DE1926989A1 - Hochfrequenzleitung - Google Patents
HochfrequenzleitungInfo
- Publication number
- DE1926989A1 DE1926989A1 DE19691926989 DE1926989A DE1926989A1 DE 1926989 A1 DE1926989 A1 DE 1926989A1 DE 19691926989 DE19691926989 DE 19691926989 DE 1926989 A DE1926989 A DE 1926989A DE 1926989 A1 DE1926989 A1 DE 1926989A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor
- frequency line
- line according
- high frequency
- insulating layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/482—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
- H01L23/485—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body consisting of layered constructions comprising conductive layers and insulating layers, e.g. planar contacts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
Description
Heilbronn, den 13. 5. I969
Ma/nae - B 7
"Hochfrequenzleitung"
Die Erfindung betrifft eine als elektrische Zuführung zu
Halbleiterbauelementen geeignete Hochfrequenzleitung und besteht darin, daß zumindest eine Streifenleitung aus
einer Zu- und einer Ableitung auf einer Oberflächenseite
eines wenigstens ein Halbleiterbauelement enthaltenden Halbleiterkörpers angeordnet ist, wobei sich zwischen
der Zu- und Ableitung eine Dielektrikumsschicht befindet.
Im Hochfrequenzgebiet werden Hochfrequenzlex hingen unmittelbar
auf der Halbleiteroberfläche benötigt, tfenn die Leiterstreifen einer hierfür geeigneten Streifenleitung
auf einander gegenüberliegenden Oberflächenseiten des
Halbleiterkörpers aufgebracht sind, müssen die Streifen,
wählt man Halbleiterkörper mit herkömmlichen Abmessungen,
relativ breit ausgebildet werden. Da das hierbei als Dielektrikum dornende Halbleitersubstrat oft wenig isolierend
ist, xst, abgesehen von den hierdurch auftretenden elektrischen Verlusten, der Abgleich derartiger
009 849/0953
Leitungen schwierig. Ferner läßt sich die Verbindung der Leiterstreifen auf der den Halbleiterbauelementen abgewandten
Oberflächenseite des Halbleiterkörpers mit bestimmten
Zonen der Halbleiterbauelemente nicht ohne unerwünschte Stoßstellen realisieren, ganz abgesehen davon,
daß die Verbindung einer Leitung auf der den Bauelementen abgewandten Oberflächenseite mit den elektrischen Bauelementen
im Halbleiterkörper einen großen technischen Aufwand erforderlich macht.
Zur Vermeidung dieser Nachteile wird daher erfindungsgemäß
vorgeschlagen, daß beide Leiterstreifen der Streifenleitung
auf der den Bauelementen zugewandten Oberflächenseite eines Halbleiterkörpers untergebracht werden, wobei
zwischen den Leiterstreifen eine als Dielektrikum dienende
isolierende Schicht angeordnet ist.
Der erfindungsgemäße Aufbau der Hochfrequenzleitung hat
den wesentlichen Vorteil, daß man bei der Wahl des Dielektrikums von der jeweiligen Art und Dotierung des
Halbleiterkörpers unabhängig ist und sehr hochwertige Dielektrika verwendet werden können. Da das Dielektrikum
für die Hochfrequenzleitung nun als sehr dünne Schicht ausgebildet werden kann, ergeben sich bei vorgegebenem
Wellenwiderstand der Leitung äußerst, schmale Leiter-
009849/0953
streifen, die in der Halbleitertechnik jedoch gut realisierbar
sind und nur einen geringen Teil der Halbleiteroberfläche einnehmen. Auf diese Weise lassen sich auf
der Halbleiteroberfläche eine Vielzahl von Streifenleitungen
unterbringen oder, falls die Zahl der erforderlichen Leitungen begrenzt ist, kann die freie Halbleiteroberfläche
beispielsweise für aufgedampfte Dünnschichtwiderstände verwendet werden. Da die Streifenleitung
sich auf der den Halbleiterbauelementen zugewandten Oberflächenseite des Halbleiterkörpers befindet, ist eine
Verbindung der Streifen mit den zugehörigen Halbleiterzonen durch Öffnungen in den auf der Halbleiteroberfläche
befindlichen Isolierschichten ohne Schwierigkeiten möglich,
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der erfindungsgeraässen
Hochfrequenzleitung ist vorgesehen, daß die an die Zuleitungen der Hochfrequenzleitung anzuschließenden
Kontakte der Halbleiterbauelemente mit die Zuleitungen bildenden Leitbahnen verbunden sind, die sich auf eine
die Halbleiteroberfläche bedeckende Isolierschicht erstrecken.
Diese erste Isolierschicht und die Zuleitungen werden mit einer weiteren, als Dielektrikum dienenden
Isolierschicht bedeckt, die ihrerseits zumindest teilweise mit einer als Ableitung dienenden Metallschicht
bedeckt wird, die durch Offnungen in den beiden Iso-
009849/0 953
lierschichten mit der oder den zugeordneten Zonen der
Halbleiterbauelemente elektrisch leitend verbunden ist. Ein derartiger Aufbau der. HF-Leitung eignet sich besonders
für Halbleiterkörper, die aus Silizium oder Germanium bestehen»
Wenn beispielsweise ein Halbleiterkörper aus semiisolierendem Galliumarsenid-Grundmaterial verwendet wird, in den
die Bauelemente enthaltende leitende Halbleitergebiete eingelassen sind, können in einer vorteilhaften Weiterbildung
der erfindungsgemäßen HF-Leitung die Zuleitungen unter Verzicht auf eine erste Isolierschicht unmittelbar
auf der Oberfläche des Halbleiterkörpers verlaufen. Die
Halbleiteroberfläche und die Zuleitungen der Streifenleitungen werden dann mit einer als Dielektrikum dienenden
Isolierschicht bedeckt, die wiederum zumindest teilweise mit einer als Ableitung dienenden Metallschicht
bedeckt ist, die ihrerseits durch Öffnungen in der Dielektrikumsschicht mit der oder den zugeordneten Zonen
der im Halbleiterkörper untergebrachten Halbleiterbauelemente elektrisch leitend verbunden ist.
Als Material für die auf der Halbleiteroberfläche angeordneten
Isolier- bzw. Dielektrikumsschicht eignet sich
beispielsweise Siliziumdioxyd oder Siliziumnitrid.
00984 9/0 9 53
Die Erfindung wird im weiteren anhand der Figuren 1 bis
noch näher erläutert.
Die Figur 1 zeigt, teils in Schnitt teils in einer perspektivischen
Ansicht, einen Halbleiterkörper 1, beispielsweise aus Silizium vom ersten Leitungstyp. In den
Siliziumgrundkörper 1 ist zur Bildung einer Diode eine Zone 2 vom zweiten Leitungstyp eingelassen, in die
wiederum eine Zone 3 vom ersten Leitungstyp eingebracht wird. Die Zonen 2 und 3 werden vorzugsweise mit Hilfe
der bekannten Planartechnik unter Verwendung der gleichfalls bekannten Maskierungs-, Ätz- und Diffusionstechnik
hergestellt. Als Maskierungsschicht dient beispielsweise eine Siliziumdioxydschicht oder Silxziumnitridschicht k»
Eine Oxydschicht kann leicht durch thermische Oxydation oder durch anodische Oxydation hergestellt werden. Nach
dem Abschluß aller Diffusionsprozesse werden in die Oxydschicht 4 über den Halbleiterzonen 2 und 3 Kontaktierungsfenster,
beispielsweise durch Ätzen, eingebracht, in denen die genannten Halbleiterzonen mit Metallkontakten 5 und
8 versehen werden, die beispielsweise aus Gold oder Aluminium bestehen. Der Kontakt 5 an die Halbleiterzone 2
ist mit einer sich auf die Isolierschicht k erstreckenden Leitbahn', die als Zuleitung der Streifenleitung
dient, verbunden· Diese Leitbahn besteht beispielsweise
009849/0953
aus Gold, Aluminium oder Kupfer und wird vorzugsweise mit Hilfe der Aufdampf- und Ätztechnik hergestellt. Die
Breite der Leitbahn richtet sich gemäß bekannter mathematischer Zusammenhänge nach dem zu realisierenden Wellenwiderstand,
dem Material und der Dicke des Dielektrikums.
In einem realisierten Ausführungsbeispiel wurde zur Herstellung
einer Hochfrequenzleitung mit- einem Wellenwiderstand von 5o Ohm ein Dielektrikum aus Siliziumdiosyd
verwendet. Bei einer Dicke der Dielektrikumsschient von
3/Um ergab die Rechnung und das Experiment eine Breite
der Leitbahn 6 von ca. 3,xua. Auch bei anderen Zahlenwerte
erwies es sich als günstig, wenn die Dicke der Dielektrikumsschicht etwa der Breite der Leiterstreifen für die
Hochfrequenzleitung entspricht.
In diesem Zusammenhang sei darauf hingewiesen, daß die in den Figuren gewählten Größenverhältnisse, insbesondere
die der Streifen 6 und der Dielektrikumsschicht, keinen
Hinweis auf die tatsächlichen geometrischen Verhältnisse liefern, spndern allein aus Gründen der optischen Anschaulichkeit
gewählt wurden.
Nach der Herstellung der Zuleitungen 6 wird auf die Zuleitungen und den freien Teil der Oxydschicht k die Di-
009849/0953
elekiriltumsschicht 7 aufgebracht, die hochisolierend ist
und beispielsweise aus SiOn oder Siliziumnitrid bestellt.
In diese Schicht wird über der. die Zone 3 kontaktier enden Metallelektrode 8 eine Öffnung eingebracht, die den Metallkontalct
8 freilegt. Danach wird eine Deckelektrode 9*
beispielsweise aus Gold, Aluminium oder Kupfer auf die Dielektrikumsschicht aufgedampft, chemisch oder galvanisch
abgeschieden, die als Ableitung der HF-Leitung dient. Bei der Herstellung der Deckelektrode 9 wird zugleich die .
elektrische Verbindung zwischen der Deckelektrode und cfem Metal-lkontakt Si an die Halbleiterzone 2 gebildet. Die
Deckelektrode 9 bildet somit zusammen mit dem Leiter stx-eifen 6 eine Hochfrequenzleitung mit vorgegebenem
Wellenwiderstand. .
Die Deckelektrode kann selbstverständlich auch so weit abgetragen werden, daß sie nur unmittelbar übei~ der Leitbahn
6 auf der Dielektrikumsschicht verläuft oder diese nur teilweise überdeckt. Wenn die Deckelektrode jedoch
als Ableitung bzw» als ErdeTSktrode verwendet wird, ist
eine derartige ÄB-ta^agung nicht erforderlich, und in der
Regel hochfrequenzmäßig weniger günstig» Wenn aber auf
der Halbleiteroberfläche mehrere, voneinander unabhängige Hochfrequenzleitungen verlaufen sollen, was
beispielsweise bei der Deschaltung von integrierten
0-0 9849/0953
Schaltungen erforderlich sein kann, so wird die auf der Dielektrikumsschicht befindliche Metallschicht vorzugsweise
strukturiert und zur Bildung mehrerer Leitungen entsprechend den auf der Isolierschicht k verlaufenden
Leitbahnen aufgeteilt; hierbei wird vorzugsweise die
obere Metallschicht breiter als die darunterliegende Leitbahn ausgebildet.
In der Figur 2 ist eine andere vorteilhafte Ausgestaltung der erfindungsgemäßen HF-Leitung dargestellt. Diese Anordnung
ist besonders dann geeignet, wenn der Halbleitergrundkörper
aus einem semiisolierendem Halbleitergrundkörper 1 besteht ο Hierzu eignet sich beispielsweise
semiisolierendes Galliumarsenid» In der Figur 2 ist wiederum der Anschluß einer Diode an eine HF-Leitung,
die auf einer Oberflächenseite des Halbleiterkörpers verläuft,
teils im Schnitt, teils in einer perspektivischen Ansicht dargestellt. In den semiisolierenden Grundkörper
1 ist eine Zone 2 vom bestimmten ersten Leitungstyp eingelassen, die wiederum eine Zone 3 vom zweiten Leitungstyp
umgibt. Der die Zuleitung der HF-Leitung bildende Leiterstreifen 6 verläuft unmittelbar auf der Halbleiteroberfläche.
Auf eine erste Isolierschicht, wie sie noch bei der in Figur 1 dargestellten Anordnung verwendet
wurde, kann verzichtet werden. Der freie Teil der
009849/0953
_ ο —
Halbleiteroberfläche und die Streifenzuleitung 6 wird mit
einer Dielektrikumsschicht 7 bedeckt, die, wie dies auch bei der Anordnung gemäß Figur 1 beschrieben wurde, mit
einer Deckelektrode versehen wird, die mit dem Kontakt 8 an die Halbleiterzone 3 durch eine Öffnung in der Dielektrikumsschicht
7 elektrisch leitend verbunden ist.
In der Figur 3 ist, teils im Schnitt teils in einer perspektivischen
Ansicht, der Anschluß eines Transistors an eine HF-Eingangs- und an eine HF-Ausgangsleitung dargestellt
, wenn die Emitterelektrode des Transistors dem Eingang und dem Ausgang des Transistorvierpols gemeinsam ist.
Ein Halbleiterkörper 1 enthält einen beispielsweise nach der Planartechnik hergestellten Transistor aus einer Kollektorzone
Io, einer Basiszone 11 und einer Emitterzone Die Kollektorzone Io ist beispielsweise, wie man dies besonders
bei integrierten Halbleiterschaltungen findet, allseitig vom Halbleitergrundmaterial umgeben, das einen
der Kollektorzone ertgegengesetsien Leitungstyp aufweist. Die
Kollektorzone Io ist auf der allen Zonen gemeinsamen Oberflächenseite
des Halbleiterkörpers rait einem Metallkontakt 13 versehen, der mit einer sich auf die Isolierschicht k
erstreckenden Leitbahn 16 verbunden ist. Diese Leitbahn 16 dient als Zuleitung der HF-Streifenleitung. In gleicher
Weise ist die Basiszone 11 mit einem ohmschen Basisan-
009849/09
- Io -
schlußkontakt Ik versehen, der mit der auf der Isolierschicht
k verlaufenden Basisleitbahn 17 elektrisch leitend verbunden ist. Die Breite der Basisleitbahn ist,
wie auch die der Kollektorleitbahn, derart gewählt, daß sich einerseits für die Eingangsleitung und andererseits
für die Ausgangsleitung des Transistors der gewünschte Wellenwiderstand ergibt, wenn die Dicke der auf die Leitbahnen
l6 und 17 und auf die Isolierschicht 4 aufgebrachten
Dielektrikumsschicht 7 vorgegeben ist. Auf die Dielektrikumsschicht 7 wird, wie dies auch tei1 den Anordnungen gemäß
Figur 1 und 2 der Fall war, eine Deckelektrode aufgebracht, die nun jedoch durch eine Öffnung in den beiden
Isolierschichten k und 7 mit dem Anschlußkontakt 15 an
die Emitterzone 12 elektrisch leitend verbunden istο Diese
Deckelektrode ist der Eingangs- und der Ausgangsleitung als Ableitung gemeinsam und muß sich daher sowohl
über die Basisleitbahn 17 als auch über die Kollektorleitbahn l6 erstrecken.
In entsprechender Weise können die Anschlußkontakte an integrierte Halbleiterschaltungen mit unmittelbar auf
der Halbleiteroberfläche verlaufenden HF-Leitungen verbunden werden, Die angegebene HF-Leitung eignet sich
daher für Dioden, Transistoren, integrierte Halbleiterschaltungen und andere mittels der Halbleitertechnik"her-
009843/0953
stellbare Bauelemente. Es sei noch darauf hingewiesen,
daß die Leitbahnen auch bei Germanium- und Siliziumhalbleiterkörpern
unmittelbar auf die Halbleiteroberfläche aufgebracht werden können, insbesondere dann, wenn
ein Betrieb der an die Leitbahnen angeschlossenen Bauelemente nur bei hohen Frequenzen vorgesehen ist.
009849/0953
Claims (12)
- Patentansprüche■l) Ilochfrequenzleitung als elektrische Zuführung zu HaIbleiterbauelementen, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest eine Streifenleitung aus einer Zu- und einer Ableitung auf einer Oberflächenseite eines -wenigstens ein Halbleiterbauelement enthaltenden Halbleiterkörpers angeordnet ist, wobei sich zwischen der Zu- und Ableitung eine Dielektrikumsschicht befindet.
- 2) Hochfrequenzleitung nach Anspruch 1, dadurch gekenn~ zeichnet, daß sich die im Halbleiterkörper befindlichen und Bauelemente bildenden Zonen zu der die Streifenleitung tragenden Oberflächenseite des Halbleiterkörpers hin er« strecken und auf dieser Oberflächenseite mit Kontakten versehen sind, die mit den Enden der Streifenleitung in elektrischer Verbindung stehen.
- 3) Hochfrequenzleitung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die an die Zuleitungen der Hochfrequenz? leitung anzuschließenden Kontakte der Halbleiterbauelemente mit Zuleitungen bildenden Leitbahnen verbunden sind, die eich auf eine die Halbleiteroberfläche be^ deckende Isolierschicht erstrecken, daß dieser erste Isolierschicht und die Zuleitungen mit einer Heiteren,0 9 8 4 9/0953- 13 -als Dielektrikumsschicht dienenden Isolierschicht bedeckt sind, und daß diese Dielektrikumsschicht zumindest teilweise mit einer als Ableitung dienenden Metallschicht bedeckt ist, die durch Offnungen in den beiden Isolierschichten mit der oder den zugeordneten Zonen der Halbleiterbauelemente elektrisch leitend verbunden ist.
- 4) Hochfrequenzleitung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die an die Zuleitungen der Hochfrequenzleitung anzuschließenden Kontakte der Halbleiterbauelemente mit Zuleitungen bildenden Leitbahnen verbunden sind, die unter Verzicht auf eine erste Isolierschicht unmittelbar auf der Oberfläche des Halbleiterkörpers verlaufen, daß die Halbleiteroberfläche und die^Zuleitungen mit einer als Dielektrikum dienenden Isolierschicht bedeckt sind, und daß diese Dielektrikumsschicht zumindest teilweise mit einer als Ableitung dienenden Metallschicht bedeckt ist, die durch Öffnungen in der Isolierschicht mit der oder den zugeordneten Zonen der Halbleiterbauelemente elektrisch leitend verbunden ist.
- 5) Hochfrequenzleitung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper aus Silizium oder Germanium besteht.009849/0953
- 6) Hochfrquenzleitung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper aus semiisolierendem Galliumarsenid besteht.
- 7) Hochfrequenzleitung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschichten aus Siliziumdioxyd oder Siliziumnitrid bestehen.
- 8) Hochfrequenzleitung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die a^^f der Dielektri kumsschicht befindliche Metallschicht strukturiert und zur Bildung mehrerer voneinander unabhängiger Leituntren aufgeteilt ist.
- 9) Hochfrequenzleitung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallbeläge der Zu- und Ableitungen aus Gold, Kupfer oder Aluminium bestehen.
- 10) Hochfrequenzleitung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Leitbahnen auf der ersten Isolierschicht bzw. auf der Halbleiteroberfläche der Dicke der Dielektrikumsschicht entspricht.009849/09 53
- 11) Hochfrequenzlextung nach Anspruch lo, dadirch gekennzeichnet, daß die Leitbahnen ca. 3/um breit und die Dielektrikumsschicht ca. 3/um dick ist.
- 12) Hoehfrequenzleitung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ihre Vervrendung für den Anschluß von Dioden, Transistoren und integrierten Schaltungen·,0098 49/0 9 53
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691926989 DE1926989A1 (de) | 1969-05-27 | 1969-05-27 | Hochfrequenzleitung |
GB20938/70A GB1291344A (en) | 1969-05-27 | 1970-04-30 | Semiconductor component |
US00033581A US3715631A (en) | 1969-05-27 | 1970-05-01 | Radio-frequency line |
JP45045135A JPS4838097B1 (de) | 1969-05-27 | 1970-05-26 | |
FR707019428A FR2043704B3 (de) | 1969-05-27 | 1970-05-27 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691926989 DE1926989A1 (de) | 1969-05-27 | 1969-05-27 | Hochfrequenzleitung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1926989A1 true DE1926989A1 (de) | 1970-12-03 |
Family
ID=5735320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691926989 Pending DE1926989A1 (de) | 1969-05-27 | 1969-05-27 | Hochfrequenzleitung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3715631A (de) |
JP (1) | JPS4838097B1 (de) |
DE (1) | DE1926989A1 (de) |
FR (1) | FR2043704B3 (de) |
GB (1) | GB1291344A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4379307A (en) * | 1980-06-16 | 1983-04-05 | Rockwell International Corporation | Integrated circuit chip transmission line |
US4833521A (en) * | 1983-12-13 | 1989-05-23 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Means for reducing signal propagation losses in very large scale integrated circuits |
JPH0449987U (de) * | 1990-09-03 | 1992-04-27 | ||
DE19719853A1 (de) * | 1997-05-12 | 1998-11-19 | Bosch Gmbh Robert | Hochfrequenz-Halbleitermodul |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL257516A (de) * | 1959-11-25 | |||
NL134388C (de) * | 1964-05-15 | 1900-01-01 | ||
US3518494A (en) * | 1964-06-29 | 1970-06-30 | Signetics Corp | Radiation resistant semiconductor device and method |
CA956038A (en) * | 1964-08-20 | 1974-10-08 | Roy W. Stiegler (Jr.) | Semiconductor devices with field electrodes |
US3577181A (en) * | 1969-02-13 | 1971-05-04 | Rca Corp | Transistor package for microwave stripline circuits |
-
1969
- 1969-05-27 DE DE19691926989 patent/DE1926989A1/de active Pending
-
1970
- 1970-04-30 GB GB20938/70A patent/GB1291344A/en not_active Expired
- 1970-05-01 US US00033581A patent/US3715631A/en not_active Expired - Lifetime
- 1970-05-26 JP JP45045135A patent/JPS4838097B1/ja active Pending
- 1970-05-27 FR FR707019428A patent/FR2043704B3/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2043704B3 (de) | 1973-03-16 |
GB1291344A (en) | 1972-10-04 |
JPS4838097B1 (de) | 1973-11-15 |
FR2043704A7 (de) | 1971-02-19 |
US3715631A (en) | 1973-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3314100A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines integrierten kondensators und eine auf diese weise erhaltene anordnung | |
DE1967363C2 (de) | ||
DE1489893B1 (de) | Integrierte halbleiterschaltung | |
DE2312413B2 (de) | Verfahren zur herstellung eines matrixschaltkreises | |
DE1903961B2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2040180B2 (de) | Verfahren zur verhinderung von mechanischen bruechen einer duennen, die oberflaeche eines halbleiterkoerpers ueberdeckende isolierschichten ueberziehenden elektrisch leitenden schicht | |
DE2536270A1 (de) | Mii oeffnungen versehene halbleiterscheibe | |
DE1640307A1 (de) | Duennschichttechnik zur Herstellung integrierter Schaltungen | |
DE2726003A1 (de) | Verfahren zur herstellung von mis- bauelementen mit versetztem gate | |
DE2527621C3 (de) | Feldeffekt-Halbleiterbauelement | |
DE3038773C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltungsanordnung mit MOS-Transistoren und mit spannungsunabhängigen Kondensatoren | |
DE2249832C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Verdrahtungsschicht und Anwendung des Verfahrens zum Herstellen von Mehrschichtenverdrahtungen | |
DE2351943A1 (de) | Verfahren zur herstellung integrierter schaltungen | |
DE2752333A1 (de) | Streifenleitungs-kondensator | |
DE2740757A1 (de) | Halbleiter mit mehrschichtiger metallisierung und verfahren zu dessen herstellung | |
DE2140108A1 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE2147447B2 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE1926989A1 (de) | Hochfrequenzleitung | |
DE3930622A1 (de) | Statischer ram | |
DE2111089A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterschaltelementes | |
DE3034445A1 (de) | Mos-kondensator | |
DE1564136C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
DE1764937C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Isolationsschichten zwischen mehrschichtig übereinander angeordneten metallischen Leitungsverbindungen für eine Halbleiteranordnung | |
DE1927645A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterelements | |
DE3942419C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OHJ | Non-payment of the annual fee |