DE1591223C3 - Automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise - Google Patents
Automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische SchaltkreiseInfo
- Publication number
- DE1591223C3 DE1591223C3 DE1591223A DEJ0034777A DE1591223C3 DE 1591223 C3 DE1591223 C3 DE 1591223C3 DE 1591223 A DE1591223 A DE 1591223A DE J0034777 A DEJ0034777 A DE J0034777A DE 1591223 C3 DE1591223 C3 DE 1591223C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuits
- circuit
- current
- transistor
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31924—Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise,
bei welcher die Kontaktanschlüsse eines Schaltkreises mit Prüfbedingungsgeneratoren ver-
r> bindbar sind, die als Stromversorgung, als Signalgeber oder als Last wirksam sein können, und bei welcher
für die Auswahl und Einstellung der Prüfbedingungsgeneratoren
zur Erzeugung von dem Betrieb der Schaltkreise entsprechenden Prüfbedingungen sowie
so für die Auswertung der Prüfergebnisse ein programmgesteuerter
Computer vorgesehen ist.
Halbleiterschaltkreise, die in verschiedener Bauweise hergestellt sein können, sind häufig auf einsteckbaren
Schaltkarten untergebracht. Dies trifft ins-
j-, besondere für Anlagen der Datenverarbeitung zu.
Leitungen für Eingangssignale, Stromversorgungsleitungen, Ausgangsleitungen und dergleichen werden
bei diesen Schaltkarten an Kontakte geführt, die sich an einer Seite der Karte befinden.
Die automatische oder halbautomatische Prüfung derartig auf Karten montierter Schaltkreise ist an sich
bekannt. Beispielsweise ist in der amerikanischen Patentschrift 3 237100 ein durch einen Computer gesteuertes
Prüfgerät für elektronische Schaltungen beschrieben. Bei diesem bekannten Prüfgerät wird jeder
Anschluß im Prüfgerät, der für die Aufnahme eines bestimmten Anschlusses einer zu prüfenden Karte bestimmt
ist, durch automatische Umschaltungen mit jeweils ausgewählten Generatoren für Vorspannungen
und Signale verbunden. Diese Generatoren haben jedoch nur eine Funktion. Bei Prüfgeräten dieser Art
erfordert somit jede Kartenart notwendigerweise ihre eigene Schalttafel oder ihren eigenen Schaltmechanismus,
um die Kontakte der Karte an die entsprechenden Signalgeber-, Last- oder Versorgungsspannungen
anzuschließen. Außerdem ist bei den bekannten Prüfgeräten für jede Schaltungsfamilie ein anderer Signalgeber
erforderlich, manchmal sogar eine Reihe von Signalgebern für die Prüfung derselben Schaltungsfamilie.
Damit nehmen die Generatoren, welche die Prüfbedingungen, erzeugen, einen beträchtlichen
Raum ein. Mit der Anzahl der Schaltungen auf einer Karte wächst auch die Anzahl der pro Karte erforderlichen
Kontakte. Das führt, zusammen mit den erwähnten Erfordernissen zu sehr umfangreichen Prüfgeräten,
bei denen die mit der Kontaktzahl zusammenhängenden Probleme im Hinblick auf die
Herstellung von voll integrierten Schaltkreisen weiter
wachsen.
Wenn eine größerer Automatisierung des Prüfgerätes angestrebt wird, ist die Einbeziehung einer entsprechenden
Schalteinrichtung in das Prüfgerät notwendig, wodurch sich wiederum ein großer Platzbedarf
ergibt. Bei zu prüfenden Schaltkarten mit schnell schaltenden, im Hochfrequenzgebiet arbeitenden
Schaltkreisen ist es notwendig, die Stromkreise, die die Prüfbedingungen simulieren, direkt neben der zu
prüfenden Schaltkarte anzuordnen. Andernfalls werden die Verbindungen zwischen den simulierenden
Schaltungen und den zu prüfenden Karten zu lang, um eine Umschaltung von einem Signalpegel auf einen
anderen im Bereich von Nanosekunden zu ermöglichen. Dementsprechend müssen die Stromquellen der
Signalgeneratoren entsprechend kurze Erholungszeiten aufweisen. Das Anlegen von Versorgungsströmen,
Signalen und Lasten über lange Leitungen bringt besonders im Hochfrequenzgebiet Probleme der Zuverlässigkeit
mit sich. Hier spielen auch Probleme eine Rolle, die mit Übertragungsleitungen zusammenhängen.
Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer automatischen Prüfeinrichtung, bei welcher steuerbar
auf die vorkommenden Prüfbedingungen einstellbare Prüfbedingungsgeneratoren vorgesehen sind, deren
Aufbau auch die Prüfung von hochfrequenten logischen Schaltungen hoher Packungsdichte ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einer automatischen Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art dadurch gelöst,
daß die Prüfbedingungsgeneratoren, deren Anzahl der Zahl der Kontaktanschlüsse entspricht,
jeweils aus zwei räumlich getrennten Teilen gebildet sind, mit einem in unmittelbarer Nähe der Kontaktanschlüsse
angeordneten Teil, bestehend aus zwei Verstärkerschaltungen, deren geregelte positive und negative
Spannungen an den Ausgängen den Versorgungsspannungen entsprechen, aus zwei über einen
Umschalter abwechselnd ansteuerbaren, mit Hilfe von geregelten Stromquellen als Signalgeneratoren bzw.
Last dienende Verstärkerschaltungen und aus einer durch Relaiskontakte gebildeten Betriebsarten-Auswahlschaltung
sowie mit einem, in einer Entfernung von den Kontaktanschlüssen angeordneten Teil, bestehend
aus geregelten Stromquellen für die Verstärker, aus zwei, durch Summierungsschaltungen mit
nachgeschaltetem Operationsverstärker gebildeten, auf bestimmte Werte einstellbaren, mit den Verstärkern
verbundene Stromversorgungsschaltungen, bei denen von den Ausgängen der Verstärker zu den Eingängen
der Operationsverstärker eine Rückkoppelungsschleife vorgesehen ist, und aus Steuerschaltungen
für den Umschalter, die Signalgenerator-Last-Schaltkreise und die Betriebsarten-Auswahlschaltung.
Mit der Verwendung einer Mehrfunktionsschaltung zur Erzeugung von Prüfbedingungen, wie sie in der
Erfindung vorgeschlagen wird, erübrigen sich umfangreiche Schalttafeln und Schalteranordnungen. Für
die Prüfung aller Arten von Karten ist nur eine einzige Aufnahme vorgesehen. Jedem Kontakt dieser Aufnahme
ist eine Simulationsschaltung zugeordnet, die durch einfache Schaltmittel mit ihm verbunden werden
kann. Die Anordnung der Simulationskreise dicht neben der zu prüfenden Karte wird jetzt nur noch
durch die physikalische Größe der Simulationskreise begrenzt.
Besonders vorteilhafte Ausbildungen der Prüfeinrichtung sind in den Merkmalen der Unteransprüche
enthalten. ,
An dieser Stelle sollen die Ausdrücke »Signalgeber«, »Last«, »positive und negative Signalgeber« und
■-> »positive und negative Last« erläutert werden.
Grundsätzlich kann man sagen, daß eine Schaltung als Signalgeber arbeitet, wenn sie logische Eingangssignale
an die zu prüfende Karte abgibt und umgekehrt, daß sie als Last arbeitet, wenn sie eine Stromquelle
κι oder eine Stromaufnahme darstellt. Ein Signalgeber muß in der Lage sein, einen konstanten Spannungspegel
mit einem Strom von bestimmter Polarität an die zu prüfende Karte abzugeben. Außerdem muß er eine
programmierte Stromhöhe entgegengesetzter Polari-
i) tat aufnehmen können. Andererseits erzeugt eine Last
einen konstanten Strom einer vorgeschriebenen Polarität nur, wenn sie mit der zu prüfenden Karte verbunden
ist. Liegt diese Lastbedingung vor, so wirkt das programmierte Potential am Ausgang des Stromver-
.'(i stärkers als Begrenzer für den höchsten oder niedrigsten
Spannungspegel den die zu prüfende Karte entwickeln kann.
Als weiteres Beispiel sei ein negativer Signalgeber genannt, der einen Stromfluß aus der zu prüfenden
.'-, Karte verursacht, wenn der Signalgeber an seinem niedrigsten Wert angelangt ist, und umgekehrt wird
ein programmierter Stromwert vom Signalgeber an den zu prüfenden Stromkreis geliefert, wenn der Eingangspegel
des negativen Signals auf seinem positiv-
[(I sten Wert angekommen ist.
Eine positive Last ist der programmierte Wert einnes Stroms, der von der zu prüfenden Karte zur Last
fließt. Eine negative Last ist der programmierte Wert eines Stroms, der von der Last zu der zu prüfenden
i, Karte fließt.
Die Universalschaltung leitet auch Erdpotential oder die simulierte Bedingung eines unterbrochenen
Stromkreises über relaisgesteuerte Kontakte an die zu prüfende Karte. Infolgedessen brauchen die ange-
Ki gebenen Schaltkreise nicht wirksam zu werden, um
diese Bedingung zu simulieren.
Die stromverstärkenden Emitterfolger müssen über einen weiten Bereich der Eingangssignale betriebsfähigsein,
z. B. von — 12 V bis + 12 V. Außer-
r> dem müssen diese Verstärker zeitweise von einem
Eingangspotential auf ein anderes Eingangspotential mit hohen Geschwindigkeiten, beispielsweise mit
Übergangszeiten von K) η sec, umgeschaltet werden.
Wenn die Kollektoren der Emitterfolger mit einer
,Ii konstanten Spannung gespeist würden, würden sich
die Verluste innerhalb der Emitterfolger weitgehend mit der Eingangsspannung ändern. Unter solchen Bedingungen,
in denen die Basis-Kollektor-Spannung und der Strombedarf am Signalgeberausgang relativ
-,-, hoch sind, würde ein übermäßiger Stromverbrauch
auftreten. Dieser große Stromverbrauch würde die Verwendung von Transistoren mit höherer Leistung
erfordern. Transistoren, die sich großen Stromstärken anpassen können, haben jedoch eine relativ niedrige
„ο Schallgeschwindigkeit, wenn nicht äußerst teure Anlagen
verwendet werden. Zur Vermeidung von unnötigen Kosten werden stromverstärkende Emitterfolger
verwendet, bei denen sich die Stromversorgung des Kollektors in Abhängigkeit von der Eingangs-
„r, spannung ändert, so daß die Spannungsunterschiede
zwischen Basis und Kollektor auf ein Minimum reduziert werden.
Die Erfindung wird an Hand eines durch Zeichnun-
gen erläuterten Ausführungsbeispiels beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 a und 1 b das Blockschaltbild des als Ausführungsbeispiel
gewählten, erfindungsgemäßen Prüfgeräts,
Fig. 2 die Anordnung der Figuren 1 a und 1 b zueinander,
Fig. 3 und 4 die Schaltbilder für die Stromkreise der verwendeten, summierbaren Stromquellen,
Fig. 5a und 5b in schematischer Darstellung die Stromversorgungs-, Signalgeber- und Lastschaltungen,
Fig. 6 die Anordnung der Fig. 5 a und 5b zueinander,
und
Fi g. 7 und 8 Teile von elektronischen Schaltkarten, die mit dem erfindungsgemäßen Gerät geprüft werden.
Das in den Fig. la und Ib dargestellte Ausführungsbeispiel
des erfindungsgemäßen Prüfgeräts enthält eine Reihe von die einzelnen Prüfbedingungen
erzeugenden Generatoren 1-1 bis 1-n mit den Anschlüssen 2-1 bis 2-n. Die Anschlüsse 2-1 bis 2-n sind
mit den entsprechenden Kontaktanschlüssen 3-1 bis 3-n einer elektronischen Schaltkarte 4 verbunden.
Die Prüfgeneratoren 1-1 bis 1-n sind an die Steuereinrichtung 5 angeschlossen, die ihrerseits über den
Adapter 7 mit der zentralen DAtenverarbeitungseinrichtung 6 (im folgenden Zentraleinheit genannt) verbunden
ist. Jeder der Kontaktanschlüsse 2-1 bis 2-n kann wahlweise über die Widerstände 12-1 bis 12-«,
den Vielfachschalter 9 und den Analog-Digital-Wandler 8 mit der Zentraleinheit verbunden werden.
An die Steuereinrichtung 5 ist der automatische Kartentransport 10 und der Drucker 11 zur Fehleranalyse
angeschlossen. Die Transporteinrichtung 10 enthält eine zum Einsetzen und Herausnehmen der Schaltkarten
geeignete Aufnahme mit den Anschlüssen 2-1 bis 2-n.
Wenn eine Reihe von gleichartigen Schaltkarten 4 zur Prüfung in die Kartentransporteinrichtung eingesetzt
wird, so wird in den Hauptspeicher der Zentraleinheit ein spezielles für diese Kartentype bestimmtes
Programm eingegeben. Die Zentraleinheit 6 bewirkt daraufhin die Gesamteinstellung des Prüfgerätes, wobei
die Steuereinrichtung 5 jeden der Prüf generatoren 1-1 bis 1-n so schaltet, daß er die zum Prüfen der
betreffenden Kartenart erforderliche Bedingung erzeugt. Nachdem die Steuereinrichtung die Anfangseinstellungen der Prüfgeneratoren vorgenommen hat,
wird durch den Vielfachschalter 9 nacheinander jede der Klemmen 2-1 bis 2-n mit dem Analog-Digital-Wandler
8 verbunden. Die Potentiale an den Klemmen 2-1 bis 2-n werden in Digitalform umgewandelt
und über die Steuereinrichtung 5 der Zentraleinheit 6 zugeführt. Die Zentraleinheit vergleicht die Digitalsignale
mit den vorgeschriebenen Werten und ermittelt so die richtige Einstellung aller Anschlüsse 2-1 bis 2-n.
Ergibt sich eine geringfügige Ungenauigkeit in der Einstellung eines der Anschlüsse 2-1 bis 2-n, so wird
durch die Zentraleinheit über die Steuereinrichtung 5 der entsprechende Prüfgenerator so lange nachgestellt,
bis an der Ausgangsklemme die genaue Spannung anliegt.
Nach Beendigung der Anfangseinstellung aller Prüfgeneratoren auf die gewünschten Prüfbedingungen
wird die erste zu prüfende Schaltkarte 4 automatisch der Aufnahme zugeführt und mit den Anschlüssen
2-1 bis 2-n verbunden. Sobald sich die Karte 4 in der Prüfstellung befindet, wird unter Steuerung der
Zentraleinheit eine Reihe von Prüfungen durchgeführt. Die Prüfphase besteht aus abwechselndem Lesen
und Schreiben unter Programmsteuerung. Währ>
rend jeder Schreiboperation werden die Prüf generatoren 1-1 bis 1-n nach Bedarf in der Weise
angesteuert, daß sie an den Klemmen 2-1 bis 2-n die gewünschten Prüfbedingungen erzeugen. Während
jeder Leseoperation wird an der zu prüfenden Schalt-
Ht karte eine Prüfung durchgeführt und das Prüfergebnis
über den Vielfachschalter 9, den Analog-Digital-Wandler 8 und die Steuereinrichtung 5 der Zentraleinheit
zugeführt. Für jede zu prüfende Karte sind normalerweise mehrere Prüfungen notwendig. Für
ι) jede derartige Prüfung werden die erforderlichen Bedingungen
als Signalgeber, Last, Stromversorgung, Erde und unterbrochener Stromkreis auf die entsprechenden
Kartenanschlüsse 3-1 bis 3-n gegeben und die Ergebnisse einer jeden Prüfung werden von der
Zentraleinheit überprüft. Vorzugsweise stellen die angelegten Prüfbedingungen den ungünstigsten Fall
dar. Die Prüfergebnisse werden von den Klemmen 2-1 bis 2-n abgenommen und über den Vielfachschalter,
den Analog-Digital-Wandler und die Steuereinrich-
_>-) tung der Zentraleinheit zugeführt. Die Zentraleinheit
vergleicht die Prüfergebnisse mit den gespeicherten vorgeschriebenen Werten für die Schaltkreise.
Die Zentraleinheit läßt die Prüfungen der Reihe nach weiterlaufen, bis alle für eine gegebene Schalt-
i(i karte vorgeschriebenen Prüfungen abgeschlossen
sind. Werden keine Fehler entdeckt, so wird die Karte automatisch aus der Aufnahme herausgenommen und
durch den Transportmechanismus 10 in eine Ablage für einwandfreie Karten transportiert. Wenn die
r, Schaltkarte 4 eine oder mehrere Prüfungen nicht bestanden hat, analysiert die Zentraleinheit die Fehler
und läßt den Drucker 11 zur Lokalisierung der möglichen Störungsursachen Angaben der Fehleranalyse
herausdrucken. Jede fehlerhafte Karte wird durch den
4(i Transportmechanismus automatisch an einer anderen
Stelle abgelegt.
Jedesmal, wenn eine andere Kartenart geprüft werden soll, muß der Zentraleinheit ein neues, dieser
Kartenart entsprechendes Programm eingegeben
m werden. Nach Eingabe des neuen Programms beginnt die Zentraleinheit zuerst wieder mit der Einstellung
aller Prüfgeneratoren bevor die Prüfung der Karten des neuen Typs durchgeführt wird.
Die Prüfgeneratoren 1-1 bis 1-n sind unter sich
-,ο gleichartig. Es genügt daher, den Generator 1-1 im
einzelnen zu beschreiben. Der Generator 1-1 enthält zwei Energiequellen 20 und 21, die über die Zentraleinheit
und die Steuereinrichtung 5 so programmierbar sind, daß sie an ihren Ausgängen 22 und 23 in
·-,--, einem weiten Bereich zwischen positiven und negativen
Grenzen liegende Spannungen erzeugen.
Die Programmierung erfolgt so, daß der Ausgang 22 immer positiver ist als der Ausgang 23, um ein
richtiges Arbeiten der nachgeschalteten polaritäts-
e,o empfindlichen Halbleiterschaltkreise sicherzustellen,
und um zufällige Beschädigungen zu verhindern. Die Energiquelle 20 besitzt die positiven und negativen
Versorgungsanschlüsse 25 und 26, die über den Stromverstärker 30 mit dem Ausgang 22 verbunden
h5 sind. Die Spannung am Ausgang 22 wird auf einem
ausgewählten Wert im Bereich der positiven und negativen Pegel der Programmsteuerung gehalten.
Hierzu dienen der Stromverstärker 30 und der Strom-
summierungskreis 31, der den Eingang für den Operationsverstärker
32 bildet. Der Ausgang des Operationsverstärkers 32 ist über den Strombegrenzungswiderstand
33 und das Koaxialkabel 34 mit dem Eingang des Stromverstärkers 30 verbunden. Die Rückkopplung
vom Ausgang des Verstärkers 30 auf den Eingang des Operationsverstärkers 32 erfolgt über das Koaxialkabel
35 und den Rückkopplungswiderstand 36.
Die Impedanz des Koaxialkabels 35 ist durch den Widerstand 37 und den Kondensator 38 auf die gewünschte
Hochfrequenz abgestimmt. Zur Sicherstellung der Stabilität des Stromkreises ist der Operationsverstärker
32 durch die aus dem Widerstand 40 und dem Kondensator 41 gebildete einstufige Rückkopplungsschleife
überbrückt.
Sowohl die Polarität als auch die Höhe der Spannung am Ausgang 22 werden von der Polarität und
dem Wert des Stroms bestimmt, der vom Stromsummierungsschaltkreis 31 an den Eingang 42 des Operationsverstärkers
32 geliefert wird. Dieser Stromkreis, der später noch im einzelnen beschrieben wird, enthält
Mittel zur Erzeugung eines konstanten Stroms, dessen Höhe in diskreten Schritten von ungefähr 23 mA verändert
werden kann. Dadurch wqird am Ausgang 22 eine feste Spannung erzeugt, deren Höhe in diskreten
Schritten von ungefähr 25 mV verändert werden kann. Außerdem kann der Stromsummierungsschaltkreis
31 wahlweise an die positive Versorgungsklemme 43 oder die negative Versorgungsklemme 44
angeschlossen werden, wodurch die Spannung am Ausgang 22 positiv oder negativ wird.
Die Energiequelle 21 ist der Energiequelle 20 ähnlich. Sie enthält die Versorgungsklemmen 50 und 51,
den Stromverstärker 52, die Koaxialkabel 53 und 54, den Arbeitsverstärker 55, den Rückkopplungswiderstand
56, den Strombegrenzerwiderstand 57, den Begrenzungswiderstand 58 und den Kondensator 59, die
aus dem Widerstand 60 und dem Kondensator 61 bestehende einstufige Rückkopplungsschleife und den
Stromsummierungsschaltkreis 62.
Zwischen die Ausgänge der Operationsverstärker 32 und 55 ist die Zener-Diode 63 angeordnet, um
den gewünschten positiven Höchstwert von beispielsweise 15 V zu begrenzen, um den der Ausgang des
Verstärkers 32 über dem Ausgang des Verstärkers 55 liegen kann. Außerdem verhindert die Zener-Diode,
daß der Ausgang des Verstärkers 55 um mehr als 0,7 V positiver werden kann, als der Ausgang des
Verstärkers 32. Falls die Zener-Diode entweder in den Bereich niedriger Impedanz oder hoher Leitfähigkeit
kommt, begrenzen die Widerstände 33 und 57 den Strom zwischen den Verstärkern auf einen
Wert, der eine Beschädigung der Verstärker verhindert.
Die Energiequellen 20 weisen bei Änderungen der Spannung an den Ausgängen 22 und 23 eine schnelle
Erholungszeit auf. Derartige Änderungen der Ausgangsspannung treten auf, wenn die Energiequelle 20
oder 21 zur Stromversorgung einer zu prüfenden Karte benutzt wird, und die Karte an die Kontakte
2-1 bis 2-n angeschlossen wird. Ein plötzlicher Anstieg des Stroms, der zu oder von der zu prüfenden
Karte fließt, führt zu einem momentanen Spannungsabfall an den Ausgängen 22 oder 23, je nach dem,
ob die Energiequelle 20 oder 21 verwendet wird.
Wenn man die durch die Versorgungsanschlüsse 25, 26 bzw. 50, 51 und die Spannungsregler (Verstärker
30, 32, 52 und 55) gebildeten Energiequellen dicht
an die Ausgänge 22 und 23 und an die zu prüfenden Karten legen könnte, wären kurze Erholungszeiten für
die Ausgangsspannung mit einer auf herkömmliche Art geregelten Energiequelle ohne weiteres sicherzustellen.
Infolge des Platzbedarfs des in Fig. Ib dargestellten
Teils der Prüfgeneratoren 1-1 bis 1-n müssen jedoch die Verstärker (z. B. 32 und 55) und die durch
die Anschlüsse 25, 26, 50 und 51 repräsentierten Energiequellen in einem beträchtlichen Abstand von
den Ausgängen angeordnet werden. Bei einer Ausführungsform des beschriebenen Geräts sind die Kabel
34, 35, 53 und 54 ungefähr 3 m und die Kabel der Energiequellen ungefähr 1,5 m lang.
Bei einer Hochgeschwindigkeitsprüfung muß die Erholungszeit der Energiequellen jedoch sehr kurz
sein. In der erfindungsgemäßen Anordnung sind zur Erzielung einer schnellen Erholung der Energiequellen
20 und 21 die Stromverstärker 30 und 52 direkt neben der zu prüfenden Karte angeordnet. Außerdem
ist eine mehrstufige Rückkopplungsschleife für die Verstärker 32 und 55 vorgesehen, die sich vom Ausgang
der Verstärker 30 und 52 über die Kabel 35 und 54 bis zum Eingang der Verstärker 32 und 55 erstreckt.
Zwischen den Ausgängen 22 und 23 ist der Spannungsverriegelungsschalter
70 angeordnet. Die Funktion des Schalters 70 besteht darin, dem positiven Signalgeber-Last-Schaltkreis
71 und dem negativen Signalgeber-Last-Schaltkreis 72 die Spannung am Ausgang 22 aufzuprägen oder umgekehrt, den Ausgang
23 mit den Schaltkreisen 71 und 72 zu verbinden. Wenn der Prüfgenerator 1-1 als Signalgeber benutzt
wird, bilden die an den Ausgängen 22 und 23 anliegenden Spannungen die oberen und unteren Grenzwerte
des logischen Eingangs für einen bestimmten Eingangskontakt der zu prüfenden Karte, wenn diese
Spannungen auf den ausgewählten Signalgeber gelegt werden. Der Schalter 70 wird durch Signale des Leitungstreibers
73, der über die Steuereinrichtung 5 von der Zentraleinheit gesteuert wird, so umgeschaltet,
daß der Ausgang 22 oder der Ausgang 23 mit seinem Ausgang verbunden wird.
Für die Signalgeber-Last-Schaltkreise 71 und 72 sind die geregelten Energieversorgungseinrichtungen
80 und 81 vorgesehen. Die Versorgungseinrichtung 80 bringt jeden der Signalgeber-Last-Schaltkreise auf
eine Spannung, deren Wert demjenigen am Ausgang 22 zuzüglich eines festen Wertes (z. B. 6 V) entspricht.
Die Versorgungseinrichtung 81 gibt eine Spannung an die Schaltungen 71 und 72 ab, deren
Wert demjenigen am Ausgang 23 abzüglich eines festen Wertes (z. B. 6 V) entspricht. Die Versorgungseinrichtungen
80 und 81 haben die Aufgabe, in den Schaltkreisen 71 und 72 eine hohe Schaltgeschwindigkeit
bei niedrigen Kosten und möglichst geringen Verlusten zu ermöglichen.
Die beiden Signalgeber-Last-Schaltkreise 71 und 72 sind an die Stromquelle 82 angeschlossen, die über
die Steuereinrichtung 5 von der Zentraleinheit so programmiert ist, daß jeder gewünschte Wert:zwi-'
sehen 1 mA und 100 mA in Abständen von 1 mA eingestellt
werden kann. Die Stromquelle 82 wird abwechselnd an die positive bzw. die negative
Versorgungsklemme 83 oder 84 angeschlossen. Wenn der Schaltkreis 82 an die Klemme 83 angeschlossen
ist, liefert er Strom an den Kreis 72, bei Anschluß an die Klemme 84 nimmt er Strom aus dem Kreis
030 130/5
71 auf.
Der relaisbetätigte Kontaktsatz 90 verbindet wahlweise die Anschlußklemme 2-1 mit demjenigen Teil
des Prüfgenerators 1-1, der die gewünschte Prüfbedingung erzeugt. Insbesondere kann dieser Kontakt
die Klemme 2-1 wahlweise mit Erdpotential, mit einem unterbrochenen Stromkreis, mit dem positiven
oder negativen Ausgang 22 oder 23 und mit den
Schaltkreisen 71 und 72, die beide als Signalgeber oder Last arbeiten können, verbinden. Der Kontaktsatz
90 bleibt in demselben Zustand, wenn der Prüfgenerator als positive oder negative Last arbeitet, da die
positive oder negative Funktion von der Polarität der Versorgungsklemmen 83 und 84 bestimmt wird, an
welche die Stromquelle 82 angeschlossen ist. Der Kontaktsatz 90 wird von dem Relaisauswahlschalter
91 gesteuert, der seinerseits über die Steuereinrichtung 5 von der Zentraleinheit gesteuert wird.
Fig. 3 zeigt eine Ausführungsform der Stromsummierungsschaltkreise
31. Der Stromsummierungsschaltkreis 62 ist mit der Schaltung 31 identisch.
Die Funktion der Stromsummierungsschaltkreise
31 und 62 mit den zugehörigen Operationsverstärkern
32 und 55 und den Stromverstärkern 30 und 52 besteht,
wie erwähnt, darin, an die Ausgänge 22 und 23 die durch Programmsteuerung vorherbestimmten
Ströme zu liefern. Dabei bestimmen Höhe und Polarität der in den Schaltungen 31 und 62 erzeugten und
an die Eingänge der Operationsverstärker 32 und 55 gelegten Ströme Höhe und Polarität der Spannungen
an den Ausgängen 22 und 23.
In dem beschriebenen Ausführungsbeispiel sind die Schaltkreise 31 und 62 wahlweise so steuerbar, daß
sie positive oder negative Ströme erzeugen können, die sich in Schritten von ungefähr 23 μΑ innerhalb
eines absoluten Bereiches von ungefähr 23 μΑ bis ungefähr 12 mA verändern lassen. Dadurch erzeugen
die Arbeitsverstärker positive oder negative Spannungen, die sich in einem absoluten Bereich von
25 mV bis ungefähr 12,8 V in Abstufungen von jeweils 25 mV verändern lassen. Die Operationsverstärker
32 und 55 bewirken eine Polumkehrung vorn Eingang zum Ausgang. Wenn sie an ihren Eingängen
über die Schaltkreise 31 und 62 negative Ströme erhalten, sind die Spannungen an den Ausgängen 22
und 23 positiv. Wenn die Eingangsströme positiv sind, ist die Ausgangsspannung negativ.
Der Schaltkreis 31 besteht aus zehn, unabhängig voneinander gesteuerten Schaltkreisen 100-1 bis
100-10, von denen in Fig. 3 zwei dargestellt sind. Jeder dieser Schaltkreise ist unter Programmsteuerung
wahlweise erregbar und erzeugt einen anderen bestimmten Ausgangsstrom jeder Polarität.
Die Schaltung 100-1 enthält einen steuerbaren Siliziumgleichrichter
101-1, der je nach Vorhandensein der logischen Eingangssignale, die die Zentraleinheit
über die Steuereinrichtung 5 an der Und-Schaltung 102-1 abgibt, wahlweise angeschaltet oder gesperrt
ist. Der Ausgang des Gleichrichters ist mit der Basis des Transistorschaltverstärkers 103-1 verbunden. Die
in diesem Verstärker verwendete Transistorart zeichnet sich durch einen extrem niedrigen Spannungsabfall
zwischen Emitter und Kollektor im Sättigungszustand aus. Die Steuerung erfolgt durch ein Eingangssignal,
durch das die Basis-Kollektor-Strecke in Durchlaßrichtung polarisiert wird. Die Kathode des
Gleichrichters 101-1 ist gemeinsam mit den Kathoden der anderen Gleichrichter an die positive Spannungs-
quelle 104 angeschlossen, die normalerweise die Gleichrichter im nichtleitenden Zustand hält. Wenn
die Gleichrichter durch Eingangssignale an ihren Steuerelektroden für den Durchlaß vorbereitet werden
sollen, wird über den Transistorschalter 105 eine negative Spannung an die Anschlußklemme 106 gelegt.
Der Transistor 105 bleibt bis zur Sperrung der Gleichrichter im EIN-Zustand.
Wenn der Gleichrichter 101-1 leitend ist, wird die negative Spannung an der Klemme 106 über den
Transistor 105 und den Gleichrichter 101-1 an die Basis des Verstärkertransistors 103-1 gelegt. Diese
negative Spannung reicht aus, um den Transistor 103-1 in die Sättigung zu bringen, ohne Rücksicht auf
die am Kollektor angelegte Vorspannung. Der Kollektor wird positiv oder negativ vorgespannt, je nachdem,
ob die Klemme 43 oder die Klemme 44 über die Kontakte 112 des* Relais 113 mit ihm verbunden
ist. Das Relais 113 wird unter Programmsteuerung, abhängig von der an der Klemme 22 der Stromversorgung
20 gewünschten Polarität, wahlweise erregt.
Die Schaltkreise 100-10 und 100-1 sind identisch mit Ausnahme der Präzisionswiderstände 120-1 und
120-10 in den Emitterkreisen der Transistoren 103-1 und 103-10. Für einander entsprechende Bauteile in
den Schaltungen 100-1 und 100-10 gelten dieselben Bezugszeichen, lediglich mit anderen Unternummern.
Wenn sich der Transistor 103-1 im leitenden Zustand befindet, erzeugt der Präzisionswiderstand 120-1 einen
Strom mit einem absoluten Wert von ungefähr 23 μΑ (= 3 V/128 kOhm). Dieser Strom ist positiv
oder negativ, je nachdem, welche der Anschlußklemmen 43 oder 44 mit dem Kollektor des Transistors
103-1 verbunden ist. Ebenso erzeugt der Präzisionswiderstand 120-10, wenn der Transistor 103-10 erregt
ist, einen positiven oder negativen Strom von 12 mA (= 3 V/250 Ohm).
Die Werte der den Widerständen 120-lund 120-10
entsprechenden Widerstände in den nicht dargestellten Schaltkreisen 100-2 bis 100-9 sind jeweils halb
so groß wie der Wert des entsprechenden Widerstandes im Schaltkreis mit der nächstniedrigen Unternummer.
In Fig. 4 ist die Stromquelle 82 dargestellt, die, wie erwähnt, in Verbindung mit den Schaltkreisen 71 und
72 so vorprogrammiert ist, daß die Ströme zwischen 1 mAund 100 mA in Abstufungen von 1 mA erzeugt.
Die Polarität dieser Ströme wird durch Programmsteuerung ausgewählt.
Die Stromquelle 82 enthält den Schaltkreis 130 zur Polaritätswahl und eine Reihe von Schaltkreisen
131-1 bis 131-7 zur Strompegelwahl, von denen nur drei dargestellt sind. Der Schaltkreis 130 enthält das
Relais 132, bei dessen Erregung der bewegliche Kontakt 136 des Kontaktsatzes 133 mit der positiven oder
der negativen Anschlußklemme 83 bzw. 84 verbunden wird.
Die Schaltkreise 131-1 bis 131-7 enthalten die Relais
140-1 bis 140-7 mit den Kontakten 141-1 bis 141-7. Jeder dieser Kontakte schließt einen Gleichstromkreis
von der Versorgungsklemme 83 oder 84 über den entsprechenden Präzisionswiderstand (z. B.
142-1), der mindestens einen Teil des gewählten Ausgangsstromes
von der Stromquelle 82 liefert. Jeder der Widerstände 142-1 bis 142-7 hat den doppelten
Wert des entsprechenden Widerstandes mit der nächst niedrigen Unternummer, von 527 Ohm für den Widerstand
142-1 bis 33,7 kOhm für den Widerstand
142-7. Der Widerstand 142-1 erzeugt einen Strom von 64 mA, der Widerstand 142-7 von 1 mA. Die
Ansteuerung von einem oder mehreren der Relais 140-1 bis 140-7 ergibt die gewünschte Höhe des Ausgangsstromes.
.
Der Zustand des die Polarität bestimmenden Relais 132 wird durch den steuerbaren Siliziumgleichrichter
143 bestimmt, der seinerseits wieder durch die logische Eingangs-Und-Schaltung 144 gesteuert wird. Die
Kathode des Gleichrichters 143 ist mit dem Kollektor des normalerweise leitenden Transistorverstärkers
145 verbunden. Dieser Transistor legt die Kathode des Gleichrichters 143 auf Erdpotential. Wenn in diesem
Falle positive Signale an die Eingänge der Und-Schaltung
144 gelangen, wird der Gleichrichter 143 auf Durchlaß geschaltet und im leitenden Zustand
verriegelt. Wenn der Gleichrichter leitend ist, erregt er auch das Relais 132. Zur Sperrung des Gleichrichters
143 wird der Transistor 145 abgeschaltet. Dadurch gelangt eine positive Löschspannung vom Anschluß
146 auf die Kathode des Gleichrichters.
Die Erregerkreise für die Relais 140-1 bis 140-7 entsprechen demjenigen für das Relais 132. Sie werden
daher nicht im einzelnen beschrieben.
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf die Fig. 5a und 5 b die Kombination von positiv und negativ
gepolter Stromversorgung, positiver und negativer Signalgebung, sowie positiv und negativ gepolter
Lastschaltung im einzelnen beschrieben. Wie erwähnt, enthält diese Schaltung die Stromverstärker 30 und
52, die die Endstufen der Energiequellen 20 und 21 bilden, den Schalter 70, die Signalgeber-Last-Schaltkreise
71 und 72, die Energiequellen 80 und 81 und den Kontaktsatz 90.
Der Stromverstärker 30 besteht aus einer Stromverstärkungsstufe
mit hohem Verstärkungsgrad und im wesentlichen einheitlicher Spannungsverstärkung.
Er enthält die Transistoren 160 und 161, die durch Verbindung des Kollektors des zweiten Transistors
mit dem Emitter des ersten Transistors einen negativen Rückkopplungsverstärker bildet, der den in Emitterfolgeschaltung
angeordneten Ausgangstransistor 162 schaltet.
Die im Verstärker 30 vorhandenen Impedanzen sind so bemessen, daß ein katastrophaler Fehler verhindert
wird für den Fall, daß der Ausgang 22 über die Anschlüsse 2-1 bis 2-n und die zu prüfende Karte
mit einer anderen Energiequelle kurzgeschlossen wird.
Wenn der Generator 1-1 als Energiequelle dient, kann der Transistor 162 bei jedem Spannungspegel,
der für den Ausgang 22 zwischen der· Grenzen von + 6 V und — 6 V programmiert ist, einen Strom bis
zu 500 mA an die zu prüfende Karte liefern. Wenn der programmierte Spannungspegel am Ausgang 22
vom absoluten Wert 6 V auf den absoluten Wert 12 V erhöht wild, sinkt der Strom des Emitterfolgers 162
im wesentlichen linear von 500 mA bis ungefähr 300 mA ab. Wenn von einer zu prüfenden Karte
Strom entnommen wird, wobei der Verstärker 30 als Stromaufnahme dient, fließt der Strom von der zu
prüfenden Karte über den Ausgang 22 zu einer Quelle für konstanten Strom, die aus dem in Basisschaltung
betriebenen Transistorverstärker 163, der Zener-Diode 164 und dem Widerstand 165 gebildet wird.
Der Widerstand 165 sowie der Basis-Emitter-Widerstand des Transistors 163 und die Spannung an der
Zener-Diode 164 fixieren den Pegel des konstanten
Stromes. Es ist zu beachten, daß dieser konstante Strom vom Emitterfolger 162 in den Zeiten abgeleitet
wird, wenn der Emitterfolger 162. Strom an den zu prüfenden Schaltkreis liefert. Demzufolge liefert der
Emitterfolger 162, wenn er 500 m A an den zu prüfenden
Schaltkreis liefert, auch den für den Transistor 163 erforderlichen konstanten Strom. Der Transistor
163 der konstanten Stromaufnahme kann maximal 100 mA von der zu prüfenden Karte aufnehmen,
wenn der Prüf generator als Stromquelle arbeitet. Wenn der Transistor 163 tatsächlich den Maximalstrorr.
von 100 mA aus dem zu prüfenden Schaltkreis aufnimmt, erhält er auch vom Emitterfolger 162 einen
bestimmten Strom. In Fällen, in denen der zu prüfende Schaltkreis einen kleineren Strom als die Höchstmenge
von 100 mA abgibt, liefert der Emitterfolger 162 den erforderlichen Stromzuwachs an den Transistor
163.
Der Schaltkreis 52 ist ähnlich aufgebaut wie der Schaltkreis 30 mit der Ausnahme, daß die Transistorleitungsarten
und die Polaritäten der Versorgungsspannung der entsprechenden Bauteile vertauscht
sind. Auch die Schaltung 52 enthält eine erste negative Rückkopplungs-Verstärkerstufe mit den Transistoren
170 und 171, einen Ausgangstransistor in Emitterfolgeschaltung 172 und eine Quelle für konstanten Strom
mit dem Transistor 173 der Zener-Diode 174 und dem Widerstand 175. Der Transistor 172 ist als PNP-Transistor
ausgebildet. Er nimmt daher Strom aus dem zu prüfenden Schaltkreis auf, während der Transistorverstärker
173 aus einem PNP-Transistor besteht, der Strom an die zu prüfende Karte liefert, wenn
der Prüfgenerator 1-1 als Stromquelle arbeitet.
Wenn die zu prüfende Karte mehr als 100 mA aufnehmen
oder abgeben soll, muß die richtige der Energiequellen 20 und 21 ausgewählt werden, die in der
Lage ist, den höheren Strom aufzunehmen oder abzugeben. Zweckmäßigerweise wird die Energiequelle 20
für die Abgabe von Strömen zwischen 100 und 500 mA und die Energiequelle 21 für die Aufnahme
von Strömen in dieser Größenordnung ausgewählt. Beide Energiequellen können gewählt werden, wenn
der höchste zu erwartende Strom weniger als 100 mA beträgt.
Der in Fig. 5a dargestellte Tunneldiodenschaltkreis 70 hat die Aufgabe, die Anschlüsse 22 und 23
mit den Schaltkreisen 71 und 72 zu verbinden, wenn der Prüfgenerator entweder als Signalgeber oder als
Last benutzt wird. Somit arbeitet dieser Verriegelungsschaltkreis im wesentlichen als Spannungsumschalter.
Eine Vorbedingung für den Einsatz des Umschalters 70 ist ein relativ niedriger und konstanter
Spannungsabfall zwischen Eingang und Ausgang. In seiner Wirkung als Schalter verbindet der Verriegelungsschalter
70 die Ausgänge 22 oder 23 mit den Schaltkreisen 71 und 72.
Eine weitere wichtige Forderung, die an den Tunneldiodenverriegelungsschalter
gestellt wird, besteht darin, daß die Übertragung der beiden Potentiale auf den zu prüfenden Schaltkreis mit hoher Geschwindigkeit^.
B. innerhalb von 10 nsec, umgeschaltet werden muß. Dies ist erforderlich, um genügend Energie in
durch Kondensatoren und Übertrager angekoppelte Karten mit Wechselstromschaltungen zu übertragen.
So haben z. B. wechselstrommäßig gekoppelte Trigger oder Verriegelungsschaltungen zwei oder mehr Eingänge,
von denen einer einen Eingangsimpuls mit einer sehr steilen Vorderflanke erfordert.
Das wichtigste Problem bei den Anforderungen an den Verriegelungsschalter 70 hängt mit der Verwendung
der Potentiale an den Ausgängen 22 und 23 als positive und negative Arbeitsspannung des Verriegelungsschalters
zusammen, insofern, als diese Spannungen nicht nur von dem Verriegelungsschalter geschaltet
werden, sondenr gleichzeitig auch seine Vorspannung darstellen. Aus dem oben Gesagten ist
zu entnehmen, daß die Spannungen an den Ausgängen 22 und 23 zwischen + 12 V und —12 V variieren
können. Infolgedessen müssen sehr große Schwankungen in der Vorspannung durch den Verriegelungsschalter ausgeglichen werden. Eine der größten
Schwierigkeiten ergibt sich aus der Forderung des Systems, daß die Spannungsdifferenz zwischen den Ausgängen
22 und 23 bis auf 0,5 V absinken kann, während die größte Spannungsdifferenz ungefähr 13 V
beträgt.
Der Verriegelungsschalter 70 enthält den in Emitterschaltung
arbeitenden Transistorschalter 180, dessen Emitter direkt mit dem Ausgang 23, und dessen
Kollektor über die beschleunigende Induktivität 181 und den Strombegrenzungswiderstand 182 mit dem
Ausgang 22 verbunden ist. Die parallel zu der Basis-Emitter-Strecke des Transistors 180 gelegte Tunneldiode
183 übernimmt die Verriegelungsfunktion. Das bedeutet, wenn der Tunneldiode im Bereich niedriger
Spannung und hohen Stromes liegt, hält sie den Transistor 180 im nichtleitenden Zustand. Wenn sich die
Tunneldiode jedoch im Bereich hoher Spannung und niedrigen Stromes befindet, stellt sie die Vorspannung
der Basis-Emitter-Strecke des Transistors 180 zur Erreichung der Sättigung sicher. Vorzugsweise wird eine
Gallium-Arsenid-Tunneldiode verwendet.
Ein im wesentlichen konstanter Vorspannungsstrom (ζ. B. 1,6 mA) wird an die Tunneldiode über
die Zener-Diode 184, die Widerstände 185 und 186, und die positive Versorgungsklemme 187 geliefert.
Der zusätzliche Vorspannungswiderstand 188 verbindet die Tunneldiode und die Basis des Transistors mit
dem Ausgang 22. Die Versorgungsspannung an der Klemme 187 muß einige Volt höher liegen als die
höchste positive Spannung, die am Ausgang 23 programmiert sein kann. Wenn z. B. der Ausgang 23 einen
positiven Höchstwert in Höhe von 12 V hat und eine 10 V-Zener-Diode 184 verwendet wird, muß die
Spannung an der Versorgungsklemme 187 wesentlich höher liegen als die Summe der Spannungen am Ausgang
23 und des Spannungsabfalles an der Zener-Diode.
Der Widerstand 188 gibt einen veränderlichen Vorspannungsstrom für den Transistor 180 und die
Diode 183. Der Kollektorstrom des Transistors 180 ändert sich bei Sättigung proportional zur Spannungsdifferenz
zwischen den Ausgängen 22 und 23. Mit steigender Spannungsdifferenz zwischen diesen Ausgängen
ist auch ein erhöhter Basisstrom erforderlich, um die Sättigung des Transistors zu garantieren.
Der von der konstanten Stromquelle, die die Zener-Diode 184, die Widerstände 185 und 186 sowie
den positiven Versorgungsanschluß 187 enthält, gelieferte Strom könnte auf einen so hohen Wert eingestellt
werden, daß das Arbeiten des Transistors 180 in der Sättigung sichergestellt ist, wenn die Spannungsdifferenz
zwischen den Ausgängen 22 und 23 ihren Höchstwert erreicht hat. Dadurch würde der zusätzliche
Vorspannungsstrom durch den Widerstand 188 überflüssig. Dies würde jedoch einen Basisstrom
weit über dem für niedrige Emitter-Kollektor-Versorgungsspannungen
notwendig machen. Ein zu starker Basisstrom bei niedrigem Vorspannungspegel
würde aber die Abschaltverzögerung des Transistors in unerträglichem Maße vergrößern. Aus diesem
Grunde wird die Kombination eines konstanten und eines veränderlichen Stromes benutzt.
Der Widerstand 188 erzeugt für die Tunneldiode 183 und die Basis des Transistors 180 einen Vorspannungsstrom,
der eine lineare Funktion der Spannungsdifferenz zwischen den Ausgängen 22 und 23
ist. Dieser zusätzliche Vorspannungsstrom vom Widerstand 188 stellt die Sättigung des Transistors 180
bei allen Versorgungspegeln sicher und hält gleichzeitig die hohe Schaltgeschwindigkeit aufrecht.
Die Ein- und Ausschaltimpulse für den Verriegelungsschalter 70 werden durch den in Emitterschaltung
arbeitenden Transistorschalter 190 gegeben. Der Kollektor des Schalters 190 ist mit der Basis des
Schalters 180 über den impulsdifferenzierenden Kondensator 191 und den aus dem Kondensator 192 und
dem parallel geschalteten Widerstand 193 bestehenden Impulsformer verbunden. Die Basis ist über die
Eingangsschaltung 195 und das Kabel 196 mit dem Leitungstreiber 73 (Fig. la) verbunden.
Jedesmal, wenn der Transistor 190 auf einen Eingangsimpuls an seiner Basis anspricht und ein- bzw.
ausgeschaltet wird, erzeugt der Kondensator 191 negative bzw. positive Spannungsspitzen. Diese Spannungsspitzen
werden auf die Tunneldiode und über den Kondensator 192 und den Widerstand 193 auch
auf die Basis des Transistors 180 übertragen. Der Wert des Kondensators 192 ist wesentlich kleiner als
der des Kondensators 191. Dadurch wird der gesamte Energiegehalt der negativen und positiven Spannungsspitzen,
die auf die Tunneldiode und die Basis des Transistors 180 geleitet werden, auf einen Mindestwert
beschränkt. Trotzdem ist noch genügend Strom vorhanden, um den Schalter 70 zuverlässig von
einem Zustand in den andern umzuschalten. Wenn die Energie des Ausgangsimpulses vom Kondensator
191 direkt auf die Tunneldiode und die Basis des Transistors 180 geleitet würde, würden beide Einheiten
übersteuert und eine Verschiebung der Kennlinie der Tunneldiode wäre wahrscheinlich.
Der positive Signalgeber-Last-Schaltkreis 71 enthält zwei in Kaskadenschaltung verbundene Transistoren
200 und 201 entgegengesetzten Leitungstyps in Emitterfolgeschaltung. Der Ausgang des Tunneldiodenverriegelungsschalters
70 ist mit der Basis des Transistors 200 über den Widerstand 202 verbunden, der Störschwingungen verhindern soll. Die parallel zur
Basis-Emitter-Strecke des Transistors 200 angeordnete Diode 203 stellt schnelle positive Übergänge der
Signalspannungen sicher. Der Ausgang des Emitterfolgers 200 ist mit der Basis des Emitterfolgers 201
über den Widerstand 205 verbunden, der ebenfalls Störschwingungen verhindert. Der Emitter des Emitterfolgers
201 ist mit der Ausgangsklemme 2-1 des Prüf generators 1-1 über die Diode 206 und die Induktivität
207 in Form der Leitung 208, die durch den Eisenkern 209 an die Arbeitskontakte 210 und 211
geführt ist, verbunden. Die Diode 206 verhindert einen Rückstrom über Basis und Emitter des Transistors
201. Die Induktivität 207 verhindert eine Selbsterregung von Schwingungen während der schnellen Übergänge
von 10 nsec beim Umschalten des Verriegelungsschalters 70 von einem Zustand in den andern.
Der Schaltkreis 71 enthält ferner eine Stromquelle, deren Pegel unter der Steuerung des Schaltkreises 82
programmierbar ist. Durch den Schaltkreis 82 wird die negative 50-V-Versorgung über die Diode 217,
das Koaxialkabel 215 und einige der Widerstände 142-1 bis 142-7 (Fig. 4) mit der Schaltung 81 verbunden.
Dadurch wird der in Basisschaltung arbeitende Verstärker 216 erregt, der an seinem Kollektor einen
konstanten Strom erzeugt, dessen Pegel durch diejenigen der Widerstände 142-1 bis 142-7, die in die
Schaltung einbezogen wurden, bestimmt ist.
Die Basis des Verstärkers 216 ist mit einer negativen 15-V-Quelle über einen Stromkreis verbunden,
der die Zener-Diode 220, den Widerstand 221 und den negativen Versorgungsanschluß 222 enthält. Die
Diode 217 verhindert einen Rückstrom über Basis und Emitter des Verstärkers 216, wenn der Stromkreis
82 eine positive 50-V-Spannung auf das Koaxialkabel 215 gibt. Der Kollektor des Verstärkers
216 ist mit der Verbindung zwischen der Diode 206 und der Induktivität 207 über den Trennwiderstand
223 und die Induktivität 224 verbunden.
Der Widerstand 223 trennt den Kollektor des Verstärkers 216 von dem Emitterfolger 201 und gestattet
so schnelle Anstiegszeiten im Ausgangssignal des Emitterfolgers. Außerdem reduziert er den Spannungsabfall
zwischen Basis und Kollektor des Transistors 216, wodurch die Energieverluste im Verstärker
216 für stark unterschiedlich programmierte Strompegel im Verstärker auf ein Minimum reduziert werden.
Die Induktivität 224 bildet für den Ausgang des Emitterfolgers 201 während der sehr schnellen positiven
und negativen Wechsel seiner Ausgangsspannung eine sehr hohe Impedanz.
Die Emitterfolger 200 und 201 werden durch die mit der positiven Versorgungsklemme 227 verbundene
Induktivität 225 und den Widerstand 226 vorgespannt. Während der schnellen Schaltübergänge am
Ausgang des Emitterfolgers 200 trennt die Induktivität 225 den Versorgungswiderstand 226 vom Ausgang
des Emitterfolgers 200 und bewirkt dadurch, daß der größte Teil der Energie auf den als zweite Stufe arbeitenden
Emitterfolger 201 geleitet wird. Auf diese Weise verbessert die Induktivität 225 die Frequenzempfindlichkeit
des Emitterfolgers 200.
Der Schaltkreis 71 wirkt wahlweise als Signalgeber oder als Last, wenn der Stromkreis 82 eine negative
Spannung auf das Koaxialkabel 215 gibt, und die Arbeitskontakte
211 geschlossen sind. Ob der Schaltkreis 71 als Signalgeber oder als Last arbeitet, hängt
teilweise auch von der Stellung der Arbeitskontakte 210 ab. Wenn die Kontakte 210 geöffnet sind, verbindet
die Diode 230 den Stromkreis 71 mit der Anschlußklemme 2-1. Dadurch arbeitet der Stromkreis
als Last. Wenn die Kontakte 210 jedoch geschlossen sind, wird die Diode 230 kurzgeschlossen. Dadurch
arbeitet der Stromkreis als Signalgeber, d. h. der Strom kann die Schaltung 71 in beiden Richtungen
durchfließen.
Der Schaltkreis 72 bildet den negativen Signalgeber-Last-Schaltkreis.
Dieser ist in Aufbau und Arbeitsweise dem Signalgeber-Last-Schaltkreis 71 ähnlich,
unterscheidet sich jedoch dadurch, daß sowohl die Leitungsart der Transistoren umgekehrt als auch
die Vorspannung- und Arbeitsversorgung für die
Verstärker entgegengesetzt polarisiert ist. Auch der Schaltkreis 72 enthält zwei in Kaskadenschaltung verbundene
Emitterfolger 240 und 241, die den Ausgang
ίο
ι ■)
κι
des Schalters 70 mit der Anschlußklemme 2-1 des Prüfgenerators 1-1 verbinden, und zwar über die
Diode 242, die Induktivität 243, die Arbeitskontakte
244 oder die Diode 245 und die Arbeitskontakte 211.
Wenn die Kontakte 244 geöffnet sind, tritt die Diode
245 in Tätigkeit, wodurch der Schaltkreis 72 als Last
arbeitet. Wenn die Kontakte 244 geschlossen sind, ist die Diode 245 kurzgeschlossen und der Schaltkreis
72 arbeitet als Signalgeben .·.·.·■·- , ~-, :,;: ' -:.;
Die Diode 246 liegt parallel zur Basis-Emitter-Strecke des Emitterfolgers 240, um die Charakteristik
des Verstärkers 240 während des;ins Negative-Gehens der Übergänge zu verbessern. Der Stromkreis
72 enthält ebenfalls den in Basisschaltung arbeitenden Verstärker 247, dessen Emitter über die Diode 248
und das Koaxialkabel 215 mit dem Stromkreis 82 verbunden ist. Die Basis des Verstärkers 247 ist mit dem
Versorgungsanschluß 249 verbunden, der eine positive Vorspannung liefert. Der Kollektor des Verstärkers
247 ist mit der Verbindung zwischen der Diode 242 und der Induktivität 243 über den Widerstand
250 und die Induktivität 251 verbunden. Der Widerstand 252 verbindet den Emitter des Emitterfolgers
240 mit der Basis des Emitterfolgers 241. Die Emitterfolger 240 und 241 werden über die Induktivität
253 und den Widerstand 254 durch die negative Versorgungsklemme 255 vorgespannt. Der Ausgang des
Schalters 70 ist mit der Basis des Emitterfolgers 240 über den Widerstand 256 verbunden.
Die einzelnen Bestandteile des Schaltkreises 72 entsprechen dem Schaltkreis 71. Sie haben entsprechende
Funktionen und werden daher nicht mehr im einzelnen beschrieben.
Im folgenden werden Aufbau und Wirkungsweise der geregelten Energiequellen 80 und 81 für die Kollektoren
der Transistoren 201 und 241 im einzelnen beschrieben.
Wie b8reits gesagt, haben die Energiequellen 80 und 81 die Aufgabe, ein schnelles Umschalten der
Emitterfolger der Signalgeber-Last-Schaltkreise 71 und 72 zu ermöglichen, ohne auf teure Transistoren
zurückgreifen zu müssen. Die Ansprechzeit der Schaltkreise 71 und 72 muß sehr kurz sein (z. B.
10 nsec). Um die Verluste so klein wie möglich zu halten, sind die Basis-Kollektor-Strecken der Emitterfolger
durch eine bestimmte, möglichst kleine Spannung mit Hilfe der Quellen 80 und 81 unabhängig
von den Spannungswerten an den Basiselektroden in Sperr-Richtung vorgespannt.
Der Schaltkreis 80 enthält den Emitterfolger 260,
dessen Emitter mit den Kollektoren der Emitterfolger 201 und 240 der Schaltkreise 71 bzw. 72 verbunden
ist. Der Kollektor des Emitterfolgers 260 ist an die positive Versorgungsklemme 261 über den Widerstand
262 angeschlossen, der den Verlust des Emitterfolgers 260 begrenzt.
Die Spannung am Emitter des Emitterfolgers 260 wird im wesentlichen durch die Spannung bestimmt,
die am Ausgang 22 des Verstärkers 30 vorliegt. Der Ausgang 22 ist mit der Versorgungsklemme 261 über
die Zener-Diode 263 und den Widerstand 264 verbunden. Die Zener-Diode 263 wird stets bei'der
Durchbruchsspannung in Sperr-Richtung betrieben, um einen festen Spannungsabfall (z. B. 6 V) zwischen
dem Ausgang 22 und der zwischen ihr und dem Widerstand 264 liegenden Abzweigung 265 zu erzeugen.
Die Abzweigung 265 ist mit der Basis des Emitterfolgers 260 über die Widerstände 266 und 267 verbun-
030 130/5
den.
Der Widerstand 267 begrenzt zusammen mit den Zener-Dioden 270 und 271 den Strom, der vom
Emitterfolger 260 an den Emitterfolger 201 geliefert wird, wenn die Ausgangsklemme 2-1 kurzgeschlossen
wird. Dabei werden, wenn der Basisstrom des Emitterfolgers 260 einen bestimmten Höchstwert erreicht,
die Zener-Dioden 270 und 271 in Durchlaßrichtung gepolt, um ein weiteres Anwachsen des Basisstroms
zu verhindern. Unter diesen Bedingungen begrenzt der Widerstand 266 den Strom, der durch die Zener-Dioden 270 und 271 fließt, wodurch eine Beschädigung der Stromkreise verhindert wird.
Die Spannung am Punkt 265 entspricht derjenigen am Ausgang 22 zuzüglich des festen Spannungsabfalls
an der Zener-Diode 263. Diese Spannung, abzüglich des kleinen Spannungsabfalles an den Widerständen
266 und 267 und an der Basis-Emitter-Strecke des Emitterfolgers 260 wird an die Kollektoren der Emitterfolger 201 und 240 gelegt. Somit ist die an diesen
Kollektoren vorhandene Spannung immer um einen bestimmten Betrag positiver als jede Spannung, die
am Ausgang 22 des Verstärkers 30 liegt. Wenn der Schaltet 70 ausgeschaltet ist, wird die Spannung am
Ausgang 22 über die oben beschriebenen Stromkreise ebenfalls auf die Basiselektroden der Emitterfolger
201 und 240 gegeben. Somit wird bei offenem Schalter 70, unabhängig vom absoluten Wert der Basisspannung, eine konstante Spannungsdifferenz zwischen
Kollektor und Basis aufrechterhalten. Bei eingeschaltetem Schalter 70 ist die Spannungsdifferenz zwischen
Kollektor und Basis in den Emitterfolgern 210 und 240 auf ihrem tiefsten Stand.
In entsprechender Weise hält die Energiequelle 81 einen festen Spannungsabfall an den Basis-Emitter-Strecken der Emitterfolger 200 und 241 der Schaltkreise 71 und 72 aufrecht, wenn der Schalter 70 eingeschaltet ist und dabei den Ausgang 23 der
Energiequelle 21 mit den Eingängen der Schaltkreise 71 und 72 verbindet. Der Schaltkreis 81 entspricht
in Aufbau und Wirkungsweise der Schaltung 80 mit der Ausnahme, daß die Leitungsarten seiner Halbleiterelemente und die Polaritäten seiner Versorgungen
umgekehrt sind.
Der Ausgang 23 ist über die Zener-Diode 281 und den Widerstand 282 mit der negativen Versorgungsklemme 280 verbunden. Die Verbindung 283 zwischen der Zener-Diode und dem Widerstand ist mit
der Basis des Emitterfolgers 284 über die Widerstände 285 und 286 verbunden. Die Zener-Dioden 287 und
288 liegen zwischen der Verbindung der Widerstände 285 und 286 und dem Emitter des Emitterfolgers 284.
Der Kollektor des Emitterfolgers ist mit dem Anschluß 280 über den Widerstand 289 verbunden. Der
Emitter des Emitterfolgers 284 ist mit den Kollektoren der Emitterfolger 200 und 241 verbunden.
Entsprechende Bestandteile der Schaltkreise 80 und 81 haben dieselbe Funktion. Die Wirkungsweise
des Schaltkreises 81 braucht daher nicht näher beschrieben zu werden.
Die vom Prüfgenerator 1-1 ausgeübte Funktion
wird teilweise von den Relais 290 bis 293 bestimmt, die durch die in Fig. la dargestellte Auswahlschaltung 91 gesteuert werden. ,'..,.
Die folgende Tabelle A zeigt die erregten (x) und die nicht erregten (—) Zustände der Relais 290 bis
für jede Bedingung, die der Prüfgenerator 1-1 erzeugen kann.
290 291 292 293
— x —
offener Stromkreis
Wenn der Generator 1-1 als positiver Signalgeber benutzt wird, sind die Relais 290 und 291 erregt, die
Relais 292 und 293 sind stromlos. In diesem Fall ist
ι % die Ausgangsklemme 2-1 mit dem Ausgang des Signalgeber-Last-Schaltkreises 71 über die geschlossenen Kontakte 211 und 210 verbunden.
Wenn der Generator 1-1 als positive Last benutzt wird, ist nur das Relais 290 erregt. In diesem Fall ist
.ti die Anschlußklemme 2-1 wieder mit dem Ausgang
des Signalgeber-Last-Schaltkreises 71 verbunden, jedoch dieses Mal über die Kontakte 211 und die Diode
230.
>ϊ benutzt wird, sind nur die Relais 290 und 292 erregt.
In diesem Fall ist die Ausgangsklemme 2-1 mit dem Ausgang des Signalgeber-Last-Schaltkreises 72 über
die Kontakte 211 und 244 verbunden.
μ wird, ist nur das Relais 290 erregt. In diesem Fall ist
die Ausgangsklemme 2-1 mit dem Ausgang des Signalgeber-Last-Schaltkreises 72 über die Kontakte
211 und die Diode 245 verbunden.
r> Last jeweils dasselbe Relais, nämlich nur das Relais 290 angewählt und erregt wird. Beide Schaltkreise 71
und 72 sind also mit der Ausgangsklemme 2-1 verbunden. Es kann jedoch nur der Schaltkreis als Last
arbeiten, dessen Basisverstärker 216 oder 247 durch
ίο die negative oder positive Quelle des Stromkreises 82
leitend gemacht wurde. Wenn also der Schaltkreis 82 auf eine negative Ausgangsspannung programmiert
war, wird der Transistor 216 leitend und übernimmt die Funktion der positiven Last. Wenn der Schaltkreis
π 82 zur Erzeugung einer positiven Ausgangsspannung
programmiert war, wird der Transistor 247 leitend
und übernimmt die Funktion einer negativen Last.
κι 245 entgegengesetzt gepolt sind und daher keine Reihenschaltung bilden können. Es bleiben also nur die
Transistoren 216 und 247 zur Vervollständigung der Laststrom-Schaltkreise.
τ, arbeitet, wird nur das Relais 292 erregt. In diesem
Fall ist der Ausgang 22 der Energiequelle 20 mit der Ausgangsklemme 2-1 über die Ruhekontakte 294, die
Arbeitskontakte 295 und die Ruhekontakte 296 verbunden.
Mi Wenn der Generator 1-1 als negative Stromquelle
benutzt wird, sind nur die Relais 292 und 293 erregt. In diesem Fall ist der Ausgang 23 der Energiequelle
21 mit der Klemme 2-1 über die Arbeitskontakte 300 und 295 und die Ruhekontakte 296 verbunden.
Obwohl die Energiequelle 20 normalerweise als positive und die Energiequelle 21 als negative Quelle
verwendet wird, können diese ohne weiteres mit umgekehrter Polarität verwendet werden, solange die
Stromanforderungen nicht größer als 100 mA sind.
In Fig. 7 ist mit 4 eine Schaltkarte bezeichnet, die von dem erfindungsgemäßen Gerät geprüft wird. Die
Bauteile in den Prüfgeneratoren 1-2 und 1-6 haben dieselben Bezugsnummern wie die entsprechenden
Teile in den Fig. Sa und 5 b.
Die Schaltkarte 4 enthält eine Reihe gleicher Schaltungen 300-1 bis 300-n. Beispielsweise ist der
Anschluß für die Stromversorgung aller Schaltungen
300 gemeinsam, wogegen die Ein- und Ausgangsklemmen für jeden einzelnen Schaltkreis 300 einzeln
angeordnet sind. In Fig. 7 ist der Stromkreis 300-1 als Dreiweg-Und-Schaltung mit Invertierung dargestellt.
Ihre Aufgabe ist die Erzeugung von Erdpotential an der Ausgangsklemme 3-2 nur unter der Bedingung,
daß die entsprechenden positiven Spannungen an allen Eingangsklemmen 3-4 bis 3-6 liegen. Der
Schaltkreis enthält die Eingangsdioden 301, 302 und 303, die die Eingangsklemmen 3-4, 3-5 und 3-6 über
die Kopplungsdiode 305 mit der Basis des Invertertransistors 304 verbinden. Der mit dem positiven Versorgungsanschluß
3-3 verbundene Widerstand 306 und der Widerstand 307, der mit dem negativen Versorgungsanschluß
3-7 verbunden ist, bilden bezüglich der Diode 305 einen Spannungsteiler. Der Widerstand
308 für die Kollektorvorspannung ist mit der auf positivem Potential liegenden Klemme 3-1 verbunden.
Die Kartenanschlüsse 3-1 bis 3-8 sind jeweils mit einem entsprechenden Anschluß der Prüfgeneratoren
1-1 bis 1-8 verbunden. Jeder der Prüfgeneratoren ist, wie beschrieben, für die Erzeugung einer Prüfbedingung
programmiert. Im vorliegenden Beispiel bestehen diese Bedingungen aus einer positiven 3-V-Versorgung,
einer negativen Last, einer positiven 6-V-Versorgung, drei positiven Signalgebern, einer
negativen 3-V-Versorgung und einem Masseanschluß. Die Arbeitsweise der Prüfgeneratoren für die
Erzeugung eines Bezugspotentials oder einer Versorgungsspannung ist oben im einzelnen beschrieben
worden.
Die Arbeitsweise des als positiver Signalgeber wirkenden Prüfgenerators 1-4 wird im folgenden im einzelnen
beschrieben.
Während der Einstellphase sind die vorgeschriebenen Eingangs- und Ausgangswerte für die Schaltung
300-1 in die Zentraleinheit gegeben worden. Diese Werte wurden zur Einstellung von Spannung und
Strom in den Prüfgeneratoren verwendet, die als Signalgeber und Last verwendet werden.
Im folgenden sind typische Eingangsvorschriften für die Schaltung 300-1 aufgeführt: (1) Wenn die Eingangsspannungen
an allen drei Eingangsklemmen gleich oder größer als 1 V sind, wird der Transistorinverter
304 in den Sättigungszustand geschaltet. (2) Wenn eine der Eingangsspannungen gleich oder kleiner
als 0,3 V ist und der Strom gleich oder kleiner als 1 mA ist, wird der Transistorinverter 304 abgeschaltet.
Angenommen, die Signalgeber 1-4,1-5 und 1-6 geben eine positive Spannung von 1 V auf die Dioden
301 bis 303. Wenn der Stromkreis 300-1 richtig arbeitet,
steigt die Spannung am Verbindungspunkt der Eingangsdioden mit dem Widerstand 306 auf einen
positiven Wert, der der Spannung über der in Durchlaßrichtung gepolten Diode 305 und der Basis-Emitter-Strecke
des Transistors 304 entspricht, d. h. ungefähr 1,4 V beträgt. Die Eingangsspannung an den
Anschlußklemmen 3-4, 3-5 oder 3-6 von + 1 V muß also die entsprechende Eingangsdiode in den Zustand
hoher Impedanz und niedrigen Stromflusses bringen. In allen praktisch vorkommenden Fällen bedeutet das,
daß die Diode in Sperr-Richtung gepolt ist. Sind alle Eingangsdioden richtig in Sperr-Richtung gepolt, und
wird angenommen, daß die durch die Widerstände 306,307 und die Diode 305 bestimmten Spannungen
innerhalb der gegebenen Grenzen liegen, so kommt der Transistorinverter 304 in den Sättigungsbereich.
Unter dieser Bedingung fließt der vom Generator 1-3 gelieferte Strom über den Widerstand 306 durch die
Diode 305. Ein Teil dieses Stromes fließt über den Widerstand 307 zum Generator 1-7, der Rest zur Basis
des Transistors 304. Dieser Strom durch den Widerstand 306 bringt die Verbindung zwischen dem
Widerstand 306 und der Diode 305 auf ein Potential von ungefähr 1,4 V.
Um den Transistor 304 auszuschalten, muß mindestens einer der drei Signalgeber zunächst den Strom
für den ungünstigsten Fall aufnehmen, der normalerweise
vom Generator 1-3 über den Widerstand 306 und die Diode 305 an den Transistor geliefert wird.
Gleichzeitig muß dieser Signalgeber sicherstellen, daß die an seinen Eingangsklemmen 3-4, 3-5 oder 3-6
entstandene Eingangsspannung nicht negativer als + 0,3 V zu sein braucht, um den Transistor 304 auszuschalten.
In einem guten Schaltkreis 300-1 haben die Dioden und die Basis-Emitter-Strecke des Transistors 304 einen
niedrigen Spannungsabfall von ungefähr 0,7 V in Durchlaßrichtung. Der Transistor 304 wird ausgeschaltet,
wenn die Basis-Emitter-Spannung + 0,3 V beträgt und eine Spannung von + 1 V an der Verbindung
zwischen den Eingangsdioden und der Diode 305 garantiert die Abschaltung des Transistors. Unter
dieser Bedingung fließt ein Teil des vom Generator 1-3 über den Widerstand 306 gelieferten Stromes
durch die Diode 305 und den Widerstand 307 zum Generator 1-7. Der restliche Strom der positiven 6-V-Versorgung
muß von einer Eingangsdiode aufgenommen werden, um den Transistor 304 abzuschalten.
Da angenommen wurde, daß die Eingangsdiode im leitenden Zustand einen Spannungsabfall von 0,7
V hat, und daß die Verbindung zwischen der Eingangsdiode und der Diode 305 nicht positiver als
+ 1 V zu sein braucht, um den Transistor 304 abzuschalten, braucht die Eingangsspannung für die leitende
Diode nicht negativer als + 0,3 zu sein, um das Abschalten des Transistors 304 zu garantieren.
Nunmehr wird die Auswahl des Stromwertes beschrieben, der vom Eingang der Schaltung 300-1 aufgenommen
werden muß, um den Transistor 304 abzuschalten. Es sei angenommen, daß der Transistor 304
bei Sättigung am Kollektor einen maximalen Kollektorstrom von 30 mA habe und daß der Mindestwert
für β des Transistors 30 beträgt. Dann ist der Transistor bei einer Spannungsdifferenz von + 0,3 V zwischen
Basis und Emitter abgeschaltet, und der Leckstrom am Kollektor sollte in der Größenordnung von
5 μΑ oder darunter liegen. Mit den oben ausgewählten Werten für Verstärkung und Kollektorstrom sollte
die Basis-Emitter-Spannung gleich oder kleiner als 0,7 V sein, wenn der Basisstrom 1 mA ist.
Typische Dioden haben einen Nennstrom von 1 mA, wenn der Spannungsabfall in Durchlaßrichtung
an der Diode 0,7 V ist und einen Nennstrom von ungefähr 10 μΑ, wenn der Spannungsabfall an der Diode
0,4 V beträgt. Es wird daher angenommen, daß der Leckstrom in Sperr-Richtung der Diode ungefähr
gleich 0 ist. ν vx ·
. Wenn alle Impulsgeber 1-4 bis 1-6 auf ihren höchsten
positiven Stand geschaltet sind (d.h. +1.V), sind, wenn der Stromkreis 300-1 brauchbar ist, alle
drei Eingängsdioden 301,302 und 303 nicht leitend.
Die Widerstände 306 und 307 sowie die Diode 305 bilden einen Spannungsteiler, der auf jeden Fall einnen
Strom von 1 mA bei+0,7 V Spannung an der
Basiselektrode des Transistors 304 zur Verfügung stellt. Wird angenommen, daß der Transistor 304
brauchbar sei, so wird er mit einem Eingangsstrom von 1 mA in die Sättigung geschaltet. Die Basiselektrode
des Transistors 304 hat eine Spannung von + 0,7 V, die Anode der Diode 305 liegt bei 1,4 V
und die Spannung an den Eingangsklemmen 3-4,3-5 und 3-6 liegt bei + 1 V oder darüber, um die Polung
der Dioden 301 bis 303 in Sperr-Richtung sicherzustellen.
In seiner einfachsten Form kann der Lastschaltkreis 1-2 so programmiert werden, daß er den gewünschten
Laststrom an den leitenden Transistor 304 über die programmierte Stromquelle mit dem Basisverstärker
247 liefert. Wenn der Transistor 304 abgeschaltet ist, wird die Diode 245 in Sperr-Richtung gepolt und der
Emitterfolger 241 liefert Strom an den Basisverstärker. Die Spannung an der Basis ist so programmiert,
daß sie an der Anode der Diode 242 eine Spannung erzeugt, die zwischen den an der Ausgangsklemme
3-2 der zu prüfenden Karte zu erwartenden positiven und negativen Extremwerten liegt. In dem beschriebenen
Ausführungsbeispiel erzeugt sie eine Spannung ander erwähnten Diode, die ungefähr 6,45 V beträgt,
wenn das höchste positive Potential an der Klemme 3-2 bei abgeschaltetem Transistor nicht unter 5,95 V
fallen soll. Wenn der programmierte Strom vom Lastschaltkreis auf den leitenden Transistor 304 gegeben
wird, sollte die höchste Kollektorspannung nicht über 0,3 V liegen, andernfalls wird eine Fehlerentdeckung
festgestellt.
Im folgenden wird die Entdeckung verschiedener Fehler in einem Schaltkreis 300-1 beschrieben.
Wenn eine oder mehrere der Eingangsdioden kurzgeschlossen sind oder niedrigen Widerstand bei zu
niedriger Spannung aufweisen, schaltet der Transistor 304 beim Vorliegen logischer »1 «-Signale an den Eingängen
nicht ein. Bei Verwendung der gewählten Nennwerte für die niederohmigen Spannungsabfälle
der Dioden und der Basis-Emitter-Strecke des Transistors 304 muß die Verbindung zwischen den Eingangsdioden
und der Diode 305 auf eine Spannung von mindestens 1,4 V ansteigen, um den Transistor
zu schalten. Um das zu erreichen, müssen alle Eingänge auf die ungünstigste Spannung (d. h. + 1 V) gebracht
werden, die eine logische »1« darstellt. Das geschieht, um alle drei Eingangsdioden in den Sperrzustand
zu bringen.
Wenn die Diode 303 kurzgeschlossen ist oder unter
diesen Bedingungen niederohmig ist, steigt die Spannung an der Verbindung auf etwas über 1 V. Der basisgesteuerte
Verstärker 216 des Signalgebers 1-6 beginnt,
Strom von der Verbindung abzunehmen. Eine Erhöhung von wenigen mV (ungefähr 20) über +1V
an der Verbindung reicht aus, um den erwähnten Strom zu ziehen. Infolgedessen kann die Spannung
an der Verbindung nicht auf 1,4 V ansteigen, der Transistor 304 schaltet daher nicht ein.
Wenn eine Eingangsdiode (z. B. 303) einen unterbrochenen Stromkreis darstellt, oder bei 0,7 V Spannung
in Durchlaßrichtung einen zu hohen Widerstand aufweist, wird der Transistor 304 fälschlicherweise
eingeschaltet gehalten, wenn eine logische »0« ( + 0,3 V) auf die Diode 303 und eine logische »1«
(+1V) auf die Dioden 301 und 302 gelegt wird. Unter dieser Bedingung kann der Signalgeber 1-6 nicht
genügend Strom von der Verbindung zwischen den Dioden 303 und 305 abziehen und die Spannung an
dieser Verbindung auf einen Wert senken, der niedrig genug ist, um den Transistor 304 abzuschalten.
Wenn die Diode 305 unterbrochen ist oder einen
zu hohen Spannungsabfall in Durchlaßrichtung in Vergleich mit den Eingangsdioden aufweist, schaltet
der Transistor 304 nicht ein, wenn ein positives 1-V-Signal
auf die Eingangsdioden kommt. Die Spannung an der Verbindung zwischen den Eingangsdioden und
der Diode 305 kann auf einen Wert steigen, der etwas über 1,4 V liegt. Wegen des großen Spannungsabfalls
an der Diode 305 liegt die Basisspannung des Transistors jedoch unter 0,7 V, so daß die Signalgeber anfangen,
Strom von der Verbindung abzuziehen.
Wenn der Spannungsabfall in Durchlaßrichtung an der Diode 305 zu niedrig ist, kann der Transistor 304
nicht abschalten, wenn eine logische »0«, d. h. ein positives 0,3-V-Signal auf die Eingangsdioden gegeben
wird. Die Eingangsdioden bleiben leitend, wodurch eine Spannung von + 1 V an ihre Anoden kommt.
Wenn der Spannungsabfall an der Diode 305 in der Größenordnung von 0,3 V oder darunter liegt, bleibt
der Transistor 304 eingeschaltet.
Wenn der Wert des Widerstandes 306 zu hoch liegt, kommt der Transistor 304 nicht in den Sättigungsbereich,
wenn logische »1 «-Signale auf die Eingänge 3-4 bis 3-6 gegeben werden. Der Widerstand 306 begrenzt
den Strom auf einen Wert, bei dem der Basisstrom des Transistors für die Sättigung nicht ausreicht. Ist
der Widerstand 306 unterbrochen, so wird der Basisstrom auf 0 reduziert.
Wenn der Widerstand 306 kurzgeschlossen ist oder einen zu niedrigen Wert hat, schaltet der Transistor
304 nicht ab, wenn logische »0«-Signale auf die Eingänge gegeben werden. Die Spannung an der Verbindung
zwischen den Eingangsdioden und der Diode
305 bleibt bei 1,4 V infolge der verriegelnden Wirkung der Diode 305 und der Basis-Emitter-Strecke,
obwohl die Signalgeber 1-4 bis 1-6 Spannungen in der Höhe von 0,3 V abgeben. Die Emitterfolger (wie
201) und die Dioden (wie 206) werden in Sperr-Richtung und die Dioden 301 bis 303 werden in Durchlaßrichtung
gepolt. Katastrophale Folgen eines Kurzschlusses des Widerstandes. 306 werden durch die
Energiequellen 20 und 21 des Prüfgenerators 1-1 verhindert. .
Wenn der Widerstand 307 kurzgeschlossen oder sein Wert zu niedrig ist, kann die Basis des Transistors
304 nicht genügend positive Spannung bekommen, um einzuschalten, wenn logische »1 «-Signale auf die
Eingangsklemmen 3-4 bis 3-6 gegeben werden.
Wenn der Widerstand 307 unterbrochen oder sein Wert zu hoch ist, kann der Transistor nicht abschalten,
wenn logische »0« -Signale auf eine oder mehrere Eingangsklemmen 3-4 bis 3-6 gegeben werden. Der Wert
des im wesentlichen konstanten Vorspannungsstromes durch die Widerstände 306 und 307 wird niedriger,
und die Spannungen an den Elektroden der Diode
305 sind positiver als sie sein sollten. Wird angenom-
men, daß diese Spannungen + 0,7 V und 1,4 betragen, so bleibt der Transistor 304 eingeschaltet, die
Dioden 301 bis 303 sind in Durchlaßrichtung und die Emitterfolger der Signalgeber (wie 201) sind in
Sperr-Richtung gepolt.
Einen schadhaften Transistor erkennt man daran, daß er auf die logischen Eingangssignale unter den
gegebenen Bedingungen nicht ein- oder ausschaltet. Wenn z. B. die Spannung an der Anode der Diode
305 positiver werden will als 1,4 V, weil der Transistor 304 mit einer Basis-Emitter-Spannung von 0,7 V
nicht in Sättigung geht, würden die Dioden 301 bis 303 in den niederohmigen Bereich übergehen, wodurch
ein Strom zu den Signalgebern 1-4, 1-5 und 1-6 fließen würde. Dieser Strom würde von der Basis
des Transistors 304 abgenommen, und dadurch das Einschalten dieses Transistors zusätzlich verhindern.
Wenn lediglich die Brauchbarkeit oder das Versagen einer Karte geprüft werden soll, genügt die Prüfung
der Ausgangsspannung an der Klemme 3-2. Wenn durch Analyse des Schaltkreises 300-1 das
schadhafte Bauelement ermittelt werden soll, können verschiedene, bereits angedeutete Routineprüfungen
durch die Zentraleinheit benutzt werden.
Wenn z. B. der Stromkreis für die Diode 303 unterbrochen ist, fällt der Schaltkreis aus, wenn eine logische
»0« an die Diode 303 und eine logische »l« an die Dioden 301 und 302 angelegt wird. Der Schaltkreis
fällt jedoch nicht aus, wenn eine logische »0« auf eine der Dioden 301 oder 302 gegeben wird, während
eine logische »1« auf die andere Diode und die Diode 303 gegeben wird. So können von der Zentraleinheit
drei Prüfungen durchgeführt werden, um die fehlerhafte Diode zu ermitteln.
Die Prüfung der an den Ausgängen der Signalgeber 1-4 bis 1-6 vorliegenden Bedingungen kann häufig
zur Analyse der Störungsquellen benutzt werden. So kann z. B., wie bereits gesagt, durch eine Unterbrechung
im Widerstand 307 der Transistor 304 nicht abgeschaltet werden, wenn eine oder mehrere logische
»0«-Signale von den Signalgebern 1-4 bis 1-6 auf die Eingänge gegeben werden. Außerdem tritt an den
Ausgängen jedes für eine logische »0« programmierten Signalgebers eine höhere positive Spannung (z. B.
0,7 V) auf.
Aus obigem Beispiel ist zu ersehen, daß derselbe Stromkreis sowohl als Signalgeber als auch als Lastschaltung
dienen kann. Die Konfiguration der Schaltung ist für Signalgeber- und Lastbedingung im Prinzip
ähnlich und unterscheidet sich nur durch die Verwendung einer Diode (z. B. 245) bei der Lastschaltung.
Programmierung und Arbeitsweise sind jedoch verschieden.
Der Signalgeber gibt Impulse an die Eingänge der zu prüfenden Karte. Der Ausgang des Signalgebers
wird zu Beginn so eingestellt, daß er zwischen zwei diskreten Potentialen hin- und herschaltet. Der einen
konstanten Strom erzeugende Generator des Signalgebers ist so programmiert, daß er den bei ungünstigster
Bedingung auftretenden Strom aus dem zu prüfenden Schaltkreis abnimmt. Die verschiedenen
Spannungspegel und der Strom für den ungünstigsten
Fall, die für jeden Signalgeber erforderlich sind, sind
Funktionen der jeweils zu prüfenden Schaltung.
Eine Last braucht normalerweise nicht zwischen zwei Spannungspegeln geschaltet zu werden. Der
Laststrom wird programmiert, ebenso wie ein Bezugsspannungspegel für die Steuerung der Durchlaß- und
Sperrspannung der jeweiligen Ausgangsdiode (z. B. der Diode 245).
In einigen Fällen, z. B. bei der Prüfung von Wechselstromtriggern,
wird der Signalgeber dazu benutzt, Impulse an einen zu prüfenden Schaltkreis abzugeben,
der kurze Schaltzeiten erfordert. In diesen Fällen ist für die Stromquelle des Signalgebers genügend Strom
programmiert, der ausreicht, die schnelle positive und negative Amplitude sicherzustellen, um damit den zu
prüfenden Stromkreis zu schalten. Bei einem derartigen Einsatz wird normalerweise die Hälfte des verfügbaren
Stromes programmiert.
Die Fig. 8 zeigt die Prüfung eines Transistors 320 und des Kollektorwiderstandes 321 auf einer Karte 4.
Die Bezugsnummern für die dargestellten Bauteile des Signalgebers 1-1 und des Lastgenerators 1-3 sind
dieselben wie die Bezeichnungen für die entsprechenden Bauteile in den Fig. 5a und 5b.
Die vorgeschriebenen Werte für die Schaltung können folgende sein: Größter Kollektorstrom bei Sättigung
gleich 33 mA, β gleich 33, Kollektor-Emitter-Sättigungsspannung
kleiner oder gleich 0,3 V und Basis-Emitter-Spannung kleiner oder gleich 0,6 V bei
einem Kollektorstrom von 33 mA und einem Basrsstrom von 1 mA, Mindestspannung zwischen Kollektor
und Emitter 5,95 V bei einer Basis-Emitter-Spannung von 0,3 V. Der Wert des Widerstandes 321
beträgt 2 kOhm.
Wenn der Transistor 320 eingeschaltet ist, fließt ein Strom von ungefähr 3 mA durch den Widerstand 321.
Der Rest des für die Sättigung des Kollektorsättigungsstromes (33 mA) muß daher aus der programmierten
Lastschaltung 1-4 geliefert werden.
Die Stromquelle des Signalgebers 1-1 ist für Lieferung eines Vorspannungsstromes von 1 mA an den
Transistor 320 programmiert. Der Signalgeber ist ferner so programmiert, daß der Emitterfolger 241 abwechselnd
ein logisches »1«-Signal von ziemlich genau 0,6 V und ein logisches »0«-Signal von 0,3V auf
die Basiselektrode des Transistors 320 gibt. Wenn das logische »0«-Signal vorliegt, nimmt der Emitterfolger
241 den Vorspannstrom von 1 mA vom Verstärker 247 ab. Wenn das logische »1 «-Signal vorliegt, fließt
der Vorspannstrom von 1 mA zur Basis des Transistors 320. Wenn der Transistor 320 diesen Strom von
1 mA bei 0,6 V aufnimmt, zeigt er mit der dann erfolgenden Sättigung.seinen guten Zustand an. Wenn der
Transistor 320 einen höheren Spannungsabfall zwischen Basis und Emitter zur Sättigung benötigt, beginnt
der Emitterfolger 241 einen Teil des Vorspannungsstromes von 1 mA abzuziehen und der Transistor
320 gelangt nicht zur Sättigung.
Die Spannung am Kollektor des Transistors 320 wird in der Zentraleinheit mit den gespeicherten, vorschriftsmäßigen
Werten an beiden logischen Eingängen verglichen, und so die Brauchbarkeit oder das
Versagen der Karte 4 ermittelt.
Hierzu 7 Blatt Zeichnungen
030 130/5
Claims (4)
1. Automatische Prüfeinrichtung für schnellschaltende,
elektronische Schaltkreise, bei welcher die Kontaktanschlüsse eines Schaltkreises mit
Prüfbedingungsgeneratoren verbindbar sind, die als Stromversorgung, als Signalgeber oder als Last
wirksam sein können, und bei welcher für die Auswahl
und Einstellung der Prüfbedingungsgeneratoren zur Erzeugung von dem Betrieb der Schaltkreise
entsprechenden Prüfbedingungen sowie für die Auswertung der Prüfergebnisse ein programmgesteuerter
Computer vorgesehen ist, d adurch gekennzeichnet, daß die Prüfbedingungsgeneratoren
(1-1,... 1-n), deren Anzahl der Zahl der Kontaktanschlüsse entspricht, jeweils aus
zwei räumlich getrennten Teilen gebildet sind, mit einem in unmittelbarer Nähe der Kontaktanschlüsse
angeordneten Teil, bestehend aus zwei Verstärkerschaltungen (30, 52) deren geregelte,
positive und negative Spannungen an den Ausgängen (22, 23) den Versorgungsspannungen entsprechen,
aus zwei, über einen Umschalter (70) abwechselnd ansteuerbaren, mit Hilfe von geregelten
Stromquellen (80, 81) als Signalgeneratoren bzw. Last dienende Verstärkerschaltungen
(71, 72) und aus einer durch Relaiskontakte gebildeten Betriebsartenauswahlschaltung (90), und
mit einem, in einer Entfernung von den Kontaktanschlüssen angeordneten Teil, bestehend aus geregelten
Stromquellen (25, 26; 50, 51) für die Verstärker (30, 52), aus zwei, durch Summierungsschaltungen
(31, 62) mit nachgeschaltetem Operationsverstärker (32, 55) gebildeten, auf bestimmte
Werte einstellbaren, mit den Verstärkern (30, 52) verbundene Stromversorgungsschaltungen
(20, 21), bei denen von den Ausgängen der Verstärker (30,52) zu den Eingängen der Operationsverstärker
eine Rückkopplungsschleife (35, 36) vorgesehen ist, und aus Steuerschaltungen (73,
82, 91) für den Umschalter (70), die Signalgenerator-Last-Schaltkreise (71,72) und die Betriebsartenauswahlschaltung
(90).
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die wahlweise als Signalgeneratoren
bzw. Last dienenden Verstärkerschaltungen (71, 72) jeweils gebildet werden durch zwei in
Reihe geschaltete Emitterfolgeschaltungen (200, 201 bzw. 240, 241) mit komplementären Transistoren
sowie durch einen damit in Reihe geschalteten, als Stromquelle wirkenden Verstärker in
Basisschaltung (216 bzw. 247), dessen Ausgang mit dem Ausgang der Emitterfolgeschaltungen
und dessen Eingang mit einer steuerbaren Stromquelle (82, Fig. 1, Fig. 4) verbunden ist, die bewirkt,
daß ein bestimmter Strom mit einstellbarem Wert durch den in Basisschaltung betriebenen
Verstärker fließt (Fig. 5 a, 5b).
3. Einrichtung nach den Ansprüthen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der steuerbare Umschalter
(70) gebildet wird durch einen Schalttransistor (180), dessen Kollektor mit der einen und
dessen Emitter mit der anderen der Verstärkerschaltungen (30, 52) verbunden ist und dessen
Kollektor ferner mit den Eingängen der Emitterfolgestufen (200, 240) der als Signalgeber oder
Last dienenden Verstärkerschaltungen (71, 72)
verbunden ist, durch eine Tunneldiode (183), die parallel zur Basis-Emitter-Strecke des Schalttransistors
(180) angeordnet ist, um eine Betätigung des Schalters bei niedrigen und hohen Spannungen
zu ermöglichen, und daß ein Transistorschalter (190) vorgesehen ist, der unter dem Einfluß einer
Steuerschaltung (73, Fig. 1) die Tunneldiode (183) auf hohe oder niedrige Spannungen schaltet
(Fig. 5a, 5 b).
4. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die an den Ausgängen
der Stromversorgungsschaltungen (20, 21) angeordneten Verstärkerschaltungen (30, 52) zueinander
komplementäre Transistoren aufweisen (Fig. 5a, 5b).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US58554766A | 1966-10-10 | 1966-10-10 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1591223A1 DE1591223A1 (de) | 1970-12-23 |
DE1591223B2 DE1591223B2 (de) | 1980-07-24 |
DE1591223C3 true DE1591223C3 (de) | 1981-05-07 |
Family
ID=24341919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1591223A Expired DE1591223C3 (de) | 1966-10-10 | 1967-10-10 | Automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3492572A (de) |
DE (1) | DE1591223C3 (de) |
GB (1) | GB1198134A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006047469B4 (de) * | 2006-10-04 | 2009-06-10 | Baudis, Arne, Dipl.-Ing. | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung einer Schalteranordnung |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5016618B1 (de) * | 1969-02-12 | 1975-06-14 | ||
US3599179A (en) * | 1969-05-28 | 1971-08-10 | Westinghouse Electric Corp | Fault detection and isolation in computer input-output devices |
US3659088A (en) * | 1970-08-06 | 1972-04-25 | Cogar Corp | Method for indicating memory chip failure modes |
US3631229A (en) * | 1970-09-30 | 1971-12-28 | Ibm | Monolithic memory array tester |
US3622876A (en) * | 1970-12-14 | 1971-11-23 | Datatron Inc | Digital module tester system |
US3735105A (en) * | 1971-06-11 | 1973-05-22 | Ibm | Error correcting system and method for monolithic memories |
GB1379588A (en) * | 1971-12-01 | 1975-01-02 | Int Computers Ltd | Systems for testing electrical devices |
US3931506A (en) * | 1974-12-30 | 1976-01-06 | Zehntel, Inc. | Programmable tester |
US4168796A (en) * | 1978-04-13 | 1979-09-25 | Ncr Corporation | Tester with driver/sensor circuit having programmable termination devices |
USRE31828E (en) * | 1978-05-05 | 1985-02-05 | Zehntel, Inc. | In-circuit digital tester |
US4216539A (en) * | 1978-05-05 | 1980-08-05 | Zehntel, Inc. | In-circuit digital tester |
DE2951929C2 (de) * | 1979-12-21 | 1985-09-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Prüfeinrichtung |
US4379259A (en) * | 1980-03-12 | 1983-04-05 | National Semiconductor Corporation | Process of performing burn-in and parallel functional testing of integrated circuit memories in an environmental chamber |
JPS58158566A (ja) * | 1982-03-17 | 1983-09-20 | Hitachi Ltd | 検査装置 |
US4504783A (en) * | 1982-09-30 | 1985-03-12 | Storage Technology Partners | Test fixture for providing electrical access to each I/O pin of a VLSI chip having a large number of I/O pins |
DE3237365A1 (de) * | 1982-10-08 | 1984-04-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung zur erzeugung von mustern von pruefsignalen bei einem pruefgeraet |
GB8432305D0 (en) * | 1984-12-20 | 1985-01-30 | Int Computers Ltd | Crystal oscillator overdrive |
US4712058A (en) * | 1986-07-22 | 1987-12-08 | Tektronix, Inc. | Active load network |
US5391984A (en) * | 1991-11-01 | 1995-02-21 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuit devices |
US5633813A (en) * | 1994-05-04 | 1997-05-27 | Srinivasan; Seshan R. | Apparatus and method for automatic test generation and fault simulation of electronic circuits, based on programmable logic circuits |
WO2007147511A2 (de) * | 2006-06-21 | 2007-12-27 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und vorrichtung zur kalibrierung eines netzwerkanalysators für messungen an differentiellen anschlüssen |
US8037371B1 (en) | 2007-05-14 | 2011-10-11 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for testing high-speed serial transmitters and other devices |
US7809517B1 (en) * | 2007-09-07 | 2010-10-05 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for measuring phase noise/jitter in devices under test |
US20090105983A1 (en) * | 2007-10-23 | 2009-04-23 | Texas Instruments Incorporated | Test definer, a method of automatically determining and representing functional tests for a pcb having analog components and a test system |
DE102008003515A1 (de) * | 2008-01-08 | 2009-07-09 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Rechnersystem zur Auswertung sicherheitskritischer Sensorgrößen |
US8326553B2 (en) * | 2010-01-05 | 2012-12-04 | Hamilton Sundstrand Corporation | Fault detection in a system under control |
US8400181B2 (en) * | 2010-03-26 | 2013-03-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Integrated circuit die testing apparatus and methods |
US8527231B2 (en) * | 2010-09-15 | 2013-09-03 | Teradyne, Inc. | High throughput semiconductor device testing |
CN117761514B (zh) * | 2023-12-29 | 2024-05-31 | 扬州江新电子有限公司 | 一种高压封装极性测试电路及其测试方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3237100A (en) * | 1960-06-24 | 1966-02-22 | Chalfin Albert | Computer-controlled test apparatus for composite electrical and electronic equipment |
FR1361874A (fr) * | 1962-12-07 | 1964-05-29 | Appareil d'essai automatique de sous-ensembles de circuits logiques pour machines àcalculer électroniques numériques | |
US3409828A (en) * | 1964-10-30 | 1968-11-05 | Phillips Petroleum Co | Apparatus for testing electrical circuit boards |
-
1966
- 1966-10-10 US US585547A patent/US3492572A/en not_active Expired - Lifetime
-
1967
- 1967-09-25 GB GB43468/67A patent/GB1198134A/en not_active Expired
- 1967-10-10 DE DE1591223A patent/DE1591223C3/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006047469B4 (de) * | 2006-10-04 | 2009-06-10 | Baudis, Arne, Dipl.-Ing. | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung einer Schalteranordnung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1591223B2 (de) | 1980-07-24 |
GB1198134A (en) | 1970-07-08 |
DE1591223A1 (de) | 1970-12-23 |
US3492572A (en) | 1970-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1591223C3 (de) | Automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise | |
DE3103969A1 (de) | "versorgungsspannungstreiber fuer einen differentialverstaerker" | |
DE1103387B (de) | Bistabile Diodenschaltung | |
EP0689058B1 (de) | Schaltungsanordnung zum Überwachen eines Schaltungspunktes auf einen Leckwiderstand | |
DE2419380B2 (de) | Übertragungssystem | |
DE1055590B (de) | Transistorschaltanordnung zur wahlweisen Verbindung einer Last mit verschiedenen Potentialen | |
DE3612274C2 (de) | ||
EP0409327A2 (de) | Stromversorgungseinrichtung mit Gleichspannungsüberwachungsschaltung | |
DE1952796A1 (de) | Schaltungsanordnung zur verlustarmen Stabilisierung einer Eingangswechselspannung | |
DE2125940C3 (de) | Schaltungsanordnung zur betriebssicheren Verstärkung einer regelmäßigen Impulsfolge | |
DE1524001B2 (de) | Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung | |
DE3891380C2 (de) | Verstärker mit vier Transistoren, die in einer Brückenschaltung miteinander verbunden sind | |
DE2951929A1 (de) | Pruefeinrichtung | |
DE2151162C2 (de) | Einrichtung zur Funktionsüberwachung der Regelstränge eines analogen dreikanaligen Regelsystems | |
DE1538609B2 (de) | Transistorisierte Schaltungsanordnung zum automatischen Prüfen gedruckter Leitungszüge | |
DE102013113474B3 (de) | Verbindungseinrichtung, Verfahren zu deren Betrieb sowie Buskommunikationsvorrichtung | |
DE3011776C2 (de) | Verfahren zum automatischen Quittieren von Alarmanzeigelampen | |
DE2212286C3 (de) | Vorrichtung zur Steuerung des Stromes im Lastkreis einer Gleichstromquelle | |
EP3916403A1 (de) | Schaltgerät für ein gleichspannungsnetz und betriebsverfahren für das schaltgerät | |
DE2046945C (de) | Elektronische Schalteinrichtung | |
DE2534285C2 (de) | Frequenzumsetzer für Trä gerfrequenz-Ubertragungseinrichtungen | |
DE1474071A1 (de) | Schaltungsanordnung zur Ausgabe von Informationen aus mehreren parallel arbeitenden Datenverarbeitungsanlagen an einen oder mehrere Empfaenger | |
DE3535882A1 (de) | Schaltungsanordnung zur signalverstaerkung | |
DE2041577A1 (de) | Fehler-Aufspuersystem | |
DE1537194A1 (de) | Multistabile Kippschaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |