DE1916399A1 - Halbleitergleichrichter - Google Patents
HalbleitergleichrichterInfo
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Description
Fnmkfuii/Main-l
Pgrkpiraße J3
Pgrkpiraße J3
GENERAL ELECTRIC COMPANY, Schenectady, I\T.Y. V.St.A.
Halbleitergleichricht er
Die Erfindung bezieht sich auf .Halbiertergleichricht.er mit ,.
großflächigen Elektroden, die ohne Lötverbindungen oder dergleichen
allein durch Druck mit dem zwischen ihnen "befindliehen
Halbleiterkörper in Berührung gehalten s_ind.
Pur die elektrische Energieumwandlung werden heute in immer
stärkerem Maße Pestkörpergleichrichter aus Halbleitermaterial, z.B. Silicium, verwendet, die hohe Ströme führen, können. -. i
Damit durchschnittliche Vorwärtsströme von 250 Ampere oder
mehr fließen können, sind großflächige Halbleiterkörper notwendig.;· Im allgemeinen werden dünne,;, scheibenförmige, vielschichtige
Halbleiterkörper verwendet, die zwischen ebenen Metallelektroden angeordnet sind, welche derart an zwei entgegengesetzten
Enden eines IsolatorhohlkÖrperW befestigt
sind, daß der Halbleiterkörper von einem -abgedichteten Gehäuse umgeben ist. Bei Verwendung1 eines·1 -zwei schicht igen
(PN)-Siliciumkörpers erhält man einen einfachen Gleichrichter oder eine Diode, wohingegen man bei Verwendung eine3 vierschiohtigen
(PWiJN)-halbleiterkörpers mit einer Steuoroloktrode
einen steuerbaren Gleichrichter bzw. !Thyristor erhält. Für einen optimalen Wirkungsgrad ist es in jedem Pail erforderlich,
daß die Grenzflächen zwischen den Endflächen des HaIb-
909843/120
leiterkörpers und den auf. diese aufgebrachten-. Elektroden _.t_.i.;."
einen möglichst.- geringen elektrischen und .ther.pischenjviider-^
stand aufweisen. In. der Praxis. 1st es jedoch schwierig, swi-.
sehen diesen .!'eilen des abgedichteten ..Ha Ib le it ergleichrich^ <Λ
ters eine großflächige Kontaktierung mit geringem.Widerstand^
aufrechtzuerhalten,, da der halbleiterkörper nicht den_gleichen
thermischen Ausdehnungskoeffizienten wie die angrenzenden „__ :
Metallelektrode», aufweist und daher beim Steigen und !Fallen
der Temperatur _die Übergangs flächen zwischen Halbleiter, und, _, .
Elektrode leicht brechen. .... ., . -,,
las Problem nicht übereinstimmender Ausdehnungskqefflzientf9n;.
ist in der Halbleitertechnik-seit langer Zeit roekajint. Zur»., ;,
Vermeidung dieses Problems werden Siliciumkörper vorzugsweise
auf Metallplattön befestigt, .deren Aus4ehnungskpeffi.zi.ent. in,-dem
bei der Herstellung und ^.be im Betrieb/benötigten ^Temp
turbereieh etwaidem des-..SiIic:iums, entspricht. Bqi-üad
gleichrichterh für -sehr hohe;
breiten Temperaturberexch von .beispielsweise «-1-5P .°.Q., ein ,.in-....
niger, großflächiger' Kontaict von mehr .ala. ^twa,v3>,-2 -cro --.,t.0,,/5 >i:
Zoll ) Größe aufrechterhalten werden muß, innerhalb von welcheh--d-er--Halbleit.erkb.rper
nicht zeratblrt-werden rdarf, .eignen:·
sich besser durch^ Druck, hergeateilte Gle,it)kQntakte-.
Beil der Herstellung 'eines solchen
kontaktes wird, kein Lötmittel., Bindemittjel oder dergleichen.^ zum Befestigen des Halbleiterkörpera zwischen: den beiden Hauptelektroden des Halbleitergleichrichtera verwendet. Stattdessen werden diaae !eile -unter Druck eingespannt und dabei in gleitender Berührung gehalten, so daß sie sich ,theo,-retisoh, wenn .die Betriebstemperatur ansteigt,. mit ver.s,chie^t denen Geschwindigkeiten frei ausdehnen-könnten. .. ,, .;, ,,■·.-. v:f
kontaktes wird, kein Lötmittel., Bindemittjel oder dergleichen.^ zum Befestigen des Halbleiterkörpera zwischen: den beiden Hauptelektroden des Halbleitergleichrichtera verwendet. Stattdessen werden diaae !eile -unter Druck eingespannt und dabei in gleitender Berührung gehalten, so daß sie sich ,theo,-retisoh, wenn .die Betriebstemperatur ansteigt,. mit ver.s,chie^t denen Geschwindigkeiten frei ausdehnen-könnten. .. ,, .;, ,,■·.-. v:f
Es hat sich jedoch gezeigt, -daß die Reibungskräfte, ;die;,be,i :..
der Gleitbewegung· in den, Grenzflächen.der Druckkontakt^...a
BAD ORiGINAL
treten, insbesondere bei tfochstrom-Bauelementen wegen, der
großen 'i'emperaturschwarikungen so groß sind, daß die siliciurakörper
übermäßig beansprucht werden. Zur Vermeidung dieses
Nachteils besteht bei einem Halbleitergleichrichter, in dessen abgedichtetem. Gehäuse der halbleiterkörper zwischen zwei
großflächigen Elektroden angeordnet ist und bei dera zumindest eine Elektrode durch einen auf ihre äußere Oberfläche
einwirkenden, elektrisch leitenden Druckkörper gegen den
Halbleiterkörper gedrückt ist, die Erfindung darin, daß zwischen dem Druckkörper und dor Elektrode eine Scheibe angeordnet
ist, die aus einem Katerial besteht, dessen thermischer
Ausdehnungskoeffizient im Betriobstemperaturbereich etwa gleich dem des Halbleitermaterials ist.
Die Erfindung wird nun auch an Hand der beiliegenden Abbildungen
ausführlich beschrieben, wobei alle aus der Beschreibung und den Abbildungen hervorgehenden Einzelheiten oder
Merkmale zur Lösung der Aufgabe im Sinne der Erfindung beitragen können und mit dem Villen zur Patentierung in die Anmeldung
aufgenommen wurden.
Die Fig. 1 ist ein Schnitt durch einen Halbleitergleichrichter
für hohe Ströme nach der Erfindung.
Die Pig. 2 zeigt einen Ausschnitt der ?ig. 1 in Vergrößerung.
Die Pig. 3 ist eine Draufsicht auf den erfindungsgecäßen Reibungsdämpfer.
Im folgenden wird an Hand der ?ig. 1 ein Halbleitergleichrichter
11 beschrieben, dessen einzelne "eile, wenn es niclrs ausdrüoklich
anders erwähnt ist, kreisförmig ausgebildet sind. Der Halbleitergleichrichter 11 enthält einen ccheibeiiforini^on
Halbleiterkörper 12, der av/iachen den. elenon jiüacn b^w. jJiektroden
15 und 14 zweier tassenfertiger AnschluLelc-erite angeordnet
ist. Die liandabschnitte 15 und Io der bei&cn Anschluß-
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elemente sind derart an entgegengesetzten Enden 17 und 18'
eines elektrisch isolierenden, Hohlkörpers 19 befestigt, daß
sich ein aus einem Stück bestehendes, hermetisch abgedichtetes
Gehäuse für den Halbleiterkörper 1 ^x ergibt. Wie in Fig*- Ί angedeutet ist, ist der Halbleitergleichrichter unter Druck" :
zwischen den einander zugewandten Enden zweier aufeinander . ausgerichteter Stempel 20 und 21 eingespannt, die als elektrische und thermische leiter d.ienen. C ' . ·■ ·
Der scheibenförmige Halbleiterkörper 12 des Halbleitergleieh~ ;
richters 11 besteht aus einem Halbleitermaterial and enthält,
P wie es in der Pig. 2 angedeutet ist, vorzugsweise eine z.B.
0,3 mm (12 mils) dünne großflächige, kreisrunde Scheibe 22 aus
asymmetrisch leitendem Silicium, die auf einem dickeren, ·
z.B. 1,5 mm (60 mils) dicken scheibenförmigen Substrat 23 aus
Wolfram oder Molybdän befestigt ist, auf dessen äußerer. Oberfläche ein Gold-Nickel-Kontakt 24 (z.B. 94$Gold,, 6°/o Nickel);
vorgesehen ist, während auf der äußeren Oberfläche der SiIi-■·
ciumscheibe 22 ein dünner Metallkontakt 25 angebracht ist, der
im Bedarfsfall auch weggelassen werden könnte. Der Kontakt 25
besteht vorzugsweise aus Gold, könnte jed.oeh auch aus anderen
Metallen wie Silber, Aluminium^ Indium, Rhodium, Mckel oder
irgendwelchen legierungen dieser Metalle bestehen*
Der Halbleiterkörper 12 kann in bekannter V/eise hergestellt
werden. Sein Durehmesser beträgt' z.B>
32,4 mm (T/25 Zoll)»
• ' Im Inneren der Siliciumscheibe 22 ist mindestens ein großflächiger
Pii-iibergang vorgesehen, der im wesentlichen parallel
zu den Endflächen verläuft* Da^ gezeigte AusfuMuagsbeispiel,
ist ein steuerbarer Halbleitergleiehrleh;terv d.n.: Thyristötr;^
dessen Malbleiterkörper Vier 2onen von abweehselnd._ enigegengesetztem
Leitungstyp enthält, von denen die eine am; Band, exile
Steuerelektrode 2& aufweist^ die mit einer flexiblen Steuer;- .
leitung 27 öhmsch kantaktiert; ist. Mit des Subsrferat ^23; ist. in
diesem PaLIe eine P-leitende Zone des üalbleiterkörpärs 22\.
ohmsch verbunden, so daß der Vorwärtsstrom durch den Halbleiterkörper
vom Kontakt 24 zum Kontakt 25 fließt. Die Kontakte sind geschliffen und geläppt, damit ihre Kontaktflächen
parallel- zueinander und senkrecht zur Achse des Halbleiterkörpers
12 liegen. Auf der ringförmigen Fläche des Halbleiterkörpers 12, die in radialer Richtung über die Oberfläche des
Kontaktes 25 hinausragt, und auf demjenigen Teil der Oberfläche des Kontaktes 25, "der neben der am Umfang befindlichen
Steuerelektrode 26 liegt, ist ein Schutzüberzug 28 aus Isolier-material,
z.B. Siliconkautschuk, vorgesehen.
Wie aus der Pig. 1 hervorgeht, befinden sich die entgegengesetzten
Endflächen des Halbleiterkörpers 12 mit je einer ebenen Oberfläche ,der parallelen Elektroden 13 und 14 der beabstandeten
Anschlußelemente des Halbleitergleichrichters 11
in Anlage, so daß der zwischen den Stempeln 20 und 21 fließende Verbraucherstrom auch- durch die Elektroden 13 und 14
und den Halbleiterkörper 12 fließt. Dabei kann die Elektrode 13 auch als Anode und die Elektrode 14 auch als Katode bezeichnet
werden. Jede Elektrode besteht aus einer dünnen Scheibe aus einem hochleitenden, duktilen Metall wie z.B.
Silber, .Aluminium, Messing oder vorzugsweise Kupfer. Die besten Ergebnisse erhält man, wenn die Elektroden 13 und 14
mit sehr dünnen Silber-, Gold- oder Nickelschieh.ten plattiert
sind.
Die Anode 13 ist mittels eines dünnen, im wesentlichen zylindrischen Rohrs 29 bleibend mit dem nach außen flanschartig
erweiterten Randabschnitt 15 verbunden, der an einer metallisierten Endfläche 17 des Isolatorhohlkörpers 19 angelötet
oder andersartig befestigt ist. Die Teile 13, 15 und bilden somit ein aus einem Stück bestehendes, tassenförmiges
Anschlußelement, wobei das Rohr 29 ein Teil einer Art elastischer
Membran'(Diaphragma) ist, die wie gezeigt in den Isolatorhohlkörper
19 ragt. Ein ähnliches Anschlußelement ist
BAD ORIGINAL
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-■β -
durch die Katode 14, den Randabschnitt 16 und ein diese beiden
Teile verbindendes Rohr 30 gebildet, welches jedoch nicht zylindrisch ist, sondern einen mit einer Einbuchtung verse- ■-henen
Abschnitt 30a aufweist, durch den ein' vergrößerter Raum
zum Anschluß einer Steuerzuieitung 27 an die Steuerelektrode
gebildet ist. Außerdem ist die Katode 14 im Gegensatz zur kreisrunden Anode 13 im wesentlichen D-förmig ausgebildet,
indem in ihrem linken Teil 31 ein Randsegment abgebogen ist, damit derjenige Katodenteil, der in der Nähe der peripheren
Steuerelektrode 26 an die obere Oberfläche des Halbleiterkörpers 12 angrenzt, entlastet wird.
Damit auch die innere Steuerzuleitung 27 von außen her zugänglich
ist, enthält der Halbleitergleichrichter 11 eine Steuerklemme 33 aus leitendem Material, die durch den Isolatorhohlkörper
19 geführt ist. V/ie die Pig. 1 zeigt, enthält der Isolatorhohlkörper 19 zwei koaxial zueinander angeordnete Zylinderringe 34 und 35 mit gleichem Innendurchmesser,
die vorzugsweise aus Keramik bestehen. Der Zylinderring 35, an deasen metallisierter Endfläche 18 der Ranrlabachnitt 16
' dea Katodenanschlußelemcntea angelötet ist, ist in Achsrichtung
relativ kurz, wohingegen der Zylinderring 34 aus einer, länglichen Hülse besteht, die die Anode 13, den Halbleiter--.
" körper 12, die Katode 14 und den unteren Teil des Rohrs 30
umgibt. Die beiden Zylinderringe 34 und .35, 'aus denen der
Isolatorhohlkörper 19 zusammengesetzt ist, sind durch einen Metallring 36 und die ringförmige Steuerklemme 33 verbunden.
Der Metallring 36 und die Steuerklemme 33 sind koaxial zwischen den Zylinderringen 34 und 35 angeordnet, wobei die
Steuerklemme 33 an der metallisierten Endfläche des Zylinderrings 34 befestigt ist und ringförmig nach außen ragt, während
der Metallring 36 an der metallisierten Endfläche des
Zylinderrings 35 befestigt ist und. in ähnlicher Yteise ringförmig
nach außen ragt. Der Metallring 36 und die Steuer- /
klemme 33 sind längs ihres äußeren Umfangs miteinander .ver-
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schweißt^ so daß sich ein hermetisch abgedichtetes Gehäuse
für den Halbleiterkörper 12 ergibt. Vorzugsweise wird die Verschweißung
in einer inerten Atmosphäre .vorgenommen, so daß
Sauerstoff und andere unerwünschte Gase bleibend vom Inneren
des Gehäuses abgehalten sind. Innerhalb des Gehäuses ist die Steuerzuleitung 27 mit einem leitenden Vorsprung 58 der Steuerklemme
33 verbunden (vgl. Pig. 1).
Der HaIbleiterkörper 12 wird zwischen den Hauptelektroden 13
und 14 des Halbleitergleichrichters mechanisch unter Druck so eingespannt, daß er gleichzeitig elektrisch mit den Haupt-**
elektroden in Serie liegt. Zum Verbinden dieser Teile wird kein Lötmittel oder dergl. verwendet. Der elektrische Kontakt
zwischen den Metallflächen des Halbleiterkörpers 12 und den angrenzenden Kontaktflächen der zugeordneten Elektroden wird
lediglich· dadurch gesichert, daß diese Teile durch einen im
'etwa kreisförmigen Bereich der Grenzflächen v/irksamen Druck eingespannt werden. Dieser Druck wird in erster Linie durch
die elastischen Eigenschaften der beiden Anschlußelement■_· bewirkt,
die an den beiden Enden des Ilaluloitergleichricliters
angeordnet sind. Bei dem beschriebenen Ausiftihrungsbeispiel
werden die Anode 13 und die Katode 14 außerdem mittels der nach außen liegenden Stempel 20 und 21 fest gegen den Halbleiterkörper
gedrückt, wodurch sich eine noch innigere Berührung und e^ine für hohe Ströme geeignete Grenzfläche mit geringem'·
Widerstand ergibt. Zum Zusammendrücken der Stempel 20
und 21 in Achsrichtung kann irgendeine von außen her wirksame·
Einspannvorrichtung verwendet werden.
Die aufeinander ausgerichteten Stempel 20 und 21 sind im wesentlichen
zylindrisch und bestehen aus einein hochleiteriden
Material wie Aluminium, Messing oder vorzugsweise Kupfer* Sie
ragen aus breiteren Bauteilen oder Wärmesenken aus gleichem
oder ähnlichem "Hat erial heraus und s ind ge eignet abges chragx ,,
äamit sie In die tassenförmigen Ans^ehiußeiernente des Kalblei-
9 O SBA 3 / 1 %BI -'., BAD 0RlGlNAL
tergleichrichters passen. An ihren Enden sind parallele,
ebene Kontaktflächen 43 bzw. 44 vorgesehen. Die Kontaktfläche 43 des Stempels 20 liegt an der äußeren Kontaktfläche
der Anode 13 an. In ähnlicher Weise liegt die Kontaktfläche 44 des Stempels 21 der äußeren Kontaktfläche·
der Katode 14 gegenüber, wobei zwischen den einander zugewandten Flächen eine erfindungsgemäße Pufferscheibe 45
angeordnet ist. Die besten Ergebnisse werden erzielt, wenn die Endflächen der Stempel mit sehr dünnen Schichten aus
Silber, Wickel oder Gold überzogen sind.
In den kleinen Zwischenräumen, die sich an den beiden Enden des"Isolatorhohlkörpers 19 zwischen diesem und den
angrenzenden Wärmesenken ergeben, sind Dichtungsringe 46
aus einem nachgiebigen Material vorgesehen, die zur mechanisehen
Stabilität des Isolatorhohlkörpers 19 beitragen und verhindern, daß Staub oder andere Verunreinigungen in
den Raum eintreten, der die abgeschrägten Enden der Stempel 20 und 21 umgibt.
Wenn der Halbleitergleichrichter 11--zwischen den Stempeln.
20 und 21 gemäß Pig. 1 eingespannt ist, dann sind seine A1--de 13 und seine Katode 14 fest gegen den dazwischen befindlichen, scheibenförmigen Halbleiterkörper 12 gedrückt.
Auf die aneinanaergrenzenden'Kontaktflächen dieser Teile wird ein hoher Druck von beispielsweise 211 kg/cm (3000 psi)
ausgeübt, so daß im gesamten Bereich der großflächigen Grenzfläche eine gute elektrische und thermische Leitfähigkeit
sichergestellt.ist. In radialer Richtung ist der Halbleiterkörper
12 dabei jedoch höchstens durch Reibung beansprucht.
. -" -
Während des- Betriebs wird der Halbleitergleichrichter War-; mest-ößen
unterworfen, die Änderungen seiner Dimensionen-zur
Folge, 'haben. - Ba die Katode 14 nicht aus dem gleichen Mate- - ■ ■
.·-■.'■"■ BAD ORIGINAL 9 0 9843/1201
rial wie der Halbleiterkörper 12 besteht, besitzen diese
Teile verschiedene thermische Ausdehnungskoeffizienten, so
daß ihre miteinander in Berührung befindlichen Kontaktflächen
ge'gene inander reiben. Durch diese 'Grenzflächenreibung
oder -gleitung wird der Siliciumkörper 12 mechanisch
beansprucht, was auf die Dauer zu Rissen oder anderen ernsthaften Beschädigungen führen kann. Als PoIge davon werden
sowohl die Zahl der aufeinanderfolgenden wiederholbaren Wärmestöße als auch die maximal mögliche Temperaturdifferenz
pro Wärmestoß, die bekannte Bauelemente ohne Zerstörung aushalten können, in unerwünschtem Maße erniedrigt.
Zur Verbesserung der thermischen Belastbarkeit wird erfindungsgemäß in der Einspannvorrichtung zwischen der äußeren
Oberfläche der Katode 14 und der ihr zugewandten Kontaktflache 44 des Stempels.21 die Pufferscheibe 45 vorgesehen.
Die Pufferscheibe 45 ist ein im- allgemeinen scheibenförmiger
Bauteil aus Hartmetall, dessen Ausdehnungskoeffizient angenähert
gleich dem des Halbleiterkörpers 12 in dem Temperaturbereich
ist, in dem der Halbleitergleichrichter 11 betrieben wird.. .Das Grundmaterial der Pufferscheibe kann
aus Wolfram, Molybdän, Chrom- oder im wesentlichen aus Eisen
und Nickel zusammengesetzten Legierungen bestehen, die gewöhnlich mil; Ferni, Pernico oder Kovar bezeichnet werden.
Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel der Erfindung wird
•Wolfram verwendet, da dieses bessere thermische und elektrische
Leitfähigkeitseigenschaften besitzt. Wie die Katode
ist die Pufferscheibe 45 vorzugsweise mit einer Plattierung
oder einem "Überzug aus Nickel, Silber oder Gold versehen.
Die Pufferocheibe 45 aus Wolfram, die viel dicker als diü
Kupferkatode 14.(z.B. fünfmal dicker) ist, besteht aus
einem einzelnen -Stück und ist vom Gleichrichter 11 trennbar,
d.h. mit der angrenzenden Katode nicht metallurgisch verbunden. Ihre untere Breitseite ist im wesentlichen an die
BAD ORIGINAL 903843/1201
191S3Ü
äußere Oberfläche der. Katode 14 angepaßt und liegt an diesel'
an. Bei dem in der Zeichnung dargestellten Thyristor 1st die
Pufferscheibe 45 daher D-^förmig ausgebildet (Gig. 3)."Bei
Verwendung der Pufferscheibe in einer. Diode mit einer kreisförmigen Katode würde-die Pufferscheibe natürlich ebenfalls
kreisrund sein und das gestrichelt dargestellte Segment '45ä'
zusätzlich aufweisen. Vorzugsweise ict in der Grenzfläche' zwischen der Katode und der Pufferscheibe zur Förderung von
Gleitbewegungen ein sehr dünner. Film aus einem inerten
Schmiermittel wie Siliconöl vorgesehen. Dadurch wird eine"
Oxidation der in Berührung befindlichen Oberflächen vermieden und ihre Adhäsion verringert. Aus dem gleichen Grund wirdauch
zwischen die Pufferscheibe 45 und die Oberfläche 44 des"
Stempels 21 Siliconöl gebracht, wenn die Puff er scheibe nicht,"
wie es manchmal der Pail sein kann, am distalen Ende, des
Stempels befestigt, z.B. angelötet ist. .
Die Katode 14 des Gleichrichters 11 ist zwischen dem inneren"
Halbleiterkörper 12 und der äußeren Pufferscheibe 45 fest
eingespannt, und da sie dünn ist und aus einem duktilen
Material besteht, nimmt sie die thermischen Aus dehnungseigenschaften
dieser angrenzenden Seile an, insbesondere werden die innere Oberfläche der Katode, und die Goldfläche 25 des
Halbleiterkörpers .12 mit hxuier. Wahrscheinlichkeit verschmelzen»
Folglich werden die Oberflächenauslenkungen der.
Katode relativ zum Halbleiterkörper w.irksam -vermieden.., so.
daß die Oberflächenbeschaffenheit, d.er Siliciuraseheibe 22 .erhalten
bleibt. Die an die Katode angrenzende Oberfläche der
Pufferschei.be weist abgerundete Kanten bzw. Ränder auf, damit
Rißbildungen, oder Brüche in der. unterhalb der Pufferscheibeliegenden.
SiIiciumscheibe vermieden werden.
Durch das zusätzliche Anbringen der Puffersoheibe .4^außerhalb
des Gehäuses des. Halb'leitergleichrichters 11 wird die thermische
Belastbarkeit des Gleichrichters wesentlich .verbessert^,
BAD ORIGINAL
- 11 - '
ohne daß seine thermischen oder elektrischen Eigenschaften
merklich verschlechtert werden." Versuche haben insbesondere
•ergeben, daß seine Lebensdauer bei einem Anstieg des thermischen
Widerstands bei Stoßbetrieb von nur etwa 1,5$,
gemessen durch die Zahl der (Deraperaturzyklen in einem gegebenen
Temperaturbereich, um etwa das 100-fache erhöht wird.
Im -Vergleich zu einer Anordnung, bei der die Pufferscheibe
innerhalb des abgedichteten Gehäuses zwischen Halbleiterkörper und Katode untergebracht wird, weist die erfindungs^
geraäße Anordnung mehrere Vorteile auf. In thermischer Hin- *
sieht ist es günstiger* wenn die Katode und nicht die Pufferscheibe
dem Halbleiterkörper am nächsten liegt, da die Katode aus Kupfer besteht, dessen spezifische Vfarme etwa
dreimal "so groß und dessen Dichte weniger als halb so groß wie die .von Wolfram ist. Weiterhin ist die Kontaktfläche
größer und verschmilzt die Katode leichter mit der GoIaoberfläche
25 des Kalbleiterkörpers, wodurch der thermische V/iderstand dieses der Wärmequelle" am nächsten liegenden Übergangs
vermindert wird. Weiterhin besteht nicht die Gefahr,
daß die Pufferscheibe,während der Abdichtung des Gleichrichters
11 und seinem nachfolgenden Einspannen in"der Einspannvorrichtung
aus ihrer genau festgelegten räumlichen Lage verschoben
vrerdenka nn. Eine äußere Pufferscheibe 45 gestattet -i
außerdem eine größere Flexibilität, ca sie, ohne daß die übrige Gleichrichteranordnung irgendwie verändert werden
müßte, im Bedarfsfall weggelassen und z.3. durch ein gleichgroßes Abstände stück aus Kupfer ersetzt werden kann, wenn
nämlich beispielsweise die Betriebst eir/peratur Schwankung en
nicht so stark sind, daß die Verwendung der Pufferscheibe
notwendig wäre. Schließlich sei in diesem Zusammenhang darauf
hingewiesen, daß es, wenn gü die ΐ era p-era tür Schwankungen
erlauben, für.eine stoßweise Belastung günstiger sein kann, die Kupferkatode 14'wesentlich dicker als beschrieben (z.B.
doppelt so dick) oder die Pufferscheibe- 45 wesentlich dünner
zu machen* ;
809843/1201 BADORIGiNAL
Claims (5)
- Patentansprüchef~\ '■■lly Halbleitergleichrichter, in dessen abgedichtetem Gehäuse -. der Halbleiterkörper zwischen zwei großflächigen Elektroden angeordnet ist und bei dem zumindest eine Elektrode durch einen auf ihre äußere Oberfläche einwirkenden, elektrisch leitenden Druckkörper gegen den^Halbleiterkörper gedrückt ist, gekennzeichnet durch eine zwischen dem 'Druckkörper (21) und der Elektrode (14) angeordnete Scheibe (45) aus einem Material, dessen thermischer Ausdehnungskoffizient im Betriebstemperaturbereich etwa gleich dem des Halbleitermaterials ist.
- 2. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß sich der Halbleiterkörper (12) und die Elektroden (13,14) innerhalb des abgedichteten Gehäuses (34,35, 46) befinden.
- 3. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Grundmaterial der Elektrode (14) und des Druckkörpers (21) aus Silber, Kupfer, Messing oder Aluminium und das Grundmaterial der Scheibe (45) aus Wolfram, Molybdän, Chrom oder im wesentlichen Nickel und Eisen enthaltenden Legierungen besteht .
- 4. Halbleitergleichrichter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die mit der Innenfläche der Elektrode (14) in Druckkontakt befindliche Oberfläche (25)mit Gold, Silber, Aluminium, Indium, Rhodium, Wickel oder Legierungen davon metallisiert ist.
- 5. Halbleitergleichrichter nach einem der Ansprüche 1. bis 4, dadurch gekennzeichnet , daß die Elektrode (14) und die Scheibe (45) mit Gold, Silber.oder Nickel überzogen sind. \.SÖ9843/1201
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US4274106A (en) * | 1977-11-07 | 1981-06-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Explosion proof vibration resistant flat package semiconductor device |
JPS5929143B2 (ja) * | 1978-01-07 | 1984-07-18 | 株式会社東芝 | 電力用半導体装置 |
US4402004A (en) * | 1978-01-07 | 1983-08-30 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | High current press pack semiconductor device having a mesa structure |
US4327370A (en) * | 1979-06-28 | 1982-04-27 | Rca Corporation | Resilient contact ring for providing a low impedance connection to the base region of a semiconductor device |
US7534979B2 (en) * | 2004-05-14 | 2009-05-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Pressure-contact type rectifier with contact friction reducer |
WO2008060447A2 (en) * | 2006-11-09 | 2008-05-22 | Quantum Leap Packaging, Inc. | Microcircuit package having ductile layer |
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US3293508A (en) * | 1964-04-21 | 1966-12-20 | Int Rectifier Corp | Compression connected semiconductor device |
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GB1140677A (en) * | 1965-05-07 | 1969-01-22 | Ass Elect Ind | Improvements relating to semi-conductor devices |
US3457472A (en) * | 1966-10-10 | 1969-07-22 | Gen Electric | Semiconductor devices adapted for pressure mounting |
-
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