DE1764066B1 - Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents

Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung

Info

Publication number
DE1764066B1
DE1764066B1 DE19681764066 DE1764066A DE1764066B1 DE 1764066 B1 DE1764066 B1 DE 1764066B1 DE 19681764066 DE19681764066 DE 19681764066 DE 1764066 A DE1764066 A DE 1764066A DE 1764066 B1 DE1764066 B1 DE 1764066B1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
diamond
radiation detector
nuclear radiation
detector according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19681764066
Other languages
English (en)
Inventor
Konorowa Jelena A
Koslow Stanislaw F
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lenia Fisitscheskij I Im P N L
Original Assignee
Lenia Fisitscheskij I Im P N L
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lenia Fisitscheskij I Im P N L filed Critical Lenia Fisitscheskij I Im P N L
Publication of DE1764066B1 publication Critical patent/DE1764066B1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/115Devices sensitive to very short wavelength, e.g. X-rays, gamma-rays or corpuscular radiation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

1 2
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Kern- Behandlung mit ultraviolettem Licht; Anlegen eines strahlungsdetektor, bestehend aus einem Diamant- gepulsten Feldes; /^-Strahlung; thermische Behandkörper mit zwei an gegenüberliegenden Flächen des- lung. Alle diese Verfahren können den Raumseiben angebrachten Kontakten, von denen einer für ladungseffekt im Kristall nicht beseitigen, dienen also das Anlegen eines positiven Potentials und der andere 5 nur zu kurzzeitigen Depolarisationen. zum Anlegen eines negativen Potentials dient, wobei Ferner ist bekannt, ein Kernstrahlungsdetektor der die Dicke des zwischen beiden Kontakten liegenden eingangs genannten Art, bestehend aus einem Dia-Arbeitsbereiches des Diamantkörpers nicht größer als mantkörper mit zwei Kontakten auf gegenüberliegendie Weglänge der Ladungsträger im Diamantkörper den Seiten (»Industrial Diamond Review«, Bd. 16 unter der Wirkung des angelegten elektrischen Feldes io [Neue Serie], 1956, S. 12 bis 14, 31, 32, 54, 55, 93, ist. 114, 116, 133 bis 135, 152 bis 154, 174 und 175). Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Aus dieser Literaturstelle entnimmt man auch die Herstellung eines solchen Detektors. ableitbare Regel, daß die Dicke des zwischen beiden Kernstrahlungsdetektoren, die aus einem natür- Kontakten liegenden Arbeitsbereiches des Diamantlichen Diamantkristall mit verringertem Stickstoff- 15 körpers die Weglänge der Ladungsträger im Kristall gehalt (die Konzentration der Stickstoffatome ist ge- nicht übersteigen soll. Die Kontakte werden durch wohnlich geringer als 1019 cm"3) bestehen, der mit Aufbringen (eventuell Aufdampfen) von Metall oder elektrischen Kontakten versehen ist, sind allgemein kollodialer Graphitsuspension hergestellt. Sie dienen bekannt. Wenn an die Kontakte eine Potentialdiffe- zum Anlegen eines elektrischen Feldes an den Krirenz angelegt und der Kristall von einer beliebigen 20 stall. Durch Felderhöhung wird versucht, auf die Seite mit Kernteilchen bestrahlt wird, entstehen in Polarisation Einfluß zu nehmen. Dabei erhalten die ihm Stromimpulse. Diese Stromimpulse rufen im Ladungsträger eine solche Geschwindigkeit, daß sie äußeren Stromkreis Spannungsimpulse hervor, die die Fangstellen im Kristall passieren. Die Literaturverstärkt und von einer entsprechenden Apparatur stelle enthält die abschließende Feststellung, daß das registriert werden. 25 Problem nicht befriedigend gelöst ist. Die Detektoren In der Natur kommt nur eine geringe Anzahl von sind schwer einstellbar, nur für geringe Energien ge-Diamantkristallen vor, die geeignet sind, auf diese eignet, die Effektivität der Zählung ist beschränkt. Weise als Kernstrahlungsdetektor zu dienen; jedoch Eine Diffusion von Donator- oder Akzeptormatesind die Eigenschaften dieser Detektoren verschieden- rial in Si oder Ge (Grundmaterial höchster Reinartig und nicht steuerbar. Derartige Detektoren ver- 30 heit) — wie sie z. B. aus den Literaturstellen fügen über eine schlechte Zählausbeute, sammeln die »Nuclear Instruments and Methods«, Bd. 40, 1966, Ladungsträger, die im Kristall durch die einfallende S. 277 bis 290; deutsche Auslegeschrift 1236 668 Kernstrahlung entstanden sind, unvollständig und und »Ergebnisse der Exakten Naturwissenschaften«, haben ein niedriges Energieauflösungsvermögen. Da Bd. 34, 1962, S. 324 und 331, bekannt ist, läßt sich diese Kristalle zudem einen hohen spezifischen Wider- 35 auf Diamanten nicht übertragen. Der reale Kristall stand aufweisen, entsteht in ihnen außerdem eine enthält vielfältige Abweichungen von der strengen elektrische Polarisation, durch die sich ihre Eigen- Gitterperiodizität. Es ist nur bekannt, Aluminium schäften als Detektoren bei Bestrahlung verschlech- mittels Diffusion in den Diamanten einzuführen tern. Die bekannten Verfahren zur Beseitigung der (W. S. Wasilow u.a.: »Halbleiterdiamanten, die im Polarisation durch Erwärmung oder Bestrahlung mit 40 Verfahren des Ionenbeschusses erhalten worden Licht einer bestimmten Wellenlänge sind praktisch sind«; »Festkörperphysik«, Bd. 8, 1964/1966; desungeeignet und wenig wirksam. Aus diesen Gründen gleichen »International Conference on Applications fanden Detektoren auf Diamantenbasis bisher kaum of Ion Beams to Semiconductor Technology«, Grepraktische Anwendung. noble 1967, S. 353. Die letztgenannten Literatur-Anregungen für die Verwendung von Diamanten- 45 stellen beschäftigen sich nur mit der Möglichkeit der kristallen zur Strahlungsüberwachung sind dem Buch Erzeugung von hochwertigen Schichten vom Leitvon G. Dearnaley und D. C. Northrop: »Semi- fähigkeitstyp η und p. Für den Aufbau eines Detekconductor Counters for Nuclear Radiations«, 2. Auf- tors finden sich keine Anregungen, lage, 1966, S. 111 und 113, zu entnehmen. Die Hin- Die bekannten Detektoren aus Diamant polariweise zur Beseitigung der Polarisation beziehen sich 50 sieren sich — wie vorstehend ausgeführt ist — durchauf die Behandlung mit Licht. Die in dieser Literatur- weg bei Bestrahlung, was mit der Zeit zu einer Verstelle weiterhin auf den Seiten 146, 169, 172 und 173 ringerung der Impulsamplitude und der Zählausbeute beschriebenen Detektoren mit Silizium als Grund- führt.
material weisen einen pn-übergang auf der nicht be- Mit der Erfindung soll ein Detektor auf Diamantenstrahlten Seite auf. Die Spannung wird so an den 55 basis angegeben werden, der unter Verwendung von Detektor gelegt, daß auf die Feldverteilung im Ar- hochohmigen Diamantkristallen und folglich ohne beitsbereich des Detektors Einfluß genommen wird. Verstärkung des Rauschpegels bei Zimmertemperatur Die Neutralisierung der Ladungsträger gegenteiliger und höheren Temperaturen einwandfrei arbeitet und Polarität tritt bei Siliziumdetektoren als Problem gar dabei eine gute Zählausbeute liefert, die Ladungsnicht auf. 60 träger vollständig sammelt und ein hohes Energie-Weiterhin sind die speziellen Vorzüge eines Dia- auflösungsvermögen besitzt und dessen Eigenschaften manten für in der Medizin eingesetzte Detektoren auch bei längerer Bestrahlung unverändert bleiben, bekannt (»Instruments and Experimental Techni- Der Erfindung liegt dabei die Aufgabe zugrunde, ques«, 1961, S. 1048; übersetzt aus »Priborv i durch besondere Ausbildung des Diamantkristalls Tekhnika Eksperimenta«, Nr. 6, Nov.-Dez. 1961, 65 und seiner Kontakte zu erreichen, daß das angelegte S. 5 bis 13). Dort werden zusammenfassend folgende elektrische Feld ein vollständiges Sammeln der Verfahren zur Beseitigung der Polarisation genannt: Ladungsträger gewährleistet, daß eine gute Zählaus-Vorherige langzeitige Bestrahlung mit Elektronen; beute und ein hohes Energieauflösungsvermögen er-
reicht und daß eine elektrische Polarisation verhindert wird.
Dies wird bei einem Kernstrahlungsdetektor der eingangs beschriebenen Gattung erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß der auf der Strahlungseinfallseite des Diamantkörpers angeordnete Kontakt als Sperrkontakt für die im Diamant wirksamen Ladungsträger ausgebildet ist und daß der dem Sperrkontakt gegenüberliegende Kontakt aus einem solchen Material besteht und mit dem Diamantkörper derart verbunden ist, daß er bei angelegtem elektrischen Feld als Ladungsträgerinjektor wirkt.
Weiterhin soll ein Verfahren zur Herstellung derartiger Detektoren angegeben werden.
Der erfindungsgemäß ausgebildete Detektor auf der Basis von Diamant weist einige Vorteile auf, die seinen Einsatz in den für ihn typischen Anwendungsgebieten, z. B. in der Medizin, und besonders bei hohen Temperaturen ermöglichen. Wesentlich ist die Beseitigung bzw. fortlaufende Neutralisierung der Polarisation. Der Sperrkontakt auf der bestrahlten Seite gewährleistet ein ausreichend starkes Feld in der Ionisierungszone und verhindert eine doppelte Injektion in den Kristall. Der erfindungsgemäße Aufbau des Detektors sichert eine vollständige Sammlung der Ladungsträger; Nachteile durch den Raumladungseffekt sind vermieden. Gegenüber den einzigen ebenfalls bei hohen Temperaturen einsetzbaren Detektoren aus SiC weist der erfindungsgemäß ausgebildete Detektor ein besseres Energieauflösungsvermögen, eine höhere Zählausbeute und einen breiteren Bereich auf, in dem er zuverlässig arbeitet.
Wenn der Detektor aus einem Diamanten hergestellt wird, in welchem die Weglänge der Elektronen größer ist als die der Defektelektronen, so soll der Kontakt an der unbestrahlten Seite des Diamantkörpers Defektelektronen injizieren, und an ihn wird ein positives Potential angelegt. Wenn hingegen der Detektor aus einem Diamanten hergestellt wird, in welchem die Weglänge der Elektronen kleiner ist als die der Defektelektronen, so soll der Kontakt an der unbestrahlten Seite Elektronen injizieren, und an ihn wird ein negatives Potential angelegt.
Für den Fall, daß die Forderung nach vollständigem Sammeln der Ladungsträger lediglich bei einer sehr geringen Plattenstärke des Diamantkristalls erfüllbar ist, ist es zur Erhöhung der mechanischen Festigkeit des Detektors vorteilhaft, in einer dicken Kristallplatte eine Vertiefung anzubringen, deren Bodendicke höchstens gleich der Weglänge der Ladungsträger ist.
Wie Versuche gezeigt haben, können als Materialien, die in Verbindung mit Diamant einen Kontakt, den Defektelektronen injizierenden Kontakt bilden, Silber, Gold, Platin oder Graphit verwendet werden. Eine mit Aluminium oder Bor dotierte Oberflächenschicht der Diamantkristallplatte kann gleichfalls als Kontakt dienen.
Als Material, das in Verbindung mit Diamant einen Elektronen injizierenden Kontakt bildet, kann Graphit verwendet werden. Ein solcher Kontakt kann aber auch von einer Oberflächenschicht der Diamantkristallplatte, die mit Phosphor, Lithium oder Kohlenstoff dotiert ist, gebildet werden.
Als Materialien, die einen Sperrkontakt gewährleisten, können Gold, Silber oder Platin verwendet werden. Ein solcher Kontakt kann jedoch auch mit einer graphitierten Oberfläche der Diamantkristallplatte oder mit einer mit Bor, Aluminium, Phosphor, Lithium und Kohlenstoff dotierten Oberflächenschicht der Platte erzeugt werden. Die Bildung eines Sperr- und eines Injektionskontaktes wird nicht nur durch Verwendung von einem der angegebenen Materialien, sondern auch durch Anlegen eines Potentials der entsprechenden Polarität gewährleistet und kann ebenso durch Störung der Kristallstruktur an der Oberfläche der Platte erreicht werden, wie z. B. im Falle der Graphitierung.
Der Sperrkontakt kann durch Metallaufsprühen erzeugt werden. Ein solcher Kontakt arbeitet jedoch nicht zuverlässig. Der Erfindung liegt daher die weitere Aufgabe zugrunde, ein Herstellungsverfahren für den vorgeschlagenen Detektor anzugeben. Die Lösung geht davon aus, daß aus einem Diamantkristall ein Körper, dessen Stärke die Weglänge der Ladungsträger im Kristall nicht übersteigt, ausge-
ao schnitten und dieser an seinen gegenüberliegenden Flächen mit Kontakten versehen wird, und besteht erfindungsgemäß darin, daß der Kristallkörper im Vakuum bei einer Temperatur von 1000 bis 1300° C geglüht und anschließend auf der einen Fläche mit einem Sperrkontakt und auf der anderen Fläche mit einem Injektorkontakt versehen wird. Vorteilhaft wird durch das Glühen die Lebensdauer der Ladungsträger erhöht. Um die Geschwindigkeit der Oberflächenrekombination der Ladungsträger zu verringern, kann man vor dem Anbringen der Kontakte nötigenfalls die geglühte Platte des Diamantkristalls durch Erhitzen in einem sauerstoffhaltigen Medium ätzen.
Zur Bildung des Sperrkontaktes und des Injektionskontaktes trägt man auf beide Seiten der Kristallplatte eine Silber-, Gold- oder Platinpaste auf und erhitzt die Platte bis zu einer Temperatur von 500 bis 700° C und hält sie 2 bis 3 Stunden auf dieser Temperatur, um das Metall einzubrennen.
Zur Herstellung des Sperrkontaktes und des Injektionskontaktes kann man auf beide Seiten der Kristallplatte eine Lösung der Salze eines der Metalle Gold, Silber oder Platin auftragen und die Platte im Verlauf weniger Minuten bis auf eine Temperatur von 500 bis 7000C erhitzen, um die betreffenden Metallverbindungen zu reduzieren.
Zur Herstellung eines Graphitkontaktes, der Elektronen und Defektelektronen injiziert, trägt man auf eine Seite der Diamantkristallplatte eine kolloidale Graphitsuspension auf und erhitzt die Platte ungefähr drei Stunden lang im Vakuum bis auf eine Temperatur von 500 bis 600° C.
Zur Herstellung des Sperrkontaktes dampft man im Vakuum auf eine Seite der Diamantkristallplatte Gold, Silber oder Platin auf. In einer Reihe von Fällen graphitisiert man die Diamantkristallplatte zur Herstellung des Sperrkontaktes vorteilhaft in einem Vakuum von 0,1 Torr durch ungefähr 30 Minuten langes Erhitzen auf eine Temperatur von 1000 bis 1300° C.
Im folgenden wird die Erfindung an Hand der Beschreibung von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt Fig. 1 einen erfindungsgemäß ausgebildeten Detektor,
F i g. 2 einen erfindungsgemäß ausgebildeten Detektor, der eine mit Kontakten versehene Diamantkristallplatte mit einer Vertiefung enthält.
5 6
Der Detektor (F i g. 1) wird von einer Platte 1 ge- verbunden ist, begrenzt. Somit entsteht durch die bildet, die an den gegenüberliegenden Seiten mit Injektionsströme keine wesentliche Leitfähigkeit und Kontakten 2 und 3 versehen ist. Die Platte besteht folglich auch kein Rauschen. Bei einer Störung des aus einem Diamanten, in welchem die Weglänge der Feld- und Ladungsgleichgewichtes innerhalb des Elektronen größer als die der Defektelektronen ist. 5 Kristalls infolge einer Polarisation, die durch die ein-Deshalb ist der Kontakt 2 aus Silber hergestellt, das fallende Kernstrahlung hervorgerufen wurde, stellen in Verbindung mit einem derartigen Diamanten beim jedoch die vom Kontakt 2 injizierten Ladungsträger Anlegen eines positiven Potentials Defektelektronen den ursprünglichen stationären Zustand des Kristalls injiziert. Der gegenüberliegende Kontakt 3, der aus wieder her. Da die erhöhte Bedeutung der Feldstärke Gold gefertigt wurde, ist beim Anlegen eines nega- io in der Ionisationszone bei Verwendung eines Detektiven Potentials ein Sperrkontakt in bezug auf die tors zur Registrierung von Kernstrahlung mit geringer Ladungsträger. Eindringtiefe die Verluste im Elektronenlochplasma Die Kernstrahlung, die von der Seite des Sperr- verringert, wird der Sperrkontakt zweckmäßig an der kontaktes 3 her auf den Detektor auftrifft, ruft eine bestrahlten Seite der Platte 1 angebracht. Ionisation in der Diamantkristallplatte hervor. Die 15 Die Ladungsträger, in diesem Falle Defekteleksich infolge der Ionisation bildenden Ladungsträger, tronen, die sich im angelegten Feld zum Sperrnämlich Elektronen und Defektelektronen, bewegen kontakt 3 bewegen, können ebenfalls an den Haftsich unter der Einwirkung des angelegten Feldes zu stellen aufgefangen werden. Allerdings befinden sich den Kontakten. Dabei bewegen sich die Elektronen diese aufgefangenen Defektelektronen in einer Ionizum Kontakt 2 und die Defektelektronen zum Kon- 20 sationszone und können von Ladungsträgern mit takt 3. entgegengesetztem Vorzeichen, d. h. von Elektronen
Die Dicke der Kristallplatte 1 ist nicht größer als neutralisiert werden.
die Weglänge der Ladungsträger im Diamantkristall Dadurch, daß die Dicke der Diamantkristallplatte unter der Einwirkung des angelegten Feldes. Für nicht größer als die Weglänge der Ladungsträger ist, Detektoren, die die Ladungsträger vollständig sam- 25 und dadurch, daß das Kontaktsystem entsprechendermein sowie ein hohes Energieauflösungsvermögen weise ausgewählt ist. sammelt der erfindungsgemäß und eine gute Zählausbeute aufweisen sollen, muß ausgebildete Detektor die Ladungen vollständig und die Bedingung d < δ — μτΕ eingehalten werden, wird auch bei längerer Bestrahlung nicht polarisiert, worin μ die Beweglichkeit der Ladungsträger, τ die Analog dazu kann ein Detektor aus Diamant-Lebensdauer der Ladungsträger, E die Stärke des 30 kristall hergestellt werden, in welchem die Weglänge angelegten Feldes, δ die Entfernung, die von den der Elektronen geringer als die der Defektelektronen Ladungsträgern unter der Einwirkung des angelegten ist. Ein solcher Detektor unterscheidet sich vom zuFeldes zurückgelegt wird, und d die Plattendicke des vor beschriebenen dadurch, daß der Kontakt an der Diamantkristalls ist. bestrahlten Seite in bezug auf die Elektronen der Es ist bekannt, daß in Diamanten, in denen die 35 Sperrkontakt ist und an ihn ein positives Potential Konzentration der Stickstoffatome, die durch die op- angelegt wird, während der gegenüberliegende Kontische Absorption bei einer Wellenlänge von 7,8 μΐη takt Elektronen injiziert und an ihn ein negatives bestimmt wird, niedriger als 1019 cm~3 ist, die Be- Potential angelegt wird.
weglichkeit der Elektronen bei Zimmertemperatur Der in Fig. 2 gezeigte Detektor ist aus einer ungefähr 2000 cm2/Vsec und die der Defektelektro- 4° Diamantkristallplatte, deren Dicke um vieles größer nen 1500 cm2/Vsec beträgt. Die Lebensdauer der als die Weglänge der Ladungsträger ist, angefertigt. Ladungsträger in reinsten Diamantkristallen liegt im Infolgedessen wird in der Diamantkristallplatte eine Bereich von 10~9 bis 10~8 Sekunden. Untersuchun- Vertiefung erzeugt, deren Bodendicke nicht größer gen haben ergeben, daß sich in starken elektrischen als die Weglänge der Ladungsträger ist. Dieser Feldern bei Zunahme des Feldes die Beweglichkeit 45 Detektor arbeitet analog dem oben angeführten, verder Elektronen und der Defektelektronen im Diamant fügt aber über eine erhöhte mechanische Festigkeit verringert, und zwar zunächst proportional E~m und infolge des stärkeren Umfangsbereichs und ist in dann, beginnend bei einer Feldstärke von 10* V/cm, seiner Handhabung bedeutend bequemer, proportional E~1 für Elektronen bei Zimmertempe- Der oben beschriebene Diamantdetektor ist aus ratur. Somit trifft für die Driftgeschwindigkeit, die 50 natürlichem Diamant mit einem Stickstoffgehalt von gleich μΕ ist, in starken Feldern Sättigung ein, deren weniger als 1019 Atome cm~3 hergestellt. Die AusGrenzwert für Elektronen bei Zimmertemperatur wahl der Kristalle für die Detektorherstellung wird gleich 107 cm/Sek. ist. Folglich beträgt bei einer nach Abschätzung der mittleren Lebensdauer der Lebensdauer der Ladungsträger von 10~8 Sekunden Ladungsträger im Kristall durch Messen des Photodie optimale Dicke der Diamantkristallplatte für 55 stromes bei einer Wellenlänge von 250 miim durcheinen alle Ladungsträger sammelnden Detektor 0,2 geführt. Die Photoleitfähigkeit hat bei der Wellenbis 0,3 mm. Bei kürzerer Lebensdauer der Ladungs- länge von 250 mum Störstellencharakter, und der träger muß die Diamantkristallplatte eine geringere optische Absorptionskoeffizient der Proben liegt bei Dicke haben, die nach der oben angeführten Formel dieser Wellenlänge im Intervall von 5 bis 15 cm"1, bestimmt wird. 60 Unter diesen Bedingungen kann man mit einer Ge-Bei der Bewegung der Elektronen zum Kontakt 2 nauigkeit von 50% davon ausgehen, daß das Licht bleibt ein kleiner Teil an Haftstellen, die im Kristall in den Kristallen vollständig absorbiert wird, immer anwesend sind, haften. Infolgedessen wird die Somit kann man aus der Größe des Photostromes Diamantkristallplatte polarisiert. Der injizierende die für den Kristall maßgebende mittlere Lebens-Kontakt 2 ist zur Beseitigung der Polarisation vor- 65 dauer abschätzen, ohne den Absorptionskoeffizienten gesehen. Weil im Diamant tiefliegende Haftstellen zu messen. Für die Herstellung von Detektoren werexistieren, sind die Injektionsströme vom Kontakt 2 den Kristalle mit einer mittleren Lebensdauer von durch die Raumladung, die mit diesen Haftstellen mehr als 10 ~9 Sekunden ausgesucht.
Die auf diese Weise ausgesuchten Kristalle werden in Platten mit einer Dicke von 0,1 bis 0,3 mm zerschnitten. Nach dem Schneiden werden die Kristalle in einem Vakuum von 10~6Torr 6 bis 8 Stunden lang bei einer Temperatur von 1000 bis 1300° C geglüht. Durch die Wärmebehandlung wird die Lebensdauer der Ladungsträger wesentlich erhöht.
Die Lebensdauer der Ladungsträger in den geglühten Platten schätzt man nach der zuvor erwähnten Methode bei Wellenlängen von 225 und 220 πΐμΐη ίο ab. Bei diesen Wellenlängen beginnt im Diamant die Kantenabsorption. Die entsprechenden Absorptionskoeffizienten betragen 20 bzw. 1000 cm"1. Aus der Größe des Photostromes bei der Wellenlänge von 225 πΐμπι wird die für den Kristall maßgebende mittlere Lebensdauer abgeschätzt, während man bei der Wellenlänge von 220 πΐμΐη (die Eindringtiefe des Lichtes beträgt ungefähr 20 μΐη) den Einfluß der Oberflächenrekombination auf die Größe der Photoleitfähigkeit abschätzt. ao
Für die weitere Bearbeitung sucht man Platten mit einer mittleren Lebensdauer von etwa 10~8 Sekunden und mehr aus.
In einer Reihe von Fällen erweist sich die Oberflächenrekombination als wesentlich. Eine Verringerung der Oberflächenrekombinationsrate wird durch Ätzen der Proben mit Sauerstoff bei einer Temperatur von 800 bis 900° C unter atmosphärischen Bedingungen im Verlaufe einiger Minuten erreicht. Wenn die Diamantplatte nach dem Zerschneiden, Glühen und Ätzen dicker ist als für das vollständige Sammeln der Ladungen notwendig ist, vermindert man die Dicke der Platte beispielsweise durch Polieren, Schleifen oder Ätzen bis zum gewünschten Wert. Nach einer solchen mechanischen Bearbeitung wird die Kristallplatte wieder der oben angeführten Wärmebehandlung und Ätzung unterworfen.
Auf eine derart vorbereitete Platte trägt man die Kontakte auf. Das einfachste Herstellungsverfahren zur Bildung eines Kontaktes, der Defektelektronen injiziert, besteht im Auftragen von Silberpaste auf der einen Seite der Platte, die anschließend unter Atmosphärendruck bei einer Temperatur um 600° C 2 bis 3 Stunden lang eingebrannt wird. Zur Herstellung des Sperrkontaktes auf der gegenüberliegenden Seite der Platte dampft man im Vakuum bei Zimmertemperatur Gold auf.
Auf analoge Weise kann man einen Kontakt, der Defektelektronen injiziert, auf der einen Seite der Platte durch Einbrennen einer Paste aus Gold oder Platin herstellen. Außerdem kann man einen Kontakt, der Defektelektronen injiziert, durch Reduktion von Platin, Silber oder Gold aus einer Lösung ihrer Salze bilden, indem man die Diamantkristallplatte, auf die die Lösung aufgetragen wird, einige Minuten lang bis auf eine Temperatur von 500 bis 7000C erhitzt.
Zur Herstellung eines Graphitkontaktes, der Elektronen und Defektelektronen injiziert, trägt man auf eine Seite der Diamantkristallplatte eine kolloidale Graphitsuspension auf und erhitzt die Platte im Vakuum ungefähr 3 Stunden lang auf 500 bis 6000C. Dann dampft man an der gegenüberliegenden Seite zur Herstellung eines Sperrkontaktes Gold auf.
In einigen Fällen wird der Sperrkontakt auch so hergestellt, daß man die Diamantkristallplatte durch Erhitzen in einem Vakuum von 0,1 Torr bei einer Temperatur von 1000 bis 1300° C ungefähr 30 Minuten graphitisiert. Danach entfernt man die entstandene Graphitschicht von einer Seite, trägt darauf eine kolloidale Graphitsuspension auf und erhitzt die Platte im Vakuum bis auf eine Temperatur von 500 bis 600° C, um den injizierenden Kontakt herzustellen. Ebenso kann man den injizierenden Kontakt nach Entfernung der obenerwähnten Schicht herstellen, indem man in der oben angegebenen Weise im Vakuum eine Paste aus Silber einbrennt.
Der erfindungsgemäß ausgebildete Kernstrahlungsdetektor aus Diamant besitzt eine Reihe von Vorzügen. Er kann Kernteilchen mit einer Reichweite bis zu 2 · 10~2 cm registrieren und ist bei Zimmertemperatur und höheren Temperaturen funktionsfähig. Außerdem weist er ein hohes Energieauflösungsvermögen, das bei Zimmertemperatur 7% beträgt, sowie eine Zählausbeute von 100% auf und gewährleistet eine vollständige Sammlung der Ladungsträger, wobei er sich auch bei langanhaltender Bestrahlung nicht polarisiert.

Claims (21)

Patentansprüche:
1. Kernstrahlungsdetektor, bestehend aus einem Diamantkörper mit zwei an gegenüberliegenden Flächen desselben angebrachten Kontakten, von denen einer für das Anlegen eines positiven Potentials und der andere zum Anlegen eines negativen Potentials dient, wobei die Dicke des zwischen beiden Kontakten liegenden Arbeitsbereiches des Diamantkörpers nicht größer als die Weglänge der Ladungsträger im Diamantkörper unter der Wirkung des angelegten elektrischen Feldes ist, dadurch gekennzeichnet, daß der auf der Strahlungseinfallseite des Diamantkörpers (1) angeordnete Kontakt als Sperrkontakt (3) für die im Diamant wirksamen Ladungsträger ausgebildet ist, daß der dem Sperrkontakt (3) gegenüberliegende Kontakt (2) aus einem solchen Material besteht und mit dem Diamantkörper (1) derart verbunden ist, daß er bei angelegtem elektrischen Feld als Ladungsträgerinjektor wirkt.
2. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 1 mit einem Körper aus einem Diamant, in dem die Weglänge der Elektronen größer als die der Defektelektronen ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Ladungsträger injizierende Kontakt (2) aus einem Material besteht, das in Verbindung mit dem Diamant als Defektelektroneninjektor wirkt, und daß dieser Kontakt (2) zum Anlegen des positiven Potentials dient.
3. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 1 mit einem Körper aus einem Diamant, in dem die Weglänge der Elektronen kleiner als die der Defektelektronen ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Ladungsträger injizierende Kontakt (2) aus einem Material besteht, das in Verbindung mit dem Diamant als Elektroneninjektor wirkt, und daß dieser Kontakt (2) zum Anlegen des negativen Potentials dient.
4. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Diamantkörper (1') auf der mit der einen (2') der Elektroden versehenen Seite eine Vertiefung aufweist und daß seine Dicke zwischen dem Boden der Vertiefung
109 532/238
und der anderen Elektrode (3) nicht größer ist als die Weglänge der Ladungsträger im Diamant (Fig. 2).
5. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) aus einer durch Erhitzen des Diamants gebildeten Graphit-Oberflächenschicht des Diamantkörpers (1) besteht.
6. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ladungsträger injizierende Kontakt (2) aus Graphit besteht.
7. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Defektelektronen injizierende Kontakt (2) aus Silber bestehen.
8. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Defektelektronen injizierende Kontakt (2) aus Gold bestehen.
9. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 2, ao dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Defektelektronen injizierende Kontakt (2) aus Platin bestehen.
10. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) «5 und der Defektelektronen injizierende Kontakt
(2) durch Dotierung der betreffenden Oberflächenschichten des Diamantkörpers (1) mit Bor gebildet sind.
11. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt
(3) und der Defektelektronen injizierende Kontakt (2) durch Dotierung der betreffenden Oberflächenschichten des Diamantkörpers (1) mit Aluminium gebildet sind.
12. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Elektronen injizierende Kontakt (2) durch Dotierung der betreffenden Oberflächenschichten des Diamantkörpers mit Phosphor gebildet sind.
13. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Elektronen injizierende Kontakt (2) durch Dotierung der betreffenden Oberflächenschichten des Diamantkörpers mit Lithium gebildet sind.
14. Kernstrahlungsdetektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Sperrkontakt (3) und der Elektronen injizierende Kontakt (2) so durch Einlagerung von Kohlenstoff in die betreffenden Oberflächenschichten des Diamantkörpers (1) gebildet sind.
15. Verfahren zur Herstellung eines Kernstrahlungsdetektors nach einem der Ansprüche 1 bis 14, bei dem ein aus Diamant in einer Stärke, die die Weglänge der Ladungsträger im Diamant nicht übersteigt, hergestellter Körper an gegenüberliegenden Flächen mit Kontakten versehen wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Körper im Vakuum bei einer Temperatur von 1000 bis 1300° C geglüht und anschließend auf der einen Fläche mit einem Sperrkontakt und auf der anderen Fläche mit einem Injektorkontakt versehen wird.
16. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß der geglühte Diamantkörper zur Verringerung der Oberflächenrekombinationsrate vor dem Anbringen der Kontakte durch Erhitzen in einem sauerstoffhaltigen Medium geätzt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß auf beide Kontaktflächen des Diamantkörpers eine eines der Metalle Silber, Gold oder Platin enthaltende Paste aufgetragen und anschließend der Körper bis auf eine Temperatur von 500 bis 700° C erhitzt und das Metall der Paste zur Herstellung des Kontaktes und des Injektionskontaktes eingebrannt wird.
18. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß auf beide Kontaktflächen des Diamantkörpers eine Lösung eines Salzes der Metalle Silber, Gold oder Platin aufgetragen und anschließend der Körper bis auf eine Temperatur von 500 bis 700° C erhitzt wird, wobei das Metall zur Herstellung des Sperrkontaktes und des Injektionskontaktes reduziert wird.
19. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß auf eine Fläche des Diamantkörpers der Sperrkontakt aufgebracht und anschließend auf die gegenüberliegende Fläche eine kolloidale Graphitsuspension aufgetragen wird und daß der Körper dann zur Bildung des Injektionskontaktes im Vakuum bis auf eine Temperatur von 500 bis 600° C erhitzt wird.
20. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Diamantkörper zur Herstellung des Sperrkontaktes durch Erhitzen im Vakuum oberflächlich graphitisiert wird und daß anschließend von einer der Flächen die Graphitschicht entfernt und statt dessen eine kolloidale Graphitsuspension aufgetragen wird, worauf die Platte zur Herstellung des Injektionskontaktes im Vakuum bis auf eine Temperatur von 500 bis 600° C erhitzt wird.
21. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Diamantkörper zur Herstellung des Sperrkontaktes durch Erhitzen im Vakuum oberflächlich graphitisiert und daß anschließend von einer der Flächen die Graphitschicht entfernt und statt dessen eine Silber-, Gold- oder Platinpaste aufgetragen wird, worauf der Körper im Vakuum bis auf eine Temperatur von 500 bis 7000C erhitzt und das Metall der Paste zur Herstellung des Injektionskontaktes eingebrannt wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
DE19681764066 1967-03-29 1968-03-28 Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung Pending DE1764066B1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1144951 1967-03-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1764066B1 true DE1764066B1 (de) 1971-08-05

Family

ID=20440385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19681764066 Pending DE1764066B1 (de) 1967-03-29 1968-03-28 Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3665193A (de)
JP (1) JPS5020468B1 (de)
BE (1) BE712957A (de)
DE (1) DE1764066B1 (de)
FR (1) FR1601100A (de)
GB (1) GB1205115A (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3858047A (en) * 1968-09-27 1974-12-31 S Kozlov Device for measuring the rate of energy loss and for detecting ionizing nuclear radiations against gamma-radiation background
JPS5378677A (en) * 1976-12-21 1978-07-12 Fuji Electric Co Ltd Apparatus for treating waste
JPS55104659A (en) * 1979-02-05 1980-08-11 Kouichi Nagata Grinder
JPS56151656U (de) * 1980-03-27 1981-11-13
NL8006321A (nl) * 1980-11-19 1982-06-16 Eduard Anton Burgemeister Werkwijze en inrichting voor het detecteren van ioniserende straling.
IL81537A (en) * 1986-02-24 1991-05-12 De Beers Ind Diamond Method and synthetic diamond detector for detection of nuclear radiation
ZA874362B (en) * 1986-06-20 1988-02-24 De Beers Ind Diamond Forming contacts on diamonds
JPS6385487A (ja) * 1986-09-30 1988-04-15 Toshiba Corp 放射線検出器
US4888483A (en) * 1987-10-27 1989-12-19 Grobbelaar Jacobus H Diamond radiation probe
GB8902443D0 (en) * 1989-02-03 1989-03-22 Jones Barbara L Radiation detector
US5079425A (en) * 1990-01-10 1992-01-07 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Radiation detecting element
JPH05891A (ja) * 1991-06-21 1993-01-08 Canon Inc ダイヤモンド−金属接合体
EP1468309B1 (de) 2002-01-25 2007-08-08 Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH Detektor zur erfassung von teilchenstrahlen und verfahren zur herstellung desselben
FR2875014B1 (fr) * 2004-09-03 2006-12-01 Commissariat Energie Atomique Detection a base de diamant synthetique
US8642944B2 (en) * 2007-08-31 2014-02-04 Schlumberger Technology Corporation Downhole tools with solid-state neutron monitors
JP7257312B2 (ja) * 2019-11-21 2023-04-13 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 放射線計測装置、放射線計測システム及び放射線計測方法
CN114063140B (zh) * 2021-11-16 2023-12-05 郑州工程技术学院 一种消除极化效应的金刚石中子探测器的制备方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1236668B (de) * 1961-02-14 1967-03-16 C S F Cie Generale De Telegrap Silizium-Halbleiterdiode zum Nachweis von Alphateilchen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1236668B (de) * 1961-02-14 1967-03-16 C S F Cie Generale De Telegrap Silizium-Halbleiterdiode zum Nachweis von Alphateilchen

Also Published As

Publication number Publication date
US3665193A (en) 1972-05-23
BE712957A (de) 1968-09-30
GB1205115A (en) 1970-09-16
FR1601100A (de) 1970-08-10
JPS5020468B1 (de) 1975-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1764066B1 (de) Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung
DE1794113C3 (de) Verfahren zum Eindiffundieren von Fremdalomen in Siliciumcarbid
DE2160427C3 (de)
DE2258444B2 (de) Verfahren zur Herstellung von elektrisch isolierenden Zonen in einem Halbleiterkörper
DE2755500A1 (de) Solarzelle und verfahren zu ihrer herstellung
DE2354523C3 (de) Verfahren zur Erzeugung von elektrisch isolierenden Sperrbereichen in Halbleitermaterial
DE1024640B (de) Verfahren zur Herstellung von Kristalloden
DE2631881A1 (de) Verfahren zur herstellung einer halbleitervorrichtung
DE1544275A1 (de) Herstellung von Halbleitervorrichtungen
DE3508469A1 (de) Verfahren zum strukturieren von auf einem transparenten substrat aufgebrachten schichtfolgen
DE2448478A1 (de) Verfahren zum herstellen von pn-halbleiteruebergaengen
DE2449542B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer amorphen Schicht auf einem Halbleitersubstrat
DE19808246B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikroelektronischen Halbleiterbauelements mittels Ionenimplatation
DE2628406A1 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung
DE1764066C (de) Kernstrahlungsdetektor aus Diamant und Verfahren zu dessen Herstellung
DE2606994A1 (de) Photodetektor und verfahren zu seiner herstellung
DE2924569C2 (de) Halbleiterdetektor aus hochreinem Grundmaterial, insbesondere Germanium
DE1564406C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung und danach hergestellte Halbleiteranordnung
DE2253683A1 (de) Ionengespickter widerstand und verfahren zum herstellen eines derartigen widerstands
DE1589527A1 (de) Halbleiter-Dosimeter
DE19808245C1 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikroelektronischen Halbleiterbauelements
DE2424908C2 (de)
DE2631880A1 (de) Halbleiterbauelement mit schottky- sperrschicht und verfahren zu seiner herstellung
DE3033457C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer einen PN-Übergang aufweisenden Infrarot-Detektoranordnung
DE2837653A1 (de) Verfahren zur lokal begrenzten erwaermung von festkoerpern

Legal Events

Date Code Title Description
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977