DE19538575C2 - Induktiver Näherungssensor - Google Patents
Induktiver NäherungssensorInfo
- Publication number
- DE19538575C2 DE19538575C2 DE19538575A DE19538575A DE19538575C2 DE 19538575 C2 DE19538575 C2 DE 19538575C2 DE 19538575 A DE19538575 A DE 19538575A DE 19538575 A DE19538575 A DE 19538575A DE 19538575 C2 DE19538575 C2 DE 19538575C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring coil
- voltage
- proximity sensor
- inductive proximity
- sensor according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/945—Proximity switches
- H03K17/95—Proximity switches using a magnetic detector
- H03K17/952—Proximity switches using a magnetic detector using inductive coils
- H03K17/9537—Proximity switches using a magnetic detector using inductive coils in a resonant circuit
- H03K17/9542—Proximity switches using a magnetic detector using inductive coils in a resonant circuit forming part of an oscillator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/20—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature
- G01D5/2006—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils
- G01D5/202—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the self-induction of one or more coils by movable a non-ferromagnetic conductive element
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/48—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
- G01P3/481—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
- G01P3/488—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals delivered by variable reluctance detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/48—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
- G01P3/481—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
- G01P3/489—Digital circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/49—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed using eddy currents
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen induktiven Näherungssensor mit einer Vorrichtung zum
Messen der komplexen Impedanz einer verlustbehafteten Spule, deren Impedanz von
einer nichtelektrischen Meßgröße abhängig ist.
Eine von einer nichtelektrischen Meßgröße abhängige Spule - im folgenden als Sen
sorspule oder Meßspule bezeichnet - wird in der Betriebsmeßtechnik, Prozeßüberwa
chung und Sensorik in vielfältiger Weise als induktiver Abstandssensor oder induktiver
Näherungsschalter zur Abstandsmessung und als Wirbelstromsensor zur zerstörungs
freien Materialprüfung eingesetzt. Die nichtelektrischen Meßgrößen können der Ab
stand s eines Meßobjekts - im folgenden als Steuerfahne bezeichnet - bzw. die physika
lischen Eigenschaften des Meßobjekts sein, wie elektrische Leitfähigkeit σ, die Per
meabilität µ oder abgeleitete Größen.
Wird ein solches, meist metallisches, Meßobjekt in das elektromagnetische Wechselfeld
der Spule eines induktiven Sensors eingebracht, wird die komplexe Impedanz der Spule
durch die nichtelektrischen Meßgrößen geändert. Die nichtelektrischen Meßgrößen
beeinflussen bei geeigneter Frequenz häufig nur eine Komponente der komplexen
Impedanz, beispielsweise beeinflußt die elektrische Leitfähigkeit des Meßobjektes den
Verlustwiderstand der Spule oder die Permeabilität des Meßobjekts die Induktivität der
Spule. Stets ist jedoch die Spule ohne Meßobjekt verlustbehaftet, d. h. ein induktiver
Sensor hat neben der Grundinduktivität zusätzliche ohmsche Verluste.
Die elektrischen Meßschaltungen sollen möglichst nur den Anteil der Impedanz oder
eine aus der Impedanz abgeleitete Größe erfassen, die von der nichtelektrischen
Meßgröße abhängig ist. Eine Meßschaltung zur Auswertung der Änderung der kom
plexen Impedanz oder einer abgeleiteten Größe ist in ihrem Verhalten von den Eigen
schaften der Spule abhängig. Die Güte Q bzw. der Verlustfaktor D und das Tempera
turverhalten der Spule bestimmen bei ausreichend großer Meßempfindlichkeit die
Eigenschaften der Messung. Mit anderen Worten, die Meßeigenschaften werden ganz
wesentlich durch die Verluste der Spule bestimmt. Durch geeignete Wahl der Meß
schaltung wird versucht, nur den meßgrößenabhängigen Teil der komplexen Impedanz
oder einer daraus abgeleiteten Größe zu messen, beispielsweise den Wirkwiderstand
oder die Induktivität oder die Güte bzw. den Verlustfaktor. Es sind zahlreiche Meß
schaltungen zur Lösung dieses Problems bekannt, aber nur wenige Schaltungen haben
sich in der Praxis als brauchbar bewährt. Meistens sind die Auswerteschaltungen zur
Verbesserung der Meßeigenschaften direkt an die Sensorspule angepaßt.
Elektrische und elektronische Schaltungen sind in ihrem Verhalten von den Eigen
schaften der verwendeten Bauelemente abhängig. Die Güte und das Temperaturverhal
ten von Widerständen und Kondensatoren sind mit modernen Technologien beherrsch
bar; ebenso sind die Eigenschaften von modernen Halbleiter-Schaltungen durch ge
eignete Wahl der Schaltung bestimmbar; jedoch sind nur wenige Schaltungen bekannt,
die die Güte und den Temperaturgang einer verlustbehafteten Spule verbessern.
Die wichtigsten berührungslosen Sensoren zur Prozeßsteuerung und Anlagenüber
wachung sind induktive Abstands- bzw. Näherungssensoren oder Näherungsschalter und
Näherungsinitiatoren. Ein induktiver Näherungssensor enthält eine Spule mit einem
gerichteten elektromagnetischen Hochfrequenzfeld. Hierzu verwendet man meist han
delsübliche zylinderförmige Einzel- oder Halbschalenkerne aus ferromagnetischem
Ferritmaterial. Dadurch entsteht an den offenliegenden Schenkeln dieser rotationssym
metrischen Einzelschalenkerne eine Vorzugsrichtung des elektromagnetischen Hochfre
quenzfeldes. Wird in dieses gerichtete Hochfrequenzfeld ein elektrisch oder magnetisch
leitendes bzw. ferromagnetisches Material - eine sogenannte Steuerfahne - gebracht,
tritt eine Dämpfung der magnetischen und elektrischen Komponente des Hochfre
quenzfeldes und damit eine Dämpfung der Spule auf.
Ein handelsüblicher induktiver Näherungssensor enthält einen Hochfrequenz-Oszillator
mit einem LC-Schwingkreis. Die Spule dieses LC-Schwingkreises erzeugt das gerichtete
elektromagnetische Hochfrequenzfeld. Durch die oben beschriebenen Dämpfung des
elektromagnetischen Hochfrequenzfeldes nimmt die Amplitude der Hochfrequenz-
Schwingungen des Oszillators ab. Die Amplitude der Oszillator-Hochfrequenz-Schwin
gungen kann als Maß für die Dämpfung des gerichteten elektromagnetischen Hoch
frequenzfeldes verwendet werden, also als Maß für den Abstand einer Steuerfahne.
Zur Auswertung der Dämpfung wird die Amplitude des Oszillator-Hochfrequenzsignals
im allgemeinen gleichgerichtet und mit einem Tiefpaßfilter gefiltert. Dieses gleich
gerichtete und gefilterte Hochfrequenz-Amplituden-Signal ist ein Gleichspannungs- oder
Gleichstrom-Signal und kann entweder direkt in ein analoges Signal zur Anzeige des
Abstandes einer Steuerfahne verstärkt oder mit Hilfe einer nachfolgenden Auswerte
schaltung in ein Schaltsignal umgesetzt werden, wobei das Schaltsignal bei einem
definierten Abstand der Steuerfahne seinen Schaltzustand ändert. Besonders induktive
Näherungsschalter, die nach der zuletzt beschriebenen Funktion arbeiten, dienen in
zahlreichen Ausführungsformen und in großer Anzahl zur Anlagensteuerung und
Anlagenüberwachung. Als Schaltung zur Erzeugung der Hochfrequenz-Schwingungen
wird sehr häufig eine Meißner-Oszillator-Schaltung verwendet.
Bei einem induktiven Näherungssensor hängt der erzielbare und nutzbare Abstands
bereich, d. h. der Abstand der Steuerfahne von der "aktiven' Fläche der Spule, im
wesentlichen von der Größe und den Eigenschaften der Hochfrequenz-Spule ab. Die
Dämpfung durch die Steuerfahne bewirkt eine Änderung der Güte Q der Spule. Bei
Annähern der Steuerfahne wird die Güte Q von einem maximalen Wert Q0 in Form
einer S-Kurve auf einen minimalen Wert reduziert. Den Schaltpunkt bzw. den Meßbe
reich legt man zweckmäßigerweise in den steilsten Teil der S-Kurve, i. a. ist das am
Wendepunkt. Will man den Meßbereich vergrößern, so muß man auch die flacheren
Teile der S-Kurve ausnutzen. Die Messung ist in einem flacheren Teil mit einer
wesentlich größeren Unsicherheit behaftet, da eine bestimmte auswertbare Güteände
rung hier eine große Änderung im Abstand s der Steuerfahne bedeutet.
Der Einfluß der Umgebungstemperatur auf die relative Güte Q/Q0 einer Spule zeigt,
daß die Güte mit steigender Temperatur abnimmt. Der Temperatureinfluß auf die
Spulengüte schränkt den nutzbaren Abstandsmeßbereich bei induktiven Näherungs
sensoren wesentlich ein, da die Güteänderung infolge des Temperatureinflusses in
einem vorgesehenen Temperatur-Arbeitsbereich größer werden kann als die durch eine
Steuerfahne bewirkte Änderung.
Bei vielen Anwendungen und in vielen Ausführungsformen wird der Abstandsmeßbe
reich so niedrig gewählt, daß keine besonderen Maßnahmen zu einer Temperaturkom
pensation notwendig sind. Bei kritischen Einsatzfällen verwendet man temperatur
abhängige Widerstände, beispielsweise Heißleiter oder Kaltleiter, um den Temperatur
gang des Schaltabstandes zu kompensieren. Dieser zusätzliche Aufwand führt jedoch
nur in einem beschränkten Temperaturbereich zu befriedigenden Ergebnissen. Eine
wesentliche Vergrößerung des nutzbaren Abstandsmeßbereiches kann damit nicht
erreicht werden.
Eine verlustbehaftete Spule wird durch die komplexe Impedanz Z beschrieben. Eine an
die Spule angelegte Meßspulen-Wechselspannung U eilt dem durch die Spule fließen
den Meßspulen-Wechselstrom I um den Phasenwinkel ϕUI, vor, der um den Verlustwin
kel δ kleiner ist als 90° (Grad). Das Verhalten einer verlustbehafteten Sensorspule
eines induktiven Näherungssensors wird durch eine Ersatzschaltung beschrieben, in der
der Feldverlustwiderstand RF durch einen ohmschen Parallelwiderstand parallel zu
einem Blindwiderstand XL, der durch eine reine Induktivität L gebildet wird, und in
Reihe zu dieser Parallelschaltung der Wicklungswiderstand RCU der Spule durch einen
ohmschen Vorwiderstand berücksichtigt werden, wie beispielsweise in der deutschen
Offenlegungsschrift DE 38 14 131 A1 in Fig. 2a dargestellt. In dieser an sich bekannten
Ersatzschaltung repräsentiert
- - der Feldverlustwiderstand RF die Wirkverluste des elektromagnetischen Wechselfeldes durch Wirbelströme und Ummagnetisierungsverluste im Spulenkern und im Meßobjekt (Steuerfahne),
- - der Blindwiderstand XL die induktiven Verluste der Meßspule und des elektromag netischen Wechselfeldes infolge der Permeabilität µ des Meßobjektes (Steuerfahne) und die dielektrischen Verluste durch die Eigenkapazität der Meßspule und
- - der Wicklungswiderstand RCU die Gleichstrom-Wirkverluste durch den Kupferwider stand des Spulendrahtes und die Wechselstrom-Wirkverluste durch den Skin-Effekt im Spulendraht.
Die Güte einer Spule ist gegeben durch das Verhältnis aus dem Blindwiderstand Im(Z)
und dem Verlustwiderstand Re(Z), wobei Z der komplexe Scheinwiderstand (Impe
danz) der Spule ist.
Der Einfluß der Umgebungstemperatur auf die Impedanz Z und auf die Güte Q einer
Spule wird im wesentlichen durch die Temperaturabhängigkeit der Verlustwiderstände
bewirkt. Bekannt ist der Temperaturkoeffizient α des Gleichstrom-Widerstandes der
Kupferwicklung der Spule mit etwa 3,95.10-3/K. Die Temperaturgänge der anderen
Verlustwiderstände sind meist kleiner, jedoch in ihrer Größe von der Bauart der Spule
abhängig.
Die Güte und damit auch der Temperaturgang einer Spule ist eine zusammengesetzte
Größe, die bei verschiedenen Bauarten und sogar von Exemplar zu Exemplar starken
Schwankungen unterworfen ist. Deshalb muß eine Kompensation bzw. eine Reduzierung
des Temperaturganges mindestens für jede Bauart einer Spule getrennt vorgenommen
werden.
Als Maß für den Abstand eines Meßobjektes (Steuerfahne) von der Sensorspule werden
im allgemeinen die Meßgrößen komplexe Impedanz Z oder ersatzweise Güte Q oder
Scheinwiderstand Z der Meßspule gemessen. Häufig wird die Messung der Güte mit
einem LC-Schwingkreis oder die Messung des Scheinwiderstandes in der zerstörungs
freien Materialprüfung durchgeführt. Der Nachteil dieser Messungen ist die Abhängig
keit von der Temperatur und vom Material des Meßobjektes und damit die reduzierte
Genauigkeit der Meßgröße. Bei der Gütemessung mit einem LC-Schwingkreis wird
dieser Schwingkreis in einem Oszillator zu Resonanzschwingungen angeregt, wobei die
Schwingungsamplitude des Oszillators ein Maß für die Güte ist.
Der Scheinwiderstand Z läßt sich aus der gleichzeitigen Effektivwert-Messung der an
der Meßspule angelegten Spannung Ueff und des durch die Meßspule fließenden
Stromes Ieff ermitteln.
Dabei enthält der Scheinwiderstand Z die Wirkkomponente R (Verlustwiderstand) und
die frequenzabhängige Blindkomponente XL = ωL. Aus der komplexen Impedanz Z =
R + jωL ergibt sich der Scheinwiderstand Z.
Ist der Wirkwiderstand R vernachlässigbar, so ergibt sich aus der Strom- und Span
nungsmessung der Blindwiderstand XL.
Um aus den Messungen die Induktivität L zu erhalten, muß noch die Frequenz f =
ω/2π der Meßspannung bekannt sein. Zur Messung der eigentlich zu erfassenden
komplexen Impedanz Z muß mittels zweier getrennter Meßvorgänge entweder
- - der Wirkwiderstand R als Realteil Re(Z) und der Blindwiderstand XL als Imaginärteil Im(Z) der komplexen Impedanz oder
- - der Scheinwiderstand Z und der Phasenwinkel ϕUI zwischen dem durch die Meßspule fließenden Meßspulen-Wechselstrom I und der an die Meßspule angelegten Meßspulen- Wechselspannung U gemessen werden. Bei den meisten Anwendungen wird nur eine der oben dargestellten Meßgrößen gemessen und zwar nur diejenige, die möglichst selektiv auf die zu messende Größe Abstand der Steuerfahne von der Meßspule reagiert und die von Störgrößen wie Temperatur und elektromagnetische Einstrahlun gen möglichst wenig beeinflußt wird, so daß die Genauigkeit und Auflösung möglichst hoch ist.
In der deutschen Offenlegungsschrift DE 35 13 403 A1 wird ein Verfahren angegeben,
nach dem der Temperaturkoeffizient des Wicklungskupferwiderstandes der Schwing
kreisspule zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten der Güte des Schwingkreises
ausgenutzt wird, wobei eine zum Kupferwiderstand der Schwingkreisspule proportionale
Spannung mit einer zweiten Spule an den Schwingkreis angelegt wird. Diese Tempera
turkompensation ist aber nur unter ganz speziellen Bedingungen zu realisieren. Der
Kupferwiderstand der zweiten Spule muß wesentlich größer sein als der Kupferwider
stand der Schwingkreisspule, während die Induktivität beider Spulen gleich groß sein
muß. Diese Bedingungen sind in der Praxis nur sehr schwer zu erfüllen.
In der deutschen Offenlegungsschrift DE 38 14 131 A1 wird ein Verfahren und eine
Vorrichtung angegeben, in dem der Wirkwiderstand der Sensorspule als Feldverlust
widerstand direkt mit einer Leistungsmessung gemessen wird. Dieser Feldverlustwider
stand der Sensorspule, hervorgerufen durch die Verluste des elektromagnetischen
Feldes infolge des Streufeldes und infolge einer elektromagnetischen Dämpfung durch
eine Steuerfahne, ist bei der Wahl einer geeigneten Frequenz abhängig vom Abstand
s der Steuerfahne. Bei Verwendung einer Vier-Leiter-Schaltung ist die Messung in
einem weiten Temperaturbereich temperaturunabhängig, da hierbei der temperaturab
hängige Wicklungswiderstand der Spule (auch als Kupferwiderstand bezeichnet) und die
Leitungswiderstände der vier Zuleitungen nicht in die Messung eingehen. Durch
phasenrichtige Multiplikation des Spulen-Wechselstromes und der induzierten Spulen-
Wechselspannung und nachfolgender Tiefpaßfilterung wird die Wirkleistung in der
Spule gemessen, die umgekehrt proportional dem Feldverlustwiderstand ist.
In ähnlicher Weise läßt sich mittels einer phasenrichtigen Multiplikation des um 90°
phasenverschobenen Spulen-Wechselstromes und der induzierten Spulen-Wechselspan
nung und nachfolgender Tiefpaßfilterung die Blindleistung in der Spule messen, die
ebenfalls umgekehrt proportional dem Spulen-Blindwiderstand bzw. der Spuleninduktivi
tät ist. Zur einfachen Trennung der Primär- und Sekundärseite, d. h. des Spulenstromes
und der induzierten Spulenspannung, wird die induzierte Spulenspannung mittels einer
zweiten Wicklung ausgekoppelt. Im einfachsten Fall sind die beiden Wicklungen
identisch und bifilar gewickelt.
In der deutschen Offenlegungsschrift DE 43 28 097 A1 wird eine Vorrichtung zum
Messen der Impedanz von passiven Sensoren (induktive, kapazitive und ohmsche
Sensoren) mit doppelt rückgekoppelter Phasenregelschleife PLL (phase locked loop)
beschrieben, wobei in der einen Rückkopplungsleitung ein Meßphasenschieber als
Tiefpaß- oder Hochpaß-Filter mit dem Sensor-Bauelement angeordnet ist. Die frequen
zanaloge Signalauswertung einer solchen Phasenregelschleife besitzt eine sehr hohe
Meßempfindlichkeit. Weiterhin läßt sich das frequenzanaloge Ausgangssignal in ein
facher Weise weiterverarbeiten und in ein digitales Signal umsetzen.
Bei allen bisher bekannten induktiven Näherungsschaltern ist die Schaltgeschwindigkeit,
d. h. die Grenzfrequenz für Schaltvorgänge, durch die Tiefpaßfilterung zur Erzeugung
des abstandsabhängigen Ausgangssignals (meist eine Gleichspannung) und besonders
durch die im Schwingkreis und die im elektromagnetischen Feld gespeicherte Energie
bestimmt und damit erheblich erniedrigt. Die Grenzfrequenz der meßbaren Schaltvor
gänge wird hierbei durch elektrische Umladevorgänge und durch Trägheit des stationä
ren, elektromagnetischen Wechselfeldes der Sensorspule bestimmt. Das Frequenzverhal
ten der Schaltfrequenz eines induktiven Näherungsschalters zeigt insgesamt das Verhal
ten eines Tiefpaßfilters, d. h. die niedrigste Grenzfrequenz der Meßkette bestimmt im
wesentlichen sein gesamtes Frequenzverhalten. Das oben erwähnte Tiefpaßfilter dient
neben der Erzeugung des abstandsabhängigen Ausgangssignals i. a. auch der Störunter
drückung innerer und äußerer Störsignale. Meist liegt die Grenzfrequenz der Schaltvor
gänge bei etwa 1 kHz, nur mit erheblichen elektronischen Mitteln ist eine Grenzfre
quenz von 10 kHz zu erreichen, jedoch nur mit einer niedrigeren Störunterdrückung
bzw. einem schlechteren Signal-Rausch-Verhältnis.
Desweiteren begrenzt der Temperaturgang der Impedanz der Sensorspule, insbesondere
der Wicklungswiderstand RCU, hier die Meßempfindlichkeit, so daß sinnvollerweise nur
solche Meßverfahren verbessert werden sollten, die den Temperaturgang der Sensor
spule berücksichtigen bzw. kompensieren.
Weiterhin ist das analoge Ausgangssignal bzw. der Schaltpunkt vom Material der
Steuerfahne abhängig, wodurch die Meßgenauigkeit des induktiven Näherungssensors
verschlechtert wird. Diese Abhängigkeit wird entweder durch einen Werkstoffaktor oder
durch aufwendige Kompensationsmaßnahmen mit Hilfsspulen auf der Sekundärseite
eines Übertragers oder durch ein Differentialverfahren mit einer mathematisch-schal
tungstechnischen Signalverarbeitung zur Kompensation des Werkstoffaktors beseitigt. Im
deutschen Gebrauchsmuster DE 94 12 765 U1 wird diese Problematik mittels eines
Differentialverfahrens durch Messung der in der Sensorspule induzierten Spannung und
der Resonanzfrequenz eines mit der Sensorspule gebildeten LC-Schwingkreises und
durch eine mathematisch-technische Verknüpfung dieser beiden Signale gelöst. Auch
hier ist die Schaltgeschwindigkeit des induktiven Näherungssensors wegen der Tief
paßfilterung der beiden Signale und durch die im Schwingkreis gespeicherte Energie
erheblich reduziert.
Es zeigt sich also, daß Korrekturverfahren für einige Einfluß- und Störgrößen bekannt
sind. Jedoch ist bisher kein Verfahren und keine Vorrichtung bekannt, die aufgrund des
Verfahrens selbst die oben beschriebenen Beeinflussungen und Störungen der Messung
reduzieren bzw. ganz vermeiden.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die nachweisbare Grenzfrequenz
eines induktiven Näherungssensors oder Wirbelstromsensors bzw. die maximal meßbare
Schaltgeschwindigkeit eines induktiven Näherungsschalter oder Näherungsinitiators
wesentlich zu erhöhen, ohne dabei seine Meßeigenschaften zu verschlechtern, so daß
die Meßgenauigkeit und Störunanfälligkeit erhalten bleibt bzw. noch verbessert wird.
Die Erfindung löst die Aufgabe gemäß dem Anspruch 1. Danach wird an einer Sensor
spule eines induktiven Näherungssensors die Phasenverschiebung zwischen angelegter
Meßspulen-Wechselspannung U oder induzierter Meßspulen-Wechselspannung U ind und
durchfließendem Meßspulen-Wechselstrom I unmittelbar während jeder Halbperiode
oder einem Vielfachen jeder Halbperiode von Strom und Spannung mit elektronischen
Mitteln gemessen. Der Lösung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß die komplexe Meß
spulen-Impedanz Z oder eine abgeleitete Meßgröße der Sensorspule, hier vorzugsweise
die Phasenverschiebung ϕUI zwischen Strom und Spannung, möglichst häufig und
möglichst sofort nach einer möglichen Änderung gemessen werden kann, wenn die
Meßspulen-Impedanz Z ohne eine Verzögerung durch zusätzliche Filter bestimmt wird.
Jedes Tiefpaß- und Bandpaß-Filter mit seiner Grenz- oder Resonanzfrequenz f0
verzögert das Signal zwischen seinem Eingang und Ausgang um die Verzögerungszeit
T0 = 1/f0.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
In der Meßtechnik setzt sich immer stärker die Anwendung der Digitaltechnik wegen
ihrer hohen Signalverarbeitungsgeschwindigkeit bis zu Grenzfrequenzen von einigen
GHz und wegen ihrer größeren Störsicherheit und einfacheren Signalverarbeitung
gegenüber der Analogtechnik durch. In der digitalen Meßtechnik erfolgt die Verar
beitung der Signale wertdiskret und zeitdiskret. Die notwendige Quantisierung der
Meßsignale sollte aus obigen Gründen möglichst am Anfang der Meßkette erfolgen, so
daß die gesamte Meßeinrichtung mit einfachen und preisgünstigen digitalen Schalt
elementen und Baugruppen aufgebaut werden kann. Im einfachsten Fall kann der Wert
eines zu messenden analogen Signals (Strom oder Spannung) als binäres Signal aus
gegeben werden, d. h., ob das Signal größer oder kleiner als ein Vergleichssignal ist.
Diese Aufgabe läßt sich für eine Spannung mit einem Spannungskomparator erfüllen.
Als Vergleichsspannung kann beispielsweise der Wert Null dienen, so daß bei einer
reinen symmetrischen Wechselspannung ohne Gleichspannungsanteil der Nulldurchgang
als Schaltbedingung für das binäre Ausgangssignal des Spannungskomparators verwen
det werden kann. Die Schaltbedingung kann in gleicher Weise bei einer endlichen
Vergleichsgleichspannung liegen, die ungleich Null ist. Dies wird vorzugsweise bei einer
Wechselspannung mit Gleichspannungsanteil angewandt. Das gleiche Verfahren wie
oben beschrieben kann in gleicher Weise bei einem analogen Wechselstromsignal
durchgeführt werden.
Bei einem erfindungsgemäßen induktiven Näherungssensor wird die Messung der kom
plexen Meßspulen-Impedanz Z (im folgenden auch als Meßspulen-Wechselstromwider
stand bezeichnet) bzw. hilfsweise die Messung der Phasenverschiebung ϕUI bei einem
Nulldurchgang der Meßspulen-Wechselspannung U und des Meßspulen-Wechselstromes
I oder beim Überschreiten bzw. Unterschreiten dieser Wechselsignale gegenüber einem
Vergleichs-Gleichsignal vorgenommen. Vorzugsweise werden Spannungssignale verwen
det, so daß ausschließlich die oben beschriebenen Spannungskomparatoren verwendet
werden können. Hierzu wird dem Meßspulen-Wechselstrom I mit einem Strom-Span
nungs-Wandler, vorzugsweise eine reine Referenzimpedanz Z ref (im folgenden auch als
Referenz-Wechselstromwiderstand bezeichnet), beispielsweise ein ohmscher Widerstand,
ein verlustarmer Kondensator oder eine verlustarme Spule, oder eine gemischte Kom
bination aus diesen Bauelementen in eine proportionale Referenz-Wechselspannung U I
überführt. Bei der Verwendung eines Kondensators oder einer Spule in der Referenz
impedanz Z ref wird eine zusätzliche Phasenverschiebung ϕI zwischen dem Meßspulen-
Wechselstrom I und der Referenz-Wechselspannung U I erzeugt, die bei der Phasen
verschiebung ϕUI vorzeichenrichtig berücksichtigt werden muß.
Die Phasenverschiebung ϕUI zwischen Meßspulen-Wechselstrom und Spannung der
Sensorspule ergibt sich zu
und wird als Zeitintervall TUI, zwischen dem Komparatorschaltpunkt tU der Meßspulen-
Wechselspannung U und dem Komparatorschaltpunkt tI des Meßspulen-Wechseltromes
I gemessen, wobei die Frequenz f oder die Periodendauer T des Wechselstrom- oder
Wechselspannungssignals berücksichtigt werden muß.
Zur Bestimmung der Phasenverschiebung ϕUI wird also das Zeitintervall TUI bezogen
auf die Periodendauer T des Meßspulen-Wechselsignals gemessen. Durch die schal
tungstechnische Verknüpfung der beiden Ausgangssignale der beiden Komparatoren
mittels digitaler Gatter, Kippstufen, Speicherglieder oder Flipflops oder Kombinationen
aus diesen digitalen Verknüpfungsgliedern entsteht eine Impulsfolge mit einer Im
pulsfolgefrequenz oder Impulsrate, die aus der Frequenz f der Meßspulen-Wechselspan
nung abgeleitet und damit identisch oder doppelt so groß ist. Es sind auch digitale
Verknüpfungsglieder bekannt, die solche Komparatoren als Eingangsstufe enthalten. Im
einfachsten Fall kann ein solcher analoger Komparator ein nicht gegengekoppelter
Operationsverstärker sein. Das Tastverhältnis der Impulsfolge entspricht also der
Phasenverschiebung ϕUI. Die Messung des Tastverhältnisses läßt sich mit hier nicht
näher beschriebenen analogen und digitalen elektrischen oder elektronischen Mitteln
in ein analoges oder digitales Signal umformen und mathematisch-schaltungstechnisch
auswerten, wobei keine Tiefpaßfilterung notwendig ist.
Die Messung der komplexen Meßspulen-Impedanz Z erfolgt beispielsweise mittels der
oben beschriebenen Messung der Phasenverschiebung ϕUI oder des Meßspulen-Schein
widerstandes Z. Der Meßspulen-Scheinwiderstand Z kann beispielsweise mittels einer
Effektivwert-Messung des Meßspulen-Wechseltromes Ieff und der Meßspulen-Wechsel
pannung Ueff erfolgen.
Ebenso ist damit der Meßspulen-Wirkwiderstand
und der Meßspulen-Blindwiderstand
der Sensorspule bestimmt, wobei die Berechnung der Größen R und XL mittels einer
mathematisch-schaltungstechnischen Verknüpfung mit an sich bekannten elektrotech
nischen Mitteln erfolgen kann. Die komplexe Meßspulen-Impedanz Z der Sensorspule
eines induktiven Näherungssensors setzt sich wie oben beschrieben aus der Parallel
schaltung des Feldverlustwiderstandes RF und des reinen Blindwiderstandes XL und
dem Wicklungswiderstand R1 als Vorwiderstand zusammen. Der größte Anteil der
Wirkkomponente der komplexen Meßspulen-Impedanz Z ist der stark temperaturab
hängige Wicklungswiderstand RCU, der im folgenden mit R1 bezeichnet wird.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Meßverfahren und eine
Meßvorrichtung anzugeben, bei dem die Temperaturabhängigkeit der Spule nicht mehr
in die Messung des Abstandes der Steuerfahne eingeht, so daß beispielsweise in der
Anwendung als Näherungssensor der Abstand oder als Näherungsschalter der Schalt
abstand sehr stabil über einen weiten Temperaturbereich gemessen wird. Die erfin
dungsgemäße Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß Meßmittel vorhanden sind,
um den Feldverlustwiderstand RF und den reinen Meßspulen-Blindwiderstand XL direkt
zu messen. Dieser erfindungsgemäßen Vorrichtung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß
dieser Feldverlustwiderstand RF und der reine Spulen-Blindwiderstand XL abhängig
vom Abstand s der Steuerfahne sind, während der Wicklungswiderstand R1 unabhängig
vom Abstand s der Steuerfahne ist.
Der Feldverlustwiderstand RF und der reine Blindwiderstand XL der Sensorspule
können nicht direkt aus der Meßspulen-Wechselpannung U und aus dem Meßspulen-
Wechseltrom I gemessen werden, da die Meßspulen-Wechselpannung U um den
Spannungsabfall am Wicklungswiderstand R1 zu groß gemessen wird. Der Erfindung
liegt also die weitere Erkenntnis zugrunde, daß der Spannungsabfall an der Parallel
schaltung von RF und XL, die sogenannte induzierte Meßspulen-Wechselspannung U ind,
zu messen ist. Die induzierte Meßspulen-Wechselspannung U ind als induzierte
Meßspulen-Primär-Wechselspannung U 1,ind = U 1 bezeichnet) ist nur mittels einer
Hilfsspule L2 als induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2,ind = U 2
meßbar. Die Hilfsspule L2 ist unmittelbar auf der Meßspule L1 angebracht und mit
dieser direkt magnetisch gekoppelt, so daß der Kopplungsfaktor k möglichst nahe bei
eins liegt. Entsprechend der bekannten Übertragung von Wechselspannungen mittels
eines Transformators oder Übertragers verhält sich die induzierte Meßspulen-Primär-
Wechselspannung der Primärseite U 1 zur induzierten Meßspulen-SekundärWechsel
spannung der Sekundärseite U 2 wie die Windungszahl der Primärseite N1 zu der
Windungszahl der Sekundärseite N2.
Die induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2 ist also direkt proportional
der nicht direkt meßbaren, induzierten Meßspulen-Primär-Wechselspannung U 1, wobei
das Wicklungsverhältnis N1/N2 beliebig sein kann, aber bekannt sein muß. Der Wick
lungswiderstand R2 der sekundären Hilfswicklung L2 geht dann nicht in eine Span
nungsmessung ein, wenn diese Messung hochohmig erfolgt, d. h. der Meßstrom sehr
klein ist, beziehungsweise die induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2
leistungslos gemessen wird; in diesem Fall ist die induzierte Meßspulen-Sekundär-
Wechselspannung U 2 gleich der Spannung an den Spulenanschlüssen. Der Vorteil der
leistungslosen Messung der induzierten Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung ist, daß
der temperaturabhängige Wicklungswiderstand R2 die Messung nicht mehr beeinflußt.
In einer bevorzugten Ausführung wird die induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechsel
spannung U 2 gleich groß wie die induziere Meßspulen-Primär-Wechselspannung U 1
gemacht, indem die Anzahl der Windungen auf der Primärseite N1 und auf der Sekun
därseite N2 gleich groß gemacht werden. Dieser Fall läßt sich in einfacher Weise
realisieren, indem beide Wicklungen gemeinsam bifilar gewickelt werden, so daß die
Kopplungsverluste gering sind und die reine Induktivität der Spule L1 auf der Primär
seite nahezu gleich der Induktivität der Spule L2 auf der Sekundärseite wird. Die
Messung des Meßspulen-Wechselstromes I, der beispielsweise durch die Spule L1 auf
der Primärseite fließt, erfolgt vorzugsweise mittels einer Spannungsmessung in der oben
beschrieben Weise mit einem ohmschen Widerstand als Strom-Spannungs-Wandler.
Bei einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung bildet die Meßspule die Induktivität
eines LC-Reihenschwingkreises oder LC-Parallelschwingkreises, der in einem an sich
bekannten Oszillator auf seiner Resonanzfrequenz f0 zu Eigenschwingungen angeregt
wird. Der Vorteil dieser Anregung der Meßspule eines induktiven Näherungssensors ist
der minimale externe Energiebedarf eines Oszillators, der in seiner Resonanz betrieben
wird, d. h. die Leistungsaufnahme eines Oszillators hat bei Erregung in Resonanz ihr
Minimum.
In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wird bei einem induktiven Näherungs
schalter oder Näherungsinitiator eine mathematisch-schaltungstechnische Verknüpfung
mit digitalen elektronischen Mitteln vorgenommen, daß ein binäres Ausgangssignal des
Schalters oder Initiators dergestalt erzeugt wird, daß sich der Zustand des binären
Ausgangssignals nur dann ändert, wenn die Steuerfahne einen festgelegten Schalt
abstand s0 unterschreitet oder überschreitet, je nach Ausführung des Schalters. Das
binäre Ausgangssignal des induktiven Näherungsschalters soll also angeben, ob sich eine
Steuerfahne gegenüber einem festgelegten Schaltabstand s0 weiter entfernt von oder
näher an der aktiven Sensorfläche der Meßspule des Näherungsschalters befindet.
Die erfindungsgemäßen Vorrichtungen sollen anhand von Zeichnungen näher erläutert
werden:
Fig. 1a zeigt eine verlustbehaftete Spule mit der Impedanz Z;
Fig. 1b zeigt das Ersatzschaltbild einer verlustbehafteten Spule mit der Induktivität L,
mit dem Feldverlustwiderstand RF infolge der Dämpfung und Verluste des gerichteten
elektromagnetischen Hochfrequenzfeldes und mit dem Drahtwiderstand R1;
Fig. 2a zeigt eine verlustbehaftete Spule mit zwei magnetisch gekoppelten Wicklungen;
Fig. 2b zeigt das Ersatzschaltbild einer verlustbehafteten Spule mit zwei magnetisch
gekoppelten Wicklungen;
Fig. 3 zeigt das prinzipielle Verfahren zur Messung der Phase ϕUI unabhängig vom
Drahtwiderstand R1;
Fig. 4 zeigt die Abhängigkeit von U L, I L und daraus abgeleiteten Größen vom Abstand
s einer Steuerfahne;
Fig. 5a zeigt ein Ausführungsbeispiel eines induktiven Näherungssensors mit einer
einfachen Meßspule und zwei Spannungskomparatoren;
Fig. 5b zeigt das Impulsdiagramm des induktiven Näherungssensors nach Fig. 5a;
Fig. 6 zeigt ein erweitertes Ausführungsbeispiel eines induktiven Näherungssensors mit
einer spannungsgekoppelten Hilfsspule nach Fig. 2 und angeregt mittels eines Oszil
lators;
Fig. 7 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines induktiven Näherungsschalters zur Messung
der Phase ϕUI nach Fig. 3 mit einem Phasenschieber und einem Phasenkomparator;
Fig. 8 zeigt ein erweitertes Ausführungsbeispiel nach Fig. 7 mit einem Schmitt-Trigger-
Ausgang.
Eine Analyse einer verlustbehafteten Spule mit einer Wicklung nach Fig. 1 ergibt, daß
die Phasenverschiebung ϕUI bei den für einen induktiven Näherungsschalter in Frage
kommenden Materialien und Frequenzen durch den Drahtwiderstand R1 der verlustbe
hafteten Spule bestimmt wird.
In der Praxis kann man davon ausgehen, daß der Wicklungs- bzw. Drahtwiderstand R1
wesentlich kleiner als der Feldverlustwiderstand RF ist, so daß sich die Beziehung für
die Phasenverschiebung ϕUI vereinfacht.
Die Verwendung einer Spule mit zwei magnetisch gekoppelten Wicklungen nach Fig.
2 erlaubt den Zugriff auf die Phase ϕUI praktisch ohne - wie oben gezeigt wurde -
Einfluß der beiden Meßspulen-Drahtwiderstände R1 und R2. Mit der Spule, die als
erste Wicklung mit der Induktivität L1 zwischen den Klemmen A und B angeschlossen
ist, wird eine zweite Wicklung mit der Induktivität L2 bifilar gewickelt, die zwischen
den Klemmen A' und B' herausgeführt ist. Dadurch haben beide Wicklungen dieselbe
Induktivität L1 = L2 = L, der kombinierte Effekt der Gegeninduktivität
ist aufgehoben und die Anschlüsse A' und B' erlauben eine von den beiden Drahtwi
derständen R1 und R2 praktisch unbeeinflußte Messung. Als Wicklungsdraht kann für
beide Wicklungen gemeinsam Litze oder für beide Wicklungen getrennt massiver
Kupfer-Lackdraht verwendet werden. Die Anschlüsse A und A' beziehungsweise B und
B' bezeichnen diejenigen Anschlüsse, die die gleiche Spannungspolarität bei Anlegen
einer Wechselspannung besitzen beziehungsweise an denen die Wicklungen im gleichen
Wickelsinn angeschlossen sind.
Prinzipiell können auch unterschiedliche Wicklungen benutzt werden, dann sind die
Parameter der Sekundärseite unter Beachtung des Windungsverhältnisses und des
Kopplungsfaktors auf die Primärseite umzurechnen. Diese Rechnung hat aber keinerlei
Einfluß auf die auszuwertende Phasenbeziehung.
Zur Messung der Phase ϕUI wird nach Fig. 3 eine Wechselstromquelle mit dem Meß
spulen-Wechselstrom I an die Klemmen A und B der Spule gelegt. In die zweite
Wicklung wird die Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2 eingekoppelt, die bei
einer leistungslosen, hochohmigen Spannungsmessung mit I 2 = 0 direkt an den Klem
men A' und B' gemessen werden kann. Ist der Meßspulen-Wechselstrom I unbekannt,
so kann die zwischen den Klemmen A und A' anliegende und dem Meßspulen-Wech
selstrom I proportionale Spannung U 1 = R1.I (bei I 2 = 0) ausgewertet werden. Werden
beide Wechselpannungen U und U i leistungslos gemessen, bzw. wird der Meßspulen-
Wechselstrom I direkt ausgewertet und die Meßspulen-Wechselspannung U leistungslos
gemessen, dann ergibt sich für die Phase:
Somit gehen vorteilhaft weder die Amplitude von Erregerstrom oder -spannung, noch
die temperaturabhängigen Drahtwiderstände in die Messung ein.
In Fig. 5 ist ein induktiver Näherungssensor mit einer einfachen Meßspule der kom
plexen Meßspulen-Impedanz Z nach Fig. 1 dargestellt. Die Messung des Nulldurchgangs
der Meßspulen-Wechselspannung U an der Sensorspule bzw. die Messung des Zeit
punktes des Überschreitens und Unterschreitens der ersten Vergleichsgleichspannung
UV,U durch die Meßspulen-Wechselspannung U erfolgt mit dem Spannungskomparator
K1. Am Ausgang des ersten Komparators K1 entsteht eine Impulsfolge mit der Impuls
folgefrequenz f der Meßspulen-Wechselspannung U, die für die positive Halbwelle der
Meßspulen-Wechselspannung U bzw. bei Überschreiten der Vergleichsgleichspannung
UV,U "Logisch-Eins" hat und die für die negative Halbwelle der Meßspulen-Wechsel
spannung U bzw. bei Unterschreiten der Vergleichsgleichspannung UV,U "Logisch-Null"
hat oder umgekehrt.
Die Messung des Nulldurchgangs des Meßspulen-Wechselstromes I als Referenz-
Wechselspannung U I am Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref bzw. die Messung des
Zeitpunktes des Überschreitens und Unterschreitens der zweiten Vergleichsgleich
spannung UV,I durch die Referenz-Wechselspannung U I mittels des zweiten Spannungs
komparators K2 ergibt ebenfalls eine Impulsfolge mit der Impulsfolgefrequenz f, die
jedoch um die Phasenverschiebung ϕUI∞ phasenverschoben ist. Mit Hilfe eines logischen
UND-Gatters UG, welches das Ausgangssignals des ersten Komparators K1 und das
invertierte Ausgangssignal des zweiten Komparators K2 logisch verknüpft, erhält man
eine Impulsfolge F mit der Impulsfolgefrequenz f bzw. der Periodendauer T = 1/f und
der Impulsbreite TUI, die nach Gleichung 6 direkt proportional zur Phasenverschiebung
ϕUI∞, ist. Mit hier nicht dargestellten weiteren digitalen Baugruppen, wie ein Taktgene
rator, Zähler, Gatter und Flipflops, kann mittels bekannten Meßanordnungen der
Phasenwinkel ϕUI∞, oder die Impulsbreite TUI, digital gemessen werden.
Nach Fig. 4 beträgt die Phase ϕUI∞ bei Abwesenheit der Steuerfahne bzw. sehr großem
Abstand s → ∞ nahezu exakt 90 Grad. Mit geringer werdendem Abstand s verringert sich
auch die Phase ϕUI Bei der erfindungsgemäßen Anwendung eines Näherungsschalters
wird die Phase ϕUI mit einem Referenzwert ϕ1, verglichen, bei dessen Unterschreitung
ein Schaltvorgang ausgelöst wird. Soll trotz einer eventuell driftenden Frequenz f der
Erregung ein stabiler Schaltpunkt erreicht werden, so muß die Referenzphase ϕ1
frequenzunabhängig erzeugt werden, z. B. mit einem ersten Allpaß. Kann jedoch von
einer stabilen Frequenz ausgegangen werden, so kann die Referenzphase ϕ1 mit einer
einfacheren Anordnung, z. B. einem Tiefpaß oder einem Laufzeitglied, erzeugt werden.
Beispielsweise ist es möglich, die Wirkung des Phasenwinkels ϕ1 auch mittels der
Referenzimpedanz Z ref durch eine Phasenverschiebung ϕ1, zwischen dem Meßspulen-
Wechselstrom I und der Referenz-Wechselspannung U I zu erzeugen.
Der Feldverlustwiderstand RF und die Induktivität L der Meßspule sind beide unter
schiedlich sowohl vom Abstand s und Material der Steuerfahne, als auch von der
Frequenz f der Erregung abhängig. Bei richtiger Wahl der Frequenz f kann eine stark
verringerte Materialabhängigkeit erzielt werden.
Ebenso besteht die Möglichkeit, die Meßspule als ein frequenzbestimmendes Teil der
Erregung zu benutzen, z. B. zusammen mit einem Kondensator C im Parallelschwing
kreis eines Oszillators, um so den Energiebedarf zu verringern. Unter Benutzung der
Schwingbedingung eines solchen Parallelschwingkreises folgt dann für die Phase:
mit
Der bedeutenste Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens ist die damit erzielbare
hohe Schaltgeschwindigkeit. Bei jedem Nulldurchgang kann die Phasendifferenz be
stimmt werden, also z. B. bei einer Frequenz f = 50 kHz kann etwa alle 10 µs ein
Schaltvorgang ausgelöst werden. Demgegenüber muß bei herkömmlichen induktiven
Näherungssensoren, welche die Amplitude eines Parallelschwingkreises auswerten, erst
die im Schwingkreis gespeicherte Energie abgebaut werden. Dabei entsteht die Zeit
konstante:
Nimmt man z. B. die Zahlenwerte von L = 160 µH und R = 0,3 Ω einer typischerweise
in induktiven Näherungssensoren verwendeten Meßspule an, so beträgt die Zeitkon
stante τLC etwa 270 µs. Die allein durch die Energie im Schwingkreis vorhandene Zeit
konstante ist also um ein Vielfaches größer als die erzielbare Schaltzeit des erfin
dungsgemäßen Näherungsschalters.
Bedingt durch die hohe Geschwindigkeit und das rein digitale Ausgangssignal kann in
sehr einfacher Weise eine erhöhte Störunterdrückung durch Auswertung mehrerer
Nulldurchgänge erfolgen.
In Fig. 6 ist ein induktiver Näherungssensor mit einer Meßspule L1 dargestellt, die eine
Hilfsspule L2 zur Auskopplung der zu messenden induzierten Meßspulen-Wechsel
spannung U 1 = U 2 besitzt. Ein Kondensator C ist zusammen mit der Meßspule L1 und
einem Referenz-Widerstand Z ref zu dem frequenzbestimmenden Parallelschwingkreis
des Oszillators OSZ verschaltet. Der Referenz-Widerstand Z ref dient zur Strom-Span
nungsumwandlung, da der ebenso verwendbare Drahtwiderstand R1 der Primärseite
(hier zeichnerisch nicht dargestellt) häufig einen zu geringen Wert für eine sichere
Auswertung aufweist.
Eine Referenzphase ϕ1 kann mit einem analogen Allpaß Ph1 als ersten Phasenschieber
erzeugt werden. Die Vorzeichen der so entstehenden Spannungssignale werden mit den
zwei Analogkomparatoren K1 und K2 in Digitalsignale umgesetzt. Die beiden Ausgangs
signale der beiden Komparatoren K1 und K2 werden - wie oben bei der Ausführung
nach Fig. 5 beschrieben - mittels eines logischen UND-Gatters UG ausgewertet und so
eine Impulsfolge mit der Frequenz f = 1/T erzeugt.
Ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Näherungsschalters zeigt Fig. 7. Ein
Kondensator C ist zusammen mit der Meßspule L1 und einem Referenz-Wechselstrom-
Widerstand Z ref zu dem frequenzbestimmenden Parallelschwingkreis des Oszillators
OSZ verschaltet. Der Referenz-Wechselstrorn-Widerstand Z ref dient zur Strom-Span
nungsumwandlung, da der ebenso verwendbare Drahtwiderstand R1 der Primärseite
(hier zeichnerisch nicht dargestellt) häufig einen zu geringen Wert für eine sichere
Auswertung aufweist.
Die Referenzphase ϕ1 wird mit einem analogen Allpaß Ph1 als ersten Phasenschieber
erzeugt. Die Vorzeichen der so entstehenden Spannungssignale werden mit den beiden
Analogkomparatoren K1 und K2 in Digitalsignale umgesetzt. Der erste Komparator K1
steuert den Takteingang des flankengesteuerten ersten D-Speicherglieds beziehungs
weise D-Flipflops D1. Dieses wird als digitaler Phasenkomparator eingesetzt; es spei
chert den zum Zeitpunkt der Taktflanke existierenden Zustand, also das Vorzeichen
des Stroms, bis zur nächsten Taktflanke. Dieser Zustand wird auf den Ausgang des
Schaltsignals S geführt. Die Funktion eines D-Flipflops ist beispielsweise in E. Schrüfer,
Elektrische Meßtechnik, 5. Auflage, München, Wien, Hanser-Verlag, 1992, Seite 330
dargestellt.
Für eine einfache Anwendbarkeit ist es wünschenswert, daß der Näherungsschalter nicht
fortlaufend hin und her schaltet, wenn sich die Steuerfahne genau beim Schaltabstand
befindet. Eine einfache Verbesserung zeigt das Ausführungsbeispiel eines induktiven
Näherungsschalters mit Schalthysterese nach Fig. 8. Die zusätzlichen Vorrichtungen
eines zweiten Phasenschiebers Ph2, eines zweiten D-Flipflops D2 und eines RS-Flipflops
RS bewirken das Verhalten eines Schmitt-Triggers. Der zweite Phasenschieber Ph2
verzögert das Vorzeichensignal des Stroms um eine kleine Hysteresephase ϕ2. Das
entstehende Signal wird auf die zweite Kippstufe D2 geführt, deren Funktion identisch
zur ersten Kippstufe D1 ist. Das zustandsgesteuerte Kippglied RS bewirkt, daß nur
Zustände, welche sich außerhalb des durch einen zweiten Phasenschieber Ph2 festgeleg
ten Hysteresebereichs befinden, eine Änderung des Schaltsignals S hervorrufen.
An Stelle des Gatters UG kann ohne eine Änderung der Funktion und der Anordnung
der Schaltung nach den Fig. 5 und 6 entweder ein NAND-Gatter oder ein ODER-
Gatter oder ein NOR-Gatter eingesetzt werden.
Bei Verwendung entweder eines Exklusiv-ODER-Gatters beziehungsweise Antivalenz-
Gatters oder eines Äquivalenz-Gatters an Stelle des Gatters UG in den Fig. 5 und
6 entsteht eine Impulsfolge F mit der doppelten Frequenz 2f beziehungsweise mit der
halben Periodendauer T/2 = 1/2f des Meßspulen-Wechselstromes I wobei in diesem
Fall die Ausgänge der beiden Komparatoren K1 und K2 direkt mit den beiden Eingän
gen dieser Gatter verbunden sind.
Ohne eine Änderung der Funktionen können in den Schaltungen nach den Fig. 5
bis 8 die beiden Ausgänge der beiden Komparatoren K1 und K2 vertauscht werden.
Ebenso kann der erste Phasenschieber Ph1 auch zwischen dem Referenz-Wechsel
stromwiderstand Z ref und dem Eingang des zweiten Komparators K2 eingefügt werden,
ohne daß sich das grundsätzliche Verhalten der Schaltungen nach den Fig. 5 bis 8
ändert.
Weiterhin können in Fig. 8 der Ausgang des zweiten Komparators K2 direkt mit den
D-Ein-gängen der beiden Flipflops D1 und D2 und gleichzeitig der Ausgang des ersten
Komparators K1 mit dem Takteingang des zweiten D-Flipflops D2 und der Ausgang des
zweiten Phasenschiebers Ph2 mit dem Takteingang des ersten D-Flipflops D1 verbunden
werden, ohne daß sich an dem grundsätzlichen Verhalten der Schaltung etwas ändert.
Die in den Schaltungen nach den Fig. 7 und 8 angegebenen Speicherglieder bezie
hungsweise Flipflops stellen nur ein erfindungsgemäßes Ausführungsbeispiel dar. Das
D-Flipflop ist beispielsweise ein getaktetes RS-Flipflop, bei dem das Eingangssignal
direkt auf den Setz-Eingang und das invertierte Eingangssignal auf den Rücksetz-
Eingang geführt wird. Alternativ ist der Einsatz von transparenten oder zustandsgesteu
erten D-Flipflops möglich. Es können auch andere Ausführungen digitaler Flipflops,
Kippstufen beziehungsweise Speicherglieder verwendet werden, wenn die oben darge
stellten Funktionen der erfindungsgemäßen Schaltungen erreicht werden.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Näherungsschalters ist die
Drehzahlmessung von hochtourigen Wellen und Scheiben als Drehzahlaufnehmer.
Hierzu wird die Bewegung einer auf einer umlaufenden Welle angebrachten Nocke
oder dort angebrachten Schlitz von dem feststehenden Drehzahlaufnehmer abgetastet.
Claims (29)
1. Induktiver Näherungssensor zum Messen des Abstandes eines elektrisch leiten
den beziehungsweise permeablen Meßobjektes als Steuerfahne, wobei eine
Meßspule des Näherungssensors ein elektromagnetisches Hochfrequenzfeld
erzeugt, indem die Meßspule mit einem Meßspulen-Wechselstrom I oder mit
einer Meßspulen-Wechselspannung U der Frequenz f gespeist wird, und wobei
dieses Feld durch das Meßobjekt beeinflußt wird, so daß die Impedanz Z der
Meßspule verändert wird und so daß diese Änderung der Meßspulen-Impedanz
Z als Maß für den Abstand der Steuerfahne dient und mit elektronischen
Mitteln gemessen wird, dadurch gekennzeichnet,
- 1. - daß elektronische Mittel vorhanden sind, um eine Pulsfolge zu erzeugen, deren Frequenz f gleich der Frequenz oder der doppelten Frequenz des Meßspulen- Wechselstromes I oder der Meßspulen-Wechselspannung U ist und deren Puls breite TUI proportional der Phasenverschiebung ϕUI ist, die zwischen der Meß spulen-Wechselspannung U und dem Meßspulen-Wechselstrom I unmittelbar während jeder Halbperiode oder einem Vielfachen jeder Halbperiode des Stromes und der Spannung gemessen wird,
- 2. - daß ein Strom/Spannungs-Wandler den Meßspulen-Wechselstrom I in eine zu dem Meßspulen-Wechselstrom I proportionale Referenz-Wechselspannung U I umformt und
- 3. - daß die Pulsbreite TUI durch Vergleich der Meßspulen-Wechselspannung U und der Referenz-Wechselspanung U I mit Vergleichsgleichspannungen UV,U und UV,I erzeugt wird, indem der zeitliche Beginn der Pulsbreite TUI bei Über schreiten beziehungsweise Unterschreiten der Wechselspannung U oder U I gegenüber der Vergleichsgleichspannung UV,U oder UV,I und das zeitliche Ende bei Unterschreiten beziehungsweise Überschreiten der Wechselspannung U I oder U gegenüber der Vergleichsgleichspannung UV,I oder UV,U festgelegt werden.
2. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
- 1. - daß die Meßspulen-Wechselspannung U an der Sensorspule des Näherungs sensors an der Meßspulen-Impedanz Z vom Meßspulen-Wechselstrom I als Spannungsabfall erzeugt wird,
- 2. - daß die Referenz-Wechselspannung U I an einem Referenz-Wechselstromwider stand mit der Impedanz Z ref vom Meßspulen-Wechselstrom I als Spannungs abfall erzeugt wird,
- 3. - daß ein erster analoger Komparator (K1) bei Überschreiten oder Unterschrei ten der Meßspulen-Wechselspannung U gegenüber der Vergleichsgleichspannung UV,U einer ersten Gleichspannungsquelle einen Signalwechsel seines Ausgangs signals von "Logisch-Null" nach "Logisch-Eins" oder umgekehrt erzeugt,
- 4. - daß ein zweiter analoger Komparator (K2) bei Überschreiten oder Unterschrei ten der Referenz-Wechselspannung U I, gegenüber der Vergleichsgleichspannung UV,I einer zweiten Gleichspannungsquelle einen Signalwechsel seines Ausgangs signals von "Logisch-Null" nach "Logisch-Eins" oder umgekehrt erzeugt und
- 5. - daß das Ausgangssignal des ersten Komparators (K1) und das invertierte Aus gangssignal des zweiten Komparators (K2) oder das invertierte Ausgangssignal des ersten Komparators (K1) und das nichtinvertierte Ausgangssignal des zweiten Komparators (K1) mit einem Gatter (UG) eine Pulsfolge F mit der Pulsbreite TUI ist, wobei die Pulsbreite direkt proportional der Phasenverschiebung ϕUI zwischen dem Meßspulen-Wechselstrom I und der Meßspulen-Wechselspannung U ist.
3. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein UND-Gatter ist, so daß eine Pulsfolge F mit der einfachen
Frequenz f = 1/T des Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
4. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein NAND-Gatter ist, so daß eine Pulsfolge F mit der einfachen
Frequenz f = 1/T des Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
5. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein ODER-Gatter ist, so daß eine Pulsfolge F mit der einfachen
Frequenz f = 1/T des Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
6. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein NOR-Gatter ist, so daß eine Pulsfolge F mit der einfachen
Frequenz f = 1/T des Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
7. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein Exklusiv-ODER-Gatter beziehungsweise Antivalenz-Gatter ist,
indem die Ausgänge der beiden Komparatoren (K1) und (K2) direkt mit den
beiden Eingängen des Gatters (UG) verbunden werden, so daß eine Pulsfolge
F mit der doppelten Frequenz 2f des Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
8. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Gatter (UG) ein Äquivalenz-Gatter ist, indem die Ausgänge der beiden Kom
paratoren (K1) und (K2) direkt mit den beiden Eingängen des Gatters (UG) ver
bunden werden, so daß eine Pulsfolge F mit der doppelten Frequenz 2f des
Meßspulen-Wechselstromes I entsteht.
9. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref ein ohmscher Wider
stand ist.
10. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref ein verlustarmer
Kondensator mit der Kapazität C ref ist, so daß die Phasenverschiebung ϕUI um
die zusätzliche Phasenverschiebung ϕ1 von ungefähr 90° (Grad) reduziert wird.
11. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref eine verlustarme Spule
mit der Induktivität Lref ist, so daß die Phasenverschiebung ϕUI um die zusätz
liche Phasenverschiebung ϕI von ungefähr 90 Grad vergrößert wird.
12. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref aus einer Kombination
eines ohmschen Widerstandes, eines verlustarmen Kondensators beziehungsweise
einer verlustarmen Spule besteht, so daß die Phasenverschiebung ϕUI um die
zusätzliche Phasenverschiebung ϕI zwischen dem Meßspulen-Wechselstrom I und
der Meßspulen-Wechselspannung U verändert wird.
13. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vergleichsgleichspannung UV,U Null ist, so daß der erste Kom
parator (K1) bei einem Nulldurchgang der Meßspulen-Wechselspannung UI sein
Ausgangssignal wechselt.
14. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Vergleichsgleichspannung UV,I Null ist, so daß der zweite
Komparator (K2) bei einem Nulldurchgang der Referenz-Wechselspannung U I
sein Ausgangssignal wechselt.
15. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß aus der Meßspule mit der Meßspulen-Impedanz Z und aus dem
Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref ein schwingungsfähiger Resonanz-
Schwingkreis gebildet wird, indem die Reihenschaltung aus der Meßspulen-
Impedanz Z und dem Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref durch einen
parallelgeschalteten Wechselstromwiderstand Z p ergänzt wird.
16. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 15 und einem der Ansprüche 9 bis
11, dadurch gekennzeichnet, daß der parallelgeschaltete Wechselstromwiderstand
Z p ein Kondensator mit der Kapazität C ist.
17. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß aus der Meßspule mit der Meßspulen-Impedanz Z und aus dem
Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref ein schwingungsfähiger Resonanz-
Schwingkreis gebildet wird, indem die Reihenschaltung aus der Meßspulen-
Impedanz Z und dem Referenz-Wechselstromwiderstand Z ref durch einen in
Reihe geschalteten Wechselstromwiderstand Z r ergänzt wird.
18. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 17 und einem der Ansprüche 9 bis
11, dadurch gekennzeichnet, daß der in Reihe geschaltete Wechselstromwider
stand Z r ein Kondensator mit der Kapazität C ist.
19. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 15 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß der Resonanzschwingkreis und ein elektronischer Verstärker
die Bauelemente eines schwingungsfähigen Oszillator bilden, indem der Reso
nanzschwingkreis die Rückkopplung des Oszillators ist und damit die Resonanz
frequenz f des Oszillators festlegt.
20. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der
Oszillator ein sinusförmiges Ausgangssignal hat.
21. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet,
- 1. - daß die Meßspule aus zwei magnetisch gekoppelten Wicklungen besteht, wobei die erste Wicklung mit den Anschlüssen A und B, mit der Windungszahl N1 und mit der Induktivität L1 mittels des Meßspulen-Wechselstromes I ein elektromag netisches Hochfrequenzfeld erzeugt, und
- 2. - daß die in der ersten Wicklung induzierte Meßspulen-Primär-Wechselspannung U 1, die der Spannungsabfall an der inneren Parallelschaltung von Induktivität L1 und Feldverlustwiderstand RF infolge des Meßspulen-Wechselstromes I ist, mittels der zweiten Wicklung mit den Anschlüssen A' und B', mit der Win dungszahl N2 und mit der Induktivität L2 als induzierte Meßspulen-Sekundär- Wechselspannung U 2 gemessen wird, so daß der Wicklungswiderstand R1 der ersten Wicklung nicht in die Messung der Meßspulen-Sekundär-Wechselspan nung U 2 eingeht.
22. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß die
induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2 an der zweiten Wicklung
hochohmig gemessen wird, d. h. der Meßstrom I 2 sehr klein und damit nahezu
Null ist, so daß die induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2 nahezu
unabhängig ist vom Wicklungswiderstand R2 der zweiten Wicklung.
23. Induktiver Näherungssensor nach Ansprach 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Wicklungen der Meßspule bifilar gewickelt sind, so daß die
Windungszahl N1 gleich der Windungszahl N2 ist, die beiden Wicklungen die
selbe Induktivität L1 gleich L2 besitzen und damit die induzierte Meßspulen-
Sekundär-Wechselspannung U 2 an der zweiten Wicklung nahezu gleich groß wie
die induzierte induzierte Meßspulen-Primär-Wechselspannung U 1 der ersten
Wicklung ist.
24. Induktiver Näherungssensor nach Anspruch 22 oder 23, dadurch
gekennzeichnet, daß der Meßspulen-Wechselstrom I als Spannungsabfall U i am
Wicklungswiderstand R1 der ersten Wicklung gemessen wird, indem die Span
nung U i zwischen den Anschlüssen der beiden Wicklungen mit gleicher Span
nungspolarität gemessen wird und die beiden anderen Anschlüsse der beiden
Wicklungen auf gleichem Spannungspotential liegen.
25. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspulen-Wechselspannung U, die von der Meßspule zum
Eingang des ersten Komparators (K1) geführt wird, mittels eines ersten Phasen
schiebers (Ph1) um eine Referenzphase ϕ1 verschoben wird.
26. Induktiver Näherungssensor nach einem der Ansprüche 21 bis 24, dadurch
gekennzeichnet, daß die induzierte Meßspulen-Sekundär-Wechselspannung U 2
beziehungsweise U 2', die von der zweiten Wicklung mit den Anschlüssen A' und
B' zum Eingang des ersten Komparators (K1) geführt wird, mittels eines Pha
senschiebers (Ph1) um eine Referenzphase ϕ1 verschoben wird.
27. Induktiver Näherungsschalter beziehungsweise Näherungsinitiator nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet,
- 1. - daß der Ausgang des ersten Komparators (K1) auf den Takteingang eines flankengesteuerten D-Speichergliedes beziehungsweise ersten D-Flipflops (D1) geführt wird,
- 2. - daß der Ausgang des zweiten Komparator (K2) auf den Zustandseingang beziehungsweise D-Eingang des ersten D-Speichergliedes (D1) geführt wird, so daß das D-Speicherglied die Funktion eines digitalen Phasenkomparators hat und der Ausgang des D-Speichergliedes das Schaltsignal S führt, und
- 3. - daß der Schaltpunkt beziehungsweise die Änderung des Zustandes des Schalt signales S mittels der Referenzphase ϕ1 des ersten Phasenschiebers (Ph1) oder mittels der Phase des Referenz-Wechselstromwiderstandes Z ref einstellbar ist.
28. Induktiver Näherungsschalter beziehungsweise Näherungsinitiator mit Schalt
hysterese nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet,
- 1. - daß entweder der Rücksetz-Eingang oder der Setz-Eingang eines zustandsge steuerten RS-Kippgliedes beziehungsweise RS-Flipflops (RS) mit dem Ausgang des ersten D-Flipflops (D1) verbunden ist,
- 2. - daß entweder der Setz-Eingang oder der Rücksetz-Eingang des zustandsge steuerten RS-Flipflops (RS) mit dem Ausgang eines zweiten flankengesteuerten D-Speichergliedes beziehungsweise D-Flipflops (D2) verbunden ist,
- 3. - daß die beiden Takteingänge der beiden D-Flipflops (D1) und (D2) mit dem selben Ausgang des ersten Komparators (K1) verbunden sind,
- 4. - daß der Zustandseingang beziehungsweise D-Eingang des ersten D-Flipflops (D1) direkt mit dem Ausgang des zweiten Komparators (K2) verbunden ist und
- 5. - daß der Zustandseingang beziehungsweise D-Eingang des zweiten D-Flipflops (D2) über einen zweiten Phasenschieber (Ph2) mit dem Ausgang des zweiten Komparators (K2) verbunden ist, wobei das Eingangssignal des D-Eingangs des zweiten D-Flipflops (D2) um die Hysteresephase ϕ2 verschoben wird, so daß sich für das Ausgangssignal beziehungsweise das Schaltsignals S des RS-Flipflops (RS) das Verhalten eines Schmitt-Triggers ergibt d. h. das Ausgangssignal S ändert sich nur dann, wenn die Änderung der Phasenverschiebung ϕUI zwischen den beiden Ausgangssignalen der Komparatoren (K1 und K2) größer als die Hysteresephase ϕ2 wird.
29. Induktiver Näherungsshalter nach einem der Ansprüche 1 bis 28, dadurch
gekennzeichnet, daß der induktive Näherungssensor beziehungsweise Näherungs
schalter als Drehzahlmeßgerät eingesetzt wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19538575A DE19538575C2 (de) | 1995-10-17 | 1995-10-17 | Induktiver Näherungssensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19538575A DE19538575C2 (de) | 1995-10-17 | 1995-10-17 | Induktiver Näherungssensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19538575A1 DE19538575A1 (de) | 1997-06-12 |
DE19538575C2 true DE19538575C2 (de) | 1998-06-18 |
Family
ID=7775035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19538575A Expired - Fee Related DE19538575C2 (de) | 1995-10-17 | 1995-10-17 | Induktiver Näherungssensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19538575C2 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10332761A1 (de) * | 2003-04-30 | 2004-11-25 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Bewegungsparametern einer leitenden, vorzugsweise profilierten Oberfläche |
DE102004020978A1 (de) * | 2004-04-22 | 2005-11-17 | Balluff Gmbh | Induktiver Näherungssensor und Verfahren zur Signalgewinnung bei einem induktiven Näherungssensor |
DE10217535B4 (de) * | 2002-04-16 | 2006-06-08 | Balluff Gmbh | Sensorvorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke einer dünnen Schicht sowie Verwendung eines induktiven Näherungssensors |
DE202011001009U1 (de) | 2011-04-29 | 2012-07-31 | Mel Mikroelektronik Gmbh | Sensorsystem mit induktivem Näherungsschalter |
DE102017128472A1 (de) * | 2017-11-30 | 2019-06-06 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters |
DE102017128471A1 (de) * | 2017-11-30 | 2019-06-06 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7164349B2 (en) * | 2003-11-07 | 2007-01-16 | Nippon Soken, Inc. | Approaching object detection apparatus |
GB2415046A (en) * | 2004-06-08 | 2005-12-14 | Sondex Ltd | A variable differential transformer in which the coil voltage is measured at the zero current point |
DE102006032226B4 (de) | 2006-07-07 | 2009-12-10 | Pilz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur sicheren Abstandsüberwachung |
DE102012008699B4 (de) * | 2012-04-28 | 2014-04-03 | Wolfgang Kühnel | Verfahren zur Vergrößerung der Meßreichweite einer Vorrichtung zur berührungslosen Messung eines Abstands |
JP7001386B2 (ja) * | 2017-08-07 | 2022-01-19 | ナブテスコ株式会社 | 速度検出装置及び速度検出方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3513403A1 (de) * | 1985-04-15 | 1986-10-30 | Wolf-Jürgen Prof. Dr. 6701 Fußgönheim Becker | Verfahren zur reduzierung des temperaturverhaltens eines schwingkreises und nach diesem verfahren kompensierter oszillator |
DE3814131A1 (de) * | 1988-04-27 | 1989-11-09 | Becker Wolf Juergen Prof Dipl | Verfahren zum messen einer verlustbehafteten spule und nach diesem verfahren aufgebauter induktiver abstandssensor |
DE9412765U1 (de) * | 1994-08-08 | 1994-10-13 | Becker, Wolf-Jürgen, Univ.-Prof. Dr.rer.nat., 34119 Kassel | Induktiver Näherungssensor zur materialunabhängigen Abstandsmessung |
DE4328097A1 (de) * | 1993-08-20 | 1995-02-23 | Becker Wolf Juergen Prof Dipl | Vorrichtung zum Messen der Impedanz von Sensoren mit doppelt rückgekoppelter Phasenregelschleife |
-
1995
- 1995-10-17 DE DE19538575A patent/DE19538575C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3513403A1 (de) * | 1985-04-15 | 1986-10-30 | Wolf-Jürgen Prof. Dr. 6701 Fußgönheim Becker | Verfahren zur reduzierung des temperaturverhaltens eines schwingkreises und nach diesem verfahren kompensierter oszillator |
DE3814131A1 (de) * | 1988-04-27 | 1989-11-09 | Becker Wolf Juergen Prof Dipl | Verfahren zum messen einer verlustbehafteten spule und nach diesem verfahren aufgebauter induktiver abstandssensor |
DE4328097A1 (de) * | 1993-08-20 | 1995-02-23 | Becker Wolf Juergen Prof Dipl | Vorrichtung zum Messen der Impedanz von Sensoren mit doppelt rückgekoppelter Phasenregelschleife |
DE9412765U1 (de) * | 1994-08-08 | 1994-10-13 | Becker, Wolf-Jürgen, Univ.-Prof. Dr.rer.nat., 34119 Kassel | Induktiver Näherungssensor zur materialunabhängigen Abstandsmessung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
SCHRÜFER, Elmar: Elektrische Meßtechnik: Messung elektrischer und nichtelektrischer Größen. 5.Aufl., München (u.a.): Hanser, S.330 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10217535B4 (de) * | 2002-04-16 | 2006-06-08 | Balluff Gmbh | Sensorvorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke einer dünnen Schicht sowie Verwendung eines induktiven Näherungssensors |
DE10332761A1 (de) * | 2003-04-30 | 2004-11-25 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Bewegungsparametern einer leitenden, vorzugsweise profilierten Oberfläche |
DE102004020978A1 (de) * | 2004-04-22 | 2005-11-17 | Balluff Gmbh | Induktiver Näherungssensor und Verfahren zur Signalgewinnung bei einem induktiven Näherungssensor |
DE102004020978B4 (de) * | 2004-04-22 | 2011-06-16 | Balluff Gmbh | Induktiver Näherungssensor und Verfahren zur Signalgewinnung bei einem induktiven Näherungssensor |
DE202011001009U1 (de) | 2011-04-29 | 2012-07-31 | Mel Mikroelektronik Gmbh | Sensorsystem mit induktivem Näherungsschalter |
DE102017128472A1 (de) * | 2017-11-30 | 2019-06-06 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters |
DE102017128471A1 (de) * | 2017-11-30 | 2019-06-06 | Pepperl + Fuchs Gmbh | Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19538575A1 (de) | 1997-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP3335012B1 (de) | Elektronische steuerungseinheit | |
DE69423867T2 (de) | Gleichstromsensor | |
EP2136217B1 (de) | Stromsensoranordnung zur Messung von Strömen in einem Primärleiter | |
DE3779779T2 (de) | Sensor mit induktivem teiler. | |
EP2666023B1 (de) | Strommessvorrichtung | |
DE19538575C2 (de) | Induktiver Näherungssensor | |
DE68913418T2 (de) | Stromsensor. | |
EP3335013B1 (de) | Vorrichtung zum messen einer messgrösse | |
EP2368094B1 (de) | Schaltungsanordnung und verfahren zum auswerten eines sensors | |
DE2656111B2 (de) | Wirbelstrompriifgerät | |
DE3903278C2 (de) | Induktive Wegaufnehmeranordnung | |
DE3814131C2 (de) | Verfahren zum Messen des vom Abstand einer Steuerfahne abhängigen Anteils der Impedanz einer verlustbehafteten Spule und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens | |
DE102021104752B4 (de) | Stromsensor für die berührungslose strommessung | |
DE3513403A1 (de) | Verfahren zur reduzierung des temperaturverhaltens eines schwingkreises und nach diesem verfahren kompensierter oszillator | |
DE19817722C2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Auswertung der Admittanz einer variablen Messkapazität | |
EP0370174B1 (de) | Induktiver Umdrehungssensor für Flügelrad-Durchflussmesser | |
EP3893006A1 (de) | Elektrische schaltungsanordnung und verfahren zur galvanisch getrennten, allstromsensitiven differenzstrom-messung mit hoher auflösung | |
DE102017128472A1 (de) | Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters | |
DE3901678C2 (de) | ||
DE29516451U1 (de) | Induktiver Näherungssensor mit hoher Schaltgeschwindigkeit | |
DE19611810A1 (de) | Berührungslos arbeitender Näherungsschalter | |
DE4128989C2 (de) | Stromsensor | |
DE3039679C2 (de) | Meßwandler zum potentialfreien Messen eines Stromes | |
DE19844726B4 (de) | Stromsensor nach dem Kompensationsprinzip | |
DE3927833C2 (de) | Meßschaltung und Anwendung derselben, insbesondere mit induktiven Weggebern |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8122 | Nonbinding interest in granting licences declared | ||
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |