DE1810066U - Mikrometerhoehenlehre. - Google Patents

Mikrometerhoehenlehre.

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DE1810066U
DE1810066U DEA14013U DEA0014013U DE1810066U DE 1810066 U DE1810066 U DE 1810066U DE A14013 U DEA14013 U DE A14013U DE A0014013 U DEA0014013 U DE A0014013U DE 1810066 U DE1810066 U DE 1810066U
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DE
Germany
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elements
micrometer
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column
height gauge
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Expired
Application number
DEA14013U
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English (en)
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Amar Tool & Gauge Co Ltd
Original Assignee
Amar Tool & Gauge Co Ltd
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Publication date
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Publication of DE1810066U publication Critical patent/DE1810066U/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B5/06Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B5/061Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness height gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

  • t7 ; hen
    Hohenmikrometei/fehre
    <.
    Die Erfindung bezieht sich auf Höhenmikrometeiellren.
    Um Anreisser oder andere Markierunöswerkzeuge und
    Messuhren und andere Hesswerkzeuge auf eine genaue
    Höhe, z. B. relativ zu einer Tischfläcne, einstellen
    zu können, hat man bisher sogenannte Höhenmikrometer,.
    lehren verwendet. Diese bestehen aus einer senk-
    rechten Säule mit einer Anzahl von nach oben gekehr-
    ten Schultern oder Flanschen, die sich in der Richtung der Säule in einem bestimmten genauen Längsabstand befinden, z. B. in der Grössenordnung von je 1 Zoll. Dabei ist eine Feder vorgesehen, welche diese Säule in einem auf der Tischfläche oder dgl. ruhenden Halter aufwärts gegen einen Anschlag drückt, der innerhalb einer begrenzten Strecke von wenigstens dem Schulterabstand mittels einer Mikrometerschraube verstellbar ist. Bei einer bekannten Höhenmikrometer. lehre befinden sich die in genauem Abstand vorgesehenen Flächen auf den Oberseiten von Ringflanschen, die rund um die Säule vorstehen. Die Flächen dienen dabei unmittelbar zum Aufsetzen von nach unten gerichteten Markierungs-oder Hesswerkzeugen, während
    nach oben gerichtete Markierungs-und Messwerkzeuge
    aufgesetzt werden können, indem man an eine der
    Flanschflächen einen Halterungskörper mit einer
    CD
    flachen nach unten gerichteten Oberfläche anklemmt. Um bei dem Aufsetzen nach oben gerichteter Werkzeuge
    eine besondere Halterung überflüssig zu machen, sind
    C>
    bei einer abgeänderten Konstruktion die vorstehenden Flansche durch in die Säule eingeschliffene Kerben ersetzt. Jede Kerbe hat eine waagerecht nach unten gekehrte Fläche und eine geneigte oder gebogene nach oben gekehrte Fläche. Auf gegenüberliegenden Seiten der Säule sind ähnliche, jedoch in entgegengesetzter Richtung angeordnete Kerben vorgesehen, die also eine waagerecht nach oben gekehrte Fläche
    und eine geneigte oder gebogene nach unten gekehrte
    CD
    Fläche haben. Die beiden Kerbenreihen waren so angebracht, dass die nach oben gekehrten waagerechten Flächen der einen Kerbenreihe und die nach unten gekehrten waagerechten Flächen der anderen Kerbenreihe sich paarweise genau je in einer gemeinsamen Ebene befinden, sodass mit ein und dergleichen Einstellung des Mikrometers ein Werkzeug genau auf eine bestimmte Höhe über der Tischfläche oder dgl.
    eingestellt wird, gleichgültig, ob das'werkzeug an
    einer der nach oben gekehrten Flächen oder an einer
    der nach unten gekehrten Flächen anliegt. Abgesehen davon, dass man die Säule oder die ganze Vorrichtung um 1800 drehen muss, je nach dem ob das Werkzeug an einer nach oben gekehrten oder einer nach unten gekehrten Fläche anliegen soll, ist diese abgeänderte Vorrichtung in der Herstellung schwierig und teuer und zwar deshalb, weil die Kerben mit ihren waagerechten Flächen genau in den erforderli-
    chen Stellungen liegen müssen.
    C>
    Bei einer anderen abgeänderten Konstruktion haben die Flansche der ursprünglichen Ausführung genau eine bestimmte Stärke von beispielsweise 0,2 Zoll.
  • Dadurch kann ungeachtet der erforderlichen Korrektur nach der Mikrometerskala ein Werkzeug je nach Wunsch
    an eine nach oben gekehrte oder eine nach unten gekehrte
    kD
    Fläche angelegt werden. Diese Abänderung der ursprünglichen Bauart ist jedoch in der Herstellung weit teurer und sie erfordert, um eine Einstellung über einen durchlaufenden Höhenbereich zu ermöglichen, eine Mikrometerschraube, die eine Verstel-
    lung über eine grössere Strecke zulässt, nämlich
    CD
    über eine Strecke, die der Summe des Abstandes von zwei aufeinanderfolgenden, in die gleiche Richtung gekehrten Flächen und der Dicke jedes Flansches
    entspricht.
    Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer ver-
    bo h 9%
    t
    besserten Hölhenmikrometerehre, die verhältnismäs-
    sig leicht herzustellen ist und bei welcher ein und
    dieselbe Mikrometereinstellung für zwei vollständige
    Reihen von aufwärts bzw. abwärts gekehrten Flächen verwendbar ist und eine Fläche jeder Gattung für jedes Niveau vorhanden ist. Gemäss der Erfindung besteht die bewegliche Säule aus einer Anzahl von einzelnen ringförmigen Ele-
    r
    menten gleicher Höhe, von denen jedes Element axial
    durch zwei ebene parallele Flächen begrenzt und mit ein oder mehreren verhältnismässig schmalen, radial vorstehenden Teilen versehen ist, die sich bis zu jeder der genannten parallelen Endflächen erstrekken, sodass am oberen Ende des Elementes eine aufwirts gekehrte vorstehende Fläche und am unteren Ende des Elementes eine nach unten gekehrte vorstehende Fläche vorhanden ist. Die Anordnung ist dabei so getroffen, dass die nach oben gekehrte Fläche jedes Elementes gegenüber der nach unten gekehrten Fläche des nächst oberen Elementes um die Säulenachse versetzt ist. Zweckmässig erstreckt sich ein einziger rippenartiger radialer Vorsprung axial längs des Elementes von seiner einen Endfläche zu der andern, wobei die Vorsprünge aufeinanderfolgender Elemente gegeneinander um die Achse versetzt sind.
    Die Zeichnung zeigt ein Ausführungsbeispiel des Er-
    ZD
    findungsgegenstandes und zwar sind :
    Fig. 1 eine teilweise geschnittene Seitenansicht
    der Lehre, und Fig. 2 und 3 schaubildliche Darstellungen zweier aufeinanderfolgender Elemente. Gemäss Fig. 1 bildet eine Anzahl von abwechselnd aufeinanderfolgenden Elementen 1 und 2 eine Säule, die durch eine Haltestange 3 zusammengehalten werden, welche sich durch fluchtende axiale Bohrungen 4 der einzelnen Elemente hindurch erstreckt. Die Stange 3 ist an einem Ende mit einem Flansch 5 und am anderen Ende mit einem Schraubengewinde 6 versehen, welches eine Mutter 7 trägt. Jedes der Elemente 1 und 2 ist im wesentlichen als ein zylindrischer Ring ausgebildet, von dessen Aussenseite radial eine rippenartige Nase 8 vorspringt, deren Stärke etwa der radialen Stärke des Ringes entspricht und die in axialer Richtung von einem Ende zum andern Ende des Elementes reicht. An die Nase grenzt eine ebene Fläche 9 an, die einem später zu erläuternden Zweck dient. Wenn die Säule zusammengesetzt ist, so befinden sich die Nasen 8 der miteinanderabwechselnden Elemente an gegenüberliegenden Seiten der Abfachungen 9. Dies wird zweckmässig dadurch erreicht, dass allen Elementen die gleiche Form gegeben wird und dass man jedes zweite Element mit seiner Oberseite nach unten kehrt, so wie dies die Fig. 2 und 3 erkennen lassen. Jedes Element endet mit parallelen rechtwinklig zur Achse der Bohrung 4 verlaufenden Flächen 10. Die Länge jedes Elementes zwischen seinen beiden Endflächen 10 ist genau festgelegt und hat für jedes Element das gleiche Mass von beispielsweise 1 Zoll. Es ist zweckmäßig, den Elementen 1 und 2 der Säule zwei Hilfselemente 11 bzw. 12 an den Enden der Säule zuzuordnen. Die Elemente 11 und 12 entsprechen den Elementen 1 und 2, jedoch mit dem Unterschied, dass ihre axiale Länge nur einen Bruchteil der letzteren ausmacht und nicht ganz genau zu sein braucht, da nur eine Endfläche jedes der Elemente 11 und 12 für Messzwecke benutzt wird.
  • Die ganze insoweit beschriebene Säule ist in einem hohlen Ständer 13 untergebracht, der an einer Seite ein längliches Fenster 14 aufweist, durch welches die Nasen 8 herausragen und zugänglich sind. Die Säule ist weiterhin an dem unteren Ende mit einem Einsatzkörper 15 versehen, an welchem eine Druckfeder 16 anliegt, die in eine axiale Borhung der Stange 3 hineinragt und mit ihrem anderen Ende gegen den Boden der Bohrung drückt, um so die Säule aufwärts gegen einen Anschlagbolzen 17 zu bewegen. Der Anschlagbolzen 17 greift in eine napfförmige Ausnehmung 18 am oberen Ende der Stange 3 ein und er bildet einen Teil einer Mikrometerschraube 19, die am oberen Ende des Ständers 13 befestigt ist. Mittels der Mikrometerschraube ist es möglich, den Anschlagbolzen 17 wenigstens um die axiale Länge jedes der ringförmigen Elemente 1 und 2 in der Längsrichtung zu verstellen.
  • Das Ausmass der vorgenommenen Verstellung kann in üblicher Weise an der Hikrometerskala abgelesen werden.
    Um die Gesamthöhe jeder Anschlagfläche über der
    CD
    Fläche zu ermitteln, auf welcher der Ständer 13 ruht, muss man das Grobhöhenmass der Anschlagfläche zu der Hikrometerangabe hinzuzählen. as Grobhöhenmass jeder Fläche ist zweckmässig in Zahlen an den obenerwähnten Flächen 9 derart angebracht, dass die Zahlen über die Trennungslinie zwischen den benachbarten Elementen 1 und 2 herüberragen. Einige dieser maßangaben, z. B. in vollen Zoll, sind in Fig. 1 bei 20 gezeigt.
  • Die Lehre kann in Einzelheiten Abänderungen erfahren, ohne dass damit der Rahmen der Erfindung verlassen wird. So kann man beispielsweise an jedem Ring statt einer einzigen vorstehenden Nase 8, die sich von einer Endfläche zur andern erstreckt, zwei getrennte Nasen vorsehen, die nur einen Teil der Länge jedes Elementes einnehmen und von den beiden Endflächen ausgehen. Die beiden getrennten Nasen können dabei gegeneinander versetzt sein und sich auf entgegengesetzter Seiten der Abflachungen 9 befinden, sodass man nicht jedes zweite Element umzudrehen braucht. Patentansprüche

Claims (4)

  1. A 14 013/42b Gm
    AI. IAR TOOL & GAUGE COUPY LTD. Unser Zei hen : A 875 S c h u t z a n s p r ü c h e 1. Mikrometer-Höhenlehre mit einer durch Mikrometerschraube auf-und abbeweglichen Hessäule mit in regelmässigen Höhenabständen voneinander angeordneten horizontalen Messflächen, dadurch gekennzeichnet, dass die bewegliche Säule aus einer Anzahl von einzelnen ringförmigen Elementen gleicher Höhe besteht, von denen jedes axial durch zwei ebene parallele Flächen begrenzt ist und ein oder mehrere verhältnismässig schmale, radial vorstehende Teile hat, die bis zu den parallelen Endflächen reichen, sodass am oberen Ende des Elementes eine nach oben gekehrte vorstehende Fläche und am unteren Ende des Elementes eine nach unten gekehrte vorstehende Fläche vorhanden ist, wobei die Anordnung so getroffen ist, dass die nach oben gekehrte Fläche jedes Elementes relativ zu der nach unten gekehrten vorstehenden Fläche des nächstoberen Elementes um die Säulenachse versetzt ist.
  2. 2. Hikrometer-Höhenlehre nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sich ein rippenartige Vorsprung axial längs des Elementes von einem seiner Endflächen zu der anderen erstreckt, wobei die aufeinanderfolgenden Elemente abwechselnd um die Achse versetzt sind.
  3. 3. Mikrometer-Höhenlehre nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die aufeinanderfolgenden Elemente eine symmetrische Gestalt haben und so gleichen mit der Oberseite nach unten gekehrten Elementen entsprechen.
  4. 4. Mikrometer-Ilöhenlehre nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Elemente auf einer Axialstange zusammengespannt sind, welche durch fluchtende rlittelöffnungen der Elemente hindurchgeht und mit der Mikrometeranschlagfläche zusammenarbeitet.
DEA14013U 1959-09-30 1959-09-30 Mikrometerhoehenlehre. Expired DE1810066U (de)

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DEA14013U DE1810066U (de) 1959-09-30 1959-09-30 Mikrometerhoehenlehre.

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DEA14013U DE1810066U (de) 1959-09-30 1959-09-30 Mikrometerhoehenlehre.

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DE1810066U true DE1810066U (de) 1960-04-21

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DEA14013U Expired DE1810066U (de) 1959-09-30 1959-09-30 Mikrometerhoehenlehre.

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