DE19636543A1 - Elektromechanische Meßwertaufnehmer und Verfahren zur Herstellung desselben - Google Patents
Elektromechanische Meßwertaufnehmer und Verfahren zur Herstellung desselbenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen elektromechanischen Meßwertaufnehmer, im
allgemeinen eine Miniaturisierung, der aus einem Platte geschnitten ist, die mit elektrischen
Verbindungsbahnen ausgestattet ist, welche zum transportieren der Meßsignale dienen. Sie
ist auf Vorrichtungen zum Messen von physikalischen Parametern anwendbar, die zum
Erzeugen von Spannungen und Deformationen in einem aktiven Teil des
Meßwertaufnehmers geeignet sind. Man kann insbesondere Vorrichtungen zum Messen des
Druckes, der Beschleunigung und der Drehgeschwindigkeit anführen, die für Fahrzeuge
benutzt werden.
Es sind bereits Meßwertaufnehmeren bekannt, die zum einen aus einer aktiven Platte, aus
welcher ein mechanischer Meßwertaufnehmer herausgearbeitet ist und auf welchem die
Verbindungsbahnen angeordnet sind, und zum anderen aus einer Platte, die die elektrischen
Verbindungen und die Ausgangsverbindungsbereiche trägt, welchen man als "passiv"
bezeichnen kann, bestehen. Die elektrischen Verbindungen zwischen den Platten und der
Zusammenhalt der Platten untereinander, insbesondere , wenn der Zwischenraum zwischen
den Platten wasserdicht sein soll, werden durch unterschiedliche Techniken, die eine
Abdichtung liefern, realisiert.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, einen verkleinerbaren Meßwertaufnehmer zu liefern, der
besser anspricht, als die bekannten Meßwertaufnehmer. Der erfindungsgemäße
Meßwertaufnehmer soll insbesondere in einer einfachen Form und mit größerer Ausbeute
und höherem Ertrag bei der Herstellung zu verwirklichen sein.
Zur Lösung dieser Aufgabe dient erfindungsgemäß ein elektromechanische
Meßwertaufnehmer nach Anspruch 1.
Für gewöhnlich enthält eine Leiterplatte elektrische Leiterbahnen auf einem Substrat in
Form einer ersten Leiterschicht, die die Anschlußstellen bildet, und einer zweiten
Leiterschicht, die mit Abstand vor der ersten angeordnet und von dieser durch eine
dielektrische Schicht von der Leiterbahn getrennt ist. Die erste Leiterschicht kann so durch
die dielektrische Schicht von der Leiterbahn getrennt werden und das Bilden der
Anschlußstellen auf einem Teil der Leiterplatte, welche aus der aktiven Platte herausragt,
wird ermöglicht.
Häufig ist die Litze als Abdichtung zwischen einem Volumen, das den mechanischen
Meßwertaufnehmer enthält und dem Äußeren vorgesehen. In einem anderen Fall, wie der
einer Druckmeßvorrichtung, ist ein Durchgang in der Litze oder in einer der Platten
vorgesehen.
Der Meßwertaufnehmer kann durch ein Schutzabdeckhaube nach außen geschützt werden,
wobei diese auf dem aktiven Platte, zum Beispiel mit Hilfe eines Klebers, angeordnet wird.
Das Substrat für die Leiterbahnen kann aus verschiedenen Materialien, wie zum Beispiel aus
monokristallinem Silizium, aus Keramiken, aus Glas, das gegen die beim Zusammenfügen
des Aufnehmers herrscenden Temperaturen widerstandsfähig ist, bestehen. Die Platte kann
sogar eine integrierte Schaltung für spezielle Anwendungen, oder ASIC darstellen.
Die Erfindung ist ferner auf ein Verfahren zur Herstellung eines Meßwertaufnehmers
gerichtet, das eine gemeinsame Verwirklichung von einer großen Anzahl an Vorrichtungen
auf einer Substratscheibe mit nachträglichem Trennen der Vorrichtungen ermöglicht.
Zur Lösung der Aufgabe dient das erfindungsgemäße Verfahren gemäß Anspruch 8.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand der beiliegenden Zeichnungen
beschrieben, in welchen:
Fig. 1 eine Schnittansicht ist, in welcher ein Beschleunigungsmesser als
Ausführungsbeispiel der Erfindung gezeigt wird.
Fig. 2 ähnlich zu Fig. 1 einen Teil einer Vorrichtung zeigt, die einen
Druckaufnehmer darstellt;
Fig. 3 eine Draufsicht mit teilweise freigelegter, aktiver Platte von einem
Beschleunigungsmesser ist, der eine Ausführungsform darstellt;
Fig. 4 ähnlich wie Fig. 3, eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zeigt,
die ein Schwingungsgyrometer darstellt.
Der Meßwertaufnehmer (Fig. 1) beinhaltet eine Leiterplatte 10 und eine aktive Platte 12,
die durch eine Schutzabdeckhaube 14 abgedeckt werden. Die Leiterplatte 10 beinhaltet ein
Substrat 16. Im Falle einer verkleinerten Vorrichtung ist dieses Substrat im allgemeinen aus
monokristallinem Silizium. Gleichwohl sind auch andere Materialien anwendbar.
Insbesondere kann man ein Substrat benutzen, das aus Quarz, bei der nötigen Löttemperatur
widerstandsfähigem Glas bei der nötigen Löttemperatur, oder aus Keramiken besteht. Um
eine kleine Vorrichtung zu bauen, benutzt man im allgemeinen ein Substrat aus
monokristallinem Silizium mit 500 bis 600 µm Dicke, das auf der Oberfläche einen
isolierenden Oxidfilm hat.
Die Leiterplatte 10 der Ausführungsform von Fig. 1 umfaßt zwei Metallisierungs
schichten. Die erste Schicht 18, welche durch eine zur Zeit übliche Technik, zum Beispiel
durch Photolithographie, verwirklicht werden kann, umfaßt die Ausgangsstellen 20, die den
Anschluß einer externen Schaltung erlauben. Sie hat einige µm an Dicke.
Auf der ersten Schicht 18 bildet man eine dielektrische dünne Schicht 22, die aus einem
Oxid oder einem Nitrid oder noch häufiger aus einem dielektrischen Harz, wie ein Polymid,
bestehen kann. In der dielektrischen dünnen Schicht 22 werden danach Gravieren die
Öffnungen freigegelegt, die für eine Verbindung mit der zweiten Metallisierungsschicht
oder mit den elektrischen Leiterbahnen, welche weiter unten beschrieben werden, bestimmt
sind.
Die zweite Metallisierungsschicht 24 kann einen ähnlichen Aufbau zu der ersten haben.
Diese Schicht 24 hat einige µm an Dicke. Um eine spätere Befestigung zu ermöglichen, hat
sie einen Verbundaufbau. Sie kann insbesondere nacheinander Ablagerungen an Titan,
Nickel und Gold von einigen µm an Dicke umfassen. Diese Zusammensetzung kann
ebenfalls diejenige der Ersten sein. Die Ablagerung kann zum Beispiel durch
Kathodenzerstäubung durchgeführt werden.
Nach der Maskierung mit einem Harz stellt man örtlich eine Schicht aus Lötmaterial her, die
dann die elektrischen und mechanischen Verbindungen herstellt. Man kann insbesondere ein
Abdeckungsharz benutzen, das die Funktion eines Lackes spielt, um die Bereiche zu
begrenzen, wo das Lötmaterial abgelagert wird. Die Lötzusammensetzung kann ein normal
erhältliches Lötzinn sein und hat einen Schmelzpunkt in der Größenordnung von 200°C bis
300°C (Lötzinnlegierung 60/40 oder 95/5). Diese Zusammensetzung kann durch
elektrolytisches Ablagern abgelagert werden.
Die Kugeln 26 und die Litze 28, die dazu bestimmt sind, schließlich die Verbindungen
sicher zustellen, werden durch das Aufheizen und Abkühlen der Lötung unter Vakuum, in
einer reaktionslosen Atmosphäre oder in einer leicht reduzierenden Atmosphäre aufgebaut
(zum Beispiel in einer Atmosphäre von Stickstoff oder von N₂H₂). Die Oberflächen
spannung des Abkühlens sichert die Form der Kugel oder der Litze.
Die Dicke der Ablagerung und die Gestalt der Basis der Stellen und der Litzen werden
dergestalt ausgewählt, daß die Kugeln einen Durchmesser von 10 bis 100 µm haben, und
daß die Litze 20 bis 30 µm an Dicke hat.
Man stellt getrennt die zweite Platte 12 her, die in der Fig. 1 in dem Zustand dargestellt ist,
in dem sie sich nach maschineller Bearbeitung befindet. Diese Platte ist wie die
vorhergehende mit einem Substrat aufgebaut, das je nach dem Effekt, den man ausnutzen
will, unterschiedlich ist (zum Beispiel: Piezzowiderstandseffekt, piezzoelektrischer Effekt
oder kapazitiver Effekt). Auf dem Substrat wird eine Metallisierungsschicht 30 durch einen
Verfahren angeordnet, das das gleiche ist , wie das Verfahren, das für die Herstellung der
Leiterplatte 10 verwendet wird.
Die zwei Platten 10 und 12 werden dann miteinander fluchtend verbunden. Dafür führt man
vorher eine Oberflächenbehandlung durch, zum Beispiel Kathodenpulverisierung. Dann
werden die zwei Platten in Kontakt gebracht und die Verbindung wird durch Erwärmen der
Lötung bis zu der Schmelztemperatur und durch Abkühlen unter Vakuum, einer
reaktionslosen Atmosphäre oder einer wenig reduzierenden Atmosphäre erreicht.
In dem Fall, der in Fig. 1 dargestellt ist, sind die Teile 32 vorragend dargestellt, wo die
Verankerung durch eine oder mehrere Reihen von Kugeln verwirklicht ist. Die Aufteilung
kann durch Lithografieverfahren mit anisotropischer Gravur, wie reaktive Ionengravur,
bewirkt werden. Als Beispiel für realisierbare Anordnungen kann auf die französischen
Patentanmeldungen Nr. 92 02782 und Nr. 95 08447 verwiesen werden.
Das Interessante der Anordnung, welche beschrieben wird, liegt darin, eine große Anzahl an
Vorrichtungen auf den Substratplättchen, zum Beispiel Silizium, gemeinsam zu realisieren.
Die weitere Verarbeitung der aktiven Platte (zum Beispiel durch Abschleifen bis auf einige
Zehnerstellen von µm in der Dicke, dann chemisches Gravieren von der obenliegenden
Vorderseite und/oder reaktives Ionengravieren) kann dann nach deren Einbau durchgeführt
werden, der zu einer robusten Anordnung führt.
Wie es die Fig. 1 in strichpunktierter Linie zeigt, werden dann die Metallisierungs- und die
Isolationsmuster in regelmäßigen Intervallen auf den Plättchen vor deren Zusammenbau und
der Endaufteilung an der Säge wiederholt.
In diesem Fall kann ein Schutz der Vorrichtungen durch eine Abdeckhaube 14 notwendig
sein. Die übereinanderliegend miteinander verbundenen Plättchen werden unter Berieselung
mit entionisiertem Wasser geschnitten. Die Abstände zwischen den beweglichen Teilen und
den festen Teilen sind gering und die Kapillarkräfte können im Verlauf einer späteren
Trocknung die Zerstörung der aktiven Teile verursachen.
Dieses Risiko wird vorsorglich durch eine Platte vermieden, die die Abdeckhaube 14 bildet
und durch Haftschichten 34 mit jedem Bereich der Platte verbunden ist, die dazu bestimmt
ist, die Platten 12 zu bilden. Die Aufteilung kann darauf in zwei Phasen durchgeführt. Im
Verlauf der ersten Phase erlaubt eine partielle Aufteilung gemäß der Pfeilrichtung f1 die
Kontaktstellen 20 freizulegen. Eine zweite Aufteilung gemäß f2 querdurch die Abdeckhaube
und die zwei Plättchen erlaubt das Trennen der Vorrichtungen.
Die Fig. 2, in der die korrespondierenden Elemente mit denen in Fig. 1 mit denselben
Bezugszeichen gekennzeichnet werden, zeigt einen Teil der Platten 10 und 12 von einer
Vorrichtung, die einen Druckaufnehmer bildet.
In diesem Fall wird die aktive Platte 12 örtlich dünner gemacht, um eine deformierbare
Membran 36 zu bilden. In diesem Fall unterwirft man die Platte vor der Gravur (oder das
Plättchen gänzlich im Falle der gemeinsamen Herstellung) einem Abschleifen und einem
mechanischen Pollieren. Ein Pollieren auf den zwei Vorderseiten ist im Falle der
gemeinsamen Herstellung oft notwendig, um das Gravieren der Linienmarkierungen zu
erlauben, die später ein relativ präzieses Positionieren der Platten vor dem Zusammenfügen
erlauben.
Die dünne Membran 36 kann einmal durch das Reduzieren der Dicke der Platte 12 auf
einige Zehn µm durch chemisches Gravieren der obenliegenden Teile oder durch reaktives
Ionengravieren erreicht werden.
Das Fixieren der zwei Platten aufeinander wird, wie vorher beschrieben, erreicht. Jedoch
wird von der Litze 28 eine Lücke 28 freigelassen, so daß ein Zugang für eine Atmosphäre
bei Referenzdruck bleibt, wie es durch den Pfeil P gezeigt wird. Die Messung der
Deformationen der Membran 36 kann durch bekannte Verfahren erreicht werden. Man kann
insbesondere eine kapazitive Messung, Piezowiederstands- oder piezzoelektrische
Messungen benutzen.
In der Figur sind nur die Litze und eine Verbindungskugel dargestellt. Die anderen
Verbindungen sind zwischen dem aktiven Element und den Ausgangsbereichen 20 auf dem
Teil der Platte 10, welcher seitlich über die Platte 12 übersteht, vorgesehen.
Die Platten bestehen im allgemeinen aus einem Material oder Materialien, deren
Ausdehnungskoeffizienten gleich sind, um Spannungen thermischen Ursprungs zu
vermeiden.
Der Meßwertaufnehmer, der schematisch in der Fig. 3 dargestellt ist, ist zum Messen von
Beschleunigungen, die sich in Richtung des Pfeiles F auswirken, bestimmt. In dieser Figur
werden die Elemente, die mit denen der Fig. 1 korrespondieren, durch die gleichen
Bezugszeichen bezeichnet.
Die Leiterplatte 10 hat den Aufbau, der vorher beschrieben wurde. Vor dem Einbau der
aktiven Platte werden die Niveaus der Metallisierungen, die Kugeln aus dem Lötmaterial 26
und die Litze 28 bestimmt. Die aktive Platte kann aus einem Plättchen aus
monokristallinem Silizium, das die Standarddicke von 500 oder 600 µm hat, bestehen.
Diese Platte kann nach der Befestigung auf der Leiterplatte abgeschliffen und poliert
werden, um ihre Dicke bis auf 10 bis 30 µm zu reduzieren. Die seismische Masse und ihre.
Verbindungsarme können durch Verfahren hergestellt werden, die schon für den
Mikrobearbeitung von Silizium in allen seinen Dicken benutzt wurden, zum Beispiel durch
Naßgravieren oder durch anisotropes Trockengravieren, was das Herstellen von senkrechten
Flanken an den Vorderseiten erlaubt. Wenn Teile von der aktiven Platte von dem Rest der
Platte getrennt werden, werden sie durch die Kugeln 26 stabilisiert.
In dem Fall, der in Fig. 3 dargestellt ist, enthält der Beschleunigungsmesser eine zentrale
seismische Masse 38, die zwei seitliche Anordnungen aufweist, wobei die Masse einen
Sockel für flexible Arme bildet, die durch Ausschneiden gebildet werden. Ein solcher
Aufbau wird nicht im Detail beschrieben, denn er wird für gewöhnlich benutzt, um einen
Miniaturbeschleunigungsmesser zu bilden.
Der Meßwertaufnehmer, der schematisch in der Fig. 4 gezeigt ist, ist ein Vibrations
gyrometer. Die aktive Platte weist eine zentrale Befestigungsplatte 40 auf, die auf der
Leiterplatte durch die Kugeln 26 befestigt ist. Die Platte 40 ist über ausgesägte Arme, die
Aufhängungsfedern 42 bilden, mit der zylindrischen seismischen Masse 44 verbunden.
Zusätzliche Kugeln 26, die auf der Peripherie angeordnet sind, sichern die Verbindung
zwischen den Ausgängen 20 und den festangeordneten Detektions- und Anre
gungselektroden 46. In dem dargestellten Fall sind neun Ausgänge 20 vorgesehen. Acht
Stellen korrespondieren mit den Umfangselektroden. Die neunte korrespondiert mit der
Elektrode, die mit der Platte 40 verbunden ist.
Die Erfindung ermöglicht das Realisieren von Meßwertaufnehmern, die eine Platte haben, in
welcher eine deformierbare Anordnung in der Ebene der Platte oder senkrecht zu der Ebene
vorgesehen ist. Die aktive Platte kann einen Träger oder eine Membran aufweisen. Die
Anordnung wird mechanisch verankert und elektrisch mit einer zweiten Platte , die ein
Verbindungssubstrat bildet, verbunden und sie kann gänzlich vor der äußeren Umgebung
geschützt werden, wobei die direkt zugänglichen elektrischen Kontakte geschützt sind.
Claims (11)
1. Elektromechanischer Meßwertaufnehmer, gekennzeichnet durch:
eine Leiterplatte (10) , die elektrische Leiterbahnen trägt;
eine aktive Platte (12), in welcher ein mechanischer Meßwertaufnehmer ausgeschnitten ist, der eine Metallisierung (30) mit einem Niveau zur Verbindung der Leiterplatte (10) aufweist;
Mittel zum elektrischen Verbinden und zum Zusammenfügen der zwei Platten, welche punktuelle Kontaktkugeln (26) und eine Litze (28) umfassen, die den mechanischen Meßwertaufnehmer und die Kugeln umgeben, und wobei die Litze und die Kugeln aus einem elektrischen Leitungslötmaterial bestehen.
eine Leiterplatte (10) , die elektrische Leiterbahnen trägt;
eine aktive Platte (12), in welcher ein mechanischer Meßwertaufnehmer ausgeschnitten ist, der eine Metallisierung (30) mit einem Niveau zur Verbindung der Leiterplatte (10) aufweist;
Mittel zum elektrischen Verbinden und zum Zusammenfügen der zwei Platten, welche punktuelle Kontaktkugeln (26) und eine Litze (28) umfassen, die den mechanischen Meßwertaufnehmer und die Kugeln umgeben, und wobei die Litze und die Kugeln aus einem elektrischen Leitungslötmaterial bestehen.
2. Meßwertaufnehmer nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß die aktive Platte
(12) Dimensionen hat, die kleiner als die Leiterplatte (10) sind, um den Zugriff auf die
elektrischen Ausgänge (20) zu ermöglichen, die auf der Leiterplatte vorgesehen sind.
3. Meßwertaufnehmer nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet dadurch, daß die Platten
ein Substrat aus einem monokristallinen Silizium, Quarz, keramischen Glas beinhalten,
wobei die Leiterplatte ein integrierten Schaltkreis für spezielle Anwendungen aufweist.
4. Meßwertaufnehmer nach Anspruch 3, gekennzeichnet dadurch, daß elektrische
Leiterbahnen der Leiterplatte (10) auf einem Substrat (16) ein erstes
Verbindungsniveau, das die Ausgänge (20) bildet und ein zweites Verbindungsniveau,
das von dem ersten durch eine dielektrische Zwischenschicht (22) getrennt ist,
enthalten.
5. Meßwertaufnehmer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet dadurch, daß
die Litze (28) zwischen den Vorderseiten in Bezug auf die Platten angeordnet ist, und
eine Abdichtung zwischen einem Volumen, das den mechanischen Meßwertaufnehmer
enthält-und dem Äußeren darstellt.
6. Meßwertaufnehmer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet dadurch, daß
sie eine Abdeckhaube (14) zum Schutz gegen die Außenumgebung umfaßt, die auf der
aktiven Platte (12) mit Hilfe eines Klebers (34) angebracht ist.
7. Meßwertaufnehmer nach einem der vorangegangenen Ansprüche, gekennzeichnet
dadurch, daß die aktive Platte in einer Form geschnitten ist, um einen
Beschleunigungsmesser oder ein Gyrometer zum Messen durch kapazitive Effekte,
piezzoelektrische oder piezzowiderstands Effekte zu bilden.
8. Verfahren zur Herstellung eines elektromechanischen Meßwertaufnehmers,
gekennzeichnet durch:
Bilden von elektrischen Leiterbahnen auf einem ersten Substrat (16) unter Bildung von wenigstens einem Verbindungsniveau, um eine Leiterplatte (10) herzustellen;
Herstellen einer aktiven Platte (12) auf einem zweiten Substrat und durch Anlagerung von einem Verbindungsniveau (30);
Anlagern auf der elektrischen Verbindungsplatte von Kugeln und einer Lötlitze an bestimmtem Stellen der Leiterplatte (10), um eine Verbindung mit der aktiven Platte (123) herzustellen;
Verbinden der Platten durch Aufheizen unter Vakuum oder einer reaktionslosen Atmosphäre oder einer reduktiven Atmosphäre und durch Abkühlen, um elektrische Verbindungen und Zusammenhalt zwischen den Platten zu schaffen;
Beenden der Gestaltung des mechanischen Meßwertaufnehmers.
Bilden von elektrischen Leiterbahnen auf einem ersten Substrat (16) unter Bildung von wenigstens einem Verbindungsniveau, um eine Leiterplatte (10) herzustellen;
Herstellen einer aktiven Platte (12) auf einem zweiten Substrat und durch Anlagerung von einem Verbindungsniveau (30);
Anlagern auf der elektrischen Verbindungsplatte von Kugeln und einer Lötlitze an bestimmtem Stellen der Leiterplatte (10), um eine Verbindung mit der aktiven Platte (123) herzustellen;
Verbinden der Platten durch Aufheizen unter Vakuum oder einer reaktionslosen Atmosphäre oder einer reduktiven Atmosphäre und durch Abkühlen, um elektrische Verbindungen und Zusammenhalt zwischen den Platten zu schaffen;
Beenden der Gestaltung des mechanischen Meßwertaufnehmers.
9. Verfahren nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch Schleifen und Polieren der aktiven
Platte (12), danach Befestigen der aktiven Platte (12) an der Leiterplatte (10).
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, gekennzeichnet durch das gemeinsame Erhalten
mehrere Vorrichtungen durch gleichzeitiges Bilden der elektrischen Verbindungsbahnen
der Leiterplatte (10) auf einem ersten Plättchen, auf dem die Kugeln und die Lötlitzen
angelagert werden, die für den Zusammenhalt der Vorrichtung auf dem ersten Plättchen
bestimmt sind, auf welchem das Verbindungsniveau der aktiven Platten
korrespondierend mit dem zweiten Plättchen entsteht, und gemeinsames Bearbeiten der
aktiven Platten vor dem Schneiden der Plättchen.
11. Verfahren nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch das Fixieren eines zusätzlichen
Plättchens vor dem Trennen der Vorrichtung, das dazu bestimmt ist, Abdeckhauben
(14) auf den zwei ersten Plättchen zu bilden, die schon miteinander fixiert sind, wobei
der Stapel der Plättchen geschnitten wird, ohne daß das erste Plättchen angegriffen
wird, wonach die Trennung der Vorrichtungen gänzlich beendet wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19636543A1 true DE19636543A1 (de) | 1997-03-13 |
Family
ID=9482335
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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---|---|
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FR (1) | FR2738705B1 (de) |
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