DE1596820C2 - Glas auf der Basis von ZnO-B tief 2 O tief 3 -SiO tief 2 mit einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten von 44,5 bis 44,8.10 hoch -7 / Grad C (0-300 Grad C) und seine Verwendung - Google Patents
Glas auf der Basis von ZnO-B tief 2 O tief 3 -SiO tief 2 mit einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten von 44,5 bis 44,8.10 hoch -7 / Grad C (0-300 Grad C) und seine VerwendungInfo
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Description
Durch die starke Verkleinerung von Dioden, die einen Siliciumkristall enthalten, ist es möglich, solche
Dioden zum Schutz gegen mechanische Beschädigungen und zur Abdichtung gegen störende Verunreinigungen,
wie Wasserdampf aus der Atmosphäre, sowie zur Stabilisierung der elektrischen Eigenschaften mit Glas
einzukapseln. Ein zum Überziehen solcher Halbleitervorrichtungen geeignetes Glas muß jedoch einen
solchen Ausdehnungskoeffizienten besitzen, daß die verschiedenen Bestandteile der Halbleitervorrichtung
hermetisch abgedichtet werden. Außerdem muß ein solches Glas in flüssigem Zustand die Oberflächen der
elektrisch leitenden Teile benetzen und in der Lage sein, sich innerhalb eines Temperaturbereiches, der
für die anderen Bestandteile der Halbleitervorrichtung unschädlich ist, verformen zu lassen. Auch darf das
Glas die elektrischen Eigenschaften der Halbleitervorrichtung nicht verschlechtern, und es muß widerstandsfähig
gegen Temperaturen sein, die auftreten, wenn die Halbleitervorrichtung mit anderen Ein-■richtungen
verlötet wird.
Aufgabe der Erfindung war es daher, Gläser zu bekommen, die insbesondere als Werkstoff zum
Überziehen einer einen monokristallinen Körper enthaltenden Halbleitervorrichtung, wie einer Diode,
verwendet werden können und dabei eine dauerhafte Schutzabdichtung und einen passivierenden Überzug
biläe\i.
Das Glas nach der Erfindung besteht aus 60 Gewichtsprozent Zinkoxid (ZnO), 23 bis 25 Gewichtsprozent
Boroxid (B2O3), 9,4 bis 10,5 Gewichtsprozent
Kieselsäure (SiO2), 3 Gewichtsprozent Ceroxid (CeO2),
O bis 0,1 Gewichtsprozent Wismutoxid (Bi2O3), "2 bis
3 Gewichtsprozent Bleioxid (PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3).
Diese Gläser haben folgende Eigenschaften:
Fadenerweichungspunkt .. 635 bis 637° C
Liquidustemperatur 1030 bis 10750C
Thermischer Ausdehnungskoeffizient (0 bis 3000C) .. 44,5 bis
44,8 · 10-7/°C
Elektrischer Widerstand
Elektrischer Widerstand
log. 10 Ohm/cm 3500C : 11,0
Elektrischer Widerstand
■ - log. 10 Ohm/cm 3000C 12,0
Elektrischer Widerstand
log. 10 Ohm/cm 2500C 13,1 bis 13,3
Dielektrizitätskonstante bei Zimmertemperatur und 1 MHz-Frequenz 8,1
Dielektrischer Verlustfaktor bei Zimmertemperatur und 1 MHz-Frequenz
:.... 0,00138 bis 0,00145
Prozent Borsäure (B2O3), 9,4 Gewichtsprozent Kieselsäure
(SiO2), 3 Gewichtsprozent Ceroxid (CeO2),
0,1 Gewichtsprozent Wismutoxid (Bi2O3), 2 Gewichtsprozent
Bleioxid (PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3). Dieses Glas hat folgende
Eigenschaften:
Fasererweichungspunkt 635° C
Liquidustemperatur 10300C
Thermischer Ausdehnungskoeffizient
(0 bis 3000C) 44,5 · 10-7/°C
Elektrischer Widerstand
log. 10 Ohm/cm 3500C 11,0
Elektrischer Widerstand
log. 10 Ohm/cm 3000C 12,0 -
Elektrischer Widerstand
log. 10 Ohm/cm 2500C 13,3
Dielektrizitätskonstante bei Zimmertemperatur und 1 MHz-Frequenz ..." 8,1
Dielektrischer Verlustfaktor bei Zimmertemperatur und 1 MHz-Frequenz 0,00138
Es ist zu einer kontrollierten thermischen Entglasung
befähigt. Kristallkeimbildung wurde nahezu ausschließlich an der freien Oberfläche von Flocken
des Glases festgestellt, was besagt, daß keiner der Bestandteile des Glases als inertes Kristallkeimmittel
wirkt. Wenn das Glas in Pulverform vorliegt, so tritt Keimbildung durch die ganze geformte Masse auf,
wenn das Glaspulver 20 bis 30 Minuten lang bei einer Temperatur von 60O0C gesintert wird.
Der thermische,Ausdehnungskoeffizient kann durch
geeignete Wärmebehandlung des Glases mit der bevorzugten Zusammensetzung in Pulverform verändert
werden. Beispielsweise wurden Stäbe von etwa 230 mm Länge, etwa 6,4 mm Breite und etwa 3 mm
Tiefe durch Füllung von Graphitformen mit einem Glaspulver einer Teilchengröße von etwa 45 μηι
hergestellt. Während sich das Glaspulver in der. Form befand, wurde es in Luft in einem elektrischen
Ofen auf eine Temperatur von 6000C erhitzt und 20 bis 30 Minuten bei dieser Temperatur gehalten,
um den Stab zu einem zusammenhängenden Körper zu versintern. Diese Wärmebehandlung rief Kristallkeimbildung
in dem gesinterten Glas hervor. Die Wärmebehandlung mehrerer Stäbe wurde über verschiedene
Zeiträume und bei verschiedenen Temperaturen gemäß nachstehender Aufstellung fortgesetzt, um
das Kristallwachstum zu fördern; dabei wurden die folgenden Ergebnisse bezüglich des Aussehens und
' des Wärmeausdehnungskoeffizienten erhalten.
Nach der Wärmebehandlung wurden die gefüllten
30
40
45
Formen aus dem Ofen genommen und an der Luft auf Zimmertemperatur abgekühlt. Dann wurden die
Ein bevorzugtes Glas nach der Erfindung besteht 55 Stäbe aus den Formen genommen, um ihren Wärmeaus
60 Gewichtsprozent Zinkoxid (ZnO), 25 Gewichts- ausdehnungskoeffizienten zu ermitteln. x
' Stab Nr. |
Wärmebehandlung | Aussehen | Lineare Ausdehnung (0 bis 3000C) |
1 2 < |
6000C für 30 Minuten, angehoben auf 6500C in 10 Minuten, gehalten bei 6500C etwa 20 Minuten 600° C für 30 Minuten, angehoben auf 7000C in 15 Minuten, gehalten bei 7000C für 15 Minuten |
glasig gelb glasig gelb |
44,9 · 10-7/°C 42,8 ΊΟ-7/0 C |
3 | Wärmebehandlung | 4 | Aussehen | Lineare Ausdehnung (0 bis 3003C) |
|
Stab Nr. |
600°C für 30 Minuten, angehoben auf 750° C in 25 Minuten, gehalten bei 750°C für 5 Minuten 600° C für 20 Minuten, angehoben auf 650° C in 10 Minuten, angehoben auf 700° C in 10 Minuten, angehoben auf 750° C in 10 Minuten, angehoben auf 800° C in 10 Minuten 600° C für 20 Minuten, angehoben auf 650° C in 10 Minuten, angehoben auf 700° C in 10 Minuten, angehoben auf 750° C in 10 Minuten, angehoben auf 800° C in 10 Minuten, angehoben auf 850° C in 20 Minuten 600° C für 20 Minuten, angehoben auf 650° C in 10 Minuten, angehoben auf 700° C in 10 Minuten, angehoben auf · 750° C in 10 Minuten, angehoben auf 800° C in 10 Minuten, angehoben auf 850° C in 10 Minuten, angehoben auf 900° C in 10 Minuten |
- matt schwach . " gelb matt gelb matt : glänzend gefärbt matt schwach glänzend |
40,6 · 10"7° C 38,3-10"70C - 37,5 · 10-7° C > 37,5 · 10-7°C |
||
3 4 5 6 |
* ?Ein zur Herstellung eines Glases der obigen bevorzugten
Zusammensetzung geeigneter Glasansatz hat folgende Gewichtsanteile:
Zinkoxid .'. 480,0
Borsäure 355,2
Kieselsäuresand 75,2
Ceroxid 24,0
Wismüttrioxid 0,8
Bleioxid 16,0
Antimontrioxid 4,0
Die Bestandteile des Ansatzes werden innig durchgemischt und dann ungefähr 4 Stunden in einem
elektrischen Ofen auf eine Temperatur von 1200° C unter oxydierenden Bedingungen in einem Schmelztiegel
aus Platinrhodiumlegierung geschmolzen. Wenn das Gemisch vollständig durchgeschmolzen ist, wird
es aus dem Tiegel gegossen und durch Hindurchführen zwischen wassergekühlten Äbschreckwalzen zu
einem dünnen Glasband verformt. Brocken des abgeschreckten Glasbandes werden auf einer Kugelmühle
zu einem Pulver einer Teilchengröße von etwa 45 μπι
vermählen.
Das Glaspulver kann vorzugsweise verwendet werden, um einen hermetischen Überzug auf elektrisch
leitenden Elementen von Dioden der obengenannten Art zu bilden. Der Wärmeausdehnungskoeffizient
des Glasüberzuges kann durch die oben angegebenen Wärmebehandlungen innerhalb des Bereiches von
37,5 · 10~7°C bis 44,9 · 10"70C so gewählt werden,
daß das Glas mit den elektrisch leitenden Teilen solcher Dioden verträglich ist.
Der Überzug kann in Form einer die Diode einkapselnden kleinen Perle oder in Form eines dünnen
Plättchens aufgebracht werden, das die äußeren Kantenflächen des Molybdänteiles und des Siliziumkristallteiles
der Diode überdeckt. In beiden Ausführungsformen werden die Teile aus Molybdän und
dem Siliziumkristall von dem Glasüberzug benetzt, und es ergibt sich eine hermetische Abdichtung, so daß
die Diode in der erforderlichen Weise gegen die Atmosphäre gesthützt ist. Der Schutzüberzug kann
auf die gewählten Teile der Diode nach Methoden aufgebracht, werden, wie sie in der'Technik für die
Aufbringung von Glasemaillen oder Glasuren' auf Unterlagen üblich sind. Beispielsweise kann das
Glaspulver mit einem üblichen organischen Bindemittel und Trägermaterial vermischt werden, um eine
Suspension oder einen Brei zur Auftragung auf die Diodenoberflächen zu bilden. Eine, Lösung von
1 bis 3 Gewichtsprozent Nitrocellulose in Amylacetat ist geeignet. Das Verhältnis von Glas zu Trägermaterial
und Bindemittel wird bei Anwendung einer Sprüh- oder Aufstreichtechnik zweckmäßig so eingestellt,
daß die Viskosität der Suspension einen auf den Diodenteilen anhaftenden Überzug ergibt. Nun wird
zunächst erhitzt, um das organische Bindemittel und das Trägermaterial auszutreiben, und dann wird das
zurückbleibende Glaspulver durch Erhitzung von
2 bis 5 Minuten auf eine Temperatur im Bereich von ungefähr 775 bis 825° C verglast. Um eine Oxydation
des Molybdäns der Diode während dieser Temperaturbehandlung zu verhindern, kann diese in einem
elektrischen Ofen unter Vakuum oder in einer Inertgas-Atmosphäre, wie in Stickstoff oder einem Stickstoff-Argongemisch,
erfolgen. Wenn ein Schutzüberzug aus entglastem Glas erwünscht ist, kann diese Wärmebehandlung
angewendet werden.
Halbleitervorrichtungen der vorstehend beschriebenen Art werden gewöhnlich mit Zuführungsdrähten
versehen,- und das Einkapselungsglas wird häufig
durch Schmelzen von Teilen der Zuführungsdrähte abgedichtet. In solchen Vorrichtungen werden vielfach
Zuführungsdrähte ,verwendet, die aus Nickel bestehen
oder damit umkleidet sind. Während bekanntlich Wismut eine Versprödung von Nickel herbeiführt, ist
der Wismutoxidgehalt in den Gläsern nach der Erfindung klein genug, daß er die Brauchbarkeit des
Nickels bzw. Nickelüberzuges an den Zuführungsdrähten solcher Vorrichtungen nicht beeinträchtigt.
Ein anderes bevorzugtes Glas nach der Erfindung ohne Wismutoxid besteht aus 60 Gewichtsprozent
Zinkoxid (ZnO), 23 Gewichtsprozent Borsäure (B2O3),
10,5 Gewichtsprozent Kieselsäure (SiO2), 3 Gewichtsprozent
Ceroxid (CeO2), 3 Gewichtsprozent Bleioxid
(PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3)..
Ein zur Herstellung dieses Glases geeigneter Ansatz .kann folgende Zusammensetzung in Gewichtsteilen
haben:
Zinkoxid · 60,0
Borsäure 40,9
Kieselsäure 10,5
Ce(NO3)3 - 6 H2O 7,6
Bleiglätte 3,0
Antimonoxid 0,5
Der Ansatz wurde zu Stangen versintert, und die Stangen wurden in derselben Weise warm behandelt,
wie oben für das andere bevorzugte Glas beschrieben ist. Der Ausdehnungskoeffizient der warmbehandelten
Stäbe aus Bi2O3-freiem Glas war folgender:
Stab
Nr.
1
2
3
4
5
6
2
3
4
5
6
Ausdehnung
(0 bis 3000C)
(0 bis 3000C)
45,0
40,4
38,4
37,1
37,0
37,0
40,4
38,4
37,1
37,0
37,0
• 10-'/° C
• ΙΟ"7/0 C
■ IO-7/0 C
•10"70C
•10"7°C
■ IO-7/0 C
•10"70C
•10"7°C
• 10^/° C
Solche Stäbe erreichten einen niedrigeren Ausdehnungskoeffizienten
nach einer Wärmebehandlung bei niedrigerer Temperatur als Stäbe aus dem oben beschriebenen Glas mit Bi2O3. Beispielsweise hatte
eine Stange aus Glas ohne Bi2O3 nach 30 Minuten
Erhitzen auf 6000C, Anheben auf 7000C innerhalb
10 Minuten und 20 Minuten Halten bei 7000C einen Ausdehnungskoeffizienten von 38,1 · 10~7°C, während
eine Stange aus Bi2O3 enthaltendem' Glas der oben
beschriebenen Zusammensetzung nach ähnlicher Warmebehandlung einen Ausdehnungskoeffizienten von
43,9 · 10-70C hatte. Ferner hatte eine Stange Bi2O3-freien
Glases nach lstündiger Erhitzung auf 6000C,
Anheben auf 7000C innerhalb 10 Minuten und 50 Minuten Halten bei 7000C einen Ausdehnungskoeffizienten
von 35,6· 10"70C, während die Stange aus Bi2O3-haltigem Glas nach ähnlicher Wärmebehandlung
einen Ausdehnungskoeffizienten von 45,1 · 10~7°C hatte.
Der Liquiduspunkt des Bi2O3-freien Glases lag bei
.1050 bis 10750C.
Die stärkste Kristallkeimbildung trat bei 700 bis -7500C und die größte Kristallwachstumsgeschwindigkeit
bei 800 bis 8500C auf. Der Ausdehnungskoeffizient
-im Glaszustand betrug 44,6 bis 44,8 · IO-7/0 C. Der
Fasererweichungspunkt lag bei 637° C. Die Dielektrizitätskonstante
betrug 8,3 und der dielektrische Verlustfaktor 0,00145 bei Zimmertemperatur und einem MHz-Frequenz. Der elektrische Widerstand
Ohm/cm betrug bei 3500C 10,8, bei 3000C 11,8 und
bei 2500C 13,1.
Das Bi2O3-freie Glas kann an Stelle des Bi2O3-haltigen
Glases für denselben Zweck und in derselben Weise, wie oben angegeben, verwendet werden.
Obwohl die Gläser nach der Erfindung vorzugsweise als Werkstoff zum Überziehen einer einen mikrokristallinen
Körper enthaltenden Halbleitervorrichtung benutzt werden, können sie allgemein bei Glas-auf-Glas-
und Glas-auf-Metall-Dichtungen Verwendung
finden, bei denen sich entglasbare Dichtungsgläser von niedrigem Ausdehnungskoeffizienten und verhältnismäßig
tiefer Erweichungstemperatur als brauchbar
20 erwiesen.
Claims (4)
1. Glas auf der Basis von ZnO — B2O3 — SiO2
mit einem thermischen Ausdehnungskoeffizienten von 44,5 bis 44,8· 10"70C (0 bis 3000C), dadurch
gekennzeichnet, daß es aus 60 Gewichtsprozent Zinkoxid (ZnO), 23 bis 25 Gewichtsprozent
Boroxid (B2O3), 9,4 bis 10,5 Gewichtsprozent
Kieselsäure (SiO2), 3 Gewichtsprozent Ceroxid (CeO2), 0 bis 0,1 Gewichtsprozent
Wismutoxid (Bi2O3), 2 bis 3 Gewichtsprozent
Bleioxid (PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3) besteht.
2. Glas nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es aus 60 Gewichtsprozent Zinkoxid
(ZnO), 25 Gewichtsprozent Borsäure (B2O3),
V,4 Gewichtsprozent Kieselsäure (SiO2), 3 Gewichtsprozent
Ceroxid (CeO2), 0,1 Gewichtsprozent Wismutoxid (Bi2O3), 2 Gewichtsprozent Bleioxid
(PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3) besteht.
3. Glas nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es aus 60 Gewichtsprozent Zinkoxid (ZnO),
23 Gewichtsprozent Borsäure (B2O3), 10,5 Gewichtsprozent
Kieselsäure (SiO2), 3 Gewichtsprozent Ceroxid (CeO2), 3 Gewichtsprozent Bleioxid
(PbO) und 0,5 Gewichtsprozent Antimonoxid (Sb2O3) besteht.
4. Verwendung eines Glases nach Anspruch 1 bis 3 als. Werkstoff zum Überziehen einer einen
monokristallinen Körper enthaltenden Halbleitervorrichtung.
30
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Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IE33405B1 (en) * | 1968-12-09 | 1974-06-12 | Gen Electric | Semiconductor wafers sub-dividable into pellets and methods of fabricating same |
FR2096669B1 (de) * | 1970-05-19 | 1974-03-01 | Gen Electric | |
US3643136A (en) * | 1970-05-22 | 1972-02-15 | Gen Electric | Glass passivated double beveled semiconductor device with partially spaced preform |
IE35247B1 (en) * | 1970-06-08 | 1975-12-24 | Gen Electric | Improvements in ceramic passivated semi-conductor device and process for its manufacture |
US3710205A (en) * | 1971-04-09 | 1973-01-09 | Westinghouse Electric Corp | Electronic components having improved ionic stability |
US3731159A (en) * | 1971-05-19 | 1973-05-01 | Anheuser Busch | Microwave diode with low capacitance package |
US3913127A (en) * | 1971-10-01 | 1975-10-14 | Hitachi Ltd | Glass encapsulated semiconductor device containing cylindrical stack of semiconductor pellets |
US3755720A (en) * | 1972-09-25 | 1973-08-28 | Rca Corp | Glass encapsulated semiconductor device |
US3900330A (en) * | 1973-03-22 | 1975-08-19 | Nippon Electric Glass Co | Zno-b' 2'o' 3'-sio' 2 'glass coating compositions containing ta' 2'o' 5 'and a semiconductor device coated with the same |
US3996602A (en) * | 1975-08-14 | 1976-12-07 | General Instrument Corporation | Passivated and encapsulated semiconductors and method of making same |
JPS5819125B2 (ja) * | 1976-08-11 | 1983-04-16 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法 |
WO2014138393A1 (en) * | 2013-03-06 | 2014-09-12 | Covalent Coating Technologies, LLC | Fusion of biocompatible glass/ceramic to metal substrate |
JP6987356B2 (ja) * | 2015-12-17 | 2021-12-22 | 日本電気硝子株式会社 | 支持ガラス基板の製造方法 |
CN105541116A (zh) * | 2015-12-29 | 2016-05-04 | 江苏建达恩电子科技有限公司 | 用于包裹电子芯片的玻璃粉及其制备方法 |
WO2019027893A1 (en) * | 2017-07-31 | 2019-02-07 | Corning Incorporated | LAMINATE ARTICLE HAVING A CENTRAL NON-GLASS PART AND A GLASS ENVELOPE AND ASSOCIATED METHODS |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2971853A (en) * | 1953-03-05 | 1961-02-14 | Corning Glass Works | Ceramic body and method of making it |
US2889952A (en) * | 1956-02-01 | 1959-06-09 | Corning Glass Works | Composite article and method |
US3200310A (en) * | 1959-09-22 | 1965-08-10 | Carman Lab Inc | Glass encapsulated semiconductor device |
US3050666A (en) * | 1959-11-13 | 1962-08-21 | Diodes Inc | Yieldable electrode for semiconductor devices |
NL109459C (de) * | 1960-01-26 | |||
US3307958A (en) * | 1960-04-11 | 1967-03-07 | Physical Sciences Corp | Ceramic material |
US3256136A (en) * | 1961-05-11 | 1966-06-14 | Cons Electrodynamics Corp | Ceramic material |
US3088835A (en) * | 1961-09-15 | 1963-05-07 | Owens Illinois Glass Co | Thermally devitrifiable sealing glasses |
US3303399A (en) * | 1964-01-30 | 1967-02-07 | Ibm | Glasses for encapsulating semiconductor devices and resultant devices |
US3241010A (en) * | 1962-03-23 | 1966-03-15 | Texas Instruments Inc | Semiconductor junction passivation |
US3250631A (en) * | 1962-12-26 | 1966-05-10 | Owens Illinois Company | Glass sealing compositions and method for modifying same |
US3300339A (en) * | 1962-12-31 | 1967-01-24 | Ibm | Method of covering the surfaces of objects with protective glass jackets and the objects produced thereby |
US3392312A (en) * | 1963-11-06 | 1968-07-09 | Carman Lab Inc | Glass encapsulated electronic devices |
US3317653A (en) * | 1965-05-07 | 1967-05-02 | Cts Corp | Electrical component and method of making the same |
US3408212A (en) * | 1965-06-04 | 1968-10-29 | Fairchild Camera Instr Co | Low melting oxide glass |
-
1966
- 1966-03-17 US US535219A patent/US3505571A/en not_active Expired - Lifetime
- 1966-07-26 US US567834A patent/US3441422A/en not_active Expired - Lifetime
- 1966-09-14 GB GB41124/66A patent/GB1114549A/en not_active Expired
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- 1966-09-30 FR FR78279A patent/FR1499490A/fr not_active Expired
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GB1114549A (en) | 1968-05-22 |
US3505571A (en) | 1970-04-07 |
NL148289B (nl) | 1976-01-15 |
DE1596820B1 (de) | 1971-05-19 |
FR1499490A (fr) | 1967-10-27 |
US3441422A (en) | 1969-04-29 |
NL6612992A (de) | 1967-03-31 |
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8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |