DE19540125A1 - Verfahren zur Messung des Oberflächenreflexionsgrades und Verfahren zur Herstellung einer reflexmindernden Polarisationsfolie - Google Patents

Verfahren zur Messung des Oberflächenreflexionsgrades und Verfahren zur Herstellung einer reflexmindernden Polarisationsfolie

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DE19540125A1
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Kimishige Nakamura
Hiroshi Ishida
Akio Ohsaki
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Sumitomo Chemical Co Ltd
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Sumitomo Chemical Co Ltd
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    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/30—Polarising elements
    • G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • G02B5/3033—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10186102A (ja) * 1996-12-26 1998-07-14 Yazaki Corp 反射防止膜
EP1602911A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-07 Optimax Technology Corp. Testing method for a polarizing plate
TWI266908B (en) * 2004-11-16 2006-11-21 Taiwan Tft Lcd Ass Multifunctional integrated polarizing film/optic film structure, and production process method thereof
EP1662250A1 (en) * 2004-11-30 2006-05-31 Optimax Technology Corp. Inspecting device for optical films
TWI257007B (en) * 2005-02-04 2006-06-21 Taiwan Tft Lcd Ass Brightness enhanced integral polarizer and optical film structure and manufacture method
TWI273287B (en) * 2005-07-29 2007-02-11 Taiwan Tft Lcd Ass Integrated type optical film with wire grid polarizer structure and manufacturing method thereof
TWI412792B (zh) * 2007-04-30 2013-10-21 Taiwan Tft Lcd Ass 液晶顯示裝置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3985447A (en) * 1975-08-29 1976-10-12 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Measurement of thin films by polarized light
JPS60120235A (ja) * 1983-12-02 1985-06-27 Hitachi Ltd 斜入射反射分光装置
US4850711A (en) * 1986-06-13 1989-07-25 Nippon Kokan Kabushiki Kaisha Film thickness-measuring apparatus using linearly polarized light
IL96483A (en) * 1990-11-27 1995-07-31 Orbotech Ltd Optical inspection method and apparatus
JPH05157521A (ja) * 1991-08-29 1993-06-22 Nkk Corp エリプソパラメータ測定方法及びエリプソメータ

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