfahren zur auswertung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8181 Inventor (new situation)

Free format text: PAWLIK, HORST, DIPL.-ING., 07751 ROTHENSTEIN, DE RIESENBERG, RAINER, DR.RER.NAT., 07749 JENA, DE SEIFERT, THOMAS, DIPL.-ING., 07743 JENA, DE

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee