DE1942429C - Spektroskopische Meßeinrichtung zur Auflosung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektralhnien - Google Patents

Spektroskopische Meßeinrichtung zur Auflosung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektralhnien

Info

Publication number
DE1942429C
DE1942429C DE1942429C DE 1942429 C DE1942429 C DE 1942429C DE 1942429 C DE1942429 C DE 1942429C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring device
light
time
delay
resolving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Higuchi Itami Hyogo Takaichi (Japan)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Publication date

Links

Description

ι 2
Die Erfindung bezieht sich auf eine spektroskopie signale der in Flg. 1 dargbsteljlton Einrichtung Meßeinrichtung zur Auflösung der Feinstruktur von entsprechend F i g. 2 dargestellten übergängen,
jeweils zwei Spektrallinien. Das gegenüber bekannten Spektroskopen grumdver-
Spektroskope bekannter Bauart arbeiten teilweiso schiedene Prinzip der Erfindung beruht auf den ijtamit Beugungsgittern, Prismen oder Interferenzen mit 5 tistischen Eigenschaften eines Photonenstrahls, der
einer Mehrzahl von parallelen Lichtstrahlen, die von einem Lichtstrahl entspricht. Es sei angenommen, daß
einer einzigen Lichtquelle mit Hilfe einer Linse erzeugt für die Feststellung von Photonen und Umwandlung
werden. Diese obengenannten bekannten Arten von derselben in elektrische Impulse ein Paar von idealen
Spektroskopen weisen eine Auflösung auf, die unter Photonendetektoren in den Abständen rx und r„ von
. anderem von der Genauigkeit abhttngt, mit welcher io einer Lichtquelle angeordnet sind. Entsprechend der
diese Spektroskope hergestellt werden können, Wenn Glanberschen Theorie, die auf S. 63 von »Quantum
demzufolge Spektroskope eine hohe Auflösung auf- Optics and Electronics«, herausgegeben von C.
weisen sollen, so müssen sie mit einer üußerst hohen D e w i 11 (Gorden and Breach Science Publisher,
Genauigkeit hergestellt werden, so daß der Zeit- und New York, N. Y., 1965) beschrieben ist, kann die
Arbeitsaufwand zu deren Herstellung äußerst auf- ij Wahrscheinlichkeit P(r»Iy\ ra, Z8), daß zu einem
wendig werden. Zeitpunkt Z1 ein Photon den im Abstand T1 angeordne-
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine neue ten Detektor und gleichzeitig zu einem Zeitpunkt Z2
Anordnung zur Auflösung von Hypeifeinstrukturen ein Photon den im Abstand ra angeordneten Detektor
von zwei Spektrallinien zu schaffen, wobei die bisher erreicht, durch die folgende Gleichung ausgedrückt
üblichen optischen Dispersionsmittel, wie Prismen ao werden:
oder Gitter, nicht benötigt werden.
Erfindungsgeinäß wird dies dadurch erreicht, daß P(T1, Z1; ra, Z2)
der von einer Lichtquelle ausgesandte Lichtstrahl über _ <//£-(r (/) £- (ra, za)£^(ra, l3)EHri> h)l' > .
einen Lichtteiler an zwei getrennte Photonendetektoren " '
geleitet ist und daß die Ausgangssignale der Photonen- as CO
detektoren über Impulsverstärker einem UND-Kreis wobei
zugeführt sind, welcher beim gleichzeitigen Eintreffen /j- (,·, ή der negative Frequenzteil des Operators des
von zwei Impulsen innerhalb eines vorgegebenen elektrischen Feldes,
Zeitintervalls ein Ausgangssignal an einen Zähler £i(M) der positjve Frequenzteil dieses Operators
a ν -a c· · u. u 3o und /'"> der Anfangszustand des Strahlungs-
Vorzugsweise s.nd Einrichtungen vorgesehen, um fdd ' jst bevor die e Photonen den Detektor
die Zeitverzögerung zwischen den Ausgangsimpulsen erreichen sind
beider Verstärker zu verändern, um die Zählgeschwin- '
digkeit in Abhängigkeit der Zeitverzögerung zwischen Der Ausdruck auf der rechten Seite von Gleichung
den Aiisgangsimpulsen beider Verstärker aufzu- 35 (1) entspricht einem Mittelwert über »//>«.
zeichnen. Die Zeitverzögerungseinrichtungen sind Es sei nunmehr angenommen, daß — wie dies aus
vorzugsweise elektrische Verzögerungskreise, die mit der die Energieniveaus und unabhängigen Übergänge
den Verstärkern verbunden sind. Falls dies gewünscht der Elektronen einer Lichtquelle unter spektrosko-
sein sollte, können die Verzögerungskreise jedoch auch pischer Beobachtung darstellenden F i g. 2 ersichtlich
Einrichtungen zur Bewegung von wenigstens einem 40 ist — zwei unabhängige Übergänge verschiedener Art
der Detektoren in Richtung des Lichtteilers sein. von den Energieniveaus a' und b' stattgefunden haben,
Weitere Einzelheiten der Erfindung sollen im fol- wie dies durch die Pfeile in F i g. 2 angedeutet ist. genden an Hand eines Ausführungsbeispiels näher Demzufolge werden zwei Photonen ausgesandt. Es erläutert und beschrieben werden, wobei auf die sei ferner angenommen, daß Ea und Eb den Energie-Zeichnung Bezug genommen ist. Es zeigt 45 differenzen zwischen den Energiehöhen α und a! bzw.
F i g. 1 ein Blockdiagramm einer spektroskopischen b und b' entsprechen, wobei im Hinblick auf die
Meßeinrichtung gemäß der Erfindung, Energieniveaus α und b die entsprechenden Halbwerts-
F i g. 2 ein Diagramm zur Darstellung der Energie- breiten von y0 und y& in Winkelfrequenzen angegeben
niveaus für Atome oder Moleküle einer Lichtquelle, sind. Dann kann die in Gleichung (1) angegebene
wobei dürr' die Pfeile Übergänge zwischen zwei 50 Wahrscheinlichkeit P(rlt Z1; ra, Z2) berechnet werden,
Energieniveaus dargestellt sind, und wobei eine Annäherung durch folgende Gleichung
F i g. 3 eine Kurvendarstellung eines Ausgangs- gegeben ist:
(A BY , \ A . . n B . .
P(r\tii',ir tt,u)=\ -\ 1 + —-exp {— va Z2- Z1 } exp{ — ViIz2-
\Ya Yb \Ya Yb
+ Pi(Ya p
wobei A und S durch Matrixelemente für die Über- der Wahrscheinlichkeit P(rlt Z1; '·■. Z8) und die Abszisse gänge festgelegte Konstanten und fi die Plancksche 65 der Zeitverzögerung Z2-Z1 entspricht. Wie dies' in Konstante A dividiert durch 2 π ist. F i g. 3 dargestellt ist, ergibt sich eine gedämpfte
Die Gleichung (2) beschreibt eine Wellenform, wie Schwingung mit einem Amplitudenmaximum bei sie in F i g. 3 angezeigt ist, wobei die Ordinatenachse Ιζ—Ιχ — O, die graduell mit zunehmendem t%—ti
sowohl in positiver wie auch In negativer Richtung abnimmt. Von der Cosinusfunktion
cos
E\>
(U-h)
ergibt sich,
Periode
uufweist.
Eb\
Durch Substitution /1Α = |Αα —Aoi ergibt sich:
T ^ λα(λα Ι Δλ)_ = λ\ Λ- λαΑλ
c A A c A A
Wenn Αλ 4 λα ist bzw. Xb ungefähr gleich groß wie Aa ist, dann ergibt sich:
νΑλ'
wobei angenommen sei, daß A0 und Ab sich A annähert.
An Hand von Gleichung (2) ergibt sich, daß die Einhüllende der in F i g. 3 dargestellten Wellenform von den Halbwertbreiten γα und y& abhängt. Die Abhängigkeit ist für jede Art von Übergang verschieden. Beispielsweise ergeben die Kaskadenübergänge mit einem gemeinsamen oberen bzw. unteren Energieniveau eine etwas verschiedene Wellenform gegenüber der in F i g. 3 dargestellten Wellenform.
Demzufolge ergibt sich, daß für eine beliebige Wellenform — beispielsweise der in F i g. 3 dargestellten Wellenform — die Periode der oszillierenden Teile gemessen werden kann, während die Ausdrücke Ea-Eb und γα und y& geschätzt werden können, wobei Rechenmaschinen bekannter Bauweise eingesetzt werden können. Wenn es bereits bekannt ist, daß die Wellenlänge A„ angenähert der Wellenlänge Aj, und gleich A ist — wie sich dies auf Grund einer Messung mit einem gewöhnlichen Spektroskop ergibt — kann die Differenz zwischen beiden Wellenlängen an Hand von Gleichung (5) berechnet werden. Demzufolge kann die Art des Übergangs und die Feinstruktur der Energieniveaus bestimmt werden.
Im folgenden soll auf F i g. 1 Bezug genommen werden, in welcher eine spektroskopische Meßeinrichtung gemäß der Erfindung dargestellt ist. Diese Einrichtung besteht aus einer zu messenden Lichtquelle, einem die Strahlen der Lichtquelle 10 empfangenden, einem ein vorgegebenes spektrales Band hindurchlassenden optischen Filter 12 und einem beispielsweise als Halbspiegel oder aus einer halbversilberten Platte bestehenden Lichttoüer 14. Dieser Lichtteiler 14 ist im wesentlichen unter 45° gegenüber der Achse des Lichtstrahles angeordnet, so daß eine Hälfte des Lichtstrahles hindurchgelassen wird, während die andere Hälfte im wesentlichen senkrecht zu dieser Achse reflektiert wird.
Beide Teile der durch den Lichtteiler 14 hindurchgelassenen bzw. reflektierten Lichtstrahlen fallen auf Es sei angenommen, daß ω«, να und A» eine Winkelfrequenz, eine Frequenz und eine Wellenlänge ent-' sprechend der Energiedifferenz Ea angeben. Bs ergeben sich somitGleichungender Form Ea ^ ftωββ ~2πνα
-f » wobei c der lichtgeschwindigkeit
daß die gedämpfte Schwingung eine und Ve
entspricht, Demzufolge ist En gleich ~jj'-
In ß'eiclior
Weise ist Eb gleich -«J J-e , wobei A6 einer der Energie-
differenz £o entsprechenden Wellenlänge entspricht, Die Periode T kann demzufolge wie folgt berechnet werden:
c|Aeh\
so ein Paar von Photonendetektoren 16, 17, welche beim Auffallen jedes Photons einen elektrischen Impuls erzeugen. Diese Detektoren 16, 17 sind vorzugsweise photoelektronische Vielfacher bekannter Bauart. Die Ausgangsimpulse der Detektoren 16, 17 werden durch
as Impulsverstärker IS, 19 verstärkt und veränderlichen Verzögerungskreisen 20, 21 zugeführt. Diese Verzögerungskreise 20,21 können den Impulsen innerhalb vorgegebener Grenzen eine beliebige Verzögerung in bezug auf den anderen Verzögerungskreis erteilen.
Die zeitverzögerten Impulse der Verzögerungskreise 20, 21 werden den beiden Eingängen eines UND-Kreises 22 zugeführt. Nur wenn die Impulse der Verzögerungskreise 20, 21 innerhalb eines kurzen Zeitintervalls — in dem folgenden Auflösezeit ge-
nannt — an den Eingängen des UND-Kreises 22 auftreten, wird am Ausgang dieses UND-Kreises 22 ein Impuls abgegeben. Wenn beispielsweise die Differenz zwischen "inem Zeitpunkt /„ zu welchem ein Photon auf den Detektor 16 fällt, und zu einem Zeitpunkt /.j, zu welchem ein Photon auf den Detektor 17 fällt, gleich der Größe τ --- T1-J2 ist, dann ist das UND-Gatter 22 so ausgelegt, daß es einen Ausgangsimpuls abgibt. Die Impulse des UND-Gatters 22 werden einem Zähler 24 zugeführt, in welchem dieselben gezählt werden.
Für den Betrieb der Meßeinrichtung können beliebige Steuereinrichtungen verwendet werden, um die Zeitdifferenz τ zwischen den Zeitpunkten Z1 und /2 diskret — d. h. von einem bestimmten Wert auf den nächsten diskreten Wert — oder kontinuierlich zu verändern, um eine veränderliche Ablesung an dem Zähler 24 zu ermöglichen. Die digitale Zählgeschwindigkeit pro Zeiteinheit wird einem geeigneten, nicht dargestellte.-! Digital-Analog-K onverter zuge-
führt, so daß sich ein entsprechender Analogwert ergibt. Der Analogwert wird dann einem X- V-Schreiber zugeführt, der die Verzögerungszeit entlang der X- Achse gegen die Zählgeschwindigkeit entlang der K-Achse darstellt. Der Konverter und Schreiber können
So bekannter Konstruktion sein und brauchen deshalb nicht weiter beschrieben zu werden.
Bei einem eine geeignete Auflösezeit aufweisenden UND-Gatter 22 ergeben sich Kurven, die der in F i g. 3 dargestellten Kurve entsprechen. Es ist fest-
gestellt worden, daß zur Beobachtung einer wie in F i g. 3 dargestellten gedämpften Schwingung die Auflösezeit At des UND-Kreises 22 nicht mehr als ein Viertel der Periode T der gedämpften Schwingung
sein muß. Wenn ein Paar von Wellenlängen in der Nähe der Größe λ liegt, dann muß demzufolge der UND-Kreis 22 eine Auslösezeit A1 haben, die folgender Bedingung genügt:
rilTT· (6)
4 cA λ
wie sich dies an Hand von Gleichung (5) ergibt. Aus der obigen Gleichung erhält man:
At-Δλ <
1 7?_
4 c
(7)
Dies bedeutet, daß, je niedriger der Wert von Δ λ ist, desto geringer die durch den Wert Δ t hervorgerufene Begrenzung ist. Wenn beispielsweise Δ λ = ΙΟ*4 A bei einer Wellenlänge von ungefähr 5000 A ist, dann muß Δ t nicht mehr als 2 · ICh8 Sekunden betragen.
Die durch den Schreiber sich ergebenden Kurven werden in der bereits in bezug auf den Zusammenhang mit F i g. 3 beschriebenen Art und Weise verarbeitet, um die Lichtquelle 10 spektroskopisch festzulegen, d. h. die bestimmte Art von Übergängen und die Struktur der Energiehöhen festzulegen.
Die vorliegende Erfindung ist insbesondere für die Feststellung der hyperfeinen Struktur von Spektrallinien geeignet. Sie ist jedoch ebenfalls für Spektralanalysen von ausgesandtem Licht, und zwar nicht nur für die in F i g. 2 dargestellten Übergänge, sondern auch andere Übergänge — einschließlich Kaskadenübergänge mit einem gemeinsamen oberen und unteren Energieniveau — geeignet. Im letzteren Fall ergibt sich eine Kurve der gedämpften Schwingung, die hinsichtlich ihrer Form gegenüber der in F i g. 3 dargestellten etwas verschieden ist, die jedoch in ähnlicher Weise verarbeitet werden kann, wie dies bereits in bezug auf eine bestimmte Art von Übergängen und Struktur der Energieniveaus beschrieben worden ist.
Schließlich sei bemerkt, daß an Stelle einer Verwendung des Verzögerungskreises 20, 21 wenigstens einer der Detektoren 16 oder 17 in Richtung des Lichtteilers 14 bewegt werden kann, wodurch ebenfalls eine zeitliche Differenz zwischen den beiden Sätzen von Impulsen erzeugbar ist.

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Spektroskopische Meßeinrichtung zur Auflösung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektrallinien, dadurch gekennzeichnet, daß der von einer Lichtquelle (10) ausgesandte Lichtstrahl über einen Lichtteiler (14) an zwei getrennte Photonendetektoren (16, 17) geleitet ist und daß die Ausgangssignale der Photonendetektoren (16, 17) über Impulsverstärker (18, 19) einem UND-
ao Kreis (22) zugeführt sind, welcher beim gleichzeitigen Eintreffen von zwei Impulsen innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls ein Ausgangssignal an einen Zähler (24) abgibt.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch »5 gekennzeichnet, daß wenigstens in einem Meßast (14, 16, 20, 22) ein einstellbarer Verzögerungskreis (20) angeordnet ist.
3. Meßeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß in beiden Meßästen an den
3« Ausgängen der Impulsverstärker (18, 19) Verzögerungskreise (20, 21) angeordnet sind.
4. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzielung einer Zeitverzögerung wenigstens ein Photonendetektor (16,17) in bezug auf seinen Abstand zum Lichtteiler (14) einstellbar ist.
Hierzu !BlattZeichnungen

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68925983T2 (de) Optische Vorrichtung zur Messung von Teilchengrössen
DE2731775A1 (de) Interferenzfiltermonochromator
DE2438294B2 (de) Infrarotgasanalysator
DE68911686T2 (de) Vorrichtung und verfahren zur messung der aktivität von radioaktiven mustern, die mehrere radioaktive isotope enthalten, ohne separate bestimmung des löschniveaus.
DE2244160B2 (de) Vorrichtung für die Röntgenanalyse
DE2539184C2 (de) Atomabsorptions-Spektrometer
DE2746763A1 (de) Verfahren und anordnung zur kalibrierung eines gammastrahlungszaehlinstruments
DE2952901C1 (de) Spektralphotometer
DE2944064C2 (de) Anordnung zur Spaltbreitenkalibrierung für einen Monochromator
DE2635171C3 (de) Gerät zur Bestimmung der Konzentration eines Bestandteils einer Gasprobe
DE1805656A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der elektronischen Dichte eines Plasmas
DE2405369C2 (de) Vorrichtung zur Strahlungsanalyse durch Interferenzspektrometrie
DE839724C (de) Spektralphotometer für Messungen im Infrarot-Bereich
DE3106441C2 (de) Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Elementen durch Zeeman-Atomabsorptionsspektrometrie und Zeeman-Atomabsorptionsspektrometer
DE1942429C (de) Spektroskopische Meßeinrichtung zur Auflosung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektralhnien
DE3942375A1 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen erfassung mehrerer wellenlaengenbereiche
DE2060409A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Messung der Depolarisierungsverhaeltnisse von Raman-Banden
DE2036214C3 (de) Infrarotspektrometer
DE2308034A1 (de) Spektrometer
DE1942429B2 (de) Spektroskopische Meßeinrichtung zur Auflösung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektrallinien
DE3542161C2 (de)
DE1254876B (de) Registrierende Messanordnung, die nach einer Nullmethode mit selbsttaetigem Abgleich arbeitet
DE2461224A1 (de) Vorrichtung zum elektrischen nachweis von ionen zur massenspektroskopischen bestimmung der massenwerte und/oder der massenintensitaeten der ionen
DE1262035B (de) Absorptionsphotometer
DE2307391A1 (de) Dickenmessgeraet und verfahren zu seiner eichung