DE19641249A1 - Kondensator - Google Patents
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Description
Diese Erfindung betrifft einen Kondensator, der als
Leistungskondensator oder dergleichen zum Laden und Entladen
von Energie verwendet wird.
Ein Kondensator zum Laden und Entladen von Energie
wird bei einem Pulsspannungsgenerator und/oder einem Puls
stromgenerator in einer elektrischen Spannungs- bzw. Strom
quelle für eine Blitzlampe und dergleichen verwendet. Des
weiteren wird der Kondensator in einer Testvorrichtung wie
einer Impulstestvorrichtung zum Erfassen der Spannungsfe
stigkeit einer elektrisch betriebenen Vorrichtung gegen Masse
verwendet.
Ein herkömmlicher Kondensator umfaßt ein mit zwei
Elektrodenanschlüssen versehenes Gehäuse und zumindest ein in
dem Gehäuse eingeschlossenes und eingesiegeltes Kondensator
element. Je nach erforderlicher Spannung und/oder erforderli
cher Kapazität ist eine Vielzahl von Kondensatorelementen in
dem Gehäuse in Serie oder parallel zueinander verbunden. Das
Kondensatorelement wird durch Aufwickeln zweier folien- bzw.
blattförmiger dielektrischer Elemente und zweier blattförmi
ger Elektrodenelemente gebildet. Jedes der dielektrischen
Elemente ist aus einem Papier, einer Kunststoffschicht oder
einer Verbundschicht gebildet, die Papier und eine Kunst
stoffschicht aufweist. Jedes der Elektrodenelemente ist aus
einer Aluminiumfolie oder einem metallisierten Papier gebil
det, auf dem ein Metall wie Zink abgeschieden ist.
Ferner ist bekannt, daß bei dem herkömmlichen Kon
densator eine metallisierte Schicht für das Kondensatorele
ment verwendet wird, um eine geringe Größe und geringes Ge
wicht zu erreichen. Die metallisierte Schicht ist aus der
Kunststoffschicht und einer Metallabscheidungsschicht gebil
det, die auf der Kunststoffschicht abgeschieden ist. Die
Kunststoffschicht dient als dielektrisches Element, und die
Metallabscheidungsschicht dient als Elektrodenelement.
Es wird zunehmend verlangt, daß die vorstehend ge
nannten elektrischen Spannungs- bzw. Stromversorgungsgeräte
und die Testvorrichtungen eine geringe Größe und ein geringes
Gewicht aufweisen, weshalb der darin befindliche Kondensator
ebenfalls eine geringe Größe und geringes Gewicht erreichen
muß. Da der größte Teil des Volumens des herkömmlichen Kon
densators von dem Kondensatorelement eingenommen wird, wel
ches durch Aufwickeln zweier blattförmiger metallisierter
Schichten gebildet ist, ist es notwendig, daß die Größe des
Kondensatorelements so gering wie möglich ist. Es ist konkret
gesagt notwendig, die Dicke der Kunststoffschicht zu verrin
gern. Mit anderen Worten wird der elektrische Potentialgra
dient der Kunststoffschicht groß.
Bei dem herkömmlichen Kondensator ist es schwierig,
die Dicke der Kunststoffschicht zu verringern. Dies liegt
daran, daß sowohl die Spannungsfestigkeitscharakteristik als
auch die Lebensdauerkennlinie schlechter werden, wenn die
Dicke der Kunststoffschicht abnimmt.
Um diese Schwierigkeit zu beseitigen, wurden ver
schiedene Verbesserungen vorgeschlagen, um die Spannungsfe
stigkeitscharakteristik und die Lebensdauerkennlinie bei ei
ner dünneren Kunststoffschicht zu verbessern.
Als eine der Verbesserungen ist es bekannt, einen
Dickrandaufbau (heavy edge construction) bei der Metallab
scheidungsschicht vorzusehen, um eine Selbstheilung durchzu
führen. Das heißt, ein bandförmiger dicker Stufenabschnitt
wird längs eines Randbereichs der Metallabscheidungsschicht
gebildet, so daß die Dicke des restlichen Bereichs außerhalb
des bandförmigen Stufenabschnitts der Metallabscheidungs
schicht sehr dünn wird. Dieser eine Randbereich, der den Stu
fenabschnitt aufweist, kommt in Kontakt mit einem Metallikon
teil, das mit einer der zwei Elektrodenanschlüsse zu verbin
den ist.
Bei dem Kondensator weist eine Aluminiumabschei
dungsschicht im allgemeinen aufgrund der Eigenschaft der Dis
persion bzw. Zerstreuung eine wünschenswerte Selbstheilung
auf. Das heißt, in der Aluminiumabscheidungsschicht wird
durch die Selbstheilung eine kleinere Öffnung gebildet. Dem
zufolge ist aufgrund der Selbstheilung der Abfall der Kapazi
tät klein.
Im Gegensatz hierzu wird im Vergleich zur Alumini
umabscheidungsschicht bei einer Zinkabscheidungsschicht die
Öffnung größer, wenn die Selbstheilung ausgeführt wird. Dem
zufolge ist der Abfall der Kapazität groß.
Durch diesen Dickrandaufbau wird der elektrische
Potentialgradient der Kunststoffschicht nach Maßgabe der
Selbstheilung verbessert. Es ist bekannt, daß der Mechanismus
der Selbstheilung kurz wie folgt beschrieben werden kann:
- (1) Ein Isolierungsdefektabschnitt wird in der Kunststoffschicht in der Regel durch eine in der Kunststoff schicht vorhandene Luftblase erzeugt. Wenn Spannung an die zwei Metallabscheidungsschichten angelegt wird, fließt bei dem isolierungsdefektabschnitt ein Kurzschlußstrom durch die zwei Metallabscheidungsschichten.
- (2) Dadurch wird in der Nähe des Isolierungsdefekt abschnitts durch die Wärme des Kurzschlußstromes ein Teil der Metallabscheidungsschicht dispergiert bzw. zerstreut und ver dampft. Als Ergebnis wird die Spannungsfestigkeit des Isolie rungsdefektabschnitts durch Verschwinden des Teils der Me tallabscheidungsschicht in der Nähe des Isolierungsdefekt abschnitts geheilt.
Wenn die Selbstheilung unvollständig erfolgt, wird
die Spannungsfestigkeit des Kondensators durch die Spannungs
festigkeit des Isolierungsdefektabschnitts definiert. Im
Fall, daß die Selbstheilung vollständig erfolgt, ist die
Spannungsfestigkeit des Kondensators gleich einer inhärenten
Spannungsfestigkeit der Kunststoffschicht. Das heißt, wenn
die Selbstheilung vollständig erfolgt, ist es möglich, den
elektrischen Potentialgradienten der Kunststoffschicht im
Vergleich zum Fall der unvollständigen Selbstheilung zu erhö
hen.
Die Selbstheilung wird unter den folgenden Bedin
gungen (1) und (2) effektiv ausgeführt:
- (1) Die Dicke der Metallabscheidungsschicht wird gering, so daß die Metallabscheidungsschicht einfach zer streut und verdampft wird, und
- (2) der Kurzschlußstrom ist reduziert.
Beim Dickrandaufbau des herkömmlichen Kondensators
mit metallisierten Schichten, die jeweils eine Zinkabschei
dungsschicht mit einem bandförmigen Abschnitt aufweisen, und
des herkömmlichen Kondensators mit metallisierten Schichten,
die jeweils eine Aluminiumabscheidungsschicht mit einem band
förmigen Stufenabschnitt aufweisen, werden die Dicken der Me
tallabscheidungsschichten geringer als diejenige des Stufen
abschnitts. Speziell im Fall der Zinkabscheidungsschicht ist
die Selbstheilungsfähigkeit verbessert, wie nachstehend be
schrieben wird. Ferner ist beim Dickrandaufbau des herkömmli
chen Kondensators der Stufenabschnitt auf einem Randbereich
der Metallabscheidungsschicht ausgebildet. Dadurch sollen die
Verbindungseigenschaften zwischen der Metallabscheidungs
schicht und dem Metallikonteil verbessert werden.
Beim herkömmlichen Kondensator mit Dickrandaufbau
wurde im allgemeinen Zink für die Metallabscheidungsschicht
verwendet, jedoch wurde Aluminium kaum für die Metallabschei
dungsschicht verwendet. Der Grund hierfür liegt darin, daß,
wenn nur Aluminium verwendet wird, der Stufenabschnitt nicht
so ausreichend dick auf der Metallabscheidungsschicht ausge
bildet werden kann wie mit Zink. Wenn der Stufenabschnitt auf
der Metallabscheidungsschicht nur aus Aluminium gebildet
wird, besteht aufgrund der geringen Dicke des Stufenab
schnitts die Gefahr, daß die Zuverlässigkeit der Verbindung
zwischen der Metallabscheidungsschicht und dem Metallikonteil
in kurzer Zeit nachläßt. Dadurch ergibt sich ein Problem da
hingehend, daß ein maximal zulässiger Lade- und Entladestrom
des Kondensators auf einen kleinen Wert begrenzt ist.
Ferner war es beim Dickrandaufbau des herkömmlichen
Kondensators schwierig, derart geringe Dicken zu bilden, daß
die Selbstheilungsfähigkeit der Metallabscheidungsschicht
verbessert wird, selbst wenn Zink sowohl für die Metallab
scheidungsschicht als auch für den Stufenabschnitt verwendet
wird. Deshalb tritt beim herkömmlichen Kondensator das Pro
blem auf, daß es unmöglich ist, den elektrischen Potential
gradienten zu erhöhen und eine geringe Größe zu erreichen.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen
Kondensator zu schaffen, der die vorstehend genannten Pro
bleme löst.
Diese Aufgabe wird mit einem Kondensator gemäß An
spruch 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Un
teransprüchen beschrieben.
Der erfindungsgemäße Kondensator weist zwei metal
lisierte Schichten aus Aluminiumabscheidungsschichten auf,
die auf beiden Oberflächen der Kunststoffschichten als Haupt
elektrodenteil abgeschieden sind. Ferner ist auf jedem Rand
bereich jeder Kunststoffschicht eine bandförmige Zinkabschei
dungsschicht ausgebildet, so daß der Dickrandaufbau mit der
Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabscheidungsschicht
gebildet wird. Dadurch erfolgt die Selbstheilung in geeigne
ter Weise, und die Größe des Selbstheilungsbereichs wird
klein. Als Ergebnis kann die Spannungsfestigkeit jeder Kunst
stoffschicht bis zum Ausmaß der inhärenten Spannungsfestig
keit wiederhergestellt werden. Ferner ist es möglich, den
elektrischen Potentialgradienten zu erhöhen. Außerdem ist es
möglich, den maximal zulässigen Strom zu erhöhen, da die
Zinkabscheidungsschichten beim Dickrandaufbau verwendet wer
den. Deshalb weist der erfindungsgemäße Kondensator eine bes
sere Lebensdauerkennlinie bei kleiner Baugröße und leichtem
Gewicht auf.
Weitere Vorteile und Merkmale der vorliegenden Er
findung gehen aus der nachfolgenden Beschreibung von bevor
zugten Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeich
nungen hervor.
Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Haupt
teils eines Kondensators einer ersten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht des Aufbaus ei
nes Kondensatorelements in Fig. 1,
Fig. 3A einen Querschnitt, oder einen Zustand zeigt,
bevor eine Zinkabscheidungsschicht auf einer Aluminiumab
scheidungsschicht in einer metallisierten Schicht der ersten
Ausführungsform gebildet wurde,
Fig. 3B einen Querschnitt, der einen Zustand zeigt,
nachdem die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabschei
dungsschicht in der metallisierten Schicht der ersten Ausfüh
rungsform gebildet wurde,
Fig. 4A einen Querschnitt, der einen Zustand zeigt,
bevor die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabschei
dungsschicht in einer ersten metallisierten Schicht einer
zweiten Ausführungsform gebildet wurde,
Fig. 4B einen Querschnitt, der einen Zustand zeigt,
bevor die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabschei
dungsschicht in einer zweiten metallisierten Schicht der
zweiten Ausführungsform gebildet wurde,
Fig. 4C einen Querschnitt, der einen Zustand zeigt,
nachdem die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabschei
dungsschicht in der ersten metallisierten Schicht der zweiten
Ausführungsform gebildet wurde,
Fig. 4D einen Querschnitt, der einen Zustand zeigt,
nachdem die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminiumabschei
dungsschicht in der zweiten metallisierten Schicht der zwei
ten Ausführungsform gebildet wurde,
Fig. 5 eine perspektivische Ansicht einer metalli
sierten Schicht einer dritten Ausführungsform,
Fig. 6 einen Querschnitt, der eine metallisierte
Schicht eines dritten Vergleichsbeispiels zeigt,
Fig. 7 einen Graphen, der Testergebnisse eines
Durchbruchstests in einer Vergleichsuntersuchung 1 zeigt,
Fig. 8A eine perspektivische Ansicht der metalli
sierten Schicht der ersten Ausführungsform nach dem Durch
bruchstest,
Fig. 8B eine Querschnittsansicht längs der Linie
VIIIB-VIIIB von Fig. 8A, die die metallisierte Schicht der
ersten Ausführungsform nach dem Durchbruchstest zeigt,
Fig. 9A eine perspektivische Ansicht der metalli
sierten Schicht des dritten Vergleichsbeispiels nach dem
Durchbruchstest,
Fig. 9B eine Querschnittsansicht längs der Linie
IXB-IXB in Fig. 9A, die die metallisierte Schicht des dritten
Vergleichsbeispiels nach dem Durchbruchstest zeigt,
Fig. 10 einen Graphen, der Testergebnisse eines
Lade- und Entladetests in der Vergleichsuntersuchung 1 zeigt,
Fig. 11 einen Graphen, der Volumenwerte in Prozent
des Volumens des Kondensators des vierten Vergleichsbeispiels
zeigt,
Fig. 12 einen Graphen, der Testergebnisse eines
Durchbruchstests in einer Vergleichsuntersuchung 2 zeigt,
Fig. 13 einen Graphen, der Testergebnisse eines
Lade- und Entladetests in der Vergleichsuntersuchung 2 zeigt,
Fig. 14 einen Graphen, der Testergebnisse des
Durchbruchstests bei neun Typen von Kondensatoren (A) zeigt,
Fig. 15 einen Graphen, der Testergebnisse des Lade- und
Entladetests bei den neun Typen von Kondensatoren (A)
zeigt,
Fig. 16 einen Graphen, der Testergebnisse des
Durchbruchstests bei acht Typen von Kondensatoren (B) zeigt,
und
Fig. 17 einen Graphen, der Testergebnisse des Lade- und
Entladetests bei den acht Typen von Kondensatoren (B)
zeigt.
Es ist klar, daß einige oder alle Figuren schemati
sche Darstellungen für Erläuterungszwecke sind und nicht not
wendigerweise die tatsächlichen relativen Größen oder Anord
nungen der gezeigten Elemente wiedergeben.
Nachstehend sind bevorzugte Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung unter Bezug auf die Zeichnungen be
schrieben.
Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht, die einen
Hauptteil eines Kondensators einer ersten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt. Fig. 2 ist eine perspektivische
Ansicht, die den Aufbau eines Kondensatorelements aus Fig. 1
zeigt. In der Beschreibung der vorliegenden Erfindung ist die
Richtung der Breite einer metallisierten Schicht bzw. deren
Querrichtung durch einen Pfeil "W" und die Richtung der Länge
der metallisierten Schicht bzw. deren Längsrichtung durch ei
nen Pfeil "L" in Fig. 2 gezeigt.
In Fig. 1 und Fig. 2 weist ein Kondensator ein zy
linderförmiges Kondensatorelement 1 und zwei Metallikonteile
2a bzw. 2b auf, die an den beiden Endabschnitten des Konden
satorelements 1 angebracht sind. Das Kondensatorelement 1 und
die zwei Metallikonteile 2a, 2b sind in einem aus Metall ge
bildeten, nicht gezeigten Gehäuse eingeschlossen und darin
eingesiegelt. Es ist bekannt, daß das Innere des Gehäuses mit
Polybutenöl gefüllt ist, um die Isolierung des Kondensator
elements 1 gegen das Gehäuse zu verbessern. Ferner weist das
Gehäuse im allgemeinen eine Vorrichtung zur Erfassung des In
nendrucks, wie beispielsweise einen Balgdrucksensor, zum Er
fassen einer Störung des Kondensators auf.
Das Kondensatorelement 1 ist durch Übereinanderle
gen einer ersten metallisierten Schicht 3a und einer zweiten
metallisierten Schicht 3b und anschließendes Aufwickeln der
übereinanderliegenden Schichten zur Bildung einer Rolle auf
gebaut. Die zwei Metallikonteile 2a, 2b sind mittels eines
Metallspritzverfahrens aus Zink gebildet. Jedes der zwei Me
tallikonteile 2a, 2b ist mit einem Elektrodenanschluß (nicht
gezeigt) verbunden, der in dem Gehäuse vorgesehen ist, so daß
das Kondensatorelement 1 an eine externe elektrische Span
nungs- bzw. Stromquelle anschließbar ist.
Die erste metallisierte Schicht 3a umfaßt eine
längliche bzw. langgestreckte Polyethylenterephthalat-Schicht
(nachstehend als PET-Schicht bezeichnet) 4a mit ca. 10 µm
Dicke als Substrat, eine auf einer Oberfläche der PET-Schicht
4a abgeschiedene Aluminiumniederschlagsschicht bzw. Alumini
umabscheidungsschicht 5a mit mehreren 100 Å Dicke und eine
auf der Aluminiumabscheidungsschicht 5a abgeschiedene Zink
niederschlagsschicht bzw. Zinkabscheidungsschicht 6a mit ca.
100 Å Dicke. In ähnlicher Weise umfaßt die zweite metalli
sierte Schicht 3b die PET-Schicht 4b, eine auf einer Oberflä
che der PET-Schicht 4b abgeschiedene Aluminiumabscheidungs
schicht 5b und eine auf der Aluminiumabscheidungsschicht 5b
abgeschiedene Zinkabscheidungsschicht 6b mit jeweils ähnli
chen Dicken. Jede der PET-Schichten 4a, 4b dient als dielek
trisches Element, und jede der Aluminiumabscheidungsschichten
5a, 5b und der Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b dient als
Elektrodenelement.
Wie in Fig. 2 gezeigt ist, wird die erste metalli
sierte Schicht 3a auf die zweite metallisierte Schicht 3b ge
legt, so daß die PET-Schicht 4a in Kontakt mit der Zinkab
scheidungsschicht 6b kommt. Ferner sind die erste und die
zweite metallisierte Schicht 3a und 3b in einer durch einen
Pfeil "R" in Fig. 2 gezeigten Drehrichtung gewickelt, so daß
das Kondensatorelement 1 entsteht.
Als Beispiel wird die erste metallisierte Schicht
3a unter Bezug auf Fig. 3A und Fig. 3B nachstehend ausführ
lich beschrieben.
Fig. 3A ist ein Querschnitt, der einen Zustand
zeigt, bevor eine Zinkabscheidungsschicht auf einer Alumini
umabscheidungsschicht in einer metallisierten Schicht der er
sten Ausführungsform gebildet wird. Fig. 3B ist ein Quer
schnitt, der einen Zustand zeigt, nachdem die Zinkabschei
dungsschicht auf der Aluminiumabscheidungsschicht in der me
tallisierten Schicht der ersten Ausführungsform gebildet
wurde. Natürlich sind die Dicken der jeweiligen Schichten
übertrieben vergrößert dargestellt, um den Aufbau darzustel
len.
Wie in Fig. 3A gezeigt ist, ist die Aluminiumab
scheidungsschicht 5a durch ein Bedampfungsverfahren mit einem
vorbestimmten Muster auf einer Oberfläche der PET-Schicht 3a
ausgebildet. Das heißt, in Querrichtung ist die Breite der
Aluminiumabscheidungsschicht 5a geringer als diejenige der
PET-Schicht 4a. Wenn der linke Seitenrand der Aluminiumab
scheidungsschicht 5a mit dem Metallikonteil 2a (Fig. 1) ver
bunden wird, ist es demzufolge möglich, zu verhindern, daß
ein Kontakt des rechten Seitenrands der Aluminiumabschei
dungsschicht 5a mit dem Metallikonteil 2b (Fig. 1) erfolgt.
Danach wird, wie in Fig. 3B gezeigt ist, die band
förmige Zinkabscheidungsschicht 6a auf der Aluminiumabschei
dungsschicht 5a durch das Bedampfungsverfahren unter Verwen
dung einer Maske längs des Randes ausgebildet. Somit wird die
Zinkabscheidungsschicht 6a auf der Aluminiumabscheidungs
schicht 5a ausgebildet, die auf der PET-Schicht 3a gebildet
wurde. Als Ergebnis bilden die Aluminiumabscheidungsschicht
5a und die Zinkabscheidungsschicht 6a zusammen einen Dick
randaufbau (heavy edge construction) auf der PET-Schicht 3a,
so daß das Metallikonteil 2a (Fig. 1) mit beiden Randteilen
der Aluminiumabscheidungsschicht 5a und der Zinkabscheidungs
schicht 6a verbunden ist.
Diese Herstellungsprozesse der Aluminiumabschei
dungsschicht 5a und der Zinkabscheidungsschicht 6a werden in
einem Vakuumtank bei vorbestimmten Bedingungen durchgeführt,
beispielsweise unter 0,001 mm Hg Vakuum und 130°C ± 10°C.
Abweichend von der vorstehenden Erläuterung, bei
der das zylinderförmige Kondensatorelement 1 durch gemeinsa
mes Aufwickeln der ersten und der zweiten metallisierten
Schicht 3a, 3b gebildet ist, kann ein alternativer Aufbau
derart sein, daß das Kondensatorelement durch Wickeln der er
sten und der zweiten metallisierten Schicht 3a, 3b in ein
Oval gebildet wird. Ferner kann im Unterschied zur vorstehen
den Erläuterung, bei der das dielektrische Element durch die
PET-Schichten 4a, 4b gebildet ist, ein alternativer Aufbau
derart sein, daß das dielektrische Element durch eine Poly
propylen-Schicht, eine Polycarbonat-Schicht, eine Polystyrol-
Schicht, eine Polyethylen-Schicht oder eine Verbundschicht
daraus gebildet ist.
Fig. 4A ist ein Querschnitt, der einen Zustand
zeigt, bevor eine Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminium
abscheidungsschicht in einer ersten metallisierten Schicht
einer zweiten Ausführungsform gebildet wird. Fig. 4B ist ein
Querschnitt, der einen Zustand zeigt, bevor die Zinkabschei
dungsschicht auf der Aluminiumabscheidungsschicht in einer
zweiten metallisierten Schicht der zweiten Ausführungsform
gebildet wird. Fig. 4C ist ein Querschnitt, der einen Zustand
zeigt, nachdem die Zinkabscheidungsschicht auf der Aluminium
abscheidungsschicht in der ersten metallisierten Schicht der
zweiten Ausführungsform gebildet wurde. Fig. 4D ist ein Quer
schnitt, der einen Zustand zeigt, nachdem die Zinkabschei
dungsschicht auf der Aluminiumabscheidungsschicht in der
zweiten metallisierten Schicht der zweiten Ausführungsform
gebildet wurde.
Bei dieser zweiten Ausführungsform ist das Konden
satorelement 1 mit Ausnahme der Muster der Aluminiumabschei
dungsschichten im wesentlichen gleich aufgebaut wie bei der
ersten Ausführungsform. Demzufolge sind Teile und Komponen
ten, die der ersten Ausführungsform entsprechen, mit den
gleichen Bezugszeichen und -zahlen versehen, und die diesbe
züglich erfolgte Beschreibung zur ersten Ausführungsform gilt
in gleicher Weise. Bei der folgenden Beschreibung sind haupt
sächlich Unterschiede dieser zweiten Ausführungsform zur er
sten Ausführungsform erläutert.
Der Zweck dieser zweiten Ausführungsform ist es,
mehrere längliche Aluminiumabscheidungsschichten
(beispielsweise vier Teile) auf der ersten und der zweiten
PET-Schicht auszubilden. Wenn ferner die erste metallisierte
Schicht auf die zweite metallisierte Schicht gelegt wird,
wird das Verhältnis zwischen jedem Spalt, der zwischen zwei
benachbarten der mehreren Aluminiumabscheidungsschichten auf
der ersten metallisierten Schicht gebildet ist, und jedem
Spalt, der zwischen zwei benachbarten der mehreren Aluminium
abscheidungsschichten auf der zweiten metallisierten Schicht
gebildet ist, wie folgt gewählt. Der Spalt auf der ersten me
tallisierten Schicht und der Spalt auf der zweiten metalli
sierten Schicht sind versetzt zueinander angeordnet. Dadurch
werden mehrere serielle Kondensatorteile in dem Kondensator
element 1 gebildet.
Bei dieser zweiten Ausführungsform sind durch die
vier Aluminiumabscheidungsschichten 5a1, 5a2, 5a3, 5a4 und
drei Spalte 7a1, 7a2, 7a3 Streifen auf der PET-Schicht 4a
ausgebildet. Das heißt, wie in Fig. 4A gezeigt ist, sind vier
Aluminiumabscheidungsschichten 5a1, 5a2, 5a3, 5a4 auf einer
Oberfläche der PET-Schicht 4a so ausgebildet, daß die vier
Aluminiumabscheidungsschichten 5a1, 5a2, 5a3, 5a4 parallel
zueinander in Längsrichtung angeordnet sind. Dadurch werden
drei längliche Trennspalte 7a1, 7a2, 7a3 zwischen zwei be
nachbarten der vier Aluminiumabscheidungsschichten 5a1, 5a2,
5a3, 5a4 parallel zueinander gebildet.
Wie in Fig. 4B gezeigt ist, werden in ähnlicher
Weise vier Aluminiumabscheidungsschichten 5b1, 5b2, 5b3, 5b4
auf einer Oberfläche der PET-Schicht 4b so gebildet, daß die
vier Aluminiumabscheidungsschichten 5b1, 5b2, 5b3, 5b4 paral
lel zueinander in Längsrichtung angeordnet sind. Dadurch wer
den drei längliche Trennspalte 7b1, 7b2, 7b3 parallel in
Längsrichtung zwischen benachbarten zwei der vier Aluminium
abscheidungsschichten 5b1, 5b2, 5b3, 5b4 gebildet.
Wie in Fig. 4C gezeigt ist, wird danach die Zinkab
scheidungsschicht 6a auf der Aluminiumabscheidungsschicht 5a1
gebildet, wodurch die erste metallisierte Schicht 3a fertig
gestellt ist. Außerdem bilden die Aluminiumabscheidungs
schicht 5a1 und die Zinkabscheidungsschicht 6a den Dickrand
aufbau für den Kontakt mit dem Metallikonteil 2a (Fig. 1).
Wie in Fig. 4D gezeigt ist, wird in ähnlicher Weise
die Zinkabscheidungsschicht 6b auf der Aluminiumabscheidungs
schicht 5b4 ausgebildet, wodurch die zweite metallisierte
Schicht 3b fertiggestellt ist. Außerdem bilden die Aluminium
abscheidungsschicht 5b4 und die Zinkabscheidungsschicht 6b
den Dickrandaufbau für den Kontakt mit dem Metallikonteil 2b
(Fig. 1).
Nachdem die erste metallisierte Schicht 3a so auf
die zweite metallisierte Schicht 3b gelegt wurde, daß die
drei Spalte 7a1, 7a2, 7a3 jeweils nicht oberhalb der drei
Spalten 7b1, 7b2, 7b3 zu liegen kommen, werden die erste und
die zweite metallisierte Schicht 3a und 3b zusammengewickelt.
Dadurch wird das Kondensatorelement 1 (Fig. 1) als Kondensa
tor mit mehreren seriell verbundenen Elementen ausgebildet.
Das heißt, bei diesem Kondensatorelement 1 sind sieben in Se
rie verbundene Kondensatoren zwischen den jeweiligen Alumini
umabscheidungsschichten 5a1, 5a2, 5a3, 5a4 und den jeweiligen
Aluminiumabscheidungsschichten 5b1, 5b2, 5b3, 5b4 ausgebil
det.
Fig. 5 ist eine perspektivische Ansicht, die eine
metallisierte Schicht einer dritten Ausführungsform zeigt.
Bei dieser dritten Ausführungsform weist das Kon
densatorelement 1 im wesentlichen den gleichen Aufbau wie bei
der zweiten Ausführungsform auf, jedoch mit der Ausnahme, daß
mehrere ausgeschnittene Abschnitte in den mehreren Aluminium
abscheidungsschichten und den Zinkabscheidungsschichten par
allel in Querrichtung ausgebildet sind. Demzufolge sind Teile
und Komponenten, die der zweiten Ausführungsform entsprechen,
mit den gleichen Bezugszahlen und -zeichen versehen, und die
diesbezügliche Beschreibung zur zweiten Ausführungsform gilt
in ähnlicher Weise. In der folgenden Beschreibung sind haupt
sächlich Unterschiede dieser dritten Ausführungsform bezüg
lich der zweiten Ausführungsform erläutert.
Wie in Fig. 5 gezeigt ist sind die jeweiligen vier
Aluminiumabscheidungsschichten 5a1, 5a2, 5a3, 5a4 und die
Zinkabscheidungsschicht 6a in Längsrichtung durch mehrere
ausgeschnittene Abschnitte 8 in mehrere Teile unterteilt. Die
ausgeschnittenen Abschnitte 8 sind durch ein Laserstrahlbear
beitungsverfahren, ein Bedampfungsverfahren unter Verwendung
von Öl als Maske (oil-transferal vapor deposition) oder der
gleichen auf der PET-Schicht 4a parallel zur Querrichtung
ausgebildet.
Bei der dritten Ausführungsform sind die mehreren
ausgeschnittenen Abschnitte 8 auf zumindest einer der ersten
und der zweiten metallisierten Schichten 3a und 3b der zwei
ten Ausführungsform ausgebildet. Dadurch werden mehrere Sätze
mit jeweils sieben in Serie verbundenen Kondensatoren des
weiteren parallel geschaltet, wodurch ein Kondensatorelement
1 mit der in Fig. 1 gezeigten Form gebildet wird.
Nachstehend sind Vergleichsuntersuchungen für ver
schiedene Kombinationen der vorstehenden Ausführungsformen
mit Vergleichsbeispielen gezeigt.
Drei Vergleichsbeispiele, ein erstes Vergleichsbei
spiel, ein zweites Vergleichsbeispiel und ein drittes Ver
gleichsbeispiel wurden vorbereitet.
In der nachfolgenden Beschreibung wird jedes Kon
densatorelement der drei Vergleichsbeispiele beschrieben.
Das erste Vergleichsbeispiel weist die Aluminium
abscheidungsschicht auf, die auf eine Oberfläche der
PET-Schicht mit dem in Fig. 3A gezeigten Muster ausgebildet ist,
so daß die Herstellung der metallisierten Schicht vollendet
ist. Der spezifische elektrische Widerstand dieser Aluminium
abscheidungsschicht wird auf 8-30 Ω/Flächeneinheit bzw.
Ω/Fläche (beispielsweise 8-30 Ω/m²) eingestellt. Danach
wird ein Kondensatorelement durch Wickeln der zwei metalli
sierten Schichten gebildet, und die zwei Metallikonteile wer
den auf beiden Endabschnitten des Kondensatorelements ange
bracht.
Das zweite Vergleichsbeispiel weist die Aluminium
abscheidungsschicht auf, die auf einer Oberfläche der
PET-Schicht mit dem in Fig. 3A gezeigten Muster ausgebildet ist,
so daß die Herstellung der metallisierten Schicht vollendet
ist. Der spezifische Widerstand dieser Aluminiumabscheidungs
schicht wird auf 1,5-7 Ω/Flächeneinheit eingestellt. Da
nach wird ein Kondensatorelement durch Aufwickeln der zwei
metallisierten Schichten gebildet, und die zwei Metallikon
teile werden auf beiden Endteilen des Kondensatorelements an
gebracht.
Das dritte Vergleichsbeispiel weist eine Zinkab
scheidungsschicht 15a mit dem Dickrandaufbau auf, die auf ei
ner Oberfläche der PET-Schicht 14a ausgebildet ist, wie in
Fig. 6 gezeigt ist, so daß die Herstellung der metallisierten
Schicht 13a vollendet ist. Bei dieser Zinkabscheidungsschicht
15a wird der spezifische Widerstand eines Teils des Dickrand
aufbaus auf 1,5-7 Ω/Flächeneinheit eingestellt, und der
spezifische Widerstand des dünnen Teils mit Ausnahme des
Teils des Dickrandaufbaus wird auf 8-30 Ω/Flächeneinheit
eingestellt. Danach wird durch Aufwickeln der zwei metalli
sierten Schichten 13a ein Kondensatorelement gebildet, und
die zwei Metallikonteile werden auf beiden Endabschnitten des
Kondensatorelements angebracht. Dieses Kondensatorelement des
dritten Vergleichsbeispiels ist das gleiche wie das her
kömmliche Kondensatorelement mit dem Dickrandaufbau.
In einer Vergleichsuntersuchung 1 wird der Konden
sator der vorstehend genannten ersten Ausführungsform mit
Kondensatoren der drei Vergleichsbeispiele verglichen, um die
technischen Vorteile des Kondensators der ersten Ausführungs
form zu zeigen. Bei dem Kondensatorelement 1 der in Fig. 2
gezeigten ersten Ausführungsform wird der spezifische Wider
stand der in Fig. 2 gezeigten jeweiligen Aluminiumabschei
dungsschichten 5a, 5b auf 8-30 Ω/Flächeneinheit einge
stellt. Außerdem wird der spezifische Widerstand der jeweili
gen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b (Fig. 2) auf 1,5-7
Ω/Flächeneinheit eingestellt.
Hinsichtlich der äußeren Erscheinung der metalli
sierten Schicht ist das dritte Vergleichsbeispiel der ersten
Ausführungsform ähnlich. Es gibt jedoch Unterschiede zwischen
der ersten Ausführungsform und dem dritten Vergleichsbei
spiel, die unter (1) und (2) beschrieben sind.
- (1) Was den auf der PET-Schicht abgeschiedenen Hauptelektrodenteil betrifft, ist die metallisierte Schicht der ersten Ausführungsform durch die Aluminiumabscheidungs schicht 5a, 5b (Fig. 2) gebildet. Im Gegensatz zu der ersten Ausführungsform ist der Hauptelektrodenteil des dritten Ver gleichsbeispiels durch die in Fig. 6 gezeigte Zinkabschei dungsschicht 15a gebildet.
- (2) Was den Dickrandaufbau betrifft, ist die metal lisierte Schicht der ersten Ausführungsform durch eine Dop pelabscheidungsschicht gebildet, die aus den Aluminiumab scheidungsschichten 5a bzw. 5b und den bandförmigen Zinkab scheidungsschichten 6a bzw. 6b (Fig. 2) besteht. Im Gegensatz zur ersten Ausführungsform ist der Dickrandaufbau des dritten Vergleichsbeispiels nur durch die Zinkabscheidungsschicht 15 von Fig. 6 gebildet.
In der Vergleichsuntersuchung 1 ist jedes der Kon
densatorelemente der ersten Ausführungsform und der drei Ver
gleichsbeispiele in dem Gehäuse eingeschlossen, das mit der
Vorrichtung zur Erfassung des Innendrucks versehen ist. Jedes
der Metallikonteile ist mit dem Elektrodenanschluß verbunden,
und das Innere des Gehäuses ist mit dem Polybutenöl gefüllt.
Die Dicke jeder PET-Schicht der ersten Ausführungsform und
der drei Vergleichsbeispiele beträgt 10 µm, und die Kapazität
jedes Kondensators der ersten Ausführungsform und der drei
Vergleichsbeispiele beträgt 30 µF.
Das Ergebnis eines Durchbruchstests in der Ver
gleichsuntersuchung 1 wird unter Bezug auf Fig. 7 erläutert.
Fig. 7 ist ein Graph, der Testergebnisse eines
Durchbruchstests in einer Vergleichsuntersuchung 1 zeigt, wo
bei die Art der Kondensatoren auf der Abszisse dargestellt
ist und die Ordinate eine Durchbruchsspannung angibt. Auf der
Abszisse von Fig. 7 bezeichnen die Punkte von "A", "B", "C"
und "D" die Kondensatoren der ersten Ausführungsform, des er
sten Vergleichsbeispiels, des zweiten Vergleichsbeispiels
bzw. des dritten Vergleichbeispiels.
Um einen Mittelwert der Durchbruchsspannung der je
weiligen Kondensatoren zu erhalten, wird der Durchbruchstest
bei zehn Kondensatoren durchgeführt. Bei dem Durchbruchstest
wird eine Testspannung an die jeweiligen Kondensatoren ange
legt, und die Testspannung wird mit einer vorbestimmten Rate
erhöht, bis in jedem Kondensator der Durchbruch auftritt.
Ferner sind die Testbedingungen bei dem Durch
bruchstest wie folgt:
- (1) Die Temperatur beträgt 20 ± 15°C,
- (2) die Luftfeuchtigkeit beträgt 50 ± 20%, und
- (3) die Erhöhungsrate der Testspannung beträgt 100 Volt pro Minute.
Wie in Fig. 7 gezeigt ist, ist der Mittelwert der
Durchbruchsspannung bei den Kondensatoren der ersten Ausfüh
rungsform höher als derjenige des dritten Vergleichsbei
spiels. Der Differenzwert zwischen der Durchbruchsspannung
der ersten Ausführungsform und derjenigen des dritten Ver
gleichsbeispiels beträgt konkret 700-1000 Volt. Der Mittel
wert der Durchbruchsspannung bei den Kondensatoren des ersten
Vergleichsbeispiels ist ähnlich demjenigen der ersten Ausfüh
rungsform. Die Durchbruchsspannung bei den Kondensatoren des
ersten Vergleichsbeispiels variiert jedoch stärker als dieje
nigen der ersten Ausführungsform. Der Mittelwert der Durch
bruchsspannung bei den Kondensatoren des zweiten Vergleichs
beispiels ist niedriger als derjenige der ersten Ausführungs
form und des ersten Vergleichsbeispiels und höher als derje
nige des dritten Vergleichsbeispiels.
Die Selbstheilung der metallisierten Schichten der
jeweiligen Kondensatoren nach dem Durchbruchstest ist nach
stehend unter Bezug auf die Fig. 8A, Fig. 8B, Fig. 9A und
Fig. 9B erläutert.
Fig. 8A ist eine perspektivische Ansicht, die die
metallisierte Schicht der ersten Ausführungsform nach dem
Durchbruchstest zeigt. Fig. 8B ist eine Querschnittsansicht
längs der Linie VIIIB-VIIIB in Fig. 8A, die die metalli
sierte Schicht der ersten Ausführungsform nach dem Durch
bruchstest zeigt. Fig. 9A ist eine perspektivische Ansicht,
die die metallisierte Schicht des dritten Vergleichsbeispiels
nach dem Durchbruchstest zeigt. Fig. 9B ist eine Quer
schnittsansicht längs der Linie IXB-IXB in Fig. 9A, die die
metallisierte Schicht des dritten Vergleichsbeispiels nach
dem Durchbruchstest zeigt.
Um die Selbstheilung nachzuweisen, zerlegten die
Erfinder die jeweiligen Kondensatoren nach dem Durchbruchs
test und betrachteten den Zustand der metallisierten Schich
ten.
Wie in Fig. 8A und Fig. 8B gezeigt ist, wird ein
kleiner und erwünschter Selbstheilungsbereich 10 in der Alu
miniumabscheidungsschicht 5a oberhalb eines Isolierungsde
fektbereichs 9 gebildet. Es ist bekannt, daß der in der
PET-Schicht 4a erzeugte Isolierungsdefektbereich 9 durch eine in
der PET-Schicht 4a existierende Luftblase verursacht wird.
Wenn die Testspannung an den Kondensator angelegt wird, wird
der Selbstheilungsbereich 10 durch Dispersion bzw. Zerstreu
ung der Aluminiumabscheidungsschicht 5a oberhalb des durch
den Kurzschlußstrom verursachten Isolierungsdefektbereichs 9
gebildet.
Wie in Fig. 9A und Fig. 9B gezeigt ist, wird ober
halb eines Isolierungsdefektbereichs 11 in der Zinkabschei
dungsschicht 15a eine großer Selbstheilungsbereich 12 gebil
det.
Die Größe des Selbstheilungsbereichs 10 in der Alu
miniumabscheidungsschicht 5a ist geringer als diejenige des
Selbstheilungsbereichs 12 in der Zinkabscheidungsschicht 15a.
Das heißt, bei der metallisierten Schicht 3a der ersten Aus
führungsform erfolgt die Selbstheilung in geeigneter Weise
und die durch Wärme verursachte Beschädigung der PET-Schicht
4a durch den Kurzschlußstrom ist zulässig. Demzufolge ist an
zunehmen, daß die Spannungsfestigkeit der PET-Schicht 4a fast
bis zum Ausmaß der inhärenten Spannungsfestigkeit der
PET-Schicht 4a wiedererlangt wird.
Im Gegensatz dazu ist bei der metallisierten
Schicht 13a des dritten Vergleichsbeispiels der Selbsthei
lungsbereich nicht klein, die Zinkabscheidungsschicht 15a
geht über einen großen Bereich verloren, und die durch Wärme
verursachte Beschädigung der PET-Schicht 14a durch den Kurz
schlußstrom ist sehr stark. Demzufolge wird die Größe des
Isolierungsdefektbereichs 11 der PET-Schicht 14a größer als
diejenige des Isolierungsdefektbereichs 9 der PET-Schicht 4a.
Demzufolge erfolgt die Selbstheilung für den Fall, daß die
Zinkabscheidungsschicht 15a auf der PET-Schicht 14a ausgebil
det ist, nicht in geeigneter Weise. Als Ergebnis wird die
Spannungsfestigkeit der PET-Schicht 14a nicht bis zum Ausmaß
der inhärenten Spannungsfestigkeit der PET-Schicht 14a wie
dererlangt.
In der metallisierten Schicht (nicht gezeigt) des
ersten Vergleichsbeispiels ist die Größe des Selbstheilungs
bereichs kleiner bemessen als diejenige sowohl des Selbsthei
lungsbereichs 12 als auch diejenige des Selbstheilungsbe
reichs 10. In der metallisierten Schicht des ersten Ver
gleichsbeispiels wird jedoch die Aluminiumabscheidungsschicht
in der Nähe des Metallikonteils durch den Kurzschlußstrom
zerstreut und verdampft. Dadurch wird das Kondensatorelement
des ersten Vergleichsbeispiels von dem Metallikonteil abge
koppelt, und Kapazität des Kondensatorelements geht verloren.
Der Grund dafür besteht darin, daß der spezifische Widerstand
der Aluminiumabscheidungsschicht zu groß ist. Somit gibt es
bei diesem ersten Vergleichsbeispiel kein Problem hinsicht
lich der Durchbruchsspannung. Bei dem ersten Vergleichsbei
spiel besteht jedoch ein Problem hinsichtlich der maximal zu
lässigen Lade- und Entladeströme.
Bei der metallisierten Schicht (nicht gezeigt) des
zweiten Vergleichsbeispiels ist die Größe eines Selbsthei
lungsbereichs ähnlich groß wie diejenige beim dritten Ver
gleichsbeispiel. Demzufolge wird in dem Fall, daß der spezi
fische Widerstand der Aluminiumabscheidungsschicht klein ist,
bestätigt, daß die Durchbruchsspannung nicht verbessert wer
den kann.
Ergebnisse eines Lade- und Entladetests in der Ver
gleichsuntersuchung 1 sind nachstehend unter Bezug auf Fig. 10
erläutert.
Fig. 10 ist ein Graph, der Testergebnisse eines
Lade- und Entladetests in der Vergleichsuntersuchung 1 zeigt,
wobei die Abszisse die Anzahl des Zyklus der Lade- und Entla
deoperationen angibt und die Ordinate die Abfallrate der Ka
pazität angibt.
Ein Hauptzweck des Lade- und Entladetests ist es,
die maximal zulässigen Lade- und Entladeströme der Kondensa
toren der ersten Ausführungsform, des ersten Vergleichsbei
spiels, des zweiten Vergleichsbeispiels und des dritten Ver
gleichsbeispiels festzustellen.
Die Testbedingungen bei dem Lade- und Entladetest
sind wie folgt:
- (1) Die Temperatur beträgt 20 ± 15°C,
- (2) die Luftfeuchtigkeit beträgt 50 ± 20%,
- (3) die angelegte Spannung beträgt 2500 Volt,
- (4) die Spitzenströme des Ladestroms und des Entladestroms betragen 200 Ampere, und
- (5) die Zeit einer Entladung beträgt 200 µs.
In Fig. 10 bezeichnet eine durchgezogene Linie 30
Testergebnisse des Kondensators der ersten Ausführungsform,
und eine doppelstrichpunktierte Linie 31 bezeichnet Tester
gebnisse des Kondensators des ersten Vergleichsbeispiels.
Ferner bezeichnet eine gestrichelte Linie 32 Testergebnisse
des Kondensators des zweiten Vergleichsbeispiels, und eine
strichpunktierte Linie 33 bezeichnet Testergebnisse des Kon
densators des dritten Vergleichsbeispiels.
Wie in Fig. 10 gezeigt ist, ist die Abfallrate der
Kapazität des Kondensators der ersten Ausführungsform am
kleinsten, und die Abfallrate der Kapazität wird in Reihen
folge der Kondensatoren des ersten, des dritten und des zwei
ten Vergleichsbeispiels kleiner. Außerdem sind bei Anstieg
der Anzahl der Zyklen der Lade- und Entladeoperationen die
jeweiligen Unterschiede der Testergebnisse deutlich gezeigt.
Danach zerlegten die Erfinder ähnlich wie im Fall
des Durchbruchstests die Kondensatoren nach dem Lade- und
Entladetest, um die Selbstheilung nachzuweisen, und sie be
trachteten den Zustand der metallisierten Schichten.
In der metallisierten Schicht (nicht gezeigt) des
ersten Vergleichsbeispiels erfolgt die Selbstheilung wie im
Fall des Durchbruchstests in etwa in geeigneter Weise. Jedoch
wird die Aluminiumabscheidungsschicht in der Nähe der Metal
likonteile durch den Kurzschlußstrom zerstreut und verdampft,
obwohl die Anzahl der Selbstheilungsbereiche klein ist. Da
durch wird das Kondensatorelement des ersten Vergleichsbei
spiels von dem Metallikonteil abgekoppelt, und Kapazität des
Kondensatorelements geht verloren. Als Grund wird angenommen,
daß der spezifische Widerstand der Aluminiumabscheidungs
schicht wie im Fall des Durchbruchstests zu groß ist.
In der metallisierten Schicht (nicht gezeigt) des
zweiten Vergleichsbeispiels ist der Zerstreuungsgrad der Alu
miniumabscheidungsschicht in der Nähe des Metallikonteils
kleiner im Vergleich zu demjenigen des ersten Vergleichsbei
spiels. Demzufolge ist der Abfall der Kapazität im Vergleich
zu demjenigen des ersten Vergleichsbeispiels kleiner. In ähn
licher Weise ist bei der metallisierten Schicht (nicht ge
zeigt) des dritten Vergleichsbeispiels der Zerstreuungsgrad
der Zinkabscheidungsschicht in der Nähe des Metallikonteils
im Vergleich zu demjenigen des ersten Vergleichsbeispiels
kleiner. Demzufolge ist der Abfall der Kapazität im Vergleich
zu demjenigen des ersten Vergleichsbeispiels kleiner.
In den metallisierten Schichten des zweiten und des
dritten Vergleichsbeispiels ist jedoch die Anzahl der Selbst
heilungsbereiche groß, und die Selbstheilung ist nicht gut.
Außerdem ist in den metallisierten Schichten des zweiten und
des dritten Vergleichsbeispiels jeder Selbstheilungsbereich
groß.
In der metallisierten Schicht 3a der ersten Ausfüh
rungsform ist die Anzahl der Selbstheilungsbereiche 10 klein,
und der Selbstheilungsbereich 10 ist kleiner als derjenige
anderer Vergleichsbeispiele.
Gemäß den Testergebnissen des Durchbruchstests und
des Lade- und Entladetests sind die jeweiligen Kondensatoren
der ersten Ausführungsform und des ersten bis dritten Ver
gleichsbeispiels mit den folgenden Spezifikationen (1) bis
(3) versehen, so daß sie die gleiche Lebensdauerkennlinie
aufweisen:
- (1) Die Nennspannung beträgt 2400 Volt,
- (2) der Nennstrom beträgt 100 Ampere und
- (3) die Kapazität beträgt 30 µF.
Wenn jedes Volumen der Kondensatoren berechnet
wird, wird der berechnete Wert des Kondensators der ersten
Ausführungsform zu ca. 25-30% kleiner im Vergleich zu den
jenigen der Kondensatoren des ersten bis dritten Vergleichs
beispiels erhalten.
Somit umfassen im Kondensator der ersten Ausfüh
rungsform die zwei metallisierten Schichten 3a, 3b (Fig. 2)
die auf den PET-Schichten 4a, 4b (Fig. 2) abgeschiedenen Alu
ininiumabscheidungsschichten 5a bzw. 5b (Fig. 2) als Haupt
elektrodenteil. In einem Seitenbereich jeder der PET-Schich
ten 4a, 4b sind die Zinkabscheidungsschichten 6a bzw. 6b auf
den Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b ausgebildet, so daß
der Dickrandaufbau durch die Aluminiumabscheidungsschichten
5a, 5b und die Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b gebildet
wird. Dadurch ist es möglich, daß die Selbstheilung geeignet
erfolgt und die Größe des Selbstheilungsbereichs 10 (Fig. 8A
und 8B) klein wird. Als Ergebnis kann die Spannungsfestigkeit
der PET-Schichten 4a, 4b wiedererlangt werden. Es ist mög
lich, den elektrischen Potentialgradienten zu erhöhen. Da die
Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b bei dem Dickrandaufbau ver
wendet werden, können die maximal zulässige Ladung und die
Entladeströme erhöht werden.
Im Ergebnis ist es bei dem Kondensator der ersten
Ausführungsform möglich, den Kondensator mit einer besseren
Lebensdauerkennlinie bei kleiner Größe und geringem Gewicht
herzustellen.
In einer Vergleichsuntersuchung 2 werden die Kon
densatoren der vorstehend genannten zweiten und dritten Aus
führungsformen mit einem Kondensator eines vierten Ver
gleichsbeispiels verglichen, um die technischen Vorteile der
Kondensatoren der zweiten und dritten Ausführungsformen zu
zeigen.
In dem in den Fig. 4C und 4D gezeigten Kondensator
element der zweiten Ausführungsform wird der spezifische Wi
derstand der entsprechenden Aluminiumabscheidungsschichten
5a, 5b auf 8-30 Ω/Flächeneinheit eingestellt. Der spezifi
sche Widerstand der entsprechenden Zinkabscheidungsschichten
6a, 6b wird auf 1,5-7 Ω/Flächeneinheit eingestellt.
Bei dem in Fig. 5 gezeigten Kondensatorelement der
dritten Ausführungsform wird der spezifische Widerstand der
entsprechenden Aluminiumabscheidungsschichten auf 8-30
Ω/Flächeneinheit eingestellt. Der spezifische Widerstand der
entsprechenden Zinkabscheidungsschichten wird auf 1,5-7
Ω/Flächeneinheit eingestellt.
Der Kondensator des vierten Vergleichsbeispiels ist
aus sieben Kondensatoren der ersten Ausführungsform gebildet,
die in Serie miteinander verbunden sind.
Bei dieser Vergleichsuntersuchung 2 beträgt die
Dicke jeder PET-Schicht 4a, 4b der zweiten Ausführungsform,
der dritten Ausführungsform und des vierten Vergleichsbei
spiels 10 µm, und die Kapazität jedes Kondensators der zwei
ten Ausführungsform, der dritten Ausführungsform und des
vierten Vergleichsbeispiels beträgt 4,3 µF. Ferner beträgt
die Nennspannung jedes Kondensators 17 000 Volt.
Die Ergebnisse der Volumenberechnung für jeden Kon
densator sind nachstehend unter Bezug auf Fig. 11 erläutert.
Fig. 11 ist ein Graph, der den Volumenwert in % des
Volumens des Kondensators des vierten Vergleichsbeispiels an
gibt, wobei die Art der Kondensatoren auf der Abszisse darge
stellt ist und die Ordinate den Volumenwert in % des Volumens
des Kondensators des vierten Vergleichsbeispiels angibt. In
der Abszisse von Fig. 11 bezeichnen die Punkte "E", "F" und
"G" auf der Abszisse die Kondensatoren der zweiten Ausfüh
rungsform, der dritten Ausführungsform bzw. des vierten Ver
gleichsbeispiels.
Der durch den Punkt "E" gezeigte Kondensator weist
einen gemäß der zweiten Ausführungsform, die durch Kombinie
ien der metallisierten Schichten 3a, 3b der Fig. 4C und Fig. 4D
hergestellt ist, erläuterten Aufbau, eine Kapazität von
4,3 µF und eine Nennspannung von 17 000 Volt auf.
Der durch den Punkt "F" gezeigte Kondensator weist
einen in der dritte Ausführungsform erläuterten Aufbau, eine
Kapazität von 4,3 µF und eine Nennspannung von 17 000 Volt
auf.
Der durch den Punkt "G" gezeigte Kondensator weist
einen unter Bezug auf die Fig. 1 bis 3 erläuterten Aufbau,
eine Kapazität von 4,3 µF und eine Nennspannung von 17 000
Volt auf.
Wie in Fig. 11 gezeigt ist, beträgt in dem Fall,
daß das Volumen des Kondensators des vierten Vergleichsbei
spiels 100% beträgt, dasjenige der zweiten und der dritten
Ausführungsform ca. 80% bzw. 75%. Das heißt, die Volumina
der zweiten und der dritten Ausführungsform sind um ca. 20-25%
kleiner im Vergleich zu demjenigen der ersten Ausfüh
rungsform. Der Grund hierfür liegt darin, daß in den Konden
satoren der zweiten und der dritten Ausführungsform die Kon
densatorelemente durch die vielen in Serie miteinander ver
bundenen Kondensatorelemente gebildet sind. Im Gegensatz
hierzu sind im vierten Vergleichsbeispiel sieben Kondensato
ren in Serie miteinander verbunden. Deshalb werden beim vier
ten Vergleichsbeispiel Zuführungsdrähte und ein anzulötendes
Teil benötigt, um die jeweiligen Kondensatoren anzuschließen.
Testergebnisse des Durchbruchstests und des Lade- und
Entladetests in der Vergleichsuntersuchung 2 sind nach
stehend unter Bezug auf die Fig. 12 bzw. Fig. 13 erläutert.
Fig. 12 ist ein Graph, der Testergebnisse eines
Durchbruchstests in einer Vergleichsuntersuchung 2 zeigt, bei
der die Art der Kondensatoren auf der Abszisse dargestellt
ist und die Ordinate eine Durchbruchsspannung angibt. Fig. 13
ist ein Graph, der Testergebnisse eines Lade- und Entlade
tests in der Vergleichsuntersuchung 2 darstellt, bei der die
Abszisse die Nummer des Zyklus der Lade- und Entladeoperatio
nen angibt und die Ordinate die Abfallrate der Kapazität an
gibt.
Bei dem Durchbruchstest und dem Lade- und dem Ent
ladetest sind die Testbedingungen gleich wie bei dem Durch
bruchstest und dem Lade- und Entladetest in der Vergleichsun
tersuchung 1. Auf der Abszisse von Fig. 12 bezeichnen die
Punkte "E", "F" und "G" die gleichen Kondensatoren, wie sie
in Fig. 11 durch die gleichen Zeichen bezeichnet und erläu
tert sind. In Fig. 13 bezeichnet eine durchgezogene Linie 34
Testergebnisse des Kondensators der zweiten Ausführungsform,
und eine strichpunktierte Linie 35 bezeichnet Testergebnisse
des Kondensators der dritten Ausführungsform. Ferner bezeich
net eine gestrichelte Linie 36 Testergebnisse des Kondensa
tors des vierten Vergleichsbeispiels.
Wie in den Fig. 12 und 13 gezeigt ist, wird sowohl
im Durchbruchstest als auch im Lade- und Entladetest bestä
tigt, daß die jeweiligen Kondensatoren der zweiten und der
dritten Ausführungsformen und des vierten Vergleichsbeispiels
zufriedenstellende Testergebnisse aufweisen. Insbesondere
sind die Testergebnisse der dritten Ausführungsform (durch
die strichpunktierte Linie 35 und Punkt "F" gezeigt) besser
im Vergleich zu denjenigen der zweiten Ausführungsform und
des vierten Vergleichsbeispiels. Der Grund hierfür liegt
darin, daß bei der dritten Ausführungsform die Aluminiumab
scheidungsschichten 5a1-5a4 und die Zinkabscheidungsschicht
6a in Längsrichtung in viele Stücke unterteilt sind, wie in
Fig. 5 gezeigt ist. Dadurch ist es bei der dritten Ausfüh
rungsform möglich, den Kurzschlußstrom zu unterdrücken. Als
Ergebnis wird die Größe des Selbstheilungsbereichs geringer
als diejenige bei der zweiten Ausführungsform und dem vierten
Vergleichsbeispiel gemacht.
Bei den Kondensatoren der zweiten und der dritten
Ausführungsform sind die Aluminiumabscheidungsschichten 5a,
5b in Querrichtung in mehrere Stücke unterteilt, wie in den
Fig. 4C und 4D gezeigt ist. Wenn die erste metallisierte
Schicht 3a auf die zweite metallisierte Schicht 3b gelegt
wird, sind der Spalt auf der ersten metallisierten Schicht 3a
und der Spalt auf der zweiten metallisierten Schicht 3b ver
setzt zueinander angeordnet. Dadurch werden in dem Kondensa
torelement 1 in Serie verbundene Kondensatoren mit mehreren
Elementen gebildet. Als Ergebnis ist es möglich, den Konden
sator klein zu machen, selbst wenn der Kondensator mit einer
großen Nennspannung hergestellt wird.
Des weiteren sind in der dritten Ausführungsform
die Aluminiumabscheidungsschichten 5a1-5a4 und die Zinkab
scheidungsschicht 6a in Längsrichtung in mehrere Stücke un
terteilt, wie in Fig. 5 gezeigt ist. Dadurch ist es möglich,
den Kurzschlußstrom zu unterdrücken. Im Ergebnis ist es mög
lich, daß die Größe des Selbstheilungsbereichs kleiner ge
macht wird. Außerdem ist es möglich, die Spannungsfestigkeit
der PET-Schichten 4a, 4b zu erhöhen.
In einer Vergleichsuntersuchung 3-A werden neun Ty
pen von Kondensatoren (A) mit jeweils unterschiedlichem spe
zifischen Widerstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungs
schichten 5a, 5b aus Fig. 2 vorbereitet. Alle neun Typen von
Kondensatoren (A) weisen einen in der ersten Ausführungsform
erläuterten Aufbau auf, die durch das Kondensatorelement 1
von Fig. 2 gebildet ist, und bei allen neun Typen von Konden
satoren (A) wird der spezifische Widerstand der jeweiligen
Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b auf 3 Ω/Flächeneinheit ein
gestellt. Der spezifische Widerstand der jeweiligen Alumini
umabscheidungsschichten 5a, 5b der neun Typen von Kondensa
toren (A) wird auf 3, 5, 8, 10, 12, 20, 30, 35 bzw. 40
Ω/Flächeneinheit eingestellt. Jeder der neun Typen von Kon
densatoren (A) ist in dem Gehäuse eingeschlossen, das mit der
Vorrichtung zur Erfassung des Innendrucks versehen ist. Au
ßerdem ist jedes der Metallikonteile 2a, 2b (Fig. 1) mit dem
Elektrodenanschluß verbunden, und das Innere des Gehäuses ist
mit dem Polybutenöl gefüllt.
Bei allen neun Typen von Kondensatoren (A) beträgt
die Dicke jeder PET-Schicht 4a, 4b (Fig. 2) 10 µm und die Ka
pazität jedes Kondensators 30 µF.
Das Ergebnis des Durchbruchstests bei den neun Ty
pen von Kondensatoren (A) ist nachstehend unter Bezug auf
Fig. 14 erläutert.
Fig. 14 ist ein Graph, der Testergebnisse des
Durchbruchstests bei neun Typen von Kondensatoren (A) zeigt,
wobei die Abszisse den spezifischen Widerstand der jeweiligen
Aluminiumabscheidungsschichten und die Ordinate die Durch
bruchsspannung angibt.
Um den Mittelwert der Durchbruchsspannung bei den
neun Typen von Kondensatoren (A) zu erhalten, wird der Durch
bruchstest bei zehn Kondensatoren durchgeführt. Bei dem
Durchbruchstest werden Testspannungen an die jeweiligen Kon
densatoren angelegt. Die Testspannungen werden mit einer vor
bestimmten Rate erhöht, bis bei jedem Kondensator der Durch
bruch auftritt.
Die Testbedingungen beim Durchbruchstest sind wie
folgt:
- (1) Die Temperatur beträgt 20 ± 15°C,
- (2) die Luftfeuchtigkeit beträgt 50 ± 20%, und
- (3) die Erhöhungsrate der Testspannung be trägt 100 Volt pro Minute.
Wie mit einer durchgezogenen Linie 37 in Fig. 14
gezeigt ist, ändert sich die Durchbruchsspannung nach Maßgabe
des spezifischen Widerstands der jeweiligen Aluminiumabschei
dungsschichten 5a, 5b. Für den Fall, daß der spezifische Wi
derstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungsschicht 5a, 5b
unter 8 Ω/Flächeneinheit liegt, ist die Durchbruchsspannung
niedrig und steigt entsprechend dem Ansteigen des spezifi
schen Widerstands der jeweiligen Aluminiumabscheidungs
schichten 5a, 5b an.
Für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b im Bereich
zwischen 8 und 12 Ω/Flächeneinheit liegt, geht die Durch
bruchsspannung sanft hoch. Des weiteren nimmt die Durch
bruchsspannung einen konstanten Wert für den Fall an, daß der
spezifische Widerstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungs
schichten 5a, 5b in einem Bereich zwischen 12 und 40
Ω/Flächeneinheit liegt.
Um einen stabilen hohen Mittelwert der Durchbruchs
spannung zu erhalten, ist es somit notwendig, daß der spezi
fische Widerstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungsschich
ten 5a, 5b auf 8 Ω/Flächeneinheit oder höher eingestellt
wird.
Nachstehend werden die Ergebnisse des Lade- und
Entladetests für die neun Typen von Kondensatoren (A) unter
Bezug auf Fig. 15 angegeben.
Fig. 15 ist ein Graph, der Testergebnisse des Lade- und
Entladetests bei den neun Typen von Kondensatoren (A)
zeigt, bei dem die Abszisse den spezifischen Widerstand der
jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten und die Ordinate
die Abfallrate der Kapazität angibt.
Um die maximal zulässigen Lade- und Entladeströme
der neun Typen von Kondensatoren (A) zu bestimmen, wird der
Lade- und Entladetest bei zehn Kondensatoren jedes der neun
Typen von Kondensatoren (A) durchgeführt. Als Wert der Ab
fallrate für jeden Kondensator wird die Abfallrate nach 2500
Zyklen der Lade- und Entladeoperationen verwendet.
Die Testbedingungen beim Lade- und Entladetest sind
wie folgt:
- (1) Die angelegte Spannung beträgt 2500 Volt,
- (2) die Spitzenströme des Ladestroms und des Entladestroms betragen 200 Ampere, und
- (3) die Zeit einer Entladung beträgt 200 µs.
Wie mit einer durchgezogenen Linie 38 in Fig. 15
gezeigt ist, ist der Wert der Abfallrate der Kapazität klein
für den Fall, daß der spezifische Widerstand der jeweiligen
Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b unterhalb 8
Ω/Flächeneinheit liegt.
Für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b in einem Be
reich zwischen 8 und 30 Ω/Flächeneinheit liegt, liegt der
Wert der Abfallrate der Kapazität stabil in einem Bereich
zwischen 1 und 2%. Außerdem wird für den Fall, daß der spe
zifische Widerstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungs
schichten 5a, 5b oberhalb 30 Ω/Flächeneinheit liegt, der Wert
der Abfallrate der Kapazität in Abhängigkeit vom Ansteigen
des spezifischen Widerstands der jeweiligen Aluminiumabschei
dungsschichten 5a, 5b größer. Das heißt für den Fall, daß
der spezifische Widerstand der jeweiligen Aluminiumabschei
dungsschichten 5a, 5b oberhalb 30 Ω/Flächeneinheit liegt, er
gibt sich, daß der maximal zulässige Lade- und Entladestrom
geringer ist.
Um die Selbstheilung nachzuweisen, zerlegten die
Erfinder außerdem die jeweiligen Kondensatoren nach dem Lade- und
Entladetest und betrachteten den Zustand der metallisier
ten Schichten 3a, 3b (Fig. 2).
Die Betrachtung bestätigte, daß, wenn der spezifi
sche Widerstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b
in einem Bereich zwischen 8 und 30 Ω/Flächeneinheit
liegt, die Selbstheilung in geeigneter Weise erfolgt. Außer
dem erfolgt die Zerstreuung der jeweiligen Aluminiumabschei
dungsschichten 5a, 5b sanft und wünschenswert. Für den Fall,
daß der spezifische Widerstand der jeweiligen Aluminiumab
scheidungsschichten 5a, 5b unterhalb 8 Ω/Flächeneinheit
liegt, war die Größe des Selbstheilungsbereichs 10 (Fig. 8A
und 8B) größer. Außerdem erfolgt die Zerstreuung der jeweili
gen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b größer.
Für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b oberhalb 30
Ω/Flächeneinheit liegt, erfolgt die Selbstheilung in geeig
neter Weise. Bei dem Selbstheilungsbereich 10 sind jedoch die
jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b weiter zer
streut und verdampft. Da die Dicken der jeweiligen Alumini
umabscheidungsschichten 5a, 5b gering sind, wird die Zer
streuung der jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b
bei jedem Fließen des Kurzschlußstroms durch Corona-Entladung
verstärkt. Demzufolge wird angenommen, daß die Kapazität
stark erniedrigt wird.
Somit ist es für den Fall, daß der spezifische Wi
derstand der jeweiligen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b
in einem Bereich zwischen 8 und 30 Ω/Flächeneinheit liegt,
möglich, die Bedingungen der Durchbruchsspannung und des ma
ximal zulässigen Lade- und Entladestroms zu erfüllen.
In einer Vergleichsuntersuchung 3-B werden acht Ty
pen von Kondensatoren (B) mit jeweils unterschiedlichem spe
zifischen Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschichten
6a, 6b von Fig. 2 vorbereitet. Alle acht Typen von Kondensa
toren (B) weisen einen Aufbau auf, der in der ersten Ausfüh
rungsform erläutert wurde, die durch das Kondensatorelement 1
in Fig. 2 gebildet ist, und bei allen acht Typen von Konden
satoren (B) wurde der spezifische Widerstand der jeweiligen
Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b auf 15
Ω/Flächeneinheit eingestellt. Der spezifische Widerstand der
jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b der acht Typen
von Kondensatoren (B) wurde auf 1, 1,5, 2, 3, 5, 7, 8 bzw. 9
Ω/Flächeneinheit eingestellt. Jeder der acht Typen von Kon
densatoren (B) ist in dem Gehäuse eingeschlossen, das mit der
Vorrichtung zur Erfassung des Innendrucks versehen ist. Au
ßerdem ist jedes der Metallikonteile 2a, 2b (Fig. 1) mit dem
Elektrodenanschluß verbünden, und das Innere des Gehäuses ist
mit dem Polybutenöl gefüllt.
In allen acht Typen von Kondensatoren (B) beträgt
die Dicke jeder PET-Schicht 4a, 4b (Fig. 2) 10 µm und die Ka
pazität jedes Kondensators 30 µF.
Das Ergebnis des Durchbruchstests bei den acht Ty
pen von Kondensatoren (B) ist nachstehend unter Bezug auf
Fig. 16 erläutert.
Fig. 16 ist ein Graph, der Testergebnisse des
Durchbruchstests bei acht Typen von Kondensatoren (B) zeigt,
bei dem die Abszisse den spezifischen Widerstand der jeweili
gen Zinkabscheidungsschichten und die Ordinate die Durch
bruchsspannung angibt.
Um den Mittelwert der Durchbruchsspannung bei den
acht Typen von Kondensatoren (B) zu erhalten, wird der Durch
bruchstest bei zehn Kondensatoren ausgeführt. Bei dem Durch
bruchstest werden Testspannungen an die jeweiligen Kondensa
toren angelegt, und die Testspannungen werden mit einer vor
bestimmten Rate erhöht, bis bei jedem Kondensator der Durch
bruch auftritt.
Die Testbedingungen beim Durchbruchstest sind wie
folgt:
- (1) Die Temperatur beträgt 20 ± 15°C,
- (2) die Luftfeuchtigkeit beträgt 50 ± 20%, und
- (3) die Erhöhungsrate der Testspannung be trägt 100 Volt pro Minute.
Wie mit einer durchgezogenen Linie 39 in Fig. 16
gezeigt ist, ist die Durchbruchsspannung für den Fall, daß
der spezifische Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungs
schichten 6a, 6b 1 Ω/Flächeneinheit beträgt, um einige hun
dert Volt im Vergleich zu derjenigen anderer Kondensatoren
niedriger.
Für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b 1,5
Ω/Flächeneinheit oder höher liegt, nimmt die Durchbruchs
spannung stabil einen hohen konstanten Wert an.
Um die Selbstheilung nachzuweisen, zerlegten die
Erfinder die jeweiligen Kondensatoren nach dem Durchbruchs
test und betrachteten den Zustand der metallisierten Schich
ten 3a, 3b (Fig. 2). Im Ergebnis wird für den Fall, daß der
spezifische Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschich
ten 6a, 6b 1 Ω/Flächeneinheit beträgt, ein großer zerstörter
Bereich in den jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b
gebildet. Da die Dicken der jeweiligen Zinkabscheidungs
schichten 6a, 6b zu groß sind, ist es unmöglich, daß die
Selbstheilung in geeigneter Weise erfolgt. Für den Fall, daß
der spezifische Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungs
schichten 6a, 6b 1,5 Ω/Flächeneinheit oder höher liegt, er
folgt die Selbstheilung in geeigneter Weise.
Die Ergebnisse des Lade- und Entladetests bei den
acht Typen von Kondensatoren (B) sind nachstehend unter Bezug
auf Fig. 17 erläutert.
Fig. 17 ist ein Graph, der Testergebnisse des Lade- und
Entladetests bei den acht Typen von Kondensatoren (B)
zeigt, bei dem die Abszisse den spezifischen Widerstand der
jeweiligen Zinkabscheidungsschichten und die Ordinate die Ab
fallrate der Kapazität angibt.
Um die maximal zulässigen Lade- und Entladeströme
jedes der acht Typen von Kondensatoren (B) festzustellen, wird
der Lade- und Entladetest bei zehn Kondensatoren jedes der
acht Typen von Kondensatoren (B) durchgeführt. Als Wert der
Abfallrate jedes Kondensators wird die Abfallrate nach 2500
Zyklen der Lade- und Entladeoperationen verwendet.
Die Testbedingungen beim Lade- und Entladetest sind
wie folgt:
- (1) Die angelegte Spannung beträgt 2500 Volt,
- (2) die Spitzenströme des Ladestroms und des Entladestroms betragen 200 Ampere, und
- (3) die Zeit einer Entladung beträgt 200 µs.
Wie mit einer durchgezogenen Linie 40 in Fig. 17
gezeigt ist, ist der Wert der Abfallrate der Kapazität klein
und stabil für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b in einem Bereich
zwischen 1 und 7 Ω/Flächeneinheit liegt.
Für den Fall, daß der spezifische Widerstand der
jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b oberhalb 7
Ω/Flächeneinheit liegt, wird der Wert der Abfallrate der Ka
pazität groß.
Um die Selbstheilung nachzuweisen, zerlegten die
Erfinder außerdem die jeweiligen Kondensatoren nach dem Lade- und
Entladetest und betrachteten den Zustand der metallisier
ten Schichten.
Die Betrachtung bestätigte, daß die Zerstreuung je
der Zinkabscheidungsschicht 6a, 6b erfolgt, wenn der spezifi
sche Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a
ob oberhalb 7 Ω/Flächeneinheit liegt. Da der spezifische Wi
derstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b groß
ist, sind die maximal zulässigen Lade- und Entladeströme ge
ringer. Außerdem werden die jeweiligen Zinkabscheidungs
schichten 6a, 6b durch das Fließen von Strom zerstreut und
verdampft.
Somit ist es für den Fall-, daß der spezifische Wi
derstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b in
einem Bereich zwischen 1,5 und 7 Ω/Flächeneinheit liegt, mög
lich, die Bedingungen der Durchbruchsspannung und der maximal
zulässigen Lade- und Entladeströme zu erfüllen.
Wie vorstehend beschrieben wurde, wird der spezifi
sche Widerstand der jeweiligen Zinkabscheidungsschichten 6a,
6b auf einen Bereich zwischen 1,5 und 7 Ω/Flächeneinheit ein
gestellt. Demzufolge ist es möglich, eine Zerstreuung der je
weiligen Zinkabscheidungsschichten 6a, 6b und eine Verminde
rung der maximal zulässigen Lade- und Entladeströme zu ver
meiden. Außerdem wird der spezifische Widerstand der jeweili
gen Aluminiumabscheidungsschichten 5a, 5b auf einen Bereich
zwischen 8 und 30 Ω/Flächeneinheit eingestellt. Dadurch ist
es möglich, daß die Größe des Selbstheilungsbereichs 10 klein
wird. Im Ergebnis ist es möglich, die Spannungsfestigkeit des
Kondensators zu erhöhen.
Um die Feuchtigkeitbeständigkeitseigenschaften der
Zinkabscheidungsschicht zu verbessern, ist es bekannt, eine
gemischte Abscheidungsschicht (Legierung) aus Zink und Alumi
nium anstelle der Zinkabscheidungsschicht zu verwenden. Bei
dem Kondensator der vorliegenden Erfindung ist die Aluminium
abscheidungsschicht auf der PET-Schicht ausgebildet, und die
Zinkabscheidungsschicht ist auf der Aluminiumabscheidungs
schicht auf der Seite eines Randbereichs der PET-Schicht aus
gebildet. Das heißt, hinsichtlich der auf der PET-Schicht
ausgebildeten Doppelabscheidungsschicht ist ein Unterschied
zwischen dem Kondensator der vorliegenden Erfindung und dem
herkömmlichen Kondensator mit der gemischten Abscheidungs
schicht vorhanden.
Obwohl die vorliegende Erfindung unter Bezug auf
die bevorzugten Ausführungsformen beschrieben wurde, ist
klar, daß diese Offenbarung nicht als beschränkend anzusehen
ist. Verschiedene Änderungen und Modifikationen sind dem
Fachmann nach dem Studium der obigen Offenbarung klar. Demzu
folge ist klar, daß die beiliegenden Ansprüche so auszulegen
sind, daß sie alle Änderungen und Modifikationen abdecken,
die in den Schutzbereich der Erfindung fallen.
Claims (4)
1. Kondensator mit:
einer zusammengewickelten Rolle aus zwei länglichen metallisierten Schichten (3a, 3b), wobei sich die metalli sierten Schichten (3a, 3b) überlappen,
wobei jede der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) eine längliche Kunststoffschicht (4a, 4b), eine auf der Kunststoffschicht (4a, 4b) ausgebildete Aluminiumabschei dungsschicht (5a, 5b) und eine längs eines Randes der Alumi niumabscheidungsschicht (5a, 5b) ausgebildete bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) umfaßt,
wobei auf einer der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) die bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) sich in Längsrichtung erstreckend auf einem Seitenrand der länglichen Kunststoffschicht (4a, 4b) ausgebildet ist und auf der anderen der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) die bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) sich in Längs richtung erstreckend auf dem anderen Seitenrand der längli chen Kunststoffschicht (4a, 4b) angeordnet ist.
einer zusammengewickelten Rolle aus zwei länglichen metallisierten Schichten (3a, 3b), wobei sich die metalli sierten Schichten (3a, 3b) überlappen,
wobei jede der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) eine längliche Kunststoffschicht (4a, 4b), eine auf der Kunststoffschicht (4a, 4b) ausgebildete Aluminiumabschei dungsschicht (5a, 5b) und eine längs eines Randes der Alumi niumabscheidungsschicht (5a, 5b) ausgebildete bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) umfaßt,
wobei auf einer der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) die bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) sich in Längsrichtung erstreckend auf einem Seitenrand der länglichen Kunststoffschicht (4a, 4b) ausgebildet ist und auf der anderen der zwei metallisierten Schichten (3a, 3b) die bandförmige Zinkabscheidungsschicht (6a, 6b) sich in Längs richtung erstreckend auf dem anderen Seitenrand der längli chen Kunststoffschicht (4a, 4b) angeordnet ist.
2. Kondensator nach Anspruch 1, bei dem die Aluminium
abscheidungsschicht (5a, 5b) durch in Querrichtung beabstan
det angeordnete und sich in Längsrichtung erstreckende läng
liche Trennspalte (7a1, 7a2, 7a3, 7b1, 7b2, 7b3) in mehrere
längliche Stücke unterteilt ist, wobei die länglichen Trenn
spalte (7a1, 7a2, 7a3) einer der zwei metallisierten Schich
ten (3a) zwischen jeweiligen länglichen Trennspalten (7b1,
7b2, 7b3) der anderen der zwei metallisierten Schichten (3b)
derart angeordnet sind, daß die länglichen Trennspalte (7a1,
7a2, 7a3, 7b1, 7b2, 7b3) in zur Querrichtung parallel verlau
fenden Schnittebenen versetzt zueinander angeordnet sind.
3. Kondensator nach Anspruch 2, bei dem die Aluminium
abscheidungsschichten (5a, 5b) und die Zinkabscheidungs
schichten (6a, 6b) in zumindest einer der zwei metallisierten
Schichten (3a, 3b) in Längsrichtung der metallisierten
Schichten (3a, 3b) in mehrere Stücke unterteilt sind.
4. Kondensator nach Anspruch 1, bei dem der spezifi
sche Widerstand der Aluminiumabscheidungsschicht (5a, 5b) auf
einen Wert im Bereich zwischen 8 und 30 Ω/Flächeneinheit und
der spezifische Widerstand der Zinkabscheidungsschicht (6a,
6b) auf einen Wert im Bereich zwischen 1,5 und 7
Ω/Flächeneinheit eingestellt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26013095A JP3328477B2 (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19641249A1 true DE19641249A1 (de) | 1997-04-10 |
DE19641249C2 DE19641249C2 (de) | 2003-04-30 |
Family
ID=17343723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19641249A Revoked DE19641249C2 (de) | 1995-10-06 | 1996-10-07 | Kondensator |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5696663A (de) |
JP (1) | JP3328477B2 (de) |
DE (1) | DE19641249C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006015568A1 (de) * | 2004-08-13 | 2006-02-16 | Fischer & Tausche Holding Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur metallisierung von kondensatorfolien aus kunststoff und vorrichtung zur durchführung dieses verfahrens |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19734477B4 (de) * | 1996-08-09 | 2005-11-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Metallisierter Filmkondensator und Vorrichtung und Verfahren für die Herstellung eines metallisierten Films für den metallisierten Filmkondensator |
DE19856457A1 (de) * | 1998-12-03 | 2000-06-08 | Abb Research Ltd | Folie für einen Folienkondensator und Folienkondensator |
WO2003058654A1 (en) * | 2002-01-04 | 2003-07-17 | Toray Plastics (America), Inc. | High ohm capacitor film |
US7008838B1 (en) | 2003-04-29 | 2006-03-07 | Sbe, Inc. | Configuring a capacitor with enhanced pulse reliability |
EP1801825A1 (de) * | 2005-12-23 | 2007-06-27 | Abb Research Ltd. | Eine Schicht, ein Kondensator, ein Spannungswandler und ein Verfahren zum Benutzen eines Kondensator |
WO2008076846A2 (en) | 2006-12-14 | 2008-06-26 | Artificial Muscle, Inc. | Fault-tolerant materials and methods of fabricating the same |
JP2008263172A (ja) * | 2007-03-20 | 2008-10-30 | Toray Ind Inc | 金属化フィルム、およびそれを用いたコンデンサ |
US7952261B2 (en) | 2007-06-29 | 2011-05-31 | Bayer Materialscience Ag | Electroactive polymer transducers for sensory feedback applications |
JP4390001B2 (ja) * | 2008-01-17 | 2009-12-24 | トヨタ自動車株式会社 | コンデンサ |
JP5370363B2 (ja) * | 2008-07-08 | 2013-12-18 | パナソニック株式会社 | 金属化フィルムコンデンサ |
EP2239793A1 (de) | 2009-04-11 | 2010-10-13 | Bayer MaterialScience AG | Elektrisch schaltbarer Polymerfilmaufbau und dessen Verwendung |
US20120287554A1 (en) * | 2011-02-16 | 2012-11-15 | S B E, Inc. | Patterned metallized film with enhanced underlayer for metallized capacitor applications |
TWI542269B (zh) | 2011-03-01 | 2016-07-11 | 拜耳材料科學股份有限公司 | 用於生產可變形聚合物裝置和薄膜的自動化生產方法 |
TW201250288A (en) | 2011-03-22 | 2012-12-16 | Bayer Materialscience Ag | Electroactive polymer actuator lenticular system |
WO2013142552A1 (en) | 2012-03-21 | 2013-09-26 | Bayer Materialscience Ag | Roll-to-roll manufacturing processes for producing self-healing electroactive polymer devices |
JP5903659B2 (ja) * | 2012-04-17 | 2016-04-13 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 金属化フィルムコンデンサと金属化フィルムコンデンサの製造方法 |
US9640324B2 (en) | 2012-06-01 | 2017-05-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Metallized film capacitor |
WO2013192143A1 (en) | 2012-06-18 | 2013-12-27 | Bayer Intellectual Property Gmbh | Stretch frame for stretching process |
US9590193B2 (en) | 2012-10-24 | 2017-03-07 | Parker-Hannifin Corporation | Polymer diode |
JP6308743B2 (ja) * | 2013-09-27 | 2018-04-11 | 株式会社日立製作所 | 高電圧コンデンサ及び高電圧発生装置 |
US11631545B2 (en) * | 2017-10-27 | 2023-04-18 | Kyocera Corporation | Film capacitor, combination type capacitor, and inverter and electric vehicle employing the same |
JP7193070B2 (ja) * | 2018-02-05 | 2022-12-20 | 株式会社指月電機製作所 | フィルムコンデンサ |
JPWO2023054294A1 (de) * | 2021-09-28 | 2023-04-06 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE867889C (de) * | 1944-05-16 | 1953-02-19 | Bosch Gmbh Robert | Elektrischer Kondensator aus metallisierten Isolierstoffbaendern |
EP0088137A1 (de) * | 1982-03-06 | 1983-09-14 | Steiner KG | Selbstheilender elektrischer Kondensator |
US4819127A (en) * | 1987-07-15 | 1989-04-04 | Belier Industries | Metallized dielectric sheet for making capacitors of the wound type, and capacitors obtained |
DE4328615A1 (de) * | 1993-08-25 | 1995-03-02 | Siemens Matsushita Components | Elektrischer Kondensator |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2701158B1 (fr) * | 1993-01-29 | 1995-03-10 | Lcc Cie Euro Composants Electr | Condensateur de puissance. |
US5610796A (en) * | 1993-02-19 | 1997-03-11 | Electronic Concepts, Inc. | Metallized capacitor having increased dielectric breakdown voltage and method for making the same |
-
1995
- 1995-10-06 JP JP26013095A patent/JP3328477B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-09-30 US US08/724,098 patent/US5696663A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-07 DE DE19641249A patent/DE19641249C2/de not_active Revoked
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE867889C (de) * | 1944-05-16 | 1953-02-19 | Bosch Gmbh Robert | Elektrischer Kondensator aus metallisierten Isolierstoffbaendern |
EP0088137A1 (de) * | 1982-03-06 | 1983-09-14 | Steiner KG | Selbstheilender elektrischer Kondensator |
US4819127A (en) * | 1987-07-15 | 1989-04-04 | Belier Industries | Metallized dielectric sheet for making capacitors of the wound type, and capacitors obtained |
DE4328615A1 (de) * | 1993-08-25 | 1995-03-02 | Siemens Matsushita Components | Elektrischer Kondensator |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 07 153 642 A, In: Pat. Abstr. of JP * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006015568A1 (de) * | 2004-08-13 | 2006-02-16 | Fischer & Tausche Holding Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur metallisierung von kondensatorfolien aus kunststoff und vorrichtung zur durchführung dieses verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09102434A (ja) | 1997-04-15 |
DE19641249C2 (de) | 2003-04-30 |
US5696663A (en) | 1997-12-09 |
JP3328477B2 (ja) | 2002-09-24 |
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