DE1741384U - Einrichtung fuer mikroskopische beobachtung. - Google Patents
Einrichtung fuer mikroskopische beobachtung.Info
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Description
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JNrichtun.fRmikro Eeobacinhms ',/enn es sic wa. ie m&rosopiseae Untcrsuoimns Bremen a. -clt, die eine giftige SLmation'besitzen ode dem sumsest-* licnOrgaisaG ssdliche Strahlung Tjio s. B D n-tgen-*oder G. : cj. ; irahlen eBiiticren, so ict eine mie-mi . es Leobacii-*. tci ? au dac ikrocop auf die bein I. 'beitsn an diesen Gerät uLlicue DitRs siel. t mlich* I-Ins ziuö dnn s'isalien d-s HUero- o mi den cotGr nicht nur eine cisse, ist. : msy sondm . -it a'nch cino den jobachter ch. tscn. c L'cd o2er 'auer aue : Dlei GCar--'cton und Mitteln s'l. er Pembedienuns ö. es Uikroskopcs Dien. LL, sind sirciche lrnbcdienmlttel ? . e : jeilsge ... '.'LnGt cbl un Sismr. dü'berscizunj&n u. dl< für anz be- ti. . tc inscifstioncn -ie Obkti'v'-cöcr rpai'&tacnsel, 2cili-oLc---ucv.. beka=t Lrei'. en eiizes rc-oder Ic. ini-iGbcintellTms, Uii-nlentettiun us ? ;.'bekannt cv. orJcn. Uivrccilcro Zittel sind weiter Creiertc mit 'T. < :. : j !. ni nich-b nur eine bcstiamic, concern Terc. e ! iicd. nariige 'aKiulationen Y ; ic'ysrctcllen eies SchiebeH Erchen eines fccl'nnd rcetklocn einer Schraube au&mnren l : m. : tctc aber bleibt die chwieieeìt der Lediemmg der llc'. tClnnsöinyiciit'nss eiiersei-bs uuJ der BecchtMtß d<m mikroskopischen Bildes anderseits bestehen. Denn das Auswechseln undScntricren einer S-luh-oder einer Gasentladungslampe ist selbstmit einem fernbedienten reiwer&seug. kaum möglich und ur Lufnahmc dec Dilde unmittelbar am iroskop. körnst aus dn einjans angeführten runden nur der teure Umweg uer eine Fern- ucheinrichtung in Frage. Die genannten Schwierigkeiten werden durch die vorliegende Jucun behoben. Sie bezieht sich auf eine inriohtung für ikockop1sce Untorûuohungeu, 1m eccntlichen pcGtehGnd aus eines, ikroskop einer Dcleuchtunsseinricntun mit Lichtquelle undollctor und einer AufnaRmevorristun für da& Biroeko pische bild. die dadurch gekennzeichnet iGt, dsS eine Zwischen- optik zwischen die Lichtquelle und as. Mikroskop und/oder eine itcrc Swiclicncptil : zwischen da. Lirosop und die ildauf- iot,cingesensitet iat cc swor, ds sowohl die ictucllo de au&h die ildaufnah&einrichtung in einer Ent- vorvonL'lrosap angeordnet-werden onnen die roS ist enü. ber der yennwcite des Sampenkolle&tors bzv der Bildweit UcL.-irockopes. ie CrSe dieser Lnifernung'betrat in sll einU : cl*rs, elics der rennwoite es Sanpenolletors'bj<w. der Zlldwcite des Liroskops und wird tci besondere dicken snsorungen bcehirmwanden oder aueMt sogar ein ehec Viel- a. cheo dieser Lrenaciten erreichen. Lesendes ; t r torl evetf T.cniCE-tons eine der beiden Swischenpptiken aa toleskcpischs mitaec,". i>CrgrUßeeung,-, : Caktor 1 Vorteil eJLnos solchen Systems liet'bekanntlich darin daß ec den ganzen Inverzerrungsfrei in den lildrcs überfuhrt. Auf den verlierenden all angewendet, ergibt eich eine VcrrSBerua en der ntfemng gas ierfaen er Brensweit/gegsnüber den Einzel-linsen des Systeme. Ferner ist emä der Neuerung noch vorteilhaft 4en Strailnrerlaizwischen Lichtquelle tmd iros&cp md/eder zwi,-,SliTcroskop nd Ml midetens einmal aswinkea wl dadurchder'BQ-ob-achteir aueh vor jenem Toll der Strahlung mit Sicherheit gesebnzt ist der durch die Kiscsnoptik selbst hind'ar-chtra-ten könnte. Eine-Aefhrusgsform der Neuerjm, n. &w. für die'Snter- suohMm im attff blenden Mhi mit Hilfe ina Hirosepss strzier Baäri ist in ig t ia. &sfrij3.-üsd in Big. 2 im G ß dageg DasNikrosop t on dem der Tisch 2 mit dem zu Tmter" suchendenBraparat 3, das Objekti 4, der BeleoMnungssnsat 5 und der Beoaöhtungstbns 6 dargestellt sind steht inBerhalb des dicken Bleipanzerß T* Bie FernbediesHNg&eleasst& ür @rob und Feintriebeinstellung, Objekti-Twecbzele : tür die Betätigual ; von Feld-und uadAperturblende larisator umd Analysator, tsßt< sind de-r Übersichtliahkeit halber : Ln den nleht, gezei-Ohnft. ; Beinormalee Arbeitsweise eiUnde dle liehtzluelle bei 8 und der nicht angedeutete Kollektor der Blectmgseinrichtung entri am Eingang des BeleHChtsngsr&res, etwa bei 9, ein Bild der ichtquelle, wahrend das ikrosk&ßisohe SiM innerhalb ds Be- bachtusgatbusetwa bei TO ststünde und dort mitteis ine inden Tubus'-e1nschiebbaran-Okulares beobaoh-tet vlerden könnte. Imvorliegenden Fall ist aber die ientquelle links aSerhal dee Bleipanz&ra'bi t angeordnet, r olleMor $ entwirft bei ein reellem Bild der mtell Bm dieses Bild vn 1 nach 9 transprtiern it die im or 4 ntergerate aus i@ asn 15 ic : ß3 ? Breaneit& bestehende Zwisoaneptik veresehen. Diese inen 1$ sind ewel im Abstand der dplten Brennweite voneinander vomkmier te Uer ein i o- pt ism kg ! m das Bild der ictqele von 13 B. a bringen ; 3R&S äamae e<Mt d Idsswa 15 eine. Bemiit besitzen die einem A&hal es Abstandes ißö 13 ach gleist, ist (insesdisk veyn&eassigt uroh i$s Anordnung irä erreiM daS i BeeehtKags ? erhätniase sind, als ob die lehqueHe in $ angeordnet warc doch ist dieaußexüalb des gleipanzera liegend ohneShieigkeiten eieabay. Auch in ameseeL. sei bietet keinerle : L hnlieh ie anl dey Beleuchtungaseite wird auf der AttM- duagsseite das bei 0 entstehens mireskoiseha 311 Mro&i imSehr 16 untergebrachte Zwisehnopti& bestehend aus den bßide Linset gleicher Brnnwei & t ? 9h 18 tranprtiert und dt außerhalb des Eleipnzrs" ? durch das Okular 19-beobaehtetg photgsphiet oder preiaiert Wieder sind die ides. Linsen im Abstand dr doppelten Breneite voneinander aufgestellt (bildenalso eirz Svztem> =d die Distanz iron 1 h det t-£ach eg ist nach 18 iEt Icic de4-9. e. en LinenbresRweit. 1be3*di-es ist eine. Abwinkelng des'Strahlenganges, da-reh den Spiegsl 20 vorgesehen ec da. 8 die vom Bräßral 5 sasgehends trahlaBg ZwSchenopt ttet nicht auf direktem Weg dsrch. die die Abbildung Termittelnd Zwischenoptik a. us dem Bleipanay austreten kann< Es versteht sich von selbst, daß die Neuerung in"'. Z'SOh2"". denartigeter Weise abgewandelt wenden kann. Z. S< läßt is di Abwinkelung des Dcleuchtungs tmd/ader des bildungsstrahlen- Z=, ges se ges-talteeg, daU der Beobaehter"vae dem Okalar 19 sitzende die BelenehtonjgseinriehtEg /t2 in Reichweite ht md -so wie dies sch bei einem normalen Mikroskop der Ball. tat- dieBcleuhtan während de ? Beobachtung einregeln kanSt Si ähnlicher Effekt läßt sieh auch durch doppelte binkelung des Abbildungsstrahlenganges erreichen. so daß das Okular 19 In die Nahe der BeleuchiungseiRriohang i sie ia. dan Figuren ge * , n4 ! nden k=n auch zumindes-t zeichnet ist.. komm. Aus Sicherheitsgründen kann aGh zumindest derAbbildunssrahlengang mehrfach &bgeeiBkelt sein, Bbense ist die der Erfindung nl-cht auf Auflichtmikroekope oder aufnikroskope gestürzer Bauar beschränkt, ferner konaen di telezkopischen iiinzenaysteme 15 und 17 auch aus einer greßeren Anzahl das teleskopische System 15 anch aa einer kleineren Ansah ! vom inzellinsen beshen.
Claims (3)
- S c h u t z a n s p r ü c h e : 1. Einrichtung für mikroskopische Beobachtung, die aus einem Mikroskop, einer Beleuchtungseinrichtung mit Lichtquelle und Kollektor sowie einer Bildaufnahmeeinrichtung besteht, dadurch gekennzeichnet, daß eine Zwischenoptik zwischen die Lichtquelle und das Mikroskop und/oder eine weitere Zwischenoptik zwischen das Mikroskop und die Bildaufnahmeeinrichtung derart eingeschaltet ist, daß sowohl die Lichtquelle als auch die Bildaufnahmeeinrichtung in einer Entfernung vom Mikroskop angeordnet werden können, die groß ist gegenüber der Brennweite des Lampenkollektors bzw. der Bildweite des Mikroskopes.
- 2. Einrichtung für mikroskopische Beobachtung nach Anspruch dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine Zwischenoptik als teleskopisches System mit dem Vergrößerungsfaktor 1 ausgeführt ist.
- 3. Einrichtung für mikroskopische Beobachtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenverlauf zwischen Lichtquelle und Mikroskop bzw. zwischen Mikroskop und Bildaufnahmeeinrichtung mindestens einmal abgewinkelt ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DER13885U DE1741384U (de) | 1957-01-19 | 1957-01-19 | Einrichtung fuer mikroskopische beobachtung. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DER13885U DE1741384U (de) | 1957-01-19 | 1957-01-19 | Einrichtung fuer mikroskopische beobachtung. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE1741384U true DE1741384U (de) | 1957-03-14 |
Family
ID=32727558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DER13885U Expired DE1741384U (de) | 1957-01-19 | 1957-01-19 | Einrichtung fuer mikroskopische beobachtung. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1741384U (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1214431B (de) * | 1964-02-21 | 1966-04-14 | Kernforschung Gmbh Ges Fuer | Fernbedienbares Mikroskop fuer die Untersuchung radioaktiver Gegenstaende in abgeschirmten Raeumen |
-
1957
- 1957-01-19 DE DER13885U patent/DE1741384U/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE1214431B (de) * | 1964-02-21 | 1966-04-14 | Kernforschung Gmbh Ges Fuer | Fernbedienbares Mikroskop fuer die Untersuchung radioaktiver Gegenstaende in abgeschirmten Raeumen |
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